JP2007040849A - 測定装置、及び試験装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】測定する差動信号のオフセット電圧により生じる電流を低減することができる測定装置を提供する。
【解決手段】被測定デバイスが出力する差動信号を測定する測定装置であって、差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換部と、被測定デバイスの正出力端子と、信号変換部の正入力端子とを接続する正信号伝送経路と、被測定デバイスの負出力端子と、信号変換部の負入力端子とを接続する負信号伝送経路と、正信号伝送経路と、負信号伝送経路との間に直列に設けられ、それぞれ被測定デバイスの出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する、2つのインピーダンスマッチング抵抗と、2つのインピーダンスマッチング抵抗を互いに接続する接続点に、差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する電圧出力部とを備える測定装置を提供する。
【選択図】図2
【解決手段】被測定デバイスが出力する差動信号を測定する測定装置であって、差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換部と、被測定デバイスの正出力端子と、信号変換部の正入力端子とを接続する正信号伝送経路と、被測定デバイスの負出力端子と、信号変換部の負入力端子とを接続する負信号伝送経路と、正信号伝送経路と、負信号伝送経路との間に直列に設けられ、それぞれ被測定デバイスの出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する、2つのインピーダンスマッチング抵抗と、2つのインピーダンスマッチング抵抗を互いに接続する接続点に、差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する電圧出力部とを備える測定装置を提供する。
【選択図】図2
Description
本発明は、被測定デバイスが出力する信号を測定する測定装置、及び被測定デバイスを試験する試験装置に関する。特に、本発明は被測定デバイスが出力する差動信号を測定する測定装置、及び差動信号を出力する被測定デバイスを試験する試験装置に関する。
従来、被測定デバイスが出力する差動信号を、シングルエンド入力のデジタイザで測定する場合、差動信号をシングルエンドの信号に変換する終端回路を、デジタイザの入力端子に接続して用いている。
図5は、従来の終端回路300の構成の一例を示す図である。終端回路300は、差動信号を出力する被測定デバイス200と、信号を測定するデジタイザとの間に設けられる。終端回路300は、伝送経路302、伝送経路304、抵抗306、抵抗308、及び差動増幅器310を備える。
伝送経路302及び伝送経路304は、被測定デバイス200の正出力端子及び負出力端子を、差動増幅器310の正入力端子及び負入力端子に接続する。抵抗306及び抵抗308は、伝送経路302及び伝送経路304の間に直列に設けられる。抵抗306及び抵抗308は、被測定デバイス200と、終端回路300とがインピーダンスマッチングする抵抗値を有する。
また、抵抗306及び抵抗308の接続点は、接地電位に接続される。差動増幅器310は、伝送経路302及び伝送経路304を伝送した差動信号を、シングルエンドの信号に変換して出力する。このような構成により、差動信号をシングルエンドの信号に変換している。
現在、関連する特許公報等は認識していないため、その記載を省略する。
しかし、従来の終端回路300を用いる場合において、被測定デバイス200が出力する差動信号に、コモン電圧等のオフセット成分が生じている場合、抵抗306及び抵抗308と、接地電位との間に、当該コモン電圧に応じたコモン電流が流れてしまう。例えば、差動信号の信号成分の電圧値をVsigとし、コモン電圧をVcomとした場合、被測定デバイス200の正出力端子が出力する信号の電圧値は、Vsig+Vcomとなる。同様に、負入力端子が出力する信号の電圧値は、−Vsig+Vcomとなる。この場合、抵抗306及び抵抗308には、差動信号の信号成分により生じる電流に加え、コモン電圧による電流成分が流れてしまう。このため、終端回路300における消費電流が増大し、また差動信号の交流成分を精度よく測定できない場合がある。
係る問題に対し、抵抗306及び抵抗308の抵抗値を増大させ、高入力インピーダンスの回路とする方法も考えられる。つまり、高抵抗値の抵抗306及び抵抗308を用いることにより、抵抗306及び抵抗308に流れる電流を低減する方法が考えられる。しかし、終端回路300のカットオフ周波数は当該抵抗値に依存するので、高抵抗値の抵抗306及び抵抗308を用いた場合、周波数特性が悪化してしまう。
このため本発明は、上述した課題を解決することのできる測定装置及び試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
上記課題を解決するために、本発明の第1の形態においては、被測定デバイスが出力する差動信号を測定する測定装置であって、差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換部と、被測定デバイスの正出力端子と、信号変換部の正入力端子とを接続する正信号伝送経路と、被測定デバイスの負出力端子と、信号変換部の負入力端子とを接続する負信号伝送経路と、正信号伝送経路と、負信号伝送経路との間に直列に設けられ、それぞれ被測定デバイスの出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する、2つのインピーダンスマッチング抵抗と、2つのインピーダンスマッチング抵抗を互いに接続する接続点に、差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する電圧出力部とを備える測定装置を提供する。
測定装置は、2つのインピーダンスマッチング抵抗の接続点を、電圧出力部に接続するか、又は接地電位に接続するかを切り替えるスイッチを更に備えてよい。測定装置は、正信号伝送経路において、インピーダンスマッチング抵抗と、信号変換部との間に設けられ、正信号伝送経路を伝送する信号から、電圧出力部が出力するオフセット電圧の成分を除去する第1のオフセット除去部と、負信号伝送経路において、インピーダンスマッチング抵抗と、信号変換部との間に設けられ、負信号伝送経路を伝送する信号から、電圧出力部が出力するオフセット電圧の成分を除去する第2のオフセット除去部とを更に備えてよい。
測定装置は、被測定デバイスが出力する差動信号のオフセット電圧を測定するオフセット測定部と、オフセット測定部が測定したオフセット電圧に基づいて、電圧出力部が出力する電圧を設定する電圧設定部とを更に備えてよい。電圧設定部は、被測定デバイスがオフセット電圧を出力していない場合に、電圧出力部が電圧を出力することを禁止してよい。
本発明の第2の形態においては、差動信号を出力する被測定デバイスを試験する試験装置であって、被測定デバイスを試験する試験パターンを生成するパターン発生器と、試験パターンに応じて、被測定デバイスが出力する差動信号を測定する測定装置と、測定装置における測定結果に基づいて、被測定デバイスの良否を判定する判定部とを備え、測定装置は、差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換部と、被測定デバイスの正出力端子と、信号変換部の正入力端子とを接続する正信号伝送経路と、被測定デバイスの負出力端子と、信号変換部の負入力端子とを接続する負信号伝送経路と、正信号伝送経路と、負信号伝送経路との間に直列に設けられ、それぞれ被測定デバイスの出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する、2つのインピーダンスマッチング抵抗と、2つのインピーダンスマッチング抵抗を互いに接続する接続点に、差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する電圧出力部とを有する試験装置を提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本発明の実施形態に係る試験装置100の構成の一例を示す図である。試験装置100は、半導体回路等の被測定デバイス200を試験する装置であって、パターン発生器10、波形成形器12、タイミング発生器14、判定器16、及び測定装置20を備える。
パターン発生器10は、被測定デバイス200を試験する試験パターンを生成する。試験パターンは、例えばデジタルパターンの信号である。波形成形器12は、試験パターンに基づいて、被測定デバイス200に供給する試験信号を生成する。例えば、波形成形器12は、タイミング発生器14から与えられるタイミングクロックに応じて、試験パターンのデータ値に応じた電圧を示す電圧信号を生成する。
測定装置20は、試験信号に応じて被測定デバイス200が出力する差動信号を測定する。例えば、測定装置20は、当該差動信号をデジタル信号に変換する装置である。判定器16は、測定装置20における測定結果に基づいて、被測定デバイス200の良否を判定する。例えば、判定器16は、パターン発生器10から与えられる期待値パターンと、測定装置20における測定結果とを比較することにより、被測定デバイス200の良否を判定する。
図2は、測定装置20の構成の一例を示す図である。測定装置20は、正信号伝送経路22、負信号伝送経路24、電圧出力部26、インピーダンスマッチング抵抗28及び30、バッファ32及び34、第1のオフセット除去部36、第2のオフセット除去部38、信号変換部40、並びにデジタイザ41を備える。
また、被測定デイバス200の出力端には、差動信号出力部212及び2つの抵抗210が設けられる。差動信号出力部212は、正出力端子及び負入力端子を有し、差動信号を出力する。また、抵抗210は、正出力端子及び負入力端子に対応する出力インピーダンスを示す。
信号変換部40は、入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する。ここで、シングルエンド信号とは、例えば接地電位と、信号線の電位との差分により信号値を示す信号である。また、信号変換部40は、正入力端子及び負入力端子を有する。例えば、信号変換部40は差動増幅回路であってよい。デジタイザ41は、信号変換部40が出力するシングルエンド信号を測定する。例えば、デジタイザ41は、シングルエンド信号を、デジタル信号に変換して出力する。
正信号伝送経路22は、被測定デバイス200の正出力端子と、信号変換部40の正入力端子とを電気的に接続する。また、負信号伝送経路24は、被測定デバイス200の負出力端子と、信号変換部40の負入力端子とを電気的に接続する。これらの経路により、被測定デバイス200の差動信号が、信号変換部40に伝送される。
インピーダンスマッチング抵抗28及び30は、正信号伝送経路22と負信号伝送経路24との間に直列に設けられる。それぞれのインピーダンスマッチング抵抗28及び30の抵抗値は、被測定デバイス200の出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する。例えば、一つの抵抗210の抵抗値と、インピーダンスマッチング抵抗28及び30のそれぞれの抵抗値とは略等しい。このような構成により、被測定デバイス200と、測定装置20とを接続した場合にインピーダンスマッチングを取ることができる。
電圧出力部26は、2つのインピーダンスマッチング抵抗28及び30を互いに接続する接続点に、差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する。電圧出力部26は、与えられるデジタルデータに応じた電圧を出力するデジタルアナログコンバータ(DAC)であってよい。電圧出力部26には、出力するべき電圧値を示すデジタルデータが、使用者により予め設定されてよい。当該デジタルデータは、例えば被測定デバイス200に与えるコモン電圧等の電圧値に基づいて容易に定めることができる。
また、差動信号のオフセット電圧とは、例えば被測定デバイス200のコモン電圧であり、差動信号の動作の基準となる電圧である。例えば、差動信号の信号成分の電圧値をVsigとし、オフセット電圧をVcomとした場合、被測定デバイス200の正出力端子が出力する信号の電圧値は、Vsig+Vcomとなる。同様に、負入力端子が出力する信号の電圧値は、−Vsig+Vcomとなる。
この場合、正信号伝送経路22と、インピーダンスマッチング抵抗28との接続点における電圧値は、1/2Vsig+Vcomとなり、負信号伝送経路24と、インピーダンスマッチング抵抗30との接続点における電圧値は、−1/2Vsig+Vcomとなる。そして、電圧出力部26により、2つのインピーダンスマッチング抵抗28及び30の接続点の電圧はVcomに固定される。このため、インピーダンスマッチング抵抗28及び30に流れる電流は、差動信号の信号成分に応じたものとなり、オフセット電圧成分による電流を低減することができる。このため、電流を低減するべく、高抵抗値のインピーダンスマッチング抵抗28及び30を用いる必要が無く、周波数帯域を十分確保して差動信号を測定することができる。
バッファ32は、正信号伝送経路22において、インピーダンスマッチング抵抗28と信号変換部40との間に設けられる。また、バッファ34は、負信号伝送経路24において、インピーダンスマッチング抵抗30と信号変換部40との間に設けられる。バッファ32及びバッファ34は、入力側の回路と出力側の回路との間でインピーダンス変換を行い、入力側の回路からの信号を、出力側の回路へ精度よく伝送する。
第1のオフセット除去部36は、正信号伝送経路22において、バッファ32と信号変換部40との間に設けられる。また、第1のオフセット除去部36は、バッファ32が出力し、正信号伝送経路22を伝送する信号から、電圧出力部26が出力するオフセット電圧の成分を除去する。このため、第1のオフセット除去部36が出力する電圧は、1/2Vsigとなる。
第2のオフセット除去部38は、負信号伝送経路24において、バッファ34と信号変換部40との間に設けられる。また、第2のオフセット除去部38は、バッファ34が出力し、負信号伝送経路24を伝送する信号から、電圧出力部26が出力するオフセット電圧の成分を除去する。このため、第2のオフセット除去部38が出力する電圧は、−1/2Vsigとなる。このような構成により、信号変換部40に入力される信号から、オフセット電圧成分を除去することができる。
信号変換部40は、正信号伝送経路22から、差動信号の正信号成分を受け取り、負信号伝送経路24から、差動信号の負信号成分を受け取る。そして、受け取った差動信号を、シングルエンドの信号に変換する。すなわち、信号変換部40が出力する信号の電圧は、Vsigで表される。また、信号変換部40は、例えば差動増幅器であってよい。この場合、正信号伝送経路22は、差動増幅回路の正入力端子に接続され、負信号伝送経路24は、差動増幅回路の負入力端子に接続される。
デジタイザ41は、信号変換部40が出力するシングルエンド信号を受け取り、当該シングルエンド信号を、デジタル信号に変換する。また、デジタイザ41は、当該デジタル信号を、判定器16に出力する。
本例における測定装置20によれば、差動信号のオフセット電圧により生じる電流を低減することができる。このため、当該電流を低減するべく、高抵抗値のインピーダンスマッチング抵抗28及び30を用いる必要が無く、周波数帯域を十分確保して差動信号を測定することができる。
図3は、測定装置20の構成の他の例を示す図である。本例における測定装置20は、図2において説明した測定装置20の構成に加え、スイッチ42を更に備える。スイッチ42は、2つのインピーダンスマッチング抵抗28及び30の接続点を、電圧出力部26に接続するか、又は接地電位に接続するかを切り替える。このような構成により、被測定デバイス200の特性等に応じて、測定方法を切り替えることができる。
図4は、測定装置20の構成の他の例を示す図である。本例における測定装置20は、図2において説明した測定装置20の構成に加え、オフセット測定部44及び電圧設定部46を更に備える。オフセット測定部44は、被測定デバイス200が出力する差動信号のオフセット電圧を測定する。例えば、オフセット測定部44は、被測定デバイス200が出力する正信号の振幅と、負信号の振幅との中間値を測定することにより、オフセット電圧を測定してよい。また、被測定デバイス200がコモン電圧を出力する端子を有している場合、当該端子の電圧を測定してもよい。
電圧設定部46は、オフセット測定部44が測定したオフセット電圧に基づいて、電圧出力部26が出力する電圧を設定する。例えば、電圧設定部46は、測定したオフセット電圧と略同一の電圧値の電圧を、電圧出力部26に出力させる。このような構成により、例えば、被測定デバイス200毎の特性のバラツキにより、オフセット電圧が設計値に対して誤差を有する場合であっても、電圧出力部26が出力する電圧と、当該オフセット電圧とを一致させることができる。
また、電圧設定部46は、被測定デバイス200がオフセット電圧を出力していない場合には、電圧出力部26が電圧を出力することを禁止することが好ましい。このような制御により、電圧出力部26から被測定デバイス200に逆電流が流れることを防ぐことができる。
例えば、電圧設定部46は、被測定デバイス200がオフセット電圧を出力しているか否かを検出する手段を備えてよい。また、電圧設定部46は、試験装置100が被測定デバイス200を動作させる期間が予め与えられてよい。電圧設定部46は、当該期間に基づいて、被測定デバイス200がオフセット電圧を出力していないときに、電圧出力部26が電圧を出力することを禁止する。例えば、電圧設定部46は、当該期間の始期から所定の時間経過した後に、電圧出力部26に電圧を出力させ、当該期間の終期より所定の時間前に、電圧出力部26からの電圧出力を停止させる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
以上から明らかなように、本発明によれば、差動信号のオフセット電圧により生じる電流を低減することができる。このため、当該電流を低減するべく、高抵抗値のインピーダンスマッチング抵抗を用いずに当該電流を低減でき、周波数帯域を十分確保して差動信号を測定することができる。
10・・・パターン発生器、12・・・波形成形器、14・・・タイミング発生器、16・・・判定器、20・・・測定装置、22・・・正信号伝送経路、24・・・負信号測定経路、26・・・電圧出力部、28、30・・・インピーダンスマッチング抵抗、32、34・・・バッファ、36・・・第1のオフセット除去部、38・・・第2のオフセット除去部、40・・・信号変換部、41・・・デジタイザ、42・・・スイッチ、44・・・オフセット測定部、46・・・電圧設定部、100・・・試験装置、200・・・被測定デバイス、210・・・抵抗、212・・・差動信号出力部、300・・・終端回路、302、304・・・伝送経路、306、308・・・抵抗、310・・・差動増幅器
Claims (6)
- 被測定デバイスが出力する差動信号を測定する測定装置であって、
前記差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換部と、
前記被測定デバイスの正出力端子と、前記信号変換部の正入力端子とを接続する正信号伝送経路と、
前記被測定デバイスの負出力端子と、前記信号変換部の負入力端子とを接続する負信号伝送経路と、
前記正信号伝送経路と、前記負信号伝送経路との間に直列に設けられ、それぞれ前記被測定デバイスの出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する、2つのインピーダンスマッチング抵抗と、
前記2つのインピーダンスマッチング抵抗を互いに接続する接続点に、前記差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する電圧出力部と
を備える測定装置。 - 前記2つのインピーダンスマッチング抵抗の前記接続点を、前記電圧出力部に接続するか、又は接地電位に接続するかを切り替えるスイッチを更に備える請求項1に記載の測定装置。
- 前記正信号伝送経路において、前記インピーダンスマッチング抵抗と、前記信号変換部との間に設けられ、前記正信号伝送経路を伝送する信号から、前記電圧出力部が出力する前記オフセット電圧の成分を除去する第1のオフセット除去部と、
前記負信号伝送経路において、前記インピーダンスマッチング抵抗と、前記信号変換部との間に設けられ、前記負信号伝送経路を伝送する信号から、前記電圧出力部が出力する前記オフセット電圧の成分を除去する第2のオフセット除去部と
を更に備える請求項1に記載の測定装置。 - 前記被測定デバイスが出力する前記差動信号の前記オフセット電圧を測定するオフセット測定部と、
前記オフセット測定部が測定した前記オフセット電圧に基づいて、前記電圧出力部が出力する電圧を設定する電圧設定部と
を更に備える請求項1に記載の測定装置。 - 前記電圧設定部は、前記被測定デバイスが前記オフセット電圧を出力していない場合に、前記電圧出力部が電圧を出力することを禁止する請求項4に記載の測定装置。
- 差動信号を出力する被測定デバイスを試験する試験装置であって、
前記被測定デバイスを試験する試験パターンを生成するパターン発生器と、
前記試験パターンに応じて、前記被測定デバイスが出力する前記差動信号を測定する測定装置と、
前記測定装置における測定結果に基づいて、前記被測定デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記測定装置は、
前記差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換部と、
前記被測定デバイスの正出力端子と、前記信号変換部の正入力端子とを接続する正信号伝送経路と、
前記被測定デバイスの負出力端子と、前記信号変換部の負入力端子とを接続する負信号伝送経路と、
前記正信号伝送経路と、前記負信号伝送経路との間に直列に設けられ、それぞれ前記被測定デバイスの出力インピーダンスと略等しい抵抗値を有する、2つのインピーダンスマッチング抵抗と、
前記2つのインピーダンスマッチング抵抗を互いに接続する接続点に、前記差動信号のオフセット電圧と略等しい電圧を出力する電圧出力部と
を有する試験装置。
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