JP2006513559A - サセプタ・システム - Google Patents

サセプタ・システム Download PDF

Info

Publication number
JP2006513559A
JP2006513559A JP2004558343A JP2004558343A JP2006513559A JP 2006513559 A JP2006513559 A JP 2006513559A JP 2004558343 A JP2004558343 A JP 2004558343A JP 2004558343 A JP2004558343 A JP 2004558343A JP 2006513559 A JP2006513559 A JP 2006513559A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
susceptor system
wall
susceptor
parts
slide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004558343A
Other languages
English (en)
Inventor
マカリ,ジヤコモ・ニコラオ
バレンテ,ジヤンルカ
コーデイナ,オル
プレテイ,フランコ
クリツパ,ダニロ
Original Assignee
イー・テイ・シー・エピタキシヤル・テクノロジー・センター・エス・アール・エル
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by イー・テイ・シー・エピタキシヤル・テクノロジー・センター・エス・アール・エル filed Critical イー・テイ・シー・エピタキシヤル・テクノロジー・センター・エス・アール・エル
Publication of JP2006513559A publication Critical patent/JP2006513559A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/324Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/10Heating of the reaction chamber or the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4584Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally the substrate being rotated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4586Elements in the interior of the support, e.g. electrodes, heating or cooling devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/12Substrate holders or susceptors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B31/00Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor
    • C30B31/06Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor by contacting with diffusion material in the gaseous state
    • C30B31/14Substrate holders or susceptors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B14/00Crucible or pot furnaces
    • F27B14/06Crucible or pot furnaces heated electrically, e.g. induction crucible furnaces with or without any other source of heat
    • F27B14/061Induction furnaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/6719Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67784Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations using air tracks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Gripping On Spindles (AREA)
  • Processing Of Meat And Fish (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Control And Other Processes For Unpacking Of Materials (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Resistance Welding (AREA)
  • General Induction Heating (AREA)

Abstract

本発明は基板及び/又はウエーハを処理するのに適したタイプの装置のためのサセプタ・システムに関する。そのサセプタ・システムには空間(1)が設けられ、基板及び/又はウエーハの処理のためのチャンバーとして機能し、かつ、長手方向に伸びていて、上側の壁(2)により、下側の壁(3)により、右側の壁(4)により、左側の壁(5)により範囲を定められている。上側の壁(2)は電磁誘導による加熱に適した導電性材料の少なくとも1個の部品により構成され、下側の壁(3)は電磁誘導による加熱に適した導電性材料の少なくとも1個の部品により構成される。右側の壁(4)は不活性で、耐熱性で、電気的絶縁性の材料の少なくとも1個の部品により構成され、左側の壁(5)は不活性で、耐熱性で、電気的絶縁性の材料の少なくとも1個の部品により構成される。それゆえ、上側の壁(2)の部品は下側の壁(3)の部品から電気的に十分絶縁される。

Description

本発明は基板及び/又はウエーハ(wafer)を処理するのに適したタイプの装置のためのサセプタ・システム(susceptor system)に関する。
集積回路を製造するために、基板及び/又はウエーハを処理することが必要である。これらは、単一材料(半導体又は絶縁体)又はいくつかの材料(導電体、半導体及び絶縁体)から作られる。用語「基板」及び用語「ウエーハ」は実際には多くの場合同じものを意味する。即ち、極めて多くの場合、ディスク(disc)形状の薄い要素である。前者の用語「基板」は、その要素が通常半導体材料を保持する層又は構造にのみ基本的に使用されるときに用いられる。後者の用語「ウエーハ」は通常他の全ての場合で用いられている。
純粋な熱処理及び加熱を含む化学的・物理的処理がある。
一般に、半導体材料(Si,Ge,SiGe,GaAs,AlN,GaN,SiC,・・・)を基板上にエピタキシャル(epitaxial)成長させるためには、その成長した材料の質がマイクロエレクトロニクス(micro electronic)の用途に適するようにする場合、高い温度を必要とする。シリコン(silicon)のような半導体材料の場合、典型的に1000℃から1100℃の温度が用いられる。炭化シリコンのような半導体材料の場合、それより高い温度が必要になる場合がある。特に1500℃から2000℃の温度が一般的に用いられる。
それゆえ、炭化シリコン又は同様の材料のエピタキシャル成長用反応装置は、他の事項と共に、熱を発生して、反応チャンバー(chamber)内でこれらの温度を実現できるシステムを必要とする。当然、システムが効果的だけでなく、効率的に熱を発生することが望ましい。これらの理由で、この種の反応装置内では、高温壁を持つ反応チャンバーを用いている。
反応チャンバーの壁を加熱するのに最も適当な方法のひとつは電磁誘導に基づく方法である。導電材料から作られた要素、誘導装置、(典型的に2kHzから20KHzの周波数を有する)交流電流が提供される。その電流を誘導装置に流して、可変磁界を発生させる。要素は可変磁界に囲まれるように配置される。可変磁界により要素内に生じた電流がジュール(Joule)効果により要素の加熱を生じる。この種の加熱要素はサセプタ(susceptor)として知られ、適当な材料を用いている場合には反応チャンバーの壁として直接使用しうる。
炭化シリコン又は同様の材料のエピタキシャル成長用反応装置は、反応チャンバーを外部環境から十分に断熱して、特に熱損失を制限し、又、一方で、外部環境を汚染する反応ガスの放散を防止し、他方で、外部環境から反応環境を汚染するガスの流入を防止するために十分な密封をすることも必要である。
炭化シリコンの成長のために反応装置内で使用するのに適当な公知のサセプタの一部は以下の特許文献に簡単に示されている。
米国の特許文献1には(円形断面の)筒形サセプタを示している。それは、長手方向に伸びていて、実質的に長方形断面を持つ(反応チャンバーとして機能する)内部空間を有している。このサセプタは粉末状態の炭化シリコンで全体が作られ、無線周波数の電界を放射する手段により加熱を行なっている。
米国の特許文献2は、(反応チャンバーとして機能する)2個の内部空間を有する(実質的に楕円形断面の)筒形サセプタを示している。2個の内部空間は長手方向に伸びていて、同じで、かつ、実質的に長方形の断面を有している。このサセプタは単一部品として、又は、それぞれが内部空間を有する2個の同一部品として形成しうる。サセプタの部品はグラファイト(graphite)から製作して、炭化シリコンの層で被覆する。2部品型サセプタの場合、部品をグラファイトねじにより機械的に結合し、特に炭化シリコンの層により、お互いに電気的に絶縁する。電磁誘導で加熱が行なわれる。グラファイト内で生じた電流が各空間の全周を流れる。
米国の特許文献3は(実質的に楕円形断面の)筒形サセプタを示している。それは(反応チャンバーとして機能する)内部空間を有し、長手方向に伸びていて、実質的に長方形断面を有する。そのサセプタはグラファイトで作られ、一層の炭化シリコンで被覆されている。加熱は電磁誘導により行なわれる。グラファイト内に誘発された電流が空間の全周を流れる。成長させる基板を保持する空間の領域を防護するために、小さな炭化シリコンの板を用意し、空間の下側の壁に取付けて、その上に基板を配置する。
米国の特許文献4は(反応チャンバーとして機能する)内部空間を有する(六角形断面の)プリズム(prismatic)形サセプタを示している。内部空間は長手方向に伸びていて、長方形の断面を有している。このサセプタは4個の部品で作られている。サセプタの部品はグラファイトから製作して、炭化シリコンの層で被覆する。部品をグラファイトねじにより機械的に結合する。2枚の炭化シリコンの板がサセプタの上側と下側の部品をカバーして、上側と下側の部品をサイド(side)の部品と分離するようにしている。電磁誘導で加熱が行なわれる。グラファイト内で生じた電流が空間を囲む各部品内を流れる。
米国特許第5,879,462号明細書 米国特許第5,674,320号明細書 米国特許第5,792、257号明細書 米国特許第5,695,567号明細書
本発明の目的は、基板及び/又はウエーハを処理するのに適したタイプの装置のためのサセプタ・システムを提供することである。これは電磁誘導で加熱するのに適合している。処理チャンバーを均一に、効果的に、かつ、効率的に加熱する。電気火花の問題を持たない。構造も単純である。
この目的は独立請求項1に示された特徴を有するサセプタ・システムにより実現する。
本発明の根拠となるコンセプト(concept)は、4枚の壁により範囲が定められた空間の形で処理チャンバーを提供しているが、チャンバーを能動的に加熱するのに4枚の壁のうちの2枚しか用いず、他の2枚の壁はチャンバーを受動的に加熱して、前者の2枚の壁を電気的に絶縁するのに用いる。
本発明に基づくサセプタ・システムの有利な特徴は請求項1に直接的・間接的に従属している請求項に示されている。
別の側面に基づくと、本発明は、独立請求項15に示す特徴を有する基板及び/又はウエーハの処理装置にも関係している。
本発明に基づく装置の有利な特徴は請求項15に直接的・間接的に従属している請求項に示されている。
本発明は添付図面と一緒に検討することにより以下の説明から明らかになる。
本発明は図1、2、3に示された実施例を参照して以下に説明されているが、これらの実施例に限定されない。
本発明に基づくサセプタ・システムは、基板及び/又はウエーハを処理するのに適したタイプの装置のために特に設計されている。それには図面に1と示した空間が設けられていて、基板及び/又はウエーハを処理するためのチャンバーとして機能し、長手方向に伸びている。
空間は、図面で2と示した上側の壁により、図面で3と示した下側の壁により、図面で4と示した右側の壁により、図面で5と示した左側の壁により範囲が定められている。
上側の壁2は電磁誘導により加熱するのに適した導電性材料の少なくとも1個の部品により構成されている。下側の壁3は電磁誘導により加熱するのに適した導電性材料の少なくとも1個の部品により構成されている。右側の壁4は不活性で、耐熱性で、電気的に絶縁性の材料による少なくとも1個の部品により構成される。左側の壁5は不活性で、耐熱性で、電気的に絶縁性の材料による少なくとも1個の部品により構成される。それゆえ、上側の壁2が下側の壁3から電気的に絶縁されている。
図1の実施例で、サセプタ・システムは、4個の壁2、3、4、5により構成される4個の部品により純粋かつ簡単に構成される。図2に部分的に示す実施例では、別の2要素がサセプタ・システムに含まれている。それでも、4個の壁から成る部品が中核部を構成している。
それゆえ、空間の形の処理チャンバーがサセプタ・システムの4枚の壁により範囲が定められている。これらの壁の内の2枚(上側の壁2と下側の壁3)がチャンバーを能動的に加熱し、その一方で、他の2枚(両横の壁4及び5)が受動的にチャンバーを熱する。さらに、電気火花が上側の壁2と下側の壁3の間でのみ直接に生じうるが、これは距離により不可能である。最後になるが、上側の壁2の中、及び、下側の壁3の中で誘発する電流はお互いに無関係である。
図面に示された実施例では、壁2、3、4、5のそれぞれが単一の部品により構成される。これは構造上の観点から利点がある。
壁2及び壁3として導電材料から作られた部品を作るのに特に適した物質はグラファイトである。しかしながら、グラファイトは処理チャンバーの典型的環境に耐えることができない。それゆえ、化学的及び熱的の観点から耐久性が高い一層の材料で被覆しなければならない。
被覆層を作るのに適当な化合物は炭化シリコンである。しかしながら、そのチャンバーを炭化シリコンのエピタキシャル成長にも用いる場合には、炭化ニオビウム、炭化ホウ素又は炭化タンタルのような耐久性の高い化合物を用いることが好ましい。他の事項もあるが、後者の2物質は導電性があるという利点も有している。
被覆層を作るのに使用しうる他の化合物にはいくつかの窒化物がある。これらの中で、窒化シリコン、窒化アルミニウム、特に、窒化ホウ素を指摘できるだろう。例えば、炭化シリコンをそのチャンバー内で処理する場合には、窒化物は十分注意して用いるべきである。事実、窒素原子が被覆層から離れると、炭化シリコンに侵入する。
当然、グラファイトの被覆は、厳密には空間1に隣接している部品の領域内でのみ必要であるが、ある場合には、全面被覆とするのが、又は、少なくとも、必要最小限の部分を越える程度にするのが便利である。
上記の化学物質はその同素形に、又、製造工程にも依存する物理的特性を有していることを説明すべきである。例えば、炭素、炭化シリコン及び窒化ホウ素は1種類を超える安定していて、極めて異なる物理特性を有する同素形を有している。この場合も、例えば、グラファイトを用いて、熱と電気の伝導性が良い物質と熱と電気の伝導性が悪い物質を製造することが可能である。最後になるが、化学物質をある材料に添加することでその物理的特性の一部を変更できる。
被覆層は基本的に2種類の方法で製造しうる:化学的反応による、又は、物理的手法による。例えば、炭化物で作る層は一般にグラファイトの部品の上に化学反応により容易に生じうる。そのような層を専門的に作成する会社がある。
被覆層の厚みに関しては、炭化シリコンの場合は例えば100mであり、炭化タンタルの場合は例えば20mである。用いられる厚みは他の条件もあるが、材料特性及び必要な機能による。
両横の壁4及び5として、不活性で、耐熱性で、電気的に絶縁性の材料で作られた部品を製造するのに特に適した化合物は炭化シリコンである。この場合、その部品は熱伝導が良好で、それゆえ、熱の通過が良好である。
両横の壁4及び5として、不活性で、耐熱性で、電気的に絶縁性の材料で作られた部品を製造するのに特に適した別の化合物は窒化ホウ素である。この場合も、その部品は熱伝導が良好で、それゆえ、良好な熱の通過が実現する。事実、この化合物は、グラファイトに類似した物理特性を持つ六角形の同素形と、ダイアモンドに類似した物理特性を持つ立方体の同素形を有している。製造工程により一方又は他方の同素形を製造しうる。
本発明に基づくサセプタ・システムの断面の外形は長手方向に都合良く実質的に一定であり、実質的に円形又は実質的に楕円形である。事実、それにより、サセプタ・システムは製作が容易で、かつ、それを加熱するための誘導装置との良好な結合を容易に行なえる。
空間即ち処理チャンバーの断面形状も長手方向に都合良く実質的に一定である。事実、それゆえ、サセプタ・システムは製作が容易である。
公知の反応装置内では、前駆体の低濃度を補償するために、チャンバーの断面が長手方向に縮小する。代わりに、本発明では、基板又はウエーハを回転させ、かつ、大流量の反応ガスを用いることによりこの問題を解決している。この大流量のガスは反応チャンバーから固体粒子を効果的かつ迅速に除去するのにも有利である。
空洞1即ち処理チャンバーの平均幅は、空間1の平均高さの少なくとも3倍が好ましく、さらに好ましくは少なくとも5倍である。それゆえ、実際に、処理チャンバーの加熱は壁2及び3即ちチャンバーを能動的に加熱する壁に大幅に依存している。
両横の壁のための部品は実質的に長方形又は台形の断面を有しているだけである。これは図1及び図2の実施例も該当する。
特に有効な解決策に基づくと、上側の壁2のための部品及び/又は下側の壁3のための部品の断面の外形が実質的に円形の一部分又は楕円形の一部分になっている。これは図1及び図2の実施例も該当する。事実、それゆえ、誘導装置の磁界が横切る面積は大きく、それゆえ、誘発される電流は大きい。
4枚の壁2、3、4、5のための部品はお互いに接近して配置され、適当な区画の中に挿入されるだけである。これは図1の実施例も該当する。
有利なことに、上側の壁2のための部品及び/又は下側のための部品が両横の壁4、5のための部品と接続するために長手方向の溝及び/又はリブ(ribs)を有している。それによりサセプタ・システムの構造が強固になるが、その構成部品の製作が困難にはならない。これは図2の実施例も該当する。図2では壁2が2本の横溝22を有している(そのうちの1個のみが図示されている)。又、壁3が2本の横溝32を有している(そのうちの1個のみが図示されている)。
図面に示されている全ての実施例で、上側の壁のための部品及び/又は下側の壁のための部品が中空である。それにより、サセプタ・システムの質量が非常に低減し、それゆえ、それは非常に短時間で加熱を(及び冷却も)行なえる。
もし、部品が中空で、長手方向に伸びた大きな貫通穴を持つよう場合、壁の中に誘発した電流は必然的にその周辺領域に閉じ込められるので、処理チャンバーに非常に接近して流れて、その中で熱を発生する。実際には、各壁に対する貫通穴の数は1より多くても良いが、その効果は実質的に変わらない。
図1及び図2の実施例で、上側の壁2と下側の壁3のそれぞれが、それぞれ、21又は31と示されている1個の貫通穴を有している。
図3に部分的に示されている実施例は以下に示す種々の有利な特徴を有している。
本発明に基づくサセプタ・システムは、空間1即ち処理チャンバー内に取付けられ、少なくとも1個の基板又は少なくとも1個のウエーハを保持するのに適当な図3で6と示したスライドが都合良く含まれている。スライド6は長手方向に案内されるように滑ることができる。それゆえ、基板又はウエーハを装入し、又は、取出す操作が容易に行なえる。実際には、基板又はウエーハは処理チャンバーの外部で操作され、スライドの移動により挿入され又取出される。
実際には、図3に3と示した下側の壁に都合良く配置され、図3に33と示したガイドを有している。ガイド33は図3に6と示したスライドを受けるのに適当で、そのスライドがそのガイドに沿って滑ることができるように長手方向に伸びている。図3の実施例で、そのガイド全体が壁3の中に形成され、かつ、スライド6が壁の平坦な上面と実質的に位置合わせされている平坦な上面を有している。それゆえ、処理チャンバーの有効断面は(スライドを設けていないように)実質的に長方形で、一定である。
基板又はウエーハのより均一な処理を実現するため、スライドには少なくとも1個の基板又は少なくとも1個のウエーハを保持するのに適当な少なくとも1個のディスクが含められ、かつ、図3の実施例でディスクを回転可能に収容する凹部が設けられている。スライド6に凹部62が設けられ、1個のディスク61が含まれる。
ディスクとスライドの材料に関して、図3の実施例が以下に示すように作られている。
スライド6は一層の炭化タンタルを被覆したグラファイトで作られている。それゆえ、スライド6は磁界に浸漬し、かつ、導電体なので、サセプタとしても機能する。さらに、炭化タンタルの層が導電体で、それゆえ、スライド6が壁3から電気的に絶縁されていないので、壁3の中に誘発された電流がスライド6にも流れることができる。
ディスク61は一層の炭化タンタルを被覆したグラファイトで作られている。それゆえ、ディスク61は磁界に浸漬し、かつ、導電体なので、サセプタとしても機能する。しかしながら、ディスク61が回転しているとき、(実質的に凹部62の中に留まっているけれども)ガス流によりスライドから僅かに上昇しているので、壁3の中及びスライド6の中に誘発した電流はディスク61内には流れない。
基板及び/又はウエーハの処理装置の中では、特に、エピタキシャル反応装置の中では、基板用保持部を回転することはごく一般的である。この回転は一般に処理チャンバーの外部に配置され、かつ、適当な伝達手段を介して保持部に回転運動を伝えているモーターにより行なわれる。
この回転方法は良好に機能するが、処理チャンバーの環境に耐えることができる伝達手段、又は、回転運動を伝達できる密封手段、または、その両方を必要とするという欠点がある。炭化シリコンのような材料を成長させる反応装置では非常に高温になるので、これらの条件を満たすことは困難になる。さらに、図3に示すようなスライドを持つサセプタ内では、駆動・伝達手段を、スライドを取出すときに開き、スライドを挿入したときに閉じなければならない。これを実現するのは非常に面倒である。
この問題を解決するために、ガス流の使用に基づく別の回転方法を用いるように計画されている。
採用した解決策は、図4及び図5を補助に使って、1種のエピタキシャル反応装置に限定せずに参照して以下に示す。
保持部610が事前設定された数(例えば1個、3個、4個、5個・・・・)の基板のために用意されている。保持部610は実質的に薄いディスクの形をしていて、上側には、基板を収容するために(図面に示されていない)凹部を、又、下側には、小さな円筒形凹部612から突出している中央の円筒形ピン611を有している。ピン611は保持部610を所定位置に保持し、その回転を案内するのに役立っている。さらに、保持部610の両面が平坦である。
さらに、スライド600は保持部610を収容するために設けられている。そのスライド600は実質的に厚い長方形の板の形を有している。スライド600は、その上側に、保持部600を完全に挿入するために大きな円筒形の凹部601を有し、そこから引込んでいる小さな中央の円筒形突起602があり、保持部610のピン611を完全挿入するためのめくら穴603が付いている。その大きな凹部601の底部内に、第一の浅く中央にある円筒形で、ずっと小さな例えば半分の直径の凹部604があり、その大きな凹部601の底部内に、事前に設定された数の非常に浅い直線状のチャンネル(channel)605があり(図5では4本のチャンネルがあるが3又は5、6、7、8・・・・本のチャンネルにもできる)、第一の浅い凹部604から始まって、そこから接線方向に伸びている。さらに、大きな凹部601の底部内で、その周辺部の付近に、深い円形の溝606があり、(図示しない)流出ダクト(duct)もスライド600の内部で、溝606からスタートするように形成されている。スライド600の下側には、第二の浅い円筒形凹部607があり、第一の浅い凹部604に対して中央側に集中し、事前に設定された数の(図5では2個であるが、1又は3、4・・・個も可能である)短くて、斜めで、円筒形のダクト608(代わりに垂直とすることもできる)によりそれに通じている。
最後になるが、サセプタ・システムのひとつの壁300がスライド600を収容するためのガイドを有している(図示せず)。スライド600はそのガイドに沿って滑ることができるが、エピタキシャル成長工程の間静止する。さらに、壁300は長いダクト301を有しているが、それはガイドの底部で垂直方向に、スライド600の第二の浅い凹部607の領域内に開口している。(図4では、ダクト301が中央の位置に開口しているが、保持部610の対称軸に対して偏心した位置に開口することもできる。)
採用した方法を以下の項でまとめている。
ガス流をスライドのガイドの底部に開口している壁のダクト301に流入させる。ガス流はスライドの凹部607に入り、スライドのダクト608を通ってスライドの凹部604に達っして、スライドの凹部604内に保持部610を僅かに上昇させる圧力を生じる。スライドの凹部604内の加圧ガスはスライドのチャンネル605に送られて、スライドの溝606に集まる。スライドのチャンネル605に沿ったガス流が僅かに上昇している保持部610を摩擦により回転する。
一般的に、この種のサセプタ・システムは基板及び/又はウエーハを処理するのに適したタイプの装置で使用できる。これは本発明の別の側面である。
本発明に基づく装置を、図1及び図2を限定しないで参照して以下に示す。
本発明に基づく装置は、基本的に、処理チャンバーとして機能する空間を備え、長手方向に伸びていて、かつ、導電性の上側の壁により、導電性の下側の壁により、絶縁性の右側の壁により、絶縁性の左側の壁により範囲を定められたサセプタ・システムから成っている。
さらに、本発明に基づく装置は、(図1に4枚の壁2、3、4、5により形成された)サセプタ・システムを囲むのに適していて、かつ、多孔性のグラファイト又は同様の耐熱性で、断熱性の材料で、長手方向に伸びている管によって実質的に構成されている第一の耐熱性で、断熱性の構造体7から都合良く成っている。
これらの装置のための公知の耐熱性で、断熱性の構造体は単一の部品として形成される。
本発明の実験的段階では、この種の構造体を2個以上の多孔質グラファイトにより製造することが計画された。これは構造上の観点から非常に便利であり、種々の部品間で良好な接続を実現し、かつ、断熱性を維持するために、部品間に柔軟なフェルト・タイプ(felt type)の構造を有するグラファイトを置くことが計画された。
もし、これらの公知の構造のひとつが、(多孔質のグラファイトのような)少なくとも僅かでも導電性を有する材料で作られる場合、又、もし、電磁誘導により加熱される装置で用いる場合、その構造体内で電流が発生する。これらの電流は、部分的に構造体内の電磁誘導により、又、部分的にサセプタと接触したことによる。それゆえ、もし、サセプタ内で誘発した電流の一部が他へ分散する場合、サセプタの有効性と効率が低減する。
この問題を解決するために、2個以上の多孔質のグラファイト又は同様の導電性物質によりこの種の構造体を作ることが計画された。これは構造上の観点から非常に便利である。又、部品の間に耐熱性で、断熱性で、電気的絶縁性の材料の要素を置くことが計画された。例えば、好ましくは有孔性の炭化シリコン又は窒化ホウ素がこの材料として用いられる。
図2の実施例ではグラファイトの管が長手方向に2個の半割り管71及び72に分割されている。その構造体7は2個の半割り管71及び72に加えて、長手方向に伸びていて、かつ、2個の半割り管71及び72の間に配置された耐熱性で、断熱性で、電気的絶縁性の材料の2個の要素73(そのうちの1個のみを図示している)を含んでいる。
さらに、本発明に基づく装置は、第一の構造体7を囲むのに適している第二の密封性構造体8を都合良く含められる。これにより材料の選択が容易になる。
その密封性構造体は、耐熱性構造体を囲み、長手方向に伸びていて、実質的に一定で、実質的に円形又は実質的に楕円形の断面外形の石英又は同様の材料により実質的に構成しうる。これは図1の実施例も該当する。
代わりに、密封性構造体が、耐熱性構造体を囲み、かつ、長手方向に伸びている石英又は同様の材料の管により、又、石英管を囲む金属管により実質的に構成される。この場合、機械的応力は金属管が耐えるので、石英管の断面外形はあまり重要でない。
さらに、本発明に基づく装置は、電磁誘導によりサセプタ・システムを加熱するのに適していて、第一の構造体7又は第二の構造体8の回りに巻かれる導電手段9から有利に構成しうる。これは図1の実施例も該当する。
もし、装置のサセプタ・システムが、図面に示された実施例のように、貫通穴を設けた壁を有している場合、装置は、少なくとも1系列のガス流を少なくとも1個の穴に流すのに適当な手段を都合良く含められる。そのガス流は穴の内壁から離れた粒子を除去するのに役立つ。さらに、そのガス流はサセプタ・システムの温度を僅かに修正するのに役立つ。アルゴン又はより一般的に不活性ガスが前者の機能に特に適当である。例えば、水素が後者の機能、より特定すれば、冷却に特に適当である。
本発明に基づく装置は、基板上に炭化シリコン又は同様の材料のエピタキシャル成長用反応装置のような別の要素を加えて使用できる。
炭化シリコンは非常に有望であるが、取扱いが困難な半導体材料である。上記の特徴の多くがこの用途のために、又、この材料のために特に設計されている。
さらに、本発明に基づく装置は、ウエーハの高温熱処理用装置のような別の要素を加えて使用しうる。
本発明に基づくサセプタ・システムに若干の追加要素を付けた概略の不等角投影図である。 本発明に基づくサセプタ・システムの詳細な断面に若干の追加要素を付けた概略図である。 本発明に基づくサセプタ・システムのスライドを付けた下側の壁で、それぞれがそのスライドを完全に挿入した場合と、スライドを取り外した場合の概略の不等角投影図である。 本発明に基づくサセプタ・システムの下側の壁にスライドと回転可能なディスクを設けた場合の部分的に断面を見せた詳細図である。 図4でディスクが無い場合の壁のスライドの部分的詳細を示す上面図である。

Claims (22)

  1. 基板及び/又はウエーハを処理するのに適したタイプの装置のためのサセプタ・システムで、そのサセプタ・システムには、基板及び/又はウエーハの処理チャンバーとして機能し、かつ、長手方向に伸びていて、かつ、上側の壁(2)により、下側の壁(3)により、右側の壁(4)により、左側の壁(5)により範囲を定められた空間(1)が設けられていて、その上側の壁(2)が電磁誘導により加熱されるのに適した導電性材料の少なくとも1個の部品により構成され、その下側の壁(3)が電磁誘導により加熱されるのに適した導電性材料の少なくとも1個の部品により構成され、その右側の壁(4)が不活性で、耐熱性で、電気的絶縁性の材料の少なくとも1個の部品により構成され、その左側の壁(5)が不活性で、耐熱性で、電気的絶縁性の材料の少なくとも1個の部品により構成されており、上側の壁(2)の部品又は各部品がその下側の壁(3)の部品又は各部品から電気的に絶縁されていて、その部品(2、3、4、5)がサセプタ・システムに含まれていることを特徴とするサセプタ・システム。
  2. 壁(2、3、4、5)のそれぞれが単一の部品により構成されることを特徴とする請求項1に基づくサセプタ・システム。
  3. 上側の壁(2)及び下側の壁(3)の部品又は各部品がグラファイト又は同様の導電性材料から作られていて、かつ、少なくとも空間(1)に隣接した領域を、一層のシリコン、タンタル、ニオビウム又はホウ素の炭化物、又は、シリコン、ホウ素又はアルミニウムの窒化物、又は、同様の不活性で、耐熱性の材料で被覆されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に基づくサセプタ・システム。
  4. 両側の壁(4、5)の部品又は各部品が炭化シリコン又は窒化ホウ素から作られていることを特徴とする請求項1、2及び3のどれかに基づくサセプタ・システム
  5. サセプタ・システムの断面の外形が実質的に長手方向に一定で、かつ、実質的に円形又は楕円形であることを特徴とする前記請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  6. 空間(1)の断面の形が長手方向に実質的に一定であることを特徴とする前記請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  7. 空間(1)の平均幅が空間(1)の平均高さの少なくとも3倍、より好ましくは少なくとも5倍であることを特徴とする前記請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  8. 両側の壁(4、5)の部品は実質的に長方形又は台形の断面を有していることを特徴とする前記請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  9. 上側の壁(2)の部品及び/又は下側の壁(3)の部品が実質的に円形の一部分又は楕円形の一部分となる外形を有する断面を有していることを特徴とする前記の請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  10. 上側の壁(2)の部品及び/又は下側の壁(3)の部品が、両側の壁(4、5)の部品と結合するために、長手方向の溝(22、32)及び/又はリブを有していることを特徴とする前記請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  11. 上側の壁(2)の部品及び/又は下側の壁(3)の部品が、長手方向に伸びた少なくとも1個の穴(21、31)、好ましくは貫通穴を有するように中空であることを特徴とする前記の請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  12. 空間(1)内に取付けられ、かつ、少なくとも1個の基板又は少なくとも1個のウエーハを保持するのに適当なスライド(6)を含み、そのスライド(6)が長手方向に案内されて滑ることができることを特徴とする前記請求項のいずれかに基づくサセプタ・システム。
  13. 下側の壁(3)がスライド(6)を受けるのに適当で、かつ、長手方向に伸びていて、スライド(6)がガイド(33)に沿って滑ることができるようにしたことを特徴とする請求項12に基づくサセプタ・システム。
  14. スライド(6)が少なくとも1枚の基板又は少なくとも1枚のウエーハを保持するのに適当な少なくとも1個のディスク(61)を含み、かつ、そのディスク(61)を回転可能に収容するのに適当な凹部(62)を設けていることを特徴とする請求項12又は請求項13に基づくサセプタ・システム。
  15. 請求項1から14のいずれかに基づく少なくとも1個のサセプタ・システム(2、3、4、5)を含むことを特徴とする基板及び/又はウエーハを処理するのに適したタイプの装置。
  16. サセプタ・システム(2、3、4、5)を囲み、かつ、多孔質のグラファイト又は同様の材料の管によって実質的に構成され、長手方向に伸びている第一の耐熱性で、断熱性の構造体(7)から成ることを特徴とする請求項15に基づく装置。
  17. 管が長手方向に2個の半割り管(71、72)に分割され、さらに、第一の構造体(7)が長手方向に伸びて、2個の半割り管(71、72)の間に配置された耐熱性で、断熱性で、好ましくは電気的絶縁性の材料の2個の要素(73)を含んでいることを特徴とする請求項16に基づく装置。
  18. 第一の構造体(7)を囲むのに適した第二の密封性構造体(8)を含むことを特徴とする請求項15から17のいずれかに基づく装置。
  19. 電磁誘導によりサセプタ・システムを加熱するのに適していて、かつ、第一の構造体(7)の回り、又は、第二の構造体(8)の回りに巻かれている導電手段(9)を含むことを特徴とする請求項15から18のいずれかに基づく装置。
  20. サセプタ・システムの少なくとも1個の貫通穴(21、31)に少なくとも1系統のガス流を流すための手段を含むことを特徴とする請求項15から19のいずれかに基づく装置。
  21. 基板上に炭化シリコン又は同様の材料のエピタキシャル成長を行なうための反応装置であることを特徴とする請求項15から20のいずれかに基づく装置。
  22. ウエーハの高温熱処理用の装置であることを特徴とする請求項15から20のいずれかに基づく装置。
JP2004558343A 2002-12-10 2002-12-10 サセプタ・システム Pending JP2006513559A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/IT2002/000774 WO2004053188A1 (en) 2002-12-10 2002-12-10 Susceptor system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006513559A true JP2006513559A (ja) 2006-04-20

Family

ID=32500473

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004558343A Pending JP2006513559A (ja) 2002-12-10 2002-12-10 サセプタ・システム
JP2004558349A Pending JP2006509363A (ja) 2002-12-10 2003-06-11 処理装置用支持システム

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004558349A Pending JP2006509363A (ja) 2002-12-10 2003-06-11 処理装置用支持システム

Country Status (9)

Country Link
US (2) US7615121B2 (ja)
EP (2) EP1570108B1 (ja)
JP (2) JP2006513559A (ja)
KR (1) KR20050085503A (ja)
CN (2) CN1708602A (ja)
AT (2) ATE423226T1 (ja)
AU (2) AU2002368439A1 (ja)
DE (2) DE60231256D1 (ja)
WO (2) WO2004053188A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008159947A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Tokyo Electron Ltd 成膜装置および成膜方法

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004053188A1 (en) * 2002-12-10 2004-06-24 E.T.C. Epitaxial Technology Center Srl Susceptor system
CN100507073C (zh) * 2002-12-10 2009-07-01 Etc外延技术中心有限公司 感受器系统
US8028531B2 (en) * 2004-03-01 2011-10-04 GlobalFoundries, Inc. Mitigating heat in an integrated circuit
JP4923189B2 (ja) * 2004-06-09 2012-04-25 イー・テイ・シー・エピタキシヤル・テクノロジー・センター・エス・アール・エル 支持システム
EP1790757B1 (en) * 2004-07-22 2013-08-14 Toyo Tanso Co., Ltd. Susceptor
ITMI20041677A1 (it) * 2004-08-30 2004-11-30 E T C Epitaxial Technology Ct Processo di pulitura e processo operativo per un reattore cvd.
KR100618868B1 (ko) * 2004-10-19 2006-08-31 삼성전자주식회사 스핀 장치
DE102004062553A1 (de) * 2004-12-24 2006-07-06 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit RF-geheizter Prozesskammer
ITMI20052498A1 (it) * 2005-12-28 2007-06-29 Lpe Spa Camera di reazione a temperatura differenziata
KR100885180B1 (ko) * 2006-12-27 2009-02-23 세메스 주식회사 기판 지지유닛, 그리고 상기 기판 지지유닛을 구비하는기판처리장치 및 방법
IL198123A0 (en) * 2008-04-18 2009-12-24 Snecma Propulsion Solide A heat treatment oven with inductive heating
KR20130107001A (ko) * 2012-03-21 2013-10-01 엘지이노텍 주식회사 증착 장치
ITCO20130073A1 (it) 2013-12-19 2015-06-20 Lpe Spa Camera di reazione di un reattore per crescite epitassiali adatta per l'uso con un dispositivo di carico/scarico e reattore
EP3164884B1 (en) 2014-07-03 2022-02-23 LPE S.p.A. Tool for manipulating substrates, manipulation method and epitaxial reactor
KR102343103B1 (ko) * 2015-07-10 2021-12-28 주식회사 테스 유기금속화학기상증착장치
JP6648627B2 (ja) 2016-04-27 2020-02-14 三菱電機株式会社 炭化珪素エピタキシャルウエハの製造方法、炭化珪素半導体装置の製造方法及び炭化珪素エピタキシャルウエハの製造装置
CN107435165A (zh) * 2016-05-26 2017-12-05 北京北方华创微电子装备有限公司 一种外延反应腔和化学气相外延设备
WO2018028873A1 (en) * 2016-08-09 2018-02-15 Singulus Technologies Ag A non-contact substrate carrier for simultaneous rotation and levitation of a substrate
KR101885026B1 (ko) * 2017-03-22 2018-08-02 오충석 웨이퍼 회전장치
DE102018131751A1 (de) 2018-12-11 2020-06-18 Aixtron Se Suszeptor eines CVD-Reaktors
IT201800011158A1 (it) 2018-12-17 2020-06-17 Lpe Spa Camera di reazione per un reattore epitassiale di materiale semiconduttore con sezione longitudinale non-uniforme e reattore
CN112648937B (zh) * 2019-10-13 2023-01-06 中北大学 带有防转机构的孔检测装置与检测方法
IT201900022047A1 (it) * 2019-11-25 2021-05-25 Lpe Spa Dispositivo di supporto substrati per una camera di reazione di un reattore epitassiale con rotazione a flusso di gas, camera di reazione e reattore epitassiale
CN110760820A (zh) * 2019-12-05 2020-02-07 深圳市志橙半导体材料有限公司 一种气相沉积炉内气体悬浮装置
CN112951739A (zh) * 2019-12-10 2021-06-11 圆益Ips股份有限公司 基板支撑架及基板处理装置
IT202000021517A1 (it) 2020-09-11 2022-03-11 Lpe Spa Metodo per deposizione cvd di carburo di silicio con drogaggio di tipo n e reattore epitassiale
KR20220067988A (ko) * 2020-11-18 2022-05-25 주식회사 원익아이피에스 기판 지지 조립체 및 기판 처리 장치
CN114686973B (zh) * 2022-03-18 2023-11-14 复旦大学 一种半导体薄膜生长感应加热式设备的反应腔结构
CN115537919B (zh) * 2022-11-01 2024-01-19 江苏汉印机电科技股份有限公司 一种高温气悬浮旋转机构

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1458222A (en) * 1973-03-12 1976-12-08 Electricity Council Furnaces for the production of tubular or cyclindrical ceramic articles
US3980854A (en) * 1974-11-15 1976-09-14 Rca Corporation Graphite susceptor structure for inductively heating semiconductor wafers
JPH0669027B2 (ja) * 1983-02-21 1994-08-31 株式会社日立製作所 半導体ウエハの薄膜形成方法
US4794217A (en) * 1985-04-01 1988-12-27 Qing Hua University Induction system for rapid heat treatment of semiconductor wafers
FR2596070A1 (fr) * 1986-03-21 1987-09-25 Labo Electronique Physique Dispositif comprenant un suscepteur plan tournant parallelement a un plan de reference autour d'un axe perpendiculaire a ce plan
FR2650841A1 (fr) * 1989-08-11 1991-02-15 Thomson Tubes Electroniques Dispositif de depot d'un materiau sur un support thermiquement conducteur
US5155062A (en) * 1990-12-20 1992-10-13 Cree Research, Inc. Method for silicon carbide chemical vapor deposition using levitated wafer system
US5106204A (en) * 1991-03-25 1992-04-21 Dunham James L High unit load gas bearing
US5226383A (en) * 1992-03-12 1993-07-13 Bell Communications Research, Inc. Gas foil rotating substrate holder
US5221356A (en) * 1992-10-08 1993-06-22 Northern Telecom Limited Apparatus for manufacturing semiconductor wafers
SE9500326D0 (sv) * 1995-01-31 1995-01-31 Abb Research Ltd Method for protecting the susceptor during epitaxial growth by CVD and a device for epitaxial growth by CVD
SE9600705D0 (sv) * 1996-02-26 1996-02-26 Abb Research Ltd A susceptor for a device for epitaxially growing objects and such a device
US5788777A (en) * 1997-03-06 1998-08-04 Burk, Jr.; Albert A. Susceptor for an epitaxial growth factor
US6005226A (en) * 1997-11-24 1999-12-21 Steag-Rtp Systems Rapid thermal processing (RTP) system with gas driven rotating substrate
DE10055033A1 (de) * 2000-11-07 2002-05-08 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit grafitschaum-isoliertem, rohrförmigen Suszeptor
DE10055182A1 (de) * 2000-11-08 2002-05-29 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit von einem Gasstrom drehgelagerten und -angetriebenen Substrathalter
DE10056029A1 (de) * 2000-11-11 2002-05-16 Aixtron Ag Verfahren und Vorrichtung zur Temperatursteuerung der Oberflächentemperaturen von Substraten in einem CVD-Reaktor
US6569250B2 (en) * 2001-01-08 2003-05-27 Cree, Inc. Gas-driven rotation apparatus and method for forming silicon carbide layers
DE10132448A1 (de) * 2001-07-04 2003-01-23 Aixtron Ag CVD-Vorrichtung mit differenziert temperiertem Substrathalter
ITMI20020306A1 (it) 2002-02-15 2003-08-18 Lpe Spa Suscettore dotato di rientranze e reattore epitassiale che utilizza lo stesso
US6797069B2 (en) * 2002-04-08 2004-09-28 Cree, Inc. Gas driven planetary rotation apparatus and methods for forming silicon carbide layers
WO2004053188A1 (en) 2002-12-10 2004-06-24 E.T.C. Epitaxial Technology Center Srl Susceptor system
CN100507073C (zh) * 2002-12-10 2009-07-01 Etc外延技术中心有限公司 感受器系统
JP4923189B2 (ja) * 2004-06-09 2012-04-25 イー・テイ・シー・エピタキシヤル・テクノロジー・センター・エス・アール・エル 支持システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008159947A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Tokyo Electron Ltd 成膜装置および成膜方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE60231256D1 (de) 2009-04-02
ATE380263T1 (de) 2007-12-15
DE60317932D1 (de) 2008-01-17
DE60317932T2 (de) 2008-11-27
EP1570108B1 (en) 2009-02-18
KR20050085503A (ko) 2005-08-29
EP1570108A1 (en) 2005-09-07
ATE423226T1 (de) 2009-03-15
US20060054091A1 (en) 2006-03-16
WO2004053189A1 (en) 2004-06-24
EP1581667B1 (en) 2007-12-05
CN1714169A (zh) 2005-12-28
WO2004053188A1 (en) 2004-06-24
AU2003242999A1 (en) 2004-06-30
US20060118048A1 (en) 2006-06-08
AU2002368439A1 (en) 2004-06-30
US7615121B2 (en) 2009-11-10
EP1581667A1 (en) 2005-10-05
CN1708602A (zh) 2005-12-14
US7387687B2 (en) 2008-06-17
JP2006509363A (ja) 2006-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006513559A (ja) サセプタ・システム
JP4423205B2 (ja) サセプタ・システム、及び、サセプタ・システムを含む装置
US7390367B1 (en) Housing assembly for an induction heating device including liner or susceptor coating
US8696814B2 (en) Film deposition apparatus and film deposition method
US20090145890A1 (en) Treatment apparatus, treatment method, and storage medium
US20020104476A1 (en) Apparatus for growing epitaxial layers on wafers by chemical vapor deposition
KR20080004448A (ko) 에피택시얼 반응기용 서셉터 및 그것의 핸들링을 위한 툴
JP4855029B2 (ja) 半導体結晶の成長装置
KR20050084238A (ko) 서셉터 시스템
RU2304635C2 (ru) Система токоприемника
RU2305718C2 (ru) Система токоприемника
KR20050085502A (ko) 서셉터 시스템
JP2004014892A (ja) 高温加熱装置
JP3419992B2 (ja) セラミックス部材
JP5383752B2 (ja) 断熱壁体、加熱装置、基板処理装置および半導体装置の製造方法
JP4888219B2 (ja) 膜形成装置および炭化珪素半導体装置の製造方法
JPH03295231A (ja) 表面処理装置
JPS63155609A (ja) 電子サイクロトロン共鳴プラズマ装置
KR20120047181A (ko) 진공 열처리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060802

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20060802

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060807

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060802

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090217

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090515

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090522

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090617

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090710