JP2006510926A - 共焦点スリットスキャナを備える、対象物を結像するための走査型顕微鏡 - Google Patents
共焦点スリットスキャナを備える、対象物を結像するための走査型顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006510926A JP2006510926A JP2004555992A JP2004555992A JP2006510926A JP 2006510926 A JP2006510926 A JP 2006510926A JP 2004555992 A JP2004555992 A JP 2004555992A JP 2004555992 A JP2004555992 A JP 2004555992A JP 2006510926 A JP2006510926 A JP 2006510926A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- scanning microscope
- light
- beam path
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 111
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 71
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 63
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 claims description 2
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 22
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 2
- 238000004624 confocal microscopy Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000010226 confocal imaging Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
- G02B21/0084—Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
高い走査速度と改善されたS/N比で検出する走査顕微鏡の提供。
【解決手段】
本発明は、対象物(1)を結像するための走査型顕微鏡であって、光源(2)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択素子(8)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択性検出装置(4)と、光源(2)から対象物(1)まで延在する照明ビーム路(3)と、対象物(1)から検出装置(4)まで延在する検出ビーム路(5)とを有し、スペクトル選択素子(8)により光源の光が対象物照明のために選択可能であり、スペクトル選択素子(8)により、対象物(1)で反射および/または散乱された光源(2)の選択光が検出ビーム路(5)から分離可能であり、検出ビーム路(5)に延在する光の少なくとも1つの波長領域がスペクトル選択性検出装置(4)により検出可能である走査型顕微鏡に関する。そして対象物(1)を高い走査速度と改善されたS/N比の下で検出するために、照明ビーム路(3)と検出ビーム路(5)とは共焦点スリットスキャナのように構成されている。
Description
2 レーザ光源
3 照明ビーム路
4 検出装置
5 検出ビーム路
6、7、32、34 検出器
8 スペクトル選択素子
9 走査装置
10 ビームキャッチャ
11 照明スリット絞り
12、29 レンズ
13 検出スリット絞り
14 焦点面
15 顕微鏡対物レンズ
16、17、18、19 絞り
22 ズーム光学系
23 検出ビーム路に延在する光をスペクトル分解するための手段
25 第1スペクトル領域
26、27 モータ
28 反射されたスペクトル領域を選択するための手段
33 光をまとめるための手段
35、39 ミラー
38 光軸
24,40 第1スペクトル領域を選択するための手段
36 第1AOTF結晶板
37 第2AOTF結晶板
Claims (16)
- 対象物(1)を結像するための走査型顕微鏡であって、光源(2)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択素子(8)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択性検出装置(4)と、光源(2)から対象物(1)まで延在する照明ビーム路(3)と、対象物(1)から検出装置(4)まで延在する検出ビーム路(5)とを有し、
スペクトル選択素子(8)により光源の光が対象物照明のために選択可能であり、
スペクトル選択素子(8)により、対象物(1)で反射および/または散乱された光源(2)の選択光が検出ビーム路(5)から分離可能であり、
検出ビーム路(5)に延在する光の少なくとも1つの波長領域がスペクトル選択性検出装置(4)により検出可能である形式の走査型顕微鏡において、
照明ビーム路(3)と検出ビーム路(5)とは共焦点スリットスキャナのように構成されている、ことを特徴とする走査型顕微鏡。 - 照明ビーム路(3)には照明スリット絞り(11)が設けられていることを特徴とする請求項1記載の走査型顕微鏡。
- 検出ビーム路(5)には検出スリット絞り(13)が設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の走査型顕微鏡。
- 照明スリット絞り(11)および/または検出スリット絞り(13)のスリット長および/またはスリット幅は可変調整可能であることを特徴とする請求項2または3記載の走査型顕微鏡。
- 照明スリット絞り(11)および/または検出スリット絞り(13)は可動配置された絞り(16,17,18,19)を含み、
有利には各絞り(16,17,18,19)の辺が照明スリット絞り(11)ないしは検出スリット絞り(13)のスリットを形成することを特徴とする請求項4記載の走査型顕微鏡。 - 照明スリット絞り(11)および/または検出スリット絞り(13)にはそれぞれ1つのズーム光学系(22)が配属されており、該ズーム光学系によって照明スリット絞り(11)ないしは検出スリット絞り(13)の有効スリット幅および/または有効スリット長が可変であることを特徴とする請求項4または5記載の走査型顕微鏡。
- スペクトル選択素子(8)は制御可能なアクティブ光学部材を含み、該アクティブ光学部材は有利にはAOTF(音響光学同調可能フィルタ)またはAOD(音響光学デフレクタ)であることを特徴とする請求項1から6までのいずれか1項記載の走査型顕微鏡。
- スペクトル選択性検出装置(4)は、検出ビーム路(5)に延在する光をスペクトル分解するための、有利にはプリズムの形態の、手段(23)と、第1検出器(6)によって検出するために第1スペクトル領域(25)を選択するための手段(24,40)と、第2検出器(7)によって検出するために、選択されなかったスペクトル領域の少なくとも一部を反射するための手段(24,40)とを有することを特徴とする請求項1から7までのいずれか1項記載の走査型顕微鏡。
- 検出装置(4)は面状またはライン状の検出器(6,7,32,34)を有し、該検出器はその面形状またはライン形状に相応する位置分解能を有することを特徴とする請求項1から8までのいずれか1項記載の走査型顕微鏡。
- 検出器(6,7,32,34)はCCD素子を含み、該CCD素子はCCDアレイまたはCCDラインの形態に構成されていることを特徴とする請求項9記載の走査型顕微鏡。
- 検出ビーム路(5)には検出装置(4)の検出器(6,7,32,34)の前方に、有利には可変の、適合光学系が配置されており、該適合光学系によって、検出すべきスペクトル領域の光ビームの形状が検出器形状に適合可能であることを特徴とする請求項10記載の走査型顕微鏡。
- 検出ビーム路(5)には検出装置(4)の検出器(32,34)の前方に、光をまとめるための手段(33)が配置されており、該光をまとめるための手段は実質的にライン状または合焦された光ビームを形成することを特徴とする請求項10または11記載の走査型顕微鏡。
- 光をまとめるための手段(33)は、レンズ、プリズム、グリッドまたはホログラムを有することを特徴とする請求項12記載の走査型顕微鏡。
- 検出装置(4)の検出器(6,7,32,34)は、μs領域またはns領域にある読み出し速度を有し、これにより有利には蛍光寿命実験および/または蛍光試料の減衰特性を時間的に分解することができることを特徴とする請求項1から13までのいずれか1項記載の走査型顕微鏡。
- 検出装置(4)の検出器(6,7,32,34)は、検出器を時間的に作動および非作動とすることができるアクティベーションユニットを有することを特徴とする請求項14記載の走査型顕微鏡。
- 対象物または対象物マーキングに用いるマーカーのマルチフォトン励起を特徴とする請求項1から15までのいずれか1項記載の走査型顕微鏡。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10257120.1A DE10257120B4 (de) | 2002-12-05 | 2002-12-05 | Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts |
PCT/DE2003/003163 WO2004051341A1 (de) | 2002-12-05 | 2003-09-23 | Rastermikroskop mit konfokalem spaltscanner zum abbilden eines objektes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006510926A true JP2006510926A (ja) | 2006-03-30 |
JP4116622B2 JP4116622B2 (ja) | 2008-07-09 |
Family
ID=32403722
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004555992A Expired - Fee Related JP4116622B2 (ja) | 2002-12-05 | 2003-09-23 | 共焦点スリットスキャナを備える、対象物を結像するための走査型顕微鏡 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7477380B2 (ja) |
EP (1) | EP1606665A1 (ja) |
JP (1) | JP4116622B2 (ja) |
AU (1) | AU2003280287A1 (ja) |
DE (1) | DE10257120B4 (ja) |
WO (1) | WO2004051341A1 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007286379A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Korea Advanced Inst Of Sci Technol | 分散光学系を用いた実時間共焦点顕微鏡 |
JP2008275791A (ja) * | 2007-04-26 | 2008-11-13 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡 |
JP2009294392A (ja) * | 2008-06-04 | 2009-12-17 | Olympus Corp | レーザー走査型顕微鏡 |
JP2010506203A (ja) * | 2006-10-06 | 2010-02-25 | カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー | 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置 |
JP2010262176A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
US8470208B2 (en) | 2006-01-24 | 2013-06-25 | E I Du Pont De Nemours And Company | Organometallic complexes |
JP2019529999A (ja) * | 2016-09-16 | 2019-10-17 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 光学顕微鏡 |
JP2019532360A (ja) * | 2016-10-17 | 2019-11-07 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 顕微鏡の検出光のための光学グループ、顕微鏡法のための方法、及び顕微鏡 |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004034977A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop und Verwendung |
DE102004034981A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung |
DE102004034970A1 (de) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop und Verwendung |
JP4740562B2 (ja) * | 2004-07-26 | 2011-08-03 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡および分光データ取得プログラム |
JP4817356B2 (ja) * | 2005-03-15 | 2011-11-16 | ナノフォトン株式会社 | 光学顕微鏡 |
US20100049055A1 (en) * | 2005-05-31 | 2010-02-25 | W.O.M. World Of Medicine Ag | Method and apparatus for visual characterization of tissue |
DE102005042890B4 (de) * | 2005-09-09 | 2007-05-31 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Konfokalmikroskop und Verfahren zur Detektion mit einem Konfokalmikroskop |
JP2007132794A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Olympus Corp | 多光子励起型観察装置および多光子励起型観察用光源装置 |
JP4887989B2 (ja) * | 2005-12-02 | 2012-02-29 | ナノフォトン株式会社 | 光学顕微鏡及びスペクトル測定方法 |
JP5255750B2 (ja) * | 2005-12-13 | 2013-08-07 | ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー | 検出器 |
DE102007005790A1 (de) * | 2007-02-06 | 2008-08-07 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Einrichtung zur Blendenpositionierung |
ITFI20070260A1 (it) * | 2007-11-21 | 2009-05-22 | Light 4 Tech Firenze S R L | Dispositivo per illuminare un oggetto con una sorgente di luce multispettrale e rivelare lo spettro della luce emessa. |
US8767216B2 (en) * | 2009-10-13 | 2014-07-01 | California Institute Of Technology | Holographically illuminated imaging devices |
DE102010006662B4 (de) * | 2010-02-03 | 2019-07-25 | Diehl Defence Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zum Abbilden einer Umgebung auf eine Detektoreinrichtung |
WO2011106327A2 (en) * | 2010-02-23 | 2011-09-01 | California Institute Of Technology | High resolution imaging devices with wide field and extended focus |
DE102010036790A1 (de) | 2010-08-02 | 2012-02-02 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Einrichtung zur lückenlosen Einstellung von Spektrometer-Spaltbreiten |
WO2012103440A1 (en) | 2011-01-28 | 2012-08-02 | Rudolph Technologies, Inc. | Position sensitive detection optimization |
WO2012122398A2 (en) | 2011-03-09 | 2012-09-13 | California Institute Of Technology | Talbot imaging devices and systems |
CN102749027B (zh) * | 2011-04-18 | 2015-08-12 | 陈亮嘉 | 线型彩色共焦显微系统 |
US8946619B2 (en) | 2011-04-20 | 2015-02-03 | California Institute Of Technology | Talbot-illuminated imaging devices, systems, and methods for focal plane tuning |
DE102011114336A1 (de) * | 2011-09-23 | 2013-03-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem |
US9456746B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-10-04 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Systems and methods for broad line fundus imaging |
US9322962B1 (en) * | 2014-10-31 | 2016-04-26 | Everready Precision Ind. Corp. | Structured light generation device |
US9958687B2 (en) | 2014-10-31 | 2018-05-01 | Everready Precision Ind. Corp. | Apparatus of structured light generation |
TWI630770B (zh) * | 2014-10-31 | 2018-07-21 | 高準精密工業股份有限公司 | 結構光產生裝置 |
US11042016B2 (en) | 2017-12-12 | 2021-06-22 | Trustees Of Boston University | Multi-Z confocal imaging system |
WO2020064778A2 (en) | 2018-09-28 | 2020-04-02 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Low cost fundus imager with integrated pupil camera for alignment aid |
US11287444B2 (en) | 2018-10-08 | 2022-03-29 | The Regents Of The University Of California | Array atomic force microscopy for enabling simultaneous multi-point and multi-modal nanoscale analyses and stimulations |
CN113686265B (zh) * | 2021-07-30 | 2022-11-01 | 哈尔滨工业大学 | 基于变形镜补偿的高稳定性纳弧度量级角度测量方法与装置 |
DE102023102418A1 (de) | 2023-02-01 | 2024-08-01 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Konfokalmikroskop und Verfahren zum Justieren eines Konfokalmikroskopes |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9014263D0 (en) * | 1990-06-27 | 1990-08-15 | Dixon Arthur E | Apparatus and method for spatially- and spectrally- resolvedmeasurements |
DE4330347C2 (de) | 1993-09-08 | 1998-04-09 | Leica Lasertechnik | Verwendung einer Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
US5866911A (en) * | 1994-07-15 | 1999-02-02 | Baer; Stephen C. | Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system |
DE19902625A1 (de) | 1998-01-28 | 1999-09-30 | Leica Microsystems | Vorrichtung zur gleichzeitigen Detektion mehrerer Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
DE19906757B4 (de) | 1998-02-19 | 2004-07-15 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Mikroskop |
WO1999042884A1 (de) * | 1998-02-19 | 1999-08-26 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optische anordnung mit spektral selektivem element |
GB9825267D0 (en) * | 1998-11-19 | 1999-01-13 | Medical Res Council | Scanning confocal optical microscope system |
JP2000314839A (ja) | 1999-04-30 | 2000-11-14 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査型顕微鏡 |
DE10038049A1 (de) * | 2000-08-02 | 2002-02-14 | Leica Microsystems | Optische Anordnung zur Selektion und Detektion des Spektalbereichs eines Lichtstrahls |
WO2002082025A2 (en) | 2001-04-06 | 2002-10-17 | Renishaw Plc | Optical slit |
DE10120425C2 (de) * | 2001-04-26 | 2003-12-18 | Leica Microsystems | Scanmikroskop |
KR20020084786A (ko) | 2001-05-04 | 2002-11-11 | 이재웅 | 선형 선 스캐닝을 이용하는 공초점 영상 형성 장치 및 방법 |
DE10132638A1 (de) * | 2001-07-05 | 2003-01-16 | Leica Microsystems | Scanmikroskop und Verfahren zur wellenlängenabhängigen Detektion |
-
2002
- 2002-12-05 DE DE10257120.1A patent/DE10257120B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-09-23 JP JP2004555992A patent/JP4116622B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-09-23 AU AU2003280287A patent/AU2003280287A1/en not_active Abandoned
- 2003-09-23 WO PCT/DE2003/003163 patent/WO2004051341A1/de active Application Filing
- 2003-09-23 EP EP03770874A patent/EP1606665A1/de not_active Ceased
- 2003-09-23 US US10/537,335 patent/US7477380B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8470208B2 (en) | 2006-01-24 | 2013-06-25 | E I Du Pont De Nemours And Company | Organometallic complexes |
JP2007286379A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Korea Advanced Inst Of Sci Technol | 分散光学系を用いた実時間共焦点顕微鏡 |
JP2010506203A (ja) * | 2006-10-06 | 2010-02-25 | カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー | 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置 |
JP2008275791A (ja) * | 2007-04-26 | 2008-11-13 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡 |
JP2009294392A (ja) * | 2008-06-04 | 2009-12-17 | Olympus Corp | レーザー走査型顕微鏡 |
JP2010262176A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
JP2019529999A (ja) * | 2016-09-16 | 2019-10-17 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 光学顕微鏡 |
JP7130628B2 (ja) | 2016-09-16 | 2022-09-05 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 光学顕微鏡 |
US11686928B2 (en) | 2016-09-16 | 2023-06-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Light microscope |
JP2019532360A (ja) * | 2016-10-17 | 2019-11-07 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 顕微鏡の検出光のための光学グループ、顕微鏡法のための方法、及び顕微鏡 |
US11221472B2 (en) | 2016-10-17 | 2022-01-11 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optical group for detection light for a microscope, method for microscopy, and microscope |
JP7045382B2 (ja) | 2016-10-17 | 2022-03-31 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー | 顕微鏡の検出光のための光学グループ、顕微鏡法のための方法、及び顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10257120B4 (de) | 2020-01-16 |
AU2003280287A1 (en) | 2004-06-23 |
EP1606665A1 (de) | 2005-12-21 |
WO2004051341A1 (de) | 2004-06-17 |
DE10257120A1 (de) | 2004-07-08 |
US20060152787A1 (en) | 2006-07-13 |
JP4116622B2 (ja) | 2008-07-09 |
US7477380B2 (en) | 2009-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4116622B2 (ja) | 共焦点スリットスキャナを備える、対象物を結像するための走査型顕微鏡 | |
JP6035018B2 (ja) | 連続的な光シートを用いるspim顕微鏡 | |
US7999935B2 (en) | Laser microscope with a physically separating beam splitter | |
JP5259154B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡 | |
US5381224A (en) | Scanning laser imaging system | |
JP5894180B2 (ja) | 深さ分解能が向上した顕微鏡検査 | |
EP0564178B1 (en) | Scanning confocal microscope | |
US7576862B2 (en) | Measuring time dependent fluorescence | |
EP3742216A1 (en) | Optical arrangement for oblique plane microscopy | |
US20050146784A1 (en) | Confocal microscope having multiple independent excitation paths | |
JP2010517029A (ja) | 分光装置および方法 | |
JP4899648B2 (ja) | スペクトル観察方法及びスペクトル観察システム | |
US20130250088A1 (en) | Multi-color confocal microscope and imaging methods | |
CN114787684A (zh) | 具有照明及收集物镜的非正交布置的开顶式光片显微镜 | |
EP1265092B1 (en) | Method and Apparatus for ROI-Scan with High Temporal Resolution | |
JP7527041B2 (ja) | 分光測定装置、及び分光測定方法 | |
WO2005029148A1 (de) | Mehr-photonen-fluoreszenzmikroskop mit flächendetektor | |
JP2012208361A (ja) | 走査型顕微鏡および走査型顕微鏡システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060315 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071003 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071009 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20071227 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080110 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080318 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080417 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4116622 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120425 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130425 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140425 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |