JP2006284375A - 物理量検出方法及びセンサ装置 - Google Patents

物理量検出方法及びセンサ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006284375A
JP2006284375A JP2005105018A JP2005105018A JP2006284375A JP 2006284375 A JP2006284375 A JP 2006284375A JP 2005105018 A JP2005105018 A JP 2005105018A JP 2005105018 A JP2005105018 A JP 2005105018A JP 2006284375 A JP2006284375 A JP 2006284375A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
temperature
physical quantity
output
coefficient
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005105018A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4736508B2 (ja
JP2006284375A5 (ja
Inventor
Yukihiko Tanizawa
幸彦 谷澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2005105018A priority Critical patent/JP4736508B2/ja
Priority to US11/358,055 priority patent/US7231312B2/en
Priority to DE102006011264A priority patent/DE102006011264A1/de
Publication of JP2006284375A publication Critical patent/JP2006284375A/ja
Publication of JP2006284375A5 publication Critical patent/JP2006284375A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4736508B2 publication Critical patent/JP4736508B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • G01R33/072Constructional adaptation of the sensor to specific applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/028Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
    • G01D3/036Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
    • G01D3/0365Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves the undesired influence being measured using a separate sensor, which produces an influence related signal

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

【課題】オフセットや感度等のパラメータが温度の変化に起因して非線形に変化するようなセンサであれ、それら温度特性を的確に補償して、対象となる物理量をより高精度に検出することのできる物理量検出方法及び該検出方法を利用するセンサ装置の提供。
【解決手段】センサの出力と実際の物理量との関係を、センサ自身の物理量に対する非直線性と感度及びオフセットの温度特性とをそれぞれ係数として規定される2次方程式にて近似する。また、それら係数のそれぞれについても、温度を独立変数とする2次方程式にて近似してその温度係数をROM22に記憶保持しておく。そして、この温度係数とその都度の温度とを上記温度を独立変数とする2次方程式に代入するとともに、得られた上記係数と上記センサの出力とを、同センサの出力と実際の物理量との関係を規定する上記2次方程式に代入して実際の物理量を算出する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、被検出物理量とセンサ出力との関係を是正して物理量の検出を行う物理量検出方法及び該検出方法を利用するセンサ装置に関するものである。
近年、例えば車両では、温度、圧力、磁界等の物理量を検出する各種センサから出力されるセンサ信号をデジタルデータに変換し、このデジタルデータを用いてエンジンの運転制御をはじめとする各種制御を行っている。ただし、これらセンサは通常、オフセットや感度といった温度に依存するパラメータを有していることから、上記センサ信号も、たとえ検出対象とする物理量が同じであったとしても、そのときの温度によって異なる値を示すなどの不都合を生じることとなる。そして、こうしたセンサの特性に起因して実際の物理量とセンサ信号との乖離が大きくなると、上記制御そのものの信頼性が大きく低下することともなるため、従来より、こうしたセンサの温度特性を考慮して、センサ信号に対する補正が行われている。その補正方法の一例として、特許文献1に記載されたセンサ装置を採用する方法がある。
すなわちこのセンサ装置は、実際の物理量の変化とセンサ信号との関係を上記オフセットや感度も含めて直線近似、すなわち一次式で近似して、センサから出力される信号を、そのときのセンサの温度を考慮した値に補正するための補正係数を求める。そして、この求めた補正係数を適宜に記憶しておき、物理量を検出する際には、センサの温度を求めるとともに、その都度検出される物理量をこの求めたセンサの温度を考慮した上記補正係数を用いて補正演算するようにしている。
特開平11−44585号公報
ところで、センサ素子によっては、上述したオフセットや感度などのパラメータ自体が温度に依存して非直線的に、すなわち非線形的に変化することも多い。そしてこの場合には、これらパラメータの非線形な温度特性に起因して、実際の物理量の変化に対するセンサ信号の変化もより複雑なものとなる。しかし、上記従来のセンサ装置では、求める物理量とセンサ信号との関係をこれらオフセットや感度も含めて直線近似するようにしている。このため、これが例えばサーモパイルを用いた赤外線センサ、あるいは磁気抵抗素子を用いた磁気センサや電流センサ等のように、上記パラメータ自体が非線形な温度特性を有するセンサに適用される場合には、その検出精度の低下が避けられない。
本発明は、こうした実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、オフセットや感度等のパラメータが温度の変化に起因して非線形に変化するようなセンサであれ、それら温度特性を的確に補償して、対象となる物理量をより高精度に検出することのできる物理量検出方法及び該検出方法を利用するセンサ装置を提供することにある。
こうした目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、センサの出力と同センサによって求める実際の物理量との関係を、当該センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性をそれぞれ係数として規定される2次方程式にて近似するとともに、それら係数のそれぞれについても、温度を独立変数とする高次の方程式にて近似してその温度係数を予め記憶手段に記憶保持しておき、上記センサのその都度の出力に基づき、
a.上記記憶保持している温度係数とその都度の温度とを上記高次の方程式に代入して、上記2次方程式の係数である上記センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性を求める処理、及び
b.これら得られた係数と上記センサの出力とを上記2次方程式に代入して、同センサによって求める実際の物理量を算出する処理、
を実行して上記実際の物理量を検出するようにした。
物理量検出方法としてこのような方法によれば、センサの出力と同センサによって求める実際の物理量との関係が2次方程式にて近似されるとともに、この2次方程式の係数が高次の方程式にて近似されることとなるため、温度の変化に起因して非線形に変化するようなセンサであっても、その温度特性が的確に補償されるようになる。このため、これら方程式の解を求める処理にあたる上記a.の処理及び上記b.の処理の実行を通じて検出される(求められる)実際の物理量も自ずと高い精度に維持されるようになる。
また、請求項2に記載の物理量検出方法によるように、上記センサの出力に影響を及ぼすパラメータとして上記センサの感度及びオフセットを用い、上記センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性と共に上記2次方程式の係数とするこれら感度の温度特性及びオフセットの温度特性のそれぞれについて上記温度を独立変数として近似する高次の方程式を2次方程式として近似することとすれば、上記a.の処理の実行にかかる負荷の軽減を通じて、実際の物理量の検出までにかかる時間も好適に短縮されるようになる。
また、こうした物理量検出方法において、具体的には、例えば、請求項3に記載の発明によるように、上記センサ自身の上記物理量に対する非直線性をA、上記センサの感度をB、上記センサのオフセットをC、上記センサの出力をCとするとき、上記実際の物理量を、これをXとして、演算

X=−{(C−C)/B}・[1+{A・(C−C)/B}]

を実行して算出することが望ましい。この演算式は、センサの出力と同センサによって求める実際の物理量との関係を規定する上記2次方程式を級数展開し、この級数展開の結果として得られた項のうち、2次までの項を用いて上記2次方程式を物理量Xについて近似したものである。このような演算式を用いてセンサの出力から実際の物理量を算出するようにすれば、その演算負荷もさらに軽減され、ひいては演算にかかる時間のさらなる短縮が図られるようになる。特に、センサの出力をデジタルデータとして扱う場合には、2次方程式の演算は高次の多項式演算を通じて実行されることとなるため、その演算の実行に必要とされる回路の規模ばかりでなく、物理量の算出にかかる時間も無視できないものとなる。この点、上記演算式を用いた物理量検出方法によれば、上記処理a.及び上記処理b.といった定型処理が速やかに実行されることとなり、物理量の算出にかかる時間の短縮とともに、回路規模の好適な抑制も図られるようになる。
また、請求項4に記載の発明では、物理量を検出するセンサの出力を入力する手段と、該入力されたセンサの出力と同センサによって検出する実際の物理量との関係を、当該センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性をそれぞれ係数として規定される2次方程式にて近似し、且つそれら係数のそれぞれについても、温度を独立変数とする高次の方程式にて近似したときの各温度係数を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶されている温度係数とその都度の温度とを上記高次の方程式に代入して、上記2次方程式の係数である上記センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性を求めるとともに、これら得られた係数と上記センサの出力とを上記2次方程式に代入して、同センサによって検出する実際の物理量を演算する演算手段とを備えてセンサ装置を構成するようにした。
センサ装置としてこのような構成によれば、演算手段を通じて上記請求項1に記載の物理量検出方法が忠実に実行されることとなる。したがって、このようなセンサ装置によっても、オフセットや感度等のパラメータが温度の変化に起因して非線形に変化するようなセンサであれ、それら温度特性を的確に補償して、対象となる物理量をより高精度に検出することができるようになる。
また、センサ装置としてのこのような構成において請求項5に記載の発明によるように、上記センサの出力に影響を及ぼすパラメータが上記センサの感度及びオフセットであり、上記演算手段が、上記センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性と共に上記2次方程式の係数とするこれら感度の温度特性及びオフセットの温度特性のそれぞれについて上記温度を独立変数として近似する高次の方程式を2次方程式として近似して上記演算を実行するようにすれば、演算手段を通じて上記請求項2に記載の物理量検出方法が忠実に実行されることとなる。したがって、このようなセンサ装置によっても、演算負荷の軽減が図られ、実際の物理量の検出までにかかる時間も短縮されるようになる。
また、こうしたセンサ装置においても、具体的には、例えば、請求項6に記載の発明によるように、上記センサ自身の上記物理量に対する非直線性をA、上記センサの感度をB、上記センサのオフセットをC、上記センサの出力をCとするとき、上記演算手段が、上記実際の物理量を、これをXとして、演算

X=−{(C−C)/B}・[1+{A・(C−C)/B}]

を実行して算出するようにすることが望ましい。上述したように、この演算式は、入力されたセンサの出力から同センサによって検出する実際の物理量を求めるための近似式ではあるが、この近似式を用いてセンサの出力から実際の物理量を算出することで、必要十分な精度、並びに信頼性が確保された状態で、演算手段における演算負荷のさらなる軽減、並びに演算時間の短縮が図られるようになる。
また、請求項6に記載のセンサ装置は、請求項7に記載の発明によるように、上記センサの出力を入力する手段が、この入力したセンサの出力を所定の分解能にてデジタル信号に変換するAD変換器を備え、上記演算手段が、この変換されたデジタル信号と上記記憶手段に記憶されている各温度係数を示すデータとに基づいて上記演算を実行するデジタル信号処理部からなるセンサ装置に適用して特に有効である。すなわち、デジタル信号処理部における2次方程式の演算は高次の多項式演算を通じて実行されることとなるため、デジタル信号処理部の回路規模やその演算時間は無視できないものとなる。この点、上記演算式(近似式)を用いて実際の物理量を算出するようにすれば、上記デジタル信号から実際の物理量を求めるまでの処理がデジタル信号処理部によって速やかに実行されることとなり、物理量の演算にかかる時間が短縮されるようになるとともに、デジタル信号処理部としての回路規模も抑制されるようになる。
また、請求項7に記載のセンサ装置において、請求項8に記載の発明によるように、上記記憶手段が、電気的に書き込み可能なROMからなり、上記各温度係数を示すデータが外部から書き込み可能に構成されてなるようにすれば、上記各温度係数を示すデータの書き込みを通じたより柔軟な温度係数の設定が可能となり、より自由度の高い、あるいはより厳格な温度特性の補償が可能となる。
一方、請求項6に記載のセンサ装置において、請求項9に記載の発明によるように、上記入力されたセンサの出力と同センサによって検出する実際の物理量との関係が、当該センサ自身の上記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性を含めて、上記演算手段による演算結果を集約した温度別のマップデータとしてROMに格納されてなり、それらマップデータを選択する温度情報と上記センサの出力情報とが上記ROMに与えられることに基づき、上記実際の物理量Xの値を該ROMから直接読み出す構成とすることもできる。センサ装置としてのこのような構成によっても、オフセットや感度等のパラメータが温度の変化に起因して非線形に変化するようなセンサであれ、それら温度特性が的確に補償されることとなり、対象となる物理量をより高精度に検出することができるようになる。
以下、本発明にかかる物理量検出方法及び同検出方法を利用したセンサ装置を、例えば磁気抵抗素子等の磁気検出素子を用いて電流路を流れる電流の値を磁気的に、すなわち電流の値に対応した電界強度や磁気ベクトルの大きさに基づいて検出する電流センサ装置に適用した一実施の形態について図1〜図5を参照して説明する。
図1に示されるように、このセンサ装置は、センサに接続される入力部10と、演算部(演算手段)20と、出力部30と、これら各部の動作を制御するコントロール部40とを基本的に備えて構成されている。なお、本実施の形態において、上記入力部10に接続されるセンサは、上述した磁気検出型の電流センサと温度検出用のセンサとの2つのセンサからなる。
このうち、電流センサは、例えばハーフブリッジ回路を備えて形成される磁気抵抗素子を有するセンサチップと、同磁気抵抗素子に磁気ベクトルを付与するバイアス磁石とを基板上に備えて構成されている。そして、この基板が、樹脂などからなるモールド材によりモールドされた状態で当該電流センサの電流検出の対象となる電流路、例えばバスバー上に設置される構造となっている。このような構成では、バスバーを流れる電流によって発生する磁気ベクトルと上記バイアス磁石による磁気ベクトルとの合成ベクトルが、上記電流の変化に伴って角度変化するようになる。電流センサは、こうした合成ベクトルの角度変化を感知してバスバーに流れる電流の電流量を検出し、この検出した電流量に対応する原センサ信号OXを出力する。
一方、温度検出用のセンサは、例えば前記特許文献1に記載されているセンサのように、拡散抵抗(温度係数は1500〜1700ppm/℃程度)により形成された感温抵抗素子と、温度係数が零に近い材料である例えばCrSiにより形成された拡散抵抗(基準抵抗素子)とが交互に接続されたフルブリッジ回路として構成されている。そして、このブリッジ回路にブリッジ電圧を印加しておき、該電圧の印加状態において温度が変化するときの上記感温抵抗素子の抵抗値の変化、すなわち上記感温抵抗素子と上記基準抵抗素子との対向する接続点間の電位差の変化に基づいて温度検出信号OTを出力する。なお、ここで前記原センサ信号OX及び温度検出信号OTは差動信号である場合もありうる。
本実施の形態の例えばこのようなセンサに接続されるセンサ装置において、上記入力部10は、電流センサから入力される原センサ信号OXと温度検出用のセンサから入力される温度検出信号OTとのそれぞれを所定の分解能にてデジタル信号に変換する部分である。すなわち具体的には、この入力部10は、同図1に示されるように、電流センサに接続される増幅器11と、温度検出用のセンサに接続される増幅器12と、マルチプレクサ13と、上記デジタル信号に変換する部分であるAD変換器14とを備えて構成されている。ここでマルチプレクサ13は、上記コントロール部40からの入力切替信号に基づき、上記増幅器11からのセンサ増幅信号PX及び上記増幅器12からの温度増幅信号PTのうちのいずれか一方の信号を選択して、その選択した信号をAD変換器14に出力する回路である。これにより、AD変換器14では、同コントロール部40からの変換開始信号をトリガとして、こうしてマルチプレクサ13から入力される信号を上述した所定の分解能のデジタル信号に変換することとなる。なお、このAD変換器14では、該当する信号の上記デジタル信号への変換が完了すると、その旨を示す変換終了信号をコントロール部40に出力する。そして、センサ増幅信号PXに対応するデジタル信号についてはこれをAD変換値Cとして、また温度増幅信号PTに対応するデジタル信号についてはこれを温度データTとして、それぞれこれらを演算部20へ出力する。
また、同センサ装置において、上記演算部20は、デジタル信号処理部21とROM(記憶手段)22とを備えて構成されている。このROM22には、デジタル信号処理部21が後述する演算処理を実行する際に用いる複数の温度係数(後述)の値が予め記憶されている。また、デジタル信号処理部21は、複数のレジスタ21aを備えており、上記AD変換器14から入力されたセンサ信号のAD変換値Cあるいは温度データTをこのレジスタ21aに記憶する。また、デジタル信号処理部21では、上記コントロール部40から演算開始信号が入力されると、予め設定された所定の論理演算処理の実行を通じて、上記AD変換値C、上記温度データT、及び上記温度係数から上記電流センサによって求めるべき実際の物理量(推定値X)、すなわちバスバーに流れる電流量を示すデジタル値を算出する。そして、デジタル信号処理部21では、同演算処理が終了すると、コントロール部40に対して演算終了信号を出力する。なお、デジタル信号処理部21は、コントロール部40から供給されるクロック信号に同期して上記演算処理を実行する。
ここで、上記デジタル信号処理部21により実行される演算処理についてさらに詳細に説明する。この演算処理は、以下に示す演算式への上記AD変換値C、温度データT、及び温度係数のそれぞれの代入を通じて上記推定値Xを算出する定型処理として実行される処理であり、まず、こうした演算処理において使用される上記演算式の導出例を図2にしたがって説明する。
<演算式の導出>
本実施の形態では、センサの有する温度特性として、センサ自身の磁界の強度に対する非直線性の温度特性と、同センサの出力に影響を及ぼすパラメータ、すなわちオフセット及び感度の温度特性とを考える。したがって、上記AD変換値Cと上記推定値Xとの関係は、センサ自身の磁界の強度(磁気ベクトルの大きさ)に対する非直線性をA、センサの感度をB、センサのオフセットをCとするとき、

AD変換値C=A・X+B・X+C

となる2次方程式で規定される。また、上記非直線性A、感度B、及びオフセットCのそれぞれについても、温度データTを独立変数とする2次方程式で近似する。すなわち、非直線性A、感度B、及びオフセットCはそれぞれ、非直線性Aの温度係数をN〜N、感度Bの温度係数をS〜S、オフセットCの温度係数をO〜Oとしたとき、

非直線性A=N・T+N・T+N
感度B=S・T+S・T+S
オフセットC=O・T+O・T+O

として規定される。このように温度特性を近似したときの上記AD変換値Cと上記推定値Xとの関係を図2にグラフとして示す。また、図3は、上記非直線性A、感度B、及びオフセットCを規定する2次方程式とこの2次方程式の各温度係数とを表としてまとめたものであり、上記演算部20が備えるROM22には、これら温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの値が予め記憶されている。
ここで、上述したAD変換値Cと推定値Xとの関係を示す2次方程式を推定値Xについて解くと、

推定値X={−B±(B−4・A・C)1/2}/(2・A)

となる。この式を、感度Bが正の場合について演算すれば、デジタル信号処理部21によって推定値Xを算出することは可能である。ただし、この式に基づくデジタル信号処理部21での演算は、該式の級数展開の結果得られる高次の多項式についての演算となるため、推定値Xの算出までにかかる演算負荷、並びに時間が無視できないものとなる。そこで、本実施の形態では、以下に示す手順によってデジタル信号処理部21による推定値Xの算出にかかる負荷の軽減、並びに時間の短縮を図るようにしている。
すなわち、(1+X)1/2を級数展開すると、

(1+X)1/2=1+(1/2)・X−(1/8)・X+・・・・

となる高次の多項式が得られることとなるが、このうちの2次までの項を用いて、先のAD変換値Cと推定値Xとの関係を示す2次方程式を整理する。そして、C=C−Cと置くことにより、

推定値X=−(C/B)・{1+A・(C/B)}

となる演算式(近似式)が導出される。本実施の形態におけるデジタル信号処理部21では、この近似式を用いて推定値Xの算出を行う。すなわち、デジタル信号処理部21は、上記非直線性A、感度B、及びオフセットCをそれぞれ規定する2次方程式へその都度の温度データTを代入するとともに、その結果求められた非直線性A、感度B、及びオフセットCの各パラメータを上記近似式へ代入して推定値Xを算出する。
次に、デジタル信号処理部21により実行される演算処理を図4にフローチャートとして示し、このフローチャートを参照しつつ、同演算処理にかかる処理手順を以下に列記する。
<演算処理の手順>
1.レジスタ21aに記憶されているその都度の温度データTと、ROM22に記憶されている温度係数O〜O、S〜S、N〜Nとから非直線性A、感度B、及びオフセットCのそれぞれを算出する(図4ステップS100)。
2.このうちオフセットCとAD変換値Cとを用いて変数C(=C−C1)を算出する(図4ステップS101)。
3.非直線性A、感度B、及び変数Cを先の近似式に代入して推定値Xを算出する(図4ステップS102)。
4.推定値Xをレジスタ21aの中の出力用レジスタに記憶する(図4ステップS103)。
なお、上記AD変換器14でのデジタル変換も含めてこの演算処理をマイクロコンピュータ等で実行することも可能である。また、この場合には、こうした演算処理等を例えばエンジン制御等に用いられる電子制御装置内部の処理としてもよい。ただし上述のように、ここでの演算処理の内容は定型処理であるため、本実施の形態によるように、これをデジタル信号処理部21によるいわゆるDSP(Digital Signal Processor)による演算とすることによって、上記推定値Xの算出をより高速に実行することができるようになり、そのリアルタイム性も好適に確保することができるようになる。
また、図1に示すこのセンサ装置において、上記出力部30は、DA変換器31とボルテージフォロア32とを備えて構成されている。この出力部30は、コントロール部40からデータ取込信号が入力されると、デジタル信号処理部21のレジスタ21aの中の出力レジスタに記憶されている推定値Xを取り込み、DA変換器31にてこの推定値Xをアナログ信号に変換した後、ボルテージフォロア32を介して出力する部分である。このように、デジタル値である推定値Xをアナログ信号に変換することにより、該センサ装置と上記電子制御装置とが距離的に離間して配設される場合であれ、その間を基本的には1本の信号線で結線することが可能となる。
なお、上記推定値Xのアナログ信号への変換は任意であり、例えばこのセンサ装置が上記電子制御装置に組み込まれており、両者間の配線数(信号線の数)が問題とならない場合には、出力部30を割愛して、上記デジタル値からなる推定値Xを直接電子制御装置内の制御部(マイクロコンピュータ)に取り込むようにしてもよい。また、出力部30の構成も任意であり、例えば、パラレルーシリアル変換回路を備える構成として、上記電子制御装置への推定値Xの転送をシリアル通信にて行うようにしてもよい。
そして、同じく図1に示すこのセンサ装置において、上記コントロール部40は、例えば周知の論理回路によって構成され、発信回路41から入力されるクロック信号に同期して、入力部10のマルチプレクサ13及びAD変換器14、演算部20のデジタル信号処理部21、出力部30のDA変換器31のそれぞれを統括制御する部分である。このコントロール部40が実行する処理を図5にフローチャートとして示し、このフローチャートを参照しつつ、同処理の手順を以下に列記する。
1.センサ増幅信号PXを選択する旨の入力切替信号をマルチプレクサ13に出力する(図5ステップS200)。
2.変換開始信号をAD変換器14に出力する(図5ステップS201)。これにより、センサ増幅信号PXのデジタル信号への変換が開始される。
3.AD変換器14から変換終了信号が返されるのを待つ(図5ステップS202)。
4.AD変換器14から変換終了信号が返された後、すなわちAD変換値Cが求められた後、温度増幅信号PTを選択する旨の入力切替信号をマルチプレクサ13に出力する(図5ステップS203)。
5.変換開始信号をAD変換器14に出力する(図5ステップS204)。これにより、温度増幅信号PTのデジタル信号への変換が開始される。
6.AD変換器14から変換終了信号が返されるのを待つ(図5ステップS205)。
7.AD変換器14から変換終了信号が返された後、すなわち、温度データTが求められた後、演算開始信号及びクロック信号をデジタル信号処理部21に出力する(図5ステップS206)。これにより、デジタル信号処理部21では、上述した演算処理が実行されることとなる。
8.デジタル信号処理部21から演算終了信号が返されるのを待つ(図5ステップS207)。
9.デジタル信号処理部21から演算終了信号が返された後、すなわち、推定値Xが算出された後、データ取込信号をDA変換器31に出力する(図5ステップS208)。これにより、算出された推定値Xはアナログ信号に変換されることとなる。
また、このコントロール部40は、入力部10の増幅器11、12のゲイン設定や零点調整等を行うための回路も併せて備えている。この回路を通じて、例えば製造時には、上記増幅器11、12のゲインの設定や零点調整等が行われる。
以上説明した本実施の形態にかかる物理量検出方法及び同検出方法を利用したセンサ装置によれば、以下のような効果を得ることができるようになる。
(1)センサの出力(AD変換値C)と同センサによって求める実際の物理量(推定値X)との関係を2次方程式にて近似するとともに、この2次方程式の係数、すなわち非直線性A、感度B、及びオフセットCも温度データTを独立変数とする2次方程式にて近似することとしたため、センサの温度特性が的確に補償されるようになる。また、非直線性A、感度B、オフセットCは、その都度の温度データTに基づいて算出することとしたため、推定値Xをより高精度に算出することができるようになる。
(2)非直線性A、感度B、オフセットCの各パラメータの温度特性は、温度データTを独立変数とする2次方程式で近似することとした。このように、本来高次の方程式で規定される温度特性を2次方程式で近似することにより、デジタル信号処理部21での演算処理の実行にかかる負荷の軽減、並びに時間の短縮が図られるようになる。なお、このように2次方程式で近似することとしても、実使用上、十分な精度のもとでの推定値Xの算出が可能である。
(3)デジタル信号処理部21では、AD変換値Cと推定値Xとの関係を規定する2次方程式の級数展開を通じて求められる多項式のうち、2次までの項を用いた推定値Xについての近似式を用いて演算するようにした。このため、こうした演算にかかる時間が大幅に短縮されるようになるとともに、演算にかかる処理負荷も軽減されるようになる。また、こうした近似式を用いての推定値Xの算出により、デジタル信号処理部21の回路規模も抑制されるようになる。
(4)センサの出力に対応するAD変換値Cと温度係数O〜O、S〜S、N〜Nとその都度の温度データTとから推定値Xを算出するまでの処理をデジタル信号処理部21によるいわゆるDSP(Digital Signal Processor)による処理により実行するようにしたため、推定値Xをより高速に算出することができるようになる。
(5)ROM22に記憶すべきデータは9つの温度係数O〜O、S〜S、N〜Nを示すデータのみであるため、ROM22としても記憶容量の小さいROMを採用することができ、その意味でもセンサ装置としての小型化が促進されるようになる。
なお、この発明にかかる物理量検出方法及びセンサ装置は上記実施の形態に限定されるものではなく、同実施の形態を適宜変更した例えば次のような形態として実施することもできる。
・上記実施の形態では、デジタル信号処理部21における演算負荷を軽減するために、AD変換値Cと推定値Xとの関係を示す2次方程式を級数展開し、その結果得られる多項式のうち2次までの項のみを用いて近似式を導出して、この近似式を用いて推定値Xを算出するようにしている。しかし、この近似式の導出に用いる上記多項式の項数は任意であり、デジタル信号処理部21の処理能力に余裕があるときには、例えば上記多項式のうち4次までの項を用いて近似式を導出するようにしてもよい。このようにすれば、センサの温度特性をさらに高精度に補償することができるようになる。
・上記実施の形態においては、デジタル信号処理部21の演算処理に供される温度係数O〜O、S〜S、N〜Nのデータを、ROM22に予め記憶しておくこととした。他に、これら温度係数O〜O、S〜S、N〜Nをセンサ毎に求め、この求めた温度係数O〜O、S〜S、N〜Nのデータを別途ROM22に記憶するようにしてもよい。具体的には、ROM22を例えば電気的に書き込み可能なフラッシュメモリやEEPROM等に変更するとともに、図1に一点鎖線にて示すように、入出力回路(I/O)50をパーソナルコンピュータ51とコントロール部40との間に設けておき、この入出力回路50を介してROM22の内容を適宜に変更するようにしてもよい。
このような構成において、センサ毎に最適な温度係数O〜O、S〜S、N〜NをROM22に登録するまでの手順について、図1に示したブロック図を参照しつつ、以下に列記する。
1.まず、コントロール部40では、デジタル信号処理部21のレジスタ21aに記憶されているAD変換値Cを取り込み、入出力回路50を介してパーソナルコンピュータ51に出力する。
2.パーソナルコンピュータ51では、このAD変換値Cをもとに最適な温度係数O〜O、S〜S、N〜Nを算出して、この算出した温度係数O〜O、S〜S、N〜NをROM22に書き込む旨の調整指令を入出力回路50を介してコントロール部40に出力する。
3.コントロール部40では、パーソナルコンピュータ51から温度係数O〜O、S〜S、N〜Nと上記調整指令が入力されることに基づき、これら温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの値(データ)をROM22に書き込む。
4.また、パーソナルコンピュータ51では、出力した温度係数O〜O、S〜S、N〜NがROM22に書き込まれたことを確認するために、ROM22の記憶内容の読み込みを所望する旨の指令を、同じく入出力回路50を介してコントロール部40に出力する。
5.コントロール部40では、こうしてROM22の内容の読み込みを所望する旨の指令が入力された場合、ROM22に記憶されている温度係数O〜O、S〜S、N〜Nを読み出し、これら読み出した温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの値(データ)を入出力回路50を介してパーソナルコンピュータ51に出力する。
6.パーソナルコンピュータ51では、出力した温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの値と入力された温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの値とを比較することによって、ROM22への書き込みが確実に行われたか否かを判断する。
このように、センサ毎に最適な温度係数O〜O、S〜S、N〜NがROM22に登録されるようにすれば、たとえセンサ毎に温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの異なるときでも、それら接続されるセンサの温度特性を的確に補償することができるようになる。なお、ここではセンサ毎に最適な温度係数O〜O、S〜S、N〜NをROM22に登録する一例について説明したが、ROM22に登録すべき温度係数O〜O、S〜S、N〜Nの値としては、種々の形態のものが採用可能である。例えば、センサ毎に最適な温度係数O〜O、S〜S、N〜Nを予め複数求めておき、それらの平均値をROM22に登録するようにしてもよい。
・演算部20の構成は任意である。例えば図6に例示するように、デジタル信号処理部21に代えて、ROM61と、ROM62とによって演算部20を構成するようにしてもよい。このうちROM61には、温度増幅信号PTのデジタル信号である温度データDTと、この温度データDTに対応する温度Tとがマップデータとして予め格納される。そして、ROM61は、温度データDTが入力されると、その温度データDTに対応する温度データT、例えば温度データT1を上記マップデータから求め、この温度データT1をROM62に出力する。一方、ROM62には、AD変換値Cと推定値Xとの関係が、当該センサ自身の物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータ、すなわち感度B及びオフセットCの温度特性を含めて、上記デジタル信号処理部21による演算と同様の結果を集約した温度別のマップデータが格納される。そしてこのROM62では、ROM61からマップデータを選択する温度情報と上記センサの出力情報とが与えられることに基づいて上記推定値Xを直接読み出す。すなわちここでの例では、ROM62は、ROM61から温度データT1が入力され、入力部10からAD変換値Cが入力されると、上記マップデータから温度データT1に対応する曲線を選択し、この選択した曲線上で上記AD変換値Cに対応する推定値Xを求める。なお、これらROM61及びROM62に格納された各マップデータの読み出しに際しては、適宜の補間演算を採用するようにしてもよい。センサ装置としてのこのような構成によっても、その都度の温度情報とセンサの出力情報とをROM62に与えることによって、オフセットCや感度B等のパラメータが温度の変化に起因して非線形に変化するようなセンサであれ、それら温度特性が的確に補償されることとなり、対象となる物理量をより高精度に検出することができるようになる。
・本発明にかかるセンサ装置に接続されるセンサは、上述した電流センサ(磁気検出型電流センサ)に限定されない。本発明にかかるセンサ装置は、感度BやオフセットC等のパラメータが温度の変化に起因して非線形に変化するセンサに適用することができる。
本発明にかかるセンサ装置の一実施の形態についてその構成例を示すブロック図。 AD変換値(センサ出力)と推定値(実際の物理量)との関係の一例を示すグラフ。 図2に例示した関係を前提として、物理量を検出する際に用いられる温度係数と、オフセット、感度、非直線性の各パラメータとの関係を一覧して示す図。 同実施の形態にかかるセンサ装置の演算部を構成するデジタル信号処理部が行う演算処理についてその処理手順を示すフローチャート。 同実施の形態にかかるセンサ装置のコントロール部が行う処理についてその処理手順を示すフローチャート。 同実施の形態にかかるセンサ装置の演算部についてその変形例を示すブロック図。
符号の説明
10…入力部、11、12…増幅器、13…マルチプレクサ、14…AD変換器、20…演算部、21…デジタル信号処理部、21a…レジスタ、22、61、62…ROM、30…出力部、31…DA変換器、32…ボルテージフォロア、40…コントロール部、41…発信回路、50…入出力回路、51…パーソナルコンピュータ。

Claims (9)

  1. センサの出力と同センサによって求める実際の物理量との関係を、当該センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性をそれぞれ係数として規定される2次方程式にて近似するとともに、それら係数のそれぞれについても、温度を独立変数とする高次の方程式にて近似してその温度係数を予め記憶手段に記憶保持しておき、前記センサのその都度の出力に基づき、
    a.前記記憶保持している温度係数とその都度の温度とを前記高次の方程式に代入して、前記2次方程式の係数である前記センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性を求める処理、及び
    b.これら得られた係数と前記センサの出力とを前記2次方程式に代入して、同センサによって求める実際の物理量を算出する処理、
    を実行して前記実際の物理量を検出する物理量検出方法。
  2. 前記センサの出力に影響を及ぼすパラメータとして前記センサの感度及びオフセットを用い、前記センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性と共に前記2次方程式の係数とするこれら感度の温度特性及びオフセットの温度特性のそれぞれについて前記温度を独立変数として近似する高次の方程式を2次方程式として近似する
    請求項1に記載の物理量検出方法。
  3. 前記センサ自身の前記物理量に対する非直線性をA、前記センサの感度をB、前記センサのオフセットをC、前記センサの出力をCとするとき、前記実際の物理量を、これをXとして、演算

    X=−{(C−C)/B}・[1+{A・(C−C)/B}]

    を実行して算出する
    請求項2に記載の物理量検出方法。
  4. 物理量を検出するセンサの出力を入力する手段と、
    該入力されたセンサの出力と同センサによって検出する実際の物理量との関係を、当該センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性をそれぞれ係数として規定される2次方程式にて近似し、且つそれら係数のそれぞれについても、温度を独立変数とする高次の方程式にて近似したときの各温度係数を記憶する記憶手段と、
    該記憶手段に記憶されている温度係数とその都度の温度とを前記高次の方程式に代入して、前記2次方程式の係数である前記センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性を求めるとともに、これら得られた係数と前記センサの出力とを前記2次方程式に代入して、同センサによって検出する実際の物理量を演算する演算手段と、
    を備えるセンサ装置。
  5. 前記センサの出力に影響を及ぼすパラメータが前記センサの感度及びオフセットであり、前記演算手段は、前記センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性と共に前記2次方程式の係数とするこれら感度の温度特性及びオフセットの温度特性のそれぞれについて前記温度を独立変数として近似する高次の方程式を2次方程式として近似して前記演算を実行する
    請求項4に記載のセンサ装置。
  6. 前記センサ自身の前記物理量に対する非直線性をA、前記センサの感度をB、前記センサのオフセットをC、前記センサの出力をCとするとき、前記演算手段は、前記実際の物理量を、これをXとして、演算

    X=−{(C−C)/B}・[1+{A・(C−C)/B}]

    を実行して算出する
    請求項5に記載のセンサ装置。
  7. 前記センサの出力を入力する手段は、この入力したセンサの出力を所定の分解能にてデジタル信号に変換するAD変換器を備え、前記演算手段は、この変換されたデジタル信号と前記記憶手段に記憶されている各温度係数を示すデータとに基づいて前記演算を実行するデジタル信号処理部からなる
    請求項6に記載のセンサ装置。
  8. 前記記憶手段は、電気的に書き込み可能なROMからなり、前記各温度係数を示すデータが外部から書き込み可能に構成されてなる
    請求項7に記載のセンサ装置。
  9. 前記入力されたセンサの出力と同センサによって検出する実際の物理量との関係が、当該センサ自身の前記物理量に対する非直線性の温度特性及び同センサの出力に影響を及ぼすパラメータの温度特性を含めて、前記演算手段による演算結果を集約した温度別のマップデータとしてROMに格納されてなり、それらマップデータを選択する温度情報と前記センサの出力情報とが前記ROMに与えられることに基づき、前記実際の物理量Xの値を該ROMから直接読み出す
    請求項6に記載のセンサ装置。
JP2005105018A 2005-03-31 2005-03-31 物理量検出方法及びセンサ装置 Expired - Fee Related JP4736508B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005105018A JP4736508B2 (ja) 2005-03-31 2005-03-31 物理量検出方法及びセンサ装置
US11/358,055 US7231312B2 (en) 2005-03-31 2006-02-22 Physical quantity detecting method and sensor device
DE102006011264A DE102006011264A1 (de) 2005-03-31 2006-03-10 Verfahren und Sensorvorrichtung zur Erfassung einer physikalischen Größe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005105018A JP4736508B2 (ja) 2005-03-31 2005-03-31 物理量検出方法及びセンサ装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2006284375A true JP2006284375A (ja) 2006-10-19
JP2006284375A5 JP2006284375A5 (ja) 2007-06-21
JP4736508B2 JP4736508B2 (ja) 2011-07-27

Family

ID=36999112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005105018A Expired - Fee Related JP4736508B2 (ja) 2005-03-31 2005-03-31 物理量検出方法及びセンサ装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7231312B2 (ja)
JP (1) JP4736508B2 (ja)
DE (1) DE102006011264A1 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008309626A (ja) * 2007-06-14 2008-12-25 Oki Electric Ind Co Ltd 感磁出力ic
JP2011138550A (ja) * 2006-10-30 2011-07-14 Intel Corp メモリ・モジュールの熱管理
KR20130100317A (ko) * 2010-10-12 2013-09-10 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 온도에 따른 감도 및/또는 오프셋을 조절하는 자기장 센서 및 이의 방법
JP2014025740A (ja) * 2012-07-25 2014-02-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ホール起電力信号検出装置
JP2014163825A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 磁気センサの温度特性補正回路及び温度特性補正方法
US9395391B2 (en) 2013-03-15 2016-07-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated method that can store a measured threshold value in a memory device during a time when the magnetic field sensor is powered off
US9644999B2 (en) 2012-01-06 2017-05-09 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated method that can establish a measured threshold value and that can store the measured threshold value in a memory device
JP2018115929A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 日立金属株式会社 電流センサの信号補正方法、及び電流センサ
US10845434B2 (en) 2012-01-06 2020-11-24 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having a temperature compensated threshold on power up

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7322743B2 (en) * 2005-07-25 2008-01-29 Caterpillar Inc. Temperature measurement system and method
CN101188047A (zh) * 2006-11-17 2008-05-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 多通道差动信号监测电路
WO2014002387A1 (ja) * 2012-06-29 2014-01-03 旭化成エレクトロニクス株式会社 ホール起電力補正装置及びホール起電力補正方法
US9134383B2 (en) * 2012-12-28 2015-09-15 Asahi Kasei Microdevices Corporation Hall device, magnetic sensor having same, and signal correcting method thereof
JP6237982B2 (ja) * 2013-04-23 2017-11-29 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、電子機器及び移動体
CN105094025B (zh) * 2014-04-30 2018-03-20 台达电子企业管理(上海)有限公司 变送器及其监测系统
US10718682B2 (en) * 2015-02-05 2020-07-21 Hella Kgak Hueck & Co. Method for calibrating at least one sensor, in particular a pressure sensor, having at least one signal-conducting connection to at least one signal converter
CN109997010B (zh) * 2016-11-18 2022-06-24 齐戈股份有限公司 用于优化干涉仪的光学性能的方法及设备
US10839920B2 (en) 2017-09-29 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Circuit having a low power charge pump for storing information in non-volatile memory during a loss of power event
US10430296B2 (en) 2017-09-29 2019-10-01 Allegro Microsystems, Llc Circuit and method for storing information in non-volatile memory during a loss of power event
US10834632B2 (en) * 2018-09-21 2020-11-10 At&T Intellectual Property I, L.P. Energy-efficient wireless communications for advanced networks with low-resolution digital-to-analog converters

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02181623A (ja) * 1988-12-30 1990-07-16 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 物理量検出装置
JPH10205767A (ja) * 1997-01-17 1998-08-04 Sharp Corp 高周波加熱装置の温度検出器
JP2000162066A (ja) * 1998-11-26 2000-06-16 Denso Corp センサ装置
JP2001522497A (ja) * 1998-02-02 2001-11-13 モトローラ・インコーポレイテッド 多項式計算機およびそのための方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3996590A (en) * 1961-02-02 1976-12-07 Hammack Calvin M Method and apparatus for automatically detecting and tracking moving objects and similar applications
US5361218A (en) * 1992-08-11 1994-11-01 Itt Corporation Self-calibrating sensor
JPH0688847A (ja) 1992-09-08 1994-03-29 Advantest Corp 温度特性測定方法
US6307496B1 (en) 1999-10-04 2001-10-23 Denso Corporation Sensing apparatus including an A/D conversion circuit for detecting a physical quantity

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02181623A (ja) * 1988-12-30 1990-07-16 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 物理量検出装置
JPH10205767A (ja) * 1997-01-17 1998-08-04 Sharp Corp 高周波加熱装置の温度検出器
JP2001522497A (ja) * 1998-02-02 2001-11-13 モトローラ・インコーポレイテッド 多項式計算機およびそのための方法
JP2000162066A (ja) * 1998-11-26 2000-06-16 Denso Corp センサ装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011138550A (ja) * 2006-10-30 2011-07-14 Intel Corp メモリ・モジュールの熱管理
JP2008309626A (ja) * 2007-06-14 2008-12-25 Oki Electric Ind Co Ltd 感磁出力ic
KR101863602B1 (ko) * 2010-10-12 2018-06-04 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 온도에 따른 감도 및/또는 오프셋을 조절하는 자기장 센서 및 이의 방법
KR20130100317A (ko) * 2010-10-12 2013-09-10 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 온도에 따른 감도 및/또는 오프셋을 조절하는 자기장 센서 및 이의 방법
JP2013545085A (ja) * 2010-10-12 2013-12-19 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 磁場センサ、ならびに磁場センサにおいて温度変化に対して感度および/またはオフセットを調節する際に用いられる方法
KR101943337B1 (ko) * 2010-10-12 2019-01-29 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 온도에 따른 감도 및/또는 오프셋을 조절하는 자기장 센서 및 이의 방법
US9052349B2 (en) 2010-10-12 2015-06-09 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and method used in a magnetic field sensor that adjusts a sensitivity and/or an offset over temperature
KR20180061417A (ko) * 2010-10-12 2018-06-07 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 온도에 따른 감도 및/또는 오프셋을 조절하는 자기장 센서 및 이의 방법
US10066965B2 (en) 2012-01-06 2018-09-04 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated method that can establish a measured threshold value and that can store the measured threshold value in a memory device
US9644999B2 (en) 2012-01-06 2017-05-09 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated method that can establish a measured threshold value and that can store the measured threshold value in a memory device
US10845434B2 (en) 2012-01-06 2020-11-24 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having a temperature compensated threshold on power up
JP2014025740A (ja) * 2012-07-25 2014-02-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ホール起電力信号検出装置
JP2014163825A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 磁気センサの温度特性補正回路及び温度特性補正方法
US9395391B2 (en) 2013-03-15 2016-07-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated method that can store a measured threshold value in a memory device during a time when the magnetic field sensor is powered off
US11009565B2 (en) 2013-03-15 2021-05-18 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated method that can store a measured threshold value in a memory device during a time when the magnetic field sensor is powered off
JP2018115929A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 日立金属株式会社 電流センサの信号補正方法、及び電流センサ

Also Published As

Publication number Publication date
DE102006011264A1 (de) 2006-10-05
US20060224350A1 (en) 2006-10-05
JP4736508B2 (ja) 2011-07-27
US7231312B2 (en) 2007-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4736508B2 (ja) 物理量検出方法及びセンサ装置
US9857782B2 (en) Output value correction method for physical quantity sensor apparatus, output correction method for physical quantity sensor, physical quantity sensor apparatus and output value correction apparatus for physical quantity sensor
JP5261349B2 (ja) 補償済センサ出力のための装置及び方法
US7556423B2 (en) Temperature sensor bow compensation
JP5981319B2 (ja) 吸気温度センサ装置および流量測定装置
US8874387B2 (en) Air flow measurement device and air flow correction method
US8326568B2 (en) Temperature sensor and temperature sensing method
EP1840526A2 (en) Temperature characteristic correction method and sensor amplification circuit
JP2007248288A (ja) 温度特性補正方法及びセンサ用増幅回路
JPH1144585A (ja) センサ装置
JP7170399B2 (ja) 電流検出装置、電流検出システム、及び電流検出装置の校正方法
JP2000214029A (ja) 圧力センサ回路
JP2010216906A (ja) 自動車用流量計
JP5437654B2 (ja) 温度測定装置
JP6568825B2 (ja) 制御回路および電流センサ
US20040178810A1 (en) Sensor apparatus
JPH0820075B2 (ja) 燃焼機器用制御装置
JPH11118617A (ja) 温度調節器
JP2002116227A (ja) 電流検出装置及び、電流検出装置用書込装置
JP2000241202A (ja) センサ装置
JP2000214030A (ja) 圧力センサ回路
KR100827399B1 (ko) 측정된 아날로그 신호의 주변 온도에 따른 보정 장치 및 그방법
JP6439865B2 (ja) センサ信号変換器及びセンサ信号変換方法
JP4816656B2 (ja) センサ装置
CN109269655B (zh) 温度感测电路及其校正方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070508

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070508

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091014

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100622

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100809

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110405

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110418

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4736508

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees