JP2006201627A - 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】一時的に見かけ上の焼き付き現象を見え難くできても劣化量差が拡大するおそれがあった。また、焼き付き現象の補正のために十分な非使用状態が必要であった。
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する劣化量差演算部と、算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する補正用劣化率算出部と、導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換し、求められた階調値で補正対象画素を発光させる階調値補正部とを有するものを提案する。
【選択図】図４

Description

発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。

ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。

現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
特開２００３−２２８３２９号公報 この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。

特開２００３−２９５８２７号公報 この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。 特開２０００−１３２１３９号公報 この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。

特開２００１−１７５２２１号公報 この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。 特開２００２−１６９５０９号公報 この文献には、静止画表示時にパネル全体の輝度を抑制したり、待機モード時にデバイスに逆バイアスを印加したりして、発光素子の電極間に不要な電荷が蓄積するのを抑制し、表示特性の劣化スピードを遅くして焼き付き現象の発生を抑制する方法が開示されている。

特開２０００−３５６９８１号公報 この文献には、パネルが発光している時間を累積し、その時間に応じて全体輝度を抑制する補正方法が開示されている。この補正方法の場合、発光特性の劣化速度を抑制することにより、焼き付き現象の軽減を図る。 特開２００３−３０８０４１号公報 この文献には、画面上で動画領域と静止画領域を判定し、静止画領域のみの輝度を抑制することで、静止画領域の焼き付きの発生を遅らせる補正方法が開示されている。 特開２００３−２７４３１５号公報 この文献には、ある周期で画面全体を画素単位でずらすことにより、焼き付き部分の輪郭にぼかし効果を生じさせ、焼き付き現象を目立たなくする補正方法が開示されている。

前述した補正技術を含め、既存の補正技術は、おおよそ次の４つに分類することができる。
（１）焼き付き現象そのものを目立たなくする方法
（２）全体的に輝度を抑制し、焼き付き現象の発生スピードを遅らせる方法
（３）劣化した画素の階調データを上げたり、劣化していない画素の階調データを下げたりして輝度特性を均一化させることにより、焼き付き現象を見えなくする方法
（４）非使用状態の間に、入力データによってばらついた累積発光量の差を埋め合わせる補正表示を行う方法

ところで、（１）と（２）の方法は、焼き付き現象の発生原因が根本的に解決せず、いずれ焼き付き現象が視認される問題がある。
また、（３）の方法は、自発光素子間の劣化量差はむしろ拡大し、補正限界の時期が早まる問題や総輝度の低下による寿命の到来が早まる問題がある。
また、（４）の方法は、実際の使用態様では補正に十分な非使用状態を必ず確保できる保証がないために、補正が不完全となる可能性がある。これに加え、（４）の方法は、非使用状態であっても焼き付き補正のために電力を消費してしまう問題がある。
また、（４）の方法は、発光特性の劣化と表示階調との間に比例関係が成立するとの仮定に従って階調値の積算量を揃えている。しかし、この仮定は未だ実証されていない。例えば、高階調値（高輝度）側の１ステップの方が低階調値（低輝度）側の１ステップよりも劣化速度を促進させる場合があることが報告されている。このため、階調値の積算値を揃えることが、必ずしも発光特性の劣化を揃えることにつながらない問題がある。

発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法として、
（ａ）第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
（ｂ）算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する処理と、
（ｃ）導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換する処理と、
（ｄ）変換された階調値で補正対象画素を発光させる処理と
を有するものを提案する。

ここで、劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいう。劣化率は、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
また、自発光装置には、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。

発明に係る焼き付き現象の補正方法では、個々の階調値を劣化率に換算して劣化量差を算出する。すなわち、実際の発光特性を反映したパラメータである劣化率を用いて劣化量差を算出する。これにより、第１の発光期間に発生した劣化量差を、第２の発光期間に解消するのに必要な劣化率（すなわち、階調値）を正確に求めることができる。
また、発明に係る焼き付き現象補正方法は、使用状態のまま補正処理を実行できる。このため、無駄に電力が消費されるのを有効に回避できる。

以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。

（Ａ）焼き付き現象についての考察
“焼き付き現象”とは、同じ駆動条件であれば同じ輝度で発光する初期特性を有していた２つの画素が、同じ駆動条件でも異なる輝度で発光する現象である。
自発光デバイスにはそれぞれ寿命があり、劣化が進行すると、同じ駆動条件を印加しても初期輝度を次第に維持できなくなる発光特性がある。すなわち、画面が次第に暗くなる発光特性がある。
この発光特性は、現在のところ避けることができない現象である。すなわち、自発光デバイスの発光特性は一様に劣化の方向に進むことが知られており、発光特性が回復する現象は現在のところ確認されていない。

ところで、各画素の劣化が、いかなる状態においても時間に対して一様に進行するのであれば、同じ駆動条件における発光輝度差は生じない。すなわち、単に各画素が同じだけ暗くなるだけであり、焼き付き現象は視認されない。
ところで、昨今、画素の劣化の速度は一様でなく、発光輝度や発光時の環境要因（例えば、発熱温度）に応じて複雑に変化することが報告されている。そして、ある期間について異なる速度で劣化が進行した画素は、同じ駆動条件を印加しても異なる輝度で発光する現象が報告されている。すなわち、焼き付き現象が視認されることが報告されている。

（Ｂ）補正方法についての考察
一般に、発光デバイスの寿命は、発光輝度の低下に基づいて規定される。そこで、発明者らは、この輝度の低下率を表す劣化率というパラメータを用いて劣化量を評価する方法を提案する。
具体的には、階調値を劣化速度を与える劣化率に換算し、ある期間内に発生する劣化量を算出する。そして、算出された画素間の劣化量差が解消されるように補正値を決定する。
なお、劣化率は、発光輝度の低下を反映したパラメータであり、自発光デバイスで実際に生じる発光特性の劣化を正確に反映している。

焼き付き現象の補正は、ある期間に２つの画素間に発生した劣化量差を、指定された期間内に解消することで実現する。補正方法には、以下の２つがある。
（１）任意の２点間で劣化量差を解消する場合
この場合、２点のうち一方を基準画素とし、他方を補正対象画素として扱う。補正処理では、基準画素について確定する発光条件と指定された期間を用い、劣化量差をゼロにできる発光条件を求める。補正対象画素は、求められた発光条件で発光する。
（２）別に基準画素を設定又は想定し、２点間の劣化量差を解消する場合
この場合、２つの画素の他に基準画素を設定又は想定し、２つの画素を補正対象画素として扱う。補正処理では、基準画素について確定する発光条件と指定された期間を用い、補正対象画素としての各画素との間に存在する発光量がそれぞれゼロになるように、補正対象画素の発光条件を求める。補正対象画素は、求められた発光条件で発光する。

なお、基準画素は、自発光装置を構成する実在の画素でも良いし、仮想的な画素として設定しても良い。例えば、画面平均値を基準画素の階調値としても良い。
また、基準画素の数は任意である。例えば、発光色毎に画面全体について１つ定めることもできる。この場合、画面全体について劣化の進行速度を揃えることができる。
また例えば、画面全体を複数の領域に分割して管理し、各領域内で発光色毎に１つを定めることもできる。例えば、静止画領域と動画領域に分割して管理しても良い。この場合、領域それぞれについて劣化の進行速度を揃えることができる。
また例えば、任意に選択した２つ又は複数の画素のいずれか一つに定めることもできる。この場合、任意の画素範囲について劣化の進行速度を揃えることができる。

（Ｃ）補正条件の導出
この形態例では、自発光デバイスとしてフラットディスプレイパネルを使用する場合について説明する。
図１に、焼き付き現象の発生から解消されるまでを示す。なお、図１は、初期状態において、２つの画素（すなわち、基準画素と補正対象画素）が同じ初期状態を有する場合について表している。
図１は、画素１を補正対象画素とし、画素２を基準画素とする場合である。因みに、画素１及び２は、同色で発光する画素のうち、画素間の距離が最も短いものを選択している。ここでの発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。

図１は、各画素が以下の発光条件で発光された場合の劣化量の変化を表している。
＜発光期間ｔ１＞
・画素１：固定の階調値ａで発光
・画素２：固定の階調値ｂ（≠ａ）で発光
＜発光期間ｔ２＞
・画素１：固定の階調値ｃで発光（補正動作）
・画素２：固定の階調値ｄ（≠ｃ）で発光

図１の場合、発光期間ｔ１が経過した時点で、画素１の劣化量Ｒ（α１）と画素２の劣化量Ｒ（α２）との間に劣化量差Ｙが認められる。すなわち、焼き付き現象の発生が認められる。
ここで、発光期間ｔ１に発生する各画素の劣化量は、画素の発光輝度（例えば、有機ＥＬデバイスに流れる電流量）やその時の発熱温度に影響される劣化率（単位時間当たりの劣化比率）に、発光期間ｔ１を乗算した値として表現される。
従って、画素１の劣化量Ｒ（α１）は、α１×ｔ１で表される。ここで、α１は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ａから導出される劣化率である。
同様に、画素２の劣化量Ｒ（α２）は、α２×ｔ１で表される。ここで、α２は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ｂから導出される劣化率である。
この結果、発光期間ｔ１で発生する２つの画素間の劣化量差Ｙは、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）で表すことができる。すなわち、Ｙ＝Ｒ（α１）−Ｒ（α２）＝（α１−α２）×ｔ１と表すことができる。なお、α１−α２は、焼き付き率に相当する。

次に、発光期間ｔ２について説明する。なお、発光期間ｔ２に新たに発生する画素１の劣化量をＲ（β１）、画素２の劣化量をＲ（β２）とする。また、β１は、画素１について発光期間ｔ２の発光輝度を与える階調値ｃから導出される劣化率とする。また、β２は、画素２について発光期間ｔ２の発光輝度を与える階調値ｄから導出される劣化率とする。
この場合、発光期間ｔ２に新たに発生する画素１の劣化量Ｒ（β１）は、Ｒ（β１）＝β１×ｔ２で表される。
また、発光期間ｔ２に新たに発生する画素２の劣化量Ｒ（β２）は、Ｒ（β２）＝β２×ｔ２で表される。

従って、発光期間ｔ２に発生する画素１及び画素２間の劣化量差Ｈは、Ｒ（β２）−Ｒ（β１）で表される。すなわち、Ｈ＝Ｒ（β２）−Ｒ（β１）＝（β２−β１）×ｔ２で表すことができる。なお、β２−β１は、補正率に相当する。
ここで、Ｙ＝Ｈを満たすならば、画素１及び画素２間の劣化量差は、完全にゼロに戻すことができる。すなわち、発光期間ｔ２の経過後に、画素１及び画素２に同じ駆動条件を印加すると、２つの画素が同じ輝度で発光する状態を作り出すことができる。
この形態例の場合、画素２が基準画素である。従って、発光期間ｔ２に劣化量差を解消するのに必要な画素１の劣化率β１は、Ｙ＝Ｈという条件式より、β１＝β２−（α１−α２）×ｔ１／ｔ２という式で算出することができる。
なお、自発光デバイスは階調値に基づいて駆動される。従って、劣化量差を解消する条件を満たす劣化率β１及びβ２を階調値に戻して自発光デバイスに与えれば良い。

（Ｄ）階調値−劣化率変換テーブル
前述したように、補正処理では、階調値から劣化率を導出する処理及び劣化率から階調値を導出する処理が必要となる。
ここでは、この変換処理を実現する方法の一例として、変換テーブルを用いる場合を提案する。
図２に、変換テーブルの一例を示す。テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。

発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。
例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。

図２は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“ｎ”に対応する劣化率を“Ｘ_ｎ
”として表している。なお、図２は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。
また、図２は、劣化率と劣化量との換算関係も表している。発光期間“ｔ”とすると、劣化率“Ｘ_ｎ
”に対応する劣化量“Ｒ_ｎ ”は“Ｘ_ｎ ×ｔ”として与えられる。発光期間ｔ１及びｔ２が固定の場合には、これらに対応する値を登録しておけば演算処理を省略できる。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。

（Ｅ）焼き付き現象の補正処理
図３に、ある期間ｔ１で生じた劣化量差（焼き付き現象）を補正する処理動作例を示す。
まず、異なる階調値で発光する画素１及び画素２について、それぞれの入力階調値と発光期間ｔ１を検出する（Ｓ１）。
次に、画素１及び画素２のそれぞれの入力階調値に対応する劣化率を図２に示す変換テーブルを用いて導出する。すなわち、画素１の劣化率α１と画素２の劣化率α２をそれぞれ導出する（Ｓ２）。

劣化率α１及びα２が得られると、これらに発光期間ｔ１を乗算し、画素１の発光期間ｔ１についての劣化量Ｒ（α１）と、画素２の発光期間ｔ１についての劣化量Ｒ（α２）を算出する（Ｓ３）。
次に、劣化量の差分“Ｒ（α１）−Ｒ（α２）”を計算する。すなわち、画素１と画素２の２つの画素間に生じた劣化量差Ｙを算出する。いわゆる、焼き付き量を算出する（Ｓ４）。
次に、補正期間としての発光期間ｔ２を決定する。発光期間ｔ２は、任意の値を設定できる。ただし、後段の処理（Ｓ７）で使用する条件式“β１＝β２−（α１−α２）×ｔ１／ｔ２”を満たすことが前提条件になる（Ｓ５）。なお、発光期間ｔ２は発光期間ｔ１と同じに設定しても良い。この場合、条件式は更に簡略化される。

次に、発光期間ｔ２に画素２の発光輝度を与える階調値ｄから対応する劣化率β２を導出する（Ｓ６）。勿論、劣化率β２の導出には図２に示す変換テーブルを使用する。
これらの処理により、補正値の算出に必要な全ての値（劣化率α１、α２、β２と発光期間ｔ１、ｔ２）が確定する。
この後、補正条件式を用い、劣化量差を解消するための劣化率β１を求める（Ｓ７）。すなわち、β１＝β２−（α１−α２）×ｔ１/ｔ２を用いて劣化率β１を算出する。
最後に求められた劣化率β１を対応する階調値ｃに変換する（Ｓ８）。階調値ｃは、変換テーブルを用い導出する。

この結果、発光期間ｔ２に亘って画素１は階調値ｃで発光され、画素２は階調値ｄで発光される（Ｓ９）。
すなわち、焼き付き現象の補正処理の結果、画素１の階調値は、補正前の階調値と異なる階調値ｃに置換される。
この補正処理により、発光期間ｔ１に発生した同色画素間の劣化量差は確実に解消されることになる。

（Ｆ）焼き付き現象補正装置例
（ａ）形態例１
図４に、焼き付き現象補正装置をハードウェア的に実現する場合の形態例を示す。この形態例は、階調値から劣化率への変換処理と劣化率から階調値への変換処理を演算により実現する場合に対応する。
この場合、焼き付き現象補正装置１は、劣化量差演算部３と、補正用劣化率算出部５と、階調値補正部７とで構成することができる。
劣化量差演算部３は、発光期間ｔ１に画素１と画素２の間に発生する劣化量差Ｙを算出する処理デバイスである。具体的には、各画素に対応する階調値ａ及びｂに対応する劣化率α１及びα２を用い、劣化量差Ｙ（＝（α１−α２）・ｔ１）を算出する。なお、階調値に対応する劣化率は演算処理で求める。

補正用劣化率算出部５は、算出された劣化量差Ｙを補正期間としての発光期間ｔ２の間に解消するのに必要な補正用の劣化率β１を、画素２の劣化率β１（＝β２−（α１−α２）・ｔ１／ｔ２）を基準に導出する処理デバイスである。
階調値補正部７は、導出された補正用の劣化率β１を対応する階調値ｃに変換し、求められた階調値ｃを画素１の入力階調値を置換する処理デバイスである。
図４では、補正前の階調値を入力階調値と表記し、補正後の階調値を補正階調値と表している。なお、基準画素に設定された画素２の入力階調値はそのまま出力される。
またこの場合も、劣化率に対応する階調値は演算処理で求める。

（ｂ）形態例２
図５に、焼き付き現象補正装置をハードウェア的に実現する場合の他の形態例を示す。この形態例は、階調値から劣化率への変換処理と劣化率から階調値への変換処理を変換テーブルを用いて実現する場合に対応する。
図５に示す補正装置１１は、劣化量変換部１３と、変換テーブル１５と、劣化量差計算部１７と、補正値算出部１９と、階調値補正部２１とで構成されている。
ここで、劣化量変換部１３、変換テーブル１５、劣化量差計算部１７は、前述した劣化量差演算部３に対応する。また、補正値算出部１９は、前述した補正用劣化率算出部５に対応する。また、変換テーブル１５、補正値算出部１９、階調値補正部２１は、前述した階調値補正部７に対応する。

劣化量変換部１３は、各画素に対する入力階調値から劣化率を導出し、発光時間ｔ１内の劣化量Ｒ（α１）及びＲ（α２）を算出する処理デバイスである。ここで、劣化量Ｒ（α１）は、劣化率α１を用い、Ｒ（α１）＝α１・ｔとして算出される。また、劣化量Ｒ（α２）は、劣化率α２を用い、Ｒ（α２）＝α２・ｔとして算出される。
変換テーブル１５は、図２に対応するルックアップテーブルである。この変換テーブルは１５は、階調値と劣化率のいずれかを入力すると対応する値を読み出せるものを使用する。もっとも、階調値から劣化率への変換専用のテーブルと劣化率から階調値への変換専用のテーブルとを別々に用意しても良い。

劣化量差計算部１７は、２つの画素間の劣化量差Ｙ（＝Ｒ（α１）−Ｒ（α２）＝（α１−α２）・ｔ１）を算出する処理デバイスである。
補正値算出部１９は、算出された劣化量差Ｙを補正期間としての発光期間ｔ２の間に解消するのに必要な補正用の劣化率β１を、画素２の劣化率β１を基準に導出する処理デバイスである。具体的には、劣化率β１を、β２−（α１−α２）・ｔ１／ｔ２で与える処理デバイスである。
階調値補正部２１は、算出された劣化率β１で変換テーブル１５を参照し、対応する階調値ｃを求める処理と、求められた階調値ｃで画素１の階調値を置換する処理を実行する処理デバイスである。

（ｃ）自発光装置への搭載例
図６に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置３１は、筐体３３に焼き付き現象補正装置３５と表示デバイス３７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置３５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように階調値の補正動作を実行する。例えば、形態例１や形態例２に示す構成の回路デバイスが用いられる。

また、表示デバイス３７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図６の場合、自発光装置３１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置３５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。

（Ｇ）形態例の効果
以上のように、発光輝度の低下を反映するパラメータである劣化率を用いて各画素の劣化量を測定するため、従来技術に比して発光特性の劣化量を正確に測定し補正することができる。すなわち、発光特性の劣化が表示階調に対して比例関係で発生しない場合でも、２つの画素間で劣化量差を確実にゼロに補正できる。
また、補正処理は発光時間中に並行して実行され、補正のための非発光時間を必要としない。このため、電力が無駄に消費されるのを回避できる。

（Ｈ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、図２に示すように変換テーブル、すなわち階調値と劣化率との対応関係が１つの変換テーブルを用いる場合について説明した。しかし、経年変化を加味する場合には、時間情報を加味して複数の変換テーブルを用意すれば良い。
（ｂ）前述の形態例では、発光期間ｔ１とｔ２を任意としたが、それぞれフィールド単位又はフレーム単位で設定することができる。なお、発光期間ｔ１と発光期間ｔ２は同じでも良い。この場合、劣化率β１を加減算だけで実現できる。
（ｃ）前述の形態例では、変換テーブルとして単位フレームの階調値と劣化率の対応関係を保存した。しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と劣化率の対応関係を保存しても良い。この場合、発光期間ｔ１とｔ２をそれぞれ複数フレームとする場合に効果的である。

（ｄ）前述の形態例では、発光期間ｔ１の平均階調値を用いて劣化量差Ｙを算出し、同様に発光期間ｔ２の平均劣化率を用いて劣化量差Ｈを算出しても良い。この場合、前述の形態例と同様の仕組みにより、発光期間ｔ１に２つの画素間に発生する平均劣化量差と、発光期間ｔ２に基準画素に発生する平均劣化量を解消する平均劣化率β１を導出することができる。
（ｅ）前述の形態例では、使用状態のまま焼き付き現象を補正する場合について説明したが、非使用状態において焼き付きを補正することもできる。

（ｆ）前述の形態例では、変換テーブル１５を一つ搭載した。しかし、時間経過に応じて劣化率と階調値が変動する場合には、時間経過に応じて複数種類の変換テーブルを用意しても良い。この場合、発光時間長を測定するタイマーを用意することが望ましい。
初期状態からの発光時間長に応じて参照する変換テーブルを切り替えることにより、劣化率と階調値の関係が変動する場合にも正確な劣化量及び劣化量差の算出を可能にできる。
（ｇ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。

焼き付き現象の補正原理を示す図である。 階調値と劣化率との対応関係を保持するテーブル例を示す図である。 焼き付き現象の補正処理例を示す図である。 焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。 自発光装置の構成例を示す図である。

符号の説明

１、１１ 焼き付き現象補正装置
３ 劣化量差演算部
５ 補正用劣化率算出部
７ 階調値補正部
１３ 劣化量変換部
１５ 変換テーブル
１７ 劣化量差計算部
１９ 補正値算出部
２１ 階調値補正部

Claims (12)

1. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法であって、
   第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
   算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する処理と、
   導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換する処理と、
   変換された階調値で補正対象画素を発光させる処理と
   を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
2. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記補正対象画素に対応する自発光素子と前記基準画素に対応する自発光素子は、同一の駆動条件において同等輝度で発光する初期条件を満たす
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
3. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
4. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定した画素である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
5. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記劣化率と前記階調値の対応関係は、時間の経過情報を加味して与えられる
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
6. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   個々の階調値に対応する劣化率は、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
7. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   ある補正対象画素と基準画素との間に第１の発光期間ｔ１に発生する劣化量差Ｙを、第２の発光期間内における補正対象画素の劣化率α１と基準画素の劣化率α２を用いて、Ｙ＝（α１−α２）・ｔ１として求め、
   第２の発光期間ｔ２に劣化量差Ｙを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β１を、第２の発光期間内における基準画素の劣化率β２を用いて、β１＝β２−Ｙ／ｔ２として求める
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
8. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
   第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する劣化量差演算部と、
   算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する補正用劣化率算出部と、
   導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換し、求められた階調値で補正対象画素を発光させる階調値補正部と
   を有することを特徴とする自発光装置。
9. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
   階調値と自発光素子の劣化率との対応関係を保持する変換テーブルと、
   前記変換テーブルを用い、各画素に対応する階調値を劣化率に変換し、第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生した劣化量差を算出する劣化量差演算部と、
   算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する補正用劣化率算出部と、
   前記変換テーブルを用い、導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換し、求められた階調値で補正対象画素を発光させる階調値補正部と
   を有することを特徴とする自発光装置。
10. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
    各画素に対応する階調値を、演算処理により劣化率に変換する第１の演算部と、
    変換処理により得られた劣化率を用い、第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生した劣化量差を算出する劣化量差演算部と、
    算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する補正用劣化率算出部と、
    導出された補正用の劣化率を、演算処理により階調値に変換する第２の演算部と、
    変換処理により求められた階調値で補正対象画素を発光させる階調値補正部と
    を有することを特徴とする自発光装置。
11. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
    第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する劣化量差演算部と、
    算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する補正用劣化率算出部と、
    導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換し、求められた階調値で補正対象画素を発光させる階調値補正部と
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
12. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
    第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
    算出された劣化量差を第２の発光期間内に解消するのに必要な補正用の劣化率を、基準画素の劣化率を用いて補正対象画素毎に導出する処理と、
    導出された補正用の劣化率を対応する階調値に変換する処理と、
    変換された階調値で補正対象画素を発光させる処理とを実行させ、
    使用状態のまま自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
    

Images