JP2009025731A - 表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】自発光型発光素子を各画素に有する表示装置において、劣化の程度の差を解消する。
【解決手段】有機ELパネル4の複数の画素を同じ電圧で駆動する。同じ電圧で駆動することで、劣化の少ない画素には大きな電流が流れ、劣化の大きな画素には小さな電流が流れ、画素の劣化程度の均一化を図ることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、自発光型素子を表示素子として備える表示装置に関する。
フラットパネルディスプレイとして、液晶表示装置(LCD)が広く普及しているが、このLCDは各画素における光の透過量を制御するだけであり、バックライトなどを必要とする。一方、有機ELディスプレイは自発光型であり、各画素の発光量を制御することができるため、コントラストが高く、広視野角であり、次世代ディスプレイとして注目されている。
しかし、自発光型のディスプレイは映像の内容に依存して、各画素の発光の程度が異なる。このため、有機EL素子の劣化具合が画素毎にばらつき、表示に関係しない以前の映像が人間に見えるくらいに残るという、いわゆる焼き付きが発生しやすい。
この焼き付きを低減するために、映像データから有機EL素子の劣化を予測し、その予測に基づいてディスプレイの非使用期間に劣化を均一化する方法が開示されている(特許文献1)。
特開2003−228329
しかし、上記従来技術では、映像データから有機EL素子の劣化を予測しており、温度等の使用環境に依存した劣化の考慮に欠けている。このため、予測が必ずしも実際と一致しないため、効果的な劣化の均一化を図ることができない場合もあり、また均一化によって次の焼き付きを生じる可能性もある。
本発明は、各画素に自発光型の表示素子を備える表示装置であって、複数の画素において表示素子に同じ電圧を印加して発光させ、劣化の進んでいる表示素子に比較的小さな電流、劣化の遅れている表示素子に比較的大きな電流を流すことで、表示素子の劣化を均一化することを特徴とする。
また、全画素に同じ電圧を印加して発光させることが好適である。
また、前記均一化の処理は、表示装置の非使用期間において実施し、均一化処理において表示素子に供給する電流量を使用時間に応じて変更することが好適である。
また、均一化処理において表示素子に供給する電流量を表示装置の使用期間における平均的輝度データに応じて変更することが好適である。
また、均一化処理において表示素子に供給する電流量に応じて表示装置の使用期間における複数の画素に流れる平均的電流に応じて変更することが好適である。
また、各画素を複数のサブ画素で構成し、一方のサブ画素で画像信号に応じた通常の表示を行い、他方のサブ画素で均一化処理を行い、この一方と他方のサブ画素を適宜切り換えることが好適である。
また、前記自発光型の表示素子は、有機EL素子であることが好適である。
本発明によれば、均一化処理によって、各画素の劣化状態を均一化することができ、焼き付きの発生を効果的に抑制できる。
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図1には、実施形態に係る表示装置の全体構成が示されている。外部入力から入力処理部1へ入力される入力データは、フルカラー表示の場合、赤(R)、緑(G)、青(B)もしくはこれに白(W)を加えた1ないし数ピクセル単位で転送される映像データ及びそれらを転送するクロック信号やタイミング信号である。この入力データ中の映像データは、入力処理部1で1ラインの映像データとして蓄積され、フレームメモリ2へライン単位で格納される。フレームメモリ2に格納された1画面分の映像データは、ライン単位で読み出され、出力処理部3により、有機ELパネル4にライン単位で出力される。有機ELパネル4は、供給される映像データを表示に反映させる。ただし、ここではフレームメモリ2へ格納するタイミング信号や、読み出し、有機ELパネル4へ出力するためのタイミング信号については説明を省略する。
このように、入力処理部1と出力処理部3の間にフレームメモリ2を導入した構成では、一端フレームメモリ2に映像データが格納されると、外部より映像データを入力しなくても有機ELパネルにフレームメモリ2より映像データを供給できるため、外部より映像データを入力し続ける必要がない。すなわち、外部からのデータ転送に要する消費電力を低減できることから、低消費電力化が必要な携帯端末に搭載されているLCD(Liquid Crystal Display)などでよく用いられている。その場合、入力処理部1、フレームメモリ2、出力処理部3はドライバICとして実現されていることが多い。
なお、有機ELパネル4に流れる電流は、電流測定部5によって測定され、供給制御部20が電流測定部5の測定結果に応じて均一化処理のための均一化輝度データを入力処理部1に供給するが、これについては後述する。
図2には、有機ELパネル4の内部構成が示されている。有機ELパネルにはアクティブ型とパッシブ型とあるが、図2ではアクティブ型の例が示されている。有機ELパネル4は画素7がマトリクス状に配置され、各画素の列方向にデータライン12及び電源ライン14、行方向にゲートライン13が配線されている。データライン12へは、出力処理部3により処理されたデータ信号が出力され、ゲートライン13にはゲートドライバ6からの選択信号が出力される。ゲートドライバ6は有機ELパネル4が低温ポリシリコンなどの高移動度トランジスタで形成されている場合にはそれを用いて同一ガラス基板上に形成されるが、別個のIC(Integrated Circuit)として提供され、有機ELパネル4に接続されていてもよい。
列方向に配線された全電源ライン14は端部で共有され、VDDの電位が与えられており、有機EL素子8のカソード電極15は全画素で共有され、VSSの電位が与えられている。
有機EL素子8のアノードは、駆動トランジスタ9のドレイン端子へ接続され、この駆動トランジスタ9のソース端子は電源ライン14へ、ゲート端子は保持容量11の一端とゲートトランジスタ10のソース端子へ接続されている。なお、保持容量11の他端は電源ライン14へ接続されて画素7が形成されている。また、ゲートトランジスタ10のゲート端子は、ゲートライン13へ、ドレイン端子はデータライン12へ接続されている。
ゲートドライバ6によりゲートライン13が選択される(Lowレベルにされる)と、ゲートトランジスタ10は導通し、出力処理部3からデータライン12に供給されているデータ信号が保持容量11に書き込まれる。ゲートライン13が非選択となる(Highレベルにされる)と保持容量11に書き込まれたデータ信号はそれ以降保持され、その間、有機EL素子8の発光状態が維持される。
画素7の構成ならば、駆動トランジスタ9のゲート端子に適切なアナログ電圧が供給されるとそのアナログ電圧に対応した定電流が有機EL素子8に流れるため、アナログ定電流駆動が可能となるし、駆動トランジスタ9を導通するのに十分低い電圧が供給されれば、有機EL素子8に定電圧VDD−VSSが印加されるため、定電圧が印加される時間を制御することで定電圧のデジタル駆動を適用することも可能である。
外部入力映像を表示する際は、上記のアナログ定電流駆動で行っても、定電圧のデジタル駆動で行ってもよいが、有機EL素子8の劣化の均一化処理を行うためには定電圧を与える方が都合がよい。図3を用いてその理由について説明する。
図3Aには、有機EL素子を定電流駆動した際の輝度と駆動電圧の経時劣化、図3Bには有機EL素子の電圧電流特性の変化が示されている。一般的な有機EL素子では、図3Aに示すように、輝度は時間の経過と共に減少し、また同じ電流を流す駆動電圧は時間の経過と共に上昇する。本実施形態では、このような通電による輝度劣化は駆動電圧上昇に反映されるという有機EL素子特有の性質を利用し、映像の非表示期間に全画素に同じデータを供給して有機EL素子を電圧駆動する。図3Bに示されるように劣化の大きい素子bは同じ電圧が印加されると劣化の少ない素子aと比較して流れる電流が少ない。有機EL素子に流れる電流が大きいと素子劣化速度がより速くなるため、全画素に同じデータを供給し、電圧駆動を続けると、素子aとbにはやがて同じ電流が流れるようになって収束する。すなわち画素間での異なる映像表示によって生じていた劣化の不均一が平滑化され、均一化される。
非表示期間が十分長い場合には少ない電流で均一化処理がなされるが、非表示期間が短い場合には少ない電流では均一化処理が十分でない。その場合には比較的多くの電流を流して均一化処理を行えばよいが、あまり多くの電流を流しすぎると全画素の劣化が進むため、発光期間などを調整するなどして、適切な電流値に設定する必要がある。
ディスプレイの使用時間や表示されてきた平均的な映像データなどの情報により、劣化の見積りが可能であるならば、その情報に基づいて、その都度非表示期間に流す電流を異なる値に設定して、均一化を常に最適に行ってもよい。
例えば、ある時刻の平均的な画素データがD(t)であり、T時間表示が続いたならば、平均的な輝度劣化ΔLの程度は少なくともΔL∝∫0TD(t)*dtと見なせるであろう。したがって、あらかじめ任意で想定した一定の想定非表示期間をτとすると、劣化均一化電流A∝ΔL/τとなるように設定すればよい。劣化均一化電流Aは発光期間を変えるか、電圧値を変えることにより実現される。電圧値を変えて行う場合、より電流差が大きくなる電圧値を設定するとより効果的な均一化が行える。この処理により、全く点灯しなかった画素に少なくとも平均的な劣化ストレスを与えることが期待できる。ただし、劣化均一化電流の算出結果があまりに大きいと、先の理由と消費電力の観点から現実的でないため、上限値が設定されていてもよい。
また、ユーザーが有機EL画面を再び使い始めると、進行中の劣化均一化処理は中断されるが、この非使用期間の履歴を保存し、その履歴をもとに想定非表示期間τを更新してもよい。例えば、いくつかの最近発生した非使用期間の履歴から平均的な非使用期間を算出し、想定非表示期間τを決定すると、平均非使用期間が短いユーザー(よく有機EL画面を使うユーザー)の場合には均一化処理が積極的となり、非使用期間が長いユーザー(あまり有機EL画面を使わないユーザー)の場合には均一化処理が消極的となる。
このように、全画素に同じデータを供給して均一化処理すれば、電流測定部5、供給制御部20を用いなくとも、均一化処理を行うことができる。この場合、電流測定部5、供給制御部20を省略できるため、ディスプレイを低コスト化できるし、外部ノイズにより電流測定が困難な場合にもより確実に均一化処理を実現できる。
また、図1に示すように、本実施形態においては有機ELパネル4の全電流を計測する電流測定部5を有している。そこで、この電流測定部5を用いて有機EL素子全体に流れる電流を測定し、それを平均的なデータD(t)の代わりに用いて劣化均一化電流Aを算出してもよい。
供給制御部20は、上述のようにして決定された劣化均一化電流Aに基づいて、均一化処理の期間または供給する電圧を決定して均一化処理用の輝度データを入力処理部1に供給する。
さらに、図4のように1単位画素に2つの画素(サブ画素)を設け、一方のサブ画素が映像を表示している間に他方のサブ画素に劣化均一化処理を施してもよい。第1の有機EL素子8−1が映像を表示している間、すべての第2の有機EL素子8−2には同じデータを供給して、定電圧が印加される。図4の場合、電源ライン14は第1、第2有機EL素子で共有されているため、劣化均一化電流Aは発光期間で制御されることになるが、第1、第2有機EL素子が異なる電源ラインから電流の供給を受ける場合には、異なる電圧を与えてもよい。
劣化均一化電流は映像表示時にはコントラストが低下するため、あまり大きくない方がよい。劣化均一化電流を少なくして、常に一定に保ってもよいが、均一化の効果があまりえられないため、映像に応じて劣化均一化電流を変えるとよい。例えば、明るい映像の場合には、より多くの劣化均一化電流を流しても目立ちにくいが、逆に暗い映像の場合には劣化均一化電流が大きいと、この処理による映像のほうが目立つため、映像より暗くなるように劣化均一化電流を流すほうがよい。この処理は、より明るい映像が劣化を加速させるため都合がよい。
映像を表示するサブ画素と、劣化均一化処理を施すサブ画素を切替えるタイミングは例えば1日単位で行なうなど長期的に行なってもよいし、ユーザーのアクションに連動して映像が切り替わるような短期的なタイミングでもよい。両者ができる限り同じ頻度もしくは程度で表示、劣化均一化処理が行なわれるようにすると、劣化均一化の程度が等しくなるため望ましい。
単位画素に含まれるサブ画素は2つ以上であってもよく、いずれかが映像を表示している間、それ以外のサブ画素は均一化表示を行う。
ここで、どのような駆動にしても、輝度均一化の過程で劣化の大きい素子に多くの電流を流してしまうと、かえって劣化を加速させることになるため、劣化の大きい素子に電流があまり流れないように、輝度均一化表示を行うことが望ましい。そうすることで、余計な電力を消費する必要もなくなるため効果的である。
図1の入力処理部1、フレームメモリ2、出力処理部3、電流測定部5は同一のドライバICに組み込んでもよいし、フレームメモリ2や電流測定部5は別々のICで提供されていてもよい。
なお、供給制御部20は、電源オフ時に、画面に「輝度補正処理を行いますか?」などの表示を行い、「行う」との入力を受け付けたときに入力処理部1に電流データを供給し、輝度均一化処理を行ことが好適である。また、所定時間経過したときであって、表示を行っていないタイミングに自動的または問い合わせた後輝度均一化処理を行ったり、劣化の画素毎の差が一定以上になったときに自動的または問い合わせの後輝度均一化処理を行うことも好適である。
また、上記例においては、有機ELパネル4の全画素について同じ電圧で電圧駆動したが、所定の領域毎に分割して、順次均一化処理を行ってもよい。この場合に、複数の領域の画素数が同一であれば、電流測定部5において得られる電流量や領域毎の平均輝度データに基づいて均一化処理を変更することも好適である。
本発明の表示装置の全体構成図である。 アクティブマトリクス型有機ELパネルの全体構成図である。 有機EL素子の劣化特性(起動電圧および輝度の経時変化)を示す図である。 有機EL素子の劣化特性(電圧と電流の関係)を示す図である。 1つの単位画素に2つの画素を設ける構成を示す図である。
符号の説明
1 入力処理部、2 フレームメモリ、3 出力処理部、4 有機ELパネル、5 電流測定部、6 ゲートドライバ、7 画素、8 有機EL素子、9 駆動トランジスタ、10 ゲートトランジスタ、11 保持容量、12 データライン、13 ゲートライン、14 電源ライン、15 カソード電極、20 供給制御部。

Claims (7)

  1. 各画素に自発光型の表示素子を備える表示装置であって、
    複数の画素において表示素子に同じ電圧を印加して発光させ、劣化の進んでいる表示素子に比較的小さな電流、劣化の遅れている表示素子に比較的大きな電流を流すことで、表示素子の劣化を均一化することを特徴とする表示装置。
  2. 請求項1に記載の表示装置において、
    全画素に同じ電圧を印加して発光させることを特徴とする表示装置。
  3. 請求項1または2に記載の表示装置において、
    前記均一化の処理は、表示装置の非使用期間において実施し、
    均一化処理において表示素子に供給する電流量を使用時間に応じて変更することを特徴とする表示装置。
  4. 請求項3に記載の表示装置において、
    均一化処理において表示素子に供給する電流量を表示装置の使用期間における平均的輝度データに応じて変更することを特徴とする表示装置。
  5. 請求項3に記載の表示装置において、
    均一化処理において表示素子に供給する電流量に応じて表示装置の使用期間における複数の画素に流れる平均的電流に応じて変更することを特徴とする表示装置。
  6. 請求項1〜5のいずれか1つに記載の表示装置において、
    各画素を複数のサブ画素で構成し、一方のサブ画素で画像信号に応じた通常の表示を行い、他方のサブ画素で均一化処理を行い、この一方と他方のサブ画素を適宜切り換えることを特徴とする表示装置。
  7. 請求項1〜6のいずれか1つに記載の表示装置において、
    前記自発光型の表示素子は、有機EL素子であることを特徴とする表示装置。
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