JP2006186329A - シリコンエッチング液 - Google Patents

シリコンエッチング液 Download PDF

Info

Publication number
JP2006186329A
JP2006186329A JP2005337953A JP2005337953A JP2006186329A JP 2006186329 A JP2006186329 A JP 2006186329A JP 2005337953 A JP2005337953 A JP 2005337953A JP 2005337953 A JP2005337953 A JP 2005337953A JP 2006186329 A JP2006186329 A JP 2006186329A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon
group
iron
etching
compound
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005337953A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4684869B2 (ja
Inventor
Seiji Tono
誠司 東野
Shunkichi Bizen
俊吉 尾前
Kayoko Takagi
佳代子 高木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuyama Corp
Original Assignee
Tokuyama Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuyama Corp filed Critical Tokuyama Corp
Priority to JP2005337953A priority Critical patent/JP4684869B2/ja
Publication of JP2006186329A publication Critical patent/JP2006186329A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4684869B2 publication Critical patent/JP4684869B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Weting (AREA)

Abstract

【課題】 シリコンの湿式異方性エッチング工程を含むマイクロマシン技術によりシリコンを微細加工して各種シリコンデバイスを製造する際に使用するエッチング液であって、毒性が低く取り扱いが容易で、マスク材料として安価なシリコン酸化膜を使用することができ、しかもエッチング速度が速いエッチング液を提供する。
【解決手段】 テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)等の第4級アンモニウム塩からなる水溶液に、鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)などの特定の化合物を添加した水溶液をエッチング液として使用する。
【選択図】 なし

Description

本発明は、各種シリコンデバイスを製造する際の表面加工工程で使用されるシリコンエッチング液に関する。
近年シリコンウェハの機械的特性が注目され、理想的な弾性材料としてバルブ、ノズル、プリンタ用ヘッド、並びに流量、圧力及び加速度等の各種物理量を検知するための半導体センサ(例えば半導体圧力センサのダイヤフラムや半導体加速度センサの感知レバーなど)等の種々のデバイスに応用されている。このような各種シリコンデバイスには用途に応じて高集積化、微細化、高感度化、高機能化が要求されており、このような要求を満足するためにこれらシリコンデバイスの製造に当たってはマイクロマシニング技術とよばれる微細加工技術が用いられている。マイクロマシニング技術においては、目的とするデバイスの立体的な構造を形成するためにシリコンの湿式異方性エッチング技術が用いられている。
湿式異方性エッチングとは、エッチング液を導入したエッチング槽にシリコンウェハの必要部分をシリコン酸化膜やシリコン窒化膜などでマスクしたシリコンウェハを投入し、エッチング液との化学反応を利用してシリコンウェハの不要部分を溶解させる加工方法である。シリコンにおいては結晶方位によってエッチング速度が100倍も異なり異方性を示すので、この異方性を利用して複雑な3次元構造を有するシリコンデバイスを作ることができる。
上記エッチング液としてはKOH、ヒドラジン、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(以下、TMAHと略記する。)などの一般的なアルカリ薬品の水溶液が使用可能である(特許文献1及び2参照)。中でも毒性が低く取り扱いが容易なKOH、TMAHが単独で好適に使用されている。これらの中でもTMAHは、KOHを用いた場合と比較してシリコン酸化膜に対するエッチング速度がほぼ1桁低いため、マスク材料としてシリコン窒化膜と比べてより安価なシリコン酸化膜を使用することができるという長所を持っている(非特許文献1参照)。
特開平9−213676号公報 特開平11−233482号公報 オー タバタ、センサーズ アンド マテリアルズ、2001年、第13巻、第5号、p.273−283{O. Tabata, Sensors and Materials, vol.13, No. 5 (2001) 273-283}
しかしながら、前記非特許文献1にも示されているように、TMAHはKOHと比較してシリコンに対するエッチング速度が遅く、生産効率が低いという欠点がある。
そこで、本発明は、シリコンに対するエッチング速度を向上したTMAH等の第4級アンモニウム塩を主剤とするエッチング液を提供することを目的とする。
本発明者等は、上記課題を解決すべく鋭意研究を行った。その結果、TMAH水溶液のような4級アンモニウム系のエッチング液に特定の化合物を添加した場合にはシリコンのエッチング速度が増加することを見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、下記グループAに属する少なくとも1種の化合物を含有する第4級アンモニウム塩の水溶液からなることを特徴とするシリコンエッチング液である。
ここでグループAとは、鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)、ニッケル、ヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩からなる群である。
本発明のエッチング液は、従来の4級アンモニウム系のエッチング液と比べてエッチング速度が速いという特徴を有する。このような効果が得られるのは、上記グループAに属する化合物又は単体(以下、総称して単に「Aグループ化合物」とも言う。)を特定量添加したことによるものであるが、その作用効果は今のところ不明であり、Aグループ化合物の間にも明確な関連性は無いようである。例えば、グループAには、鉄、水酸化鉄(II)といった金属系の物質やヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミンといったアミン化合物が含まれているが、現段階では、両者の間に共通の特性は見出されていない。また、後述する比較例に示されるように、金属であっても鉛や銅にはシリコンエッチング速度上昇の性能は無く、また、アミン化合物であってもヘキサメチンジアミンやモノエタノールアミンには、シリコンエッチング速度を向上させるという効果はみられない。
一般にアルカリ液を用いたシリコンエッチングの反応式は下記式(1)で表されることから、グループAに属する化合物又は単体を添加することにより、なんらかの理由でSi(OH)(Oの生成が促進されるのではないかと考えている。
Si+2HO+2OH→Si(OH)(O+2H↑ (1)
本発明のエッチング液を用いることにより、シリコン結晶の異方性エッチングを高速で行うことが可能となり、延いては各種シリコンデバイスを効率よく製造することが可能となる。
本発明のエッチング液は、第4級アンモニウム塩の水溶液からなる。ここで第4級アンモニウム塩としては、従来の第4級アンモニウム塩水溶液からなるエッチング液で使用されているテトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、又は、テトラブチルアンモニウムハイドロオキサイドが特に制限無く使用できる。これら第4級アンモニウム塩の中でも、シリコンのエッチング速度が高いという理由からTMAHを使用するのが最も好適である。また、第4級アンモニウム塩の濃度も従来のエッチング液と特に変わる点は無く、エッチング液全体の質量を基準として1.0〜50.0質量%、好適には5.0〜25.0質量%の範囲である。
本発明のエッチング液は、グループAに属する化合物(グループA化合物)を含有することを特徴とする。グループA化合物を含有することにより、シリコンのエッチング速度を速くすることができる。
ここで、Aグループ化合物とは、前記したように鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)、ニッケル、ヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン又はグアニジン炭酸塩である。Aグループ化合物の中でも表1に示されるようにエッチング速度促進効果の高さの観点から、鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)、ニッケル、ヒドロキシルアミン、チオシアン酸アンモニウム、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩から成る群より選ばれる少なくとも1種の化合物を使用するのが好適である。
本発明のエッチング液におけるAグループ化合物の好適な含有量は、Aグループ化合物の種類によって異なる。即ち、Aグループ化合物が鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)、およびニッケルからなる群(該群をA1グループといい、該グループに属する化合物又は単体をA1グループ化合物という)より選ばれる少なくとも1種の化合物又は単体である場合には、エッチング液全体の質量に占めるA1グループ化合物の合計質量の割合が0.05〜100質量ppmとなる量であるのが好適である。A1グループ化合物の含有量がこのような範囲内であるときに高いエッチング速度向上効果が得られる。効果の観点からA1グループ化合物の含有量は上記基準で0.1〜50質量ppmであるのがより好適であり、0.1〜10質量ppmであるのが特に好適である。
また、Aグループ化合物がヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩からなる群(該群をA2グループといい、該グループに属する化合物をA2グループ化合物という)より選ばれる少なくとも1種の化合物である場合には、エッチング液全体の質量に占めるA2グループ化合物の合計質量の割合が0.05〜20質量%となる量であるのが好適である。A2グループ化合物の含有量がこのような範囲内であるときに高いエッチング速度向上効果が得られる。効果の観点からA2グループ化合物の含有量は上記基準で0.1〜17質量%であるのがより好適であり、0.1〜10質量%であるのが特に好適である。また、A2グループの中でもヒドロキノンを用いた場合、添加量を例えば10〜15質量%とすることにより特に高いエッチング速度が得られる。
更に、本発明のエッチング液においては、A1グループ化合物とA2グループ化合物とを併用すると相乗効果によりシリコンに対するエッチング速度をより速くすることができる。効果の高さの観点から、鉄と、ヒドロキシルアミン又はグアニジン炭酸塩と、を併用するのが特に好適である。なお、A1グループ化合物とA2グループ化合物とを併用する場合における各化合物の好適な含有量は、それぞれ単独で添加する場合における好適な含有量と同じである。
本発明のエッチング液は、所定濃度の第4アンモニウム塩水溶液に所定量のAグループ化合物を添加し、溶解させることにより容易に調製することができる。このときAグループ化合物を直接添加せずに、予め所定濃度のAグループ化合物の水溶液を調製しておき、これを添加してもよい。また、A1グループ化合物を含有するエッチング液を調製する場合には、A1グループ化合物の中には溶解度が極めて小さい単体(鉄又はニッケル)が含まれているため、過剰量のA1グループ化合物を添加して攪拌することにより十分に混合した後に、その上澄み液を回収することによってエッチング液を調製するのが好適である。このとき、A1グループ化合物の金属成分(鉄やニッケル)はエッチング液中ではイオンとして存在しているものと考えられ、その濃度は原子吸光法などの分析方法により容易に確認することができる。
本発明のエッチング液は、第4アンモニウム塩水溶液系エッチング液の特長、即ち毒性が低く取り扱いが容易で且つ、マスク材料として安価なシリコン酸化膜を使用することができるという長所を有するばかりでなく、従来の第4アンモニウム塩水溶液系エッチング液と比べて、同一条件下でエッチングしたときのエッチング速度が速いという特長を有する。このため、本発明のエッチング液は、シリコンの湿式エッチング工程を含むマイクロマシニング技術により、バルブ、ノズル、プリンタ用ヘッド、並びに流量、圧力及び加速度等の各種物理量を検知するための半導体センサ(例えば半導体圧力センサのダイヤフラムや半導体加速度センサの感知レバーなど)等の種々のシリコンデバイスを製造する際のエッチング液として好適に使用することができる。
本発明のエッチング液を用いてシリコンデバイスを製造する場合には、本発明のエッチング液を用いてシリコンの湿式異方性エッチングを行えばよい。このときの方法は、従来のエッチング液を用いた場合と特に変わる点は無く、例えばエッチング液が導入されたエッチング槽に被エッチング物として“シリコンウェハの必要部分をシリコン酸化膜やシリコン窒化膜などでマスクしたシリコンウェハ”を投入し、エッチング液との化学反応を利用してシリコンウェハの不要部分を溶解させることにより好適に行うことができる。
エッチングの際のエッチング液の温度は、所望のエッチング速度、エッチング後のシリコンの形状や表面状態、生産性などを考慮して20〜90℃の範囲から適宜決定すればよいが40〜85℃の範囲とするのが好適である。
シリコンの湿式異方性エッチングは、被エッチング物をエッチング液に浸漬するだけでも良いが、被エッチング物に一定の電位を印加する電気化学エッチング法を採用することもできる。
以下、実施例によって本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
実施例1〜28
容積1000(ml)のフッ素樹脂製の容器に表1に示す各種添加物質を溶解させた22重量%のTMAH水溶液900(ml)を導入後、オイルバスを用いて液温が80℃になるまで加熱した。
液温が80℃に達した後、シリコン(100)ウェハを上記エッチング液に浸漬し、シリコンのエッチング速度を測定した。なお、シリコンウェハは、エッチング速度を決定するためにその表面の一部に熱酸化膜を形成しておいた。エッチング速度は、エッチング終了後におけるエッチング部分と非エッチング部分の高低差をエッチング時間で除することにより求めた。エッチング速度測定結果を表1に示す。
Figure 2006186329
実施例29〜34
TMAHの濃度、添加物質の種類及び量を表1に示す様に変えた以外は実施例1と同様にしてシリコン(100)のエッチンング速度を調べた。その結果を表1に示す。
比較例1〜7
添加物質の種類及び添加量を表2に示すように変えた以外は、実施例1と同様にしてシリコン(100)のエッチンング速度を調べた。その結果を表2に示す。
Figure 2006186329
表1に示されるように、Aグループ化合物を添加した22重量%TMAH水溶液からなるエッチング液を用いた場合(実施例1〜28)のシリコン(100)に対するエッチング速度は、最低で0.66μm/分であり、最高で0.90μm/分であった。比較例2に示すように22重量%TMAH水溶液のシリコン(100)に対するエッチング速度は0.6μm/分であることから、Aグループ化合物の添加によりエッチング速度は10%以上増加することが判明した。また、同様にAグループ化合物を添加した10重量%および15重量%のTMAH水溶液からなるエッチング液を用いた場合(実施例29〜32)のシリコン(100)に対するエッチング速度は、少なくとも、0.93μm/分である。比較例1に示すように10重量%TMAH水溶液のシリコン(100)に対するエッチング速度は0.8μm/分であることから、Aグループ化合物の添加によりエッチング速度は10%以上増加することが判明した。尚、実施例1〜34において、エッチング液によるシリコン酸化膜のエッチング速度の増加は見られなかった。
一方、比較例3〜7に示されるように、Aグループ化合物以外の化合物を添加した場合には、エッチング速度の向上は見られず、逆にエッチング速度は遅くなっている事が分かる。
また、表1に示されるように、22重量%のTMAH水溶液に鉄とヒドロキシルアミンを添加した実施例33及び鉄とグアニジン炭酸塩を添加した実施例34におけるシリコン(100)に対するエッチング速度は、夫々1.1μm/分及び0.85μm/分となっており、複合添加による相乗効果が確認された。即ち、22重量%TMAH水溶液のエッチング速度(比較例2)を基準とすると、実施例33における速度上昇分は0.5μm/分(約80%)となり、実施例34における速度上昇分は0.25μm/分(約40%)となっている。一方、実施例2で示されるように22重量%TMAH水溶液に鉄のみを50質量ppm添加したエッチング液のエッチング速度は、0.75μm/分であり、実施例7で示されるように22重量%TMAH水溶液に、ヒドロキシルアミンのみを2重量%添加したエッチング液のエッチング速度は、0.9μm/分である。したがって、22重量%TMAH水溶液のエッチング速度(比較例2)を基準としたときの実施例2の速度上昇は0.15μm/分となり、実施例7の速度上昇は0.3μ/分(ヒドロキシルアミン)となり、両者の合計は0.45μm/分となる。実施例33における速度上昇はこの値を上回っていることから相乗効果が認められる。また、実施例2及び26の結果と実施例34の結果との対比からも同様に相乗効果があることが分かる。

Claims (5)

  1. 下記グループAに属する少なくとも1種の化合物又は単体を含有する第4級アンモニウム塩の水溶液からなることを特徴とするシリコンエッチング液。
    グループA: 鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)、ニッケル、ヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩
  2. 下記グループA1に属する少なくとも1種の化合物又は単体を0.05〜100質量ppm含有することを特徴とする請求項1に記載のシリコンエッチング液。
    グループA1: 鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)及びニッケル
  3. 下記グループA2に属する少なくとも1種の化合物を0.05〜20質量%含有することを特徴とする請求項1に記載のシリコンエッチング液。
    グループA2: ヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩
  4. 前記グループA1に属する少なくとも1種の化合物又は単体を0.05〜100質量ppm含有し、更に前記グループA2に属する少なくとも1種の化合物を0.05〜20質量%含有する請求項1乃至3に記載のシリコンエッチング液。
  5. マスクされたシリコンウェハをエッチングする工程を含むシリコンデバイスの製造方法において、前記エッチングを請求項1〜4に記載のエッチング液を用いて行うことを特徴とするシリコンデバイスの製造方法。
JP2005337953A 2004-11-30 2005-11-24 シリコンエッチング液 Expired - Fee Related JP4684869B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005337953A JP4684869B2 (ja) 2004-11-30 2005-11-24 シリコンエッチング液

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004346937 2004-11-30
JP2005337953A JP4684869B2 (ja) 2004-11-30 2005-11-24 シリコンエッチング液

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006186329A true JP2006186329A (ja) 2006-07-13
JP4684869B2 JP4684869B2 (ja) 2011-05-18

Family

ID=36739169

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005337953A Expired - Fee Related JP4684869B2 (ja) 2004-11-30 2005-11-24 シリコンエッチング液

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4684869B2 (ja)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006351811A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Mitsubishi Gas Chem Co Inc シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法。
JP2007214456A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Mitsubishi Gas Chem Co Inc シリコン微細加工に用いるシリコン異方性エッチング剤組成物、シリコンエッチング方法及びそのエッチングを施されたシリコン基板を有する電子機器
JP2008166600A (ja) * 2006-12-28 2008-07-17 Kanto Chem Co Inc 異方性エッチング液およびそれを用いたエッチング方法
WO2009044647A1 (ja) * 2007-10-04 2009-04-09 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. シリコンエッチング液およびエッチング方法
JP2010040908A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Tokuyama Corp シリコンエッチング液
WO2011040484A1 (ja) * 2009-10-02 2011-04-07 三菱瓦斯化学株式会社 シリコンエッチング液およびエッチング方法
WO2011050588A1 (zh) * 2009-10-30 2011-05-05 安集微电子(上海)有限公司 一种含氟组合液
KR20150029826A (ko) * 2013-09-10 2015-03-19 동우 화인켐 주식회사 폴리실리콘 및 아몰퍼스 실리콘 식각액 조성물
KR20150107773A (ko) 2013-01-15 2015-09-23 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 실리콘 에칭액 및 에칭방법 그리고 미소전기기계소자
KR20170066244A (ko) * 2015-11-25 2017-06-14 버슘 머티리얼즈 유에스, 엘엘씨 에칭 조성물 및 이를 사용하는 방법
CN112480928A (zh) * 2019-09-11 2021-03-12 利绅科技股份有限公司 硅蚀刻组成物及其作用于硅基材的蚀刻方法
KR20210107656A (ko) 2018-12-18 2021-09-01 가부시키가이샤 도쿠야마 실리콘 에칭액
CN113950520A (zh) * 2019-06-13 2022-01-18 弗萨姆材料美国有限责任公司 在半导体器件制造期间相对于p-掺杂硅和硅-锗选择性去除多晶硅的液体组合物
WO2022025163A1 (ja) * 2020-07-31 2022-02-03 株式会社トクヤマ シリコンエッチング液、並びに該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法およびシリコン基板の処理方法
US20220073819A1 (en) * 2020-09-09 2022-03-10 Dongwoo Fine-Chem Co., Ltd. Silicon etchant composition, pattern formation method and manufacturing method of array substrate using the etchant composition, and array substrate manufactured therefrom
WO2022138754A1 (ja) * 2020-12-24 2022-06-30 株式会社トクヤマ シリコンエッチング液、該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法および基板処理方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001068444A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Mitsubishi Materials Silicon Corp 半導体基板への金属の吸着を抑制した半導体基板用処理液及びこの処理液の調製方法並びにこれを用いた半導体基板の処理方法
JP2006054363A (ja) * 2004-08-13 2006-02-23 Mitsubishi Gas Chem Co Inc シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法
JP2006147945A (ja) * 2004-11-22 2006-06-08 Seiko Epson Corp エッチング液及びその製造方法、並びに液体噴射ヘッドの製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001068444A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Mitsubishi Materials Silicon Corp 半導体基板への金属の吸着を抑制した半導体基板用処理液及びこの処理液の調製方法並びにこれを用いた半導体基板の処理方法
JP2006054363A (ja) * 2004-08-13 2006-02-23 Mitsubishi Gas Chem Co Inc シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法
JP2006147945A (ja) * 2004-11-22 2006-06-08 Seiko Epson Corp エッチング液及びその製造方法、並びに液体噴射ヘッドの製造方法

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006351811A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Mitsubishi Gas Chem Co Inc シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法。
JP2007214456A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Mitsubishi Gas Chem Co Inc シリコン微細加工に用いるシリコン異方性エッチング剤組成物、シリコンエッチング方法及びそのエッチングを施されたシリコン基板を有する電子機器
JP2008166600A (ja) * 2006-12-28 2008-07-17 Kanto Chem Co Inc 異方性エッチング液およびそれを用いたエッチング方法
WO2009044647A1 (ja) * 2007-10-04 2009-04-09 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. シリコンエッチング液およびエッチング方法
CN101884095B (zh) * 2007-10-04 2012-06-27 三菱瓦斯化学株式会社 硅蚀刻液和蚀刻方法
JP2010040908A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Tokuyama Corp シリコンエッチング液
JP5720573B2 (ja) * 2009-10-02 2015-05-20 三菱瓦斯化学株式会社 シリコンエッチング液およびエッチング方法
WO2011040484A1 (ja) * 2009-10-02 2011-04-07 三菱瓦斯化学株式会社 シリコンエッチング液およびエッチング方法
DE112010003900T5 (de) 2009-10-02 2012-08-30 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. Lösung zum Ätzen von Silizium und Ätz-Verfahren
WO2011050588A1 (zh) * 2009-10-30 2011-05-05 安集微电子(上海)有限公司 一种含氟组合液
KR20150107773A (ko) 2013-01-15 2015-09-23 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 실리콘 에칭액 및 에칭방법 그리고 미소전기기계소자
US9875904B2 (en) 2013-01-15 2018-01-23 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. Silicon etching liquid, silicon etching method, and microelectromechanical element
KR20150029826A (ko) * 2013-09-10 2015-03-19 동우 화인켐 주식회사 폴리실리콘 및 아몰퍼스 실리콘 식각액 조성물
KR102080587B1 (ko) * 2013-09-10 2020-02-25 동우 화인켐 주식회사 폴리실리콘 및 아몰퍼스 실리콘 식각액 조성물
CN107527808A (zh) * 2015-11-25 2017-12-29 气体产品与化学公司 蚀刻组合物和使用所述蚀刻组合物的方法
JP2017108122A (ja) * 2015-11-25 2017-06-15 エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated エッチング組成物及びその使用方法
US10400167B2 (en) 2015-11-25 2019-09-03 Versum Materials Us, Llc Etching compositions and methods for using same
KR102055788B1 (ko) * 2015-11-25 2019-12-13 버슘머트리얼즈 유에스, 엘엘씨 에칭 조성물 및 이를 사용하는 방법
KR20170066244A (ko) * 2015-11-25 2017-06-14 버슘 머티리얼즈 유에스, 엘엘씨 에칭 조성물 및 이를 사용하는 방법
CN107527808B (zh) * 2015-11-25 2020-10-16 弗萨姆材料美国有限责任公司 蚀刻组合物和使用所述蚀刻组合物的方法
KR20210107656A (ko) 2018-12-18 2021-09-01 가부시키가이샤 도쿠야마 실리콘 에칭액
CN113950520A (zh) * 2019-06-13 2022-01-18 弗萨姆材料美国有限责任公司 在半导体器件制造期间相对于p-掺杂硅和硅-锗选择性去除多晶硅的液体组合物
CN113950520B (zh) * 2019-06-13 2024-03-01 弗萨姆材料美国有限责任公司 在半导体器件制造期间相对于p-掺杂硅和硅-锗选择性去除多晶硅的液体组合物
CN112480928A (zh) * 2019-09-11 2021-03-12 利绅科技股份有限公司 硅蚀刻组成物及其作用于硅基材的蚀刻方法
WO2022025163A1 (ja) * 2020-07-31 2022-02-03 株式会社トクヤマ シリコンエッチング液、並びに該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法およびシリコン基板の処理方法
US20220073819A1 (en) * 2020-09-09 2022-03-10 Dongwoo Fine-Chem Co., Ltd. Silicon etchant composition, pattern formation method and manufacturing method of array substrate using the etchant composition, and array substrate manufactured therefrom
CN114231288A (zh) * 2020-09-09 2022-03-25 东友精细化工有限公司 硅蚀刻液组合物、图案形成方法、阵列基板的制造方法、以及阵列基板
CN114231288B (zh) * 2020-09-09 2023-12-26 东友精细化工有限公司 硅蚀刻液组合物、图案形成方法、阵列基板的制造方法、以及阵列基板
WO2022138754A1 (ja) * 2020-12-24 2022-06-30 株式会社トクヤマ シリコンエッチング液、該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法および基板処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4684869B2 (ja) 2011-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4684869B2 (ja) シリコンエッチング液
TWI390019B (zh) 矽異方性蝕刻液組成物
KR101625247B1 (ko) 실리콘 에칭액 및 에칭 방법
JP5109261B2 (ja) シリコン微細加工に用いるシリコン異方性エッチング剤組成物
TWI475095B (zh) 矽蝕刻液及蝕刻方法
US8883652B2 (en) Silicon etching liquid and etching method
JP3994992B2 (ja) シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法
JP2006351813A (ja) シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法
JPWO2009136558A1 (ja) シリコンエッチング液およびエッチング方法
US9875904B2 (en) Silicon etching liquid, silicon etching method, and microelectromechanical element
JP7305679B2 (ja) シリコンエッチング液
JP4975430B2 (ja) 異方性エッチング液およびそれを用いたエッチング方法
JP4999800B2 (ja) シリコンエッチング液
JP2014101560A (ja) 銅または銅合金用エッチング液
JP2006351811A (ja) シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法。
JPS5853980A (ja) エツチング剤組成物
KR101576286B1 (ko) 실리콘 웨이퍼의 이방성 식각 방법 및 그 장치
JPH1150271A (ja) シリコン材料のエッチング方法
JP2006351812A (ja) シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080421

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101026

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101227

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110118

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110209

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140218

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees