JP2006186329A - シリコンエッチング液 - Google Patents
シリコンエッチング液 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006186329A JP2006186329A JP2005337953A JP2005337953A JP2006186329A JP 2006186329 A JP2006186329 A JP 2006186329A JP 2005337953 A JP2005337953 A JP 2005337953A JP 2005337953 A JP2005337953 A JP 2005337953A JP 2006186329 A JP2006186329 A JP 2006186329A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon
- group
- iron
- etching
- compound
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Weting (AREA)
Abstract
【解決手段】 テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)等の第4級アンモニウム塩からなる水溶液に、鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)などの特定の化合物を添加した水溶液をエッチング液として使用する。
【選択図】 なし
Description
容積1000(ml)のフッ素樹脂製の容器に表1に示す各種添加物質を溶解させた22重量%のTMAH水溶液900(ml)を導入後、オイルバスを用いて液温が80℃になるまで加熱した。
TMAHの濃度、添加物質の種類及び量を表1に示す様に変えた以外は実施例1と同様にしてシリコン(100)のエッチンング速度を調べた。その結果を表1に示す。
添加物質の種類及び添加量を表2に示すように変えた以外は、実施例1と同様にしてシリコン(100)のエッチンング速度を調べた。その結果を表2に示す。
Claims (5)
- 下記グループAに属する少なくとも1種の化合物又は単体を含有する第4級アンモニウム塩の水溶液からなることを特徴とするシリコンエッチング液。
グループA: 鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)、ニッケル、ヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩 - 下記グループA1に属する少なくとも1種の化合物又は単体を0.05〜100質量ppm含有することを特徴とする請求項1に記載のシリコンエッチング液。
グループA1: 鉄、塩化鉄(III)、水酸化鉄(II)、水酸化ニッケル(II)及びニッケル - 下記グループA2に属する少なくとも1種の化合物を0.05〜20質量%含有することを特徴とする請求項1に記載のシリコンエッチング液。
グループA2: ヒドロキシルアミン、ジメチルアミン、N,Nジエチルヒドロキシルアミン、エチレンジアミン、イソプロパノールアミン、ベンジルアミン、2−エトキシエチルアミン、弗化アンモニウム、ヨウ化アンモニウム、チオ硫酸アンモニウム、チオシアン酸アンモニウム、アスコルビン酸、L−システイン、ピリジン、キノリノール、シュウ酸、カテコール、ヒドロキノン、ベンゾキノン及びグアニジン炭酸塩 - 前記グループA1に属する少なくとも1種の化合物又は単体を0.05〜100質量ppm含有し、更に前記グループA2に属する少なくとも1種の化合物を0.05〜20質量%含有する請求項1乃至3に記載のシリコンエッチング液。
- マスクされたシリコンウェハをエッチングする工程を含むシリコンデバイスの製造方法において、前記エッチングを請求項1〜4に記載のエッチング液を用いて行うことを特徴とするシリコンデバイスの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005337953A JP4684869B2 (ja) | 2004-11-30 | 2005-11-24 | シリコンエッチング液 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004346937 | 2004-11-30 | ||
JP2005337953A JP4684869B2 (ja) | 2004-11-30 | 2005-11-24 | シリコンエッチング液 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006186329A true JP2006186329A (ja) | 2006-07-13 |
JP4684869B2 JP4684869B2 (ja) | 2011-05-18 |
Family
ID=36739169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005337953A Expired - Fee Related JP4684869B2 (ja) | 2004-11-30 | 2005-11-24 | シリコンエッチング液 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4684869B2 (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006351811A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法。 |
JP2007214456A (ja) * | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | シリコン微細加工に用いるシリコン異方性エッチング剤組成物、シリコンエッチング方法及びそのエッチングを施されたシリコン基板を有する電子機器 |
JP2008166600A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Kanto Chem Co Inc | 異方性エッチング液およびそれを用いたエッチング方法 |
WO2009044647A1 (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-09 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | シリコンエッチング液およびエッチング方法 |
JP2010040908A (ja) * | 2008-08-07 | 2010-02-18 | Tokuyama Corp | シリコンエッチング液 |
WO2011040484A1 (ja) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | 三菱瓦斯化学株式会社 | シリコンエッチング液およびエッチング方法 |
WO2011050588A1 (zh) * | 2009-10-30 | 2011-05-05 | 安集微电子(上海)有限公司 | 一种含氟组合液 |
KR20150029826A (ko) * | 2013-09-10 | 2015-03-19 | 동우 화인켐 주식회사 | 폴리실리콘 및 아몰퍼스 실리콘 식각액 조성물 |
KR20150107773A (ko) | 2013-01-15 | 2015-09-23 | 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 | 실리콘 에칭액 및 에칭방법 그리고 미소전기기계소자 |
KR20170066244A (ko) * | 2015-11-25 | 2017-06-14 | 버슘 머티리얼즈 유에스, 엘엘씨 | 에칭 조성물 및 이를 사용하는 방법 |
CN112480928A (zh) * | 2019-09-11 | 2021-03-12 | 利绅科技股份有限公司 | 硅蚀刻组成物及其作用于硅基材的蚀刻方法 |
KR20210107656A (ko) | 2018-12-18 | 2021-09-01 | 가부시키가이샤 도쿠야마 | 실리콘 에칭액 |
CN113950520A (zh) * | 2019-06-13 | 2022-01-18 | 弗萨姆材料美国有限责任公司 | 在半导体器件制造期间相对于p-掺杂硅和硅-锗选择性去除多晶硅的液体组合物 |
WO2022025163A1 (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-03 | 株式会社トクヤマ | シリコンエッチング液、並びに該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法およびシリコン基板の処理方法 |
US20220073819A1 (en) * | 2020-09-09 | 2022-03-10 | Dongwoo Fine-Chem Co., Ltd. | Silicon etchant composition, pattern formation method and manufacturing method of array substrate using the etchant composition, and array substrate manufactured therefrom |
WO2022138754A1 (ja) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | 株式会社トクヤマ | シリコンエッチング液、該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法および基板処理方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001068444A (ja) * | 1999-08-30 | 2001-03-16 | Mitsubishi Materials Silicon Corp | 半導体基板への金属の吸着を抑制した半導体基板用処理液及びこの処理液の調製方法並びにこれを用いた半導体基板の処理方法 |
JP2006054363A (ja) * | 2004-08-13 | 2006-02-23 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法 |
JP2006147945A (ja) * | 2004-11-22 | 2006-06-08 | Seiko Epson Corp | エッチング液及びその製造方法、並びに液体噴射ヘッドの製造方法 |
-
2005
- 2005-11-24 JP JP2005337953A patent/JP4684869B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001068444A (ja) * | 1999-08-30 | 2001-03-16 | Mitsubishi Materials Silicon Corp | 半導体基板への金属の吸着を抑制した半導体基板用処理液及びこの処理液の調製方法並びにこれを用いた半導体基板の処理方法 |
JP2006054363A (ja) * | 2004-08-13 | 2006-02-23 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法 |
JP2006147945A (ja) * | 2004-11-22 | 2006-06-08 | Seiko Epson Corp | エッチング液及びその製造方法、並びに液体噴射ヘッドの製造方法 |
Cited By (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006351811A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法。 |
JP2007214456A (ja) * | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | シリコン微細加工に用いるシリコン異方性エッチング剤組成物、シリコンエッチング方法及びそのエッチングを施されたシリコン基板を有する電子機器 |
JP2008166600A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Kanto Chem Co Inc | 異方性エッチング液およびそれを用いたエッチング方法 |
WO2009044647A1 (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-09 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | シリコンエッチング液およびエッチング方法 |
CN101884095B (zh) * | 2007-10-04 | 2012-06-27 | 三菱瓦斯化学株式会社 | 硅蚀刻液和蚀刻方法 |
JP2010040908A (ja) * | 2008-08-07 | 2010-02-18 | Tokuyama Corp | シリコンエッチング液 |
JP5720573B2 (ja) * | 2009-10-02 | 2015-05-20 | 三菱瓦斯化学株式会社 | シリコンエッチング液およびエッチング方法 |
WO2011040484A1 (ja) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | 三菱瓦斯化学株式会社 | シリコンエッチング液およびエッチング方法 |
DE112010003900T5 (de) | 2009-10-02 | 2012-08-30 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | Lösung zum Ätzen von Silizium und Ätz-Verfahren |
WO2011050588A1 (zh) * | 2009-10-30 | 2011-05-05 | 安集微电子(上海)有限公司 | 一种含氟组合液 |
KR20150107773A (ko) | 2013-01-15 | 2015-09-23 | 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 | 실리콘 에칭액 및 에칭방법 그리고 미소전기기계소자 |
US9875904B2 (en) | 2013-01-15 | 2018-01-23 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | Silicon etching liquid, silicon etching method, and microelectromechanical element |
KR20150029826A (ko) * | 2013-09-10 | 2015-03-19 | 동우 화인켐 주식회사 | 폴리실리콘 및 아몰퍼스 실리콘 식각액 조성물 |
KR102080587B1 (ko) * | 2013-09-10 | 2020-02-25 | 동우 화인켐 주식회사 | 폴리실리콘 및 아몰퍼스 실리콘 식각액 조성물 |
CN107527808A (zh) * | 2015-11-25 | 2017-12-29 | 气体产品与化学公司 | 蚀刻组合物和使用所述蚀刻组合物的方法 |
JP2017108122A (ja) * | 2015-11-25 | 2017-06-15 | エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated | エッチング組成物及びその使用方法 |
US10400167B2 (en) | 2015-11-25 | 2019-09-03 | Versum Materials Us, Llc | Etching compositions and methods for using same |
KR102055788B1 (ko) * | 2015-11-25 | 2019-12-13 | 버슘머트리얼즈 유에스, 엘엘씨 | 에칭 조성물 및 이를 사용하는 방법 |
KR20170066244A (ko) * | 2015-11-25 | 2017-06-14 | 버슘 머티리얼즈 유에스, 엘엘씨 | 에칭 조성물 및 이를 사용하는 방법 |
CN107527808B (zh) * | 2015-11-25 | 2020-10-16 | 弗萨姆材料美国有限责任公司 | 蚀刻组合物和使用所述蚀刻组合物的方法 |
KR20210107656A (ko) | 2018-12-18 | 2021-09-01 | 가부시키가이샤 도쿠야마 | 실리콘 에칭액 |
CN113950520A (zh) * | 2019-06-13 | 2022-01-18 | 弗萨姆材料美国有限责任公司 | 在半导体器件制造期间相对于p-掺杂硅和硅-锗选择性去除多晶硅的液体组合物 |
CN113950520B (zh) * | 2019-06-13 | 2024-03-01 | 弗萨姆材料美国有限责任公司 | 在半导体器件制造期间相对于p-掺杂硅和硅-锗选择性去除多晶硅的液体组合物 |
CN112480928A (zh) * | 2019-09-11 | 2021-03-12 | 利绅科技股份有限公司 | 硅蚀刻组成物及其作用于硅基材的蚀刻方法 |
WO2022025163A1 (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-03 | 株式会社トクヤマ | シリコンエッチング液、並びに該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法およびシリコン基板の処理方法 |
US20220073819A1 (en) * | 2020-09-09 | 2022-03-10 | Dongwoo Fine-Chem Co., Ltd. | Silicon etchant composition, pattern formation method and manufacturing method of array substrate using the etchant composition, and array substrate manufactured therefrom |
CN114231288A (zh) * | 2020-09-09 | 2022-03-25 | 东友精细化工有限公司 | 硅蚀刻液组合物、图案形成方法、阵列基板的制造方法、以及阵列基板 |
CN114231288B (zh) * | 2020-09-09 | 2023-12-26 | 东友精细化工有限公司 | 硅蚀刻液组合物、图案形成方法、阵列基板的制造方法、以及阵列基板 |
WO2022138754A1 (ja) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | 株式会社トクヤマ | シリコンエッチング液、該エッチング液を用いたシリコンデバイスの製造方法および基板処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4684869B2 (ja) | 2011-05-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4684869B2 (ja) | シリコンエッチング液 | |
TWI390019B (zh) | 矽異方性蝕刻液組成物 | |
KR101625247B1 (ko) | 실리콘 에칭액 및 에칭 방법 | |
JP5109261B2 (ja) | シリコン微細加工に用いるシリコン異方性エッチング剤組成物 | |
TWI475095B (zh) | 矽蝕刻液及蝕刻方法 | |
US8883652B2 (en) | Silicon etching liquid and etching method | |
JP3994992B2 (ja) | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法 | |
JP2006351813A (ja) | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法 | |
JPWO2009136558A1 (ja) | シリコンエッチング液およびエッチング方法 | |
US9875904B2 (en) | Silicon etching liquid, silicon etching method, and microelectromechanical element | |
JP7305679B2 (ja) | シリコンエッチング液 | |
JP4975430B2 (ja) | 異方性エッチング液およびそれを用いたエッチング方法 | |
JP4999800B2 (ja) | シリコンエッチング液 | |
JP2014101560A (ja) | 銅または銅合金用エッチング液 | |
JP2006351811A (ja) | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法。 | |
JPS5853980A (ja) | エツチング剤組成物 | |
KR101576286B1 (ko) | 실리콘 웨이퍼의 이방성 식각 방법 및 그 장치 | |
JPH1150271A (ja) | シリコン材料のエッチング方法 | |
JP2006351812A (ja) | シリコン微細加工に用いる異方性エッチング剤組成物及びエッチング方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080421 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101026 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110118 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110209 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140218 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |