JP2006145528A - 回転検出センサ及びこれを備える振動機器 - Google Patents

回転検出センサ及びこれを備える振動機器 Download PDF

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Abstract

【課題】回転以外の要因に起因する検出素子の出力信号に変動に基づいて初期化処理が行われた場合であっても、回転体の回転に関連するパルスのような適切な信号を生成することができ、信頼性の高い回転情報を得ることができる回転検出センサを得る。
【解決手段】回転体7の回転を検出し、出力信号を出力する検出素子1と、初期値として少なくとも要求されたゲインを得るためのゲイン調整を含む初期化処理を行う初期化手段3、20、21と、このゲインで出力信号を増幅して増幅信号を提供する増幅手段20と、増幅信号の変動に基づいて回転体7の回転に対応したパルスを生成するパルス生成手段4と、初期値の適否を評価する初期値評価手段30とを備え、初期値が不適と評価された場合、初期化手段3、20、21は、新たな初期値を得るための再初期化処理を行い、増幅手段30は、新たな初期値で出力信号を増幅して増幅信号を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、磁束の変化により回転体の回転を検出し、出力信号を出力する検出素子と、前記出力信号の所定回数の変動に基づき、初期値として少なくとも要求されたゲインを得るためのゲイン調整を含む初期化処理を行う初期化手段と、前記ゲインで前記出力信号を増幅して増幅信号を提供する増幅手段と、前記増幅信号の変動に基づいて、前記回転体の回転に対応したパルスを生成するパルス生成手段とを備えた回転検出センサに関する。
上記タイプの回転検出センサは、回転体の回転に伴って発生する磁束の変化を検出するものである。図4に示すように、回転体7は外周部に多くの歯8を備え、ホール素子や磁気抵抗素子などの検出素子1は、動作可能なように回転体7の適切な箇所に対応して配置されている。そして、検出素子1から出力された出力信号は、回転体7の回転速度や回転方向などの検出に用いられる。
特に、この回転検出センサは、回転体の回転に伴い検出素子の検出面で発生する磁束の変化を利用する。つまり、検出素子は、磁束の変化を検出し、回転体の回転に対応して振幅が変動する電気信号に変換する。この出力信号は、論理判定部4に入力され、例えば、算術論理演算により二値化されて、回転体の回転速度に対応したパルスに変換される。
回転検出センサは、通常、磁気検出素子1と、増幅、オフセット調整、パルス生成を行う一つの集積回路とを備えている(集積化されていない場合もある。)。
現在商品化されている上記タイプの回転検出センサは、検出距離を延ばすために(回転体7の歯8と磁気検出素子1との離間距離の選択に自由度を大きくするために)下記のような構成が採られる。例えば、論理判定部に入力された信号に対して適切なしきい値によって論理しきい値処理が実行されるように、電源オン(通電開始)から所定回数の振幅変動(具体的には、回転体が回転している場合には、所定の回転速度)に達するまでの時間以内に、ゲイン調整やオフセット調整を自動実行する。
ゲイン調整では、信号が所定の適切な強度の範囲に収まるように適切なゲインが自動的に求められる。オフセット調整では、振幅中心の値が所定の範囲に収まるような適切なオフセット値が自動的に求められる。
上述したような「初期化処理」に際して、処理を実行するタイミングは、その振幅変動の数で決定される。
ところで、一つの適用例としてこのような回転検出センサは、自動車のような振動する機器に使用される。この場合、回転体が回転していない時であっても、自動車の車体のような機器自体の振動が、回転体と検出素子との間の離間距離に周期的な変動を生じさせることがある。又は、機器本体の振動が原因で、微小な周期的振動が回転体に生じることがある。これらは磁束の変化を生じさせ、回転検出センサは上記振動に基づいて不測の出力信号を発生する可能性がある。
そして、このように、磁気検出素子からの出力信号に不測の振動に起因した変動(振動ノイズ)が現れた環境下で初期化処理が実行されたとすれば、振動ノイズは非常に小さい磁束の変化であるため、ゲイン調整の結果として過大に大きなゲインが得られる。
その後、回転体が回転して、この回転を検出すると、充分に大きな磁束が検出される。この出力信号が過大に大きなゲインで増幅されると、増幅された信号は集積回路の最大信号処理範囲を超えた過大な値となる。そして、この状態でパルス生成が行われると、パルス生成タイミングが乱されるなどの不都合が生じる。
このような問題に対する解決方法として、回転検出センサの感度を低下させる、回転体と磁気検出素子との距離を広げる、などが考えられる。しかし、このような解決方法は、明らかにセンサ感度を不都合に低下させるものであるため、好ましくない。
また、別の解決方法では、回転体が所定期間、停止状態(例えば、自動車の車体が停止していること。)を続けていることを検出又は監視して、その後初期化処理を再実行することが提案されている。しかし、この解決方法は、初期化が実質的に不要な場合にも実行される。従って、初期化を実行している間の出力パルスが乱れる可能性を有する。
さらに、下記に示す特許文献1には、別の解決方法が提案されている。これによれば、物理的な振動を検出する「変位センサ」などを別途設ける(即ち、別のセンサは、回転ではない振動の検出に専念する。)。そして、この変位センサによって検出された振動に基づいて回転検出センサの出力を補償する。しかし、付加的なセンサを備えるには大幅なコストの上昇が予測されるので、この解決方法もまた、不都合であり、実用的ではない。
特開2000−205259号公報(特許請求の範囲、第1図)
次に、振動ノイズが現れた状態で、誤った初期化処理が実行された時の状況を図4、5、6及び7に基づいて、さらに詳細に説明する。図4は、従来の回転検出センサの機能ブロック図である。図5は、図4の回転検出センサの初期化処理及び検出処理動作を示すフローチャートである。図6は、振動による磁気検出素子の出力信号の増幅信号に基づいて初期化が実行された場合の増幅信号及びこれに伴う出力波形(出力パルス)を示す波形図である。
図4に示すように、従来の回転検出センサは一対の検出素子1と、これら検出素子1からの信号を増幅するプリアンプ2と、プリアンプで増幅された信号をオフセット調整するオフセット調整器21と、オフセット調整後の信号を増幅するメインアンプ20と、論理演算を施して得られた信号をパルスなどに変換する論理判定部4と、パルスの出力を受けて所定の信号を出力する出力部5とを備えている。
上記論理判定部4は、少なくとも回転体7の回転に応じた数のパルスを生成する。状況に応じて回転体7の回転方向に応じたパルスが形成され、出力される場合もある。
図4に示すように、オフセット調整器21で用いられるオフセット値及びメインアンプ20で用いられるゲインは、初期化判定部3が電源投入などの一定の条件が満足されたことを判定したときに、オフセット調整器21によるオフセット調整とメインアンプ20によるゲイン調整とを実行することによって得られる。
従来、ゲイン調整は初期化判定条件を満足する電源投入時に、1回のみ実行され、検出素子1の出力信号の増幅処理に使用されていた。
次に、この種の初期化処理と、それに続く信号処理について、図5に示すフローチャートに基づいて説明する。
〔初期化処理〕
フローチャートの上部に示すように、電源が投入されると、検出素子1からの出力信号を順次取り込みながら検出素子1の出力信号の周期を単位としてオフセット調整及びゲイン調整が行われる(#51−1、#52)。そして、パルス生成のための論理判定(#53−1)と、生成されたパルスを出力する処理(#54−1)が行われる。この一連の処理は出力パルス数が所定回数N(例えばN=6回)を超えるまで(#55))、繰り返し続けられる。この初期化処理において、好適なゲインが取得される。
従って、この初期化処理の結果として得られたゲインは、個々の検出素子の出力に応じた適切な値である。
〔初期化後の信号処理〕
初期化を完了すると、信号処理はフローチャートの下部に示す閉ループに移行する。このループにおいて、検出素子1から新たな出力信号を取得し、初期化処理により求められたゲインにより増幅信号を得て、増幅信号に対して論理判定処理を行い、パルスを含む出力がなされる(#53−2、#54−2)。
尚、フローチャートに示すように、オフセット調整は、検出素子からの新たな出力信号を取得するサイクルごとに行われる(#51−2)。
図6は、上記動作を実行した場合の信号形態を図示した波形図である。横軸は時間、縦軸は増幅信号(上段)、好ましくない出力パルスの波形(中段)、最適なパルスの波形(下段)である。
まず始めに、時間が示された横軸について説明する。図の左端に示され、比較的小さな増幅信号が示された領域(領域A)は、機械的振動による検出素子の出力信号が入力されている時の領域を示している。図の中央から右側の別の領域(領域B)は、回転体の回転による検出素子の出力信号が入力されている時の領域を示している。図6には、領域Aの始めの方に含まれたさらに別の領域(領域C)も示されている。この領域Cは、初期化処理が実行されている領域である。
次に、縦軸について説明する。下段は、検出素子の出力信号から得られる最適なパルスの波形を示している。中段は、機械的振動に起因する検出素子の出力信号の変動に基づいて求められた不適切なゲインを用いて増幅された増幅信号から生成された好ましくないパルスの波形を示している。上段は、この好ましくないパルスの波形に対応する増幅信号を示している。
さらに上段には、二点鎖線によりこのセンサの最大信号処理範囲が示されている。また、一点鎖線によりパルス生成のしきい値が示されている。この波形図には、「適切な或いは最適なしきい値」と、「不適切なしきい値」とが共に一点鎖線で示されている。「適切なしきい値」は、最大信号処理範囲を超えた信号に対しても、本来のパルス生成処理を施す場合に適用されるしきい値である。一方、「不適切なしきい値」は、もっぱら最大信号処理範囲のみに基づいて設定された好ましくないしきい値である。
上述したように、中段に示すパルスの波形は、不適切なしきい値に基づいて処理されたものである。一方、下段に示すパルスの波形は適切なしきい値に基づいて処理されたものである。
従って、ここに示す従来技術においては、下段に示されるパルスの波形と、中段に示されるパルスの波形との間に不一致が生じる。
本願のようなセンサでは、パルス生成のタイミングを画定するパルス生成しきい値が自動的に設定されるように構成されている。特に図6に示す領域B(回転)においては、パルス生成のタイミングは、増幅信号がこのパルス生成しきい値(一点鎖線)を通過するタイミングとして設定される。
図7に示すように、上述したパルス生成しきい値は、所定の単位周期の増幅信号の処理中に、その単位周期の増幅旬号の幅、又は最大値Vmaxと最小値Vminとの差Vppに基づいて設定される。特に、上限しきい値VthHと、下限しきい値VthLとは、例えば以下の条件をそれぞれが満足するように次々に(交互に連続して)設定される。
VthH = Vmax−r×Vpp
VthL = Vmin+r×Vpp
r = 0.15
即ち、これらパルス生成しきい値は、増幅信号の単位周期における振幅の変動幅に基づいて自動的に設定される。
再度、図6に戻って、機械的振動に起因する出力信号が検出されている状況で初期化処理を行う場合について説明する。増幅信号は、上段の左端に示すように、小さな信号強度である。この状況で、次々と検出素子からの出力信号が入力され、初期化処理として適切な(つまり、このような出力信号にとって適切な)ゲインを得るためのゲイン調整が行われると、信号強度が弱いことから、得られるゲインは、このセンサに許容される最大ゲインに近いものとなる。
この状況で機械的な振動が持続すると、図示したように所定の回数の振幅変動を経て、自動的に標準のシーケンスに従って、パルス生成が実行される。しかし、この状況においては、パルス生成しきい値のヒステリシス幅は極端に小さい。
次に、実際に回転体が回転を始めると、ゲインが過大なものとなっているため、増幅信号はこの回路の最大信号処理範囲を超えてしまう。その結果、このステージにおいて採用されるパルス生成しきい値は、不適切なものとなり、図6の中段と下段とに示した好ましくないパルスの波形と最適なパルスの波形との関係のような、不適切なパルスを生成する。
後述する本願の構成にあっては、パルス生成しきい値は、増幅信号の周期的な変動範囲に応じて継続的に更新され、最適化されて、最適なパルスが提供される。これと比較すれば、図6の右側に示すように、従来の構成では、最大信号処理範囲との関係から生成されるパルスの幅が長くなる。
その結果、上述したような方式で、回転検出センサが回転体の回転速度を検出し、所定の制御を行っても本来の性能を発揮することができない。
上記課題に鑑みた本発明の主要な目的は、回転以外の要因に起因する検出素子の出力信号に変動に基づいて初期化処理が行われた場合であっても、初期化処理を通じて適切なゲインを求めることができ、回転体の回転に関連するパルスのような適切な信号を生成することができ、信頼性の高い回転情報を得ることができる回転検出センサを得ることにある。
本発明に係る回転検出センサは、磁束の変化により回転体の回転を検出し、出力信号を出力する検出素子と、前記出力信号の所定回数の変動に基づき、初期値として少なくとも要求されたゲインを得るためのゲイン調整を含む初期化処理を行う初期化手段と、前記ゲインで前記出力信号を増幅して増幅信号を提供する増幅手段と、前記増幅信号の変動に基づいて、前記回転体の回転に対応したパルスを生成するパルス生成手段と、前記初期化処理で得られた前記初期値の適否を評価する初期値評価手段と、を備え、
前記初期値が不適と評価された場合、前記初期化手段は、新たな初期値を得るための再初期化処理を行い、前記増幅手段は、前記新たな初期値で前記出力信号を増幅して前記増幅信号を提供する、点を特徴とする。
上記構成を備えた回転検出センサは、初期化処理に基づく初期値が適切か否かを初期化評価手段で評価する。そして、不適切と評価された場合には、初期化処理を再度実行する。その結果、少なくとも回転体の回転を反映した正確なゲインを得て、このゲインを適用することによりパルス生成タイミングの乱れを抑制することができる。
従って、本発明に係る回転検出センサが振動する機器に回転検出センサとして採用された場合であっても、機器の初期振動を反映して不適切なパルスを生成するような問題を回避することができる。
本発明に係る回転検出センサは、さらに下記特徴を備えることができる。
即ち、前記パルス生成手段が、前記増幅信号に対してパルス生成のタイミングを画定するためのしきい値を、パルス生成前の前記増幅信号の変動範囲に基づいて設定することを特徴とすることができる。
この構成によれば、回転体の回転に応じた所定のパルス波形を生成するために、回転検出センサは、回転検出素子の検出状態に応じたしきい値処理を実行することができる。
さらに、前記初期値評価手段が、前記増幅信号の変動が好適範囲を超えた場合に、前記初期値を不適と評価することを特徴とすることができる。
一般的な従来の回転検出センサは、前述したように、(磁気)検出素子の出力側にこの検出素子からの出力に対して所定の論理判定を実行してパルスを生成する回路、あるいはパルスを成形する回路を備える。このような回路は、たいていの場合、最大信号処理範囲が固定されている。
従って、このような最大信号処理範囲の中に所定の好適範囲を設定し、増幅信号がこの所定の好適範囲を超えたときに再初期化処理を実行すると、その結果として得られた、増幅信号(生成されるパルスの元となる増幅信号)は、常にそれに続く処理(パルス生成処理)に適した範囲に収まることができる。
望ましくは、上記好適範囲を連続して所定回数超えた場合に、機械的振動によるものと判定し、再初期化処理を実行するとよい。
さらに、望ましくは、前記増幅信号のために目標振幅が設定され、前記増幅信号は、前記再初期化処理の結果としての前記目標振幅の範囲内に制限される。
前述したように、回転検出センサが、振動する機器本体の小さな振動をノイズとして検出した場合は、その小さな振動に適したゲインに設定されるので、ゲインは過大に大きなものとなっている。
従って、前記ゲインは、前記再初期化処理によって減少側に更新される。
この迅速な処理によって、前記再初期化処理の間に本来の最適なゲインを必要なときに得ることができる。
さらに、再初期化処理は、回転体が回転を開始したタイミングで実行することができる。このため、最適な初期化処理は、回転体の最低回数の回転で実行することができる。
さらに望ましくは、パルス生成のタイミングを画定するための前記しきい値は上限しきい値と下限しきい値とを含み、これら上限しきい値と下限しきい値とは、パルス生成前の前記増幅信号の変動に基づいて、交互に設定されるとよい。
これによれば、パルス生成タイミングを画定するしきい値を、増幅信号のまさに現在の状況に基づいて、交互に連続して確実に得ることができる。
また、望ましくは、前記しきい値は、パルス生成前の前記増幅信号の最大値Vmaxと、最小値Vminとの差Vppに基づいて設定されるとよい。
これによれば、容易に増幅信号の特徴(例えば、最大値Vmaxと最小値Vminとの差Vpp)を得ることによって、容易にパルス生成を行うことができる。
また、前記初期化手段と、前記増幅手段と、前記パルス生成手段と、前記初期化評価手段とが、一つの集積回路に組み込まれて構成されると好適である。
本発明の回転検出センサは、非常に多くの応用製品に使用されることができる。従って、様々な手段が一つの集積回路として構成されると好適である。性能が安定するばかりでなく、必要な場合にはセンサの交換も容易である。
上述したように、上記構成を備えた本発明に係る回転検出センサが、自動車のオートマチックトランスミッション用の回転検出センサや、ABS(anti-lock braking system)用回転検出センサ等の回転検出センサとして、機械的に振動する機器に用いられた場合、磁束の変化が回転体の振動によるものであるか、回転体の回転によるものであるかに拘らず、再初期化処理により最適なパルス波形の生成が可能である。
本発明によるその他の特徴及び利点は、以下図面を用いた実施形態の説明により明らかになるであろう。
以下、本発明の実施形態を図4、5、6に対比させて、図1、2、3に基づいて説明する。
図1は、再初期化を実行する本発明に係る回転検出センサの機能ブロック図である。図2は、図1に示す回転検出センサの初期化処理、再初期化処理、及び検出処理の動作を示すフローチャートである。
図3は、前述した図6に対応するものであり、再初期化処理を実行する本発明に係る回転検出センサにより得られる増幅信号、出力パルスの波形、及び最適なパルス波形を示している。
図4との対応について説明すると、本発明に係る回転検出センサは、従来の回転検出センサのように、一対の検出素子1を備えている。これら検出素子1からの出力(素子出力;本発明の「出力信号」に相当する。)は、オフセット調整器21でオフセット調整され、その結果の信号はメインアンプ20(増幅手段)で増幅され、論理判定部4(パルス生成手段)に送られて所定の論理判定処理を施されてパルス信号に変換され、下流の出力部5(例えば、電流値で結果を出力する電流源。)に伝達される。
論理判定部4では、前述したようにパルスを生成するためのしきい値設定処理が自動的に実行されるとともに、少なくとも回転体7の回転に応じたパルス生成が実行される。さらに、回転体7の回転方向などに応じてパルスが成形され、成形後の成形パルスが出力される場合もある。
図1に示すオフセット調整器21で用いられるオフセット値及びメインアンプ20で用いられるゲインは、初期化判定部3が電源投入などの一定の条件が満足されたことを判定したときに、オフセット調整器21によるオフセット調整とメインアンプ20によるゲイン調整とを実行することによって得られる。
従って、上記オフセット値及びゲインは、本発明の「初期値」に相当し、初期化判定部3、オフセット調整器21、メインアンプ20は、本発明の「初期化手段」に相当する。
上述した従来の構成では、初期化処理を1回だけ実行するための初期化判定部3のみが備えられていた。しかし、本発明の構成では、必要な場合に再初期化処理を実行させるための再初期化判定部30も備えられる。即ち、再初期化処理においても、ゲイン調整が実行され、その時点での回転体7の状況に応じた適切な新しいゲインを得る。この再初期化処理においては、ゲインは減少側に更新される。尚、再初期化判定部30は、本発明の「初期化評価手段」に相当する。
図2のフローチャートは、図5に示すフローチャートに対比して示したものであり、本発明の本質的な特徴である後半の処理ステップとしての追加的ステップ#30、31を示すだけでなく、対応する処理ステップ#21〜25をも含んでいる。
〔初期化処理〕
このフローにおいて、電源が投入されると、検出素子1の出力信号を連続して取り込み、共に出力信号の振幅変動を単位としてオフセット調整(#21−1)と、ゲイン調整(#22−1)が実行される。それから、論理判定部4でパルス生成のための論理判定が実施され(#23−1)、生成されたパルスが出力される(#24−1)。この初期化処理は、パルスが所定回数(例えば6回)を超えたと判定される(#25)まで継続される。この初期化処理は、実質的に従来行われていたものと同様である。
〔初期化処理後の信号処理〕
この初期化処理(又は後述する再初期化処理)を完了した後、図2右下の処理フローに移行する。
つまり、連続して検出素子1からの新たな出力信号を取り込み、再びオフセット調整を行う(#21−2)。しかし、このステージでは前もって求められた(#22−1にて求められた)ゲインをそのまま使用して増幅された信号が、オフセット調整の対象となる。その後、再初期化判定部30(初期値評価手段)にて初期化判定を行い(#30、#31、再度の初期化が必要と判定された場合には、上述した初期化処理に移行し、再び初期化が実行される。一方、不要と判定された場合には、パルス生成のための論理判定処理(#23−2)に移行し、得られたパルス信号を出力する(#24−2)。この処理は、所定のタイミングで繰り返される。
上記処理を実行した場合の様子を図6に対応させて示した波形図が図3である。図3には、図6と同様の方式で図示されている。しかし、それに加えて図3では、再初期化判定部30で再初期化の要否判定に使用される再初期化判定用しきい値を細い実線で示している(再初期化判定用しきい値は、上限再初期化判定用しきい値H及び下限再初期化判定用しきい値Lとから構成される。)。図3には、さらに、ゲイン設定目標幅と、再初期化が必要と判定されて再初期化が実行されている領域を再初期化領域(領域D)として示している。
尚、上記再初期化判定用しきい値は、本発明の初期値評価手段が初期値(オフセット値やゲイン)が不適であるか否かを判定するために参照する、増幅信号の変動の「好適範囲」を定めるものである。例えば、上限再初期化判定用しきい値Hと下限再初期化判定用しきい値Lとに挟まれた範囲が、この「好適範囲」に相当する。
この表記方法においては、下段に示されるパルス信号に対して中段に示されるパルスの波形が、不一致や変位を生じていることが問題となる。この点において、図3では、回転体が回転を開始した後、このような変位が生じていない。
論理判定部4で実行されるパルス生成の仕組みに関しても、既に図6、図7を使用して説明したものと同様である。パルス生成しきい値が次々と連続して更新されて設定されるように構成されており、パルス生成タイミングは増幅信号がパルス生成しきい値を通過したタイミングで画定される。
〔機械的振動下での動作〕
図6と図3との比較において、回転体7が回転しておらず、機械的な振動にのみ起因して検出素子1からの出力信号が得られている状況では、本発明の機能は従来技術と同様である。つまり、回転体7が回転する前に過大なゲイン(実質的に最大ゲイン)が設定される。
〔回転時の動作〕
回転体7が回転を始めると、増幅信号は最大信号処理範囲を超える過大なものとなる。しかし、この状況は上限及び下限の再初期化判定用しきい値(H、L)と、増幅信号との切片(図中に中抜き円(切片カウント1、2、3)で示す。)として検出される。この切片数が所定のカウント数(図示した例では、「3」。)に達したことを初期化評価手段である再初期化判定部30が検出し、再初期化処理が必要であると判定する。
図に示す場合において、再初期化処理は最初の初期化処理と同様に領域Dにおいて3周期を掛けて実施されている。この再初期化処理のステージにおいて、ゲイン設定目標振幅(本発明の目標振幅)を目指して、ゲインは自動的にそして継続的に減少側に調整され、増幅信号もまた信号強度が減少していく。そして、パルス生成のためのしきい値幅(上限及び下限しきい値H、Lの間の幅)もまた、中央値に向けて収束する。
従って、図の右端に示すように、現実のパルスの波形と、下段に示す理想のパルスの波形とは良好に一致する。
〔別実施形態〕
上記実施形態では、再初期化処理が必要か否かを判定するに際して、再初期化判定用しきい値(例えば、振動ノイズ判定しきい値)を所定回数(特に図示した例では3回)に達したことで再初期化を実行する例を示した。この判定は、以下のようにすることもできる。この種の判定しきい値の上限及び下限の値を設定しておいて、何れか一方の値を連続して所定回数超えた場合に再初期化が必要と判定してもよい。また、判定しきい値を超えた累積回数が所定回数を超えた場合や、上限しきい値と下限しきい値とを交互に連続して所定回数超えた場合に、再初期化が必要と判定してもよい。
本発明の回転検出センサは、自動車のオートマチックトランスミッションの回転検出センサや、ABS用回転検出センサなどの振動する多くのものに適用することが可能である。
本発明は、上述した実施形態とは別の実施形態によって実現可能であろう。本願で開示した実施形態は、本発明の範囲を限定することを意図したものではない。従って、当業者にとって、添付の特許請求の範囲の効力が及ぶ本質的要素を逸脱することなく種々の改変が可能であることは明白であるが、このような改変もまた本発明の範囲に含まれることが理解されるであろう。
再初期化を行う本発明に係る回転検出センサの機能ブロック図 再初期化処理を実行してゲイン調整を行うフローチャート 再初期化を実行した場合の動作を示す波形図 従来の回転検出センサの機能ブロック図 図4の回転検出センサの初期化処理及び検出処理動作を示すフローチャート 従来の回転検出センサによる問題のある動作を示す波形図 パルス発生タイミングを画定するしきい値の設定状態を示す図
符号の説明
1:検出素子
3:初期化判定部(初期化手段)
4:論理判定部(パルス生成手段)
5:出力部
7:回転体
8:歯
20:メインアンプ(増幅手段、初期化手段)
21:オフセット調整器(初期化手段)
30:再初期化判定部(初期化評価手段)

Claims (10)

  1. 磁束の変化により回転体の回転を検出し、出力信号を出力する検出素子と、
    前記出力信号の所定回数の変動に基づき、初期値として少なくとも要求されたゲインを得るためのゲイン調整を含む初期化処理を行う初期化手段と、
    前記ゲインで前記出力信号を増幅して増幅信号を提供する増幅手段と、
    前記増幅信号の変動に基づいて、前記回転体の回転に対応したパルスを生成するパルス生成手段と、
    前記初期化処理で得られた前記初期値の適否を評価する初期値評価手段と、を備え、
    前記初期値が不適と評価された場合、前記初期化手段は、新たな初期値を得るための再初期化処理を行い、前記増幅手段は、前記新たな初期値で前記出力信号を増幅して前記増幅信号を提供する、回転検出センサ。
  2. 請求項1に記載の回転検出センサであって、
    前記パルス生成手段は、前記増幅信号に対してパルス生成のタイミングを画定するためのしきい値を、パルス生成前の前記増幅信号の変動範囲に基づいて設定する、回転検出センサ。
  3. 請求項1又は2に記載の回転検出センサであって、
    前記初期値評価手段は、前記増幅信号の変動が好適範囲を超えた場合に、前記初期値を不適と評価する、回転検出センサ。
  4. 請求項1〜3の何れか一項に記載の回転検出センサであって、
    前記増幅信号のために目標振幅が設定され、前記増幅信号は、前記再初期化処理の結果としての前記目標振幅の範囲内に制限される、回転検出センサ。
  5. 請求項1〜4の何れか一項に記載の回転検出センサであって、
    前記ゲインは、前記再初期化処理において減少側に更新される、回転検出センサ。
  6. 請求項2に記載の回転検出センサであって、
    パルス生成のタイミングを画定するための前記しきい値は、上限しきい値と下限しきい値とを含み、これら上限しきい値と下限しきい値とは、パルス生成前の前記増幅信号の変動に基づいて、交互に設定される、回転検出センサ。
  7. 請求項2又は6に記載の回転検出センサであって、
    前記しきい値は、パルス生成前の前記増幅信号の最大値Vmaxと、最小値Vminとの差分Vppに基づいて設定される、回転検出センサ。
  8. 請求項1〜7の何れか一項に記載の回転検出センサであって、
    前記初期化手段と、前記増幅手段と、前記パルス生成手段と、前記初期値評価手段とは、一つの集積回路に組み込まれて構成される、回転検出センサ。
  9. 請求項1〜8の何れか一項に記載の回転検出センサであって、
    前記回転体として自動車を含む回転体の回転を検出するために用いられる、回転検出センサ。
  10. 請求項1〜9の何れか一項に記載の回転検出センサを有する振動機器。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008020443A (ja) * 2006-06-15 2008-01-31 Aisin Seiki Co Ltd 回転検出センサの信号増幅率調整方法及び回転検出装置
JP2010160060A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Ihi Corp 回転バランス修正装置及び方法
JP2010160059A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Ihi Corp 回転バランス修正装置及び方法
JP2010160057A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Ihi Corp 回転バランス修正装置及び方法
JP2011196904A (ja) * 2010-03-23 2011-10-06 Toyota Central R&D Labs Inc センサ電圧の処理回路
US8164324B2 (en) 2008-07-18 2012-04-24 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Rotation sensor
JP2014119326A (ja) * 2012-12-14 2014-06-30 Canon Inc アブソリュートエンコーダ
JP2014199181A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 カヤバ工業株式会社 信号処理装置及び信号処理方法
JP2016156682A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 メレキシス テクノロジーズ エヌ ヴィ 回転検出装置
JP2017151104A (ja) * 2016-02-24 2017-08-31 インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフトInfineon Technologies AG 出力を提供するための可変の切換閾値の使用

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8397883B2 (en) * 2001-10-25 2013-03-19 Lord Corporation Brake with field responsive material
US7183761B2 (en) * 2004-02-20 2007-02-27 The Furukawa Electric Co., Ltd. Rotation sensor
EP1774270B1 (en) * 2004-08-02 2008-07-16 NCTEngineering GmbH Sensor electronic
US7362094B2 (en) * 2006-01-17 2008-04-22 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for magnetic article detection
US8353393B2 (en) * 2006-12-22 2013-01-15 Lord Corporation Operator interface controllable brake with field responsive material
US20080234908A1 (en) * 2007-03-07 2008-09-25 St Clair Kenneth A Operator input device for controlling a vehicle operation
DE102007029817B9 (de) * 2007-06-28 2017-01-12 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensor und Verfahren zur Kalibration eines Magnetfeldsensors
JP2009192382A (ja) * 2008-02-14 2009-08-27 Aisin Seiki Co Ltd センサ信号処理装置
US8299783B2 (en) * 2009-08-27 2012-10-30 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for calibration of a motion detector
DE102010019484B9 (de) * 2010-05-05 2012-12-06 Austriamicrosystems Ag Sensoranordnung und Verfahren zum Betreiben einer Sensoranordnung
DE102010019485B4 (de) * 2010-05-05 2012-10-31 Austriamicrosystems Ag Sensoranordnung und Verfahren zum Betreiben einer Sensoranordnung
US8450996B2 (en) * 2010-06-03 2013-05-28 Allegro Microsystems, Llc Motion sensor, method, and computer-readable storage medium providing a motion sensor with a magnetic field sensing element for generating a magnetic field signal and a state processor to identify a plurality of states corresponding to ranges of values of the magnetic field signal having a reduced amount of state chatter
US9520871B2 (en) 2012-01-05 2016-12-13 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for supply voltage transient protection for maintaining a state of a sensor output signal
US9583247B2 (en) * 2014-05-27 2017-02-28 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for a magnet with uniform magnetic flux
CN204065121U (zh) * 2014-06-20 2014-12-31 英飞凌科技股份有限公司 旋转速度传感器
CN108061533B (zh) * 2017-12-15 2020-04-10 安徽理工大学 基于步进电机的身高测量装置
JP7294915B2 (ja) * 2019-06-27 2023-06-20 株式会社ミツトヨ オフセット補正装置および位置測定装置
US11125837B2 (en) * 2020-01-14 2021-09-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor offset and gain adjustment

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10274517A (ja) * 1997-01-31 1998-10-13 Omron Corp 検出装置
JPH10311873A (ja) * 1997-04-28 1998-11-24 Allegro Microsyst Inc 物体近接検出器およびその始動方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4884227A (en) * 1987-12-11 1989-11-28 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Speed detecting apparatus for a vehicle
JP2000205259A (ja) 1999-01-18 2000-07-25 Koyo Seiko Co Ltd 磁気浮上回転体の回転数検出装置
DE10004080C1 (de) * 2000-01-31 2001-09-06 Infineon Technologies Ag Sensorvorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Ausgangssignals einer Sensorvorrichtung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10274517A (ja) * 1997-01-31 1998-10-13 Omron Corp 検出装置
JPH10311873A (ja) * 1997-04-28 1998-11-24 Allegro Microsyst Inc 物体近接検出器およびその始動方法

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008020443A (ja) * 2006-06-15 2008-01-31 Aisin Seiki Co Ltd 回転検出センサの信号増幅率調整方法及び回転検出装置
US8164324B2 (en) 2008-07-18 2012-04-24 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Rotation sensor
JP2010160060A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Ihi Corp 回転バランス修正装置及び方法
JP2010160059A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Ihi Corp 回転バランス修正装置及び方法
JP2010160057A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Ihi Corp 回転バランス修正装置及び方法
JP2011196904A (ja) * 2010-03-23 2011-10-06 Toyota Central R&D Labs Inc センサ電圧の処理回路
JP2014119326A (ja) * 2012-12-14 2014-06-30 Canon Inc アブソリュートエンコーダ
JP2014199181A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 カヤバ工業株式会社 信号処理装置及び信号処理方法
JP2016156682A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 メレキシス テクノロジーズ エヌ ヴィ 回転検出装置
CN107250732A (zh) * 2015-02-24 2017-10-13 迈来芯科技有限公司 旋转检测装置
US10302461B2 (en) 2015-02-24 2019-05-28 Melexis Technologies Sa Rotation detection device
JP2017151104A (ja) * 2016-02-24 2017-08-31 インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフトInfineon Technologies AG 出力を提供するための可変の切換閾値の使用
US10323962B2 (en) 2016-02-24 2019-06-18 Infineon Technologies Ag Using a variable switching threshold for providing an output

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