JP2006127723A - 低電圧用半導体メモリ装置及びその駆動方法 - Google Patents
低電圧用半導体メモリ装置及びその駆動方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006127723A JP2006127723A JP2004378210A JP2004378210A JP2006127723A JP 2006127723 A JP2006127723 A JP 2006127723A JP 2004378210 A JP2004378210 A JP 2004378210A JP 2004378210 A JP2004378210 A JP 2004378210A JP 2006127723 A JP2006127723 A JP 2006127723A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bit line
- voltage
- sense amplifier
- memory device
- semiconductor memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4094—Bit-line management or control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4097—Bit-line organisation, e.g. bit-line layout, folded bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/08—Control thereof
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/18—Bit line organisation; Bit line lay-out
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/002—Isolation gates, i.e. gates coupling bit lines to the sense amplifier
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/005—Transfer gates, i.e. gates coupling the sense amplifier output to data lines, I/O lines or global bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/22—Control and timing of internal memory operations
- G11C2207/2227—Standby or low power modes
Abstract
【解決手段】 電源電圧及び接地電圧を印加されて動作する半導体メモリ装置であって、第1ビットライン(BL)にデータ信号を出力する第1セルアレイ(300a)と、第2ビットライン(/BL)にデータ信号を出力する第2セルアレイ(300b)と、第1ビットライン(BL)または第2ビットライン(/BL)にデータ信号が出力された場合、電源電圧よりも高い高電圧を利用して、第1及び第2ビットライン(BL、/BL)に印加された信号の差を感知増幅するビットラインセンスアンプ(210)と、高電圧を供給する第1センスアンプ電源供給部(220a)とを備える。
【選択図】図8
Description
Cap、Cap1、Cap2 単位セル用キャパシタ
TS1〜TS4 センスアンプ用MOSトランジスタ
T01、T02 データ入出力用MOSトランジスタ
TP1、TP2、TP1’、TP2’、TP3、TP4 プリチャージ用MOSトランジスタ
TBH1、TBH2、TBL1、TBL2 クランプ用MOSトランジスタ
Claims (44)
- 電源電圧及び接地電圧を供給されて動作する半導体メモリ装置であって、
第1ビットラインにデータ信号を出力する第1セルアレイと、
第2ビットラインにデータ信号を出力する第2セルアレイと、
前記第1ビットラインまたは前記第2ビットラインにデータ信号が出力された場合、前記電源電圧よりも高い高電圧を利用して、前記第1ビットライン及び前記第2ビットラインに出力された信号の差を感知増幅するビットラインセンスアンプと、
前記高電圧を供給する第1センスアンプ電源供給部と
を備えることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記接地電圧よりも低い低電圧を供給する第2センスアンプ電源供給部をさらに備え、
前記ビットラインセンスアンプが、前記高電圧及び前記低電圧を利用して、前記感知増幅を行うことを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第1ビットライン及び前記第2ビットラインにプリチャージ電圧として接地電圧を供給するプリチャージ部をさらに備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1セルアレイに接続された前記第1ビットラインと前記ビットラインセンスアンプとの間に装備され、前記ビットラインセンスアンプを駆動させる低電圧が前記第1ビットラインに伝達されることを防止する第1電圧クランプ部と、
前記第2セルアレイに接続された前記第2ビットラインと前記ビットラインセンスアンプとの間に装備され、前記ビットラインセンスアンプを駆動させる低電圧が前記第2ビットラインに伝達されることを防止する第2電圧クランプ部と
をさらに備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体メモリ装置。 - 前記データ信号が前記第1ビットラインに印加される際に、基準信号を前記第2ビットラインに印加し、前記データ信号が前記第2ビットラインに印加される際に、前記基準信号を前記第1ビットラインに印加するレファレンスセルブロックをさらに備えることを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1センスアンプ電源供給部が、
前記ビットラインセンスアンプがイネーブルされる期間に、前記接地電圧レベルの第1制御信号が入力されることによりアクティブになり、ソース及びドレインの一方に供給される前記高電圧を、他方を介して前記ビットラインセンスアンプに伝達する高電圧供給用PMOSトランジスタと、
前記ビットラインセンスアンプがディセーブルされる期間に、前記電源電圧レベルの第2制御信号が入力されることによりアクティブになり、ソース及びドレインの一方に供給される前記接地電圧を、前記ビットラインセンスアンプに伝達する高電圧供給用第NMOSトランジスタと、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2センスアンプ電源供給部が、
前記ビットラインセンスアンプがイネーブルされる期間に、前記電源電圧レベルの第3制御信号が入力されることによりアクティブになり、ソース及びドレインの一方に供給される前記低電圧を、他方を介して前記ビットラインセンスアンプに伝達する低電圧供給用第1NMOSトランジスタと、
前記ビットラインセンスアンプがディセーブルされる期間に、前記電源電圧レベルの第4制御信号が入力されることによりアクティブになり、ソース及びドレインの一方に供給される前記接地電圧を、前記ビットラインセンスアンプに伝達する低電圧供給用第2NMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項2に記載の半導体メモリ装置。 - 前記ビットラインセンスアンプが、
ゲートが前記第2ビットラインに接続され、前記高電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方が前記第1電圧クランプ部と接続された第1PMOSトランジスタと、
ゲートが前記第1ビットラインに接続され、前記高電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方が前記第2電圧クランプ部と接続された第2PMOSトランジスタと、
ゲートが前記第2ビットラインに接続され、前記低電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方に前記第1電圧クランプ部が接続された第1NMOSトランジスタと、
ゲートが前記第1ビットラインに接続され、前記低電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方に前記第2電圧クランプ部が接続された第2NMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第1電圧クランプ部が、
前記低電圧レベルの入力信号がゲートに入力されてアクティブになり、ソース及びドレインの一方が前記第1ビットラインと接続され、他方が前記第1PMOSトランジスタ及び前記第1NMOSトランジスタの接続ノードに接続された第1クランプ用PMOSトランジスタを備えることを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2電圧クランプ部が、
前記低電圧レベルの前記入力信号がゲートに入力されてアクティブになり、ソース及びドレインの一方が前記第2ビットラインと接続され、他方が前記第2PMOSトランジスタ及び前記第2NMOSトランジスタの接続ノードに接続された第2クランプ用PMOSトランジスタを備えることを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 前記プリチャージ部が、
ゲートにプリチャージ信号が印加され、ソース及びドレインの一方に供給される接地電圧を、前記第1クランプ用PMOSトランジスタのソース及びドレインの一方に接続された前記第1ビットラインに、プリチャージ電圧として供給する第1プリチャージ用MOSトランジスタと、
ゲートに前記プリチャージ信号が印加され、ソース及びドレインの一方に供給される接地電圧を、前記第2クランプ用PMOSトランジスタのソース及びドレインの一方に接続された前記第2ビットラインに、プリチャージ電圧として供給する第2プリチャージ用MOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置。 - 前記ビットラインセンスアンプにより感知増幅されたデータをデータラインを介して外部に伝達し、前記データラインを介して外部から伝達されたデータを前記ビットラインセンスアンプに伝達するデータ入出力部をさらに備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体メモリ装置。
- 前記データ入出力部は、
ゲートに入出力制御信号が入力され、ソース及びドレインの一方が前記第1ビットラインに接続され、他方が第1データラインに接続された第1入出力用MOSトランジスタと、
ゲートに前記入出力制御信号が入力され、ソース及びドレインの一方が前記第2ビットラインに接続され、他方が第2データラインに接続された第2入出力用MOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項12に記載の半導体メモリ装置。 - 第1ビットライン及び第2ビットラインを備え、電源電圧及び接地電圧を印加されて動作する半導体メモリ装置の駆動方法であって、
前記第1ビットラインにデータ信号を印加するステップと、
前記第2ビットラインに基準信号を印加するステップと、
前記接地電圧よりも低い低電圧を利用して、前記第1ビットライン及び前記第2ビットラインの信号の差を感知増幅してラッチするステップと
を含むことを特徴とする半導体メモリ装置の駆動方法。 - 前記感知増幅してラッチするステップが、
前記電源電圧よりも高い高電圧と前記低電圧とを利用するステップであることを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。 - プリチャージ期間の間、前記第1ビットライン及び前記第2ビットラインを接地電圧レベルにプリチャージさせるステップをさらに含むことを特徴とする請求項14または請求項15に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 前記基準信号に対応する電荷量が、前記第1ビットラインに印加されるデータ信号が「0」である場合に対応する電荷量と、前記第1ビットラインに印加されるデータ信号が「1」である場合に対応する電荷量との中間値であることを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 前記基準信号に対応する電荷量が、前記データ信号が「0」である場合に対応する電荷量と、前記データ信号が「1」である場合に対応する電荷量とのうち、大きい方の電荷量の1/2であることを特徴とする請求項17に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 前記感知増幅されてラッチされたデータを、読み出し命令語に対応するデータとして出力するステップをさらに含むことを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 書き込み命令語に対応して入力されたデータを、前記感知増幅されてラッチされたデータと交換してラッチするステップをさらに含むことを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 最後にラッチされたデータを、前記データ信号が格納されていた単位セルに再格納するステップをさらに含むことを特徴とする請求項19または請求項20に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 折返し構造のビットラインを有し、電源電圧及び接地電圧を印加されて動作する半導体メモリ装置であって、
第1ビットラインまたは第1ビットラインバーにデータ信号を印加する第1セルアレイと、
第2ビットラインまたは第2ビットラインバーにデータ信号を印加する第2セルアレイと、
前記第1ビットラインまたは前記第1ビットラインバーにデータ信号が印加されると、前記電源電圧よりも高い高電圧を利用して、前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバーに印加された信号の差を感知増幅するビットラインセンスアンプと、
前記高電圧を供給する第1センスアンプ電源供給部と
を備えることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記接地電圧よりも低い低電圧を供給する第2センスアンプ電源供給部を備え、
前記ビットラインセンスアンプが、
前記高電圧及び前記低電圧を利用して、前記感知増幅を行うことを特徴とする請求項22に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第1ビットライン、前記第1ビットラインバー、前記第2ビットライン及び前記第2ビットラインバーにプリチャージ電圧として接地電圧を供給するプリチャージ部をさらに備えることを特徴とする請求項22または請求項23に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1ビットライン及び第1ビットラインバーと前記ビットラインセンスアンプとを接続または分離し、前記低電圧が前記第1ビットラインまたは前記第1ビットラインバーに伝達されることを防止する第1電圧クランプ用接続部と、
第2ビットラインまたは第2ビットラインバーにデータ信号を印加する第2セルアレイと、
前記第2ビットライン及び前記第2ビットラインバーと前記ビットラインセンスアンプとを接続または分離し、前記低電圧が前記第2ビットラインまたは前記第2ビットラインバーに伝達されることを防止する第2電圧クランプ用接続部と
をさらに備え、
前記ビットラインセンスアンプが、前記第1電圧クランプ用接続部及び第2電圧クランプ用接続部を介して、前記第1ビットライン及び第1ビットラインバーまたは前記第2ビットライン及び第2ビットラインバーと接続され、
前記ビットラインセンスアンプが、前記第1電圧クランプ用接続部により接続された前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバー、または前記第2電圧クランプ用接続部により接続された前記第2ビットライン及び前記第2ビットラインバーに印加された信号を感知増幅することを特徴とする請求項24に記載の半導体メモリ装置。 - データ信号が前記第1ビットラインに印加される時に基準信号を前記第1ビットラインバーに印加し、データ信号が前記第1ビットラインバーに印加される時に前記基準信号を前記第1ビットラインに印加するレファレンスセルブロックをさらに備えることを特徴とする請求項25に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1センスアンプ電源供給部が、
前記ビットラインセンスアンプがイネーブルされる期間に、前記接地電圧レベルで入力される第1制御信号に応じて、ソース及びドレインの一方に供給される前記高電圧を、他方を介して前記ビットラインセンスアンプに伝達する高電圧供給用PMOSトランジスタと、
前記ビットラインセンスアンプがディセーブルされる期間に、前記電源電圧レベルで入力される第2制御信号に応じて、ソース及びドレインの一方に供給される前記接地電圧を、他方を介して前記ビットラインセンスアンプに伝達する高電圧供給用NMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項22に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2センスアンプ電源供給部が、
前記ビットラインセンスアンプがイネーブルされる期間に、前記電源電圧レベルで入力される第3制御信号に応じて、ソース及びドレインの一方に供給される前記低電圧を、他方を介して前記ビットラインセンスアンプに伝達する低電圧供給用第1NMOSトランジスタと、
前記ビットラインセンスアンプがディセーブルされる期間に、前記電源電圧レベルで入力される第4制御信号に応じて、ソース及びドレインの一方に供給される前記接地電圧を、他方を介して前記ビットラインセンスアンプに伝達する低電圧供給用第2NMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項27に記載の半導体メモリ装置。 - 前記プリチャージ部が、
プリチャージ期間に、第1電圧クランプ用接続部に接続する前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバーにプリチャージ電圧として接地電圧を供給する第1プリチャージ部と、
プリチャージ期間に、第2電圧クランプ用接続部に接続する前記第2ビットライン及び前記第2ビットラインバーにプリチャージ電圧として接地電圧を供給する第2プリチャージ部と
を備えることを特徴とする請求項25に記載の半導体メモリ装置。 - 前記ビットラインセンスアンプが、
ゲートが前記第1及び第2ビットラインバーの接続ノードに接続され、前記高電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方が前記第1電圧クランプ用接続部と接続された第1PMOSトランジスタと、
ゲートが前記第1及び第2ビットラインの接続ノードに接続され、前記高電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方が前記第2電圧クランプ用接続部と接続された第2PMOSトランジスタと、
ゲートが前記第1及び第2ビットラインバーの接続ノードに接続され、前記低電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方が前記第1電圧クランプ用接続部と接続された第1NMOSトランジスタと、
ゲートが前記第1及び第2ビットラインの接続ノードに接続され、前記低電圧がソース及びドレインの一方に印加され、他方が前記第2電圧クランプ用接続部と接続された第2NMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項29に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第1電圧クランプ用接続部が、
前記低電圧レベルの第1接続制御信号がゲートに入力されてアクティブになり、ソース及びドレインの一方が前記第1ビットラインに接続され、他方が前記第1PMOSトランジスタ及び前記第1NMOSトランジスタの接続ノードに接続された第1クランプ用PMOSトランジスタと、
前記低電圧レベルの前記第1接続制御信号がゲートに入力されてアクティブになり、ソース及びドレインの一方が前記第1ビットラインバーに接続され、他方が前記第2PMOSトランジスタ及び前記第2NMOSトランジスタの接続ノードに接続された第2クランプ用PMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項30に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2電圧クランプ用接続部が、
前記低電圧レベルの第2接続制御信号がゲートに入力されてアクティブになり、ソース及びドレインの一方が前記第2ビットラインに接続され、他方が前記第2PMOSトランジスタ及び前記第2NMOSトランジスタの接続ノードに接続された第3クランプ用PMOSトランジスタと、
前記低電圧レベルの前記第2接続制御信号がゲートに入力されてアクティブになり、ソース及びドレインの一方が前記第2ビットラインバーと接続され、他方が前記第2PMOSトランジスタ及び前記第2NMOSトランジスタの接続ノードに接続された第4クランプ用PMOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項31に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第1プリチャージ部が、
ゲートにプリチャージ信号が印加され、ソース及びドレインの一方に供給される接地電圧を、前記第1クランプ用PMOSトランジスタのソース及びドレインの一方に接続された前記第1ビットラインに、プリチャージ電圧として供給する第1プリチャージ用MOSトランジスタと、
ゲートに前記プリチャージ信号が印加され、ソース及びドレインの一方に供給される接地電圧を、前記第2クランプ用PMOSトランジスタのソース及びドレインの一方に接続された前記第1ビットラインバーに、プリチャージ電圧として供給する第2プリチャージ用MOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項32に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2プリチャージ部が、
ゲートに前記プリチャージ信号が印加され、ソース及びドレインの一方に供給される接地電圧を、前記第3クランプ用PMOSトランジスタのソース及びドレインの一方に接続された前記第2ビットラインに、プリチャージ電圧として供給する第3プリチャージ用MOSトランジスタと、
ゲートに前記プリチャージ信号が印加され、ソース及びドレインの一方に供給される接地電圧を、前記第4クランプ用PMOSトランジスタのソース及びドレインの一方に接続された前記第2ビットラインバーに、プリチャージ電圧として供給するための第4プリチャージ用MOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項33に記載の半導体メモリ装置。 - 前記ビットラインセンスアンプにより感知増幅されたデータをデータラインを介して外部に伝達し、前記データラインを介して外部から伝達されたデータを前記ビットラインセンスアンプに伝達するデータ入出力部をさらに備えることを特徴とする請求項24に記載の半導体メモリ装置。
- 前記データ入出力部が、
ゲートに入出力制御信号が入力され、ソース及びドレインの一方が前記第1ビットラインに接続され、他方が第1データラインに接続される第1入出力用MOSトランジスタと、
ゲートに前記入出力制御信号が入力され、ソース及びドレインの一方が前記第2ビットラインに接続され、他方が第2データラインに接続される第2入出力用MOSトランジスタと
を備えることを特徴とする請求項35に記載の半導体メモリ装置。 - 電源電圧及び接地電圧が印加されて動作し、折返しビットライン構造を有し、ビットラインセンスアンプが、一方に備えられた第1セルアレイに接続された第1ビットライン及び第1ビットラインバーに印加された信号の電圧レベル差、または他方に備えられた第2セルアレイに接続された第2ビットライン及び第2ビットラインバーに印加された信号の電圧レベル差を感知増幅する半導体メモリ装置の駆動方法であって、
前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバーを前記ビットラインセンスアンプに接続させ、前記第2ビットライン及び第2ビットラインバーを前記ビットラインセンスアンプから分離させるステップと、
前記第1ビットラインにデータ信号を印加するステップと、
前記第1ビットラインバーに基準信号を印加するステップと、
前記ビットラインセンスアンプが、前記接地電圧よりも低い低電圧を利用し、前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバーの信号差を感知増幅してラッチするステップと
を含むことを特徴とする半導体メモリ装置の駆動方法。 - 前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバーの信号差を感知増幅してラッチするステップが、前記電源電圧よりも高い高電圧と前記低電圧とを利用することを特徴とする請求項37に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- プリチャージ期間の間、前記第1ビットライン及び前記第1ビットラインバー並びに前記第2ビットライン及び前記第2ビットラインバーを接地電圧レベルにプリチャージさせるステップをさらに含むことを特徴とする請求項38に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 前記基準信号に対応する電荷量が、前記第1ビットラインに印加されるデータ信号が「0」である場合に対応する電荷量と、前記第1ビットラインに印加されるデータ信号が「1」である場合に対応する電荷量との中間値であることを特徴とする請求項39に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 前記基準信号に対応する電荷量が、前記データ信号が「0」である場合に対応する電荷量と、前記データ信号が「1」である場合に対応する電荷量とのうち、大きい方の電荷量の1/2であることを特徴とする請求項40に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 前記感知増幅されてラッチされたデータを、読み出し命令語に対応するデータとして出力するステップをさらに含むことを特徴とする請求項40に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 書き込み命令語に対応して入力されたデータを、前記感知増幅されてラッチされたデータと交換してラッチするステップをさらに含むことを特徴とする請求項40に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
- 最後にラッチされたデータを利用して、前記データ信号が格納されていた単位セルに再格納するステップをさらに含むことを特徴とする請求項42または請求項43に記載の半導体メモリ装置の駆動方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040087660A KR100673898B1 (ko) | 2004-10-30 | 2004-10-30 | 저 전압용 반도체 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006127723A true JP2006127723A (ja) | 2006-05-18 |
JP4348545B2 JP4348545B2 (ja) | 2009-10-21 |
Family
ID=36261643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004378210A Expired - Fee Related JP4348545B2 (ja) | 2004-10-30 | 2004-12-27 | 低電圧用半導体メモリ装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7145821B2 (ja) |
JP (1) | JP4348545B2 (ja) |
KR (1) | KR100673898B1 (ja) |
CN (1) | CN100479060C (ja) |
TW (1) | TWI280584B (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006127728A (ja) * | 2004-10-30 | 2006-05-18 | Hynix Semiconductor Inc | 低電圧用半導体メモリ装置 |
JP2009076144A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-09 | Nec Electronics Corp | 半導体装置 |
JP2009230848A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Hynix Semiconductor Inc | ビットラインプリチャージ回路 |
KR20170009545A (ko) * | 2015-07-17 | 2017-01-25 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비트라인 센스앰프 및 이를 이용하는 메모리 장치 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100649351B1 (ko) * | 2005-03-31 | 2006-11-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 저전압용 반도체 메모리 장치 |
US7414896B2 (en) * | 2005-09-13 | 2008-08-19 | Infineon Technologies Ag | Technique to suppress bitline leakage current |
JP2009123272A (ja) * | 2007-11-14 | 2009-06-04 | Nec Electronics Corp | 半導体記憶装置及び制御方法 |
JP5060403B2 (ja) * | 2008-06-19 | 2012-10-31 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
KR20130057855A (ko) * | 2011-11-24 | 2013-06-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
KR101991711B1 (ko) * | 2012-08-16 | 2019-06-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비트라인 센스앰프 및 레이아웃 방법 |
KR102471412B1 (ko) * | 2016-08-08 | 2022-11-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 센스앰프 테스트 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
CN117727349B (zh) * | 2024-02-08 | 2024-05-07 | 浙江力积存储科技有限公司 | 存储阵列 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3569310B2 (ja) * | 1993-10-14 | 2004-09-22 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
KR0164808B1 (ko) * | 1995-12-27 | 1999-02-01 | 김광호 | 반도체 메모리 장치의 센스앰프 회로 |
JP3740212B2 (ja) * | 1996-05-01 | 2006-02-01 | 株式会社ルネサステクノロジ | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6111802A (en) * | 1997-05-19 | 2000-08-29 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device |
JP3742191B2 (ja) | 1997-06-06 | 2006-02-01 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
JP3874234B2 (ja) * | 2000-04-06 | 2007-01-31 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路装置 |
US6522189B1 (en) * | 2000-10-02 | 2003-02-18 | Broadcom Corporation | High-speed bank select multiplexer latch |
KR20020044689A (ko) * | 2000-12-06 | 2002-06-19 | 박 성 식 | 리프레쉬 모드에서 대기 전류를 감소시키기 위한 센스앰프 회로를 가지는 반도체 메모리 장치 |
JP3646791B2 (ja) * | 2001-10-19 | 2005-05-11 | 沖電気工業株式会社 | 強誘電体メモリ装置およびその動作方法 |
KR20040065322A (ko) * | 2003-01-13 | 2004-07-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 센스 증폭기 |
-
2004
- 2004-10-30 KR KR1020040087660A patent/KR100673898B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-12-22 TW TW093140004A patent/TWI280584B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-12-27 JP JP2004378210A patent/JP4348545B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-28 US US11/025,800 patent/US7145821B2/en active Active
- 2004-12-31 CN CNB2004100817945A patent/CN100479060C/zh active Active
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006127728A (ja) * | 2004-10-30 | 2006-05-18 | Hynix Semiconductor Inc | 低電圧用半導体メモリ装置 |
JP2012230757A (ja) * | 2004-10-30 | 2012-11-22 | Sk Hynix Inc | 低電圧用半導体メモリ装置の駆動方法 |
JP2009076144A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-09 | Nec Electronics Corp | 半導体装置 |
JP2009230848A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Hynix Semiconductor Inc | ビットラインプリチャージ回路 |
KR20170009545A (ko) * | 2015-07-17 | 2017-01-25 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비트라인 센스앰프 및 이를 이용하는 메모리 장치 |
KR102432868B1 (ko) * | 2015-07-17 | 2022-08-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비트라인 센스앰프 및 이를 이용하는 메모리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI280584B (en) | 2007-05-01 |
US7145821B2 (en) | 2006-12-05 |
TW200614263A (en) | 2006-05-01 |
KR20060038569A (ko) | 2006-05-04 |
KR100673898B1 (ko) | 2007-01-25 |
CN100479060C (zh) | 2009-04-15 |
US20060092731A1 (en) | 2006-05-04 |
CN1767062A (zh) | 2006-05-03 |
JP4348545B2 (ja) | 2009-10-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5108206B2 (ja) | 低電圧用半導体メモリ装置 | |
KR100673901B1 (ko) | 저전압용 반도체 메모리 장치 | |
JP5106760B2 (ja) | プリチャージ及び感知増幅スキームを改善した集積回路メモリ装置のビットライン駆動回路及び駆動方法 | |
US20090086555A1 (en) | Voltage supply circuit and semiconductor memory | |
US7209399B2 (en) | Circuit and method of driving bitlines of integrated circuit memory using improved precharge scheme and sense-amplification scheme | |
USRE45036E1 (en) | Semiconductor memory device | |
JP4348545B2 (ja) | 低電圧用半導体メモリ装置 | |
KR20090099492A (ko) | 단일-종단 감지 증폭기를 갖는 반도체 디바이스 | |
KR100670701B1 (ko) | 저 전압용 반도체 메모리 장치 | |
KR100649351B1 (ko) | 저전압용 반도체 메모리 장치 | |
KR100652794B1 (ko) | 저전압용 반도체 메모리 장치 | |
US7417910B2 (en) | Low voltage semiconductor memory device | |
KR100761407B1 (ko) | 저 전압용 반도체 메모리 장치 | |
KR100562652B1 (ko) | 저전압용 반도체 메모리 장치 | |
JP4873891B2 (ja) | 低電圧用半導体メモリ装置 | |
US7577025B2 (en) | Semiconductor memory device comprising floating body memory cells and related methods of operation | |
KR100772686B1 (ko) | 저전압용 반도체 메모리 장치 | |
JP2006323938A (ja) | 半導体装置及びそのテスト方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090107 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090407 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090410 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090507 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090610 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090707 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
R154 | Certificate of patent or utility model (reissue) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R154 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731 Year of fee payment: 4 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731 Year of fee payment: 4 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731 Year of fee payment: 4 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |