JP2006071534A - 長尺体の試料観察に適したプローブ顕微鏡システム - Google Patents
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Abstract
本発明が解決しようとする課題は、基板上に一方向に引きのばされた一本のDNAの試料に対し、端から端までの塩基配列順次読み取りをはじめとして既知のRNAがハイブリダイゼーションした位置を特定できる、高分解能の形状と物性情報を検出する多機能分析装置を提供することにある。
【解決手段】
本発明の顕微鏡システムは、検出系として蛍光顕微鏡と、走査型近接場顕微鏡と、走査型プローブ顕微鏡とを具備し、これらの顕微鏡は切り換え機構に固定され、該機構の切り換え操作によって各顕微鏡が試料の同一箇所を観察できる位置に移動できるようにした。本発明の顕微鏡システムは、多機能走査による走査型プローブ顕微鏡によって一本のDNAの形状及び物性情報を直接検出できる機能を備えるようにした。
【選択図】 図1
Description
3 試料台 3a,3a' 台本体
3b ホルダー 3c ばね
3d 保持板 3e 試料槽
4 試料ステージ 5 アーム
6 ヘッド切り換え機構 7 光学顕微鏡(例、FOM)
8 走査型近接場顕微鏡(SNOM) 9 走査型プローブ顕微鏡(SPM)
10 斜入射レーザー機構 11 格子状標準サンプル
12 変位センサー 12a 調整ネジ
13 カンチレバー 14 SPM検出器
15 光伝導部材 16 波切り
F プラスチックフィルム
Claims (16)
- 検出系として少なくとも特定箇所検出機能を備えた顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡とを具備し、これらの顕微鏡は切り換え機構に固定され、該機構の切り換え操作によって各顕微鏡が試料の同一箇所を観察できる位置に移動できるものであって、試料の特定箇所へ走査型プローブ顕微鏡のプローブのアプローチを容易にしたことを特徴とする顕微鏡システム。
- 特定箇所検出機能を備えたものとして蛍光顕微鏡を、該蛍光顕微鏡で特定した位置をプローブ顕微鏡につなぐ中間倍率の顕微鏡として走査型近接場顕微鏡とを具備し、DNAの特定箇所へプローブのアプローチを容易にしたことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。
- 異なる機能の走査型プローブ顕微鏡を交換取付可能とし、長尺体試料の形状及び物性についての複数情報を直接検出できる機能を備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡システム。
- 各顕微鏡を切り換えて標準パターン試料を用いた画像を得て、それぞれの顕微鏡画像から切換時の位置ズレ情報を事前に検出して記憶手段に記憶しておき、切替時に試料ステージによるXY駆動によって各プローブ間の上記位置ズレ分を補正する機能を備えるようにした請求項1乃至3のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 走査型プローブ顕微鏡には試料槽内の液面の上下に延在する透明な光学部材を取り付けると共にプローブの前方部には波消しが設けられ、高速で走査しても液面変動の影響を受けないようにした請求項1乃至4のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 試料基板を載置する台本体は長手方向断面がコの字状のホルダーの一端部に当接され、他端はホルダーの他端部に固定されたばねを介した保持板によって押圧保持され、前記台本体とホルダーは線膨張率の低い同じ材質のものであると共に前記ホルダーの他端部には変位センサーが配置された構造であって、このセンサーによって試料温度が均一かつ安定したものと判断する機能を備えた試料台を有する顕微鏡システム。
- 試料台が台本体とホルダーには透過測定が可能なように試料基板とほぼ同じ大きさの穴が空いた構造である請求項6に記載の顕微鏡システム。
- 試料台が台本体は液中検査が可能なように器形態の試料槽である請求項6または7に記載の顕微鏡システム。
- プローブが長尺体試料を横切る方向(Yライン)に走査し、Yライン上での長尺体試料の位置を検出し記録すると共に、次にX方向に1単位移動して、前回測定の長尺体試料位置がYライン上の中心になるようにYラインの始点・終点位置を管理した走査を行い、以下これを繰り返し、プローブが長尺体試料を確実に捉えるようにした顕微鏡システムにおける走査法。
- プローブが長尺体試料を横切る方向(Yライン)に走査し、長尺体試料を横切る位置を検出記録した後、プローブをX方向に所定距離だけ移動させて再びYラインに大きく走査し、Yライン上での長尺体試料を横切る位置を検出記録し、この両検出位置間を直線で結び長尺体試料の曲がり分を考慮してこの線に平行な走査本数決めて走査を実行する顕微鏡システムにおける走査法。
- プローブが長尺体試料を横切る方向(Yライン)に走査し、長尺体試料を横切り検出した後所定長さの基板を検出したときYライン走査を終了し、プローブをX方向に所定距離だけ移動させると共に逆方向からYライン走査をし、Yライン上で長尺体試料を横切り検出した後所定長さの基板を検出したときYライン走査を終了し、プローブを更にX方向に所定距離だけ移動させると共に正方向からYライン走査を行い、以下同様の走査を繰り返す顕微鏡システムにおける走査法。
- プローブが長尺体試料を横切る方向(Yライン)に走査し、長尺体試料を横切る位置を検出記録した後、その位置を中心として多方向にプローブを所定距離だけ移動させ、探針が高い位置を最も長く維持した方向を割り出してその方向にプローブを所定量変位させ、その位置を中心として再び多方向にプローブを所定距離だけ移動させ、探針が高い位置を最も長く維持した方向を割り出してその方向にプローブを所定量変位させ、以下同様の走査を繰り返す顕微鏡システムにおける走査法。
- プローブが長尺体試料を横切る方向(Yライン)に走査し、長尺体試料を横切る位置を検出記録した後、その位置を中心として所定半径の円走査を行い、探針が最も高い位置を検出したらその位置にプローブを移動させ、その位置を中心として再び所定半径の円走査を行い、探針が最も高い位置を検出したらまたその位置にプローブを移動させ、以下同様の走査を繰り返す顕微鏡システムにおける走査法。
- プローブが長尺体試料を横切る方向(Yライン)に走査し、長尺体試料を横切る位置を検出記録した後、その位置を中心として所定幅の振動を行いつつX走査を行い、探針が最も高い位置を検出するように探針位置を山登り制御し、長尺体試料上をトラッキング走査する顕微鏡システムにおける走査法。
- 試料ステージをX方向にコマ送りしながら連続したSPM画像を得るものとし、隣接画像間に長尺体試料の重なり合う部分が出るようにコマ送りし、当該部分を重なり合わせて長い1本の長尺体試料情報を順次繋ぐことを特徴とする顕微鏡システムにおける画像合成法。
- 試料にはマーカーを付けるようにし、隣接画像の端部間で位置合わせを行う請求項15に記載の顕微鏡システムにおける画像合成法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004256853A JP4563117B2 (ja) | 2004-09-03 | 2004-09-03 | 顕微鏡システム及び顕微鏡システムの走査法ならびに顕微鏡システムの画像合成法 |
US11/216,389 US7507957B2 (en) | 2004-09-03 | 2005-08-31 | Probe microscope system suitable for observing sample of long body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004256853A JP4563117B2 (ja) | 2004-09-03 | 2004-09-03 | 顕微鏡システム及び顕微鏡システムの走査法ならびに顕微鏡システムの画像合成法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006071534A true JP2006071534A (ja) | 2006-03-16 |
JP4563117B2 JP4563117B2 (ja) | 2010-10-13 |
Family
ID=36072948
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004256853A Expired - Fee Related JP4563117B2 (ja) | 2004-09-03 | 2004-09-03 | 顕微鏡システム及び顕微鏡システムの走査法ならびに顕微鏡システムの画像合成法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7507957B2 (ja) |
JP (1) | JP4563117B2 (ja) |
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2004
- 2004-09-03 JP JP2004256853A patent/JP4563117B2/ja not_active Expired - Fee Related
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- 2005-08-31 US US11/216,389 patent/US7507957B2/en not_active Expired - Fee Related
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JP4563117B2 (ja) | 2010-10-13 |
US20060060778A1 (en) | 2006-03-23 |
US7507957B2 (en) | 2009-03-24 |
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A711 | Notification of change in applicant |
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RD01 | Notification of change of attorney |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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R250 | Receipt of annual fees |
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