JP2006071406A - はんだ接合部の疲労寿命推定方法および装置 - Google Patents
はんだ接合部の疲労寿命推定方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006071406A JP2006071406A JP2004253992A JP2004253992A JP2006071406A JP 2006071406 A JP2006071406 A JP 2006071406A JP 2004253992 A JP2004253992 A JP 2004253992A JP 2004253992 A JP2004253992 A JP 2004253992A JP 2006071406 A JP2006071406 A JP 2006071406A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distribution
- crack
- strain
- strain amplitude
- solder joint
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
【解決手段】 本発明の方法は、き裂のないモデルとき裂を備えるモデルそれぞれについてひずみ振幅分布を算出し、算出される2つのひずみ振幅から線形補間によって各き裂長さにおけるひずみ振幅の分布を算出し、Manson−Coffin則を用いてひずみ振幅の分布から無損傷時の寿命の分布を算出し、累積線形損傷則を適用してき裂の進展速度を算出して、はんだ接合部の破断寿命を推定する。
【選択図】 図1
Description
特許文献1には、はんだ接合部にき裂が発生するまでの寿命をManson−Coffin則を用いて算出し、き裂が進展してはんだ接合部が破断するまでの寿命をき裂進展特性評価結果に基づく破壊力学アプローチにより算出して、はんだ接合部の疲労寿命を評価する技術が開示されている。
本発明では上記課題を解決する。本発明は、FEMを用いた計算によって、き裂が進展する各時点でのひずみ振幅の分布を正確に評価して、ひずみ振幅分布の時間的変化の履歴からはんだ接合部の寿命を推定する技術であって、短い期間で精度よくはんだ接合部の寿命を推定することができる技術を提供する。
上記の関係を利用すると、はんだ接合部が破断に至る前の二種類のき裂長さに対するひずみ振幅の分布が分かれば、それらのひずみ振幅の2つの分布を基にして、線形の内挿法あるいは外挿法を用いることによって、はんだ接合部が破断に至る前の全てのき裂長さに対して、ひずみ振幅の分布を知ることができる。
各き裂長さにおける各部位の無損傷時の寿命が算出されると、累積線形損傷則を用いて、はんだ層の疲労寿命を算出することができる。
疲労き裂の先端近傍は、実際にき裂が進展してきてから付与される繰り返しひずみによる損傷に加えて、き裂が発生して進展してくるまでに付与される繰り返しひずみによっても損傷を受けている。累積線形損傷則では、上記の累積的な損傷を損傷率で評価し、前記の損傷率の累計が1に達するときに、疲労き裂が進展すると推定する。上記の累積的な損傷の評価を、き裂が発生する前の時点から、はんだ接合部が破断する時点まで、順次実施していくことによって、はんだ接合部の疲労寿命を算出することができる。
上記のような方法とすることによって、き裂のないはんだ接合部におけるひずみ振幅の分布と、はんだ接合部が破断するときのき裂長さにほぼ等しい長さのき裂を備えるはんだ接合部におけるひずみ振幅の分布から、外挿法を用いることなく内挿法を用いて、他のき裂長さに対するき裂先端近傍のひずみ振幅の分布を推定することができる。外挿法を併用してひずみ振幅の分布を推定する場合にくらべて、より正確な推定を実施することが可能であり、より正確にはんだ接合部の疲労寿命を推定することができる。
(形態1) ひずみ振幅の第1分布とひずみ振幅の第2分布に基づいて、内挿法または外挿法を用いて、き裂の長さが所定の同一長さだけ成長する時点毎に、その時点におけるひずみ振幅の分布を算出する。
図1を参照しながら、本発明の寿命推定方法について説明する。本実施例の寿命推定方法は、第1FEM解析工程102、第2FEM解析工程104、線形補間工程106、無損傷寿命分布算出工程108、疲労寿命算出工程110とを備える。
本実施例の方法では、図2に示すように、基板2の電極6と電子デバイス4の電極8がはんだ接合されているはんだ接合部10を扱う。図2および図3に明示されているように、はんだ接合部10では、基板2側の電極6と電子デバイス4側の電極8の間に薄く面的に拡がるはんだ層12と、フィレット14を備えている。上記のはんだ接合部10は、例えばチップ抵抗やチップコンデンサをプリント基板にはんだで接合する場合に利用される。上記のはんだ接合部10が温度サイクルにさらされると、基板2と電子デバイス4の熱伸縮量の相違から、はんだ層12には剪断力が繰返し作用する。はんだ層12に剪断力が繰返し作用すると、はんだ層12の端部界面から図3に示す疲労き裂16が発生し、発生した疲労き裂16ははんだ層12の界面に沿って、図4に示すように発生点18から電子デバイス4の幅方向(図4の上下方向)に進展していく。ある長さまで進展したき裂の先端20は、繰返し剪断力を付与されることによって、はんだ結晶2〜3個分に相当する50μm程度の長さだけ進展して、き裂の先端20aの位置にまで進む。
上記のFEM解析を実施することによって、き裂のないはんだ接合部10のひずみ分布の1回の温度サイクルの間の時間履歴を取得することができる。
本実施例で扱うはんだ接合部10の場合、疲労破壊の標定となるはんだ層12に付与されるひずみは、剪断ひずみが支配的となる。このため、本実施例では上記の温度サイクルにおいて各部位(メッシュ)に現れる最大の剪断ひずみを、ひずみ振幅として取得する。上記のひずみ振幅を各部位について取得することによって、き裂が発生する前の時点におけるひずみ振幅の分布を取得することができる。
上記のFEM解析では、き裂進展の評価対象となる部位のメッシュサイズを50μmとしている。従って、各解析要素のひずみを評価することによって、はんだ層の50μmの範囲ごとのひずみ振幅の分布を算出することができる。
本実施例の方法では、後述の線形補間工程106において、第1FEM解析の結果と、第2FEM解析の結果を用いて、き裂先端近傍のひずみ振幅の分布を線形補間によって推定する。すなわち、ε(0、b)とε(1750、b)を知り、a=0〜1750μmの範囲にあるε(a、b)を計算して求める。第2FEM解析において、はんだ接合部が完全に破断する直前(例えば、き裂長さが1950μm)の状態を扱う場合、き裂先端の前方のひずみ振幅の大きさを算出することができるが、残りの距離が短すぎるために、ひずみ振幅の分布の形状を正確に評価することは難しい。従って、第2FEM解析で扱うき裂長さについては、ひずみ振幅の大きさのみではなく、ひずみ振幅の分布の形状についても、正確に評価することが可能なき裂長さとすることが好ましい。
本実施例の方法では、各き裂長さの時点において、き裂先端から250μmの範囲でのひずみ分布を正確に推定して、はんだ接合部の疲労寿命を算出する。
上記に合わせて、本実施例の方法では、き裂が2000μmに到達して、はんだ接合部が完全に破断する場合ではなく、き裂が1750μmからさらに50μmだけ進展した場合に、はんだ接合部が破断したものと判断する。上記の場合、残りの200μmについては破断していないが、実際の寿命によく近似するサイクル数が得られることが確認されている。
第1FEM解析工程102において算出されるひずみ分布ε(0、b)と、第2FEM解析工程104において算出されるひずみ分布ε(1750、b)との間には、ひずみを評価する部位の位置関係に関して、次のような対応関係がある。例えば、ひずみ振幅ε(0、1800)と、ひずみ振幅ε(1750、50)は、同一の部位の異なる時点におけるひずみを表現している。
曲線72は、第1FEM解析工程102において算出されるひずみ分布ε(0、b)を示している。曲線72においては、き裂先端からの距離bと、き裂発生点からの距離xは等しい。き裂先端からの距離bが大きくなるにつれて、ひずみ分布ε(0、b)は下に凸な曲線を描いて、徐々に低減していく。点22、24、・・・は、実際に第1FEM解析において算出されるひずみ値を示している。
曲線74は、第2FEM解析工程から算出されるひずみ分布ε(1750、b)を示している。曲線74においては、き裂先端からの距離bは、き裂発生点からの距離xから、き裂長さである1750μmを減算した値となっている。き裂先端からの距離bが大きくなるにつれて、ひずみ分布ε(1750、b)は下に凸な曲線を描いて、徐々に低減していく。点42、44、・・・は、実際に第2FEM解析において算出されるひずみ値を示している。曲線72と曲線74は、き裂先端からの分布が類似の形状をしている。
同様にして、き裂長さ200μmの時点における、き裂先端から50μm〜100μmの範囲のひずみ54は、第1FEM解析で算出される、き裂先端から50μm〜100μmの範囲のひずみ24と、第2FEM解析で算出される、き裂先端から50μm〜100μmの範囲のひずみ44とを用いて設定される。
き裂先端から100μm〜150μmの範囲のひずみ56、き裂先端から150μm〜200μmの範囲のひずみ58、き裂先端から200μm〜250μmの範囲のひずみ60についても、同様にして設定することができる。
き裂先端から250μm以上離れた位置でのひずみ、例えばき裂先端から250μm〜300μmの範囲のひずみ62に関しては、前記で設定されるひずみ30とひずみ60とを結ぶ線分を平行移動させ、第1FEM解析におけるき裂発生点から250μm〜300μmの範囲の平均的なひずみであるひずみ32に前記線分の一方の端部を合わせて、前記線分の他方の端部をひずみ62として設定してもよい。ひずみ62よりさらにき裂先端から離れた範囲のひずみについても、ひずみ62と同様の方法によって設定することができる。
Manson−Coffin則を用いると、はんだ接合部にひずみ振幅ε(a、b)が繰り返し作用する場合の無損傷時の寿命Nf(a、b)は、以下で算出される。
上記の算出式を用いて、き裂が長さaまで進展した時点での、き裂先端からbμm離れた部位における、無損傷寿命Nf(a、b)が算出できる。
本発明で扱うはんだ接合部には、き裂の進展に伴って大きさが変化するひずみが繰り返し付与される。
例えば、き裂発生点からの距離が0μm〜50μmの範囲の領域では、ε(0、0)の振幅を持つ繰り返しひずみが、Nf(0、0)回だけ繰り返し付与されたときに、き裂が発生して50μm進展する。
き裂発生点からの距離が50μm〜100μmの範囲の領域では、き裂先端が到達するまでの間に、ε(0、50)の振幅を持つ繰り返しひずみを、Nf(0、0)回だけすでに繰り返し付与され、すでに損傷を受けている。その後、き裂先端が到達した状態で、ε(50、0)の振幅を持つ繰り返しひずみが付与される。き裂が到達する前に受けている損傷の影響によって、き裂がさらに50μm進展するための繰り返し数はNf(50、0)回ではなく、より少ない回数の繰り返しひずみによって、き裂は進展する。
上記したように、はんだ接合部には累積的にひずみが繰り返し付与されており、き裂が進展してくるまでの間にも損傷が蓄積されていく。このような累積的な損傷を考慮した寿命を評価するためには、累積線形損傷則を用いる。
例えば、ひずみε1がNs1回、ひずみε2がNs2回付与された場合に、ひずみε1に対する無損傷時の疲労寿命をNf1として、ひずみε2に対する無損傷時の疲労寿命をNf2とすると、Ns1/Nf1+Ns2/Nf2≧1の条件を満たすときに、疲労き裂が進展する。
図6の下部は部位74が破断してき裂が50μm進展した後の状態を示している。き裂が50μm進展したため、部位72はき裂先端に隣接する部位となっており、部位70はき裂先端から50〜100μmの範囲の部位となっている。この時点での部位72の損傷率は、部位74が破断する際に付与された繰返しひずみによって増加し、η=0.4となっている。この時点での部位70の損傷率は、部位74が破断する際に付与された繰返しひずみによって増加し、η=0.2となっている。この状態からさらにはんだ接合部にひずみがNj+1回繰返し付与されると、部位72の損傷率ηが1に到達して、部位72は破断してき裂が50μm進展する。
上記の累積的なき裂の進展評価を、き裂が発生する前からはんだ層が破断するまで繰返し実施することによって、はんだ接合部10の疲労寿命を推定することができる。
ステップ306では、き裂が50μm進展するための繰り返し数を算出する。き裂が既にき裂長さnまで進展した後に、50μm進展するための繰り返し数Nnは、次式で算出する。
ステップ310では、き裂メッシュ数nを1増加させる。
ステップ312では、き裂メッシュ数nをはんだ層が破断するときのき裂メッシュ数と比較し、はんだ層が破断したか否かを判断する。本実施例の方法では、nmax=36(すなわち、き裂長さが1800μm)まで到達したときに、はんだ層が破断したものと判断する。き裂メッシュ数nがnmaxに満たない場合(ステップ312でNOの場合)、はんだ層は未だ破断していないと判断して、処理はステップ306へ進み、ステップ306からステップ310までを繰り返し実施する。き裂メッシュ数nがnmax以上の場合(ステップ312でYESの場合)、はんだ層は破断したと判断して、処理は314へ進む。
ステップ314において、はんだ層の疲労寿命Nを出力し、疲労寿命算出工程は終了する。
しかしながら、第2FEM解析工程においてモデルに付与するき裂長さは、はんだ接合部が完全に破断する前の状態であれば、どのようなき裂長さを用いても疲労寿命を算出することができる。例えば、第2FEM解析工程においてモデルに付与するき裂長さを1000μmとして、ε(0、b)とε(1000、b)から、線形補間工程において0≦a≦1000の範囲を内挿法を用いて算出し、a>1000の範囲を外挿法を用いて算出して、はんだ接合部の疲労寿命を算出することができる。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
4・・・電子デバイス
6、8・・・電極
10・・・はんだ接合部
12・・・はんだ層
14・・・フィレット
16・・・疲労き裂
18・・・き裂発生点
20、20a・・・き裂の先端
22、24、26、28、30、32、34・・・第1FEM解析から算出されるひずみ
42、44、46、50・・・第2FEM解析から算出されるひずみ
52、54、56、58、60、62、64・・・推定されるひずみ
70,72,74・・・部位
102、104、106、108、110、302、304、306、308、310、312、314、316・・・ステップ
120、122・・・ひずみ振幅の等高線
Claims (3)
- 薄く面的に拡がっているはんだ層を備えるはんだ接合部に、所定パターンの剪断力変化が繰返し作用するときのはんだ層の疲労寿命を前記剪断力変化のサイクル数の単位で推定する方法であって、
き裂のないはんだ接合部をモデル化した第1の解析モデルに、前記剪断力変化を加えることによってはんだ層に生じるひずみ振幅の第1の分布を算出する工程と、
き裂を備えるはんだ接合部をモデル化した第2の解析モデルに、前記剪断力変化を加えることによってはんだ層に生じるひずみ振幅の第2の分布を算出する工程と、
ひずみ振幅の第1分布とひずみ振幅の第2分布と基づいて、内挿法または外挿法を用いて、き裂の長さが所定長さだけ成長する時点毎に、その時点におけるひずみ振幅の分布を算出する工程と、
前記各時点におけるひずみ振幅の分布から、Manson−Coffin則に基づいて、前記各時点における無損傷時の寿命分布を算出する工程と、
前記各時点における無損傷時の寿命分布から、線形累積損傷則に基づいて、はんだ層の疲労寿命を算出する工程と
を備えることを特徴とする方法。 - ひずみ振幅の第2分布を算出する工程は、はんだ接合部が破断する時のき裂長さにほぼ等しい長さのき裂を備えるはんだ接合部をモデル化した第2の解析モデルを用いるものであり、
前記各時点におけるひずみ振幅の分布を算出する工程は、ひずみ振幅の第1分布と第2分布に基づいて、内挿法を用いて、各時点におけるひずみ振幅の分布を算出する、
ことを特徴とする請求項1の方法。 - 薄く面的に拡がっているはんだ層を備えるはんだ接合部に、所定パターンの剪断力変化が繰返し作用するときのはんだ層の疲労寿命を前記剪断力変化のサイクル数の単位で推定する装置であって、
き裂のないはんだ接合部をモデル化した第1の解析モデルに、前記剪断力変化を加えることによってはんだ層に生じるひずみ振幅の第1の分布を算出する手段と、
き裂を備えるはんだ接合部をモデル化した第2の解析モデルに、前記剪断力変化を加えることによってはんだ層に生じるひずみ振幅の第2の分布を算出する手段と、
ひずみ振幅の第1分布とひずみ振幅の第2分布と基づいて、内挿法または外挿法を用いて、き裂の長さが所定長さだけ成長する時点毎に、その時点におけるひずみ振幅の分布を算出する手段と、
前記各時点におけるひずみ振幅の分布から、Manson−Coffin則に基づいて、前記各時点における無損傷時の寿命分布を算出する手段と、
前記各時点における無損傷時の寿命分布から、線形累積損傷則に基づいて、はんだ層の疲労寿命を算出する手段と
を備えることを特徴とする装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004253992A JP4179248B2 (ja) | 2004-09-01 | 2004-09-01 | はんだ接合部の疲労寿命推定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004253992A JP4179248B2 (ja) | 2004-09-01 | 2004-09-01 | はんだ接合部の疲労寿命推定方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006071406A true JP2006071406A (ja) | 2006-03-16 |
JP4179248B2 JP4179248B2 (ja) | 2008-11-12 |
Family
ID=36152208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004253992A Expired - Fee Related JP4179248B2 (ja) | 2004-09-01 | 2004-09-01 | はんだ接合部の疲労寿命推定方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4179248B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010019577A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Ihi Corp | 粉砕ミルの寿命評価方法 |
US7873501B2 (en) | 2007-01-11 | 2011-01-18 | Fujitsu Limited | Crack growth evaluation apparatus, crack growth evaluation method, and recording medium recording crack growth evaluation program |
JP2011058888A (ja) * | 2009-09-08 | 2011-03-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 亀裂発生寿命予測装置および亀裂発生寿命予測方法 |
US8190378B2 (en) | 2008-01-23 | 2012-05-29 | Fujitsu Limited | Crack growth evaluation apparatus, crack growth evaluation method, and recording medium recording crack growth evaluation program |
DE102013224527A1 (de) * | 2013-11-29 | 2015-06-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Ermitteln einer optimalen axialen Überlapplänge für eine Überlapplötverbindung und Bauteil mit einer Überlapplötverbindung |
CN117408122A (zh) * | 2023-12-12 | 2024-01-16 | 武创芯研科技(武汉)有限公司 | 随机振动工况下球栅阵列封装的焊点受力分析方法和系统 |
-
2004
- 2004-09-01 JP JP2004253992A patent/JP4179248B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7873501B2 (en) | 2007-01-11 | 2011-01-18 | Fujitsu Limited | Crack growth evaluation apparatus, crack growth evaluation method, and recording medium recording crack growth evaluation program |
EP1944706A3 (en) * | 2007-01-11 | 2014-12-17 | Fujitsu Limited | Simulated crack growth evaluation apparatus, method, and program |
US8190378B2 (en) | 2008-01-23 | 2012-05-29 | Fujitsu Limited | Crack growth evaluation apparatus, crack growth evaluation method, and recording medium recording crack growth evaluation program |
JP2010019577A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Ihi Corp | 粉砕ミルの寿命評価方法 |
JP2011058888A (ja) * | 2009-09-08 | 2011-03-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 亀裂発生寿命予測装置および亀裂発生寿命予測方法 |
DE102013224527A1 (de) * | 2013-11-29 | 2015-06-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Ermitteln einer optimalen axialen Überlapplänge für eine Überlapplötverbindung und Bauteil mit einer Überlapplötverbindung |
CN117408122A (zh) * | 2023-12-12 | 2024-01-16 | 武创芯研科技(武汉)有限公司 | 随机振动工况下球栅阵列封装的焊点受力分析方法和系统 |
CN117408122B (zh) * | 2023-12-12 | 2024-02-27 | 武创芯研科技(武汉)有限公司 | 随机振动工况下球栅阵列封装的焊点受力分析方法和系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4179248B2 (ja) | 2008-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2020524269A5 (ja) | ||
JP5035900B2 (ja) | 温度分布履歴推定方法 | |
JP2013058657A (ja) | 電子装置の寿命予測方法およびそれを用いた電子装置の設計方法 | |
JP4179248B2 (ja) | はんだ接合部の疲労寿命推定方法および装置 | |
JP2009069046A (ja) | 疲労き裂シュミュレーションおよび構造物の残余寿命の推定方法 | |
JP5581860B2 (ja) | はんだ接合部の熱疲労寿命診断方法 | |
JP2015094717A (ja) | 熱疲労寿命予測装置、熱疲労寿命予測方法、プログラム | |
JP7054199B2 (ja) | 残留応力分布の測定方法、算出方法及びプログラム | |
JP2004513365A (ja) | 複数の電気的抵抗測定(フィールドシグニチャー方法、電気抵抗断層撮影法)の手段による、物質の損失を誘発した腐食のモニタリング | |
JP3861037B2 (ja) | き裂進展解析方法及び装置 | |
KR101550878B1 (ko) | 표면실장용 솔더 접합부의 피로수명 예측 방법 | |
JP5356164B2 (ja) | 亀裂発生寿命予測装置および亀裂発生寿命予測方法 | |
JP2011169745A (ja) | 脆性き裂停止破壊靱性の測定方法 | |
JP4533621B2 (ja) | 残留応力測定方法及び装置 | |
JP2791174B2 (ja) | 電子部品はんだ接続寿命評価法 | |
JP2009236540A (ja) | 溶溶接構造体の破壊性能評価方法、データベース装置 | |
JP2004237304A (ja) | はんだ接合寿命予測方法 | |
JP2008256474A (ja) | 内部残留応力推定方法およびシステム | |
JP5136107B2 (ja) | 接合良否検査方法および接合良否検査装置 | |
KR101164518B1 (ko) | 강구조물에 있어서의 균열 진전의 모니터링 방법 및 강구조물의 잔여 수명 추정방법 | |
JP4626577B2 (ja) | はんだの寿命予測方法 | |
JP2005026250A (ja) | はんだ接合部の亀裂発生寿命予測方法及び装置 | |
JP2009300142A (ja) | 複合環境試験方法、故障検出方法、故障検出プログラム、および故障検出プログラムを記録した記録媒体 | |
KR100404659B1 (ko) | 계면접합강도 평가시편 및 그 계면접합강도 평가방법 | |
JP2009250838A (ja) | き裂進展解析方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061109 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080724 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080805 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080818 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |