JP2006023900A - 回転円板形記憶装置の試験／調整方法及び試験制御装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 磁気ディスク装置の試験／調整を行う方法において、試験／調整プログラムの大きさや特質に起因した問題を解決して、試験／調整を行うことを可能にする方法を提供することにある。
【解決手段】 磁気ディスク装置の組み立てが完了したあとには、各種パラメータの設定や磁気ディスクの欠陥登録などの試験／調整を行う。試験／調整プログラムは、試験にかかる磁気ディスク装置で実行されるので、専用の試験装置を必要としない。さらに、試験／調整プログラムを複数のフェーズで構成し、各フェーズを順次実行するように構成することで、試験／調整プログラムの大きさや特質に起因した制約を受けることがなくなる。
【選択図】 図１

Description

本発明は、磁気ディスク装置、光磁気ディスク装置等の回転円板形記憶装置の試験／調整の方法および試験制御装置に関する。

回転円板形記憶装置の一例である磁気ディスク装置は、磁気ディスクにヘッドがデータを書き込んだり読み取ったりする情報記憶再生装置である。磁気ディスク装置は、ヘッドや増幅器に関するパラメータを調整したり、磁気ディスクの欠陥セクタの登録をしたりする必要があるため、組み立てが完了したあとに様々な試験／調整を行って製品としての機能を発揮できる状態にしてから出荷する。

従来、このような試験／調整を行う場合は、６０〜１００個程度のセルを備えた専用の試験装置に磁気ディスク装置を装着し、試験装置が試験／調整のためのプログラムを実行して各磁気ディスク装置の動作を逐一制御していた。しかし、このような試験／調整の方法では、一度に試験／調整することができる磁気ディスク装置の数はセルの数に制限され、試験装置の規模を拡大してセル数を増大しようとすれば投資額が拡大してしまうので改善が求められていた。

磁気ディスク装置の動作を逐一制御する従来の試験装置を使って大量の磁気ディスク装置を試験／調整しようとすれば、相当の投資が不可避になるため、本発明の出願人に譲渡された特願２００２−３４５９２３では、ある磁気ディスク装置から試験／調整にかかる磁気ディスク装置にプログラムを転送して、プログラムを受け取った磁気ディスク装置が自らそれを実行して試験／調整をする新しい方法が提案されている。以後、このような試験／調整の方法を自己実行的な試験／調整方法という。また、本発明の出願人が出願した特願２００４−７８５６９では、試験／調整に関するプログラムを転送するために、磁気ディスク装置をホスト・モードで動作させる技術が開示されている。

しかし、試験／調整にかかる磁気ディスク装置が自己実行的に試験／調整をする方法は、試験／調整プログラムの大きさや特質によっては、実現しにくい場合がある。たとえば、組み立てが完了しただけの磁気ディスク装置は、ヘッドのパラメータ設定や磁気ディスクの欠陥登録などが完了していないため、自らの磁気ディスクに試験／調整にかかるプログラムを記録することができないので、試験／調整を開始する時点では外部の装置から大きな試験／調整プログラムを受け取ることができないという不都合がある。

試験／調整にかかるプログラムは、製品として完成された磁気ディスク装置には必要のないものであり、プログラムを格納するためのＲＯＭなどの半導体メモリをあらかじめ装備しておくことはコスト面から現実的でない。また、試験／調整プログラムを構成する要素の中には、分割して制作してから転送したほうが試験／調整の効率化の面などで都合がよいものがある。さらに、試験／調整プログラムを構成する要素の中にはすべてのプログラムを転送先の磁気ディスク装置で実行するよりも、転送元の磁気ディスク装置が試験／調整プログラムを実行して試験／調整にかかる磁気ディスク装置にアクセスすることにより試験／調整するほうが確実に品質保証できるものがある。このような試験／調整プログラムの大きさや特質は、大量の磁気ディスク装置の試験／調整を並行して自己実行的に行う場合に特に新たな改善事項を生じてくる。

また、磁気ディスク装置をホスト装置として利用して、大量の磁気ディスク装置の試験／調整を自己実行的に行う場合に、それらがＡＴＡインターフェースを採用する場合には効率よく行えない場合がある。ＡＴＡインターフェースを備えた磁気ディスク装置では、１台のコントローラにマスターとスレーブの２台しか接続することができない。よって、試験／調整の完了した磁気ディスク装置を使用して２台の磁気ディスク装置を試験／調整しようとする場合に、試験／調整が完了するまで１台の磁気ディスク装置は出荷待ちとなり、生産量の低下を招来してしまう。

そこで本発明の目的は、回転円板形記憶装置の試験／調整を行う方法において、試験／調整プログラムの大きさや特質に起因した制約を受けないで、自己実行的に試験／調整を行うことを可能にする方法を提供することにある。さらに本発明の目的は、ＡＴＡインターフェースを採用した磁気ディスク装置に対して、自己実行的に試験／調整をする方法およびそれに使用する試験制御装置を提供することにある。

本発明の原理は、回転円板形記憶装置の組み立てが完了したあとに行う試験／調整において、試験／調整プログラムの大きさや特質に起因する問題を解決して試験／調整にかかる回転円板形記憶装置が自ら試験／調整プログラムを実行できるようにする点にある。試験／調整プログラムは、複数のフェーズに分割して構成されている。回転円板形記憶装置はフェーズ番号の順番に転送された各フェーズの試験／調整プログラムを実行し、一つのフェーズのプログラムが完了するとつぎのフェーズのプログラムを受け取って順番に実行する。

本発明の第１の態様は、データ伝送路を介してホスト装置に接続された回転円板形記憶装置の試験／調整を行う方法であって、前記ホスト装置に格納された第１フェーズの試験／調整プログラムを前記ホスト装置が前記回転円板形記憶装置に転送するステップと、前記回転円板形記憶装置が前記第１フェーズの試験／調整プログラムを実行するステップと、前記回転円板形記憶装置が前記ホスト装置に格納された第２フェーズの試験／調整プログラムの転送を要求していることを前記ホスト装置が検出するステップと、前記検出するステップに応答して前記ホスト装置が前記回転円板形記憶装置に前記第２フェーズの試験／調整プログラムを転送するステップとを有する試験／調整方法を提供する。

回転円板形記憶装置は、試験／調整プログラムを自ら実行することにより専用の試験装置を不要とし、かつ、複数のフェーズで構成された試験／調整プログラムを実行する。試験／調整プログラムを複数のフェーズで構成すると、プログラム全体の規模の制約を受けないで自己実行的な試験／調整をすることができるようになったり、インターフェースまで含めたコマンド試験を行ってより充実した品質保証ができるようになったりして都合がよい。また、試験／調整の完了した磁気ディスク装置に対して試験／調整プログラムを転送して、ホスト装置として別の磁気ディスク装置の試験／調整を行わせるようにすることができる。

本発明の第２の態様は、データ伝送路を介してホスト装置に接続された第１の磁気ディスク装置と第２の磁気ディスク装置の試験／調整を行う方法であって、前記ホスト装置に格納された第１フェーズの試験／調整プログラムを前記ホスト装置が前記第１の磁気ディスク装置及び前記第２の磁気ディスク装置に転送するステップと、前記第１の磁気ディスク装置及び前記第２の磁気ディスク装置が前記第１フェーズの試験／調整プログラムを実行するステップと、前記第１の磁気ディスク装置又は前記第２の磁気ディスク装置が前記ホスト装置に格納された第２フェーズの試験／調整プログラムの転送を要求していることを前記ホスト装置が検出するステップと、前記検出するステップに応答して前記第２フェーズの試験／調整プログラムを要求する磁気ディスク装置に前記ホスト装置が前記第２フェーズの試験／調整プログラムを転送するステップとを有する試験／調整方法を提供する。

試験／調整プログラムを転送する手順はホスト装置が管理するが、コマンド試験を除いた試験／調整プログラムは各磁気ディスク装置が実行する。よって、ホスト装置の作業はコマンド試験を行う場合以外は、各磁気ディスク装置における試験／調整プログラムの実行状況を監視して、つぎのフェーズの試験／調整プログラムを順次転送するだけでよい。ホスト装置は、複数の磁気ディスク装置に対して並行して自己実行的な試験／調整をすることができるため、この方法は大量の磁気ディスク装置を試験／調整するのに適している。また、ホスト装置の作業負担は従来の専用の試験装置のそれに比べて軽いため、ホスト装置として磁気ディスク装置を採用するのに適している。

本発明の第３の態様は、試験／調整プログラムを格納した第１の磁気ディスク装置の接続が可能な第１のＡＴＡインターフェース・コネクタと、試験／調整の対象となる複数の第２の磁気ディスク装置の接続が可能な複数の第２のＡＴＡインターフェース・コネクタと、一端が前記複数の第２のＡＴＡインターフェース・コネクタのそれぞれに接続され他端が前記第１のＡＴＡインターフェース・コネクタに接続された複数のバス・スイッチと、前記第１のＡＴＡインターフェース・コネクタと前記複数のバス・スイッチのそれぞれに接続され、前記第１の磁気ディスク装置から転送されたコマンドを実行して前記複数のバス・スイッチのいずれかをクローズにするように制御するバス制御部とを有する試験制御装置を提供する。

試験制御装置は、ホスト装置として動作する磁気ディスク装置が、ＡＴＡインターフェースを備える複数の磁気ディスク装置に対して試験／調整プログラムを転送し並行して実行させることを可能にする。その結果、ＡＴＡ磁気ディスク装置間で試験／調整プログラムを転送して自己実行的に試験／調整を行う場合でも、大量の磁気ディスク装置を対象に試験／調整をすることができるようになる。

本発明により、回転円板形記憶装置の試験／調整を行う方法において、試験／調整プログラムの大きさや特質に起因した制約を受けないで、自己実行的に試験／調整を行うことを可能にする方法を提供することができた。さらに本発明により、ＡＴＡインターフェースを採用した磁気ディスク装置に対して、自己実行的に試験／調整をする方法および試験制御装置を提供することができた。

［試験／調整の意味］
本発明の実施の形態を回転円板形記憶装置の一例である磁気ディスク装置を例にして説明する。明細書および図面の全体をとおして、同一の要素に同一参照番号を付して説明する。本発明において試験／調整とは、組み立てが完了した磁気ディスク装置に対して製品として完成した機能を与え、かつユーザに対して保証できるようにするための製造上の最終段階における工程をいう。試験／調整の一例としては、磁気ディスクに対するサーボ情報の書き込みを挙げることができる。この場合のサーボ情報の書き込みは、セルフ・サーボ・ライト方式を採用する磁気ディスク装置において行われる。セルフ・サーボ・ライト方式は、サーボ・トラック・ライタなどの専用の書き込み装置を使用しないで、磁気ディスク装置に組み込まれるヘッドにより、自らの磁気ディスクにサーボ情報を書き込む方式である。

さらに試験／調整の他の例として、磁気ディスクの検査と欠陥セクタの登録が挙げられる。完成した磁気ディスクは、一般に磁性層に欠陥を保有している場合があり、小さい欠陥であっても放置しておくと拡大する危険性がある。磁気ディスク装置の品質を保証するためには、すべてのセクタをあらかじめ検査して、欠陥が検出されたセクタの論理アドレスを一次欠陥マップ（ＰＤＭ）に登録して当該セクタを使用禁止にする作業を取り入れる場合がある。

さらに試験／調整の他の例として、トラックの位置情報の登録が挙げられる。磁気抵抗効果（ＭＲ）素子または巨大磁気抵抗効果（ＧＭＲ）素子を利用した再生ヘッドを採用する場合は、スライダ上に誘導型の記録ヘッドを再生ヘッドから一定の間隔をおいて別に設ける。記録ヘッドと再生ヘッドとの間隔には寸法公差がある。また、ロータリー式アクチュエータを使用する場合は、スライダがアクチュエータの回転軸を中心に回転移動をするため、磁気ディスクの半径方向におけるヘッドの位置により、記録ヘッドが対応するトラックと再生ヘッドが対応するトラックの位置関係が変化するいわゆるスキューが発生する。

具体的には、磁気ディスクの最外周トラックに近づくに従ってスキューが大きくなり、記録ヘッドが対応するトラックと再生ヘッドが対応するトラックとの間隔が広がる。したがって、磁気ディスク装置はサーボ情報を書き込んだあとに当該ヘッド特有のトラック位置情報を取得して、磁気ディスク上のすべての位置で再生ヘッドの位置と記録ヘッドの位置の関係を正しく認識できるようにする必要がある。

また、再生ヘッドの幅および感度にも公差があるので、サーボ情報からサーボ・バースト・パターンを読み取って再生した位置情報信号（ＰＥＳ）を増幅する増幅器のＰＥＳゲインを、再生ヘッドの製造上の特質に合わせて調整してサーボ情報からトラックの正確な位置情報を検出できるようにしておくためにも試験／調整が必要になる。

このような試験／調整は、実際にヘッドを磁気ディスクの所定の位置に移動させたり、セクタの論理アドレスを磁気ディスク装置のＥＥＰＲＯＭなどに書き込んだりといった動作をともなう。専用の試験装置が試験／調整を行う場合は、磁気ディスク装置からの応答を確認しながら磁気ディスク装置にコマンドを送り逐一その動作を制御している。

本発明の試験／調整においては、対象となる磁気ディスク装置の動作を直接制御するような専用の試験装置は使用しない。試験／調整プログラムは外部のホスト装置から磁気ディスク装置に転送され、磁気ディスク装置が自ら試験／調整プログラムを実行して自己実行的に試験／調整を行う。試験／調整プログラムには、対象となる磁気ディスク装置に外部のホスト装置からコマンドを送り応答を確認するものを含むが、ホスト装置が専用の試験装置が行っていたように磁気ディスク装置のヘッドの動作を直接制御するようなことはない。

［試験／調整の基本的な方法］
図１に本発明の実施の形態として、磁気ディスク装置の試験／調整を自己実行的に行うための基本的な実行環境を示す。図１には、試験／調整の対象となる磁気ディスク装置＃１〜＃４とホスト装置とがデータ伝送路を通じて相互にデータ転送可能な状態で接続されている。磁気ディスク装置＃１ないし＃４は、ハードウエアの組み立ては完了しているが、試験／調整が終了していないためまだ製品としての機能を備えていない状態にある。ただし、基本動作を行うためのファームウエアはＲＯＭに格納されており、外部の装置との通信系統、ＭＰＵ、ＲＡＭなどのように格別の試験／調整をしなくてもよい構成要素は動作可能の状態になっている。

ホスト装置は、データ伝送路を通じて磁気ディスク装置＃１ないし＃４とデータ通信が可能なコンピュータであり、プロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、補助記憶装置、および磁気ディスク装置＃１〜＃４に対するインターフェース回路などを備えている。ホスト装置の補助記憶装置には、磁気ディスク装置＃１〜＃４が実行する試験／調整プログラムを格納している。試験／調整プログラムは、データ伝送路を通じてホスト装置から磁気ディスク装置＃１ないし＃４に転送される。

試験／調整プログラムは、複数のフェーズに分割して構成されており、それらは磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対して転送する順番が決まっている。本実施の形態では、試験／調整プログラムが第１フェーズないし第５フェーズの５つのフェーズで構成されているものとする。試験／調整に当たって、磁気ディスク装置＃１ないし＃４はそれぞれフェーズ番号の順番に第１フェーズから第４フェーズまで試験／調整プログラムを実行し、ホスト装置は第５フェーズの試験／調整プログラムを実行する場合を例示して説明する。

ここでは、第１フェーズの試験／調整プログラムは、磁気ディスクに対するサーボ情報の書き込みに関するものとし、第２フェーズの試験／調整プログラムは欠陥セクタの検出および登録に関するものとし、第３フェーズの試験／調整プログラムはトラック情報の収集および記録に関するものとし、第４フェーズの試験／調整プログラムはＰＥＳゲインの調整に関するものとする。

第１フェーズから第４フェーズまでの試験／調整プログラムは、ホスト装置から各磁気ディスク装置にフェーズ番号の順番に転送される。第５フェーズの試験／調整プログラムは、ユーザにおける実際の動作を想定したコマンド試験であり、ホスト装置がプログラムを実行して、各磁気ディスク装置にリード／ライト・コマンドを送って対応動作を確認したり、リセット・コマンドや診断コマンドを送ってその結果を確認したりする。第５フェーズの試験／調整プログラムは、各磁気ディスク装置には転送されない。

ホスト装置の補助記憶装置には、第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムを順番に各磁気ディスク装置に転送して実行させ、第５フェーズの試験／調整プログラムを実行させる試験制御プログラムを格納している。磁気ディスク装置＃１ないし＃４は、ユーザに販売される汎用の磁気ディスク装置であるが、ホスト装置から転送された試験／調整プログラムを実行するための試験プログラムをあらかじめＲＯＭに格納している。データ伝送路は、ホスト装置と磁気ディスク装置＃１ないし＃４とが通信できるプロトコルで構成されていればよく、ＡＴＡ（AT Attachment）バス、ＳＣＳＩバス、またはファイバー・チャネルなどで構成することができる。ファイバー・チャネルを使用する場合は、アービトレイティッド・ループやファブリック・スイッチを採用することができる。

本発明の試験／調整プログラムは、複数のフェーズに分かれているところに特徴がある。試験／調整プログラムを複数のフェーズに分ける理由は、以下のとおりである。まず、試験／調整の対象となる磁気ディスク装置＃１ないし＃４は、試験／調整が完了していない状態にあるため、自らのヘッドを動作させて磁気ディスクにプログラムを記録したり、磁気ディスクからプログラムを読み取ったりすることができないため、ホスト装置から転送された試験／調整プログラムの記憶場所として磁気ディスクを利用することができない。

よって、各磁気ディスク装置がホスト装置から受け取ることができる試験／調整プログラムの大きさは、ＲＡＭの容量によって制約を受ける。したがって、ホスト装置は各磁気ディスク装置のそれぞれのＲＡＭに一時的に記憶してＣＰＵが実行できる程度の大きさに試験／調整プログラムを分割して送ることで、各磁気ディスク装置での実行を可能にする。

また、第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムは、自己実行的に各磁気ディスク装置の内部で実行される。したがって第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムだけでは、各磁気ディスク装置が外部の装置と通信を行うインターフェース系統の検査が十分にできないので、上述の第５フェーズの試験／調整としてのコマンド試験が必要となる。

第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムにもとづく試験／調整は、それぞれのプログラムの実行にホスト装置が関与せず、各磁気ディスク装置が自己実行的に行うものであるが、第５フェーズの試験／調整は、ホスト装置と各磁気ディスク装置とが通信しながら行うコマンド試験であり、両者はプログラムの実行主体という性質が異なるので分割する必要がある。第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムが、ＲＡＭの容量を増大したりして、分割転送する必要がなくなったとしても第５フェーズの試験／調整プログラムは第１フェーズないし第４フェーズのプログラムからは分割しておく必要がある。

試験／調整は、様々な専門分野の技術者が複数関与して行われる。試験／調整プログラムを専門分野ごとに分けておくと、プログラムの制作や試験結果の評価において都合がよい場合がある。また、試験／調整の工程において、欠陥が発見された部品が組み込まれた磁気ディスク装置を緊急にスクリーニングして出荷禁止にすることがある。このような場合、スクリーニングのためのプログラムを第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムのいずれかに組み込むよりも、スクリーニングのための独立したスクリーニング・プログラムを制作し、ある独立したフェーズ(たとえば、第２−１フェーズ)の試験／調整プログラムとしてホスト装置から各磁気ディスク装置に転送したほうが簡単である。スクリーニングが不要になればスクリーニング・プログラムだけを試験／調整プログラムの中から削除するだけでよい。このように図１に示したような環境において自己実行的に行う試験／調整では、試験／調整プログラムを分割して転送したり、試験／調整を磁気ディスク装置の中だけで行うものとコマンド試験とに分けて行ったりする必要がある。

つぎに、図２を参照して、図１に示した環境で磁気ディスク装置＃１ないし＃４の試験／調整を行う方法を説明する。図２は、自己実行的な試験／調整の基本的な方法を説明するフロー・チャートである。磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対しては、まだいかなる試験／調整も実行していない段階にあるとする。ブロック１１では、ホスト装置が、磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対して第１フェーズの試験／調整プログラムを転送する。

ブロック１３で第１フェーズの試験／調整プログラムを受け取った磁気ディスク装置＃Ｘ（以後、磁気ディスク装置＃１ないし＃４の中の任意の１台を＃Ｘとして示す。）は、ＲＡＭに試験／調整プログラムを記憶し実行する。試験／調整プログラムをＲＡＭに記憶してＣＰＵに実行させる作業は、各磁気ディスク装置のＲＯＭに格納された試験プログラムが行う。磁気ディスク装置＃Ｘは、第１フェーズの試験／調整プログラムを実行して自らの磁気ディスクにサーボ情報を書き込む。書き込むサーボ情報の内容やヘッドの位置制御をするプログラムは、第１フェーズの試験／調整プログラムに含まれている。試験／調整プログラムの実行を開始するために、ホスト装置は第１フェーズの試験／調整プログラムを転送したあとに、当該磁気ディスク装置に実行開始のためのコマンドを送ってもよい。あるいはＲＯＭに格納された試験プログラムが、各フェーズの試験／調整プログラムが送られた場合にそれらを認識して自動的に実行するような構成にしておいてもよい。

ブロック１５で、ホスト装置は磁気ディスク装置＃Ｘにおいて、第１フェーズの試験／調整プログラムの実行が完了したことを検出する。あるいは、磁気ディスク装置＃Ｘにおいて、つぎのフェーズの試験／調整プログラムを要求していることを検出する。ホスト装置は磁気ディスク装置＃Ｘにおいて第１フェーズの試験／調整プログラムの実行が開始されたあと、それが完了するまで新たなコマンドを送ったり、第２フェーズの試験／調整プログラムを送ったりすることはない。これはつづいて順番に転送される第２フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムの実行が開始されたあとについても同様である。

ホスト装置が、磁気ディスク装置＃１ないし＃４においてつぎのフェーズの試験／調整プログラムを要求していることを検出するためには、磁気ディスク装置＃Ｘが完了コマンドをホスト装置に送ってもよく、また、完了したことを磁気ディスク装置＃Ｘがそれぞれのレジスタに設定しホスト装置がそれを参照して行ってもよい。これらの作業は各磁気ディスク装置のＲＯＭに格納されている試験プログラムが行う。

磁気ディスク装置＃Ｘは、第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了したあとこれをＲＡＭから消去して、つぎの第２フェーズの試験／調整プログラムを受け入れる準備をして待機している。この磁気ディスク装置の動作は第２フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了したあとについても同様である。ブロック１７でホスト装置は、第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了した磁気ディスク装置＃Ｘに対して、第２フェーズの試験／調整プログラムを転送する。

第２フェーズの試験／調整プログラムを受け取ってＲＡＭに記憶した磁気ディスク装置＃Ｘは、ブロック１３と同様に第２フェーズの試験／調整プログラムの実行を開始する。ブロック１９では、ホスト装置が磁気ディスク装置＃１ないし＃４のそれぞれにおける試験／調整プログラムの実行状況を確認する。実行状況の確認とは、それぞれの磁気ディスク装置が現在どのフェーズの試験／調整プログラムを完了したかを認識したり、あるいはつぎに転送すべき試験／調整プログラムのフェーズ番号を認識したりすることである。

ホスト装置は、磁気ディスク装置＃Ｘがすでに完了している試験／調整プログラムのフェーズ番号を認識してつぎに転送するフェーズを計算したり、磁気ディスク装置＃Ｘがつぎに要求するフェーズ番号を直接レジスタに書き込み、ホスト装置がそれを認識したりして、つぎに転送すべき試験／調整プログラムのフェーズ番号を決定する。この作業は、ホスト装置の試験制御プログラムが行う。ブロック２１では、ホスト装置が磁気ディスク装置＃１ないし＃４の中から、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを完了しているものを検出し、あるいは、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを完了して第ｍ＋１フェーズの試験／調整プログラムを要求しているものを検出して、当該磁気ディスク装置＃Ｘに第ｍ＋１フェーズの試験／調整プログラムを転送する。

ブロック２３では、磁気ディスク装置＃１ないし＃４のそれぞれにおいてつぎに実行する試験／調整プログラムのフェーズ番号が、５かどうかを確認する。フェーズ５は試験／調整プログラムの最後のフェーズである。ｍ＋１＜５ならば、ブロック１９ないしブロック２３を繰り返して、ホスト装置から磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対して、各磁気ディスク装置がフェーズ５の試験／調整プログラムを要求するようになるまでフェーズ番号の順番に試験／調整プログラムが転送される。

ブロック２３で磁気ディスク装置＃Ｘがつぎに実行するフェーズ番号であるｍ＋１が５になったと判断した場合は、ホスト装置はブロック２５で、磁気ディスク装置＃Ｘに対して第５フェーズのコマンド試験を行う。ブロック２７では、コマンド試験が完了した磁気ディスク装置＃Ｘをデータ伝送路から取り外して、新たな磁気ディスク装置を接続し同様の手順で試験／調整を行う。新たな磁気ディスク装置に対しては、その要求するフェーズ番号に従って順番に各フェーズの試験／調整プログラムが転送される。

［ＡＴＡインターフェースを備える試験制御装置］
つづいて図３を参照して、図１および図２を参照して説明した試験／調整をＡＴＡ磁気ディスク装置に対して行うための試験制御装置５０について説明する。図３では、図１のデータ伝送路を試験制御装置５０で構成し、試験／調整の対象となるｎ台の子供磁気ディスク装置４１−１ないし４１−ｎ（以後、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎとして示す。）と、ホスト装置としての親磁気ディスク装置４０を接続して試験／調整プログラムの実行環境を構築している。

ＡＴＡの規格では１台のホスト・コントローラに対してマスターとスレーブの２台の磁気ディスク装置しか接続することができない。親磁気ディスク装置４０に対して試験／調整の対象となる子供磁気ディスク装置を直接接続するとした場合は、２台までしか接続することができない。これではホスト装置として親磁気ディスク装置を利用して大量の磁気ディスク装置を短時間で試験／調整することができなくなる。これは、２台の磁気ディスク装置の試験／調整をしている間、１台の磁気ディスク装置の出荷ができないことに相当し生産量の低下を意味することになるからである。これに対して本実施の形態では、試験制御装置５０にＡＴＡインターフェースを採用したｎ台（ｎ＞２が可能）の子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎを一度に接続することができるので、１台の親磁気ディスク装置４０を試験／調整に使用している間に、ｎ台の子供磁気ディスク装置の試験／調整を行うことができる。

親磁気ディスク装置４０は、試験／調整が完了して製品としてユーザに出荷可能な磁気ディスク装置であるが、ホスト・モードで動作可能に構成されており、ホスト装置として機能する。ホスト・モードとは、磁気ディスク装置が他の磁気ディスク装置に対してホスト・コンピュータと同様に動作する動作モードをいう。具体的には、磁気ディスク装置が他の磁気ディスク装置に対して能動的にアクセスしてデータの書き込み、読み出し、または調整等を行う動作モードをいう。ホスト・モードでは親磁気ディスク装置が、データ伝送路のバスをみずから制御するバス・マスターとして機能する。本実施の形態では、磁気ディスク装置の動作モードにホスト・モードに対応してデバイス・モードがある。デバイス・モードとは、磁気ディスク装置がホスト・コンピュータまたはホスト・モードで動作する親磁気ディスク装置の指令を受けて受動的に動作してデータの書き込み、読み出しまたは調整を行う動作モードをいう。

デバイス・モードでは、バス・マスターの制御によってデータ伝送路のバスにデータを出力したり、バスからデータを入力したりするバス・スレーブとして機能する。デバイス・モードはユーザが使用するときの動作モードであり、ホスト・モードは、試験／調整のために本実施の形態で採用する特別な動作モードである。親磁気ディスク装置４０は、試験／調整においてはホスト・モードで動作するが、製品として出荷されるときはデバイス・モードで動作するように設定される。ホスト・モードおよびデバイス・モードで動作する磁気ディスク装置の構造およびホスト・モードとデバイス・モードとの切り替えは後に説明する。

試験制御装置５０は、親磁気ディスク装置４０を接続するＡＴＡインターフェース・コネクタ５１、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎを接続するＡＴＡインターフェース・コネクタ６９−１ないし６９−ｎ、バス制御部５４、バス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎ、および表示パネル７１を備える。バス制御部５４は、試験制御装置５０の動作を制御するプロセッサ（ＣＰＵ）５３、ＣＰＵ５３が実行する制御プログラムを格納する不揮発性メモリ（ＲＯＭ）５７、制御プログラムの一時的な記憶やＣＰＵ５３の作業領域を提供する揮発性メモリ（ＲＡＭ）５５が内部バス６５に接続されている。

親磁気ディスク装置４０との間で、コマンド、データ、およびプログラムなどを交換するためのＡＴＡレジスタ群や内蔵バッファ等で構成されるインターフェース６１、バス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎの制御信号を生成するコントローラ５９も内部バス６５に接続されている。コントローラ５９はＣＰＵ５３により制御される。

インターフェース６１のＡＴＡレジスタ群には、ビジー（ＢＳＹ）ビット、データ・リクエスト（ＤＲＱ）ビット、エラー（ＥＲＲ）ビット等を有する８ビットのＳｔａｔｕｓレジスタ、８ビットのコマンド・コードを書き込むＣｏｍｍａｎｄレジスタ、デバイス選択（ＤＥＶ）ビットを有する８ビットのＤｅｖｉｃｅ／Ｈｅａｄレジスタ等を含んでいる。

バス制御部５４は、試験制御装置５０をマスターまたはスレーブのいずれかに設定するデバイス設定部としてのジャンパ６３を備えている。ジャンパ６３はＣＰＵ５３に接続されている。ジャンパ６３はジャンパ・ブロックの接続位置を変更することにより、ＣＰＵ５３に論理的に１となる一定の電位を加えたり、論理的に０となるアース電位を加えたりして試験制御装置５０がＡＴＡ規格におけるマスターとスレーブのいずれであるかを認識させる。本実施の形態では、試験制御装置５０をスレーブ（ＩＤ＝１）にするためにジャンパ６３を論理１に設定している。また、子供磁気ディスク装置＃１〜＃ｎにはすべて同一のジャンパ・ブロックを装着してマスター（ＩＤ＝０）に設定している。

親磁気ディスク装置４０がインターフェース６１に設けたＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットを１に設定して試験制御装置５０にコマンドを送る場合には、ＣＰＵ５３は、ジャンパ６３から与えられた論理とＤＥＶビットの論理が一致することを確認して自らがアクセスの対象であることを認識しコマンドを実行する。このとき、クローズ状態のバス・スイッチに対応する子供磁気ディスク装置＃ＸのＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットも１に設定されるが、子供磁気ディスク装置＃Ｘのプロセッサは、ジャンパ・ブロックが設定する論理とＤＥＶビットの論理が一致しないのでそのコマンドを無視する。

親磁気ディスク装置４０が子供磁気ディスク装置＃Ｘにコマンドを送るために、Ｄｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットを０に設定すると、インターフェース６１のＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットも０に設定されるが、ＣＰＵ５３は、ジャンパ６３の設定を参照して自ら選択されていないことを認識して、そのコマンドを無視する。

ＡＴＡインターフェース・コネクタ５１にはＡＴＡケーブル５２の一端が接続されており、他端がインターフェース６１に接続されている。さらにインターフェース・コネクタ５１に接続されたＡＴＡケーブル５２は、途中でｎ個の系統に分岐したあと、それぞれがバス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎに接続されている。バス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎは、それぞれ、ＡＴＡインターフェース・コネクタ６９−１ないし６９−ｎに接続されている。コントローラ５９からはバス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎにそれぞれ制御線７３が接続されており、制御線７３に電圧を加えてバス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎの動作を制御することができるようになっている。

コントローラ５９には、試験／調整プログラムの実行状態を表示する表示パネル７１が接続されている。実行状態の表示には、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎがそれぞれ現在行っている試験／調整プログラムのフェーズ番号の表示、途中でエラーが発生したときのエラー発生の表示、子供磁気ディスク装置の試験／調整完了を示す表示などを含んでいる。

［磁気ディスク装置の説明］
図４は、親磁気ディスク装置４０または子供磁気ディスク装置４１＃として動作可能な磁気ディスク装置１００の主要なハードウエア構成を示すブロック図である。磁気ディスク装置１００は、ＡＴＡインターフェース・コネクタ１４７と磁気ディスク１１１を備えており、ＡＴＡインターフェース規格に適合している。磁気ディスク装置１００は、本実施の形態にかかる試験／調整が完了して製品として出荷可能な状態にあるときは、第１フェーズから第５フェーズまでの試験／調整プログラムと試験制御プログラムとを磁気ディスク１１１に格納し、ホスト・モードに設定することで親磁気ディスク装置４０として動作する。磁気ディスク装置１００はまた、試験／調整を実施する前の状態にあるときは、デバイス・モードに設定することで子供磁気ディスク装置＃Ｘ（以後、＃Ｘの符号はいずれかの子供磁気ディスク装置を示す場合に使用する。）として動作する。磁気ディスク装置１００について、ホスト・モードとデバイス・モードを切り替える方法は後で説明する。

記録媒体としての磁気ディスク１１１は、磁性層で形成した記録面を両面に備えており、１枚、又は複数枚の積層構造としてスピンドル・ハブに取り付け、スピンドル・モータ（以後、ＳＰＭという。）１１３により回転させる。磁気ディスク１１１には、データやプログラムの記憶場所としてユーザに提供するユーザ領域と、磁気ディスク装置のシステムとして使用するシステム領域を設けている。システム領域には、ユーザがデータを書き込んだり読み取ったりすることはできない。試験／調整が完了したあとには、システム領域に試験／調整プログラム、試験制御プログラム、およびホスト・モード実行プログラムを格納し、他の磁気ディスク装置に対して親磁気ディスク装置としての動作が可能な構成にする。

ヘッド１１５は、スライダに記録用と再生用が別個に設けられている。記録用と再生用を共用するタイプのヘッドでもよいが、ヘッドの型式に応じて試験／調整プログラムの内容が変わる。アクチュエータ・アセンブリ１１７は、ヘッド１１５を支持しながら回動し、ヘッド１１５を磁気ディスク１１１の所定のトラック上に位置づける。ボイス・コイル・モータ（以後、ＶＣＭという。）１１９は、アクチュエータ・アセンブリ１１７が搭載するボイス・コイルならびに磁気ディスク１１１のベースに取り付けたボイス・コイル・マグネットおよびボイス・コイル・ヨークで構成し、ボイス・コイルに流す電流を変化させて、アクチュエータ・アセンブリ１１７の動作を制御する。

ＶＣＭドライバ１２１は、デジタル・アナログ・コンバータ（以後、ＤＡＣという。）１２３から受けた電圧信号をＶＣＭ１１９の駆動電流に変換する。ＤＡＣ１２３はマイクロ・プロセッシング・ユニット（以後、ＭＰＵという。）１２５から受け取ったヘッド１１５の位置決めのためのデジタル信号をアナログの電圧信号に変換する。スピンドル・モータ・ドライバ（以後、ＳＰＭドライバという。）１２７はＡＤコンバータを備え、ＭＰＵ１２５から受け取ったデジタル信号をＳＰＭ１１３の駆動電流に変換する。プリアンプ１２９は、再生時にヘッド１１５が磁気ディスク１１１から再生した微弱なアナログの再生信号を増幅してリード／ライト・チャネル（以後、Ｒ／Ｗチャネルという。）１３１に送る。また、プリアンプ１２９は、記録時にＲ／Ｗチャネル１３１から受けたアナログの書き込み信号を増幅しヘッド１１５に出力する。

Ｒ／Ｗチャネル１３１は、記録または再生のためにデータ処理を行う。外部の装置から磁気ディスク装置１００に送られた書き込み用デジタル・データは、ハード・ディスク・コントローラ（以後、ＨＤＣという。）１３３を経由して、Ｒ／Ｗチャネル１３１が受け取る。Ｒ／Ｗチャネル１３１は、受け取ったデジタル・データを書き込み電流に変換してプリアンプ１２９に送る。さらに、プリアンプ１２９がＲ／Ｗチャネル１３１に送ったヘッド１１５の再生信号は、Ｒ／Ｗチャネル１３１がデジタル・データに変換しＨＤＣ１３３を経由して外部の装置に送る。本明細書いう外部の装置には、他の磁気ディスク装置、試験制御装置５０、またはホスト装置などが該当する。サーボ・コントローラ１３７は、Ｒ／Ｗチャネル１３１が出力する読み出しデータの中からヘッドの位置情報を抽出してＭＰＵ１２５およびＨＤＣ１３３に送る。

ＨＤＣ１３３は、外部の装置との通信を行うインターフェースとしての機能を果たし、外部の装置との間でのデータ転送速度と磁気ディスク装置１００の内部におけるデータ処理速度の調整を図る。ＨＤＣ１３３は、外部の装置から送られた転送データを一時的にバッファ１３５に蓄え、ＭＰＵ１２５の指令に基づいてＲ／Ｗチャネル１３１に送る。ＨＤＣ１３３はまた、Ｒ／Ｗチャネル１３１が送った転送データを一時的にバッファ１３５に蓄え、ＭＰＵ１２５の指令に基づいて外部の装置に送る。さらにＨＤＣ１３３は、データ・エラー訂正回路やアドレス・マーク検出回路等を備えている。

ＨＤＣ１３３は、外部の装置との間でデータ通信を行うためのＡＴＡレジスタを備える。ＡＴＡレジスタは、磁気ディスク装置１００が子供磁気ディスク装置＃Ｘとしてデバイス・モードで動作するときに、親磁気ディスク装置４０からコマンドやデータなどを受け取ったり、磁気ディスク装置１００が親磁気ディスク装置４０としてホスト・モードで動作するときに、子供磁気ディスク装置＃Ｘにコマンドやデータなどを送ったりするための各種レジスタを含んでいる。

ＭＰＵ１２５は、ＨＤＣ１３３と協働して磁気ディスク装置１００全体の動作を制御する。ＭＰＵ１２５は、ＨＤＣ１３３の各種ＡＴＡレジスタに直接アクセスして、外部の装置とのデータ転送を制御する。本実施の形態に係るＭＰＵ１２５は、デバイス・モードの他にホスト・モードでも動作するために、ホスト・モード実行プログラムを実行して、コマンドやデータを外部の装置に送ることができる構成になっている。

ＭＰＵ１２５は、また、ホスト・モードとデバイス・モードのいずれの動作モードで動作するかを判断するための状態レジスタを有している。ＭＰＵ１２５は、外部の装置から磁気ディスク装置１００に送られた磁気ディスク１１１の論理的ブロック・アドレス（ＬＢＡ）を物理的ブロック・アドレス（ＰＢＡ）に変換する。ＭＰＵ１２５はまた、サーボ・コントローラ１３７がＭＰＵ１２５に送ったサーボ情報に基づいて磁気ヘッド１１５の位置を判断し、外部の装置から指示されたアドレスから計算したターゲット位置との差に基づいてヘッド１１５をターゲット位置に位置決めするためのデジタル信号をＤＡＣ１２３に送る。

読み出し専用半導体メモリ（以後、ＲＯＭという。）１４１は、ＭＰＵ１２５が磁気ディスク装置１００の基本動作を行うためのファームウエアを格納する。さらに、ＲＯＭ１４１は、磁気ディスク装置１００が子供磁気ディスク装置として動作して試験／調整プログラムを受け取って実行するための試験プログラムを格納している。ランダム・アクセス・メモリ（以後、ＲＡＭという。）１３９は、ＭＰＵ１２５が実行するプログラムを一時的に記憶したり、ＭＰＵ１２５の作業領域として使用したりする主記憶装置として使用する。電気的に書き換え可能なＲＯＭ（以後、ＥＥＰＲＯＭという。）１４３は、モデル名称、シリアル番号、ファームウエア・バージョン、使用するプロトコル、および製造者名といった磁気ディスク装置１００の固有情報や、パワー・マネジメント、書き込みまたは先読みキャッシュ、読み取りまたは書き込みバッファ等の設定状態に関する情報を記憶する。

ＥＥＰＲＯＭ１４３はさらに、磁気ディスク装置１００をホスト・モードまたはデバイス・モードのいずれで動作させるかを示すイベント・フラグや、試験／調整プログラムの転送先となる子供磁気ディスク装置のアドレスまたは識別子を記憶する場合がある。ＥＥＰＲＯＭ１４３は、さらに試験／調整プログラムを実行して発見した欠陥セクタの登録のためのＰＤＭやトラックの位置情報を記憶する。

特殊ジャンパ・ブロック１５３、汎用ジャンパ・ブロック１６１、ジャンパ・コネクタ１５１、およびロジック・ゲート１４５は、磁気ディスク装置１００に関してホスト・モードまたはデバイス・モードの切り替えを行うための動作モード設定部を構成する。動作モード設定部の設定内容は、ＭＰＵ１２５の状態レジスタに反映させるようにしておく。電源投入時にＭＰＵは、かならず状態レジスタを参照するように構成されており、電源投入を契機にして磁気ディスク装置は、ホスト・モードまたはデバイス・モードのいずれで動作するかを判断してホスト・モードであると認識したときは、ホスト・モード実行プログラムを磁気ディスク１１１から読み出してホスト・モードで動作する。

さらにＥＥＰＲＯＭ１４３に動作モードに関するイベント・フラグを設定する構成を採用した場合は、ＥＥＰＲＯＭ１４３が動作モード設定部を構成する。ジャンパ・ブロックは一般に、複数のジャンパ・ピンを備えたジャンパ・コネクタに接続することにより特定のジャンパ・ピン同士を短絡させる構成になっている。ユーザはジャンパ・コネクタ１５１に汎用ジャンパ・ブロック１６１を装着し、磁気ディスク装置１００をデバイス・モードで動作させ、さらに様々な設定をすることができる。

たとえば、短絡させるジャンパ・ピンを選択してマスター／スレーブの設定、セキュリティ機能のイネーブル／ディスエーブルの設定、容量制限の設定等の種々の機能設定を行うことができる。磁気ディスク装置１００のジャンパ・コネクタ１５１には、汎用ジャンパ・ブロック１６１と択一的に本実施の形態にかかる特殊ジャンパ・ブロック１５３を装着することができる。特殊ジャンパ・ブロック１５３は、汎用ジャンパ・ブロック１６１では採用しないジャンパ・ピン同士の短絡状態を形成する特殊なピン構成になっており、磁気ディスク装置１００をホスト・モードで動作させたり、さらに、ホスト・モードにおける機能選択のための指示をしたりする。図５に、ジャンパ・コネクタ１５１、ＡＴＡインターフェース・コネクタ１４７およびジャンパ・ブロック１５３の斜視図を示す。図５に示すジャンパ・ブロック１５３は、参照番号１６５に示すように一つ跳んだ位置にあるピン同士を短絡させる構成になっていたり、参照番号１６７に示すように斜めに配置したピン同士を短絡させたりする構成になっている。

このようなジャンパ・ブロックの構成は、ユーザに提供する汎用ジャンパ・ブロック１６１では採用しないことになっている。ホスト・モードはユーザが利用しない動作モードであり、特殊ジャンパ・ブロック１５３を使用しない限りユーザはホスト・モードとしての機能設定をすることができないようになっている。ジャンパ・コネクタに代えてディップ・スイッチを使用することもできる。ディップ・スイッチは簡単に動作モードの設定をすることができて都合がよいが、誤操作を防止するカバー等の手段が必要である。さらに図４、図５に示すように、ジャンパ・コネクタ１５１に並んで磁気ディスク装置１００に電源を供給するための電源コネクタ１６３を設けている。

ジャンパ・コネクタ１５１の各コネクタ・ピンはロジック・ゲート１４５に接続している。ロジック・ゲート１４５は、ＡＮＤゲート、ＯＲゲート、およびＮＡＮＤゲート等で構成し、特殊ジャンパ・ブロック１５３または汎用ジャンパ・ブロック１６１で形成したコネクタ・ピン同士のショート状態およびオープン状態で形成した論理状態を入力にして、さらに新たな論理状態を構成して、ＭＰＵ１２５のＩ／Ｏポートに出力する。ロジック・ゲート１４５の出力は、ＨＤＣ１３３経由でＭＰＵ１２５に出力するようにしてもよい。ＭＰＵ１２５のＩ／Ｏポートには、ロジック・ゲート１４５からＩ／Ｏポートに接続した各配線のプルアップ状態またはプルダウン状態として論理状態が送られ、ＭＰＵ１２５の状態レジスタに特定のデータを書き込んだのと同じ状態になる。

また、ロジック・ゲート１４５を採用しないで、ジャンパ・コネクタ１５１を直接ＭＰＵ１２５のＩ／Ｏポートに接続してもよいが、ロジック・ゲート１４５はデコーダとしての機能を果たすので、ロジック・ゲート１４５の採用によりＭＰＵ１２５に対してホスト・モードでのより多くの機能設定ができるようになる。さらに、ＥＥＰＲＯＭ１４３に書き込んだ動作モード設定に関するイベント・フラグの内容は、ロジック・ゲート１４５の入力として、または直接ＭＰＵ１２５のＩ／Ｏポートの入力としてもよい。

ＥＥＰＲＯＭ１４３で、動作モード設定部を構成すれば、外部のホスト装置からイベント・フラグの内容を変更することができるので機能設定の自由度が向上する。また、ＥＥＰＲＯＭ１４３のイベント・フラグと、ロジック・ゲート１４５の論理状態を組み合わせて機能設定してもよい。多くの機能設定ができることは、磁気ディスク装置１００を親磁気ディスク装置４０として動作させ試験制御プログラムを実行して、子供磁気ディスク装置＃Ｘに試験／調整プログラムを転送したり、コマンド試験を実行したりして、試験／調整をしたりするときに細部の機能設定をすることができるので都合がよい。外部の装置からＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグを書き込むときにパスワードを要求するようにしておくと、ユーザによる誤ったイベント・フラグの設定を防止することができる。

以上、本発明の実施の形態にかかる磁気ディスク装置１００のハードウエア構成の一例を示したが、図面を参照して説明した各ブロックの名称、機能、相互関係等は一例であって、本発明の思想はこれに限定するものではなく、他の機能を付加したり、異なるブロックで同一機能を実現したり、ブロック同士の分割や統合をすることは当業者が本明細書を参照して行うことができる限り本発明の範囲に含んでいる。

［ＡＴＡ磁気ディスク装置に対する試験／調整の手順］
つぎに、試験制御装置５０に親磁気ディスク装置４０と子供磁気ディスク装置＃１〜＃ｎを接続して子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎの試験／調整を行う方法を、図６を参照して説明する。以下の説明において、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎの中で、任意の子供磁気ディスク装置を示すときは子供磁気ディスク装置＃Ｘと表示する。インターフェース・コネクタ６９−１ないし６９−ｎ、およびバス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎについてもそれぞれ同様に、６９−Ｘ、６７−Ｘと表示する。親磁気ディスク装置４０および子供磁気ディスク装置＃Ｘの主要な構成は、図４に磁気ディスク装置１００として示したとおりである。図６において、ブロック２０１ないしブロック２２１は、親磁気ディスク装置４０が試験／調整を行う手順を示し、ブロック３０１ないしブロック３０５は親磁気ディスク装置４０の動作に対する試験制御装置５０の対応する動作を示し、ブロック４０１ないしブロック４０９は親磁気ディスク装置４０の動作に対する子供磁気ディスク装置の対応する動作を示す。

ブロック２０１で親磁気ディスク装置４０には、特殊ジャンパ・ブロック１５３を装着する。ブロック３０１では試験制御装置のジャンパ６３をスレーブ（ＩＤ＝１）に設定し、ブロック４０１では子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎには汎用ジャンパ・ブロック１６１を装着する。そして、親磁気ディスク装置４０をインターフェース・コネクタ５１に接続し、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎをインターフェース・コネクタ６９−１ないし６９−ｎに接続してそれぞれの電源を投入する。このときインターフェース・コネクタ６９−１ないし６９−ｎのすべてに渡って子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎが接続されている必要はなく、いずれかのインターフェース・コネクタが空きの状態であってもよい。

汎用ジャンパ・ブロック１６１は、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎをデバイス・モードで動作させる設定に加えて、マスター（ＩＤ＝０）に設定する構成も備えている。特殊ジャンパ・ブロック１５３と汎用ジャンパ・ブロック１６１の設定はロジック・ゲート１４５を通じてＭＰＵ１２５の状態レジスタに反映される。ＭＰＵ１２５は電源の投入時にかならず状態レジスタを参照することになっている。よって、親磁気ディスク装置４０は電源投入時に、磁気ディスク１１１からホスト・モード実行プログラムをＲＡＭ１３９に読み出してホスト・モードで動作し、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎは、ＲＯＭに格納されたファームウエアを実行してユーザが使用するときと同じ動作モードのデバイス・モードで動作する。

スレーブに設定された試験制御装置５０は、以後親磁気ディスク装置４０によりＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットが１に設定されない限り、送られたコマンドを無視する。マスターに設定された子供磁気ディスク装置＃Ｘは、以後親磁気ディスク装置４０によりＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットが０に設定されない限り、送られたコマンドを無視する。試験／調整プログラムは、図１、図２で説明したのと同様に第１フェーズないし第５フェーズで構成されており、親磁気ディスク装置４０に設けられた磁気ディスク１１１のシステム領域に格納されている。

つづいてブロック２０３で親磁気ディスク装置４０は、ＡＴＡのデバイス・セレクション・プロトコルを実行して試験制御装置５０がアイドル状態であるかどうかを確認する。親磁気ディスク装置４０は、Ｄｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットに１をセットして試験制御装置５０をアドレス指定し、つづいてＳｔａｔｕｓレジスタのアドレスを指定して試験制御装置のＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを読み取る。このとき、ＢＳＹビットが０であれば試験制御装置５０がアイドル状態ということになり、１であればビジー状態ということになる。試験制御装置がビジー状態のときは、それ以後アイドル状態になるまでデバイス・セレクション・プロトコルを繰り返す。

試験制御装置５０がビジー状態であるときは、バス制御部５４がバス・スイッチの切り替え作業を行っているため親磁気ディスク装置４０からのコマンドを受け取ることができない状態になっている場合である。親磁気ディスク装置４０は試験制御装置５０がアイドル状態であることを確認したら、ブロック２０５で、インターフェース６１のＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットを１に設定するようにＡＴＡケーブル５２に信号を送る。いま、バス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎの中で、バス・スイッチ６７−ｎだけがクローズで他がオープンになっているとすると、このとき子供磁気ディスク装置＃ｎのＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットも１に設定される。

試験制御装置５０のジャンパ６３は、あらかじめスレーブとなるように論理１（ＩＤ＝１）に設定されているので、ＣＰＵ５３は、Ｄｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットとジャンパ６３の論理状態を照合し自ら選択されたことを認識する。一方、子供磁気ディスク装置＃ｎは、汎用ジャンパ・ブロック１６１であらかじめマスターとなるように論理０（ＩＤ＝０）に設定されているので自らが選択されたとは認識せず、送られたコマンドを無視する。

つぎに、親磁気ディスク装置４０はベンダー特有なＡＴＡコマンドであるＳＷＩＴＣＨコマンドをインターフェース６１のＣｏｍｍａｎｄレジスタに送る。ＳＷＩＴＣＨコマンドは、ＣＰＵ５３がＲＯＭ５７に格納された制御プログラムのもとで実行可能なコマンドである。このとき子供磁気ディスク装置＃ｎのＣｏｍｍａｎｄレジスタにもＳＷＩＴＣＨコマンドが書き込まれるが、子供磁気ディスク装置＃ｎは選択されていないのでこのコマンドを無視する。

ブロック３０３で試験制御装置５０は、ＳＷＩＴＣＨコマンドを実行してバス・スイッチを切り換える。制御プログラムはバス・スイッチ６７−１ないし６７−ｎの中で、かならずいずれか一つだけをクローズにするように構成されている。ＣＰＵ５３がＳＷＩＴＣＨコマンドを実行するときは、クローズになっているバス・スイッチ６９−Ｘをオープンにして、その後定められた順番に従って隣接する番号のバス・スイッチ６９−Ｘ＋１をクローズにするようにコントローラ５９を制御する。本実施の形態では、６７−１から６７−ｎに向かって順番にバス・スイッチを切り替え、さらに６７−ｎから６７−１に戻って循環的に切り替えるように制御プログラムが構成されている。

いま、バス・スイッチ６７−ｎだけがクローズになっているものとすると、コントローラ５９は、ＣＰＵ５３の指令に基づいて現在イネーブルになっているバス・スイッチ６７−ｎに対応する制御線７３をディスエーブルにし、バス・スイッチ６７−１に対応する制御線７３をイネーブルにする。その結果クローズ状態のバス・スイッチの番号が一つ変化したことになり、親磁気ディスク装置４０と子供磁気ディスク装置＃１との新たな通信経路が確立したことになる。ブロック３０３では、試験制御装置５０は制御線７３を切り替えたあとで、インターフェース６１のＳｔａｔｕｓレジスタに切り替えが完了したこと示すビットを設定し、親磁気ディスク装置４０はそれを読み取って切り替えが完了したことを認識して子供磁気ディスク装置＃１にアクセスする準備をする。

つづいてブロック２０７で親磁気ディスク装置４０は、インターフェース・コネクタ６９−１に子供磁気ディスク装置が接続されているか否かを確認する。インターフェース・コネクタ６９−１に子供磁気ディスク装置が接続されていないと判断したときは、ブロック２０３に戻って、親磁気ディスク装置４０は試験制御装置５０に対してデバイス・セレクション・プロトコルを実行したのちＳＷＩＴＣＨコマンドを送って隣接する番号のバス・スイッチ６９−２に切り換える制御をする。インターフェース・コネクタ６９−Ｘに子供磁気ディスク装置が接続されているか否かの確認は、子供磁気ディスク装置においてベンダーが定義することが許されているＡＴＡケーブルの信号線をプルアップしたりプルダウンしたりするように構成して、バス・スイッチ６７−Ｘがクローズになったときに親磁気ディスク装置４０が当該信号線の有無を確認して行うことができる。

インターフェース・コネクタ６９−Ｘに子供磁気ディスク装置＃Ｘが接続されている場合はブロック２０９に移行する。ブロック２０９では、親磁気ディスク装置は、Ｄｅｖｉｃｅ／Ｈｅａｄレジスタのアドレスを指定してＤＥＶビットを０に設定することにより子供磁気ディスク装置＃Ｘを選択する。さらに親磁気ディスク装置４０は、デバイス・セレクション・プロトコルを実行し子供磁気ディスク装置＃Ｘがビジー状態かアイドル状態かを確認する。子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎはすべてスレーブ（ＩＤ＝１）であるが、バス・スイッチ６７−Ｘだけがクローズになっているので、親磁気ディスク装置４０は子供磁気ディスク装置＃ＸのＳｔａｔｕｓレジスタだけを参照することになる。

ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットが１であれば子供磁気ディスク装置＃Ｘはビジー状態であることを意味するので、親磁気ディスク装置４０は、ブロック２０３に戻って試験制御装置５０に対してさらにデバイス・セレクション・プロトコルを行ったのちＳＷＩＴＣＨコマンドを送ってバス・スイッチを切り替える。ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットが０であれば子供磁気ディスク装置＃Ｘはアイドル状態なので、ブロック２１１に移行して親磁気ディスク装置４０は子供磁気ディスク装置＃Ｘが要求する試験／調整プログラムのフェーズ番号を確認する。

ブロック４０３において、試験／調整の初期段階では子供磁気ディスク装置＃Ｘは、Ｓｔａｔｕｓレジスタに親磁気ディスク装置４０に対して要求する第１フェーズの試験／調整プログラムを識別するためのビットを設定している。第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了すると、ＲＡＭから第１フェーズの試験／調整プログラムを消去して、親磁気ディスク装置４０から第２フェーズの試験／調整プログラムを受け取ってＲＡＭに記憶する準備をしている。そのためにＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを０に設定してアイドル状態を表明し、Ｓｔａｔｕｓレジスタに親磁気ディスク装置４０がつぎに転送すべき試験／調整プログラムのフェーズ番号である２を識別するためのビットを設定する。Ｓｔａｔｕｓレジスタに設定するビットは、その時点で完了しているフェーズ番号を示すものでも、つぎに要求するフェーズ番号を示すものでもよい。

各フェーズの試験／調整プログラムの実行時間は、磁気ディスク装置＃Ｘの製造上の特質により変化するので、いずれの子供磁気ディスク装置が最も早く各フェーズの試験／調整プログラムを完了するかは決まっていない。ブロック４０３では、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎは、すでに送られた試験／調整プログラムの実行が完了した場合につぎに要求する試験／調整プログラムのフェーズ番号を示すビットをＳｔａｔｕｓレジスタに設定し、対応するバス・スイッチがクローズになって親磁気ディスク装置４０により選択されるまで待機している。

親磁気ディスク装置４０が、Ｓｔａｔｕｓレジスタを参照して子供磁気ディスク装置＃Ｘが要求する試験／調整プログラムのフェーズ番号がｍであることを確認したのちは、ブロック２１３に移行して、フェーズ番号ｍがコマンド試験のフェーズ番号である５かどうかを判断する。フェーズ番号ｍが４以下の場合は、ブロック２１５に移行して親磁気ディスク装置４０は、子供磁気ディスク装置＃Ｘに第ｍフェーズの試験／調整プログラムを転送し、さらにベンダー特有のＡＴＡコマンドであるＳＴＡＲＴコマンド転送して第ｍフェーズの試験／調整プログラムの実行を開始させる。

ブロック４０５で子供磁気ディスク装置＃Ｘは、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを記憶するために磁気ディスクを使用することができない。しかし、第ｍフェーズの試験／調整プログラムはＲＡＭに記憶することができる程度の大きさで構成されており、子供磁気ディスク装置＃ＸのＭＰＵはＲＯＭに格納された試験プログラムを実行して、第ｍフェーズの試験／調整プログラムをＲＡＭに記憶する。さらに、子供磁気ディスク装置＃Ｘは親磁気ディスク装置４０からＳＴＡＲＴコマンドを受け取って第ｍフェーズの試験／調整プログラムの実行を開始する。子供磁気ディスク装置＃Ｘは、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを実行している間、ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを１に設定して自らが現在ビジー状態であることを表明する。

親磁気ディスク装置４０は、子供磁気ディスク装置＃Ｘに対する第ｍフェーズの試験／調整プログラムの転送をしてＳＴＡＲＴコマンドを送ったのちブロック２０３に戻り、他の子供磁気ディスク装置が要求するフェーズ番号の試験／調整プログラムを転送し実行させる。そのために親磁気ディスク装置４０は、ブロック２０３ないしブロック２１５の手順を繰り返す。具体的には、ＳＷＩＴＣＨコマンドを順番に試験制御装置５０に送ってバス・スイッチを切り替え、アイドル状態にある子供磁気ディスク装置を検出する。親磁気ディスク装置４０は、子供磁気ディスク装置がアイドル状態であることを検出した場合は、そのＳｔａｔｕｓレジスタを読み取って、つぎに要求する試験／調整プログラムの番号を認識して転送し、さらにＳＴＡＲＴコマンドを転送する。このとき、インターフェース・コネクタが空いているときや、子供磁気ディスク装置のＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットが１であることを検出したときは、ブロック２０３に戻ってさらにＳＷＩＴＣＨコマンドを試験制御装置５０に送る。

このようにして、ブロック２０３ないしブロック２１５を通じて試験制御装置５０に接続された子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎに第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムが順番に転送され、それぞれにおいて実行が開始される。親磁気ディスク装置４０は、子供磁気ディスク装置＃Ｘが第１フェーズから第４フェーズまでのそれぞれの試験／調整プログラムを実行している間は子供磁気ディスク装置＃Ｘと通信する必要がないため、複数の子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎに試験／調整プログラムを転送して同時に実行させる形式で試験／調整をすることが可能になる。

ブロック２１３において親磁気ディスク装置４０が、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎの中で子供磁気ディスク装置＃Ｘがつぎに要求する試験／調整プログラムが第５フェーズであることを検出した場合、ブロック２１７で子供磁気ディスク装置＃Ｘに対してコマンド試験を実行するためのコマンドを転送する。コマンド試験は、親磁気ディスク装置４０が第５フェーズの試験／調整プログラムを実行してコマンドを子供磁気ディスク装置＃Ｘに転送し各種レジスタの内容を確認したりデータを読み出したりすることにより行う。

コマンド試験において親磁気ディスク装置４０は、ユーザの使用状態を想定したリード／ライト・コマンドを子供磁気ディスク装置＃Ｘに送り、所定の動作をするかどうかを確認する。たとえば、ライト・コマンドでデータを書き込み、つぎにリード・コマンドで書き込んだデータを読み取る。子供磁気ディスク装置＃Ｘは、ブロック４０７で各コマンドを実行し実行の結果を各種レジスタに設定したり、データをバッファに書き込んだりする。親磁気ディスク装置４０は、ＳｔａｔｕｓレジスタのＥＲＲ（エラー）ビットを確認したり、Ｅｒｒｏｒレジスタのビットを確認したりして、子供磁気ディスク装置＃Ｘにエラーが発生していないかどうかを確認する。また、書き込んだデータと読み取ったデータを照合して合致するかどうかを確認する。

コマンド試験により、子供磁気ディスク装置＃Ｘのインターフェース系統も含めて、ユーザの使用環境に近い状態での検査をすることができ、品質保証の能力を高めることができる。一つの子供磁気ディスク装置＃Ｘに対するコマンド試験を開始したあとは、それが完了するまで親磁気ディスク装置４０は試験制御装置５０にＳＷＩＴＣＨコマンドを発行しない。ブロック２１７のコマンド試験が完了した子供磁気ディスク装置＃Ｘは、製品として完全な機能が付与され出荷できる状態になっている。

ブロック２１９で親磁気ディスク装置４０は、コマンド試験の完了した子供磁気ディスク装置＃Ｘに対して、自らの磁気ディスクのシステム領域に格納していた試験／調整プログラム、試験制御プログラム、およびホスト・モード実行プログラムを転送する。ブロック４０９で子供磁気ディスク装置＃Ｘはそれらのプログラムを磁気ディスクのシステム領域に格納して試験／調整を完了する。これにより、子供磁気ディスク装置＃Ｘはつぎに新たな親磁気ディスク装置として機能し、他の子供磁気ディスク装置に対して試験／調整を行うことができるようになる。子供磁気ディスク装置＃Ｘを親磁気ディスク装置として利用しないで市場に出荷する場合は、ブロック２１９の手順は必要がない。

試験／調整プログラムの転送が完了するとブロック２２１で親磁気ディスク装置４０は、ベンダー特有のＡＴＡコマンドであるＣＯＭＰコマンドを試験制御装置５０に送り、ブロック３０５で試験制御装置５０は、表示パネル７１に試験／調整の完了を表示する。試験制御装置５０のＣＰＵ５３は、ＣＯＭＰコマンドを実行することにより現在クローズになっているバス・スイッチの番号６７−Ｘを認識し、それに対応するＡＴＡインターフェース・コネクタ６９−Ｘに接続された子供磁気ディスク装置＃Ｘの試験／調整が完了したことを表示パネル７１に表示するコマンドである。この例では、たとえば「６７−Ｘ試験／調整完了」と表示する。子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎは、個別の識別子をもっていないので、クローズ状態にあるバス・スイッチの番号で特定することになる。

第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムを実行している間に子供磁気ディスク装置＃Ｘにエラーが生じたときは、子供磁気ディスク装置＃Ｘはプログラムの実行を中止してその状態を親磁気ディスク装置４０に対して表明し、ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを０に設定する。エラーが発生したことを親磁気ディスク装置４０に対して表明するには、ベンダーに対して定義することが許されているＡＴＡケーブルの信号線をプルアップしたりプルダウンしたりするように構成しておき、当該磁気ディスク装置に対応するバス・スイッチがクローズになったとき、親磁気ディスク装置４０が当該信号線を確認するようにして行うことができる。また、ＳｔａｔｕｓレジスタやＥＲＲＯＲレジスタのビットを設定して表明してもよい。

親磁気ディスク装置４０が子供磁気ディスク装置＃Ｘにエラーが発生したことを確認したときは、ベンダー特有のＡＴＡコマンドであるＥＲＲＯＲコマンドを試験制御装置５０に送る。試験制御装置５０のＣＰＵ５３は、ＥＲＲＯＲコマンドを実行することにより現在クローズになっているバス・スイッチの番号に対応するインターフェース・コネクタに接続された子供磁気ディスク装置にエラーが発生したと認識し、コントローラ５９を制御して表示パネル７１にエラー表示をする。表示パネル７１のエラー表示は、たとえば「６７−Ｘエラー」となる。

親磁気ディスク装置４０は、第１フェーズないし第５フェーズの試験／調整プログラムを子供磁気ディスク装置＃Ｘに転送する際、試験制御装置５０に転送するフェーズ番号を通知してもよい。これにより、試験制御装置５０は、転送先の子供磁気ディスク装置＃Ｘを現在クローズになっているバス・スイッチ６７−Ｘとして認識し、インターフェース・コネクタ６９−Ｘに接続された子供磁気ディスク装置＃Ｘが当該フェーズ番号の試験／調整プログラムを実行していることを認識することができる。その情報を利用して試験制御装置５０は、表示パネル７１にバス・スイッチの番号と転送済みの試験／調整プログラムのフェーズ番号を表示して、磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎにおける試験／調整プログラムの実行状況を表示することができる。表示パネル７１の実行状況の表示は、たとえ「６７−Ｘ フェーズ３」となる。

これまで本発明について図面に示した特定の実施の形態をもって説明してきたが、本発明は図面に示した実施の形態に限定するものではなく、本発明の効果を奏する限り、これまで知られたいかなる構成であっても採用することができることはいうまでもないことである。

磁気ディスク装置の試験／調整を行う基本的な実行環境を説明する図である。 試験／調整の基本的な方法を説明するフロー・チャートである。 ＡＴＡ規格に適合する試験制御装置の構成を説明する図である。 磁気ディスク装置の主要なハードウエア構成を示すブロック図である。 磁気ディスク装置のジャンパの構成を説明する図である。 試験制御装置を使用して試験／調整する方法を説明するフロー・チャートである。

符号の説明

４０、４１−１ないし４１−ｎ、１００ 磁気ディスク装置
５０ 試験制御装置
５１、６７−１ないし６７−ｎ、１４７ ＡＴＡインターフェース・コネクタ
５２ ＡＴＡケーブル
５３ プロセッサ（ＣＰＵ）
５４ バス制御部
５５ 揮発性メモリ（ＲＡＭ）
５７ 不揮発性メモリ（ＲＯＭ）
５９ コントローラ
６１ インターフェース
６３ ジャンパ
６５ 内部バス
６７−１ ６７−ｎ バス・スイッチ
７１ 表示パネル
７３ バス・スイッチ制御線
１００ 磁気ディスク装置
１１１ 磁気ディスク
１１５ ヘッド
１２５ マイクロ・プロセッシング・ユニット（ＭＰＵ）
１３３ ハード・ディスク・コントローラ（ＨＤＣ）
１４５ ロジック・ゲート（ＬＧ）
１５１ ジャンパ・コネクタ
１５３ 特殊ジャンパ・ブロック
１６１ 汎用ジャンパ・ブロック

Claims (20)

1. データ伝送路を介してホスト装置に接続された回転円板形記憶装置の試験／調整を行う方法であって、
   前記ホスト装置に格納された第１フェーズの試験／調整プログラムを前記ホスト装置が前記回転円板形記憶装置に転送するステップと、
   前記回転円板形記憶装置が前記第１フェーズの試験／調整プログラムを実行するステップと、
   前記回転円板形記憶装置が前記ホスト装置に格納された第２フェーズの試験／調整プログラムの転送を要求していることを前記ホスト装置が検出するステップと、
   前記検出するステップに応答して前記ホスト装置が前記回転円板形記憶装置に前記第２フェーズの試験／調整プログラムを転送するステップと
   を有する試験／調整方法。
2. 前記ホスト装置がホスト・モードで動作する磁気ディスク装置である請求項１記載の試験／調整方法。
3. 前記第１フェーズの試験／調整プログラムが、前記回転円板形記憶装置にサーボ情報を書き込むプログラムを含む請求項１記載の試験／調整方法。
4. 前記第２フェーズの試験／調整プログラムが、前記ホスト装置から前記回転円板形記憶装置にコマンドを送り前記回転円板形記憶装置が前記コマンドを実行するプログラムを含む請求項１記載の試験／調整方法。
5. 前記ホスト装置及び前記回転円板形記憶装置が磁気ディスク装置であり、前記ホスト装置が前記回転円板形記憶装置に前記第１フェーズの試験／調整プログラムと前記第２フェーズの試験／調整プログラムを転送するステップと、前記回転円板形記憶装置が転送された前記第１フェーズの試験／調整プログラムと前記第２フェーズの試験／調整プログラムを磁気ディスクに書き込むステップとを含む請求項１記載の試験／調整方法。
6. データ伝送路を介してホスト装置に接続された第１の磁気ディスク装置と第２の磁気ディスク装置の試験／調整を行う方法であって、
   前記ホスト装置に格納された第１フェーズの試験／調整プログラムを前記ホスト装置が前記第１の磁気ディスク装置及び前記第２の磁気ディスク装置に転送するステップと、
   前記第１の磁気ディスク装置及び前記第２の磁気ディスク装置が前記第１フェーズの試験／調整プログラムを実行するステップと、
   前記第１の磁気ディスク装置又は前記第２の磁気ディスク装置が前記ホスト装置に格納された第２フェーズの試験／調整プログラムの転送を要求していることを前記ホスト装置が検出するステップと、
   前記検出するステップに応答して前記第２フェーズの試験／調整プログラムを要求する磁気ディスク装置に前記ホスト装置が前記第２フェーズの試験／調整プログラムを転送するステップと
   を有する試験／調整方法。
7. 前記データ伝送路がＳＣＳＩバスを含む請求項６記載の試験／調整方法。
8. 前記データ伝送路がファイバー・チャネルのアービトレイティッド・ループ又はファイバー・チャネルのファブリック・スイッチを含む請求項６記載の試験／調整方法。
9. 前記データ伝送路がＡＴＡバスを含む請求項６記載の試験／調整方法。
10. 前記データ伝送路が、前記ホスト装置、前記第１の磁気ディスク装置、及び前記第２の磁気ディスク装置を接続し、前記ホスト装置に対する前記第１の磁気ディスク装置又は前記第２の磁気ディスク装置のいずれか一方の通信経路を確立する試験制御装置を備える請求項９記載の試験／調整方法。
11. 前記試験制御装置をマスター又はスレーブのいずれか一方に設定し、前記第１の磁気ディスク装置及び前記第２の磁気ディスク装置をマスター又はスレーブの他方に設定する請求項１０記載の試験／調整方法。
12. 前記ホスト装置がホスト・モードで動作する磁気ディスク装置である請求項６記載の試験／調整方法。
13. 試験／調整プログラムを格納した第１の磁気ディスク装置の接続が可能な第１のＡＴＡインターフェース・コネクタと、
    試験／調整の対象となる複数の第２の磁気ディスク装置の接続が可能な複数の第２のＡＴＡインターフェース・コネクタと、
    一端が前記複数の第２のＡＴＡインターフェース・コネクタのそれぞれに接続され他端が前記第１のＡＴＡインターフェース・コネクタに接続された複数のバス・スイッチと、
    前記第１のＡＴＡインターフェース・コネクタと前記複数のバス・スイッチのそれぞれに接続され、前記第１の磁気ディスク装置から転送されたコマンドを実行して前記複数のバス・スイッチのいずれかをクローズにするように制御するバス制御部と
    を有する試験制御装置。
14. 前記バス制御部がマスター又はスレーブのいずれか一方の設定が可能なデバイス設定部を有する請求項１３記載の試験制御装置。
15. 前記バス・スイッチが第１のバス・スイッチと第２のバス・スイッチを含み、該第１のバス・スイッチがクローズ状態で該第２のバス・スイッチがオープン状態のとき、前記バス制御部は前記第１の磁気ディスク装置から送られたＡＴＡコマンドを実行して前記第１のバス・スイッチをオープンにして前記第２のバス・スイッチをクローズにする請求項１３記載の試験制御装置。
16. 前記バス・スイッチが第３のバス・スイッチを含み、前記バス制御部は、前記第２のバス・スイッチに対応する前記第２の磁気ディスク装置がビジー状態であることを検知したときに前記第２のバス・スイッチをオープンにして前記第３のバス・スイッチをクローズにする請求項１５記載の試験制御装置。
17. 前記バス・スイッチが第３のバス・スイッチを含み、前記バス制御部は、前記第２のバス・スイッチに磁気ディスク装置が接続されていないことを検知したときに前記第２のバス・スイッチをオープンにして前記第３のバス・スイッチをクローズにする請求項１５記載の試験制御装置。
18. 前記第２の磁気ディスク装置が前記試験／調整プログラムの実行を完了したことを表示する表示部を有する請求項１３記載の試験制御装置。
19. 前記第２の磁気ディスク装置にエラーが発生したことを表示する表示部を有する請求項１３記載の試験制御装置。
20. 前記第２の磁気ディスク装置における試験／調整プログラムの実行状況を表示する表示部を有する請求項１３記載の試験制御装置。
    

Images