JP2005502073A - 自己較正型画像表示装置 - Google Patents

Abstract

液晶表示（ＬＣＤ）装置。この装置は、受信したディジタル入力データから当該装置のデータ（列）ラインに生じたアナログ電圧への信号処理経路における非線形性を較正し当該装置の列ドライバと列ラインとの差を較正する回路を含む。この装置は、ディジタル入力データを受信しこれに応じて列ラインに供給すべきアナログデータ電圧を発生する。本装置は、精細階段状基準信号を発生する手段と、この精細階段状基準信号電圧をデータ電圧と比較しこれに応じて当該装置に記憶される較正データエラー値を発生する手段とを含む。この装置の１つ、好ましくは全ての列は、その動作範囲における各値についてディジタル入力データをステップ移行しその対応する較正データエラー値をメモリに記憶することにより較正される。

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像表示装置の分野に属し、特に液晶表示装置に関し、また、このような装置のための較正回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示（ＬＣＤ）装置のような画像表示装置は広く知られている。次の説明に関しては、かかる装置の慣例的な特徴についてはよく知られているものと推量されるので、本発明に関係する特徴のみ説明する。
【０００３】
図１は、典型的な液晶表示（ＬＣＤ）装置１００の関連部分を示している。
【０００４】
ＬＣＤ装置１００は、関連する部分において、複数の画素１１０と、この複数の画素１１０に接続された複数の列（データ）ライン１２０と、列ライン１２０を介して画素１１０にデータを供給する複数の列（データ）ドライバ１３０と、複数の列ドライバスイッチ１４０と、各行の画素１１０に接続された複数の行（走査）ライン１５０と、列ドライバ１３０からのデータが供給される１行分の行画素１１０を選択するための行ライン１５０に接続された複数の行ドライバ１６０とを有する。
【０００５】
普通、各画素１１０は、画素スイッチングデバイス１１２と記憶デバイス（画素キャパシタ）１１４とを含んでいる。画素スイッチングデバイス１１２は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）としてもよく、これはその接続された行ライン１５０の走査信号に応じて、その接続された列ライン１２０を介して記憶デバイス１１４に供給されるデータ信号をスイッチングする。
【０００６】
ＬＣＤ装置１００は、シリコン上液晶（ＬＣＯＳ）型のＬＣＤ装置としてもよい。その場合、列（データ）ドライバ１３０、列ドライバスイッチ１４０、及び／又は行（走査）ドライバ１６０は、液晶画素１１０と同じシリコン基板上に集積することができる。
【０００７】
画像データは、ディジタル入力データとして外部ビデオ発生器から列ドライバ１３０へ供給される。但し、列ドライバ１３０は、アナログ画像データを列ライン１２０へ供給しなければならない。よって、この画像データは、列ドライバ１３０においてディジタル−アナログ変換を含む信号処理が施される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、かかる従来技術ＬＣＤ装置１００に伴う幾つかの問題を説明する。
【０００９】
列ドライバ１３０と列ライン１２０との間の変動によって、２つの異なる列ライン１２０の画素１１０が、どちらかの列ライン１２０についても当該列ドライバ１３０に同じディジタル画像データが供給されたにもかかわらず異なる輝度（強度）を表示してしまう、という状況が起きてしまう。実に、第１列ライン１２０の列ドライバ１３０が第２の列ライン１２０の列ドライバ１３０により受信された第２ディジタル画像データよりも大なる値を有する第１ディジタル画像データを受信したにもかかわらず、当該第２列ライン１２０の画素１１０が実際上当該第１列ライン１２０の画素１１０よりも明るい画像（大なる強度）を表示するといった状況が起きるほどにその変動は大きいのである。こうした変動（ばらつき）によって、望ましくない表示特性を招くことになる。
【００１０】
さらに、列ドライバ１３０における信号処理は、画像データに非線形性を生じさせてしまう。こうした非線形性のために、画像データの輝度範囲は単調には増大しない。換言すれば、ある特定の列ライン１２０のディジタル画像データ値が増大するものの当該列ライン１２０の画素１１０により表示される実際の表示輝度は減少するといった１つに限らない状況が起こりうるのである。
【００１１】
一般に、装置１００におけるディジタル及びアナログ信号の伝搬遅延は、共通の回路特性のばらつき（例えば増幅器オフセット、ゲイン／帯域変動）に加えて、当該ディスプレイの画素と画素又は領域と領域（例えば列と列）との間において輝度のばらつきを生じさせる。
【００１２】
したがって、同じディジタル入力データを受信する画素間又は列間における輝度レベル変化（ばらつき）を減少又は除去することのできる画像表示装置を提供することが望ましいということになる。また、外部ビデオ信号発生器から受信したディジタル入力データに応じて単調に増大する輝度を呈する画像表示装置を提供することも望ましいものとなる。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
よって、一態様においては、画像表示装置であって、行及び列のマトリクスに配列された複数の画素と、対応する１列の画素に各々が接続される複数の列ラインと、データ電圧を前記列ラインの１つに供給する少なくとも１つの列ドライバと、基準電圧を発生する発生器と、前記基準電圧を前記データ電圧と比較しこれに応じて較正データエラー値を生成する手段とを含む画像表示装置としている。
【００１４】
もう１つの態様においては、行及び列のマトリクスに配列された複数の画素と、前記複数の画素に接続される複数の列ラインと、前記列ラインに接続されデータを前記画素に供給する複数の列ドライバとを含む画像表示装置のデータ電圧レベルを較正するための方法であって、基準信号を発生すること、ディジタル入力データ値を有するＰビットディジタル入力データを受け取ること、その受け取ったディジタル入力データに応じて前記列ラインの１つにデータ電圧を発生すること、前記基準信号と前記列ラインの１つに生じたデータ電圧とを比較し、これに応じて較正データエラー値を発生することを含むようにしている。
【００１５】
【発明の実施の形態】
図２は、本発明の少なくとも１つの態様による画像表示装置の第１実施例を示している。この第１実施例は、液晶表示（ＬＣＤ）装置２００について説明するものである。簡単かつ明瞭とするため、本発明に関係のあるＬＣＤ装置２００の部分が描かれている。
【００１６】
ＬＣＤ装置２００は、関連のある部分において、複数の画素２１０と、この複数の画素２１０に接続された複数（Ｍ）個の列（データ）ライン２２０と、列ライン２２０を介して画素２１０にデータを供給する複数の列（データ）ドライバ２３０と、複数の列ドライバスイッチ２４０と、複数の列ドライバスイッチレジスタ（図示せず）と、Ｎ行の画素２１０に接続された複数（Ｎ）個の行（走査）ライン２５０と、列ドライバ２３０からのデータが供給される１行分の画素２１０を選択するため行ライン２５０に接続される複数の行ドライバ２６０と、包括的基準信号を供給する発生器２７０と、列ライン２２０のうち対応する１つに各々が接続される複数（Ｍ）個の列テストスイッチ２８０と、この列テストスイッチ２８０の各々に接続された共通テストライン２８６と、当該列テストラインに接続された一入力及び発生器２７０からの包括的基準信号に結合された他入力を備えた転換（コミュテーション）スイッチ２８５と、この転換スイッチ２８５の出力に接続された比較器２８８と、列テストスイッチ２８０のうち対応する１つの制御端子に接続された出力をそれぞれ有する複数（Ｍ）個の列テストスイッチレジスタ２９０と、転換スイッチ２８５の制御端子に接続された出力をそれぞれ有する転換スイッチレジスタ２９５とを有する。
【００１７】
ＬＣＤ装置２００は、シリコン上液晶（ＬＣＯＳ：ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｏｎ ｓｉｌｉｃｏｎ）タイプのＬＣＤ装置としてもよい。その場合、列（データ）ドライバ２３０及び／又は行（走査）ドライバ２６０を、液晶画素２１０と同じシリコン基板上に集積（一体化）することができる。また、列ドライバスイッチ２４０、列ドライバスイッチレジスタ、列テストスイッチ２８０、転換スイッチ２８５、列テストスイッチレジスタ２９０、及び／又は転換スイッチレジスタ２９５も同じ基板上に集積可能である。
【００１８】
各画素２１０は、第１及び第２端子並びに制御端子を有する画素スイッチングデバイス２１２と、画素スイッチングデバイス２１２の第１端子に接続された記憶デバイス（画素キャパシタ）２１４とを含むのが普通である。画素スイッチングデバイス２１２の第２端子は、列ライン２２０の１つに接続される。薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）とすることのできる画素スイッチングデバイス２１２は、そこに接続された行ライン２５０の走査信号に応答して、列ライン２２０を記憶デバイス２１４に選択的に接続し、これにより列ライン２２０を介して供給されたデータ信号を記憶デバイス２１４に記憶するようにしている。
【００１９】
ディジタル入力データとして、外部ビデオ発生器から列ドライバ２３０へ画像データが供給される。列ドライバ２３０は、このディジタル入力データに対しディジタル−アナログ変換を含む信号処理を行い、アナログ出力データを列ライン２２０に供給する。
【００２０】
列テストスイッチレジスタ２９０は、シフトレジスタとして構成可能である。好ましい実施例においては、列テストスイッチレジスタ２９０は、単一のシフトレジスタとして転換スイッチレジスタ２９５と共に構成可能である。同様に、列ドライバスイッチレジスタも、１つのシフトレジスタとして構成可能である。有利なのは、列テストスイッチレジスタ２９０及び転換スイッチレジスタ２９５を１つのシフトレジスタとして構成する場合、シフトイネーブル又はクロック信号を用いてデータ値をシフトさせることにより列テストスイッチレジスタ２９０及び転換スイッチレジスタ２９５にデータ値を供給することができることである。
【００２１】
次に、欠陥のある列がある場合の第１の好適実施例ＬＣＤ装置２００の関連する種々の構成要素の動作を説明する。
【００２２】
表示較正処理において、データ値（例えば「１」）は第１列テストスイッチレジスタ２９０にシフト入力されて、第１の列テストスイッチレジスタ２９０が、第１列テストスイッチ２８０を閉じて共通テストライン２８６に列１を接続するよう第１列テストスイッチ２８０の制御端子に制御信号を生成するようにしている。このとき、データ値（例えば「０」）は列テストスイッチレジスタ２９０の残りの部分（２からＮの列）に記憶され、これにより当該２からＮの列についての列テストスイッチを開く制御信号が生成される。また、データ値（例えば「０」）が転換スイッチレジスタ２９５に記憶され転換スイッチ２８５を第１のポジションにする制御信号が供給され、共通テストライン２８６が比較器２８８の第１入力に接続され、発生器２７０の出力が比較器２８８の第２入力に接続されるようにしている。
【００２３】
その後、テスト回路によって列１の列ドライバ２３０へディジタル入力データが供給され、その動作範囲のデータ値においてステップ移行される。例えば、ディジタル入力データがＰビットデータである場合、当該ディジタル入力データは、その動作範囲において０から（２^Ｐ−１）まで１インクリメントずつステップ移行させられる。当該動作範囲の値においてステップ移行されるディジタル入力データに応じて、列ドライバ２３０は、アナログデータを第１の列ライン２２０に、そしてこれにより共通テストライン２８６に供給する。このとき、行ドライバ２６０の１つは、行ライン２５０の１つを駆動するよう走査信号を供給し、当該第１列のスイッチングデバイス２１２の１つをオンとする。図２においてＣ_ｐとして示される共通テストライン２３６の寄生容量と共に、選択された行ライン２５０（スイッチングデバイス２１２及び記憶デバイス２１４を含む）と当該第１の列とによる画素２１０は、列ドライバ２３０からのアナログデータに負荷をかけ、列ライン２２０にデータ電圧が生じる。
【００２４】
一方、当該データ値範囲においてステップ移行される列ドライバ２３０に供給されるディジタル入力データに同期して、発生器２７０は、精細階段状（傾斜）基準信号を比較器２８８に供給するよう構成される。当該包括的精細階段状基準信号は、画像データを表示するために液晶画素２１０に供給されるべき電圧範囲に及ぶ単調かつ均等に増加する階段状の基準電圧に相当する。ディジタル入力データ値の各々について、この精細階段状基準信号は対応の基準電圧を生成する。最大画素電圧がＸボルトである場合であって、かつ当該装置へ入力するディジタルデータのビット数がＰビットである場合、当該精細階段状基準信号の各ステップは、
１） ステップサイズ＝Ｘ／（２^Ｐ−１）
である。故に、例えばＸ＝１５ボルトでＰが８ビットである場合は、ステップサイズ＝１５／２５５＝０．５８８ボルトとなる。このディジタル入力データ値のステップ毎に、精細階段状基準信号は、対応する電圧ステップを有する。
【００２５】
なお、発生器２７０は、ＬＣＤ装置２００に含まれていなくてもよく、代わりに較正処理においてＬＣＤ装置２００に精細階段状基準信号を供給するテスト用に備えた手段の如き外部回路の一部とすることも可能である。
【００２６】
このとき、列ドライバ２３０へのディジタル入力データ及び包括的精細階段状包括基準信号の各ステップにつき、比較器２８８は、第１列ライン２２０に生じたデータ電圧を発生器２７０により発生された精細階段状基準信号の電圧と比較し、これに応じて第１データエラー値を発生する。比較器２８８により発生される第１データエラー値は、一時的にレジスタ又はメモリ（図示せず）に記憶される。
【００２７】
但し、かかる第１データエラー値は、比較器２８８のオフセット電圧により当該精細階段状基準信号電圧と列ライン２２０に現われる実際のデータ電圧との間における真のデータエラー値とは僅かな差を有することとなる。したがって、好適実施例においては、比較器２８８への２つの入力信号を切り換え、第２データエラー値を測定し、当該第１及び第２データエラー値の大きさを平均化することによって比較器２８８のオフセット電圧を除去することを可能としている。
【００２８】
その後、データ値（例えば「１」）が第１列テストスイッチレジスタ２９０に記憶されて第１列テストスイッチレジスタ２９０が第１列テストスイッチ２８０の制御端子に制御信号を発生し第１列テストスイッチ２８０を閉成させ列１を列テストライン２８６に接続し、データ値（例えば「０」）が列テストスイッチレジスタ２９０の残り（列２からＮ）に記憶されこれにより列２からＮについての列テストスイッチ２８０を開くとともに、第２のデータ値（例えば「１」）が転換スイッチレジスタ２９５に記憶され転換スイッチ２８５を第２のポジションにして共通テストライン２８６が当該比較器の第２入力に接続され発生器２７０の出力が比較器の第１入力に接続されるようにしている。換言すれば、比較器２８８への２つの入力信号は、第２のデータエラー値が測定可能でかつ比較器２８８のオフセット電圧が除去可能となるように切り換えられるのである。
【００２９】
したがって、もう１度、その範囲のデータ値（例えば０から２^ｐ−１）においてステップ移行される列１の列ドライバ２３０に供給されるディジタル入力データと同期して、精細階段状基準信号も、その対応する範囲の電圧においてステップ移行される。当該ディジタル入力データ及び精細階段状基準信号の各ステップについて、比較器２８８は、第１列ライン２２０に生じた電圧を、発生器２７０により発生された精細階段状基準信号電圧と比較する。当該精細ディジタル入力データ及び精細階段状基準信号の各ステップについて、比較器２８８により第２のデータエラー値が生成されレジスタ又はメモリ（図示せず）に一時的に記憶される。
【００３０】
各ディジタル入力データ値について、第１及び第２のデータエラー値の絶対値が平均化され、較正データエラー値が生成される。比較器２８８の２つの入力の間で転換スイッチ２８５の出力を転換し当該第１及び第２データエラー値を平均化することにより、この較正回路及び方法は、その比較器のオフセット電圧を相殺し、より正確な較正データエラー値を生成する。各ディジタル入力データ値についての較正データエラー値は、メモリに記憶され、ＬＣＤ装置２００の後の画像表示動作において、第１の列ライン２２０の列ドライバ２３０により、当該列ドライバ２３０及び列ライン２２０における非線形性について補正し正確で高分解能の極めて単調な輝度範囲を作るために用いられる。
【００３１】
例えば、ＬＣＤ装置２００の画像表示動作において、外部画像発生器から受信したディジタル入力データ値に応答し、これに対応する較正データエラー値がメモリ（例えばルックアップテーブル）から得られる。その場合、メモリから取得した較正データエラー値は、ディジタル入力データ値に加算（又は当該値から減算）され、列ドライバ２３０により処理されるべき較正ディジタルデータ値を生成し、該当する列ライン２２０のための較正されたアナログデータ電圧を提供するようにしている。
【００３２】
ＬＣＤ装置２００の第２の列を較正するため、データ値（例えば「１」）が第２列テストスイッチレジスタ２９０にシフト入力され第２列テストスイッチレジスタ２９０が第２列テストスイッチ２８０の制御端子に制御信号を発生し第２列テストスイッチ２８０を閉成し列２を共通テストライン２８６に接続するようにするとともに、データ値（例えば「０」）が列テストスイッチレジスタ２９０の残り（列１及び３からＮ）に記憶され、これにより列１及び３からＮについての列テストスイッチ２８０を開く。そして、列２の較正データエラー値を生成するように上述した処理（手順）が繰り返される。かかる処理は、ＬＣＤ装置２００の各列の各ディジタル入力データ値について較正データエラー値を生成するよう列３からＮまで繰り返される。
【００３３】
上記例においては、第１及び第２のデータエラー値は、後の列についてデータエラー値が得られる前に第１の列につき両方が得られるものである。しかし、これとは異なり、先ず第１のデータエラー値の全てを列１からＮの全てにつき得て、その後列１からＮの全てについて第２のデータエラー値の全てを得ることができる点に留意するべきである。また、比較器オフセットが極端に小さい場合、又は当該ＬＣＤ装置に含まれる比較器の全てのオフセット電圧が極めて厳密に一致する場合、転換スイッチを全部排除し各ディジタル入力データ値についての較正データエラー値として１つのデータエラー値の単一の測定のみ行うことができる。
【００３４】
図３は、本発明の少なくとも１つの態様による画像表示装置の第２の実施例を示している。この第２の実施例は、ＬＣＤ装置３００について説明される。
【００３５】
第２実施例ＬＣＤ装置３００は、専用の較正行ライン３５５に接続されさらに専用の複数の較正スイッチ３７５に接続される専用の較正行ドライバ３６５を含むこと以外は、第１実施例ＬＣＤ装置２００と同様に動作する。較正スイッチ３７５は、画素スイッチングデバイス３１２と同じにするのが有利である。したがって、ＬＣＤ装置３００の較正において、その専用の較正行ドライバ３６５は、走査信号を当該専用の較正行ライン３５５に供給し現に較正されている列の専用較正スイッチ３７５の１つをオンにする。図３にＣ_ｐとして示される共通テストライン３８６の寄生容量と共に、現に較正中の列の専用較正スイッチ３７５は、列ドライバ３３０からの当該アナログデータに負荷をかける。較正行３６５は記憶デバイス３１４を含まないので、較正中に列ライン３２０に呈される負荷は減少し、実際の画素３１０が画像表示動作において駆動されるときに当該列ラインに呈する負荷に、より近くなる。
【００３６】
図４は、本発明の少なくとも１つの態様による第３の好適実施例ＬＣＤ装置４００を示している。簡明とするため、本発明に関係するＬＣＤ装置４００の部分が描かれている。
【００３７】
この第３実施例ＬＣＤ装置４００は、第３実施例ＬＣＤ装置３００が複数の比較器４８８と、それぞれ比較器４８８に関連付けられた複数の較正スイッチ４８５と、それぞれ比較器４８８に関連付けられた複数の較正テスト値レジスタ４９８とを含むことを除いて、第２実施例ＬＣＤ装置３００と同様に動作する。好ましい実施例においては、較正テスト値レジスタ４９８はシフトレジスタとして構成される。
【００３８】
この第３実施例において、複数の列が共にグループ化され、分離独立した共通テストライン４８６及び比較器４８８は各グループの列に専用のものとされる。第３実施例は、第１及び第２実施例に匹敵する補助的又は予備的回路を含むが、次のような効果を奏する。第１には、グループの列ライン数及び各共通テストライン４８６の長さを選択することによって、較正中に寄生容量Ｃ_ｐにより列ライン４２０に与えられる負荷インピーダンスは、画像表示動作において実際の画素４１０が駆動されるときに当該列ラインに与えられる負荷とより厳密に整合するように適合可能である。第２には、異なるグループの列は較正処理において同時にアドレス指定可能であり、かかる較正処理は、より迅速に行うことができるという点である。
【００３９】
ここでは、好ましい実施例が開示されているが、本発明の概念及び範囲内で数多くの変形例が可能である。例えば、かかる好適実施例について上述した較正スイッチは、当該２つの入力信号が当該比較器に供給するための端子を切り換えるスイッチその他回路の組み合わせによって置き換えることもでき。また、列スイッチの幾つか或いは全部を多極多出力スイッチに代えることもできる。このような変形例は、通常の当業者であれば、ここで提示した詳細な説明、図面及び特許請求の範囲を正しく読んだ後に明らかなものとなる。したがって、本発明は、添付した請求の範囲の精神及び範囲内の他は何ら限定されるものではないのである。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来技術の液晶表示（ＬＣＤ）装置を示す図。
【図２】自己較正ＬＣＤ装置の第１実施例を示す図。
【図３】自己較正ＬＣＤ装置の第２実施例を示す図。
【図４】自己較正ＬＣＤ装置の第３実施例を示す図。

Claims (25)

1. 行及び列のマトリクスに配列された複数の画素を有する液晶表示装置であって、これら画素の各々は、
   ・第１及び第２端子並びに制御端子を有する画素スイッチングデバイスと、
   ・前記画素スイッチングデバイスの前記第１端子に接続される記憶デバイスと、
   ・前記画素スイッチングデバイスの前記第２端子に接続される複数の列ラインと、
   ・前記列ラインに接続されこれにデータ電圧を供給する複数の列ドライバと、
   ・前記画素スイッチングデバイスの前記制御端子に接続され、前記画素スイッチングデバイスの前記第１及び第２端子を選択的に接続するための複数の走査ラインと、
   ・前記列ラインのうちの選択された１つに接続される第１端子と第２端子とを有する列スイッチであって、対応する制御信号に応じて当該選択列ラインのデータ電圧を当該列スイッチの第２端子に選択的にデータ電圧を供給する少なくとも１つの列スイッチと、
   ・当該選択列ラインに接続され前記列スイッチから当該選択列ラインのデータ電圧を受信する第１入力と、基準電圧を受ける第２入力と、前記基準電圧と前記データ電圧との差を表す較正データエラー値を発生する出力とを有する比較器と、
   を含む、
   液晶表示装置。
2. 請求項１に記載の液晶表示装置であって、前記列スイッチからの当該選択列ラインのデータ電圧及び前記基準電圧を受ける２つの入力端子と、前記基準電圧及び当該選択列ラインのデータ電圧を前記列スイッチから前記比較器へ供給する２つの出力端子と、前記２つの入力端子のうちどれかを前記２つの出力端子のうちどれに接続するかを制御する制御端子とを有する転換スイッチをさらに有する液晶表示装置。
3. 請求項２に記載の液晶表示装置であって、前記転換スイッチの制御端子に接続され、前記転換スイッチの２つの入力端子間において当該転換スイッチの出力端子の各々を転換するための制御信号を供給するレジスタをさらに有する液晶表示装置。
4. 請求項１に記載の液晶表示装置であって、各列スイッチに対応し前記列スイッチの制御信号を供給するレジスタをさらに有する液晶表示装置。
5. 請求項１に記載の液晶表示装置であって、少なくとも１つの較正スイッチをさらに有し、各較正スイッチは、対応する列ラインに接続される第１端子と、対応する列スイッチに接続される第２端子と、較正処理において前記較正スイッチを閉じるための制御端子を有する、液晶表示装置。
6. 請求項１に記載の液晶表示装置であって、前記基準電圧を発生する電圧発生器をさらに有する液晶表示装置。
7. 請求項１に記載の液晶表示装置であって、前記電圧発生器は、階段状基準信号を発生する、液晶表示装置。
8. 行及び列のマトリクスに配列された複数の画素と、前記複数の画素に接続される複数の列ラインと、前記列ラインに接続されデータを前記画素に供給する複数の列ドライバとを含む画像表示装置のデータ電圧レベルを較正するための方法であって、
   （ａ）基準信号を発生し、
   （ｂ）ディジタル入力データ値を有するＰビットディジタル入力データを受け取り、
   （ｃ）その受け取ったディジタル入力データに応じて前記列ラインの１つにデータ電圧を発生し、
   （ｄ）前記基準信号と前記列ラインの１つに生じたデータ電圧とを比較し、これに応じて較正データエラー値を発生する、
   方法。
9. 請求項８に記載の方法であって、前記較正データエラー値を記憶することをさらに含む方法。
10. 請求項８に記載の方法であって、前記基準信号と前記列ラインの１つに生じたデータ電圧とを比較する処理には、
    ・前記基準信号及び前記データ電圧をそれぞれ比較器の第１及び第２入力に供給すること、
    ・第１データエラー値を発生すること、
    ・前記基準信号及び前記データ電圧をそれぞれ前記比較器の第２及び第１入力に供給すること、
    ・第２データエラー値を発生すること、及び
    ・前記第１及び第２データエラー値から当該較正データエラー値を発生すること、
    を有する、方法。
11. 請求項１０に記載の方法であって、前記較正データエラー値の絶対値を計算する処理には、前記第１及び第２データエラー値の絶対値を平均化することを有する、方法。
12. 請求項８に記載の方法であって、
    （ｅ）ステップ（ｃ）を行うとともに、当該受信ディジタル入力データに応じて前記列ラインのもう１つに第２データ電圧を生成すること、及び
    （ｆ）ステップ（ｄ）を行うとともに、前記基準信号と当該もう１つの列ラインに呈された第２のデータ電圧とを比較し、これに応じて第２較正データエラー値を発生すること、
    をさらに有する方法。
13. 請求項８に記載の方法であって、
    （ｅ）０から２^Ｐ−１の範囲に及ぶ複数のディジタル入力値について前記ステップ（ａ）から（ｄ）を繰り返すこと、
    をさらに有する、方法。
14. 請求項１３に記載の方法であって、前記ステップ（ａ）から（ｅ）は、前記画像表示装置の各列ラインについて繰り返される、方法。
15. 請求項８に記載の方法であって、前記ステップ（ａ）から（ｄ）は、前記画像表示装置の複数の列ラインの各々につき繰り返される、方法。
16. 画像表示装置であって、
    ・行及び列のマトリクスに配列された複数の画素と、
    ・対応する１列の画素に各々が接続される複数の列ラインと、
    ・データ電圧を前記列ラインの１つに供給する列ドライバと、
    ・前記データ電圧を基準電圧と比較し、これに応じて前記データ電圧と前記基準電圧との差を示す較正データエラー値を生成する手段と、
    を有する画像表示装置。
17. 請求項１６に記載の装置であって、前記基準電圧を前記データ電圧と比較する手段は、前記基準電圧及び前記データ電圧をそれぞれ受ける２つの入力を有する比較器を含む、装置。
18. 請求項１７に記載の装置であって、対応する制御信号に応じて前記比較器の２つの入力の一方に当該１つの列ラインを選択的に接続し前記データ電圧を供給する列スイッチをさらに有する、装置。
19. 請求項１８に記載の装置であって、データ値を記憶しこのデータ値に応じて前記列スイッチの制御信号を供給するレジスタをさらに有する、装置。
20. 請求項１８に記載の装置であって、前記基準電圧及び前記データ電圧を受ける２つの入力端子と、前記比較器の２つの入力に前記基準電圧及び前記データを供給する２つの出力端子と、前記２つの入力端子のどれを前記２つの出力端子のどれに接続するかを制御する制御端子とを有する転換スイッチをさらに有する装置。
21. 請求項２０に記載の装置であって、前記転換スイッチの制御端子に接続され前記転換スイッチの前記２つの入力端子間において前記転換スイッチの出力端子の各々を転換するよう制御信号を供給するレジスタをさらに含む装置。
22. 請求項１６に記載の装置であって、少なくとも１つの較正スイッチをさらに有し、各較正スイッチは、対応する列ラインに接続される第１端子と、前記基準電圧と前記データ電圧とを比較する手段に接続される第２端子と、較正処理において前記較正スイッチを閉じるための制御端子とを具備する、装置。
23. 請求項１６に記載の装置であって、
    ・前記列ラインの第２のラインに第２データ電圧を供給する第２列ドライバと、
    ・前記基準電圧と前記第２データ電圧とを比較しこれに応じて第２較正データエラー値を生成する手段と、
    をさらに有する、装置。
24. 請求項２３に記載の装置であって、前記第１及び第２の較正データエラー値は、同時に生成される、装置。
25. 請求項１６に記載の装置であって、前記較正データエラー値を記憶する手段をさらに有する、装置。

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