JP2005322826A - 固体撮像装置およびその製造方法 - Google Patents

固体撮像装置およびその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 固体撮像装置の静電気耐破壊性を維持しつつ、カメラの小型化を可能にする固体撮像装置を提供する。
【解決手段】 入射光を光電変換することにより生じた信号電荷を転送し、信号電荷を電気信号に変換して撮像信号として出力する撮像部100と、信号用電極パッド111、電源用電極パッド112および保護回路113を有する周辺回路部110とを備え、保護回路113は、相互に逆方向のダイオード320、330を有し、外部から侵入した静電気を電源用電極パッド112に逃がす。
【選択図】 図1

Description

本発明は、固体撮像装置に関し、特に電源種類の低減、端子数の削減を可能にする固体撮像装置に関するものである。
一般的に、カメラ、特にデジタルスチルカメラの撮像装置を構成する固体撮像装置には、CCD(Charge Coupled Device)型固体撮像装置が利用されている。
図9は、従来のCCD型固体撮像装置の概略上面図である(例えば、特許文献1参照)。
図9に示されるように、従来の固体撮像装置は、1チップの半導体基板920の主面上に、被写体を撮像する撮像部900と、周辺回路部910とが形成されてなる。
撮像部900には、図示しないが、フォトダイオード、垂直CCD、水平CCDおよび出力アンプが設けられており、撮像部900は、入射光を光電変換することにより生じた信号電荷を転送し、信号電荷を電気信号に変換して撮像信号として出力する。
周辺回路部910には、信号の入出力用の9個の信号用電極パッド911と、電源電圧供給用の2個の電源用電極パッド912と、外部から侵入した静電気から撮像部900を保護する保護回路913と、外部から侵入した静電気が逃がされる静電気用電極パッド914とが設けられている。
信号用電極パッド911は、垂直CCDを駆動させる4相のパルスV1、V2、V3およびV4が供給される電極パッドと、水平CCDを駆動させる2相のパルスH1およびH2が供給される電極パッドと、水平CCDから信号電荷が送られてくる浮遊拡散層をリセットさせるパルスRGが供給される電極パッドと、フォトダイオードで生じる過剰電荷を排出させるオーバーフローバリアを設定し、またフォトダイオードの信号電荷を強制的に排出させる電子シャッター動作を実現させるパルスSUBが供給される電極パッドと、出力アンプからの撮像信号を出力する電極パッドとからなる。
電源用電極パッド912は、出力アンプ等の電源電圧Vodが供給される電極パッドと、基準電圧Vwellが供給される電極パッドとからなる。
静電気用電極パッド914には、パルスV1、V2、V3あるいはV4の低レベルの電圧と同じ電圧Vssが外部から供給される。
保護回路913は、静電気用電極パッド914にアノードが接続され、信号用電極パッド911のいずれか1つにカソードが接続されたダイオードを有し、外部から信号用電極パッド911に侵入した静電気を静電気用電極パッド914に逃がし、撮像部900を保護する。例えば、パルスV1、V2、V3およびV4が供給される信号用電極パッド911と接続された保護回路913は、パルスV1、V2、V3およびV4が供給される信号用電極パッド911に侵入した静電気を逃がし、垂直CCDの駆動電極を保護する。
特許3313125号公報(第1−3頁、第15図)
ところで、近年、カメラに対して更なる小型化が求められている。
しかしながら、従来の固体撮像装置では、約80〜100μmという大きな幅を有する電極パッドが、約40μmの間隔で半導体基板上に12個も形成される。よって、半導体基板の面積、および固体撮像装置と接続されるフレキシブルシート等の実装基板の面積が大きくなり、カメラに対する小型化の要望に応えることができないという問題がある。例えば、電子内視鏡のカメラに使用されている固体撮像装置においては、図10に示されるように、半導体基板1000の特定の1辺に電極パッド1010を一列に並べ、それらとフレキシブルシート1020の電極パッドとを接続するという構造がとられる。よって、半導体基板の幅は、約1.5mmと大きくなる。
そこで、本発明は、かかる問題点に鑑み、固体撮像装置の静電気耐破壊性を維持しつつ、カメラの小型化を可能にする固体撮像装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の固体撮像装置は、入射光を信号電荷に光電変換する光電変換手段を有し、前記光電変換手段の信号電荷を転送し、信号電荷を電気信号に変換して撮像信号として出力する撮像部と、前記撮像部を静電気から保護する保護回路と、前記撮像部に電源電圧を供給する電源用電極パッドとを備え、前記保護回路は、前記電源用電極パッドに外部からの静電気を逃がすことを特徴とする。ここで、前記撮像部は、正電圧および負電圧の電圧レベルを有するパルスにより信号電荷を転送し、前記電源用電極パッドには、前記パルスの正電圧と同じかそれ以上の電源電圧が供給されてもよいし、前記固体撮像装置は、さらに、信号の入出力用の信号用電極パッドを備え、前記保護回路は、第1のダイオードを有し、前記第1のダイオードのカソードは、前記電源用電極パッドと接続され、前記第1のダイオードのアノードは、前記信号用電極パッドと接続されてもよいし、前記信号用電極パッドには、信号電荷の転送に用いられるパルスが供給されてもよい。また、前記保護回路は、第1導電型の半導体基板に形成され、前記半導体基板は、前記保護回路が形成される部分において、前記半導体基板上部に形成された第1導電型と反対極性の第2導電型の第1領域と、前記第1領域表面に形成され、前記電源用電極パッドと接続された第1導電型の第2領域と、前記第2領域表面に形成され、前記信号用電極パッドと接続された第2導電型の第3領域とを有してもよい。
これによって、静電気を逃がすための専用の電極パッドを設けることなく、外部から侵入した静電気を逃がすことができるので、固体撮像装置の静電気耐破壊性を維持しつつ、カメラの小型化を可能にする固体撮像装置を実現することができる。また、固体撮像装置と接続される実装基板の電極パッドおよび配線を減らすことができるので、更なるカメラの小型化を可能にする固体撮像装置を実現することができる。また、電源種類の低減および端子数の削減を可能にする固体撮像装置を実現することができる。
また、前記保護回路は、さらに、第2のダイオードを有し、前記第2のダイオードのカソードは、前記第1のダイオードのカソードと接続され、前記第2のダイオードのアノードは、グラウンドと接続されてもよい。
これによって、撮像部に侵入した静電気をグラウンドにも逃がすことができるので、固体撮像装置の静電気耐破壊性を向上させることができる。
また、前記第1のダイオードは、複数のダイオードが並列に接続されてなり、前記第2領域表面には、島状の複数の前記第3領域が形成されてもよい。
これによって、pn接合の面積を増やし、保護回路が逃がす静電気の量を増やすことができるので、固体撮像装置の静電気耐破壊性を更に向上させることができる。また、ダイオードの配置を自由に選択することができるので、固体撮像装置を小型化することができる。
また、前記固体撮像装置は、前記光電変換手段の信号電荷を強制的に排出させる電子シャッター機能を有し、前記半導体基板は、さらに、前記保護回路が形成される部分において、前記第1領域内の前記第2領域下方に形成された第2導電型の第4領域を有し、前記第4領域は、前記第1領域よりも高不純物濃度の領域であってもよい。
これによって、保護回路への電子シャッター動作の影響を無くすことができる。
また、前記光電変換手段は、前記半導体基板に形成され、前記半導体基板は、前記光電変換手段が形成される部分において、前記半導体基板上部に形成された第2導電型の第1領域と、前記第1領域表面に形成された第1導電型の第5領域と、前記第5領域表面に形成された第2導電型の第6領域とを有してもよいし、前記半導体基板は、さらに、前記保護回路が形成される部分において、前記第3領域表面に形成された第2導電型の第7領域を有し、前記第6領域および前記第7領域は、それぞれ前記第5領域および前記第3領域に、同一の不純物を同一条件で注入して形成されてもよい。
これによって、光電変換手段および保護回路を形成するための工程を減らすことができるので、固体撮像装置の製造を容易化することができる。
また、前記固体撮像装置は、さらに、前記保護回路と前記電源用電極パッドとを接続する第1の配線と、前記撮像部と前記電源用電極パッドとを接続する第2の配線とを備え、前記第1の配線および第2の配線は、独立に配線されていてもよいし、前記電源用電極パッドは、第1の電極パッドと、第2の電極パッドとからなり、前記第1の配線は、第1の電極パッドと接続され、前記第2の配線は、第2の電極パッドと接続されてもよい。
これによって、保護回路と撮像部とを電気的に分離することができるので、保護回路から撮像部への飛び込み電圧を起因とする、撮像部に供給する電圧の振れを防止することができる。
本発明に係る固体撮像装置によれば、固体撮像装置の静電気耐破壊性を維持しつつ、カメラの小型化を可能にする固体撮像装置を実現できる。また、高い静電気耐破壊性を有する固体撮像装置を実現できる。
よって、本発明により、固体撮像装置の静電気耐破壊性を維持しつつ、カメラの小型化の小型化を可能にする固体撮像装置を提供することが可能となり、実用的価値は極めて高い。
以下、本発明の実施の形態における固体撮像装置について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本実施の形態のCCD型固体撮像装置の概略上面図である。
本実施の形態のCCD型固体撮像装置は、1チップの半導体基板120の主面上に、被写体を撮像する撮像部100と、周辺回路部110とが形成されてなる。
撮像部100には、図示しないが、2次元状に配置され、光電変換した信号電荷を蓄積する複数のフォトダイオードと、フォトダイオードによって生成した信号電荷を垂直方向に転送する複数の垂直CCDと、各垂直CCDによって転送された信号電荷を水平方向に転送する1つまたは複数の水平CCDと、水平CCDによって転送された信号電荷を電気信号に変換し、撮像信号として出力する出力アンプとが設けられている。
周辺回路部110には、信号の入出力用の9個の信号用電極パッド111と、電源電圧供給用の2個の電源用電極パッド112と、外部から侵入した静電気から撮像部100を保護する保護回路113とが設けられている。
信号用電極パッド111は、垂直CCDを駆動させる4相のパルスV1、V2、V3およびV4が供給される電極パッドと、水平CCDを駆動させる2相のパルスH1およびH2が供給される電極パッドと、水平CCDから信号電荷が送られてくる浮遊拡散層をリセットさせるパルスRGが供給される電極パッドと、フォトダイオードで生じる過剰電荷を排出させるオーバーフローバリアを設定し、またフォトダイオードの信号電荷を強制的に排出させる電子シャッター動作を実現させるパルスSUBが供給される電極パッドと、出力アンプからの撮像信号を出力する電極パッドとからなる。ここで、パルスV1、V2、V3およびV4は、正電圧および負電圧の電圧レベルを有するパルスである。
電源用電極パッド112は、出力アンプ等の電源電圧Vodが供給される第1の電極パッド112aと、基準電圧Vwellが供給される第2の電極パッド112bとからなる。ここで、電圧Vodは、パルスV1、V2、V3あるいはV4の正電圧と同じかそれ以上となるように設定される。例えば、パルスV2およびV4が0、−7Vの2値をとるパルスであり、パルスV1およびV3が図2に示されるような12、0、−7Vの3値をとるパルスである場合には、電圧Vodは12Vに設定される。
保護回路113は、カソードが第1の電極パッド112aに接続され、アノードが信号用電極パッド111のいずれか1つに接続されたダイオード320と、カソードがダイオード320のカソードに接続され、アノードがグラウンドに接続されたダイオード330とを有する。保護回路113は、外部から信号用電極パッド111に侵入した静電気を第1の電極パッド112aに逃がし、大きな静電気が信号用電極パッド111に侵入した場合には、グラウンドにも静電気を逃がし、撮像部100を保護する。例えば、パルスV1、V2、V3およびV4が供給される信号用電極パッド111と接続された保護回路113は、パルスV1、V2、V3およびV4が供給される信号用電極パッド111に侵入した静電気を逃がし、垂直CCDの駆動電極を保護する。なお、ダイオード330のアノードのグラウンドとの接続は、例えば第2の電極パッド112bにダイオード330のアノードを接続することにより実現される。
ここで、図3に示されるように、第1の電極パッド112aと保護回路113とを接続する保護回路用配線と、第1の電極パッド112aと撮像部100とを接続する撮像部用配線とは、独立に配線され、第1の電極パッド112aからは2つの配線が引き出される。
図4は、撮像部100の断面図(フォトダイオード周辺部分の断面図)、および周辺回路部110の断面図(保護回路113周辺部分の断面図)である。
周辺回路部110においては、半導体基板であるn型シリコン基板400の上部にp型ウエル領域410が形成され、このp型ウエル領域410の表面には、n型ウエル領域420およびp型不純物拡散領域430が形成される。また、p型ウエル領域410のn型ウエル領域420下方には、保護回路113が電子シャッター動作の影響を受けないように、p型ウエル領域440が形成される。
n型ウエル領域420の表面には、n型不純物拡散領域450と、p型不純物拡散領域461が表面に形成されたp型不純物拡散領域460とが形成されている。また、p型不純物拡散領域430の表面には、p型不純物拡散領域461が形成される。ここで、p型不純物拡散領域460のp型不純物拡散領域461がアノードとなり、n型不純物拡散領域450がカソードとなってダイオード320が構成される。また、p型不純物拡散領域430のp型不純物拡散領域461がアノードとなり、n型不純物拡散領域450がカソードとなってダイオード330が構成される。このとき、ダイオード320のブレークダウン電圧は、p型不純物拡散領域460およびn型不純物拡散領域450の不純物濃度と、p型不純物拡散領域460に対するn型不純物拡散領域450の位置とにより決定される。
撮像部100においては、n型シリコン基板400の上部にp型ウエル領域410が形成され、このp型ウエル領域410の表面には、n型不純物拡散領域470およびp型不純物拡散領域480が形成される。
n型不純物拡散領域470の表面には、p型不純物拡散領域461が形成される。ここで、n型不純物拡散領域470およびp型不純物拡散領域461によりフォトダイオードが構成される。
p型不純物拡散領域480の表面には、n型転送チャネル領域481が形成される。ここで、n型転送チャネル領域481上方には、ゲート絶縁膜を介して転送電極490が形成されており、ゲート絶縁膜、n型転送チャネル領域481および転送電極490により垂直CCDが構成される。
次に、以上のような構造を有するCCD型固体撮像装置の製造方法について図5に示す断面図に沿って説明する。なお、図5に示される断面図は、撮像部100のフォトダイオード周辺部分、および周辺回路部110の保護回路113周辺部分におけるものである。
まず、図5(a)に示されるように、撮像部100および周辺回路部110において、n型シリコン基板400にp型の不純物、例えばボロンを注入し、p型ウエル領域410を形成する。
次に、図5(b)に示されるように、周辺回路部110において、p型ウエル領域410に高濃度のp型の不純物を高エネルギー注入し、p型ウエル領域440を形成した後、さらにn型の不純物を注入し、n型ウエル領域420を形成する。ここで、p型ウエル領域440およびn型ウエル領域420は、同一マスクを用いて形成される。
次に、図5(c)に示されるように、周辺回路部110において、p型ウエル領域410およびn型ウエル領域420にp型の不純物を注入し、p型不純物拡散領域460を形成する。また、撮像部100において、p型ウエル領域410にn型の不純物を注入し、n型不純物拡散領域470を形成する。
次に、図5(d)に示されるように、撮像部100において、p型ウエル領域410にp型の不純物を注入し、p型不純物拡散領域480を形成した後、p型不純物拡散領域480にn型の不純物を注入し、n型転送チャネル領域481を形成する。そして、n型転送チャネル領域481上にゲート絶縁膜および転送電極490を形成する。
最後に、図5(e)に示されるように、撮像部100および周辺回路部110において、n型不純物拡散領域470およびp型不純物拡散領域460に高濃度のp型の不純物を注入し、p型不純物拡散領域461を形成する。そして、周辺回路部110において、n型ウエル領域420に高濃度のn型の不純物を注入してn型不純物拡散領域450を形成する。
以上のように本実施の形態のCCD型固体撮像装置によれば、外部から信号入出力用の電極パッドに侵入した静電気を電源電圧供給用の電極パッドに逃がし、従来のCCD型固体撮像装置のように、静電気を逃がすための静電気用の電極パッドを設けない。よって、約80〜100μmという大きな幅を有する電極パッドの数を1つ減らすことができ、半導体基板の面積(図1の破線で示される部分の面積)を削減することができるので、本実施の形態のCCD型固体撮像装置は、固体撮像装置の静電気耐破壊性を維持しつつ、カメラの小型化を可能にするCCD型固体撮像装置を実現することができる。また、固体撮像装置と接続される実装基板の電極パッドおよび配線を1つ減らすことができ、実装基板の面積を削減することができるので、本実施の形態のCCD型固体撮像装置は、更なるカメラの小型化を可能にするCCD型固体撮像装置を実現することができる。
以上、本発明に係る固体撮像装置について実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではなく、本発明の範囲を逸脱することなく種々の変形または修正が可能であることはいうまでもない。
例えば、上記実施の形態では、図3に示されるように、第1の電極パッド112aからは2つの配線が引き出されるとした。しかし、図6に示されるように、第1の電極パッド112aに加えて、電圧Vodが供給され、外部から侵入した静電気が逃がされる静電気用電極パッド610を周辺回路部110に設け、静電気用電極パッド610と保護回路113とを保護回路用配線で接続しても構わない。この場合には、実装基板の電圧Vodを供給する電極パッドから2つの配線が引き出され、第1の電極パッド112aおよび静電気用電極パッド610に接続される。これによって、保護回路113と撮像部100とを電気的に分離することができるので、保護回路113から撮像部100への飛び込み電圧を起因とする電圧Vodの振れを防止することができる。
また、上記実施の形態では、保護回路113は、ダイオード320を1つ有するとしたが、電気的に並列に接続された複数のダイオード320を有しても構わない。この場合には、図7の周辺回路部110の上面図(保護回路113周辺部分の上面図)に示されるように、p型不純物拡散領域461を有する島状の、例えば幅3〜5μmのp型不純物拡散領域460がn型ウエル領域420の表面に複数形成される。これによって、pn接合の面積を増やし、保護回路が逃がす静電気の量を増やすことができるので、固体撮像装置の静電気耐破壊性を向上させることができる。
また、図8の保護回路113におけるダイオード320のレイアウト図に示されるように、ダイオード320の配置を自由に選択することができるので、固体撮像装置を小型化することができる。すなわち、ダイオード320の配置を調節することで、電極パッド間あるいは配線の隙間等に保護回路113を形成することができるので、半導体基板に保護回路113形成のための場所を確保する必要が無くなり、半導体基板の面積を削減することができる。
本発明は、固体撮像装置に利用でき、特に電子内視鏡のカメラに使用されているCCD型固体撮像装置等に利用することができる。
本発明の本実施の形態のCCD型固体撮像装置の概略上面図である。 垂直CCDを駆動させるパルスの波形の一例を示す図である。 撮像部100および保護回路113と第1の電極パッド112aとを接続する配線を説明するための図である。 撮像部100の断面図(フォトダイオード周辺部分の断面図)、および周辺回路部110の断面図(保護回路113周辺部分の断面図)である。 同実施の形態のCCD型固体撮像装置の製造方法を説明するための撮像部100の断面図(フォトダイオード周辺部分の断面図)、および周辺回路部110の断面図(保護回路113周辺部分の断面図)である。 撮像部100および保護回路113と第1の電極パッド112aおよび静電気用電極パッド610とを接続する配線を説明するための図である。 周辺回路部110の上面図(保護回路113周辺部分の上面図)である。 保護回路113におけるダイオード320のレイアウト図である。 従来のCCD型固体撮像装置の概略上面図である。 電子内視鏡のカメラの斜視図である。
符号の説明
100、900 撮像部
110、910 周辺回路部
111、911 信号用電極パッド
112、912 電源用電極パッド
112a 第1の電極パッド
112b 第2の電極パッド
113、913 保護回路
120、920、1000 半導体基板
320、330 ダイオード
400 n型シリコン基板
410 p型ウエル領域
420 n型ウエル領域
430、460、480 p型不純物拡散領域
440 p型ウエル領域
450 n型不純物拡散領域
461 p型不純物拡散領域
470 n型不純物拡散領域
481 n型転送チャネル領域
490 転送電極
610、914 静電気用電極パッド
1010 電極パッド
1020 フレキシブルシート

Claims (14)

  1. 入射光を信号電荷に光電変換する光電変換手段を有し、前記光電変換手段の信号電荷を転送し、信号電荷を電気信号に変換して撮像信号として出力する撮像部と、
    前記撮像部を静電気から保護する保護回路と、
    前記撮像部に電源電圧を供給する電源用電極パッドとを備え、
    前記保護回路は、前記電源用電極パッドに外部からの静電気を逃がす
    ことを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記撮像部は、正電圧および負電圧の電圧レベルを有するパルスにより信号電荷を転送し、
    前記電源用電極パッドには、前記パルスの正電圧と同じかそれ以上の電源電圧が供給される
    ことを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記固体撮像装置は、さらに、信号の入出力用の信号用電極パッドを備え、
    前記保護回路は、第1のダイオードを有し、
    前記第1のダイオードのカソードは、前記電源用電極パッドと接続され、前記第1のダイオードのアノードは、前記信号用電極パッドと接続される
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の固体撮像装置。
  4. 前記保護回路は、さらに、第2のダイオードを有し、
    前記第2のダイオードのカソードは、前記第1のダイオードのカソードと接続され、前記第2のダイオードのアノードは、グラウンドと接続される
    ことを特徴とする請求項3に記載の固体撮像装置。
  5. 前記信号用電極パッドには、信号電荷の転送に用いられるパルスが供給される
    ことを特徴とする請求項3又は4に記載の固体撮像装置。
  6. 前記保護回路は、第1導電型の半導体基板に形成され、
    前記半導体基板は、前記保護回路が形成される部分において、前記半導体基板上部に形成された第1導電型と反対極性の第2導電型の第1領域と、前記第1領域表面に形成され、前記電源用電極パッドと接続された第1導電型の第2領域と、前記第2領域表面に形成され、前記信号用電極パッドと接続された第2導電型の第3領域とを有する
    ことを特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の固体撮像装置。
  7. 前記第1のダイオードは、複数のダイオードが並列に接続されてなり、
    前記第2領域表面には、島状の複数の前記第3領域が形成される
    ことを特徴とする請求項6に記載の固体撮像装置。
  8. 前記固体撮像装置は、前記光電変換手段の信号電荷を強制的に排出させる電子シャッター機能を有し、
    前記半導体基板は、さらに、前記保護回路が形成される部分において、前記第1領域内の前記第2領域下方に形成された第2導電型の第4領域を有し、
    前記第4領域は、前記第1領域よりも高不純物濃度の領域である
    ことを特徴とする請求項6又は7に記載の固体撮像装置。
  9. 前記光電変換手段は、前記半導体基板に形成され、
    前記半導体基板は、前記光電変換手段が形成される部分において、前記半導体基板上部に形成された第2導電型の第1領域と、前記第1領域表面に形成された第1導電型の第5領域と、前記第5領域表面に形成された第2導電型の第6領域とを有する
    ことを特徴とする請求項6〜8のいずれか1項に記載の固体撮像装置。
  10. 前記半導体基板は、さらに、前記保護回路が形成される部分において、前記第3領域表面に形成された第2導電型の第7領域を有し、
    前記第6領域および前記第7領域は、それぞれ前記第5領域および前記第3領域に、同一の不純物を同一条件で注入して形成される
    ことを特徴とする請求項9に記載の固体撮像装置。
  11. 前記固体撮像装置は、さらに、
    前記保護回路と前記電源用電極パッドとを接続する第1の配線と、
    前記撮像部と前記電源用電極パッドとを接続する第2の配線とを備え、
    前記第1の配線および第2の配線は、独立に配線されている
    ことを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の固体撮像装置。
  12. 前記電源用電極パッドは、第1の電極パッドと、第2の電極パッドとからなり、
    前記第1の配線は、第1の電極パッドと接続され、
    前記第2の配線は、第2の電極パッドと接続される
    ことを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の固体撮像装置。
  13. 入射光を光電変換する光電変換手段と、保護回路とを備え、前記光電変換手段の信号電荷を強制的に排出させる電子シャッター機能を有する固体撮像装置の製造方法であって、
    第1導電型の半導体基板上部に、第1導電型と反対極性の第2導電型の第1領域を形成する第1領域形成工程と、
    前記半導体基板の前記保護回路が形成される部分において、前記第1領域表面に第1導電型の第2領域を形成し、前記第1領域内の前記第2領域下方に、前記第1領域よりも高不純物濃度の第2導電型の第3領域を形成する第2領域形成工程とを含み、
    前記第2領域形成工程において、同一マスクを用いて第1導電型の不純物および第2導電型の不純物を注入し、前記第2領域および前記第3領域を形成する
    ことを特徴とする固体撮像装置の製造方法。
  14. 前記固体撮像装置の製造方法は、さらに、
    前記半導体基板の前記光電変換手段が形成される部分において、前記第1領域表面に第1導電型の第4領域を形成し、前記第4領域表面に第2導電型の第5領域を形成する第4領域形成工程を含む
    ことを特徴とする請求項13に記載の固体撮像装置の製造方法。
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