JP2005308605A - 探針の位置合わせ方法、形状測定方法、測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 切削工具の状態の測定を効率良く行うことのできる形状測定方法、測定装置等を提供することを目的とする。
【解決手段】 測定装置において、レーザダイオード41から発せられるレーザ光を挟み、工具Tと探針21とが相対向するようにし、レーザ光のビーム範囲B内に工具T、探針21を挿入する。そして、工具T、探針21を、X、Y、Z方向に移動させながら、光検出器43でレーザ光の光量を検出し、その変化に基づき、工具Tと探針21を位置合わせすることができる。また、ロックインアンプを用い、レーザ光の強度を変調させる等することによって、ノイズを除去し、高精度な位置合わせが可能となる。
【選択図】図2
Description
ナノメートルオーダの加工を行うとなると、切削工具の形状誤差、磨耗による刃先形状の変化等がダイレクトに加工精度の低下につながる。このため、加工誤差の低下を少しでも防ぐことのできる技術の開発が常に求められている。
さらに、切削工具の刃先の状態の変化に応じ、切削工具の位置を補正しなければならないが、これにも手間がかかる。
これらの理由から、切削工具の状態の測定、およびその状態に応じた補正を効率良く行うことのできる技術が要求されている。
AFMでは、カンチレバーの先端位置に探針が形成され、この探針で測定対象の測定を行う。このとき、探針と測定対象の表面との間に働く原子間力を検出し、その原子間力を一定に保ちながら測定対象表面をなぞることによって、測定対象表面の形状をナノメートルオーダで測定できるものである。
本発明者らは、このようなAFMであれば、工作機械の近傍に設置したり、工作機械に組み込むこと等が可能であると考えた。
AFMにおいて、探針の位置合わせを行うには、カンチレバーを光学顕微鏡で観察しながら、測定対象部分に位置合わせするのが一般的である(例えば、特許文献1参照)。
さらに、図15(b)に示すように、測定対象2のエッジ2aにおいて、光学顕微鏡3からの観察光が散乱し、エッジ2aの視認自体が困難であるという問題もある。
ここで、測定対象物の形状の測定にAFMを用いる場合、AFMの探針を上記のようにして測定対象物に位置合わせすることができる。
このとき、測定対象物の先端が、一方向に長いものであれば、探針および測定対象物のレベルを基準光の焦点位置に合わせさえすれば、探針と測定対象物を相対的に接近させることで、双方を接触させ、測定を行うことが可能な状態となる。
しかし、上記以外の形状、つまり通常の工具のように、先端に行くにしたがい小さくなる形状の測定対象物の場合は、探針と測定対象物は、レベルだけでなく、その先端同士が対向する状態に位置合わせする必要がある。このため、探針を測定対象物に接触させるステップに先立ち、探針または測定対象物を、基準光のビーム範囲内に挿入した状態で基準光の光軸に直交する方向に沿って移動させ、この基準光の強度の変化に基づき、探針または測定対象物を基準光の光軸位置(光軸中心)に合わせるのが好ましい。
この場合、探針と測定対象物の双方を基準光の光軸位置に合わせてもよいが、まず測定対象物を基準光の光軸位置に合わせた後、探針を基準光の光軸に直交する方向に移動させて測定対象物に接触させるようにしてもよい。これにより、探針については、基準光の光軸位置に位置合わせする必要がない。
このように、探針と測定対象物の間に、レーザ光等の基準光を照射し、これを基準とすることで、光学顕微鏡を用いることなく位置合わせが行える。
探針および測定対象物は、基準光の光軸方向に振動させてもよいし、光軸に直交する方向に振動させても良い。また、基準光の位置を振動させる場合は、光学系全体を、光軸に直交する方向に振動させてもよいし、光学系を操作して、基準光の焦点位置を光軸に沿って振動させても良い。
ノイズの影響を回避する方法として、基準光の光強度を所定の周波数で変調させる方法もある。この場合、基準光の光強度を変調させた状態で、探針を測定対象物に位置合わせし、変調を発生させるための信号を基準として、基準光の強度の変化を検出する。
この場合、測定対象物を基準光の集束位置(レベル)および光軸中心に位置決めしてしまえば、探針については、基準光の集束位置(レベル)に位置決めした後に、探針を測定対象物に向けて移動させれば測定対象物に接触させることができる。
なお、このような構成においても、上記と同様のノイズ対策を組み合わせることもできる。
また、探針および測定対象物の位置、基準光の位置、基準光の光強度のいずれかを所定の周波数で振動させる振動発生手段と、振動発生手段で振動を発生させるための制御信号を基準として、検出手段で検出される基準光の光量の変化からノイズを除去するノイズ除去手段と、をさらに備えるのが好ましい。このようなノイズ除去手段としては、ロックインアンプを用いることができる。
図1は、本実施の形態における測定装置の構成を説明するための図である。
この図1に示すように、測定装置10は、測定対象物となる工具Tの形状を測定するAFM部20、測定対象となる工具Tを保持する保持部30(図2参照)、AFM部20の探針21を保持部30に保持された工具Tに位置合わせするための位置合わせ部40を備えている。
光学系42は、レーザダイオード41で発したレーザ光を所定の位置に集束(集光)させるレンズ42Aと、所定の位置で集束したレーザ光を平行光とするレンズ42Bとから構成される。
光検出器43では、受光したレーザ光の光量に応じた電気信号を出力する。
位置合わせコントローラ44では、光検出器43から出力された電気信号に基づき、工具Tと探針21を位置合わせするための情報を出力するようになっている。
これにより、工具TをX方向に移動させながら光検出器43からの検出信号を監視し、光量が最も小さくなる位置を求めることで、工具TをX方向においてX=0の位置に合わせることができる。
なお、工具Tが、X方向においてストレートな形状を有している場合は、工具TをX方向に動かしてもレーザ光の光量は変化しない。このような工具Tの場合は、Y−Z断面の形状を測定することになるため、X方向の位置合わせは不要である。
なお、工具TをY方向に移動させるのではなく、レンズ42AをY方向に移動させてレーザ光の集束位置をY方向に移動させることで、工具Tを集束位置に対し相対的に移動させることも可能である。
Z方向については、工具Tと同様に、位置合わせを行うことも可能ではあるが、図6に示すように、工具Tを先行して、X=0、Y=0、Z=0に位置合わせしておけば、探針21については、X方向、Y方向のみを位置合わせした後に、探針21をZ方向に沿って工具Tに向けて移動させれば、工具Tと探針21を接触させることが可能である。このため、位置合わせコントローラ44では、X、Y方向については工具Tの場合と同様の検出を行い、Z方向については、探針21が工具Tに接触したときのカンチレバー22の変位を検出すればよい。
工具Tと探針21を位置合わせした後は、探針21を工具Tの先端に沿って移動させることで、工具Tの先端形状を測定することができる。そして、測定した結果に基づき、工具Tを用いた工作機械における加工プログラムを補正すればよい。
このようなTダイ100を測定対象の工具Tとする場合、Tダイ100は、レーザ光のビーム径に対し、一方向(図7(a)において紙面に直交する方向、先端部100aが連続する方向)に十分に長いため、上記のようにX方向の位置合わせを行う必要はない。Tダイ100のY方向、Z方向の位置合わせのみを行った後、探針21のY方向の位置合わせを行う。これにより、Tダイ100の先端部100aと探針21がレーザ光の集束位置のレベルに合致するので、探針21をZ方向に移動させれば先端部100aに接触させることができる。この後は、探針21を先端部100aに沿ってY−Z面内で移動させることで、先端部100aの形状が測定できる。
これに対し、実際の光検出器43で光量を検出したときの出力信号は、0.06%程度のノイズを含んでいる。このため、出力信号は、例えば、図8に示したようなものとなり、高精度な位置合わせの妨げとなっている。
これには、以下に示す複数通りの手法がある。
(レーザ光強度変調)
図9に示すように、レーザダイオード41で発するレーザ光の強度を、振動発生手段としての位置合わせコントローラ44からの命令に基づき、予め決めた周波数で変調させる。レーザダイオード41で発するレーザ光の強度の制御信号は、通常一定であり、直流波形であるが、これを所定の周波数で変調させることで交流波形とするのである。そして、ロックインアンプ50では、レーザダイオード41で強度を変調させてレーザ光を発するための制御信号を参照信号として入力し、光検出器43で検出される光量を示す出力信号を検出する。光検出器43の出力信号のうち、レーザ光の変調に起因する成分と、ロックインアンプ50に入力される参照信号は等しいので、同期検波の原理により、光検出器43の出力信号から、レーザ光の変調周波数と一致する成分を直流信号として取り出すことができる。これにより、ノイズを除去し、高精度な位置合わせが可能となる。
また、これに代わる手法として、図10に示すように、レーザダイオード41で発するレーザ光の光軸位置を、予め決めた周波数で振る(振動させる、位置を移動させる)こともできる。この場合は、レーザダイオード41および光学系42を、アクチュエータ(振動発生手段)60で、X−Z面内、あるいはY方向に振動させるのが好ましい。そして、このアクチュエータ60の制御信号をロックインアンプ50の参照信号とし、光検出器43の出力信号から、レーザ光自体の位置を変動させる周波数と一致する成分を直流信号として取り出すのである。
さらに、レーザ光側は固定とし、カンチレバー22および工具Tを、予め決めた周波数で微小振動させる(位置を移動させる)こともできる。この場合、カンチレバー22は、アクチュエータ25X、25Y、25Zで振動させればよい。また工具Tについては、保持部30に、工具Tを振動させるためのアクチュエータ(振動発生手段)70を備える必要がある。そして、このアクチュエータ70の制御信号をロックインアンプ50の参照信号とし、光検出器43の出力信号から、カンチレバー22、工具Tを振動させる周波数と一致する成分を直流信号として取り出すのである。
ここで、探針21と工具Tの位置合わせに要求される精度は、AFM部20におけるアクチュエータ25X、25Y、25Zの駆動範囲である数μmである。
実施例1では、レーザ光強度変動を採用した。
レーザ光を0〜30mWの間で、10kHzの周波数でサイン波状に変動させながら、工具Tをレーザ光に対し、X方向、Y方向、Z方向に移動させ、光検出器43からの出力信号を検出した。
その結果が図11に示すものである。
図11(a)に示すように、X方向においては、出力信号が、サンプリング数800〜1100のときに最小となっていることが確認できる。このため、工具Tとレーザ光の光軸は、1.5μmの幅の範囲内、つまり±0.75μmの精度で位置合わせ可能であることが分かる。
また図11(b)に示すように、Y方向においては、出力信号が、サンプリング数900〜1100のときに最小となっていることが確認できる。このため、工具Tとレーザ光の集束位置は、1.0μmの幅の範囲内、つまり±0.50μmの精度で位置合わせ可能であると言える。
図11(c)に示すように、Z方向においては、アクチュエータ25Zの動作寸法が、1.7〜2.0μmのときに出力信号の微分値が最小となっていることが確認できる。このため、工具Tとレーザ光の光軸は、0.3μmの幅の範囲内、つまり±0.15μmの精度で位置合わせ可能であることが分かる。
その結果が図12に示すものである。
図12(a)に示すように、X方向においては、出力信号が、サンプリング数2000〜2200のときに最小となっていることが確認できる。このため、探針21とレーザ光の光軸は、0.1μmの幅の範囲内、つまり±0.05μmの精度で位置合わせ可能であることが分かる。
また図12(b)に示すように、Y方向においては、出力信号が、サンプリング数5860〜6000のときに最小となっていることが確認できる。このため、探針21とレーザ光の集束位置は、0.14μmの幅の範囲内、つまり±0.07μmの精度で位置合わせ可能であると言える。
図12(c)に示すように、Z方向においては、アクチュエータ25Zで探針21を移動させ、探針21が工具Tの先端に接触すると、出力信号が大きく変動し、位置合わせが完了したことが確認できる。
ここでは、まず、振幅1μm、周波数200Hzで工具Tが振動するよう、アクチュエータ70を作動させながら、光検出器43で検出される光量を測定した。すると、図13(a)に示すように、X方向においては、出力信号が、サンプリング数1000〜1100のときに最大となっていることが確認できる。このため、工具Tとレーザ光の光軸は、0.2μmの幅の範囲内、つまり±0.1μmの精度で位置合わせ可能であることが分かる。
また図13(b)に示すように、Y方向においては、出力信号が、サンプリング数1000〜1200のときに最大となっていることが確認できる。このため、工具Tとレーザ光の集束位置は、1.0μmの幅の範囲内、つまり±0.5μmの精度で位置合わせ可能であると言える。
図13(c)に示すように、出力信号が、サンプリング数600〜800のときに最大となっていることが確認できる。このため、工具Tとレーザ光の集束位置は、0.2μmの幅の範囲内、つまり±0.1μmの精度で位置合わせ可能であると言える。
その結果が図14に示すものである。
図14(a)に示すように、X方向においては、出力信号が、サンプリング数100〜300のときに最大となっていることが確認できる。このため、探針21とレーザ光の光軸は、±0.1μmの精度で位置合わせ可能であることが分かる。
また図14(b)に示すように、Y方向においては、出力信号が、サンプリング数400〜600のときに最大となっていることが確認できる。このため、探針21とレーザ光の集束位置は、±0.1μmの精度で位置合わせ可能であると言える。
図14(c)に示すように、Z方向においては、アクチュエータ25Zで探針21を移動させ、探針21が工具Tの先端に接触すると、出力信号が大きく変動し、位置合わせが完了したことが確認できる。
また、このような測定装置10は、工具Tを用いて加工を行う、マシニングセンタ等の多軸加工機、加工ロボット等、各種工作機械の近傍に備えるのが好ましい。さらに、測定装置10自体を、工作機械に一体に組み込む構成とすることもできる。この場合、工作機械において、工具Tをチャックするチャック機構に工具Tをチャックさせたまま、工具Tの測定を行うこともできる。その場合、チャック機構は、工具Tを測定装置10の部分まで移動させるため移動ストロークを確保する必要がある。
さらに、上記実施の形態では、工具Tとして、先端に行くにしたがい幅寸法が漸次小さくなる形状のものと、X方向にストレート状に延びる形状のTダイ100を例に挙げたが、これ以外の形状のものであっても良いのは言うまでもない。
これ以外にも、本発明の主旨を逸脱しない限り、上記実施の形態で挙げた構成を取捨選択したり、他の構成に適宜変更することが可能である。
Claims (8)
- 測定対象物の形状を測定するための探針を前記測定対象物に位置合わせする方法であって、
前記探針と前記測定対象物を対向させた状態で、前記探針と前記測定対象物の間に、基準光を照射するステップと、
前記基準光の焦点位置に、前記探針および前記測定対象物のそれぞれのレベルを合わせるステップと、
前記探針と前記測定対象物を、前記基準光の光軸に直交する方向に沿って相対的に接近させ、前記探針を前記測定対象物に接触させるステップと、
を備えることを特徴とする探針の位置合わせ方法。 - 前記探針または前記測定対象物を前記基準光のビーム範囲内に挿入した状態で前記基準光の光軸方向に沿って移動させたときの前記基準光の強度の変化に基づき、前記探針または前記測定対象物のレベルを前記基準光の焦点位置に合わせることを特徴とする請求項1に記載の探針の位置合わせ方法。
- 前記探針を前記測定対象物に接触させるステップに先立ち、
前記探針または前記測定対象物を、前記基準光のビーム範囲内に挿入した状態で前記基準光の光軸に直交する方向に沿って移動させたときの前記基準光の強度の変化に基づき、前記探針または前記測定対象物を前記基準光の光軸位置に合わせるステップをさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の探針の位置合わせ方法。 - 前記測定対象物を前記基準光の光軸位置に合わせた後、前記探針を前記基準光の光軸に直交する方向に移動させて前記測定対象物に接触させることを特徴とする請求項3に記載の探針の位置合わせ方法。
- 前記基準光の光強度を所定の周波数で変調させた状態で、前記変調を発生させるための信号と、前記基準光の強度の変化に基づき、前記探針を前記測定対象物に位置合わせすることを特徴とする請求項2から4のいずれかに記載の探針の位置合わせ方法。
- 測定対象物を基準光のビーム範囲内に挿入した状態で移動させたときの前記基準光の光量の変化に基づき、前記測定対象物を前記基準光に対して位置決めするステップと、
原子間力顕微鏡の探針を前記基準光のビーム範囲内に挿入した状態で移動させたときの前記基準光の光量の変化に基づき、前記探針を前記基準光に対して位置決めするステップと、
前記探針を、前記基準光の光軸に直交する方向に移動させて前記測定対象物に接触させるステップと、
前記探針を前記測定対象物の表面に沿って移動させ、前記測定対象物の形状を測定するステップと、
を備えることを特徴とする形状測定方法。 - 測定対象物の形状を、探針で原子間力を用いて測定する測定装置であって、
互いに対向した前記探針と前記測定対象物の間に、所定の位置に集束する基準光を照射する照射手段と、
前記探針および前記測定対象物を前記基準光のビーム範囲内に挿入して移動させる移動手段と、
前記基準光の照射方向において前記探針および前記測定対象物よりも下流側に設けられ、前記基準光の光量を検出する検出手段と、
前記移動手段で前記探針および前記測定対象物を前記基準光のビーム範囲内で移動させたときに前記検出手段で検出される前記基準光の光量の変化に基づき、前記探針を前記測定対象物に対し前記基準光の光軸に沿った方向に位置合わせするとともに、位置合わせされた前記探針と前記測定対象物を前記基準光の光軸に直交する方向に沿って接近させて前記探針を前記測定対象物に接触させるよう、前記移動手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする測定装置。 - 前記探針および前記測定対象物の位置、前記基準光の位置、前記基準光の光強度のいずれかを所定の周波数で振動させる振動発生手段と、
前記振動発生手段で振動を発生させるための制御信号を基準として、前記検出手段で検出される前記基準光の光量の変化からノイズを除去するノイズ除去手段と、をさらに備えることを特徴とする請求項7に記載の測定装置。
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090304 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090701 |