JP7369603B2 - 3次元位置決め装置 - Google Patents

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Description

本発明は、3次元位置決め装置に関し、特に、一つのレーザツールセッタを用いた3次元位置決め装置に関する。
従来、レーザ光を用いた光学式ツールセッタにおいては、レーザ光源から光検出器に向けてレーザ光を投影しておき一定以上光が遮られたら信号をあげるものが多かったが、最近レーザツールセッタについても光の遮蔽割合に応じて出力レベルが多段階に変化する装置が市販されるようになっており、例えば、このような装置においては、光源から出た光が一旦集光されて再度拡散していく光を検出器側レンズなどに通し検出器に導くようになっている。
工作機械等において、レーザツールセッタを用いて工具の位置決めを行う場合には、通常は光軸方向の位置決めには使用しない。そのため、X-Y-Z3次元的な位置決めには2セット用意するか、1つを回転可能に設置する必要があった。これに対して、上記のような光学系では集光点付近がもっとも光エネルギー密度が高く、遠ざかるほどエネルギー密度が低くなる。以下の特許文献1及び非特許文献1では、この特性を使用して光軸方向も含めて位置決めできることが示されている。特に非特許文献1では、位置決め対象を一定周期で位置制御に微小振動を重畳させ、出力信号から同期検波により検出できる重畳した周波数成分の増減を使用して位置決めを行っている。
特開2007-85936号公報
ダイヤモンド切削工具の機上ナノ計測に関する研究 -光プローブを用いた位置合わせ機構-(元木健順、青木 純、高偉、清野慧・2003年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集、(2003)、358頁)
上述したように、レーザツールセッタを用いて工具の位置決めを行う場合には、通常は光軸方向の位置決めには使用しないため、X-Y-Z3次元的な位置決めには2セット用意するか、1つを回転可能に設置する必要があり、システムの複雑化やコストアップを免れなかった。
本発明の目的は、一つのレーザツールセッタを用いるだけで高精度な3次元位置決めが可能な装置を提供することにある。
本発明者は、一つのレーザツールセッタを用いるだけで高精度な3次元位置決めが可能な装置の構成等について、鋭意研究した結果、以下の方法を案出した。即ち、本発明では、位相変化により、位置決めを行う。光軸方向とそれに垂直な方向に対しそれぞれ異なる周期でそれぞれ微小運動をさせ、且つ前記垂直な方向の微小運動は微小円運動に限定する。集光点付近に接近した位相で遮光割合が最も大きくなるので、光軸および集光点に対する3次元上の座標に応じてツールセッタ側から得られる信号レベルと重畳させた微小運動の指令の位相差が変化する。光軸方向とそれに垂直な方向でそれぞれ別々に同期検波を行い位相差を検出していくことで、今、工具先端がある位置と集光点の差の方向が分かる。これを用いて集光点付近に位置決めを行う。もちろん光軸方向は若干性能が落ちるが3次元位置決めが行える。
即ち、本発明の様相によれば、1つのレーザツールセッタを用い、位相変化により位置決めを行う3次元位置決め装置であって、光軸方向とそれに垂直な方向に対しそれぞれ異なる周期でそれぞれ微小運動をさせ、且つ前記垂直な方向の微小運動は微小円運動に限定される第1の手段と、集光点付近に接近した位相で遮光割合が最も大きくなるので、光軸および集光点に対する3次元上の座標に応じて前記1つのレーザツールセッタ側から得られる信号レベルと重畳させた微小運動の指令の位相差が変化することに鑑み、光軸方向とそれに垂直な方向でそれぞれ別々に同期検波を行い位相差を検出していく第2の手段とを有することを特徴とする3次元位置決め装置が得られる。この構成により、今、工具先端がある位置と集光点の差の方向が分かり、これを用いて集光点付近に位置決めを行うことが可能である。
本発明によれば、1つのレーザツールセッタを用いるだけで高精度な3次元位置決めが可能な装置を提供することができる。
本発明の3次元位置決め装置が採用する基本原理を説明するための第1の図である。 本発明の3次元位置決め装置が採用する基本原理を説明するための第2の図である。 本発明の3次元位置決め装置が採用する基本原理を説明するための第3の図である。 本発明の3次元位置決め装置が採用する基本原理を説明するための第4の図である。 本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の基本構成を示す第1の図であり、出力レベルのモニタ用に光学系を追加する形態を示す。 本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の要部を示す第1の図であり、X、Y、Zの3軸方向とこれら3軸の移動の原点を示す図である。 本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の要部を示す第2の図であり、(A)は、位置合わせしたい物体を円で表現し、レーザビームの断面である円と重なることで、位置合わせしたい物体がある領域は光が通過しないとして評価する考え方(モデル)を示す。 本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の要部を示す第3の図であり、(A)は、対象物である位置合わせしたい物体を白抜きの矢印で示すX方向、Y方向にそれぞれ動かし、それぞれの状態で光を遮ると、出力レベルが低下するようになることを示し、(B)は、位置合わせ対象の先端をX=0、Y=0とする態様を示す。 本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の要部を示す第4の図(グラフ)であり、図8(B)に示す条件で、Z方向に対象を振幅1mmにて8Hzで動かす場合の信号レベルがZ平均に応じて変化することを示し、図9(A)はZ=-0.5mm、(B)はZ=0mm、(C)はZ=0.3mm、(D)はZ=1.3mmの位置における8Hz周辺の周波数成分の位相を表す。 本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の要部を示す第5の図であり、位置合わせ対象の先端を(x、y)Z方向の動きの数倍から数十倍の周期で円運動させて、小さな真円度の問題を大きな動きで平均化する態様を示す。
まず、本発明の理解を容易にするため、本発明の基本原理について図面を参照して説明する。図1乃至図4は、本発明の3次元位置決め装置が採用する基本原理を説明するための第1乃至第4の図である。図1に示すように、本発明の3次元位置決め装置は、光学系100を備える。光学系100は、レーザダイオード等から成るレーザ光源102と、受光素子としてのフォトディテクタ104と、レーザ光源102とフォトディテクタ104の間に配置されるコリメータレンズ106、第1の集光レンズ108、第2の集光レンズ110とを有している。レーザ光源102から射出されたレーザ光は、コリメータレンズ106により平行光とされ、第1の集光レンズ108により集光されて、集光点112にて収束し、この集光点112より先は光束が拡がるが、第2の集光レンズ110により集光されたレーザ光がフォトディテクタ104に到達して受光されるように、各々の素子が配置されている。
図2に示すように、本発明の3次元位置決め装置では、位置合わせしたい物体114を集光点112に近づけていくが、この集光点112よりも第1の集光レンズ108側では、集光点112に近づくほど漸減する光の拡がりが存在する。
しかしながら、例えば、従来例では、図3に示すように、フォトディテクタ104よりの出力を信号処理装置116を介して検出しても、従来は、位置合わせしたい物体114が光を遮っているか、遮っていないかの2値レベルの出力しか得られなかった。
そこで、図4に示すように、本発明の3次元位置決め装置では、フォトディテクタ104よりの出力を信号処理装置116を介して検出した場合に、位置合わせしたい物体114が光を遮った割合に応じて、複数レベルの出力を得るようにしている。
次に、本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置について説明する。図5は、本発明の実施形態に係る3次元位置決め装置の基本構成を示す第1の図であり、出力レベルのモニタ用に光学系を追加する形態を示す。図5に示すように、本実施形態に係る3次元位置決め装置では、上述した光学系100に加えて、出力レベルのモニタ用の光学系200を備える。光学系200は、上述した光学系100のコリメータレンズ106と第1の集光レンズ108との間に、上記の平行光に対して略45度の角度に配置されるビームスプリッタ202と、このビームスプリッタ202で反射され、直行する光を集光する第3の集光レンズ204と、モニタ用のフォトディテクタ206を有している。尚、図5において、光学系100の第1の集光レンズ108からフォトディテクタ104(図1乃至図4参照)までの構成は、図示を省略している。図5に示すように、本実施形態に係る3次元位置決め装置では、上述した光学系100に加えて出力レベルのモニタ用の光学系200を備えるので、通過した光の量を規格化することができる。但し、最近のレーザダイオードでは、レーザダイオードの出力をモニタするフォトダイオードまでパッケージ化されている場合が多いため、そのようなパッケージを採用する場合には、このような追加光学系200の仕組みは不要である。
ここで、図6を参照して、本発明の要部について述べる。図6に示すように、本実施形態に係る3次元位置決め装置では、上述した光学系100(及び光学系200)は、図示を省略したステージ上に支持されており、このステージの移動等により図6に示すX、Y、Zの3軸方向の移動操作が可能に構成されている。また、X、Y、Zの3軸の移動の原点は、集光点112の真ん中に置かれている。図6の座標系において、集光点112でも1点で集光しているわけではなく、レイリー領域では、W0 を集光点112におけるレーザビーム径、λを波長、また、数式(1)として、
Figure 0007369603000001
概ね、以下の数式(2)の関係が成立する。
Figure 0007369603000002
勿論、現実には収差等があるので、多少ずれることはあるが、上記数式(2)自体は、レイリー領域の外でも円錐部を概ね近似可能であるので、本実施形態では、レーザビーム径の近似に用いることとした。
また、本実施形態では、レーザビーム径内の光強度分布を一定であると近似すると共に、図7に示すように、位置合わせしたい物体114を円で表現し、それがある領域は光が通過しないとする。図7において、702は、位置合わせしたい物体114を円で表現したものであり、704は、レーザビームの断面である。尚、実際上、位置合わせしたい物体114は多様な形状を有するが、この評価モデルにおいて、位置合わせしたい物体を微小な円の組合せと考えれば、一般性は失わないものと看做すことができる。
尚、本実施形態において、図6に示したX-Y平面内の位置合わせにおいては、一般的なレーザツールセッタの使い方と同様に行うものとする。例えば、図7と同様に、702は位置合わせしたい物体を円で表現したものであり、704はレーザビームの断面とすると、図8に示すように、対象物である位置合わせしたい物体114を図8(A)に白抜きの矢印で示すX方向、Y方向にそれぞれ動かし、それぞれの状態で光を遮ると、出力レベルが低下するようになる。一方、Z方向の位置合わせにおいては、Z方向に正弦波で動かすようにする。例えば、W0 =21㎛、λ=635nmとし、図8(B)に示すように、位置合わせ対象の先端802をX=0、Y=0とする。ここで、Z方向に対象を振幅1mmで動かすと、信号レベルはZ平均に応じて以下の図9に示すように変化する。
即ち、上述した図8(B)に示す条件で、Z方向に対象を振幅1mmにて8Hzで動かすと、信号レベルはZ平均に応じて、図9(A)(B)(C)(D)に示すように変化する。それぞれ図9(A)はZ=-0.5mm、(B)はZ=0mm、(C)はZ=0.3mm、(D)はZ=1.3mmの位置における8Hz周辺の周波数成分の位相を表したものである。図9(A)(B)(C)(D)を比較して分かるように、図9(A)のZ=-0.5mmと図9(C)のZ=0.3mmで8Hz周辺の周波数成分の位相が略反転している。ここで、変化のレベルは小さいので、同期検波を行うか、周波数分析を行うようにすることは勿論である。
尚、現実には、Z方向に動かした時には、真直度の問題でX-Y方向にも変位するし、特に、ねじ送りを使用すると、周期的に変位するという問題が生じる。そこで、本実施形態では、図10に示すように、位置合わせ対象の先端802を(x、y)Z方向の動きの数倍から数十倍の周期で円運動させて、小さな真円度の問題を大きな動きで平均化してしまうようにした。これにより、円運動による信号レベル変化が重畳してしまうが、Z方向に動かした周波数で同期検波をするか、周波数分析を行い、変化、特に位相の変化を追跡すると、光軸方向の位置決めを有効に行うことができる。
100、200 光学系、 102 レーザ光源、104、206 フォトディテクタ、106 コリメータレンズ、108 第1の集光レンズ、110 第2の集光レンズ、 112 集光点、114 位置合わせしたい物体、 116 信号処理装置、202 ビームスプリッタ、 204 第3の集光レンズ、702 位置合わせしたい物体を円で表現したもの、704 レーザビームの断面

Claims (1)

  1. 1つのレーザツールセッタを用い、位相変化により位置決めを行う3次元位置決め装置であって、光軸方向とそれに垂直な方向に対しそれぞれ異なる周期でそれぞれ微小運動をさせ、且つ前記垂直な方向の微小運動は微小円運動に限定される第1の手段と、集光点付近に接近した位相で遮光割合が最も大きくなるので、光軸および集光点に対する3次元上の座標に応じて前記1つのレーザツールセッタ側から得られる信号レベルと重畳させた微小運動の指令の位相差が変化することに鑑み、光軸方向とそれに垂直な方向でそれぞれ別々に同期検波を行い位相差を検出していく第2の手段とを有することを特徴とする3次元位置決め装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2019042914A (ja) 2017-09-01 2019-03-22 三井精機工業株式会社 タッチプローブ・aeセンサの接触方向分解機能を有する工作機械

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