JP2005244202A - Iii族窒化物半導体積層物 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板表面が平均深さ0.01〜5μの溝を非周期的に有する基板上にAlxGa1-xN(0≦x≦1)の柱状結晶または島状結晶1,2,3からなるバッファ層を設け、該バッファ層上にAlxInyGa1-x-yN(0≦x≦1,0≦y≦1,0≦x+y≦1)の単結晶層を設けたIII族窒化物半導体積層物。
【選択図】図4
Description
(1)基板上にAlxGa1-xN(0≦x≦1)の柱状結晶または島状結晶からなるバッファ層を有し、該バッファ層上にAlxInyGa1-x-yN(0≦x≦1,0≦y≦1,0≦x+y≦1)の単結晶層を有するIII族窒化物半導体積層物であって、基板表面が平均深さ0.01〜5μmの溝を非周期的に有することを特徴とするIII族窒化物半導体積層物。
(13)表面に平均深さ0.01〜5μmの溝を非周期的に有することを特徴とするIII族窒化物半導体用基板。
また、p型SiC単結晶を基板に用い、AlxGa1-xN(0≦x≦1)単結晶層にはMgをドーピングしてp型として、その上にp型層、発光層、n型層の順に積層して基板に正極を、n型層に負極を設けて発光素子とすることもできる。
n−SiCインゴットから厚さ450μmの板状に#400の電着ワイヤーソウで一括スライスしてSiC単結晶基板を得た。この際に基板の加工面には0.1mmに数本から10本程度の密度で非周期的な溝からなる加工傷が形成された。その溝の深さは最大−最小の高低差で1μm程度、即ち平均深さで0.5μm程度であった。
GaN単結晶層の成長温度を1000℃にしたことを除いて、実施例1と同様にIII族窒化物半導体積層物を作製した。得られた半導体積層物の表面にはピットが若干残存しており、その表面粗度はRa値で100nmであり、実施例1よりは劣ったが、十分な平滑性を有した。
実施例1のIII族窒化物半導体積層物を用いて、GaN系の460nm発光波長をもつ発光素子を当業界周知の方法で作製した。
実施例1で板状に切り出した基板に、#400ダイヤ砥石で350μmまで定厚加工を施し、その表面粗さを改善した。基板表面には周期性・方向性を持たない溝からなる加工傷ができ、その深さは最大−最小の高低差で0.6μm程度、即ち平均深さで0.3μmとなり、定厚加工前よりも改善されていた。
実施例4のIII族窒化物半導体積層物を用いて、実施例3と同様に発光素子を作製した。但し、SiC基板の導電性を利用するために、SiC基板裏面にニッケルを蒸着して負極とした。
この発光素子の性能を評価したところ、電流20mAで発光出力4mW、順方向電圧3.5Vと良好な性能を示した。
11〜13 柱状結晶
Claims (17)
- 基板上にAlxGa1-xN(0≦x≦1)の柱状結晶または島状結晶からなるバッファ層を有し、該バッファ層上にAlxInyGa1-x-yN(0≦x≦1,0≦y≦1,0≦x+y≦1)の単結晶層を有するIII族窒化物半導体積層物であって、基板表面が平均深さ0.01〜5μmの溝を非周期的に有することを特徴とするIII族窒化物半導体積層物。
- 溝の平均深さが0.1〜1μmであることを特徴とする請求項1に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- 基板がサファイア単結晶またはSiC単結晶であることを特徴とする請求項1または2に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- バッファ層が柱状結晶を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- バッファ層の厚さが1〜100nmであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- バッファ層が、窒素元素/III族元素比を1000以下(窒素元素/III族元素比が0の場合を含む)としてIII族原料および窒素源(窒素元素/III族元素比が0の場合はIII族原料のみ)を供給しつつ形成されたものであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- 単結晶層の厚さが1〜20μmであることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- 単結晶層が、窒素元素/III族元素比を1600〜3200としてIII族原料および窒素源を供給しつつ形成されたものであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- 単結晶層が、基板温度を1000〜1300℃の範囲として形成されたものであることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- 基板温度が1050〜1200℃の範囲であることを特徴とする請求項9に記載のIII族窒化物半導体積層物。
- 請求項1〜10のいずれか一項に記載のIII族窒化物半導体積層物の単結晶層上に、n型層、発光層およびp型層を含むIII族窒化物半導体層を有し、負極および正極がそれぞれ所定の位置に設けられていることを特徴とするIII族窒化物半導体発光素子。
- III族窒化物半導体層がn型層、発光層およびp型層をこの順序で含み、負極および正極がそれぞれ該n型層およびp型層に設けられていることを特徴とする請求項11に記載のIII族窒化物半導体発光素子。
- 表面に平均深さ0.01〜5μmの溝を非周期的に有することを特徴とするIII族窒化物半導体用基板。
- 溝の平均深さが0.1〜1μmであることを特徴とする請求項13に記載のIII族窒化物半導体用基板。
- 基板がサファイア単結晶またはSiC単結晶であることを特徴とする請求項13または14に記載のIII族窒化物半導体用基板。
- 表面に平均深さ0.01〜5μmの溝を非周期的に有する加熱された基板上に、窒素元素/III族元素比を1000以下(窒素元素/III族元素比が0の場合を含む)としてIII族原料および窒素源(窒素元素/III族元素比が0の場合はIII族原料のみ)を供給しつつAlxGa1-xN(0≦x≦1)からなるバッファ層を形成する工程と、その後III族原料と窒素源を用いて、該バッファ層上にAlxInyGa1-x-yN(0≦x≦1,0≦y≦1,0≦x+y≦1)の単結晶層を気相成長させる工程を有するIII族窒化物半導体積層物の製造方法。
- 表面に平均深さ0.01〜5μmの溝を非周期的に有する基板上に、基板温度400〜600℃でIII族原料と窒素源を供給してAlxGa1-xN(0≦x≦1)からなる層を形成し、その後III族原料の供給を停止して、900〜1000℃で熱処理するバッファ層形成工程と、その後III族原料と窒素源を用いて、該バッファ層上にAlxInyGa1-x-yN(0≦x≦1,0≦y≦1,0≦x+y≦1)の単結晶層を気相成長させる工程を有するIII族窒化物半導体積層物の製造方法。
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