JP2005241356A - 周期性疵検出方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 搬送される帯状体の表面の画像を光学的に撮像する工程と、撮像した像に基づく出力と予め設定した疵検出の閾値とに基いて搬送される帯状体の表面の周期性疵候補を弁別する工程と、前記工程で弁別した周期性疵候補について帯状体長手方向位置を記憶装置に記憶する工程と、前記弁別する工程で周期性疵候補を弁別したときに、前記弁別した周期性疵候補より上流の所定区間内にある前記記憶装置に記憶されている周期性疵候補の中から、前記弁別する工程で弁別した周期性疵候補と前記記憶装置に記憶されている周期性疵候補との間隔が、予め設定したロール周期長の整数倍となるロール倍周期長に対して、予め設定した許容長さずれ範囲内にある周期性疵候補を再弁別する工程と、再弁別した周期性疵候補の出現率を求め、求めた出現率に基き、前記再弁した周期性疵候補が周期性疵であるか否かを判定する。
【選択図】 図1
Description
前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的に撮像する撮像工程と、
前記撮像工程で撮像した像に基づく出力と予め設定した疵検出の閾値とに基いて搬送される帯状体の表面の周期性疵候補を弁別する弁別工程と、
前記弁別工程で弁別した周期性疵候補について帯状体長手方向位置を記憶装置に記憶する記憶工程と、
前記弁別工程で周期性疵候補を弁別したときに、前記弁別工程で弁別した周期性疵候補より上流の所定区間内にある前記記憶装置に記憶されている周期性疵候補の中から、前記弁別工程で弁別した周期性疵候補と前記記憶装置に記憶されている周期性疵候補との間隔が、予め設定したロール周期長の整数倍となるロール倍周期長に対して、予め設定した許容長さずれ範囲内にある周期性疵候補を弁別する再弁別工程と、
前記再弁別工程で弁別した周期性疵候補の出現率を求め、求めた出現率に基き、前記再弁別工程で弁別した周期性疵候補が周期性疵であるか否かを判定する周期性判定工程と、
を備えることを特徴とする周期性疵検出方法である。
前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的に撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した像に基づく出力と予め設定した疵検出の閾値とに基いて搬送される帯状体の表面の周期性疵候補を弁別する弁別部と、
前記弁別部で弁別した周期性疵候補について帯状体長手方向位置を記憶する記憶部と、
前記弁別部で弁別した周期性疵候補より上流の所定区間内にある前記記憶部に記憶されている周期性疵候補の中から、前記弁別部で弁別した周期性疵候補と前記記憶部に記憶されている周期性疵候補との間隔が、予め設定したロール周期長の整数倍となるロール倍周期長に対して、予め設定した許容長さずれ範囲内にある周期性疵候補を弁別する再弁別部と、
前記再弁別部で弁別した周期性疵候補の出現率を求め、さらに前記で求めた周期性疵候補の出現率に基き、前記再弁別部で弁別した周期性疵候補が周期性疵であるか否かを判定する周期性判定部と、
を備えることを特徴とする周期性疵検出装置である。
調質圧延機では、圧延ロールの上流に配置されているロールのロール周期長は、圧延で付与される伸長率に対応して圧延前後で異なるので、圧延後のロール周期長は圧延前のロール周期長を伸長率補正することが好ましい。伸長率をε、圧延ロール上流のロールのロール径をDとすると、伸長率補正したときのロール周期長は、π×D×(1+ε)となる。
(1)疵種判定を行わないで、全ての疵を対象として周期性有無をチェックするので、従来技術に比べて高い周期性疵検出能を確保できる。
図1に示した調質圧延機を用いて、鋼板を調質圧延した。当該圧延機では、ロール疵(周期性疵)は、鋼板との接触圧の高いNo.1スタンド及びNo.2スタンドの各圧延ロールから発生しやすい。そこで、周期性判定部15には、No.1スタンド及びNo.2スタンドの各圧延ロール径に対応するロール周期長が入力され、No.1スタンドの圧延ロールのロール周期長はNo.2スタンドの圧延伸長率を1.5%(0.015)としてロール周期長が補正されている。また、許容長さずれ範囲は、ロール周期長Lを基準として、±L×αで求め、係数α=0.1とした。ロール周期長の30倍(N=30)の長さ区間で周期性疵の出現率を求め、n/Nの値が2/3以上の場合は周期性疵と判定した。鋼板の圧延は、所定の通板速度で圧延し、周期性疵を検出したら、その時点で周期性疵の発生を解消するように対処した。
疵検出装置が配置されていない点を除くと、図1の調質圧延機と同様の構成の調質圧延機を用いて鋼帯を調質圧延した。その際、装入コイル5本毎に、コイルの先端部分及び尾端部分を低速(50mpm)で通板してロール疵の発生有無を検査し、ロール疵の発生があった場合、当該ロール疵発生源のロール表面を手入れした後圧延作業を行った。
2 巻戻し装置
3 入側テンションロール
4 No.1スタンド
5 No.2スタンド
6 出側テンションロール
7 巻取り装置
8 疵検出装置
9 光源装置
10 受光装置(CCDカメラ)
11 信号処理部
12 2値化処理部
13 メモリ部(記憶部)
14 再弁別部
15 周期性判定部
16 警報装置
17 CRT
18 集中制御盤
19 PLC(パルスカウンタ)
Claims (4)
- 連続的に搬送される帯状体の表面に生ずる周期性疵を検出する方法において、
前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的に撮像する撮像工程と、
前記撮像工程で撮像した像に基づく出力と予め設定した疵検出の閾値とに基いて搬送される帯状体の表面の周期性疵候補を弁別する弁別工程と、
前記弁別工程で弁別した周期性疵候補について帯状体長手方向位置を記憶装置に記憶する記憶工程と、
前記弁別工程で周期性疵候補を弁別したときに、前記弁別工程で弁別した周期性疵候補より上流の所定区間内にある前記記憶装置に記憶されている周期性疵候補の中から、前記弁別工程で弁別した周期性疵候補と前記記憶装置に記憶されている周期性疵候補との間隔が、予め設定したロール周期長の整数倍となるロール倍周期長に対して、予め設定した許容長さずれ範囲内にある周期性疵候補を弁別する再弁別工程と、
前記再弁別工程で弁別した周期性疵候補の出現率を求め、求めた出現率に基き、前記再弁別工程で弁別した周期性疵候補が周期性疵であるか否かを判定する周期性判定工程と、
を備えることを特徴とする周期性疵検出方法。 - 前記記憶工程は、前記弁別工程で弁別した周期性疵候補について、さらに帯状体幅方向位置を記憶装置に記憶することを特徴とする請求項1に記載の周期性疵検出方法。
- 連続的に搬送される帯状体の表面に生じる周期性疵を検出する装置において、
前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的に撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した像に基づく出力と予め設定した疵検出の閾値とに基いて搬送される帯状体の表面の周期性疵候補を弁別する弁別部と、
前記弁別部で弁別した周期性疵候補について帯状体長手方向位置を記憶する記憶部と、
前記弁別部で弁別した周期性疵候補より上流の所定区間内にある前記記憶部に記憶されている周期性疵候補の中から、前記弁別部で弁別した周期性疵候補と前記記憶部に記憶されている周期性疵候補との間隔が、予め設定したロール周期長の整数倍となるロール倍周期長に対して、予め設定した許容長さずれ範囲内にある周期性疵候補を弁別する再弁別部と、
前記再弁別部で弁別した周期性疵候補の出現率を求め、さらに前記で求めた周期性疵候補の出現率に基き、前記再弁別部で弁別した周期性疵候補が周期性疵であるか否かを判定する周期性判定部と、
を備えることを特徴とする周期性疵検出装置。 - 前記記憶部は、前記弁別部で弁別した周期性疵候補について、さらに帯状体幅方向位置を記憶することを特徴とする請求項3に記載の周期性疵検出装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256558A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Nippon Steel Corp | 疵検査方法、疵検査装置、及びコンピュータプログラム |
WO2010008067A1 (ja) * | 2008-07-18 | 2010-01-21 | 旭硝子株式会社 | 欠陥検査のための画像データの処理装置および方法、これらを用いた欠陥検査装置および方法、これらを用いた板状体の製造方法、並びに記録媒体 |
JP2011145103A (ja) * | 2010-01-12 | 2011-07-28 | Nippon Steel Corp | 周期欠陥検出装置、周期欠陥検出方法、およびプログラム |
JP2011214865A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Toray Ind Inc | 周期欠点検出方法、装置およびシート状物体の製造方法 |
JP2015227888A (ja) * | 2010-03-10 | 2015-12-17 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ウェブ製造プロセスにおける用途固有の繰り返し欠陥検出 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011083405A1 (de) * | 2010-12-21 | 2012-06-21 | Sms Siemag Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächeninspektion von Bandstücken |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4935091A (ja) * | 1972-08-01 | 1974-04-01 | ||
JPS58156842A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-17 | Toshiba Corp | ロ−ル疵検出装置 |
JPH01232258A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 | Toshiba Corp | 周期疵検出装置 |
JPH07198627A (ja) * | 1994-01-06 | 1995-08-01 | Nippon Steel Corp | 金属表面欠陥検査装置 |
JP2001201455A (ja) * | 2000-01-20 | 2001-07-27 | Matsushita Electric Works Ltd | シート状材料の表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 |
JP2002162364A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Sumitomo Chem Co Ltd | ロール起因欠陥の判定方法および装置 |
-
2004
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4935091A (ja) * | 1972-08-01 | 1974-04-01 | ||
JPS58156842A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-17 | Toshiba Corp | ロ−ル疵検出装置 |
JPH01232258A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 | Toshiba Corp | 周期疵検出装置 |
JPH07198627A (ja) * | 1994-01-06 | 1995-08-01 | Nippon Steel Corp | 金属表面欠陥検査装置 |
JP2001201455A (ja) * | 2000-01-20 | 2001-07-27 | Matsushita Electric Works Ltd | シート状材料の表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 |
JP2002162364A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Sumitomo Chem Co Ltd | ロール起因欠陥の判定方法および装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256558A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Nippon Steel Corp | 疵検査方法、疵検査装置、及びコンピュータプログラム |
WO2010008067A1 (ja) * | 2008-07-18 | 2010-01-21 | 旭硝子株式会社 | 欠陥検査のための画像データの処理装置および方法、これらを用いた欠陥検査装置および方法、これらを用いた板状体の製造方法、並びに記録媒体 |
JP5263291B2 (ja) * | 2008-07-18 | 2013-08-14 | 旭硝子株式会社 | 欠陥検査のための画像データの処理装置および方法、これらを用いた欠陥検査装置および方法、これらを用いた板状体の製造方法、並びに記録媒体 |
KR101609007B1 (ko) | 2008-07-18 | 2016-04-04 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 결함 검사를 위한 화상 데이터의 처리 장치 및 방법, 이것들을 사용한 결함 검사 장치 및 방법, 이것들을 사용한 판 형상체의 제조 방법, 및 기록 매체 |
JP2011145103A (ja) * | 2010-01-12 | 2011-07-28 | Nippon Steel Corp | 周期欠陥検出装置、周期欠陥検出方法、およびプログラム |
JP2015227888A (ja) * | 2010-03-10 | 2015-12-17 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ウェブ製造プロセスにおける用途固有の繰り返し欠陥検出 |
JP2011214865A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Toray Ind Inc | 周期欠点検出方法、装置およびシート状物体の製造方法 |
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