CN105531214B - 用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及用于标记片材中的材料缺陷的方法。为了提供能够被用于特别准确地、可靠地和永久地识别片材中的材料缺陷，设置成通过缺陷传感器来感测移动的片材中的材料缺陷，并且由第一标记传感器(4a)感测所感测的材料缺陷的区域内的表面结构特征，并且确定并存储体现表面结构特征的第一表面结构数据记录。

Description

用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法
技术领域
本发明涉及用于标记片材中的材料缺陷的方法和设备。
背景技术
在诸如金属板材、纸张或者还有塑料膜的片材处理过程中，片材被展开、被引导经过相应的处理工位、并然后被再次卷起，例如被分段。
在引导经过处理工位的过程中，片材被检查是否有材料缺陷。为此目的，目前例如通常在片材上进行光学检查并且为了识别标记出缺陷点。为了识别，例如，颜色标记可以被施加或者打标被引入到片材中。
材料缺陷的处理通常是在经过处理工位之后进行，或者如果需要的话是在一个单独的工段内进行，在该单独的工段中，片材被再次展开。无论怎样，片材在缺陷的检测与缺陷的处理之间运行经过设备的多个工位，例如偏向卷绕。由此，已经被施加的、表明材料缺陷的标记经常被改变或被消除，从而无法准确地确定材料缺陷的位置。
为了能够在标识标记有缺陷的情况下仍定位材料缺陷，作为替代地可以确定片材经过各处理工位的运行经过速度，从而借助于计算来实现材料缺陷的位置确定。
然而，此类计算系统是特别不精确的，并且特别由于例如在处理的过程中片材拉伸或收缩，此类计算系统是特别不可靠的，从而无法实现材料缺陷的可靠的定位，或者为了处理材料缺陷特别大量的片材区段必须被处理。
发明内容
本发明的目的因此在于提供一种方法和设备，由此，片材内的材料缺陷能够被特别精确地、可靠地以及永久地为了识别而被标记。
本发明通过具有说明书的特征的用于标记片材中的材料缺陷的方法以及具有说明书的特征的设备来实现该目的。本发明的有利的其它实施例在权利要求书中体现。
用于对片材中的材料缺陷进行标记的本发明的方法至少包括以下步骤：
通过缺陷传感器检测移动的片材中的材料缺陷；
通过第一标记传感器来检测所检测的材料缺陷的区域中的表面结构特征，并且确定体现表面结构特征的第一结构数据记录；
将结构数据记录存储在存储装置内。
根据本发明的方法和设备是基于这样的认知，一个物体的每个表面表现出各自独特的结构特征，这能够被用于一个物体的识别。即使对于几乎相同的物体，表面结构也是不同的，从而可以实现相应物体的明确的识别。表面区段中所检测的结构特征因此体现了用于充分识认的明确的“指纹”。
关于材料缺陷的区域内的表面的这种个别的结构特征的检测，将精确地确定材料缺陷位于片材中的位置。为了在随后的时间点再次发现材料缺陷，片材可以借助于发现所检测的表面结构特征来被研究。在表面结构特征已经被再次发现之后，材料缺陷的位置将因此也被发现。由此，可以取消之前传统采用的、被引到片材上或中的识别标记。
因为本发明的方法也适用于在不停止或减速片材的前提下检测片材中的多个材料缺陷和表面结构特征，所以本发明的方法附加地能够以特别经济的方式被执行。
在这种情况中，为了确定表面结构特征而将被检查的片材区段可以独立于材料缺陷的区域，即，它不必是将被检查的材料缺陷区域中的一个区段，但是至少应当位于直接附近(紧邻)。表面结构特征被检测的片材的区域例如可以位于材料缺陷的与片材运行方向呈横向的平面内。将被检查的区域还可以具体地关于片材的基准点、例如外边缘被限定，从而例如在距外边缘20cm的距离间隔处并在材料缺陷的高度处进行表面结构特征的检测。
在片材正在移动的同时，进行材料缺陷以及表面结构特征的检测，也就是说，在检测的过程中，片材相对于传感器的位置相对改变在进行。
术语“表面结构特征”被理解为意味着一个物体的表面上或中的一个或多个结构。这可以特别地涉及天然结构、即在物体的制造或处理的过程中出现的、并且不随后或作为附加的结构被引至或施加至表面的结构。
为了获得对所存储的结构数据记录特别简单的访问，内存单元被形成为外部存储器/外部内存，例如借助于控制装置以及用于处理片材的附加的装置可实现对其的访问。
术语“结构数据记录”被理解为意味着体现已经被检测的表面特征的数据记录，尤其形式为数值。取决于标记传感器的功能方式，例如所述数据记录可以是例如转换后的图片文件。
根据本发明的另一实施例，在根据说明书标记片材的步骤之后，通过第二标记传感器感测用于检测和处理材料缺陷的表面结构特征，所述第二标记传感器是在第一标记传感器下游，并且确定第二结构数据记录，所述第二结构数据记录体现了表面结构特征，通过已存的第一结构数据记录与第二确定的结构数据记录的对比来识别片材上的缺陷位置，并且如果结构数据记录匹配的话，那么启动一处理单元，所述处理单元处理材料缺陷的区域内的片材，例如通过切出或修复材料缺陷来处理。
在这种情况中，所采用的第二标记传感器对应于第一标记传感器，从而两个标记传感器感测同一标记结构特征。在这种情况中，此外，各标记传感器的功能以及用于将所感测的表面结构特征转换成结构数据记录的转换参数应当是相同的，从而获得良好的可比性。
可以直接在由第一标记传感器进行标记之后执行由第二标记传感器感测表面结构特征以及材料缺陷的处理，从而例如片材被标记并然后被向前传输，并然后由此确定、识别并处理材料缺陷的位置。
还可以在随后的时间执行材料缺陷的检测和处理，并且根据本发明的另一实施例，片材在标记之后可以被卷起、运输和/或被存储。因此，例如，片材可以在第一设备上被制造，材料缺陷被确定，并且片材从该设备取下。然后，在另一设备(其例如空间上是分开的)上、甚至在片材的中间进一步处理之后执行材料缺陷的检测和处理。
在大多数情况中，通过计算机单元或控制单元来执行结构数据记录的对比。由使用者来规定为了确定一致性结构数据记录必须相同的程度。例如，完全一致可以被规定为相同，但是一致也可以被认为是只要两个结构数据记录的一致是在特定的容忍阈值之上就达到了。在确定适合的参数时，例如也可以确定一致性被视为已经达到了的百分图值。然而，如果数据记录之间的偏差太大的话，则存在这样的风险，即当表面结构特征的检测再次开始时，各区段将被同时地识别，而不涉及具有材料缺陷的区段。
在材料缺陷的检测之后，片材经常运行经过各个不同的设备元件，例如偏向辊、引导装置、或处理单元。然而，在这种情况中，可以出现对表面的不期望的改变，这例如还影响已经被感测的表面结构特征。因而，例如，改变表面结构特征的摩擦、污物污染等可以出现。
为了检查以及如果需要的话确定设备的各组成部分是否正在改变或影响片材的表面，根据本发明的另一实施例可以设置成，在第一与第二标记传感器之间，至少一个第三标记传感器感测表面结构特征，并且确定第三结构数据记录，至少第一、第二和/或第三结构数据记录被彼此对比，并且确定结构数据记录之间的与表面结构特征的改变相对应的改变，并且所确定的改变在识别缺陷位置时根据需要被考虑。
通过布置分别与第一或第二标记传感器对应的第三标记传感器，可以准确地确定表面影响的方位。因此例如，第三标记传感器可以在第一标记传感器之后、偏向辊之前布置，并且第二标记传感器在偏向辊之后布置。由于通过第二和第三标记传感器记录表面结构特征以及对比由此获得的结构数据，所以可以确定偏向辊在表面上的影响。
这种布置结构当然也可以采用多个附加的标记传感器来实现，其中所述多个附加的标记传感器在第一与第二标记传感器之间布置。
例如，如果需要的话，表面结构特征中的改变取得了导致材料缺陷的错误识别的标尺，所确定的改变例如还可以在对比结构数据时被考虑，以便识别材料缺陷。
特别地，一个改进之处在于缺陷的相对方位以及位置大小或者缺陷类型以及一个或多个表面结构特征的方位被同时处理。这然后意味着在表面结构特征的识别之后在下游地能够直接地确定缺陷方位或区域。
根据本发明的另一实施例，在第一与第二标记传感器之间设置入口传感器，以在第二处理单元改变片材的表面结构之前感测片材的表面结构特征，并且由所感测的表面结构特征产生(并且如果需要的话存储)输入数据记录，所述输入数据记录与第一结构数据记录对比，并且如果在第一结构数据记录与输入数据记录之间存在一致性的话，那么出口传感器在考虑到片材运行经过这两个传感器的速度以及传感器之间彼此的距离间隔的前提下感测自第二处理工位出来的片材的表面结构特征，并且输出数据记录被确定并被存储。
该具体的实施例允许该方法在表面正在被处理的情况下采用，从而基于第一和第二结构数据记录，可行的是材料缺陷的绝对可靠的或者非常可靠的识别。此类处理步骤例如可以是片材的卷绕或涂覆。
由于在入口传感器处材料缺陷的识别并且考虑了入口传感器与出口传感器之间的片材速度以及两个传感器彼此之间的间隔，所以确定了具有材料缺陷的片材进入到出口传感器的检测范围的时间点。出口传感器然后感测新的表面在材料缺陷的区域内的表面结构特征，并且将其存储为输出数据记录。这样，尽管表面的结构存在显著变化，但是仍保持了识别材料缺陷的位置的可行性。
特别优选地，由此所产生的输出数据记录与至少第一结构数据记录被对比，并且确定了改变，从而例如检查第二处理单元的有效性。这例如可以通过检查现有的基准值来实现。
作为替代或补充地，由此所产生的输出数据记录被用于识别片材上的缺陷位置，这是通过将当前的输出数据记录(而非第一结构数据记录)与所确定的第二结构数据记录对比来实现的。
因此，入口传感器和出口传感器在它们的功能模式和作用方面与标记传感器相对应，或者相应地它们是标记传感器。输入和输出数据记录还根据结构数据记录被确定，从而实现与它们的兼容性。
为了改进识别的精度或者还为了确保表面结构特征(例如以非常高的片材运行速度(造纸业))的特别可靠的检测，根据本发明的另一实施例，进行了缺陷位置的粗略检测，在此期间，缺陷位置通过考虑片材运行速度而被确定。
除此以外，特别优选地，仅只要在考虑粗略检测的前提下由第一标记传感器所感测的表面结构进入对应的传感器的检测区域中将是预计的话，则通过标记和/或输入/出口传感器就能够实现表面结构特征的检测。
这意味着例如，在具有材料缺陷的片材区段被感测时，由标记传感器感测的表面结构数据能够仅仅被转换成结构数据记录。作为替代地，标记传感器仅仅只要带有材料缺陷的片材区段进入其检测区域才被启动，和/或仅仅包括片材中的缺陷面积的(结构)数据记录可以被存储。
通过将位置确定与识别相结合，为了该方法所使用的设备的可察觉的负担减轻因此得以实现，尤其是针对传感器、内存单元以及期望的话控制单元，这转而导致了该方法的特别经济的实现。
为了消除内存单元上的负担并且为了确保该方法的可靠实现，进一步特别优选的是存储在内存单元中的数据记录在片材区段的处理之后从内存单元被删除。
基本上，标记传感器可以永久地感测片材，并且相应地还产生永久的结构数据记录。在这种情况中，为了识别，结构数据记录的其中表面结构特征被认出的各段被采用。永久的结构数据记录的优点在于，系统认出相关的片材区段何时靠近传感器。
然而，永久检测的代价是非常高的，这是因为特别大的数据量必须被处理。在这种情况中，第一和/或第二标记传感器感测表面结构特征，特别优选地是从片材的其中存在材料缺陷的一段进行感测，从而，该段自材料缺陷的位置开始尤其具有+/-150cm、优选+/-50、特别优选+/-30cm和/或有利地+/-15cm或更小的长度。
根据本发明，区段长度显然增加了识别精度，这是因为较大的片材区段面积可以彼此对比。特别地，在不期望的表面改变的情况中或者在甚至仅仅在特定区段中出现的表面改变的情况中(这例如可以由于偏向辊或者由于污物污染而产生)，较大的片材区段的对比是特别高效的。
在这种情况中，由标记传感器所感测的区段能够包括材料缺陷所在位置的片材区段以及材料缺陷所在位置之前和/或之后的片材区段。片材区段的长度例如还可以取决于片材的速度，从而对于纸幅而言，与金属带相比更长的区段被感测。
基本上，所有提出的标记传感器、输入和出口传感器能够被设计成检测之前描述的片材区段面积。
借助于传统的缺陷传感器可以实现材料缺陷的检测，并且这种检测尤其取决于组成片材的材料类型以及将被感测的表面特性。然而，根据本发明的另一实施例，材料缺陷和/或表面结构特征被光学地感测，其中材料缺陷尤其利用光线扫描摄像机被感测。
光学检测系统可以被用于对正在移动的片材实现特别好的效果，这是因为所述光学检测系统能够非常显著独立于片材运行速度地被使用。
表面结构特征的检测还可以借助于例如执行光学检测的传感器被执行。在这种情况中，例如借助于摄像机产生表面的图像、尤其高分辨率图像，由此可以读出相关的表面结构特征。
根据本发明的另一实施例，粗糙度、透明度、颜色、和/或尤其激光投射到片材的表面上的散射模型可以被感测为表面结构特征。激光的散射模型的测量由Laser SurfaceAuthentication Method(LSA)是可知的。LSA是特别合适的，这是因为激光的散射模型表现出特别高程度的个别性。除此以外，散射模型的检测是非常显著独立于诸如光入射的外部影响的。
此外，具有偏振过滤器的摄像机系统是合适的作为缺陷传感器以及用于检测表面结构特征的传感器(标记传感器、入口/出口传感器)。这允许在不同的偏转平面中对表面成像，例如由此在确定的缺陷的过程中或者在感测表面结构特征的过程中可以过滤掉片材的表面上的干扰光反射。特别地，偏振摄像机被采用，即包括具有多个偏振过滤器的图像传感器的摄像机，并且因此适于同时感测光的多个偏振平面。
基本上，本发明的方法可以用于被制造、被使用或处理为片材或带材的所有类型的材料。然而，前提条件是在片材正在被移动的同时可以由材料感测表面结构特征。片材因此特别优选地包括金属、玻璃、塑料、和/或包含纤维素的基板、尤其纸张或纸板。
本发明还通过用于标记片材中的材料缺陷的设备实现了该目的，其中所述设备包括用于检测材料缺陷的缺陷传感器；第一标记传感器，其被设计成感测材料缺陷的区域内的移动的片材的表面结构特征，并然后将其存储为第一结构数据记录。
本发明的设备因此允许特别简单地标记片材中的材料缺陷，原因在于该设备使得片材中的材料缺陷的位置与表面结构特征的位置彼此相关联。因此，在材料缺陷的随后再次发现时，无需重复的材料检查(这在特定的情况下是不可行的)或者无需已经被引入的特性特征的详细发现；实际上，借助于表面结构特征的重复检测可以特别简单地确定材料缺陷的位置。
根据本发明的另一实施例，除了说明书的特征以外，该设备至少还包括：一个第二标记传感器，其被设计成感测片材的表面结构特征；用于由所感测的表面结构特征产生第二结构数据的装置；用于评价数据记录的装置，其被设计成将至少第一和第二结构数据记录对比；以及在结构数据记录一致的情况中启动处理单元的装置，所述处理单元处理材料缺陷的区域内的片材。
第二标记传感器被设计成对应于第一标记传感器，其中，各标记传感器布置成尤其还产生结构数据记录并将其传输至内存单元。
附加地或替代地，一个或多个控制单元可以被设置，所述控制单元例如产生结构数据记录、评价并对比数据记录、和/或启动处理单元。
然而，为了特别准确的识别，测量激光投射到片材的表面上的散射模型。因此，第一和第二标记传感器特别优选地是激光传感器，所述激光传感器将激光投射到片材的表面上的散射模型感测为表面结构特征。附加的标记传感器和/或入口/出口传感器可以相应地被设计。
附图说明
本发明以下基于实施例更详细地被说明。
图1以示意性的方式示出了用于片材中的材料缺陷的标记、检测和处理的设备；并且
图2以示意性的方式示出了具有第二处理单元的图1的设备。
具体实施方式
图1示出了片材2，其被引导经过用于片材中的材料缺陷的标记、检测和处理的设备1。片材2是钢带。设备1还包括光学传感器3、例如线性扫描摄像机，其被设计成用于片材2的表面中的诸如微裂缝的缺陷的检测。
沿着带的运行方向在光学传感器3的下游是第一标记传感器4a，所述第一标记传感器是激光散射光测量装置，被设计成执行所谓的LSA处理。
设备1还包括多个偏向辊5，片材2绕着所述偏向辊被引导。为了检测材料缺陷的位置，第二标记传感器4b被设置，其同样被设计为激光散射光测量装置。
沿着片材的运行方向在第二标记传感器4b之后布置的是处理单元6，其被设计为钢带切割装置。
标记传感器4a、4b、用于缺陷检测的光学传感器3、以及第一处理单元6经由控制单元7彼此相连(由虚线表示)。
在操作时，来自绕卷(在此未示出)的片材2被传导经过光学传感器3。光学传感器3感测片材2的表面并对其进行评价。只要光学传感器检测到材料缺陷(在此情况下为微裂缝)，则光学传感器就向控制单元7发出信号。
控制单元7激活第一标记传感器4a，以使得该传感器在片材2的表面的一个区段上进行散射光测量。在这种情况下，第一标记传感器4a感测片材2的、由光学传感器3所感测的微裂缝位于其中的表面区段，也就是说，由第一标记传感器4a所感测的区段是在与片材2的运行方向呈横向的、微裂缝也位于其中的表面中。
为了随后允许更好地识别，除了微裂缝所位于的片材区段以外，标记传感器4a还分别感测具有微裂缝的区域之前和之后15cm的片材区段，也就是说，如果具有微裂缝的区域在带的运行方向上具有5cm的长度，那么传感器就感测总共35cm长的片材区段。
由标记传感器4a所感测的表面结构特征、在这种情况下即由标记传感器投射到片材表面上的激光的散射被转换成结构数据记录、传送至控制单元7、并存储在那里。
进一步在操作时，片材2运行经过偏向辊5。例如，作为替代地，附加的处理单元或引导装置也可以布置在该区域内。
在设备1的端部处，片材2进入第二标记传感器4b的检测区域中。该第二标记传感器像第一标记传感器4a那样感测相同的表面结构特征。该第二标记传感器所感测的表面结构特征被转换成第二结构数据记录并同样被传输至控制单元7。控制单元7将所存储的第一结构数据记录与第二结构数据记录对比，并且如果确定一致的话，那么激活处理单元6，以使得具有微裂缝的片材区段从带被分出。在这种情况中，处理单元6分出35cm的完全感测的区域。作为替代地，控制单元也能够被设计成分开短的片材区段、例如仅仅微裂缝或者具有短的安全区段的微裂缝。
图2与图1相对应地以示意图的方式示出了用于片材2中的材料缺陷的标记、检测和处理的设备1。除了图1所示的以外，片材2运行经过第二处理单元8，该第二处理单元在这种情况中被设计为电镀槽(镀锌槽)，用于钢带的表面电镀。因为表面电镀覆盖了由标记传感器4a所感测的表面结构特征以使得所述表面结构特征无法由第二标记传感器4b再次发现，所以入口传感器9设置在第二处理单元8的入口之前并且出口传感器10设置在第二处理单元8的出口处。
入口传感器9和出口传感器10与标记传感器4a、4b相同地被设计，它们同样执行LSA过程。由入口传感器9和出口传感器10所感测的表面结构特征同样作为输入/输出数据记录被传输至控制单元7。控制单元7转而将由入口传感器9所感测的数据与第一结构数据对比。只有这两个数据记录存在一致性，则控制单元7就由对其已知的片材速度以及由入口传感器9与出口传感器10之间的距离确定带有材料缺陷的片材区段进入出口传感器10的检测范围的时间。
利用材料缺陷进入到出口传感器10的检测范围的时间，该传感器确定片材2的在材料缺陷所在区域内的现在被电镀的表面的表面结构特征、将其转换成输出数据记录、并将其传送至控制单元7，在那里存储。
为了通过第二标记传感器4b识别材料缺陷，控制单元7现在将自第二标记传感器4b传送的结构数据与来自出口传感器10的存储的输出数据对比。在出现一致性后，控制单元7根据图1所示激活处理单元6，该处理单元将有缺陷的区段从片材2分出。
作为替代地，控制单元7还被设计成例如将输入数据记录与第一结构数据记录对比，从而确定偏向辊5例如会在表面上施加什么样的影响。因此，控制单元7还可以例如将输入数据记录与输出数据记录对比，由此可以确定电镀槽的影响。输出数据记录或者还有与改变有关的数据例如可以与基准值对比，从而能够确定电镀槽是否工作正常。
同样作为替代地，附加的标记传感器可以在第一与第二标记传感器之间设置，例如在一个偏向辊5的前后设置，从而确定偏向辊5对表面结构特征的影响。因此，例如，个别的设备元件(偏向辊、引导元件等)能够以特别简单的方式干扰到片材，例如导致表面的增加的摩擦、磨损或者污物污染。
尽管结合该方法已经描述了多个方面，但是应当理解的是这些方面还体现了对应的设备的说明，从而例如对应的方法步骤或方法步骤的特征也被理解为是设备的元件。与此类似地，已经结合设备被描述的各方面还体现了对应的方法步骤或者方法步骤的特征的说明。

Claims (18)

1.一种用于对片材(2)中的材料缺陷进行标记的方法，包括以下步骤：
通过缺陷传感器(3)来检测移动的片材(2)中的材料缺陷；
通过第一标记传感器(4a)来检测所感测的材料缺陷的区域内的至少一个表面结构特征，并且制备体现所述表面结构特征的第一结构数据记录，其中，所述第一标记传感器在所述材料缺陷被检测到之后被激活；
存储所述结构数据记录，在存储所述结构数据记录之后
所述表面结构特征由在所述第一标记传感器(4a)下游的第二标记传感器(4b)感测，并且产生体现所述表面结构特征的第二结构数据记录；
通过所存储的第一结构数据记录与所产生的第二结构数据记录的对比来识别所述片材(2)上的缺陷位置；以及
在各所述结构数据记录一致的情况下，启动一处理单元(6)，所述处理单元处理所述材料缺陷的区域内的片材(2)；
其特征在于，在所述第一标记传感器(4a)与所述第二标记传感器(4b)之间，入口传感器(9)在第二处理单元(8)改变所述片材(2)的表面结构之前感测所述片材(2)的表面结构特征；
输入数据记录由所感测的表面结构特征产生，并且与第一结构数据记录对比；以及
在第一结构数据记录与输入数据记录一致的情况下，出口传感器(10)在考虑到所述片材(2)经过所述第二处理单元(8)的运行经过速度的情况下感测来自第二处理工位的片材(2)的表面结构特征；以及
输出数据记录被产生并被存储。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在检测所述表面结构特征之后，所述片材被卷起、被运输和/或被存储。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述第一标记传感器(4a)与所述第二标记传感器(4b)之间，
至少一个第三标记传感器感测所述表面结构特征，并且第二结构数据记录产生；
至少第一、第二、和/或第三结构数据记录彼此相互被对比；以及
各结构数据记录之间的、与表面结构特征改变相对应的改变被确定；以及
如果需要的话，所确定的改变在识别缺陷位置时被考虑。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于
通过所产生的输出数据记录与所确定的第二结构数据记录的对比来识别所述片材(2)上的缺陷位置；和/或
所述输出数据记录与至少所述第一结构数据记录被对比并且改变被获知。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，
在考虑带运行速度的情况下执行材料缺陷的位置的粗略检测；和/或
只要在考虑所述粗略检测的情况下由所述第一标记传感器(4a)所感测的表面结构进入到对应的传感器的检测范围中的输入可用，则由所述标记传感器(4a、4b)和/或入口/出口传感器(9、10)进行表面结构特征的检测。
6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所存储的结构数据、输入数据、和/或输出数据在所述片材区段的处理之后从存储或内存单元被删除。
7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一标记传感器(4a)和/或所述第二标记传感器(4b)感测所述片材(2)的其中存在材料缺陷的一个区段的表面结构特征。
8.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，材料缺陷和/或表面结构特征被光学地感测。
9.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，粗糙度、透明度、颜色、和/或激光投射到片材(2)表面上的散射模型被作为表面结构特征检测。
10.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，片材(2)包括金属、玻璃、塑料、和/或含有纤维素的基板。
11.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该区段自材料缺陷的位置开始具有+/-75cm的长度。
12.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该区段自材料缺陷的位置开始具有+/-50cm的长度。
13.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该区段自材料缺陷的位置开始具有+/-30cm的长度。
14.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该区段自材料缺陷的位置开始具有+/-15cm或更小的长度。
15.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，材料缺陷通过光线扫描传感器被感测。
16.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述基板包括纸张或纸板。
17.一种用于对片材(2)中的材料缺陷进行标记的设备，其包括
用于检测移动的片材(2)中的材料缺陷的缺陷传感器；
第一标记传感器(4a)，其被设计成感测移动的片材(2)的材料缺陷的区域中的表面结构特征，其中，所述第一标记传感器在所述材料缺陷被检测到之后被激活，
由此产生第一结构数据记录；并且
将所述第一结构数据记录存储在内存单元中，
所述设备还包括
第二标记传感器(4b)，其被设计成感测所述片材(2)的表面结构特征；
用于自所感测的表面结构特征产生第二结构数据记录的装置；
用于对数据记录进行评价的装置，该装置被设计成比较至少第一结构数据记录和第二结构数据记录；以及
在结构数据记录一致时启动一处理单元的装置，其中所述处理单元处理材料缺陷的区域内的片材(2)，其特征在于，
在所述第一标记传感器(4a)与所述第二标记传感器(4b)之间，入口传感器(9)在第二处理单元(8)改变所述片材(2)的表面结构之前感测所述片材(2)的表面结构特征；
输入数据记录由所感测的表面结构特征产生，并且与第一结构数据记录对比；以及
在第一结构数据记录与输入数据记录一致的情况下，出口传感器(10)在考虑到所述片材(2)经过所述第二处理单元(8)的运行经过速度的情况下感测来自第二处理工位的片材(2)的表面结构特征；以及
输出数据记录被产生并被存储。
18.根据权利要求17所述的设备，其特征在于，所述第一标记传感器(4a)、所述第二标记传感器(4b)和/或至少一个附加的标记传感器是激光传感器，所述激光传感器感测激光投射到片材(2)表面上的散射模型作为表面结构特征。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT201600127586A1 (it) * 2016-12-16 2018-06-16 Futura Spa Impianto per la produzione di logs di materiale cartaceo.
US11565842B2 (en) 2017-09-22 2023-01-31 Lantech.Com, Llc Packaging material quality compensation
EP3941867A4 (en) * 2019-03-20 2023-09-20 Lantech.Com, Llc PACKAGING MATERIAL ASSESSMENT AND DEVICE THEREFOR WITH A SPLIT TAKE-UP DRUM AND/OR SPECIFIC INCLUSION FORCE MEASUREMENT
JP6788291B1 (ja) * 2019-06-03 2020-11-25 株式会社イクシス 点検支援システム
WO2021055193A1 (en) 2019-09-19 2021-03-25 Lantech.Com, Llc Packaging material grading and/or factory profiles
AU2020349415B2 (en) 2019-09-19 2024-01-25 Lantech.Com, Llc Ultrasonic packaging material flaw detection with time-limited response detection
DE102020116269A1 (de) 2020-06-19 2021-12-23 Hydro Aluminium Rolled Products Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Behandeln von einem Metallband oder -folie
CN114638807B (zh) * 2022-03-22 2023-10-20 无锡雪浪数制科技有限公司 一种基于深度学习的金属板材表面缺陷检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101035946A (zh) * 2004-04-19 2007-09-12 3M创新有限公司 在材料织物上自动标记缺陷的装置和方法
CN101393141A (zh) * 2007-09-21 2009-03-25 鲍勃斯脱股份有限公司 用于确定基片表面质量的方法和用于加工基片的相关机器
DE102009029084A1 (de) * 2009-09-02 2011-03-03 Voith Patent Gmbh Verfahren zur Regelung einer Faserstoffbahnveredelungsanlage

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3004444A (en) 1960-03-03 1961-10-17 Specialties Dev Corp Ballscrew and nut transmission assembly
US3760667A (en) * 1969-01-15 1973-09-25 Black Clawson Co Veneer defect detector and clipper control
US4073260A (en) * 1976-04-19 1978-02-14 British Steel Corporation Apparatus for removing cross welds from metal tubes and marking the same
DE2853258A1 (de) * 1978-12-09 1980-06-12 Hoesch Werke Ag Verfahren und anordnung zum aufbringen einer kennzeichnung auf der oberflaeche von bewegten tafeln und baendern
DE3325125C1 (de) * 1983-07-12 1985-02-14 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen
JPH0674112B2 (ja) * 1986-04-23 1994-09-21 三菱重工業株式会社 シート状の紙の自動選別装置
US4934228A (en) * 1989-01-13 1990-06-19 U.S. Natural Resources, Inc. System for diverting veneer sheets having offsize defects
JPH0450704A (ja) * 1990-06-18 1992-02-19 Keyence Corp 自動化設備における送り量検出装置、送りスピード検出装置及び加工長さ検出装置
SE502547C2 (sv) * 1994-03-21 1995-11-13 Tetra Laval Holdings & Finance Sätt och anordning för att avkänna läget för en tvärgående big hos en förpackningsbana
US5642198A (en) * 1995-04-03 1997-06-24 Long; William R. Method of inspecting moving material
JPH09109372A (ja) * 1995-10-18 1997-04-28 Datsuku Eng Kk 製品検査装置及びそのマーク有無検査手段
DE19613083A1 (de) * 1996-04-02 1997-10-09 Koenig & Bauer Albert Ag Verfahren zur qualitativen Beurteilung von bearbeitetem Material
JP3293587B2 (ja) * 1998-07-03 2002-06-17 日本鋼管株式会社 欠陥マーキング方法、欠陥マーキングしたコイルの作業方法及び欠陥マーキングしたコイルの製造方法
WO2000055605A1 (fr) * 1999-03-18 2000-09-21 Nkk Corporation Procede et dispositif de marquage de defauts
US7019822B1 (en) * 1999-04-29 2006-03-28 Mss, Inc. Multi-grade object sorting system and method
US6369882B1 (en) * 1999-04-29 2002-04-09 Advanced Sorting Technologies Llc System and method for sensing white paper
DE10022597B4 (de) * 2000-05-10 2004-10-14 Erhardt + Leimer Gmbh Vorrichtung zum Erfassen der Randkante und/oder einer Markierung einer laufenden Warenbahn
GB0025096D0 (en) * 2000-10-13 2000-11-29 Bank Of England Detection of printing and coating media
US6909106B2 (en) * 2002-09-17 2005-06-21 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Web velocity-based registration control system
CN100530374C (zh) * 2002-10-15 2009-08-19 Lg电子株式会社 用于控制光学拾取部件的起始点的方法和装置
US8867134B2 (en) 2003-11-21 2014-10-21 Visual Physics, Llc Optical system demonstrating improved resistance to optically degrading external effects
DE102004010479A1 (de) * 2004-03-04 2005-10-27 Parsytec Computer Gmbh Verfahren zur Aufbereitung von Oberflächendaten, Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätsbewertung und zum Qualitätsmanagement von Bandmaterial
WO2006029536A1 (en) * 2004-09-17 2006-03-23 De.Vice Scientific Incorporated Optical inspection of flat media using direct image technology
US7812935B2 (en) 2005-12-23 2010-10-12 Ingenia Holdings Limited Optical authentication
US9050735B2 (en) * 2006-06-20 2015-06-09 Danzer Services Schweiz Ag Automatic clipping line
US7369240B1 (en) * 2006-07-20 2008-05-06 Litesentry Corporation Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production
US8060234B2 (en) * 2007-09-27 2011-11-15 Abb Oy Accurate tracking of web features through converting processes
GB2460625B (en) 2008-05-14 2010-05-26 Ingenia Holdings Two tier authentication
GB2462059A (en) * 2008-07-11 2010-01-27 Ingenia Holdings Authentication scanner
US7797133B2 (en) * 2008-09-10 2010-09-14 3M Innovative Properties Company Multi-roller registered repeat defect detection of a web process line
US8194237B2 (en) 2009-10-15 2012-06-05 Authentix, Inc. Document sensor
JP5445221B2 (ja) * 2010-02-27 2014-03-19 株式会社リコー マーク検出方法
US8570523B2 (en) * 2010-09-02 2013-10-29 Eastman Kodak Company Method for discriminating between objects
US20120225475A1 (en) * 2010-11-16 2012-09-06 1087 Systems, Inc. Cytometry system with quantum cascade laser source, acoustic detector, and micro-fluidic cell handling system configured for inspection of individual cells
EP2668526B1 (en) 2011-01-28 2018-07-04 Crane & Co., Inc. A laser marked device
US8553228B2 (en) * 2011-09-30 2013-10-08 3M Innovative Properties Company Web inspection calibration system and related methods
JP2013134136A (ja) * 2011-12-26 2013-07-08 Jfe Steel Corp 表面欠陥検査システム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101035946A (zh) * 2004-04-19 2007-09-12 3M创新有限公司 在材料织物上自动标记缺陷的装置和方法
CN101393141A (zh) * 2007-09-21 2009-03-25 鲍勃斯脱股份有限公司 用于确定基片表面质量的方法和用于加工基片的相关机器
DE102009029084A1 (de) * 2009-09-02 2011-03-03 Voith Patent Gmbh Verfahren zur Regelung einer Faserstoffbahnveredelungsanlage

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