JP2005216970A - 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法 - Google Patents

光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005216970A
JP2005216970A JP2004019006A JP2004019006A JP2005216970A JP 2005216970 A JP2005216970 A JP 2005216970A JP 2004019006 A JP2004019006 A JP 2004019006A JP 2004019006 A JP2004019006 A JP 2004019006A JP 2005216970 A JP2005216970 A JP 2005216970A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solid
state imaging
optical
imaging device
optical device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004019006A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4236594B2 (ja
Inventor
Toshio Kimura
敏夫 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2004019006A priority Critical patent/JP4236594B2/ja
Priority to US11/039,813 priority patent/US7265916B2/en
Priority to KR1020050006917A priority patent/KR100822968B1/ko
Priority to TW094102238A priority patent/TWI270707B/zh
Priority to CNB2005100063302A priority patent/CN1324340C/zh
Publication of JP2005216970A publication Critical patent/JP2005216970A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4236594B2 publication Critical patent/JP4236594B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B30/00Camera modules comprising integrated lens units and imaging units, specially adapted for being embedded in other devices, e.g. mobile phones or vehicles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/001Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14618Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02325Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements not being integrated nor being directly associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/54Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/55Optical parts specially adapted for electronic image sensors; Mounting thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/0781Adhesive characteristics other than chemical being an ohmic electrical conductor
    • H01L2924/07811Extrinsic, i.e. with electrical conductive fillers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

【課題】 ボンディングワイヤの配線を廃して大型化を回避し、小型で安価な光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法を提供する。
【解決手段】 接着部15を介して配線基板6に積層され、貫通電極14,14,…が形成されたDSP8と、接着部9を介してDSP8に積層され、貫通電極3,3,…及び有効画素領域2が形成され、有効画素領域2に対向配置された透光性蓋部5が接着部4を介して接着してある固体撮像素子1とが、レンズ13を保持し有効画素領域2への光路を画定する光路画定器10内に収容され、透光性蓋部5が光路画定器10に結合部11にて結合されている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、固体撮像素子と、固体撮像素子の一面に形成された有効画素領域への光路を画定する光路画定器とを備える光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法に関する。
最近、デジタルカメラ、カメラ機能付き携帯電話機等の光学装置に組み込む光学装置用モジュールの開発が行なわれている(例えば、特許文献1参照)。
図14は、従来の光学装置用モジュールの構成を示す断面図である。図中30は配線基板であり、配線基板30の両面には導体配線31がパターン形成されている。配線基板30の両面に形成された導体配線31は配線基板30内部で適宜相互に接続されている。配線基板30の上にはDSP(デジタル・シグナル・プロセッサ)32が接着(ダイボンド)されている。DSP32の平面上にはシート状の絶縁性接着剤であるスペーサ33が接着され、スペーサ33の上には固体撮像素子34が接着されている。DSP32の各接続端子はボンディングワイヤ32wにより導体配線31に電気的に接続されており、固体撮像素子34の各接続端子はボンディングワイヤ34wにより導体配線31に電気的に接続されている。
レンズ保持具本体35は筒状であり、一端側の内周部には、レンズ37を保持する焦点調整器36を備え、他端側には、配線基板30の一面を接着してある。レンズ保持具本体35のレンズ37と固体撮像素子34との間には、入射光線中の赤外線をカットするためにフィルタ処理を施した光学フィルタ38が接着されている。焦点調整器36はレンズ保持具本体35に対してネジ状に嵌合され、焦点調整器36が回動することによってレンズ保持具本体35に対する焦点調整器36の位置が変更される。レンズ37は、配線基板30のレンズ保持具本体35が接着された一面を基準にして、レンズ保持具本体35及び焦点調整器36(以下、レンズ保持具という)により位置決めされている。
特開2002−182270号公報
光学装置用モジュールが備える配線基板30の寸法(特に厚さ方向の寸法)は仕様値の範囲内にある。しかしながら、配線基板30は製造バラツキによる反り、たわみ等を有している。また、レンズ保持具本体35を接着した後においても、このような反り、たわみ等は存在している。つまり、レンズ37の位置決めにおいては、位置決め基準となる配線基板30の反り、たわみ等により、レンズ37から固体撮像素子34までの光学距離がレンズ37の焦点距離fと一致しないことがある。
図15〜図17は、従来の光学装置用モジュールの問題点を示す説明図であり、各図には光学装置用モジュールの断面が示されている。
図15は配線基板30の中央部が凸状態となった場合を示している。レンズ37と、配線基板30の中央部、及び配線基板30の中央部に配置されている固体撮像素子34とは平行に保たれているが、配線基板30の両端が中央に対し凹状態になることから、配線基板30に接着されているレンズ保持具本体35が配線基板30の中央部に対して下方に移動した状態となる。つまり、レンズ37の位置決め基準が下方に移動した状態となる。このため、レンズ37と固体撮像素子34との間の光学距離がレンズ37の焦点距離fと異なり、f−Δf(Δfは配線基板30の厚さ方向の変形量)となる。
このような場合には、レンズ37と固体撮像素子34との間の光学距離をレンズ37の焦点距離fに一致させるために、焦点調整器36を回動させてレンズ37と固体撮像素子34との間の光学距離をレンズ37の焦点距離fに調整する。つまり、焦点調整器36により変形量Δfに相当する調整をして、レンズ37の焦点距離fの位置に固体撮像素子34が位置するよう調整する。
図16は配線基板30の中央部が凹状態となった場合を示している。レンズ37と配線基板30の中央部及び固体撮像素子34とは平行に保たれているが、配線基板30の両端が中央に対し凸状態になることから、配線基板30に接着されているレンズ保持具本体35が配線基板30の中央部に対して上方に移動した状態となる。つまり、レンズ37の位置決め基準が上方に移動した状態となる。このため、レンズ37と固体撮像素子34との間の光学距離がレンズ37の焦点距離fと異なり、f+Δf(Δfは配線基板30の厚さ方向の変形量)となる。従って、焦点調整器36により変形量Δfに相当する調整をして、レンズ37の焦点距離fの位置に固体撮像素子34が位置するように調整する必要がある。
上述したように、従来の光学装置用モジュールは、配線基板30をレンズ37の位置決め基準にして、レンズ保持具本体35を配線基板30に接着しているため、配線基板30の反り、たわみ等のバラツキによりレンズ37と固体撮像素子34との間の光学距離がレンズ37の焦点距離fと異なることがあった。
この結果、各光学装置用モジュールについて、レンズ37と固体撮像素子34との間の光学距離をレンズ37の焦点距離fに調整する調整工程が必要となり、調整用の高額の設備と作業人員とが必要であった。また、調整には作業員の熟練を要した。更に、レンズ保持具にレンズ保持具本体35と焦点調整器36の二つの機構部品が必要であり、レンズ保持具、更には光学装置用モジュールを小型化することが構造的に困難であった。更に、機構部品であることから大量生産が困難であり、レンズ保持具の生産コストが光学装置用モジュールの生産コストに占める割合が高く、生産コストのアップをもたらしていた。
一方、図17は配線基板30の板厚が場所により異なる状態となった場合を示している。図のように、配線基板30の図中右端では板厚が厚く、図中左端では板厚が薄く、左右両端で板厚が異なる状態となった場合でも、例えば配線基板30が10mm程度の矩形であり、配線基板30の両端の間で発生する板厚の差が±0.01mm程度とすると、配線基板30の板厚は規格内である。
しかしながら、レンズ保持具本体35を配線基板30に接着したとき、レンズ保持具は、配線基板30及び固体撮像素子34に対し、傾いて固定されることになる。この結果、レンズ37の光軸と固体撮像素子34の垂直軸との間で角度θのずれが生じることになり、固体撮像素子34が、レンズ37を透過した入射光を正確に受光することができない。即ち、被写体の像を正確に固体撮像素子34へ投影することができない。
更に、従来の光学装置用モジュールは、DSP32の各接続端子及び固体撮像素子34の各接続端子と導体配線31とがボンディングワイヤ32w及びボンディングワイヤ34wにより電気的に接続されていた。このため、ボンディングワイヤ32w、ボンディングワイヤ34w、及びこれらに接続される導体配線31を配置するためのスペースが必要であった。
具体的には、DSP32と固体撮像素子34との間、及び固体撮像素子34と光学フィルタ38との間にボンディングワイヤ32w及びボンディングワイヤ34wを配線可能な空間が必要であり、また、配線基板30のDSP32及び固体撮像素子34周辺部に導体配線31を配置可能な空間が必要であった。この結果、光学装置用モジュールの寸法、例えば固体撮像素子34の端部とレンズ保持具本体35の内壁との間の距離Aが大きくなり、光学装置用モジュールの大型化を招いていた。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、透光性蓋部を固体撮像素子に接着する接着部と、透光性蓋部及び光路画定器を結合する結合部とを備え、固体撮像素子に貫通電極が形成されていることにより、小型化された光学装置用モジュール及び該光学装置用モジュールの製造方法を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、結合部にて接着されていること、又は透光性蓋部の平面寸法が固体撮像素子の平面寸法より小さいことにより、更に小型化された光学装置用モジュールを提供することにある。
本発明の他の目的は、光路画定器がレンズを保持することにより、レンズと固体撮像素子との間の光学距離をレンズの焦点距離に一致させるための調整工程が不要な光学装置用モジュールを提供することにある。
本発明の更に他の目的は、貫通電極が形成されている画像処理装置を備えることにより、更に小型化される光学装置用モジュールを提供することにある。
本発明に係る光学装置用モジュールは、一面に有効画素領域を有する固体撮像素子と、前記有効画素領域への光路を画定する光路画定器とを備える光学装置用モジュールにおいて、前記固体撮像素子を貫通する貫通電極と、前記有効画素領域に対向して配置される透光性蓋部を前記固体撮像素子に接着する接着部と、前記透光性蓋部及び前記光路画定器を結合する結合部とを備えることを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記結合部は前記透光性蓋部及び前記光路画定器を接着していることを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記透光性蓋部は前記固体撮像素子の前記一面の平面寸法より小さい平面寸法を有することを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記接着部は感光性接着剤を含むことを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記有効画素領域及び透光性蓋部の間には空間が形成され、前記接着部は前記一面における有効画素領域の外周部に形成されていることを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記接着部は前記外周部を密封する構成としてあることを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記光路画定器は前記有効画素領域に対向して配置されるレンズを保持することを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記固体撮像素子は配線基板に接着された画像処理装置の平面部に接着されていることを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールは、前記貫通電極と前記画像処理装置を貫通する貫通電極とが接続されていることを特徴とする。
本発明に係る光学装置用モジュールの製造方法は、一面に有効画素領域を有する固体撮像素子と、前記有効画素領域への光路を画定する光路画定器とを備える光学装置用モジュールの製造方法において、前記固体撮像素子に貫通電極を形成する工程と、前記有効画素領域に対向して配置した透光性蓋部を前記固体撮像素子に接着する工程と、前記透光性蓋部に前記光路画定器を結合する工程とを備えることを特徴とする。
本発明にあっては、一面に有効画素領域を有する板状の固体撮像素子に、貫通電極を形成する。また、有効画素領域に対向して配置される透光性蓋部と固体撮像素子とを接着部にて接着する。更に、有効画素領域への光路を画定する光路画定器と透光性蓋部とを結合部にて結合する。
また、本発明にあっては、光路画定器と透光性蓋部とを結合部にて接着する。
本発明にあっては、透光性蓋部の平面寸法(例えば固体撮像素子に対する投影面積)は固体撮像素子の一面の平面寸法(投影面積)より小さい。ただし、透光性蓋部の平面寸法は有効画素領域の平面寸法以上である必要がある。
本発明にあっては、固体撮像素子及び透光性蓋部を接着する接着部は感光性接着剤を含む。このような接着部は、例えば感光性接着剤及び熱硬化樹脂を混合した接着剤が硬化したものである。
本発明にあっては、固体撮像素子及び透光性蓋部を接着する接着部は、固体撮像素子の一面における有効画素領域の外周部に形成され、また、固体撮像素子と透光性蓋部とは接着後も完全に密着することなく、このため有効画素領域及び透光性蓋部の間に空間が形成される。
本発明にあっては、固体撮像素子及び透光性蓋部を接着する接着部は、固体撮像素子の一面における有効画素領域の外周部に形成され、更に、有効画素領域の外周部を密封している。
本発明にあっては、固体撮像素子の一面における有効画素領域に対向して配置されるレンズを光路画定器が保持している。
本発明にあっては、固体撮像素子が接着された平面部を有する画像処理装置と、画像処理装置が接着された配線基板とを備える。画像処理装置は、例えば固体撮像素子の動作を制御したり、固体撮像素子が貫通電極を介して出力した電気信号を受け付け、受け付けた電気信号を処理し、処理した電気信号を配線基板へ出力したりする。
本発明にあっては、固体撮像素子が接着された平面部を有する画像処理装置と、画像処理装置が接着された配線基板とを備える。また、画像処理装置を貫通する貫通電極を備え、固体撮像素子の貫通電極と画像処理装置の貫通電極とが電気的に接続されている。画像処理装置は、例えば固体撮像素子の動作を制御する制御信号を画像処理装置及び固体撮像素子夫々の貫通電極を介して固体撮像素子に入力する。また、画像処理装置は、固体撮像素子が固体撮像素子及び画像処理装置夫々の貫通電極を介して出力した電気信号を受け付け、受け付けた電気信号を処理し、処理した電気信号を画像処理装置の貫通電極を介して配線基板へ出力する。
本発明の光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法によれば、一面に有効画素領域を有する固体撮像素子に、貫通電極が形成してある。このため、貫通電極を用いて固体撮像素子を、光学装置用モジュール外部又は光学装置用モジュール内部の電極、リード等(例えば配線基板)に実装することができる。この結果、配線用のスペースを別途必要とするワイヤボンディングのような配線手段を用いて固体撮像素子を配線基板に実装する必要がないため、光学装置用モジュールを小型化することができる。
また、有効画素領域に対向して配置される透光性蓋部が接着部にて固体撮像素子に接着されている。このため、固体撮像素子が有する有効画素領域を透光性蓋部で覆うことができる。この結果、有効画素領域を例えば外部の物体との当接から保護することができる。更に、透光性蓋部と固体撮像素子との接着は、接着以外の手段(例えば透光性蓋部及び固体撮像素子間に適宜の係合部材を介在した係合)で透光性蓋部と固体撮像素子とを結合させる場合より構造が簡単であり、製造工程が簡易である。
更にまた、有効画素領域への光路を画定する光路画定器と透光性蓋部とが結合部にて結合されている。透光性蓋部と固体撮像素子とは接着されて一体的に設けられているため、光路画定器と透光性蓋部とが個別的に、又は透光性蓋部と固体撮像素子とが個別的に設けられている光学装置用モジュールに比べて小型化することができる。
本発明の光学装置用モジュールによれば、光路画定器と透光性蓋部とを結合部にて接着してある。光路画定器と透光性蓋部との接着は、接着以外の手段(例えば螺合)で光路画定器と透光性蓋部とを結合させる場合より構造が簡単であり、製造工程が簡易であり、光路画定器と透光性蓋部との間の距離を低減して光学装置用モジュールを小型化することが可能である。更に、接着剤で光路画定器と透光性蓋部との間を封止する場合は、光路画定器内に固体撮像素子を密封して外部環境から保護できるよう構成することが可能である。
本発明の光学装置用モジュールによれば、透光性蓋部は有効画素領域を覆い、しかも固体撮像素子よりもサイズが小さい。このため、透光性蓋部による有効画素領域の保護機能を保ちつつ、光学装置用モジュールの小型化が可能となり、特にカメラモジュールとした場合にはカメラを更に小型化することができる。
本発明の光学装置用モジュールによれば、固体撮像素子及び透光性蓋部を接着する接着部が感光性接着剤を含む。このため、感光性接着剤又は感光性接着剤を含む接着剤を、フォトリソグラフィ技術を用いて固体撮像素子又は透光性蓋部にパターン形成し、硬化させることによって、接着部を容易かつ高精度に効率よく形成することができる。
本発明の光学装置用モジュールによれば、固体撮像素子及び透光性蓋部を接着する接着部が、固体撮像素子の一面における有効画素領域の外周部に形成されている。また、固体撮像素子と透光性蓋部とは接着後も完全に密着することなく、このため有効画素領域及び透光性蓋部の間に空間が形成されている。この結果、光学装置用モジュールへの入射光は、透光性蓋部を透過してから有効画素領域へ到達するまでの間に空間を透過するだけであり、例えば接着部を透過することがない。仮に、有効画素領域及び透光性蓋部の間に接着部が形成されている場合、入射光が接着部を透過することによる減衰、散乱等の光損失が生じる。つまり、本発明の光学装置用モジュールは、有効画素領域上に接着部を有する光学装置用モジュールと比べて、光学的に有利である。
本発明の光学装置用モジュールによれば、固体撮像素子及び透光性蓋部を接着している接着部が、固体撮像素子の一面における有効画素領域の外周部を密封している。このため、接着部が固体撮像素子と透光性蓋部との間を封止し、有効画素領域に対する湿気の侵入、ダスト(ゴミ、切りくず等)の付着等を防止することができる。この結果、固体撮像素子の信頼性を向上することができ、更には光学装置用モジュールの信頼性を向上することができる。また、固体撮像素子及び透光性蓋部の接着後は有効画素領域を別途保護する必要がないため、光学装置用モジュールの製造工程を簡易にすることができ、製造コストを低コスト化することができる。
本発明の光学装置用モジュールによれば、光路画定器が、固体撮像素子の一面における有効画素領域に対向して配置されるレンズを保持する。また、光路画定器は結合部にて透光性蓋部と結合されており、透光性蓋部は有効画素領域に対向して配置され、接着部にて固体撮像素子に接着されている。このため、光路画定器に保持されたレンズの位置決め基準として透光性蓋部を用いることができる。
この場合、レンズと固体撮像素子との間の位置関係を正確、かつ精密に固定することができる。つまり、透光性蓋部を基準にレンズと固体撮像素子との光学距離をレンズの焦点距離に精密に一致させ、また、レンズと固体撮像素子とを平行に配置すること、即ちレンズの光軸と固体撮像素子(具体的には有効画素領域)の表面に対する垂直軸とを精密に一致させることができる。更に、配線基板が変形した場合でも固体撮像素子とレンズとの間の光学距離を調整する必要がない。また、配線基板の板厚が異なる場合でもレンズの光軸と固体撮像素子の垂直軸とを一致させることができる。この結果、被写体の像を固体撮像素子へ正確に投影することができる。
従って、本発明の光学装置用モジュールは、レンズと固体撮像素子との光学距離を調整するために従来の光学装置用モジュールにおいて必要であった焦点調整器が不要であり、また、焦点調整器を用いた調整工程が不要である。更に、焦点調整器が不要となることから、構成部品数を削減することができ、光学装置用モジュールを小型化(薄型、軽量化)することができる。また、焦点調整器を用いた焦点調整工程が不要となることから、製造設備の簡略化、製造工程の簡略化を行なうことができ、歩留まり向上、材料費及び生産コストの低減、低価格化が可能となる。
本発明の光学装置用モジュールによれば、配線基板、画像処理装置、固体撮像素子、及び透光性蓋部が接着により積層され、透光性蓋部が光路画定器と結合しているため、光学装置用モジュールを小型化することができる。また、配線用のスペースを別途必要とするワイヤボンディングのような配線手段を用いて固体撮像素子を配線基板に実装する必要がないため、光学装置用モジュールを更に小型化することができる。
本発明の光学装置用モジュールによれば、配線基板と、貫通電極が形成された画像処理装置と、画像処理装置の貫通電極に接続された貫通電極が形成された固体撮像素子と、透光性蓋部とが接着により積層され、透光性蓋部が光路画定器と結合しているため、光学装置用モジュールを小型化することができる。また、配線用のスペースを別途必要とするワイヤボンディングのような配線手段を用いて固体撮像素子及び画像処理装置を配線基板に実装する必要がないため、光学装置用モジュールを更に小型化することができる等、本発明は優れた効果を奏する。
以下、本発明を、その実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。本実施の形態においては、レンズ一体型の光学装置用モジュールを例示するが、これに限るものではない。
図1は、本発明に係る光学装置用モジュール20の構成を示す断面図である。また、図2は、光学装置用モジュール20が備える撮像部100の一の構成を示す平面図であり、図3は、図2におけるII−II線の断面図である。光学装置用モジュール20の構成を示す平面図(図1に対応する平面図)は省略する。
撮像部100は、矩形板状の固体撮像素子1と、固体撮像素子1に対し接着部4を介して積層された矩形板状の透光性蓋部5とを備える。固体撮像素子1は、一面の中央部に光電変換を行なうための有効画素領域2が形成されている。以下では、固体撮像素子1の有効画素領域2が形成されている一面を表面といい、他面を裏面という。また、透光性蓋部5の固体撮像素子1側の一面を裏面といい、他面を表面という。
固体撮像素子1には、有効画素領域2で光電変換された電気信号を外部へ取り出すための接続端子として、固体撮像素子1を貫通する複数の貫通電極3,3,…が形成されている。貫通電極3,3,…は銅のような導電性材料を用いてなり、有効画素領域2から適長離隔して、有効画素領域2を囲むように配置されている。また、貫通電極3,3,…同士も適長離隔している。このような貫通電極3,3,…の個数及び配置は、有効画素領域2に対する配線の必要性に応じて設定されている。
透光性蓋部5は、ガラス、合成樹脂等の透光性材料からなり、有効画素領域2に対向配置されることによって有効画素領域2を覆う。このため透光性蓋部5は有効画素領域2が例えば外部の物体と当接し損傷するようなトラブルを防止している。また、透光性蓋部5の平面寸法(サイズ)は、固体撮像素子1の表面の平面寸法(サイズ)より小さく形成されている。このため、撮像部100(更には光学装置用モジュール20)の小型化を図ることができ、特に、カメラモジュールとした場合には携帯性の良い小型化したカメラが構成される。
接着部4は、感光性接着剤及び熱硬化樹脂を混合した接着剤を用いてなる。また、接着部4は、固体撮像素子1の表面に対し、貫通電極3,3,…の形成位置よりも有効画素領域2側に、しかも有効画素領域2から離隔して、有効画素領域2の外周部全部に形成されている。更に、接着部4は、透光性蓋部5の裏面に対し、透光性蓋部5の周縁部全部に形成されている。このような接着部4は、固体撮像素子1及び透光性蓋部5間を封止することによって有効画素領域2の外周部を完全に密封している。このため、固体撮像素子1と透光性蓋部5との接着後は、有効画素領域2への湿気の侵入、ダストの侵入付着等による有効画素領域2での不良の発生が防止され、製造歩留まりが向上し、固体撮像素子1(更には光学装置用モジュール20)の信頼性が向上する。
更に、接着部4は、有効画素領域2には形成されておらず、このため、封止された固体撮像素子1及び透光性蓋部5間には空間が形成されている。即ち、有効画素領域2と透光性蓋部5との間には接着部4が介在しない。この結果、外部から光学装置用モジュール20への入射光は、透光性蓋部5を通過し、接着部4に入射して減衰、散乱等の光損失を生じることなく、有効画素領域2へ到達する。固体撮像素子1は、入射光を内部に取り込み、有効画素領域2に配置された有効画素(受光素子)により受光(光検出)をする。固体撮像素子1においては、貫通電極3が固体撮像素子1の表面側と裏面側とを電気的に接続しているため、固体撮像素子1における光電変換によって生じた電気信号は、貫通電極3を介して固体撮像素子1外部へ出力される。
なお、透光性蓋部5の表面に赤外線遮断膜を形成して、透光性蓋部5に、外部から入射する赤外線を遮断する光学フィルタとしての機能を追加しても良い。このような透光性蓋部5が装着された固体撮像素子1は、カメラ、ビデオレコーダカメラ等の光学装置に搭載する固体撮像素子1として好適である。また、透光性蓋部5はカラーフィルタを形成されても良い。
図4は、撮像部100の他の構成を示す平面図であり、図5は図4におけるIV−IV線の断面図である。図4及び図5に示す撮像部100は、基本的には図2及び図3に示す撮像部100と同様の構成であるが、透光性蓋部5の代わりに、固体撮像素子1より大きい平面寸法(図上横方向の寸法)を有する透光性蓋部51を備えている。このような撮像部100は、例えば固体撮像素子1に対して大きい平面寸法を有する透光性蓋部51を接着する必要がある場合に用いられる。以下では、図2及び図3に示す撮像部100を備える図1に示すような光学装置用モジュール20を説明する。
光学装置用モジュール20は、撮像部100の他に、画像処理装置であるDSP8と、配線基板6と、撮像部100の固体撮像素子1に形成されている有効画素領域2への光路を画定する光路画定器10とを備える。配線基板6は、両面に導体配線7がパターン形成され、導体配線7は配線基板6内部で適宜相互に接続されている。
DSP8は板状の半導体チップであり、DSP8を貫通し、更にDSP8の両面から僅かに突出している複数の貫通電極14,14,…が形成されている。貫通電極14,14,…は銅のような導電性材料を用いてなり、貫通電極14,14,…の個数及び配置は、固体撮像素子1の貫通電極3,3,…、及び導体配線7に対応している。ここで、貫通電極14,14,…の突出高さは、例えば従来の光学装置用モジュールが備えるボンディングワイヤの高さよりも低い。貫通電極14,14,…の突出部分は、図1及び後述する図8〜図13では、固体撮像素子1側の一面(以下、DSP8の表面という)における突出部分のみ図示してあり、他面(DSP8の裏面)における突出部分は図示していない。
固体撮像素子1の裏面とDSP8の表面(平面部)とは接着部9を介して接着してあり、固体撮像素子1の貫通電極3,3,…とDSP8の貫通電極14,14,…とは電気的に接続してある。また、DSP8の裏面と配線基板6の一面(以下、配線基板6の表面という)とは接着部15を介して接着してあり、DSP8の貫通電極14,14,…と配線基板6の表面に形成された導体配線7とは電気的に接続してある。以上のように、固体撮像素子1(更には撮像部100)、DSP8及び配線基板6は、接着部9,15を介して積層されている。
DSP8は、貫通電極14,14,…及び貫通電極3,3,…を介して固体撮像素子1へ制御信号を伝送することによって、画像処理装置として固体撮像素子1の動作を制御する。また、DSP8は、固体撮像素子1が貫通電極3,3,…を介して出力した電気信号を貫通電極14,14,…を介して受け付け、受け付けた電気信号を処理し、処理した電気信号を貫通電極14,14,…を介して導体配線7へ出力する。また、DSP8が出力した電気信号は、導体配線7を介して外部へ出力される。
光路画定器10は筒状であり、DSP8及び撮像部100を内部に収納している。光路画定器10の一端側開口は、撮像部100の透光性蓋部5に内部側から閉鎖され、他端側開口はDSP8及び撮像部100が積層された配線基板6に外部側から閉鎖されている。この場合、光路画定器10と透光性蓋部5とは結合部11において結合されている。結合部11は、光路画定器10の内壁と透光性蓋部5の表面の周縁部とを接着して光路画定器10及び透光性蓋部5間を封止している。
また、この場合、光路画定器10と配線基板6とは、調整部12を介し、適長離隔して結合されている。調整部12は、光路画定器10の端部と配線基板6の表面の周縁部とを接着剤で接着して光路画定器10及び配線基板6間を封止しているが、接着剤が硬化した後も適宜の柔軟性を有する。このため、調整部12は、配線基板6が反り、たわみ等を有する場合に、又は配線基板6に反り、たわみ等が生じた場合に、光路画定器10の端部と配線基板6の表面との間の距離を自動的に調整する。ここで、結合部11から配線基板6までの距離は、結合部11から調整部12側の光路画定器10端部までの距離よりも長い。このため、調整部12を設けない場合、光路画定器10の端部と配線基板6の表面との間には空隙が設けられる。調整部12は、この空隙を密封している。
このように、光路画定器10及び透光性蓋部5間と光路画定器10及び配線基板6間とが封止されているため、DSP8及び固体撮像素子1は光路画定器10に密閉され、外部環境から保護される。即ち、光路画定器10は光路画定機能の他に、DSP8及び固体撮像素子1の保護機能も有する。
また、光路画定器10は、その一端側開口の内周においてレンズ13を、レンズ13が透光性蓋部5を介して固体撮像素子1の有効画素領域2に対向配置されるようにして保持している。即ち、光路画定器10はレンズ保持機能を有する。この場合、レンズ13から固体撮像素子1までの光学距離は、レンズ13の焦点距離fと一致している。なお、光路画定器10がシャッタ機能も有する構成でも良い。
以上のような光学装置用モジュール20は、固体撮像素子1及びDSP8に貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…が形成されているため、ボンディングワイヤの形成は不要である。このため、固体撮像素子1、DSP8及び配線基板6の積層構造に、ボンディングワイヤ配置用のスペースを設ける必要がない。この結果、光学装置用モジュール20の寸法、例えば固体撮像素子1の端部と光路画定器10の内壁との間の距離aが小さくなる。また、例えば固体撮像素子1とDSP8との間にスペーサを介在してボンディングワイヤ配置用のスペースを設ける必要がないため固体撮像素子1及びDSP8間の距離が短縮される。
更に、固体撮像素子1に接着された透光性蓋部5と光路画定器10とが結合部11において結合されている。この結果、固体撮像素子1と透光性蓋部5とが接着されていない光学装置用モジュール、及び透光性蓋部5と光路画定器10とが結合されていない光学装置用モジュールに比べて光学装置用モジュール20は薄型化、及び省スペース化されている。
なお、DSP8には貫通電極14,14,…を設けず、DSP8が従来のようにボンディングワイヤを用いて導体配線7に接続される構成でも良い。この場合でも、固体撮像素子1に対してボンディングワイヤを設けないため、従来の光学装置用モジュールよりは小型化された光学装置用モジュール20が得られる。また、配線基板6の表面に対し、DSP8及び導体配線7の他、抵抗器のような受動部品を設けても良い。
図6は、光学装置用モジュール20の製造方法の説明図であり、光学装置用モジュール20に備えられる撮像部100の製造工程における断面図を示している。撮像部100は1個ずつ製造しても良く、半導体ウエハに複数個を同時的に製造しても良い。以下では、主に1個の撮像部100の製造工程に注目して説明する。
まず、シリコンを用いてなる半導体基板の一面に有効画素領域2を形成し、半導体基板を固体撮像素子1となす(図6(a))。次に、固体撮像素子1に、有効画素領域2から離隔して、固体撮像素子1の表面から裏面までを貫通する貫通電極3,3,…を形成する(図6(b))。貫通電極3,3,…は、例えば、固体撮像素子1に貫通穴を形成してから貫通穴の内部に対し銅のような金属材料を堆積させることによって形成する。金属材料の堆積は、めっき、又は印刷及び硬化によって行なう。なお、固体撮像素子1よりも厚い半導体基板の表面側に非貫通の穴部を設け、設けた穴部に金属材料を堆積させた後、半導体基板を研磨し裏面側の半導体を除去することによって、固体撮像素子1及び貫通電極3,3,…を形成しても良い。
更に、有効画素領域2の外周部全部に、接着剤40を塗布する(図6(c))。接着剤40は、感光性接着剤(例えばアクリル系樹脂であるUV硬化樹脂)と熱硬化樹脂(例えばエポキシ系樹脂)とを混合してなる接着剤を、固体撮像素子1の表面に均一に塗布した後、フォトリソグラフィ技術を用いてパターン形成(パターニング)を行なうことによって形成される。ここで、複数の固体撮像素子1,1,…が半導体ウエハ状態にある場合には、複数の固体撮像素子1,1,…の夫々に対して接着剤40,40,…を同時に塗布する。このため、接着剤40,40,…が効率良く塗布される。
最後に、接着剤40に対して透光性蓋部5を載置し、接着剤40を硬化させて接着部4となすことによって、撮像部100を形成する(図3)。
熱硬化樹脂に感光性接着剤が混合された接着剤は感光性を有するため、接着剤40のパターニングは、フォトリソグラフィ技術で露光、現像等の処理をすることによって、容易に、しかも高精度で実行可能である。この結果、固体撮像素子1の表面における有効画素領域2以外の領域が狭い場合でも、高精度に接着部4が形成される。なお、接着部4の形成方法としては、フォトリソグラフィ技術を用いる方法の他に、接着剤(例えばエポキシ樹脂)を印刷法にてパターニングする方法、接着剤をディスペンス法にてパターニングする方法、枠状に形成した接着シートを用いる方法等があり、必要に応じて何れかの方法を適宜選択して良い。
なお、接着部40を透光性蓋部5の裏面に塗布し、接着部40が塗布された透光性蓋部5を固体撮像素子1に装着する手順でも良い。この場合、複数の透光性蓋部5,5,…が個別に切断される前の透光性板材(透光性蓋部5の母材)の状態にあるとき、複数の透光性蓋部5,5,…の夫々に対して接着剤40,40,…を同時に塗布することによって接着剤40,40,…を効率良く塗布する。
また、本実施の形態においては、透光性蓋部5を固体撮像素子1に対し個別に接着しているが、複数の固体撮像素子1,1,…がウエハ状態にある場合には、固体撮像素子1,1,…に透光性板材(透光性蓋部5の母材)を対向配置して、固体撮像素子1,1,…と透光性板材とを同時に接着し、透光性板材を固体撮像素子1に対応して切断することにより各撮像部100を形成する。
図7〜図10は、光学装置用モジュール20の製造方法の説明図であり、光学装置用モジュール20の各製造工程における断面図を示している。図中21は多連配線基板であり、多連配線基板21は、複数の光学装置用モジュール20,20,…に一対一対応する配線基板6,6,…を、マトリックス状、長尺状等に連結したものである。多連配線基板21を用いる場合、各配線基板6に対応させて光学装置用モジュール20を同時的に製造することができる。この場合、光学装置用モジュール20,20,…の製造効率が向上し、また光学装置用モジュール20,20,…の特性が均一化される。
多連配線基板21は分割線6aにおいて個々の配線基板6に対応する領域に区分され、最終的には分割線6aにおいて分割され、個々の配線基板6(個々の光学装置用モジュール20)に分離される。以下、多連配線基板21を用いて複数の光学装置用モジュール20,20,…を同時的に製造する工程について説明する。なお、多連配線基板21を用いず、当初から個々に分離された個別の配線基板6により光学装置用モジュール20を製造しても良い。
まず、多連配線基板21として、機械的強度を維持するために0.05〜2.00mm程度の厚さを有するセラミック基板、ガラスエポキシ樹脂基板、アルミナ基板等を準備し、多連配線基板21の両面に、個々の配線基板6に対応させて導体配線7をパターン形成する(図7)。導体配線7は、目的とする光学装置用モジュール20,20,…の仕様に応じて適宜設計され、一の配線基板6の両面に形成された導体配線7は、配線基板6の内部において相互に接続するよう処理される(不図示)。他の配線基板6,6,…に対しても、同時的に同様な処理がなされる。以下では1個の配線基板6における製造工程に注目して説明する。
導体配線7の形成後、配線基板6の表面に、貫通電極14,14,…が形成されたDSP8を、接着部15を介して接着することによって配線基板6に対しDSP8を実装する(図8)。まず、DSP8に、両面から適宜突出している複数の貫通電極14,14,…を予め形成しておく。ここで、貫通電極14,14,…の突出部分は、貫通電極3,3,…又は導体配線7と接触して電気的に接続するために設けられる。なお、貫通電極14,14,…に突出部分を設ける代わりに、貫通電極3,3,…及び導体配線7に突出部分を設けても良い。
次に、配線基板6の表面にシート状の異方導電性接着剤を載置し、載置した異方導電性接着剤上に、DSP8の貫通電極14,14,…と配線基板6表面上の導体配線7との位置を合わせてDSP8を載置する。最後に、DSP8及び配線基板6を加圧して貫通電極14,14,…及び配線基板6を接触させて貫通電極14,14,…及び配線基板6を電気的に接続し、更に、異方導電性接着剤を硬化させて接着部15となし、DSP8及び配線基板6を固定する。
DSP8の実装後、DSP8の表面に接着部9を介して撮像部100を接着することによって配線基板6に対し固体撮像素子1を実装する(図9)。まず、DSP8の表面にシート状の異方導電性接着剤を載置し、載置した異方導電性接着剤上に、固体撮像素子1の貫通電極3,3,…とDSP8の貫通電極14,14,…との位置を合わせて撮像部100を載置する。次に、撮像部100及びDSP8を加圧して貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…を接触させて電気的に接続し、更に、異方導電性接着剤を硬化させて接着部9となし、固体撮像素子1及びDSP8を固定する。
固体撮像素子1の実装に際し、固体撮像素子1は既にパッケージングされて撮像部100となっている。このため、光学装置用モジュール20の製造時に、有効画素領域2の破損、ダスト付着等が防止され、この結果、クリーン度の低い生産環境の下でも光学装置用モジュール20の製造歩留まりが向上し、光学装置用モジュール20の信頼性が向上する。更に、有効画素領域2を別途保護する必要がないため光学装置用モジュール20の製造が簡易になり、光学装置用モジュール20の製造コストの低減を図ることができる。
なお、DSP8の貫通電極14,14,…と配線基板6の導体配線7とが位置的に一致しない場合、少なくともどちらか一方を再配線することによって、接続前に両者を一致させておく必要がある。また、固体撮像素子1の貫通電極3,3,…とDSP8の貫通電極14,14,…とが位置的に一致しない場合も同様にして接続前に両者を一致させておく必要がある。
固体撮像素子1の実装後、光路画定器10を装着して光学装置用モジュール20を形成する(図10)。この場合、まず、一端部に予めレンズ13が一体的に装着されている筒状の光路画定器10を準備する。次に、透光性蓋部5の表面の周縁部に接着剤を塗布し、透光性蓋部5に対してレンズ13を適宜位置決めしてから透光性蓋部5表面と光路画定器10内周とを接触させ、接着剤を硬化させて結合部11となす。ここで、透光性蓋部5に塗布する接着剤は、結合部11の厚みを低減するために、透光性蓋部5に対して薄く塗布できるように粘度を調整した合成樹脂(例えばエポキシ系樹脂)を用いる。なお、透光性蓋部5の形状に対応してロ字状の枠型に予め形成してあるシート状の接着剤を用いても良い。
結合部11にて透光性蓋部5と光路画定器とが結合されたとき、レンズ13から固体撮像素子1(有効画素領域2)までの光学距離がレンズ13の焦点距離fと一致する。また、光路画定器10の他端部と配線基板6との間には適宜の空隙が設けられる。このため、最後に、この空隙に接着剤を注入して硬化させ調整部12となす。なお、透光性蓋部5及び配線基板6の両方に接着剤を塗布してから光路画定器10を装着する手順でも良い。
以上のようにして多連配線基板21には配線基板6,6,…の夫々に対応して複数の光学装置用モジュール20,20,…が複数形成される。この後、多連配線基板21を分割線6a,6a,…において、ダイシング、ルータ、プレス金型等を用いて分割(切断)し、個片化することにより、個々の光学装置用モジュール20(図1)が形成される。
本実施の形態においては、結合部11から配線基板6までの距離が、結合部11から調整部12側の光路画定器10端部までの距離よりも長いため、光路画定器10の装着時に、光路画定器10端部と配線基板6とが先に当接して光路画定器10内周と透光性蓋部5とが充分に接触又は近接できず、光路画定器10及び透光性蓋部5間に空隙、接着不良、剥離等が生じることを防止している。
なお、本実施の形態における配線基板6は光路画定器10の開口を外部から閉鎖する構成であるが、配線基板6が光路画定器10に収容され、光路画定器10の開口を内部から閉鎖する構成でも良い。この場合、光路画定器10と配線基板6とが当接しないため、光路画定器10内周と透光性蓋部5とが確実に接触又は近接する。ただし、光学装置用モジュール20を平面的な配線基板に実装する場合、少なくとも配線基板6の裏面の導体配線7は光路画定器10の外部に露出している必要がある。
また、本実施の形態においては、レンズ13と一体的な光路画定器10を装着するため、レンズ13と光路画定器10とが別体である場合よりも光学装置用モジュール20の小型化が可能であり、光路画定器10に対してレンズ13を装着する工程が省略される。更に、レンズ13と固体撮像素子1との位置決めが簡略化、精密化され、このため光学装置用モジュールの光学特性の均一化を図ることができる。
なお、光路画定器10として、個々の配線基板6に対応した光路画定器10を個々に装着する代わりに、多連配線基板21に対応した複数の光路画定器10,10,…を相互に連結した多連光路画定器を装着し、後で個別に分離させても良い。また、レンズ13と光路画定器10とが別体であり、レンズ13と光路画定器10とを別途組み立てる構成とした場合には、光学装置用モジュール20毎にレンズ13の仕様を変更可能となり、光学装置用モジュール20の汎用性が向上される。
また、結合部11における結合手段は接着に限らず、例えば透光性蓋部5と光路画定器10が、ネジによる嵌合(螺合)、嵌め込み機構等によって相互に嵌合するようにしても良い。つまり、透光性蓋部5(の表面)をレンズ13の位置決め基準として透光性蓋部5と光路画定器10とを結合することができればどのような結合方法であっても良い。また、光路画定器10はレンズ13の保持と透光性蓋部5への結合が可能な構成であれば良い。本実施の形態における光学装置用モジュール20は、光路画定器10を備えていれば良く、従来の光学装置用モジュールのように光路画定器及び焦点調整器で構成されるレンズ保持具は不要である。このため、光学装置用モジュール20の構造が簡単になり、小型(軽量)化、低コスト化が実現される。
本実施の形態では導体配線7を配線基板6の両面に形成している。この場合、配線基板6の裏面から外部との接続をするための接続端子を取り出すことができるため、光学装置用モジュール20の実装密度が向上する。なお、導体配線7は配線基板6の片面にのみ形成しても良い。
また、本実施の形態のDSP8は半導体チップであるが、これに限らず、半導体チップが樹脂封止されたチップサイズパッケージでも良い。この場合、DSP8の本体である半導体チップが樹脂封止により保護されるため、光学装置用モジュール20の製造時にDSP8本体の破損、ダスト付着等が防止され、光学装置用モジュール20の製造歩留まりが向上し、光学装置用モジュール20の信頼性が向上する。更に、DSP8を別途保護する必要がないため光学装置用モジュール20の製造が簡易になる。ただし、半導体チップのDSP8を備える光学装置用モジュール20の方が、チップサイズパッケージのDSP8を備える光学装置用モジュール20よりも小型化を図ることができる。
なお、貫通電極14,14,…及び導体配線7、又は貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…を接続する場合、異方導電性接着剤の代わりに絶縁性接着剤を用いても良いが、貫通電極14,14,…及び導体配線7間又は貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…間に接着剤が残存して接続不良が生じないようにする必要がある。また、配線基板6又はDSP8上の接着剤に対してDSP8又は固体撮像素子1を載置する手順ではなく、貫通電極14,14,…及び導体配線7又は貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…を電気的に接続してからDSP8及び配線基板6間又は固体撮像素子1及びDSP8間に接着剤を注入する手順でも良い。この場合、注入する接着剤は絶縁性接着剤でも良い。
更に、貫通電極14,14,…及び導体配線7、又は貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…を、半田ダンプのようなフリップチップボンディングによって接続しても良い。この場合、DSP8の貫通電極14,14,…が突出している必要はない。まず、貫通電極14,14,…、貫通電極3,3,…、又は導体配線7に半田バンプ若しくは半田ペーストを形成し、次に、貫通電極14,14,…及び導体配線7、又は貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…を位置合わせしてから、熔融接続させる。最後に、貫通電極14,14,…及び導体配線7間、又は貫通電極3,3,…及び貫通電極14,14,…間に接着剤を注入して硬化させ接着部15又は接着部9を形成する。この場合、接着剤は絶縁性接着剤を用いて良い。
図11〜図13は、光学装置用モジュール20の効果を示す説明図であり、光学装置用モジュール20の断面を示している。図に示す配線基板6は、反り、歪み等を有しているが、配線基板6の板厚は規格内であるとする。
図11は、配線基板6の中央部が凸状態となった場合を示している。この場合、配線基板6の両端が中央に対し凹状態になるため、調整部12は図中上下方向に拡大する。また、図12は、配線基板6の中央部が凹状態となった場合を示している。この場合、配線基板6の両端が中央に対し凸状態になるため、調整部12は図中上下方向に縮小する。一方、図11に示す状態の場合も図12に示す状態の場合も、透光性蓋部5と光路画定器10とは結合部11において結合されている。このため、レンズ13と固体撮像素子1との間の光学距離はレンズの焦点距離fと同一に維持され、また、レンズ13と固体撮像素子1とは平行に保たれる。
つまり、配線基板6が変形してもレンズ13の焦点には位置の変動が生じないため固体撮像素子1に対するレンズ13の位置を調整する必要がない。また、レンズ13の光軸と固体撮像素子1の垂直軸とは一致し、レンズ13と固体撮像素子1とは平行に保たれているため被写体の像が固体撮像素子1に正確に投影される。
図13は、配線基板6の板厚が場所により異なる状態となった場合を示している。例えば、配線基板6の図上右端では板厚が厚く、図上左端では板厚が薄く板厚が左右両端で異なる状態となったとき、配線基板6の左端では中央に対し凹状態になるため、調整部12は図中上下方向に拡大し、配線基板6の右端では中央に対し凸状態になるため、調整部12は図中上下方向に縮小する。一方、透光性蓋部5と光路画定器10とは結合部11において結合されている。このため、レンズ13と固体撮像素子1との間の光学距離はレンズの焦点距離fと同一に維持され、また、レンズ13と固体撮像素子1とは平行に保たれる。
つまり、配線基板6の板厚が場所により異なる場合でもレンズ13の焦点には位置の変動が生じないため固体撮像素子1に対するレンズ13の位置を調整する必要がない。また、レンズ13の光軸と固体撮像素子1の垂直軸とは一致し、レンズ13と固体撮像素子1とは平行に保たれているため、被写体の像が固体撮像素子1に正確に投影される。
以上のようにして調整部12が拡大又は縮小するため、配線基板6の板厚のバラツキ、又は変形によって生じたストレスが低減される。この結果、生じたストレスが結合部11、接着部4、接着部9、又は接着部15に伝播し、このため各部が剥離して結合又は接着が解除され、光学装置用モジュール20が破壊されることが防止される。なお、調整部12が空隙である場合は、配線基板6の板厚のバラツキ、又は変形によって生じたストレスが更に低減される。
本発明に係る光学装置用モジュールの構成を示す断面図である。 本発明に係る光学装置用モジュールが備える撮像部の一の構成を示す平面図である。 本発明に係る光学装置用モジュールが備える撮像部の一の構成を示す断面図である。 本発明に係る光学装置用モジュールが備える撮像部の他の構成を示す平面図である。 本発明に係る光学装置用モジュールが備える撮像部の他の構成を示す断面図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの製造方法の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの製造方法の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの製造方法の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの製造方法の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの製造方法の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの効果を示す一の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの効果を示す他の説明図である。 本発明に係る光学装置用モジュールの効果を示す更に他の説明図である。 従来の光学装置用モジュールの構成を示す断面図である。 従来の光学装置用モジュールの一の問題点を示す説明図である。 従来の光学装置用モジュールの他の問題点を示す説明図である。 従来の光学装置用モジュールの更に他の問題点を示す説明図である。
符号の説明
1 固体撮像素子
2 有効画素領域
3 貫通電極
4 接着部
5 透光性蓋部
6 配線基板
7 導体配線
8 DSP(画像処理装置)
9 接着部
10 光路画定器
11 結合部
12 調整部
13 レンズ
14 貫通電極
15 接着部
20 光学装置用モジュール

Claims (10)

  1. 一面に有効画素領域を有する固体撮像素子と、前記有効画素領域への光路を画定する光路画定器とを備える光学装置用モジュールにおいて、
    前記固体撮像素子を貫通する貫通電極と、
    前記有効画素領域に対向して配置される透光性蓋部を前記固体撮像素子に接着する接着部と、
    前記透光性蓋部及び前記光路画定器を結合する結合部と
    を備えることを特徴とする光学装置用モジュール。
  2. 前記結合部は前記透光性蓋部及び前記光路画定器を接着していることを特徴とする請求項1に記載の光学装置用モジュール。
  3. 前記透光性蓋部は前記固体撮像素子の前記一面の平面寸法より小さい平面寸法を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の光学装置用モジュール。
  4. 前記接着部は感光性接着剤を含むことを特徴とする請求項1乃至3の何れかひとつに記載の光学装置用モジュール。
  5. 前記有効画素領域及び透光性蓋部の間には空間が形成され、前記接着部は前記一面における有効画素領域の外周部に形成されていることを特徴とする請求項1乃至4の何れかひとつに記載の光学装置用モジュール。
  6. 前記接着部は前記外周部を密封する構成としてあることを特徴とする請求項5に記載の光学装置用モジュール。
  7. 前記光路画定器は前記有効画素領域に対向して配置されるレンズを保持することを特徴とする請求項1乃至6の何れかひとつに記載の光学装置用モジュール。
  8. 前記固体撮像素子は配線基板に接着された画像処理装置の平面部に接着されていることを特徴とする請求項1乃至7の何れかひとつに記載の光学装置用モジュール。
  9. 前記貫通電極と前記画像処理装置を貫通する貫通電極とが接続されていることを特徴とする請求項8に記載の光学装置用モジュール。
  10. 一面に有効画素領域を有する固体撮像素子と、前記有効画素領域への光路を画定する光路画定器とを備える光学装置用モジュールの製造方法において、
    前記固体撮像素子に貫通電極を形成する工程と、
    前記有効画素領域に対向して配置した透光性蓋部を前記固体撮像素子に接着する工程と、
    前記透光性蓋部に前記光路画定器を結合する工程と
    を備えることを特徴とする光学装置用モジュールの製造方法。
JP2004019006A 2004-01-27 2004-01-27 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法 Expired - Fee Related JP4236594B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004019006A JP4236594B2 (ja) 2004-01-27 2004-01-27 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
US11/039,813 US7265916B2 (en) 2004-01-27 2005-01-24 Module for optical devices, and manufacturing method of module for optical devices
KR1020050006917A KR100822968B1 (ko) 2004-01-27 2005-01-26 광학 장치용 모듈 및 광학 장치용 모듈의 제조 방법
TW094102238A TWI270707B (en) 2004-01-27 2005-01-26 Module for optical devices, and manufacturing method of module for optical devices
CNB2005100063302A CN1324340C (zh) 2004-01-27 2005-01-26 光学装置用模块和光学装置用模块的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004019006A JP4236594B2 (ja) 2004-01-27 2004-01-27 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005216970A true JP2005216970A (ja) 2005-08-11
JP4236594B2 JP4236594B2 (ja) 2009-03-11

Family

ID=34792560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004019006A Expired - Fee Related JP4236594B2 (ja) 2004-01-27 2004-01-27 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7265916B2 (ja)
JP (1) JP4236594B2 (ja)
KR (1) KR100822968B1 (ja)
CN (1) CN1324340C (ja)
TW (1) TWI270707B (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007214438A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Dainippon Printing Co Ltd センサーパッケージ
JP2007214441A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Dainippon Printing Co Ltd 複合センサーパッケージ
JP2007281929A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Iwate Toshiba Electronics Co Ltd 固体撮像装置およびその製造方法
JP2007282137A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Sharp Corp 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
US7438780B2 (en) 2004-06-11 2008-10-21 Sharp Kabushiki Kaisha Manufacturing method for base piece made to adhere to adhesive sheet, manufacturing method for semiconductor wafer and manufacturing method for semiconductor device
WO2008153082A1 (ja) 2007-06-12 2008-12-18 Sumitomo Bakelite Company Limited 樹脂組成物、埋め込み材、絶縁層および半導体装置
JP2009510732A (ja) * 2005-09-30 2009-03-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 検出器装置および検出器素子
JP2010517432A (ja) * 2007-01-26 2010-05-20 フレックストロニクス エーピー エルエルシー ウエハーレベルカメラモジュール及びその製造方法
KR101143938B1 (ko) * 2010-04-22 2012-05-15 주식회사 지멤스 이미지센서 모듈, 이를 포함하는 영상 장치 및 그 제조방법
JP2014110847A (ja) * 2012-12-05 2014-06-19 Olympus Corp 撮像装置、内視鏡及び撮像装置の製造方法
JP2015032707A (ja) * 2013-08-02 2015-02-16 住友電気工業株式会社 光センサ装置およびスペクトルイメージング撮像システム
US9419032B2 (en) 2009-08-14 2016-08-16 Nanchang O-Film Optoelectronics Technology Ltd Wafer level camera module with molded housing and method of manufacturing
CN110610951A (zh) * 2014-01-27 2019-12-24 索尼公司 具有改善的切割性能的图像传感器、其制造装置及制造方法

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7368695B2 (en) * 2004-05-03 2008-05-06 Tessera, Inc. Image sensor package and fabrication method
JP2006276463A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Sharp Corp 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
JP2007007227A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Pentax Corp 電子内視鏡用撮像装置
CN100470847C (zh) * 2006-01-13 2009-03-18 崴强科技股份有限公司 影像感测芯片封装装置
US7822338B2 (en) * 2006-01-20 2010-10-26 Sony Ericsson Mobile Communications Ab Camera for electronic device
CN100454508C (zh) * 2006-03-01 2009-01-21 旺宏电子股份有限公司 制造影像撷取组件及照相模块的方法
KR101294419B1 (ko) * 2006-03-10 2013-08-08 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈 및 그 제조 방법
KR20070105723A (ko) * 2006-04-27 2007-10-31 삼성전기주식회사 카메라 모듈 패키지
JP4908150B2 (ja) * 2006-10-18 2012-04-04 浜松ホトニクス株式会社 撮像装置の保持構造及び撮像装置
CN101165523B (zh) * 2006-10-20 2010-05-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像感测模组封装结构
CN101193507B (zh) * 2006-12-01 2011-07-27 深圳富泰宏精密工业有限公司 具有平板视窗镜片的壳体及其制造方法
JP4340698B2 (ja) * 2007-04-27 2009-10-07 シャープ株式会社 光学ユニットおよびそれを備えた固体撮像装置並びに電子機器
CN100561736C (zh) * 2007-05-25 2009-11-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像感测器封装结构及其应用的成像模组
JP4799543B2 (ja) * 2007-12-27 2011-10-26 株式会社東芝 半導体パッケージ及びカメラモジュール
EP2451147A4 (en) * 2010-03-10 2012-12-05 Smk Kk CAMERA MODULE
US9000344B2 (en) * 2013-03-15 2015-04-07 Sensors Unlimited, Inc. Focal plane array periphery through-vias for read out integrated circuit
US9276030B2 (en) * 2013-03-15 2016-03-01 Sensors Unlimited, Inc. Read out integrated circuit input/output routing on permanent carrier
SG10201705797UA (en) * 2013-09-10 2017-08-30 Heptagon Micro Optics Pte Ltd Compact opto-electronic modules and fabrication methods for such modules
WO2015126328A1 (en) * 2014-02-18 2015-08-27 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Optical modules including customizable spacers for focal length adjustment and/or reduction of tilt, and fabrication of the optical modules
WO2016163953A1 (en) * 2015-04-06 2016-10-13 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Small footprint auto focus camera module
GB2537628B (en) * 2015-04-21 2019-05-15 Qioptiq Ltd Low stress mounting configuration for optical component
US20170047362A1 (en) * 2015-08-13 2017-02-16 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Optoelectronic module with customizable spacers
US10466501B2 (en) * 2016-05-26 2019-11-05 Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. Optoelectronic modules including an optical system tilted with respect to a focal plane
CN112118373B (zh) * 2019-06-21 2021-08-06 致伸科技股份有限公司 微型化影像采集模块及其制作方法
EP4160666A4 (en) * 2020-05-28 2023-10-25 Sony Semiconductor Solutions Corporation SOLID STATE IMAGING APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6437925B1 (en) * 1998-06-30 2002-08-20 Olympus Optical Co., Ltd. Optical apparatus
JP2001016486A (ja) * 1999-06-25 2001-01-19 Toshiba Corp 固体撮像素子モジュール
JP2001250930A (ja) * 2000-03-03 2001-09-14 Olympus Optical Co Ltd 小型撮像モジュール
JP2002182270A (ja) 2000-12-15 2002-06-26 Toshiba Corp カメラモジュール及びその製造方法
JP3540281B2 (ja) * 2001-02-02 2004-07-07 シャープ株式会社 撮像装置
JP2002231918A (ja) * 2001-02-06 2002-08-16 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置及びその製造方法
JP4000507B2 (ja) 2001-10-04 2007-10-31 ソニー株式会社 固体撮像装置の製造方法
US6949808B2 (en) 2001-11-30 2005-09-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid-state imaging apparatus and manufacturing method thereof
DE60303153D1 (de) 2002-03-25 2006-04-06 Konica Corp Dreilinsiges Objektiv

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7438780B2 (en) 2004-06-11 2008-10-21 Sharp Kabushiki Kaisha Manufacturing method for base piece made to adhere to adhesive sheet, manufacturing method for semiconductor wafer and manufacturing method for semiconductor device
JP2009510732A (ja) * 2005-09-30 2009-03-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 検出器装置および検出器素子
JP2007214438A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Dainippon Printing Co Ltd センサーパッケージ
JP2007214441A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Dainippon Printing Co Ltd 複合センサーパッケージ
JP2007281929A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Iwate Toshiba Electronics Co Ltd 固体撮像装置およびその製造方法
US8519457B2 (en) 2006-04-07 2013-08-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Solid-state image pickup device and a camera module
JP2007282137A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Sharp Corp 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
JP2014239446A (ja) * 2007-01-26 2014-12-18 デジタルオプティクス コーポレーション ウエハーレベルカメラモジュール及びその製造方法
JP2010517432A (ja) * 2007-01-26 2010-05-20 フレックストロニクス エーピー エルエルシー ウエハーレベルカメラモジュール及びその製造方法
US8456560B2 (en) 2007-01-26 2013-06-04 Digitaloptics Corporation Wafer level camera module and method of manufacture
EP2477215A2 (en) 2007-06-12 2012-07-18 Sumitomo Bakelite Company Limited Resin composition, embedding material, insulating layer and semiconductor device
US7999354B2 (en) 2007-06-12 2011-08-16 Sumitomo Bakelite Company, Ltd. Resin composition, filling material, insulating layer and semiconductor device
WO2008153082A1 (ja) 2007-06-12 2008-12-18 Sumitomo Bakelite Company Limited 樹脂組成物、埋め込み材、絶縁層および半導体装置
US9419032B2 (en) 2009-08-14 2016-08-16 Nanchang O-Film Optoelectronics Technology Ltd Wafer level camera module with molded housing and method of manufacturing
KR101143938B1 (ko) * 2010-04-22 2012-05-15 주식회사 지멤스 이미지센서 모듈, 이를 포함하는 영상 장치 및 그 제조방법
JP2014110847A (ja) * 2012-12-05 2014-06-19 Olympus Corp 撮像装置、内視鏡及び撮像装置の製造方法
JP2015032707A (ja) * 2013-08-02 2015-02-16 住友電気工業株式会社 光センサ装置およびスペクトルイメージング撮像システム
CN110610951A (zh) * 2014-01-27 2019-12-24 索尼公司 具有改善的切割性能的图像传感器、其制造装置及制造方法
CN110610951B (zh) * 2014-01-27 2022-11-18 索尼公司 具有改善的切割性能的图像传感器、其制造装置及制造方法
US11594563B2 (en) 2014-01-27 2023-02-28 Sony Corporation Image sensor having improved dicing properties

Also Published As

Publication number Publication date
TW200537152A (en) 2005-11-16
KR20050077267A (ko) 2005-08-01
CN1324340C (zh) 2007-07-04
TWI270707B (en) 2007-01-11
US20050163016A1 (en) 2005-07-28
JP4236594B2 (ja) 2009-03-11
KR100822968B1 (ko) 2008-04-17
US7265916B2 (en) 2007-09-04
CN1648707A (zh) 2005-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4236594B2 (ja) 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
EP1462839B1 (en) Module for optical image capturing device comprising objective lens and image sensor
JP4160083B2 (ja) 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
US7221051B2 (en) Semiconductor device, module for optical devices, and manufacturing method of semiconductor device
US7593636B2 (en) Pin referenced image sensor to reduce tilt in a camera module
KR100753896B1 (ko) 반도체 장치 모듈 및 반도체 장치 모듈의 제조방법
JP2004296453A (ja) 固体撮像装置、半導体ウエハ、光学装置用モジュール、固体撮像装置の製造方法及び光学装置用モジュールの製造方法
JP2001351997A (ja) 受光センサーの実装構造体およびその使用方法
KR20100126644A (ko) 고체 촬상 장치 및 그의 제조 방법
JP2008263550A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
JP2004242166A (ja) 光モジュール及びその製造方法並びに電子機器
JP2002329850A (ja) チップサイズパッケージおよびその製造方法
JP2005317745A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
US9111827B2 (en) Manufacturing method of solid-state imaging apparatus, solid-state imaging apparatus, and electronic imaging apparatus
JP2009267122A (ja) 半導体装置
JP2002329851A (ja) 撮像モジュールとその製造方法、および撮像モジュールを備えた撮像機器
JP2001068654A (ja) 固体撮像素子および固体撮像素子の製造方法
JP4145619B2 (ja) 光モジュール及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
JP4463193B2 (ja) 固体撮像装置および固体撮像装置の製造方法
JP4138436B2 (ja) 光モジュール、回路基板及び電子機器
JP2006157030A (ja) 固体撮像装置および固体撮像装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060301

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080430

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080617

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080722

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081014

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081112

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081216

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121226

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121226

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees