JP2005195472A

JP2005195472A - ロープテスタ

Info

Publication number: JP2005195472A
Application number: JP2004002313A
Authority: JP
Inventors: Norihiro Nagatoku; 典宏長徳
Original assignee: Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd
Current assignee: Mitsubishi Electric Building Solutions Corp
Priority date: 2004-01-07
Filing date: 2004-01-07
Publication date: 2005-07-21

Abstract

【課題】摩擦係数の高いワイヤロープを使用した場合でも、損傷部の検出時に振動を発生することがなく、良好な測定を行うことが可能なロープテスタを得る。
【解決手段】磁石のＮ極及びＳ極に渡って設けられ、磁石によって両端部がＮ極及びＳ極に磁化された検出部を有するプローブと、このプローブに設けられ、検出部によって磁化されたワイヤロープに発生する磁束の変化を検出する検出センサと、プローブの検出部の両側に設けられ、ワイヤロープがプローブに接触しないようにワイヤロープをその回動によって案内するガイドローラとを備える。
【選択図】図１

Description

この発明は、ワイヤロープの損傷部を検出するロープテスタに関するものである。

従来のロープテスタには、磁石のＮ極とＳ極の下部間にワイヤロープのガイド孔及び検出センサを備えたプローブを装着し、このプローブの両側面の両端部近くに、それぞれ近接したワイヤロープを滑らかにガイドするガイド凸部を設けたものがある（例えば、特許文献１参照）。

特開平９−１８４８２４号公報

特許文献１記載のロープテスタでは、クレーンやエレベータ等のように、複数本のワイヤロープが近接して配置された場所で使用される場合でも、プローブの両側面の両端部近くにガイド凸部が設けられているため、プローブ両側面に吸引される近接ワイヤロープを滑らかにガイドすることができる。このため、近接ワイヤロープの表面凹凸によって発生する振動を防止することができ、検出信号のノイズ発生を効果的に低減して、探傷性能及び信頼性を向上させることが可能である。しかし、実際に損傷部検出が行われるワイヤロープは、分割ガイド部に設けられた半円弧状溝によってバネ付勢等で嵌装され、その外周部がこの溝と接触しているため、プローブとワイヤロープとの間に円滑な滑りが生じない場合には、プローブとワイヤロープとを相対移動させて損傷部の検出を行う際に、振動が発生することがあった。この振動は、誤検出や出力波形の乱れが生じる原因となることから、良好な測定結果を得ることができないという問題が生じていた。特に、エレベータで使用されるワイヤロープにおいて、エレベータ巻上機の駆動力をワイヤロープに確実に伝達するために、ワイヤロープに摩擦係数の高いウレタン被覆等が施されている場合には、プローブとワイヤロープとの間に円滑な滑りを発生させることは困難となっていた。

この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、摩擦係数の高いワイヤロープを使用した場合でも、損傷部の検出時に振動を発生することがなく、良好な測定を行うことが可能なロープテスタを提供することである。

この発明に係るロープテスタは、磁石のＮ極及びＳ極に渡って設けられ、磁石によって両端部がＮ極及びＳ極に磁化された検出部を有するプローブと、このプローブに設けられ、検出部によって磁化されたワイヤロープに発生する磁束の変化を検出する検出センサと、プローブの検出部の両側に設けられ、ワイヤロープがプローブに接触しないようにワイヤロープをその回動によって案内するガイドローラとを備えたものである。

この発明は、磁石のＮ極及びＳ極に渡って設けられ、磁石によって両端部がＮ極及びＳ極に磁化された検出部を有するプローブと、このプローブに設けられ、検出部によって磁化されたワイヤロープに発生する磁束の変化を検出する検出センサと、プローブの検出部の両側に設けられ、ワイヤロープがプローブに接触しないようにワイヤロープをその回動によって案内するガイドローラとを備える構成としたことで、摩擦係数の高いワイヤロープを使用した場合でも、損傷部の検出時に振動を発生することがなく、良好な測定を行うことができる。

実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１におけるロープテスタの正面図、図２はその側面図である。図において、直方体状の基台１の上面両端部には、上方角部が面取りされた略直方体状のグリップ支持台２ａがそれぞれ立設されており、このグリップ支持台２ａに渡って円柱状のグリップ２が設けられている。この基台１の下面には、その中央部に、永久磁石や電磁石等からなる磁石３ａ及び３ｂが、一方がＮ極を、また他方がＳ極を下方に向けて、所定の間隔を空けて設けられている。なお、磁石３ａ及び３ｂが電磁石の場合には、コ字状を呈する鉄心の中央部に励磁コイルを巻き掛け、鉄心のコ字状の開放部を下方にして基台１の下面に設ければ良い。この場合、鉄心の両端部が磁石３ａ及び３ｂを構成する。この磁石３ａ及び３ｂの下面には、磁石３ａ及び３ｂ間に渡って略直方体状のプローブ４が設けられおり、このプローブ４は、磁石３ａ及び３ｂによってその両端部がＳ極とＮ極とに強力に磁化されている。プローブ４の下面には、測定時に、後述するワイヤロープ８を磁化するための検出部からなる略Ｕ字状の溝４ａが、Ｓ極とＮ極とに強力に磁化されたプローブ４の両端部に渡って設けられており、プローブ４の中央部には、プローブ４の下面に形成されたこの溝４ａの略Ｕ字状の内面と僅かな間隙を有して検出センサ５が設けられている。この検出センサ５は、検出コイル等から構成され、溝４ａによって磁化されるワイヤロープ８に発生する磁束の変化を検出する。また、基台１下面の両端部には、磁石３ａ及び３ｂのさらに外側となる位置に、ガイドローラ支持台７ａ及び７ｂがそれぞれ設けられており、このガイドローラ支持台７ａ及び７ｂに、ワイヤロープ８を案内する略円柱状のガイドローラ６ａ及び６ｂがそれぞれ回動可能に固定されている。このガイドローラ６ａ及び６ｂは、凹状に湾曲した外周面を有しており、この外周面の中心部に、回動中心からの半径が最小となる円形を呈した半径最小部６ｃを、また、この半径最小部６ｃの両側に、半径最小部６ｃから反対方向に向かうに従って回動中心からの半径が大きくなる一対の傾斜部を有している。そして、プローブ４に設けられた略Ｕ字状の溝４ａの溝方向及び深さ方向に対して直交するように回動軸が設けられ、外周面の半径最小部６ｃの最下端が、溝４ａの最深部４ｂよりも僅かに下方（反基台１側）となるように配置されている。すなわち、プローブ４の溝４ａの両側に設けられたガイドローラ６ａ及び６ｂのそれぞれの外周面の円状を呈する半径最小部６ｃの接線のうち、ワイヤロープ８が接触する側（反基台１側）の接線が、プローブ４との間に所定の間隔を有する、つまり、プローブ４を貫通せずに溝４ａの最深部４ｂを形成する直線と僅かな間隔を有して略平行となるように、ガイドローラ６ａ及び６ｂと溝４ａとが配置されている。なお、前述したガイドローラ支持台７ａ及び７ｂは、基台１に対して取付け及び取外し若しくは倒すことが可能な構造を有している。

次に、上記のような構成を有するロープテスタを使用して、例えば、エレベータで使用されるワイヤロープ８の損傷部の検出作業を、エレベータ昇降路の上方に設置された機械室において行う場合について説明する。先ず、機械室に設置されたエレベータ巻上機（図示せず）を低速で運転させ、ワイヤロープ８を低速で移動させる。次に、移動するワイヤロープ８がプローブ４の溝４ａ内に収まるようにして、ワイヤロープ８の外周面にガイドローラ６ａ及び６ｂの外周面をそれぞれ接触させる。ここで、溝４ａの略Ｕ字状を呈する内面とワイヤロープ８の外周面とは、溝４ａの溝方向に渡って一定の僅かな間隙を有して対向しており、ガイドローラ６ａ及び６ｂは、ワイヤロープ８との摩擦力によってワイヤロープ８と連動して回動する。即ち、ワイヤロープ８は、プローブ４に接触しないようにガイドローラ６ａ及び６ｂの回動によって案内されることとなる。このワイヤロープ８は、その溝４ａ内に配置された部分の両端部が、溝４ａによってそれぞれＳ極とＮ極とに強力に磁化され、ワイヤロープ８の長手方向に磁束が発生する。このワイヤロープ８に断線や摩耗などによる損傷部が存在する場合には、その損傷部を避けて磁束が生じるため、ワイヤロープ８に漏洩磁束が発生する。このように漏洩磁束を伴うワイヤロープ８の損傷部がプローブ４に設けられた検出センサ５の近傍を通過すると、検出センサ５にはこの漏洩磁束によって生じる磁束変化により起電力が発生し、この起電力によってワイヤロープ８の損傷部が検出される。なお、損傷部の判断は、検出センサ５の出力波形の確認や、出力値が一定値以上になった場合にブザーを鳴動させること等によって行われる。

この発明の実施の形態１によれば、プローブ４の溝４ａの両側に設けられたガイドローラ６ａ及び６ｂ外周面の円状を呈する半径最小部６ｃの接線のうち、反基台１側の接線が、プローブ４との間に所定の間隔を有する、つまり、プローブ４を貫通せずに溝４ａの最深部４ｂを形成する直線と僅かな間隔を有して略平行となるように、ガイドローラ６ａ及び６ｂと溝４ａとが配置されているため、ワイヤロープ８は、溝４ａの内面に接触することがなく、ガイドローラ６ａ及び６ｂの外周面のみに接触することになる。このように、ワイヤロープ８は、ガイドローラ６ａ及び６ｂの回動によって案内されるため、例えば、ウレタン被覆されたような摩擦係数の大きいワイヤロープ８の損傷部を検出する場合でも振動による誤検出や出力波形の乱れなどの恐れがなく、良好な測定結果を得ることが可能となる。また、ガイドローラ６ａ及び６ｂの外周面は、その中心部に半径が最小となる半径最小部６ｃを、また、この半径最小部６ｃの両側に反対方向に向かうに従って半径が大きくなる一対の傾斜部を有しているため、ワイヤロープ８とロープテスタとが相対移動する場合でも、ロープテスタを軽くワイヤロープ８側に押し付けることによって、ワイヤロープ８を溝４ａの中央部に位置決めすることが可能となる。このため、ワイヤロープ８と溝４ａの内面との接触を防止することができ、作業性を向上させることが可能となる。

なお、ガイドローラ６ａ及び６ｂを支持しているガイドローラ支持台７ａ及び７ｂは、脱着式若しくは可倒式の構造を有しているため、プローブ４との間に円滑な滑りを有するワイヤロープ８の損傷部の検出を行う場合には、従来通り、ワイヤロープ８とプローブ４を接触させることによってワイヤロープ８の損傷部の検出を行うことも可能である。また、実施の形態１では、ガイドローラ６ａ及び６ｂは、凹状に湾曲した外周面を有しているが、略Ｖ字状を呈する外周面として、ワイヤロープ８の位置決めを行っても良い。この場合、ワイヤロープ８の直径によってワイヤロープ８と検出センサ５との距離が変化してしまうため、ガイドローラ６ａ及び６ｂの高さを調節することができるように、ガイドローラ支持台７ａ及び７ｂ等に高さ調節機能を付加することで、直径の異なるワイヤロープ８に対しても良好な損傷部の検出が可能となる。

この発明の実施の形態１におけるロープテスタの正面図である。この発明の実施の形態１におけるロープテスタの側面図である。

符号の説明

１基台
２グリップ
２ａグリップ支持台
３ａ、３ｂ磁石
４プローブ
４ａ溝
４ｂ最深部
５検出センサ
６ａ、６ｂガイドローラ
６ｃ半径最小部
７ａ、７ｂガイドローラ支持台
８ワイヤロープ

Claims

磁石のＮ極及びＳ極に渡って設けられ、前記磁石によって両端部がＮ極及びＳ極に磁化された検出部を有するプローブと、このプローブに設けられ、前記検出部によって磁化されたワイヤロープに発生する磁束の変化を検出する検出センサと、前記プローブの前記検出部の両側に設けられ、前記ワイヤロープが前記プローブに接触しないように前記ワイヤロープをその回動によって案内するガイドローラとを備えたことを特徴とするロープテスタ。
ガイドローラは、外周面に、反対方向に向かうに従って回動中心からの半径が大きくなる一対の傾斜部を有することを特徴とする請求項１に記載のロープテスタ。
ガイドローラは、凹状に湾曲する外周面を備え、前記ガイドローラ外周面の半径最小部の接線のうち、ワイヤロープ接触側の接線が、プローブとの間に所定の間隔を有することを特徴とする請求項２に記載のロープテスタ。
検出部は、Ｕ字状を呈する溝であることを特徴とする請求項１から請求項３の何れかに記載のロープテスタ。
ガイドローラは、脱着式若しくは可倒式であることを特徴とする請求項１から請求項４の何れかに記載のロープテスタ。