JP4968859B2 - ワイヤロープ探傷装置 - Google Patents

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Description

この発明は、エレベータ等の乗りかごを吊り下げるワイヤロープの破損や素線の断線(以下、ワイヤロープ損傷部と呼ぶ)を検出するワイヤロープ探傷装置に関する。
従来、ワイヤロープ探傷装置として、ワイヤロープを磁気飽和させたときに素線切れなどの損傷部に発生する漏洩磁束を検出コイルで検出して、ワイヤロープ損傷部を検知するものがあった(例えば、特許文献1参照)。
また、従来、ワイヤロープに対向して近接配置された少なくとも2つの磁極を有した励磁鉄心と、励磁鉄心に巻回された励磁コイルと、励磁コイルに電流を供給する電源と、2つの磁極の間に配設され、2つの磁極を介してワイヤロープ内を通過する主磁束から分岐した分極磁束がその内部を通過するように構成された検出コイルとを有し、ワイヤロープの長手方向の励磁鉄心に対する相対移動により、検出コイルに励起された起電力によりワイヤロープ表面に生じた機械的損傷を検出するワイヤロープの磁気探傷装置において、電源として交流電源を用いたことを特徴とするものがあった(例えば、特許文献2参照)。
特開平9−210968号公報(段落[0003]、図8等) 特開平11−230945号公報(請求項1、図1等)
上述のような従来例におけるワイヤロープ探傷装置は、ワイヤロープの表面付近に生じた損傷に対して十分な検出性能を発揮するが、ワイヤロープの内部で生じた損傷については見落としが生じるという課題を有する。
たとえば、特許文献1(特開平9−210968号公報)のように、ワイヤロープ損傷部付近の局所的漏洩磁束を検知する方式では、検出コイルに生じる誘導起電力が漏洩磁束量に比例する。ところが、ワイヤロープの内部に損傷が生じた場合、漏洩磁束の大部分がワイヤロープ表面付近の素線に遮蔽されてしまい、検出コイルに生じる誘導起電力が小さくなり、十分なSN比を得ることができない。
また、特許文献2(特開平11−230945号公報)のように、ワイヤロープ上の2区間におけるパーミアンスの差を検知する方式において、交流による励磁を行うと、磁束の表皮効果により、磁束はワイヤロープの表面付近に集中して流れる。したがって、ワイヤロープの内部に損傷が生じた場合、磁路の断面積に与える影響は小さく、パーミアンスの差は発生しないので損傷の検知は難しくなる。
さらに、特許文献2(特開平11−230945号公報)の方式では、複数の損傷部がワイヤロープの長手方向に近接して発生した場合に検出精度が低下する可能性がある。例えば、所定の検出2区間にそれぞれ同程度の損傷が1箇所ずつ発生した場合、両検出区間のパーミアンスの差が小さくなるため、検出コイルに生じる誘起電圧が低下し、SN比が低下する。
この発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、ワイヤロープ内部に損傷が生じ、ワイヤロープ表面の素線の遮蔽効果により局所的漏洩磁束が大幅に減衰した場合であっても、局所的漏洩磁束を効率よく捕捉し、安定した検出精度を実現することを目的とする。
この発明のワイヤロープ探傷装置は、ワイヤロープの軸方向所定区間に主磁路を形成する磁化器と、この所定区間内であって磁化器から磁気的に絶縁されて配置され、ワイヤロープ損傷部により発生する漏洩磁束をワイヤロープの外側に迂回させる磁路部材と、磁路部材に巻回され漏洩磁束を検出する検出コイルとを備え
磁路部材は、強磁性体により構成されて、ワイヤロープ外周と直接または非磁性材を介して接する少なくとも2箇所の接面部と、ワイヤロープ外周までの距離が接面部よりも離れた位置にある接面部以外の部分とを有し、
接面部以外の部分とワイヤロープとの間に検出コイルの一部が挿入される空間を有して、この空間のワイヤロープの軸方向の長さは、2箇所の接面部間の開口部のワイヤロープの軸方向の長さよりも長い
この発明のワイヤロープ探傷装置によれば、磁路部材を備えることにより、ワイヤロープ損傷部付近から発生する漏洩磁束の磁路のパーミアンスを向上させることができ、漏洩磁束量を増加させる効果が得られる。また、漏洩磁束の磁路長の延長が可能となり、磁路部材に巻回する検出コイルの巻回可能な領域が増加して検出コイルターン数を増強することができる。その結果、ワイヤロープ内部に損傷が生じ、ワイヤロープ表面の素線の遮蔽効果により漏洩磁束が減衰した場合であっても、当該漏洩磁束を効率よく捕捉し、損傷検出の際に十分なSN比を得ることができる。
この発明の実施の形態1に係るワイヤロープ探傷装置を示す斜視図である。 図1のワイヤロープ探傷装置のガイドプレートを外したときの様子を示す斜視図である。 磁路部材を有しないワイヤロープ探傷装置の断面模式図である。 図3の局所的漏洩磁束の流れを示す拡大図である。 この発明の実施の形態1の磁路部材を有するワイヤロープ探傷装置の断面模式図である。 図5の局所的漏洩磁束の流れを示す拡大図である。 図3の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置並びに図5の磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置によりワイヤロープ損傷部を検査したときの誘起電圧波形を示す図である。 図3の磁路部材が無いワイヤロープ探傷装置の検出コイル付近の鎖交磁束密度分布を示す図である。 図5の磁路部材が有るワイヤロープ探傷装置の検出コイル付近の鎖交磁束密度分布を示す図である。 磁路部材無いワイヤロープ探傷装置の検出コイル付近を示す図である。 磁路部材が有るワイヤロープ探傷装置の検出コイル付近を示す図である。 図10の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置並びに図11の磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置の場合のコイル巻回幅Wを増加させたときの誘起電圧ピーク値を表す図である。 図10の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置並びに図11の磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置の場合の漏れ磁束量を示すグラフである。 この発明の実施の形態1による磁路部材を示す斜視図である。 この発明の実施の形態1による磁路部材の製作を示す斜視図である。 この発明の実施の形態1による磁化器の補助永久磁石の磁極の向きを示す図である。 この発明の実施の形態1による磁路部材の検出コイルを示す斜視図である。 図17の磁路部材の検出コイル付近を示す拡大断面図である。 この発明の実施の形態2によるワイヤロープ探傷装置においてガイドプレートを外したときの様子を示す斜視図である。
以下、この発明を実施するための最良の形態を、図に基づいて説明する。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1に係るワイヤロープ探傷装置を示す斜視図であり、図2は図1のワイヤロープ探傷装置のガイドプレート6を外したときの様子を示す斜視図である。図において、ワイヤロープ探傷装置2は、ワイヤロープ1が走行(図示A)するための略U字状のガイド溝6aを有するガイドプレート6を備えている。本実施の形態のワイヤロープ探傷装置2は、磁化器により走行するワイヤロープ1の軸方向所定区間に主磁路を形成すると共に、ワイヤロープ1の損傷部により発生する漏洩磁束を磁路部材7を介してワイヤロープ1の外側に迂回させ、当該漏洩磁束を磁路部材7に巻回された検出コイル8により検出するものである。
ワイヤロープ探傷装置2の磁化器は、ワイヤロープ1の軸方向所定区間に主磁路を形成するためのものであり、鉄等の強磁性体を材料とするバックヨーク3と、バックヨーク3両端上に互いにその極性を逆にして配置された一対の励磁用永久磁石4a、4bと、各永久磁石4a、4bのバックヨーク3と反対側の磁極面に配置された強磁性体から成る磁極片5a、5bとから構成されている。磁極片5a、5bは、その上部がワイヤロープ1の外周曲率に沿うように略U字形状となっている。
また、永久磁石4a上に補助永久磁石16a、16bが、永久磁石4b上に補助永久磁石16c、16dが配置されている。これら補助永久磁石16a及び16bと、16c及び16dの磁極の向きは、図16に示すように、ワイヤロープ1の中心に向かう極性が、それぞれ永久磁石4a、4bと同一となるように設定される。これにより、ワイヤロープ1内の磁束がムラなく飽和するため、局所的な漏洩磁束の増加に貢献することができる。
磁路部材7は、ワイヤロープ1の損傷部10により発生する漏洩磁束をワイヤロープ1の外側に向けて迂回させるためのものであり、一対の永久磁石4a、4bの間でかつガイドプレート6の直下に配置されている。磁路部材7は、強磁性体の材料からなり、永久磁石4a、4b、磁極片5a、5bおよびバックヨーク3から形成される主磁路(ワイヤロープ1を除く)から磁気的に絶縁されるように、非磁性材料からなる支持台12上に設置されている。また、磁路部材7は、ワイヤロープ1の中心軸を内包する平面で切断したときの断面が略コの字形状ないし略Cの字形状となっており、その断面開口部がワイヤロープ1側を向くように配設されている。さらに、磁路部材7は、ワイヤロープ1の外周を取り巻くように配置され、ワイヤロープ1の中心軸に直交する平面で切断したときの断面が略U字形状となっている。そして、磁路部材7には漏洩磁束を検出するための検出コイル8が巻回されている。
ガイドプレート6は、ステンレス等の非磁性材の材料からなり、磁極片5a、5bおよび磁路部材7の上記断面U字形状部に概ね密着するように配置され、磁極片5a、5b、磁路部材7および検出コイル8を保護する機能、並びにワイヤロープ1を円滑に走行させるためのガイド機能を果たす。
図3は磁路部材7を有しないワイヤロープ探傷装置の断面模式図であり、ワイヤロープ損傷部10が検出コイル8付近を通過するときの磁束の流れの様子を示す。図3(A)に示すように、永久磁石4aから発生した主磁束9は、ワイヤロープ1を通り、永久磁石4bを経てバックヨーク3を通り、永久磁石4aに戻る。ワイヤロープ損傷部10付近から発生した局所的漏洩磁束11は、非磁性体のガイドプレート6、検出コイル8、非磁性体の支持台12を通りワイヤロープ1に戻る。このため、局所的漏洩磁束11が通る磁路のパーミアンスは低く、図3(B)に示すように、ワイヤロープ損傷部10がワイヤロープ1の内部に位置する場合、磁束はワイヤロープ1の外側素線を優先的に通ろうとし、漏洩磁束量が小さくなる。
図4は図3の局所的漏洩磁束の流れを示す拡大図である。ワイヤロープ1の外側に出た局所的漏洩磁束11は、なるべく短い磁路でワイヤロープ1に戻ろうとするため、ワイヤロープ1の外側に分布する領域は小さくなる。図4(B)のグラフ中、曲線La、Lb、Lcは、図4(A)の一点鎖線a、b、cの位置における、ワイヤロープ径方向の磁束密度分布を示す。ワイヤロープ損傷部10を基点としてワイヤロープ軸方向ならびにワイヤロープ径方向に離れるほど、磁束密度の分布は小さくなる。そのため、誘起電圧の発生に有効な検出コイル8のコイル配置領域は概ね図4(A)の斜線部13(軸方向長さ14、径方向長さ15)に限定される。つまり、後述するように、検出コイル8のターン数増強による誘起電圧上昇に限界が生じる。
図5は本実施の形態の磁路部材7を有するワイヤロープ探傷装置の断面模式図であり、図6は図5の局所的漏洩磁束11の流れを示す拡大図である。図において、ワイヤロープ損傷部10付近から発生した局所的漏洩磁束11は、磁路部材7の磁束導出入面7aから入り、断面略コの字形状の磁路部材7を通って検出コイル8を鎖交し、磁束導出入面7bから出てワイヤロープ1に戻る。漏洩磁束11の大部分は強磁性体の磁路部材8を通るため、漏洩磁束11の磁路のパーミアンスが大きくなり、非磁性の磁路に比べて漏洩磁束量を増加させることができる。さらに、漏洩磁束11の磁路をワイヤロープ軸方向および径方向に迂回させることにより、漏洩磁束11の磁路長を延長することができるため、検出コイル配置可能領域13である磁路部材7内の軸方向長さ14、径方向長さ15が拡大し、検出コイル8のターン数の大幅な増強が可能となる。その結果、ワイヤロープ損傷部10が検出コイル8を通過する時に磁路部材7がない場合より高い誘起電圧を得ることができ、ワイヤロープ損傷部10の検出に必要なSN比が確保できる。
図7は、図3に示す磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置並びに図5に示す磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置により、それぞれワイヤロープ損傷部10を検査したときの検出コイル両端に生じる誘起電圧波形を示す。ただし、両ワイヤロープ探傷装置は共に同一ワイヤロープの同一損傷部(断線部)を検査するものとし、両ワイヤロープ探傷装置において励磁用の永久磁石4a、4bの寸法及び配置ピッチ、バックヨーク3の寸法、ワイヤロープ1の走行速度は同一とする。図中、波形Cは図3の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置により検査した誘起電圧波形、波形Dは図5の磁路部材7有りのワイヤロープ探傷装置により検査した誘起電圧波形である。また、図5の磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置の検出コイルターン数は、図3の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置の検出コイルターン数の5倍とすることができた。図7の横軸は時刻であり、時刻0[msec]はワイヤロープ損傷部10の位置とセンサ中心が一致する時刻である。なお、ここでいうセンサ中心とは、図3の磁路部材無しの場合は検出コイル8の軸方向中心、図5の磁路部材ありの場合は磁路部材7の開口部中心を指す。図7の縦軸は、図3の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置により検出した誘起電圧ピーク値を1とした場合の誘起電圧比を表している。すなわち、図7において、磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置により検出した誘起電圧ピーク値を1とすれば、本実施の形態による磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置により検出した誘起電圧ピーク値は11.3となる。
図7において誘起電圧波形のピークが両ワイヤロープ探傷装置で異なるのは以下の理由による。図8は図3に示す磁路部材が無いワイヤロープ探傷装置の検出コイル8付近の鎖交磁束密度分布を示す図である。図8(A)のワイヤロープ1が図示左方向に向かって走行するとき、図8(B)の磁束密度分布の波形も左方向(E方向)に移動する。検出コイル8に生じる誘起電圧は、検出コイル8を構成する各銅線上の磁束密度の和に比例するため(所謂BLV則)、検出コイル8の軸方向幅は漏れ磁束の波長と同程度とするのがよく、ワイヤロープ損傷部10が検出コイル8の中心付近に来るときが、誘起電圧値が最大となる。一方、図9は図5の磁路部材7が有るワイヤロープ探傷装置の検出コイル8付近の鎖交磁束密度分布を示す図である。磁路部材7が有る場合、図9に示すように、磁路部材7が存在する部分に磁束密度のピークが生じ、ワイヤロープ損傷部10が磁路部材7の開口部中心付近に来るときが磁束密度のピーク高さが最大となる。このとき、検出コイル8の鎖交磁束量も最大値となるが、ファラデーの法則より誘起電圧は鎖交磁束量の時間微分に比例するため、この瞬間は0となり、誘起電圧値のピークはこの前後で生じる。なお、図8及び図9において、縦軸は磁路部材が無い場合の磁束密度のピーク値を1としたときの磁束密度比を示し、横軸はワイヤロープ外径を1としたときの寸法比を示している。また、図8(B)及び図9(B)は、図8(A)及び図9(A)の点線部におけるワイヤロープ径方向磁束密度分布を表している。
次に、検出コイルの巻回幅Wと誘起電圧の関係について説明する。検出コイルの巻回幅Wは、検出コイルのターン数と比例する。図12は、図10の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置及び図11の磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置の場合において、それぞれコイル巻回幅Wを増加させたときの誘起電圧ピーク値を表す。ただし、検出コイル8の巻回厚さTおよび検出コイル8の芯幅Cを共通とし、検出コイル8断面の単位面積あたりのターン数は一定とする。図12の横軸のW寸法は、ワイヤロープ外径に対する寸法比を表しており、図12の縦軸は、図10の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置により検出した誘起電圧ピーク値を1とした場合の誘起電圧比を表している。
図10の磁路部材なしのワイヤロープ探傷装置の場合、検出コイル8を構成する各銅線に生じる誘起電圧は、その位置における磁束密度に比例する。一方、図8に示すように、磁束密度はワイヤロープ損傷部10よりある一定の距離以上離れると減少していくため、ワイヤロープ損傷部10から離れた位置に存在するコイル銅線の誘起電圧は低くなる。このため、図12の実線Mに示すように、検出コイル8の巻回幅Wの増加量に対する誘起電圧の増加量は、コイル巻回幅Wが大きくなるにつれて減少する。
これに対して、図11の磁路部材7があるワイヤロープ探傷装置の場合、検出コイル8を構成する各銅線に生じる誘起電圧は、各銅線の位置にかかわらず一定となる。このため、図12の実線Nに示すように、検出コイル8のコイル巻回幅Wに比例して誘起電圧が上昇する。
また、図13は、図10の磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置並びに図11の磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置の場合の、同じワイヤロープ損傷部10による漏れ磁束量を示すグラフである。図13に示すように、ワイヤロープ損傷部10による漏れ磁束量は、磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置に比べて、磁路部材有りのワイヤロープ探傷装置の場合の方が大きく増加していることがわかる。なお、図13の縦軸の漏れ磁束量は、磁路部材無しのワイヤロープ探傷装置の漏れ磁束量を1とした場合の比を表している。
以上のように、本実施の形態によれば、ワイヤロープ損傷部10により発生する漏洩磁束をワイヤロープ1の外側に迂回させる磁路部材7を備えることにより、ワイヤロープ損傷部10付近から発生する漏洩磁束の磁路のパーミアンスを向上させることができ、漏洩磁束量を増加させる効果が得られる。また、漏洩磁束の磁路長の延長が可能となり、磁路部材7に巻回する検出コイル8の巻回可能な領域が増加して検出コイルターン数を増強することができる。その結果、ワイヤロープ内部に損傷が生じ、ワイヤロープ表面の素線の遮蔽効果により漏洩磁束が減衰した場合であっても、当該漏洩磁束を効率よく捕捉し、損傷検出に十分なSN比を得ることができる。
また、磁路部材7は、永久磁石4a、4b、磁極片5a、5bおよびバックヨーク3から形成される主磁路(ワイヤロープ1を除く)から磁気的に絶縁されているので、磁路部材7にはワイヤロープ1から出てワイヤロープ1に帰る漏洩磁束10以外の磁束は通過しない。つまり、上記の特許文献2(特開平11−230945号公報)のようにワイヤロープのパーミアンス差を検出する方式とは原理的に異なるため、永久磁石による直流励磁でも十分な検出精度を得ることができる。
図14は本実施の形態の磁路部材7を示す斜視図である。本実施の形態の磁路部材7は、略コの字形ないし略Cの字形の断面が立体的にU字状に押し出された形状をしている。つまり、本実施の形態の磁路部材7は、略コの字形ないし略Cの字形の断面形状を有する部材を線状に押し出した後、U字曲げ加工を施すことにより製作することができる。しかし、この場合、U字曲げ時にひび割れ等の不具合が生じることが多く、品質上問題がある。そこで、図15に示すように、本来の磁路部材7を半分に割った一対の溝付きU字状部品7a、7bを製作し、いずれか一方の溝付きU字状部品7bに検出コイル8を巻回した後、他方の溝付きU字状部品7bを接合することにより製作することができる。このように、磁路部材7を少なくとも2つ以上の部品で構成し、そのうちの1つの部品に検出コイルを巻回することにより、磁路部材7に巻回する検出コイル8の巻回作業が容易となり、ワイヤロープ探傷装置の品質および生産性が向上する。この場合、磁路部材7を軸方向に2等分する位置で分割した一対の溝付きU字状部品7a、7bを使用すれば、磁路部材7を構成する部品の標準化が図れ、ワイヤロープ探傷装置の生産性がより向上する。
図17は、本実施の形態の磁路部材7への検出コイル8の巻回の仕方を示す斜視図であり、図18は、図17の検出コイル付近を示す拡大断面図である。上記実施の形態の説明では、磁路部材7に対して検出コイル8をワイヤロープ1の軸方向に巻回した例を示したが、図17及び図18に示すように、磁路部材7に対して検出コイル8をワイヤロープ1の径方向に巻回しても同様の効果を得ることができる。
実施の形態2.
図19はこの発明の実施の形態2によるワイヤロープ探傷装置においてガイドプレートを外したときの様子を示す斜視図である。上記実施の形態1では、ワイヤロープ探傷装置の磁化器として、強磁性体を材料とするバックヨーク3と、バックヨーク3両端上に互いにその極性を逆にして配置された一対の励磁用永久磁石4a、4bを備えているものを示した。本実施の形態では、図19に示すように、ワイヤロープ探傷装置の磁化器として、強磁性体を材料とするバックヨーク3と、バックヨーク3両端上に互いにその極性が逆になるように励磁される一対の励磁用電磁石17a、17bを備えている。このように、実施の形態1の磁化器にて使用した永久磁石を電磁石で置き換えても、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。この場合、励磁用電磁石17a、17bへの電流がOFF時には吸引力を生じないため、検査作業者がワイヤロープ探傷装置をワイヤロープに着脱する際の作業性が向上する。
なお、図19において、電磁石17a上に補助電磁石18a、18bが、電磁石17b上に補助電磁石18c、18dが配置されている。これら補助電磁石18a及び18bと、18c及び18dの磁極の向きは、ワイヤロープ1の中心に向かう極性が、それぞれ電磁石17a、17bと同一となるように設定される。これにより、ワイヤロープ1中の磁束がムラなく飽和するため、局所的な漏洩磁束の増加に貢献することができる。
この発明は、ワイヤロープの破損や素線の断線を検出するワイヤロープ探傷装置として広く利用でできる。

Claims (8)

  1. ワイヤロープの軸方向所定区間に主磁路を形成する磁化器と、上記所定区間内であって上記磁化器から磁気的に絶縁されて配置され、上記ワイヤロープ損傷部により発生する漏洩磁束を上記ワイヤロープの外側に迂回させる磁路部材と、上記磁路部材に巻回され上記漏洩磁束を検出する検出コイルとを備えたワイヤロープ探傷装置であって、
    上記磁路部材は、強磁性体により構成されて、
    上記ワイヤロープ外周と直接または非磁性材を介して接する少なくとも2箇所の接面部と上記ワイヤロープ外周までの距離が上記接面部よりも離れた位置にある接面部以外の部分とを有し、
    上記接面部以外の部分と上記ワイヤロープとの間に上記検出コイルの一部が挿入される空間を有して、
    上記空間の上記ワイヤロープの軸方向の長さは、上記2箇所の接面部間の開口部の上記ワイヤロープの軸方向の長さよりも長いワイヤロープ探傷装置。
  2. 上記磁路部材は、上記ワイヤロープの中心軸を内包する平面で切断したときの断面が略コの字形状ないし略Cの字形状となっており、その断面開口部が上記ワイヤロープ側を向くように配設されている請求項に記載のワイヤロープ探傷装置。
  3. 上記磁路部材は、上記ワイヤロープの外周を取り巻くように配置され、上記ワイヤロープの中心軸に直交する平面で切断したときの断面が略U字形状となっている請求項2に記載のワイヤロープ探傷装置。
  4. 上記検出コイルは、上記ワイヤロープの外周を取り巻いた上記磁路部材の両端部を介して上記磁路部材に巻回されている請求項3に記載のワイヤロープ探傷装置。
  5. 上記磁路部材が、少なくとも2つ以上の部品で構成され、そのうちの1つの部品に検出コイルが巻回されている請求項1に記載のワイヤロープ探傷装置
  6. 上記磁路部材が、2つの同一形状の部品で構成され、そのうちの1つの部品に上記検出コイルが巻回されている請求項5に記載のワイヤロープ探傷装置。
  7. 上記磁化器は、強磁性体を材料とするバックヨークと、上記バックヨーク両端上に互いにその極性を逆にして配置された一対の励磁用永久磁石を備えている請求項1に記載のワイヤロープ探傷装置。
  8. 上記磁化器は、強磁性体を材料とするバックヨークと、上記バックヨーク両端上に互いにその極性が逆になるように励磁される一対の励磁用電磁石を備えている請求項1に記載のワイヤロープ探傷装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180115747A (ko) * 2016-03-24 2018-10-23 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치 및 와이어 로프 탐상 장치의 조정 방법

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4686612B2 (ja) * 2009-01-22 2011-05-25 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置
US9075023B2 (en) * 2011-06-07 2015-07-07 Mitsubishi Electric Corporation Wire rope flaw detector
WO2014053047A1 (en) * 2012-10-04 2014-04-10 Her Majesty The Queen In Right Of Canada As Represented By The Minister Of Natural Resources Canada Measurement of lay length of wire rope
JP6193077B2 (ja) * 2012-10-30 2017-09-06 東京製綱株式会社 ワイヤロープの検査装置
US10352683B2 (en) * 2014-04-02 2019-07-16 Her Majesty The Queen In Right Of Canada As Represented By The Minister Of Natural Resources Canada Device for analysis of synthetic rope or cable, and method of use
CN104458894B (zh) * 2014-12-08 2017-06-06 国家电网公司 高速水轮发电机转子磁极磁轭t尾槽的检测方法及其装置
JP6381791B2 (ja) 2015-04-27 2018-08-29 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置
CN107850572B (zh) * 2015-08-06 2021-06-15 三菱电机株式会社 缆绳探伤装置
CN110073209A (zh) * 2016-12-13 2019-07-30 三菱电机株式会社 缆绳探伤装置
DE102017121706A1 (de) * 2017-09-19 2019-03-21 Iwis Antriebssysteme Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung des Verschleißzustandes einer Kette
CN107941899B (zh) * 2017-11-15 2022-03-18 河南科技大学 一种弱磁激励的钢丝绳探伤装置和探伤方法
KR102322952B1 (ko) * 2018-01-29 2021-11-05 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치의 출력 확인 장치
KR102122092B1 (ko) * 2018-10-16 2020-06-11 한국건설기술연구원 텐던 장력과 단면 손상 측정이 동시에 가능한 멀티 측정 장치
USD1011208S1 (en) * 2021-10-08 2024-01-16 Nkia Co., Ltd. Movable wire rope safety diagnostic device
USD1018328S1 (en) * 2022-04-11 2024-03-19 Hach Company Sensor cleaning and calibration system housing

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5594156A (en) 1979-01-10 1980-07-17 Hitachi Ltd Magnetic flaw detector for rope
GB2067766B (en) 1980-01-15 1984-07-04 Bicc Ltd Testing elongate bodies of ferrous metals
JPH0230945A (ja) 1988-04-28 1990-02-01 Hitachi Ltd 内燃機関
JPH0210968A (ja) 1988-06-28 1990-01-16 Nec Corp 自動レベル調整装置
JP2733088B2 (ja) * 1989-03-30 1998-03-30 石川島建機株式会社 鋼索の磁気探傷装置
US5402066A (en) 1992-03-24 1995-03-28 Commercial Technologies, Inc. Method and apparatus for magnetically testing elongate objects using two circumferentially disposed arrays of magnets and two circumferentially disposed arrays of sensors
JP2556957Y2 (ja) 1993-04-13 1997-12-08 東京製綱株式会社 ワイヤロープの損傷検出器
US5565771A (en) * 1995-01-18 1996-10-15 Noranda, Inc. Apparatus for increasing linear resolution of electromagnetic wire rope testing
JP3584452B2 (ja) 1995-11-17 2004-11-04 Jfeスチール株式会社 微小欠陥検出装置
JPH09210968A (ja) * 1996-02-06 1997-08-15 Electron Kiyooto:Kk ワイヤーロープの損傷検出器
US5793205A (en) * 1996-03-14 1998-08-11 Framatome Technologies, Inc. Coil and guide system for eddy current examination of pipe
JPH11230945A (ja) 1998-02-09 1999-08-27 Hitachi Building Systems Co Ltd ワイヤーロープの磁気探傷装置
JP3547342B2 (ja) 1999-07-30 2004-07-28 株式会社日立ビルシステム ワイヤーロープの磁気探傷装置
JP4205269B2 (ja) * 1999-10-05 2009-01-07 株式会社京三製作所 ワイヤロープ探傷器
JP2001153845A (ja) * 1999-11-24 2001-06-08 Kyosan Electric Mfg Co Ltd ワイヤロープ探傷器
JP3811039B2 (ja) 2000-10-18 2006-08-16 Jfeスチール株式会社 磁気探傷装置の漏洩磁気検出センサ
JP2005106602A (ja) 2003-09-30 2005-04-21 Jfe Steel Kk 磁気探傷用センサ
JP4179141B2 (ja) * 2003-11-19 2008-11-12 株式会社Ihi ワイヤロープの磁気探傷装置
JP2005154042A (ja) * 2003-11-21 2005-06-16 Toshiba Elevator Co Ltd エレベータ用ワイヤロープ探傷装置
JP2005156419A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd ワイヤロープの磁気探傷装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180115747A (ko) * 2016-03-24 2018-10-23 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치 및 와이어 로프 탐상 장치의 조정 방법
KR102177903B1 (ko) 2016-03-24 2020-11-12 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치 및 와이어 로프 탐상 장치의 조정 방법

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