JP4686612B2

JP4686612B2 - ワイヤロープ探傷装置

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Publication number: JP4686612B2
Application number: JP2009012025A
Authority: JP
Inventors: 孝吉岡; 浩之笹井; 佳典宮本
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2009-01-22
Filing date: 2009-01-22
Publication date: 2011-05-25
Anticipated expiration: 2029-01-22
Also published as: US7982458B2; KR20100086410A; CN101788531A; KR101120866B1; JP2010169523A; US20100182000A1; CN101788531B

Description

この発明はエレベータ等の乗りかごを吊り下げるワイヤロープの破損や素線の断線（以下、ワイヤロープ損傷部と呼ぶ）を検出するワイヤロープ探傷装置に関するものである。

従来、ワイヤロープ探傷装置としては、ワイヤロープに対向して近接配置された少なくとも２つの磁極を有した励磁鉄心と、励磁鉄心に埋設された励磁用永久磁石と、２つの磁極間に配設された検出コイルとから構成され、２つの磁極によりワイヤロープを磁気飽和させることにより、素線切れなどの損傷部から漏洩磁束を発生させ、これを検出コイルで検出して、ワイヤロープ損傷部を検知するもので、検出コイルを所定の間隔をおいて２個配設し、これらの出力の差分をとることにより、共通に重畳されたノイズを相殺しＳ／Ｎを高める技術があった。

特開平９−２１０９６８号公報特開平９−１４５６７８号公報

特許文献１に記載されたワイヤロープ探傷装置は、Ｓ／Ｎ向上のために２個の検出コイルを使用している。損傷部から発生する漏洩磁束量は、ロープ全体を飽和させている主磁束に比べ微小であり、その分布範囲も損傷部近傍に限定されている。一方、検出コイルの、一定の鎖交磁束量に対する誘起電圧はターン数に比例する。しかし、漏洩磁束の分布しない領域にコイルを配置しても有効な鎖交磁束が得られないため、コイル寸法はある一定の大きさ以下に制限される（一定の大きさとは、ワイヤロープ径およびワイヤロープ素線径に依存する値）。この一定以下の寸法で可能な限りターン数を大きくすることが、コイル設計上の重要なポイントとなるため、検出コイルに使用される線材は一般的に直径数十μmの極細電線が使用される。またこれらのコイルは、ワイヤロープ損傷部の検出可能範囲を広げるため、ロープを包む方向に略U字状に曲げ成形されることが多い。

極細電線を、巻き乱れなく巻回し、断線させることなく略U字状に成形するためには、専用の装置や治具、さらに技能を修得した作業者と相応の作業時間が必要となり、その結果、コイルはワイヤロープ探傷装置を構成する各部品の中で、加工費の比較的高価な部品となる。然るに、特許文献１に記載されたワイヤロープ探傷装置のように、Ｓ／Ｎ向上のために検出コイルを２個配置することは、ワイヤロープ探傷装置の製造コストを押し上げる要因の一つとなり、そのコスト低減策が課題となっていた。また、検出コイルを２個配置することにより、ワイヤロープ探傷装置の寸法がロープ長手方向に拡大するため、小型化の阻害要因の一つなっていた。
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、検出コイルの配置数が１個でも高いＳ／Ｎを実現できるワイヤロープ探傷装置を得ることを目的とする。

この発明に係わるワイヤロープ探傷装置は、ワイヤロープの軸方向所定区間に主磁束を形成する磁化器と、前記所定区間内においてワイヤロープ損傷部より発生する漏洩磁束を検出する検出コイルとを有し、前記検出コイルに鎖交する漏洩磁束の磁路上に強磁性体からなる磁路部材が介在し、漏洩磁束の流入口及び流出口となる前記磁路部材の少なくとも一方の端部が、前記検出コイルと前記ワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、その伸び量が前記検出コイルの中心に関し非対称な関係にあって、前記検出コイルと前記ワイヤロープの間に挟まる構造を有するものである。
また、この発明に係わるワイヤロープ探傷装置は、ワイヤロープの軸方向所定区間に主磁束を形成する磁化器と、前記所定区間内においてワイヤロープ損傷部より発生する漏洩磁束を検出する検出コイルとを有し、前記検出コイルに鎖交する漏洩磁束の磁路上に強磁性体からなる磁路部材が介在し、漏洩磁束の流入口及び流出口となる前記磁路部材の少なくとも一方の端部が、前記検出コイルと前記ワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、その伸び量が前記磁路部材の前記開口部の中心に関し非対称な関係にあって、前記検出コイルと前記ワイヤロープの間に挟まる構造を有するものである。

この発明のワイヤロープ探傷装置によれば、漏洩磁束の流入口及び流出口となる磁路部材の少なくとも一方の端部が、検出コイルとワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、その伸び量が前記検出コイルの中心に関し非対称な関係にあって、検出コイルとワイヤロープの間に挟まる構造を有するので、検出コイルに生じる誘起電圧波形に含まれる高調波成分の振幅が大きくなり、この高調波成分は基本波に対し一定の位相関係を保つため、損傷により発生する誘起電圧の波形形状に、一定の特徴を与えることができ、検出コイルの配置数が１個でもＳ／Ｎの高い損傷検知を実現できる。
また、この発明のワイヤロープ探傷装置によれば、漏洩磁束の流入口及び流出口となる磁路部材の少なくとも一方の端部が、検出コイルとワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、その伸び量が磁路部材の前記開口部の中心に関し非対称な関係にあって、検出コイルとワイヤロープの間に挟まる構造を有するので、検出コイルに生じる誘起電圧波形に含まれる高調波成分の振幅が大きくなり、この高調波成分は基本波に対し一定の位相関係を保つため、損傷により発生する誘起電圧の波形形状に、一定の特徴を与えることができ、検出コイルの配置数が１個でもＳ／Ｎの高い損傷検知を実現できる。

この発明の実施の形態１におけるワイヤロープ探傷装置の外観を示す斜視図である。図１のワイヤロープ探傷装置の保護プレートを外したときの外観を示す分解斜視図である。図１のＢ−Ｂ線から見たワイヤロープ探傷装置を示す断面図である。図１のＡ−Ａ線から見たワイヤロープ探傷装置を示す構成図であり、ワイヤロープの中心軸を含む平面で切ったときの、ワイヤロープの損傷部付近の磁束の流れを示す。実施の形態１の損傷検出部における磁路部材及び検出コイルを示す断面図である。特許文献１において、損傷部が損傷検出部近傍を通過するときの、漏洩磁束の流れ方を示す説明図である。

特許文献２において、損傷部が損傷検出部近傍を通過するときの、漏洩磁束の流れ方を示す説明図である。実施の形態１において、損傷部が損傷検出部近傍を通過するときの、漏洩磁束の流れ方を示する説明図である。実施の形態１において、損傷部が損傷検出部近傍を通過するときの、漏洩磁束の流れ方を示する説明図である。図６〜図９における損傷部がそれぞれ(ａ)〜(ｅ)の位置にあるときの検出コイルに鎖交する磁束量を示す波形図である。図６〜図９における検出コイルに生じる誘起電圧波形を示す波形図である。図１１の波形に関する周波数分析結果を示す図である。

図１２に記載の各周波数成分の位相関係を示す図である。実施の形態１における検波器を示す構成図である。ある参照波形ｈ_ｍに対し、それとは異なるノイズ信号、参照波形ｈ_ｍと同一の損傷信号、ノイズ信号と損傷信号の和を(１)式で演算した結果を示す図である。実施の形態２におけるワイヤロープ探傷装置を示す構成図である。実施の形態２における損傷部が損傷検出部を通過したときの、検出コイルに鎖交する磁束量を示す波形図である。実施の形態２における検出コイルに生じる誘起電圧波形を示す波形図である。

図１８の波形に関する周波数分析結果を示す図である。実施の形態３におけるワイヤロープ探傷装置を示す構成図である。実施の形態３における損傷部が損傷検出部を通過したときの、検出コイルに鎖交する磁束量を示す波形図である。実施の形態３における検出コイルに生じる誘起電圧波形を示す波形図である。図２２の波形に関する周波数分析結果を示す図である。実施の形態４におけるワイヤロープ探傷装置の構成図である。

実施の形態４における損傷部が損傷検出部を通過したときの、検出コイルに鎖交する磁束量を示す波形図である。実施の形態４における検出コイルに生じる誘起電圧波形を示す波形図である。図２６の波形に関する周波数分析結果を示す図である。

実施の形態１．
この発明の実施の形態１におけるワイヤロープ探傷装置について、図１から図１４までを参照しながら説明する。図１はこの発明の実施の形態１におけるワイヤロープ探傷装置の外観を示す斜視図である。なお、以降では、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。図１には、ワイヤロープ１とワイヤロープ探傷装置２とが示されている。図２は図１のワイヤロープ探傷装置の保護プレート６を外したときの外観を示す分解斜視図である。図２には、バックヨーク３と、励磁用永久磁石４ａ,４ｂと、支持台５と、ワイヤロープ探傷装置から外した保護プレート６と、磁路部材７と、検出コイル８が示されている。なお、ワイヤロープ探傷装置２の磁化器は、ワイヤロープ１の軸方向の所定区間に主磁路を形成するためのものであり、鉄などの強磁性体を材料とするバックヨーク３と、このバックヨーク３の両端上に互いにその極性を逆にして配置された一対の励磁用永久磁石４ａ,４ｂとから構成されている。

図３は図１のＢ−Ｂ線から見たワイヤロープ探傷装置を示す断面図である。図４は図１のＡ−Ａ線から見たワイヤロープ探傷装置を示す構成図であり、ワイヤロープ１の中心軸を含む平面で切ったときの、ワイヤロープの損傷部付近の磁束の流れを示す。図４には、ワイヤロープ１と、バックヨーク３と、励磁用永久磁石４ａ,４ｂと、支持台５と、磁路部材７と、検出コイル８と、損傷部１０と、主磁束１２と、漏洩磁束１３とが示されている。なお、ワイヤロープ探傷装置２の損傷検出部は、磁路部材７と検出コイル８から構成されている。

図５は実施の形態１の損傷検出部における磁路部材７及び検出コイル８を示す断面図である。実施の形態１では、磁路部材７は、ロープと対向する面において、一部の開口部を除き、検出コイルを概ね覆い隠すように折爪部１４を有している。図６，図７はそれぞれ特許文献１（従来），特許文献２（従来）において、損傷部１０が損傷検出部近傍を通過するときの、漏洩磁束の流れ方を示す説明図である。図８，図９はこの発明の実施の形態１において、損傷部１０が損傷検出部近傍を通過するときの、漏洩磁束の流れ方を示す説明図で、図８の（ａ）〜（ｄ’）から図９の（ｄ）〜（ｅ）へ連続した説明図である。図１０は図６〜図９における損傷部１０がそれぞれ(ａ)〜(ｅ)の位置にあるときの検出コイル８に鎖交する磁束量を示す波形図である。

図１１は図６〜図９における検出コイル８に生じる誘起電圧波形を示す波形図で、図１０の磁束量を示す波形を
時間微分したものの符号を反転させたものである。なお、図１１に示す単位時間とは、図６〜図９に示す損傷部１０が(ａ)〜(ｅ)まで移動するときの時間を１としたもので、１単位時間は左右非対称に見えるが、横軸０点がピーク位置からずれていることによるもので、微分により時間軸がずれたことに基因している。図１２は図１１の波形に関する周波数分析結果を示す図である。図１２の基本周波数（＝１）は、単位時間の逆数である。図１３は図１２に記載の各周波数成分の位相関係を示す図である。単位は「度」である。図１３に示すように、高調波成分の量的な違いに加えて位相でも従来例に比べて特徴がある。この両方から図１１の折爪付磁路部材の波形に示すような特徴的な波形形状を有することになる。図１４は実施の形態１における検波器を示す構成図である。

次に、この実施の形態１におけるワイヤロープ探傷装置の動作について、図面を参照しながら説明する。ワイヤロープ探傷装置２は、磁化器によりワイヤロープ１の軸方向所定区間に主磁路を形成する。強磁性体で構成された磁路部材７は、そのワイヤロープ中心軸に関する断面形状が日の字又は８の字の一部に開口部を持つ形状となっており、その開口部を除き、ワイヤロープ１と検出コイル８の間には磁路部材７が介在している。このワイヤロープ１と検出コイル８の間に挟まれる空間に介在する磁路部材７の一部を、ここでは便宜上、折爪部１４と呼ぶ。磁路部材７は励磁用磁石４ａ,４ｂから等距離となる位置に配設されている。図３は磁路部材７をワイヤロープ１を垂直に切る断面で切った断面図であるが、磁路部材７は損傷検出可能な範囲を可能な限り広げるため、略Ｕ字形状となっている。

ここで、ワイヤロープ１の損傷部１０が損傷検出部に近づき、検出コイルに磁束が鎖交する過程を図６〜図９を用いて説明する。まず、図６すなわち特許文献１による検出コイル８への磁束の鎖交の様子について説明する。図６(ａ)のように、損傷部より発生する漏洩磁束１３の一部が、検出コイル８の一端に重なるとき、検出コイル８を構成する環状電線のうち、磁束が鎖交している電線にのみ誘起電圧が生じる。その後、電線に鎖交する漏洩磁束量は順次増加していき、漏洩磁束１３と検出コイル８の位置関係が図６(ｂ)のようになったとき、検出コイル８に鎖交する磁束量は最大となる。さらに漏洩磁束１３が移動し、漏洩磁束１３と検出コイル８の位置関係が図６(ｃ)のようになったとき、鎖交磁束量は一旦ゼロになり、さらに漏洩磁束１３が移動し、漏洩磁束１３と検出コイル８の位置関係が図６(ｄ)のようになったとき、鎖交磁束量は極性を異にして再び最大となり、以後、図(ｅ)のように漏洩磁束１３が検出コイル８から遠ざかるにつれて鎖交磁束量は減少していく。

以上で述べた鎖交磁束量の変化の様子を図１０の破線に示す。同様に、特許文献２に記述のあるＥ型断面の磁路部材を使用した場合の漏洩磁束の様子を図７(ａ)〜図７(ｅ)に示す。強磁性体である磁路部材７が介在するため、特許文献１に比べ鎖交磁束量が大幅に増加するが、鎖交磁束量の変化の様子は以下に述べる実施の形態１のものに比べ穏やかとなる。Ｅ型断面の磁路部材を使用した場合の鎖交磁束量の変化の様子を図１０の一点鎖線に示す。

さて、実施の形態１におけるワイヤロープ探傷装置２による、検出コイル８への磁束の鎖交の様子について説明する。図８(ａ)のように、損傷部１０より発生する漏洩磁束１３の一部が、磁路部材７の一端に重なり始めたとき、漏洩磁束１３の磁路として、検出コイル８に鎖交するルート１３ｂと、折爪部１４を通り検出コイル８に鎖交せずにワイヤロープ１に戻るルート１３ａが存在するため、検出コイル８における磁束の増加速度は特許文献２に比べ鈍くなる。しかし、漏洩磁束１３が移動し、図８(ａ’)のように損傷部１０が磁路部材７の開口部付近に近づいたとき、漏洩磁束１３の多くが検出コイル８に鎖交するルート１３ｂに切り替わるため、検出コイル８に鎖交する磁束量が急激に増加する。

その後、損傷部１０が磁路部材７の開口部に対向する位置すなわち図８(ｂ)の位置に移動したとき、検出コイル８に鎖交する磁束量は最大となる。さらに損傷部１０が移動し、磁路部材７との位置関係が図８(ｂ’)のようになったとき、漏洩磁束の一部が折爪部１４を通るルート１３ａに切り替わるため、鎖交磁束量が急激に減少し、損傷部１０が磁路部材７の中心すなわち図８(ｃ)の位置に移動したとき鎖交磁束量は一旦ゼロになる。以後の変化は、磁束の極性を逆にして、これまでの変化の逆手順をたどる。損傷部１０が移動し、図８(ｄ’)を経て磁路部材７との位置関係が図９(ｄ)のようになったとき、鎖交磁束量は極性を異にして再び最大となり、以後、図９(ｅ’)を経て、図９(ｅ)のように漏洩磁束１３が検出コイル８から遠ざかると、漏洩磁束の一部が折爪部を通るルート１３ａに切り替わるため鎖交磁束量は急激に減少する。実施の形態１における鎖交磁束量の変化の様子を図１０の実線に示す。

検出コイル８の両端には、鎖交磁束量の時間微分に比例した誘起電圧が発生する。検出コイルのターン数を等しくした場合の、特許文献１，特許文献２，実施の形態１による誘起電圧波形を図１１に示す。上述のように、実施の形態１におけるワイヤロープ探傷装置２の検出コイル８に鎖交する磁束の時間的変化は、折爪部１４を有する磁路部材７の存在により特許文献１，特許文献２に比べ急峻となり、さらに鎖交磁束量の絶対値も大きいため、ワイヤロープ探傷装置２の検出コイル８に発生する誘起電圧の変動が激しくなる。図１２は図１１の波形に含まれる各周波数別の振幅、図１３は時刻０における各周波数別の位相関係を示す図である。

ここでは、損傷部１０が損傷検知部に差し掛かる手前から、損傷検知部を抜け終わる（図６〜図９における(ａ)〜(ｅ)間）までの時間の逆数を基本周波数とし、その値を１としている。図１２で明らかなように、ワイヤロープ探傷装置２の検出コイル８に発生する誘起電圧波形においては、実施の形態１が特許文献１，特許文献２に比べ基本波に対する高次成分の比率が大きい。この高次成分は磁路部材７の折爪部１４に起因して発生したものであり、基本波との位相関係は折爪部１４の形状により決定されるため、損傷部１０の通過により検出コイル８に発生する誘起電圧波形は、他のノイズにはない特徴をもつことができる。

そこで、測定され検出コイル８に発生する誘起電圧に対し、前述の基本波成分および高調波成分の振幅・位相関係を反映した参照波形１５を用意し、当該波形との相関検波を行うことにより、つまり、相関度を出力することにより、他のノイズ成分の影響を受けにくい損傷検出が可能となる。相関検波は、例えば図１４のように、検出コイル８に生じた誘起電圧波形を増幅器１８で増幅した後、Ａ／Ｄ変換器１９でデジタル化してｘ（ｋ）を出力し、その後段に遅延素子１６を用いたトランスバーサルフィルタ１７を検波器とし、そのフィルタ係数に前述の参照波形１５のｈ_ｍを反映することにより、ｙ（ｋ）を出力して実現できる。なお、２０は乗算器、２１は加算器である。

このとき、図１４に示す出力波形ｙ（ｋ）は次式で表すことができる。但し、ｋ，ｍは整数であり、Ｍは図１４に示すように、トランスバーサルフィルタ１７の複数個の遅延素子１６のタップ数である。

また、任意の波形は正弦波の和で表現できるので、ｘ（ｋ）は次式で表すことができる。（Ｈ_ｐ≧０、Ｅ_ｑ≧０、ｐ，ｑは整数、Ｔは基本周期、 τはサンプリング周期、
φ_ｐ，Ψ_ｑは初期位相）

(４)式は cos 関数の積の和であるが、正弦波の性質より、Ｍが十分大きく、τがＴに比べ十分小さいとき、ｐ≠ｑの項は０に近い値となる。また、ｐ＝ｑの場合でも、

すなわち、検出コイル８から出る信号のサンプリング結果ｘ（ｋ）が参照波形ｈ_ｍとおなじ周波数および位相の成分を含むとき、ｙ（ｋ）の値が大きな正の値となり、それ以外のときは小さな値となるため、ｙ（ｋ）は参照波形ｈ_ｍとｘ（ｋ）の類似度（相関度）を測る指標とすることができ、換言すれば、損傷信号を検出することができる。図１５は、ある参照波形ｈ_ｍに対し、それとは異なるノイズ信号、参照波形ｈ_ｍと同一の損傷信号、ノイズ信号と損傷信号の和を(１)式で演算した結果を示す図である。なお、図１５のｙ（ｋ）欄の縦軸の単位は、ｍＶであり、ｍＶをデジタル化数値で置き換えて表している。図１４により、検出コイルに発生する誘起電圧波形ｘ（ｋ）から、損傷により発生した誘起電圧のみを抽出し、その他のノイズ要因により発生した誘起電圧を除外することができ、単独コイルのみで高いＳ／Ｎを実現することができる。

このように、実施の形態１のワイヤロープ探傷装置では、検出コイルに鎖交する漏洩磁束の磁路上に強磁性体からなる磁路部材が介在し、漏洩磁束の流入口及び流出口となる磁路部材の少なくとも一方の端部が、検出コイルとワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、検出コイルとワイヤロープの間に挟まる構造を有するものである。そのため、損傷部より発生した漏洩磁束を、その伸びた磁路部材（折爪部）で誘引し、検出コイルとの鎖交タイミングを一定時間内に集中させることにより、折爪部を有しない従来のワイヤロープ探傷装置に比べ、損傷部通過時の誘起電圧が急峻に変化する特徴をもつ。換言すれば、誘起電圧波形には、基本波成分に加え、振幅の大きな高調波成分が重畳される。この基本波成分と高調波成分の周波数と位相の関係は、損傷部の通過速度と磁路部材の形状により決定され、誘起電圧に重畳される他のノイズ成分にない特徴を有するため、この特徴を反映した参照波形をもつ検波器を用意し、この波形との相関検波を行うことにより、２個の検出コイルを配置することなくＳ／Ｎの高い損傷検知を実現できる。

実施の形態２．
図１６は実施の形態２におけるワイヤロープ探傷装置を示す構成図であり、ワイヤロープ１の中心軸を含む平面で切ったときの、ワイヤロープの損傷部付近の磁束の流れを示す。図１７は損傷部が損傷検出部を通過したときの、検出コイル８に鎖交する磁束量を示す波形図である。図１８は検出コイル８に生じる誘起電圧波形を示す波形図であり、図１９は図１８の波形に関する周波数分析結果を示す図である。

実施の形態２では、図１６に示すように、磁路部材７に使用する強磁性体を実施の形態１の約半分としたような断面形状のものを使用してもよい。このとき、検出コイル８に発生する誘起電圧は、図１８に示すような波形となり、図１９の周波数分析結果より、基本成分に対し２倍の高調波成分が重畳されることが波形上の特徴となることがわかる。実施の形態２は磁路部材の使用量が半減するため、さらに製造コストを低減させることができる。

実施の形態３．
図２０は実施の形態３におけるワイヤロープ探傷装置を示す構成図であり、ワイヤロープ１の中心軸を含む平面で切ったときの、ワイヤロープの損傷部付近の磁束の流れを示す。図２１は損傷部が損傷検出部を通過したときの、検出コイル８に鎖交する磁束量を示す波形図である。図２２は検出コイル８に生じる誘起電圧波形を示す波形図であり、図２３は図２２の波形に関する周波数分析結果を示す図である。

実施の形態３は、実施の形態１の磁路部材の断面形状を、検出コイル８の中心に関して非対称な形状に変更したものであり、Ｗ_１＜Ｗ_２である。このような断面形状とすることにより、損傷部が損傷検知部に差し掛かってから検出コイル８の中心に到達するまでの時間と、損傷部が検出コイル８の中心から損傷検知部を抜け出るまでの時間が異なり、前者の時間における誘起電圧の周波数と、後者の時間における誘起電圧の周波数が異なるため、それらの倍調波も合わせると、実施の形態３の誘起電圧は実施の形態１に比べより多くの高調波を含み、参照波形となる波形上の特徴がより顕著となるため、他のノイズ成分との区別が容易となり、Ｓ／Ｎ向上に貢献できる。図２３の例では、第３調波の振幅は実施の形態１を下回るものの、第２,４,５,６,７,８,９調波が実施の形態１を上回る。

実施の形態４．
図２４は実施の形態４におけるワイヤロープ探傷装置の構成図であり、ワイヤロープ１の中心軸を含む平面で切ったときの、ワイヤロープの損傷部付近の磁束の流れを示す。図２５は損傷部が損傷検出部を通過したときの、検出コイル８に鎖交する磁束量を示す波形図である。図２６は検出コイル８に生じる誘起電圧波形を示す波形図であり、図２７は図２６の波形に関する周波数分析結果を示す図である。

実施の形態４は、実施の形態２の磁路部材の断面形状を、磁路部材７の開口部に関して非対称な形状に変更したものであり、Ｗ１＜Ｗ２である。このような形状とすることにより、損傷部が損傷検知部に差し掛かってから開口部に到達するまでの時間と、損傷部が開口部から損傷検知部を抜け出るまでの時間が異なり、前者の時間における誘起電圧の基本周波数と、後者の時間における誘起電圧の基本周波数が異なるため、それらの倍調波も合わせると、実施の形態４の誘起電圧は実施の形態２に比べより多くの高調波を含み、参照波形となる波形上の特徴がより顕著となるため、他のノイズ成分との区別が容易となり、Ｓ／Ｎ向上に貢献できる。図２７の例では、第２調波の振幅は実施の形態２を下回るものの、第３,４,５,６,７,８調波が実施の形態２を上回る。

１ワイヤロープ２ワイヤロープ探傷装置
３バックヨーク４励磁用永久磁石
５支持台６保護プレート
７磁路部材８検出コイル
１０損傷部１２主磁束
１３漏洩磁束１４折爪部
１５参照波形１６遅延素子
１７トランスバーサルフィルタ１８増幅器
１９Ａ／Ｄ変換器２０乗算器
２１加算器

Claims

ワイヤロープの軸方向所定区間に主磁束を形成する磁化器と、前記所定区間内においてワイヤロープ損傷部より発生する漏洩磁束を検出する検出コイルとを有し、
前記検出コイルに鎖交する漏洩磁束の磁路上に強磁性体からなる磁路部材が介在し、
漏洩磁束の流入口及び流出口となる前記磁路部材の少なくとも一方の端部が、前記検出コイルと前記ワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、その伸び量が前記検出コイルの中心に関し非対称な関係にあって、前記検出コイルと前記ワイヤロープの間に挟まる構造を有するワイヤロープ探傷装置。
ワイヤロープの軸方向所定区間に主磁束を形成する磁化器と、前記所定区間内においてワイヤロープ損傷部より発生する漏洩磁束を検出する検出コイルとを有し、
前記検出コイルに鎖交する漏洩磁束の磁路上に強磁性体からなる磁路部材が介在し、
漏洩磁束の流入口及び流出口となる前記磁路部材の少なくとも一方の端部が、前記検出コイルと前記ワイヤロープに挟まれた空間内に、他方の端部との間で開口部が介在して伸び、その伸び量が前記磁路部材の前記開口部の中心に関し非対称な関係にあって、前記検出コイルと前記ワイヤロープの間に挟まる構造を有するワイヤロープ探傷装置。
前記ワイヤロープの損傷により前記検出コイルに発生する誘起電圧波形について、トランスバーサルフィルタのタップ数Ｍに関して、

但し、ｍは整数
を満たす参照波形ｈmと、
測定した前記検出コイルの誘起電圧との相関度を出力し、
前記ワイヤロープの損傷の有無を検出する請求項１又は請求項２記載のワイヤロープ探傷
装置。