JP2005181123A - 分析装置 - Google Patents
分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005181123A JP2005181123A JP2003422869A JP2003422869A JP2005181123A JP 2005181123 A JP2005181123 A JP 2005181123A JP 2003422869 A JP2003422869 A JP 2003422869A JP 2003422869 A JP2003422869 A JP 2003422869A JP 2005181123 A JP2005181123 A JP 2005181123A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- temperature
- analysis
- analyzer
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
【解決手段】 分析装置1は、検体の分析を行う。この分析装置1は、前記分析装置に電力を供給する電源と、現在の時刻を求めるタイマと、分析装置の温度を測定する温度測定手段と、分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部74とを具備している。電源制御部74は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、現在の時刻に前記初期化時間を加えた時刻が、前記予定分析開始時刻以降になった際に、電源を投入する。
【選択図】 図1
Description
I/Oポート75bは、入出力部73と接続されており、入出力部73と制御ユニット74bとの情報の入出力を行うためのポートである。
ROM75fは、後で説明する初期化時間テーブルを格納している。
CPU75gは、上述の接続されている機器の動作を制御する。また、CPU75gは、前記温度情報及び予定分析開始時刻を基に、前記ROM中の初期化時間テーブルを参照して、初期化時間を求める初期化時間算出部である。
一般的に分析装置において、装置内の各部位の温度と、測定用光源23の光量とを安定させる(分析装置を分析可能にする)ためには、従来の技術で説明したように、電源入力後に所定の時間(初期化時間)を必要とする。この初期化時間は、分析装置1の温度に相関して変化する。例えば、前記各部位を所定温度に暖める場合、電源切断から長時間経過した後では、分析装置は冷えてしまっているため、前記初期化時間は、長時間になる。なお、本実施の形態において、分析装置1の温度を測定するために、装置内温度測定部51と恒温槽温度測定部52とにより、装置内温度並びに恒温槽温度を取得する。
この分析開始時刻入力工程では、使用者が、入出力部73を介して前記予定分析開始時刻を制御部70に入力する。入力された予定分析開始時刻データは、I/Oポート75bを介してRAM75eに格納される。この予定分析開始時刻の入力は、分析装置1に電源が入っている際に行われる。本実施の形態においては、この予定分析開始時刻の入力は、分析用電源61並びに電源制御部用電源62の両方により、分析装置1に対して電力が提供されている際に行われる。
この電源切断工程は、分析装置1の電源切断処理が行われる。この電源切断工程は、分析開始時刻入力工程が完了した後に、使用者が任意のタイミングで分析装置1に対して電源切断動作を行った際に実行される。なお、分析装置1に前記予定分析開始時刻が設定されていない場合、分析装置1は、電源切断動作により、電源部60の全電源が落とされ(OFFされ)、以下の工程を行わず停止する。なお、分析開始時刻が設定されている場合、この電源切断処理では、分析用電源61をOFFする。言い換えると、電源制御部74のみが常時稼働可能なように、電源制御部用電源62のみONにしておく。そして、続いて、起動工程が行われる。
この起動工程では、分析装置1を分析可能な状態にするために必要な電源を投入(ON)するタイミングの判断、並びに電源の投入を行う。この起動工程は、電源切断工程後に所定周期で行われる。本実施の形態では、起動工程は、分析用電源61の電源の切断後、1分間隔で周期的に実行される。
本実施の形態の変形例の電源制御部74’は、タイマー付リレーを備えている。このタイマー付リレーは、タイマーに設定された時刻に、接点のON/OFFをするように構成されている。電源部60は、前記接点のON/OFFに対応して、全電源のON/OFFが行われるように構成される。なお、タイマー付リレーは、電源部60の全電源を切断した場合でも動作するように構成されている。
Claims (6)
- 検体の分析を行う分析装置であって、
前記分析装置に電力を供給する電源と、
現在の時刻を求めるタイマと、
分析装置の温度を測定する温度測定手段と、
分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部とを具備しており、
前記電源制御部は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、現在の時刻に前記初期化時間を加えた時刻が、前記予定分析開始時刻以降になった際に、電源を投入する分析装置。 - 前記温度測定手段は、複数設けられている請求項1に記載の分析装置。
- 前記分析装置は、
検体を分析するための分析ユニットと、
前記分析ユニットの温度を調整する温度調節部と
を有しており、
少なくとも1つの前記温度測定手段は、前記温度調節部に設けられている請求項1又は2に記載の分析装置。 - 前記電源制御部は、前記初期化時間が前記分析装置の温度に相関して記録されている初期化時間テーブルを有しており、この初期化時間テーブルを参照して前記初期化時間を算出する請求項1項に記載の分析装置。
- 前記電源制御部は、前記分析装置の温度と初期化時間との相関を示す関数に基づいて、前記初期化時間を算出する請求項1に記載の分析装置。
- 検体の分析を行う分析装置であって、
前記分析装置に電力を供給する電源と、
現在の時刻を求めるタイマと、
分析装置の温度を測定する温度測定手段と、
分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部とを具備しており、
前記電源制御部は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、前記予定分析開始時刻から前記初期化時間を減算した時刻に、電源を投入する分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003422869A JP2005181123A (ja) | 2003-12-19 | 2003-12-19 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003422869A JP2005181123A (ja) | 2003-12-19 | 2003-12-19 | 分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005181123A true JP2005181123A (ja) | 2005-07-07 |
Family
ID=34783602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003422869A Pending JP2005181123A (ja) | 2003-12-19 | 2003-12-19 | 分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005181123A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009036723A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Olympus Corp | 自動分析装置および動作環境設定方法 |
JP2010066108A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Olympus Corp | 自動分析装置および自動分析装置の駆動制御方法 |
WO2012070557A1 (ja) * | 2010-11-26 | 2012-05-31 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP2014163855A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Sysmex Corp | 検体処理装置および検体処理システム |
JP2016090345A (ja) * | 2014-10-31 | 2016-05-23 | 株式会社東芝 | 臨床検査装置 |
CN106461687A (zh) * | 2014-06-24 | 2017-02-22 | 株式会社岛津制作所 | 控制装置 |
WO2017033648A1 (ja) * | 2015-08-25 | 2017-03-02 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析システム |
JP2017053684A (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
-
2003
- 2003-12-19 JP JP2003422869A patent/JP2005181123A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009036723A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Olympus Corp | 自動分析装置および動作環境設定方法 |
JP2010066108A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Olympus Corp | 自動分析装置および自動分析装置の駆動制御方法 |
WO2012070557A1 (ja) * | 2010-11-26 | 2012-05-31 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
CN103238073A (zh) * | 2010-11-26 | 2013-08-07 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
JP5480399B2 (ja) * | 2010-11-26 | 2014-04-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP2014081392A (ja) * | 2010-11-26 | 2014-05-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2014163855A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Sysmex Corp | 検体処理装置および検体処理システム |
CN106461687A (zh) * | 2014-06-24 | 2017-02-22 | 株式会社岛津制作所 | 控制装置 |
EP3163304A4 (en) * | 2014-06-24 | 2017-06-28 | Shimadzu Corporation | Control device |
CN106461687B (zh) * | 2014-06-24 | 2018-10-12 | 株式会社岛津制作所 | 控制装置 |
JP2016090345A (ja) * | 2014-10-31 | 2016-05-23 | 株式会社東芝 | 臨床検査装置 |
WO2017033648A1 (ja) * | 2015-08-25 | 2017-03-02 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析システム |
JPWO2017033648A1 (ja) * | 2015-08-25 | 2018-06-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析システム |
US11549957B2 (en) | 2015-08-25 | 2023-01-10 | Hitachi High-Tech Corporation | Automated analyzer and automated analysis system |
JP2017053684A (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5777747B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2005181123A (ja) | 分析装置 | |
EP2667170B1 (en) | Exhaust gas analyzing apparatus, exhaust gas analyzing system and method of operating the same | |
JP6247935B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JPWO2018047545A1 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2007225420A (ja) | オートサンプラ及び分析システム | |
JP7157658B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6115483B2 (ja) | 炭素測定装置 | |
JP2011013112A (ja) | 自動分析装置 | |
JP6543532B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2007127583A (ja) | 自動分析装置 | |
JP2024009363A (ja) | 分析装置 | |
JP5923314B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2011149905A (ja) | 自動分析装置 | |
JP2012159392A (ja) | 分析装置及び分析方法 | |
JP6564864B2 (ja) | 自動分析装置及び自動分析システム | |
JP2018036080A (ja) | 自動分析装置 | |
JP2003121449A (ja) | 検体分析システム | |
JP3445369B2 (ja) | 自動分析装置 | |
WO2022196346A1 (ja) | 自動分析装置 | |
JP5351823B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2017146182A (ja) | 自動分析装置及びその洗浄方法 | |
JP2003240776A (ja) | クロマトグラフリーダを用いる測定方法およびそれに用いる試験片ホルダ並びにクロマトグラフリーダを用いる検査/測定装置 | |
JPS61223562A (ja) | 自動化学分析装置 | |
JP7162149B2 (ja) | 低温の消耗品を検出する生体試料分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061127 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090106 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20090512 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100210 |