JP2005181123A - 分析装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明の目的は、分析可能になる時刻を設定可能な分析装置を提供することである。
【解決手段】 分析装置1は、検体の分析を行う。この分析装置1は、前記分析装置に電力を供給する電源と、現在の時刻を求めるタイマと、分析装置の温度を測定する温度測定手段と、分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部74とを具備している。電源制御部74は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、現在の時刻に前記初期化時間を加えた時刻が、前記予定分析開始時刻以降になった際に、電源を投入する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、試料の分析を行う分析ユニットを備えている分析装置に関している。
近年、臨床診断や研究のために、血液や尿などの試料(検体)の分析が行われている。この分析を行う分析装置は、前記検体を分析する分析ユニットを有している。前記分析ユニットは、反応容器中に入れられた検体を分析する。さらに、前記分析装置は、恒温装置、加熱装置、及び測定用光源等を有している。前記恒温装置は、前記分析ユニットを一定温度に保つ。前記加熱装置は、前記検体、試薬を希釈する希釈水、並びに洗浄液を加熱する。
前記分析装置において、前記分析ユニットの測定結果を安定させるために、分析前に前記恒温装置及び加熱装置を所定温度に安定させる必要がある。また、前記測定用光源も、光量を安定させるために、所定温度に安定させる必要がある。これらを安定させることにより、前記分析装置は、分析可能な状態になる。なお、本明細書中において、前記分析装置が、電源の投入(起動)から分析可能な状態になるまでの時間を初期化時間とする。
前記分析装置は、使用する際に、電源投入後、前記初期化時間の間、使用者を待たせるため煩雑である。この待ち時間を省略することを意図した分析装置が、例えば、特許文献1に記載されている。
特許文献1の分析装置は、時計回路と、電源と、電源の起動を制御する電源起動回路と、を有している。時計回路は、電源を投入する電源起動時刻が設定され得る。また、時計回路は、前記電源起動時刻になった際に、前記電源起動回路に対して、電源起動命令を出す。電源起動回路は、前記電源起動命令を受けた際に、前記電源を起動するように、前記電源を制御する。
このような分析装置は、前記電源起動時刻になった際に、自動的に電源を起動させ得る。従って、分析装置は、使用開始前の所望の電源起動時刻に、自動的に電源を投入し、前記初期化時間中の使用者の待ち時間を減少させ得る。
特許第2628871号公報(第2−3頁、 図2)
特許文献1の分析装置は、電源起動時刻を設定するものであり、前記分析装置が分析可能になる時刻を設定するものではない。従って、使用者は、前記分析装置が分析可能になる正確な時刻を知ることが出来ない。このため、前記公報の分析装置を使用する場合、使用者は、電源起動時刻後の任意の時間経過後に、分析装置に向かう。言い換えると、使用者が分析装置に向かう時刻は、使用者の裁量によってしまう。このため、使用者は、前記分析装置が、分析可能状態になると同時に、分析装置に向かうことは困難である。
例えば、使用者は、電源起動時刻のすぐ後に分析装置に向かった場合、分析装置が分析可能状態になっておらず、待たされてしまう場合がある。また、電源起動時刻から大幅に遅れて分析装置に向かった場合、前記分析装置がすでに分析可能になっている。即ち、分析装置が分析可能状態で放置されてしまい、電力は、無駄に消費されてしまう。
本発明の目的は、前記課題を鑑みて、分析可能になる時刻を設定可能な分析装置を提供することである。
前記課題を鑑みて、本発明の分析装置は、以下の構成を有している。
本発明の一態様の分析装置は、検体の分析を行う分析装置であって、前記分析装置に電力を供給する電源と、現在の時刻を求めるタイマと、分析装置内の温度を測定する温度測定手段と、分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部とを具備している。前記電源制御部は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、現在の時刻に前記初期化時間を加えた時刻が、前記予定分析開始時刻以降になった際に、電源を投入する。
本発明の他の態様の分析装置は、検体の分析を行う分析装置であって、前記分析装置に電力を供給する電源と、現在の時刻を求めるタイマと、分析装置の温度を測定する温度測定手段と、分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部とを具備している。前記電源制御部は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、前記予定分析開始時刻から前記初期化時間を減算した時刻に、電源を投入する。
本発明は、分析可能になる時刻を設定可能な分析装置を提供し得る。
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。
まず、本発明の1つの実施の形態について図1乃至図3を用いて説明する。図1は、本実施の形態の分析装置を示す概略図である。
図1中に示すように、本実施の形態の分析装置1は、検体を分析するための分析ユニット20と、分析ユニット20の温度を調整するための恒温槽30と、分析装置1の各機構を駆動させる駆動部40と、分析装置の内外の温度を測定する温度測定部50と、分析装置1の各部位に電源を供給する電源部60と、これらを制御する制御部70とを具備している。
分析ユニット20は、分析対象である検体が入れられる反応容器21と、反応容器21中の検体を測定するための測定用光源23と、測定用光源23からの光束を受光する受光部24とを有している。
測定用光源23は、反応容器21に向けて光束を照射し、反応容器21を通過した光束を受光部24が受光する。受光部24は、受光結果を制御部70に送る。制御部70は、前記受光結果を基に反応容器21中の検体の成分を分析する。
さらに、分析ユニット20は、図示しないが、試料分注器、試薬分注器、及び攪拌装置を有している。前記試料分注器は、反応容器21に検体を分注する。前記試薬分注器は、反応容器21に試薬を分注する。前記撹拌装置は、反応容器21中の検体並びに試薬を攪拌する。
恒温槽30は、内部に恒温液を収容しており、分析ユニット20の温度を調節するための温度調節部である。この恒温槽30は、前記恒温液の温度を調節するための温度調整手段としてヒータ31を有している。恒温槽30は、前記ヒータ31の熱を所定温度に保つとともに、前記熱を前記恒温液を介して前記分析ユニット20に伝える。この結果、恒温槽30は、反応容器21を介して、反応容器21中の検体の温度を所定温度に維持する。
駆動部40は、反応容器21への検体の分注、及び、反応容器21の洗浄並びに交換等の際に動作する機構(図示せず)を駆動させる駆動手段である。この駆動部40は、制御部70と接続されており、制御部70により駆動を制御される。
温度測定部50は、分析装置1内の温度を測定する。この温度測定部50は、温度測定手段として、装置内温度測定部51と、恒温槽温度測定部52とを有している。装置内温度測定部51は、分析装置1内に配置されており、装置内の温度(装置内温度)を測定する。恒温槽温度測定部52は、恒温槽30中に配置され、恒温液の温度(恒温槽温度)を測定する。温度測定部50は、制御部70に接続されており、測定結果を制御部70に送る。
電源部60は、分析ユニット20、恒温槽30、駆動部40、及び制御部70に接続されており、これらに電力を供給する。より具体的には、電源部60は、分析用電源61と、電源制御部用電源62と、を有している。
分析用電源61は、分析ユニット20、恒温槽30、駆動部40に対して電力を提供する。また、分析用電源61は、制御部70の後述する分析用制御部71、並びに恒温槽制御部72にも電力を供給する。また、分析用電源61は、制御部70の後述する電源制御部74と接続されており、電源制御部74により駆動が制御される。
電源制御部用電源62は、制御部70の後述する電源制御部74と接続されており、電源制御部74に対して電力を供給する。電源制御部用電源62もまた、電源制御部74により駆動が制御される。
制御部70は、分析ユニット20、恒温槽30、駆動部40、温度測定部50,及び電源部60の動作を制御する。具体的には、制御部70は、分析用制御部71と、恒温槽制御部72と、入出力部73と、電源制御部74とを有している。
分析用制御部71は、駆動部40と、分析ユニット20の測定手段(測定用光源23並びに受光部24)の駆動を制御する。なお、分析用制御部71は、前記測定手段による測定結果を取得し、入出力部73により前記測定結果を出力する。
恒温槽制御部72は、恒温槽温度測定部52による測定結果に基づいて、恒温槽30を所望の温度(例えば37度)に安定するように、ヒータ31を制御する。
入出力部73は、使用者が希望する予定分析開始時刻の入力、及び分析結果の出力を行う入出力手段である。なお、この入出力部73は、検査条件、及び検査命令などの入力や、装置の状態などの出力も行い得る。
電源制御部74は、電源部60の電源の投入並びに切断を制御する制御手段である。以下に、図2を参照してこの電源制御部74を詳しく説明する。この電源制御部74は、増幅器74aと、制御ユニット74bとを有している。
増幅器74aは、装置内温度測定部51並びに恒温槽温度測定部52と接続されており、これらから出力された測定結果(温度情報)の信号を増幅するとともに制御ユニット74bに送る信号増幅手段である。
制御ユニット74bは、増幅器74aからの温度情報に基づいて、電源部60を制御する。本実施の形態において、制御ユニット74bは、ワンチップマイコンにより構成されている。この制御ユニット74bは、タイマ75aと、I/Oポート75bと、A/Dコンバータ75cと、RAM75eと、ROM75fと、CPU75gとを有している。
タイマ75aと、I/Oポート75bと、A/Dコンバータ75cと、RAM75eと、ROM75fとは、CPU75gに接続されている。
タイマ75aは、時刻を計測し、現在時刻データをCPU75gに送る。
I/Oポート75bは、入出力部73と接続されており、入出力部73と制御ユニット74bとの情報の入出力を行うためのポートである。
A/Dコンバータ75cは、増幅器75hと接続されている。このA/Dコンバータ75cは、増幅器75hからの温度情報をデジタル信号に変換し、CPU75gに送る。
RAM75eは、CPU75gからのデータ、並びに入出力部73から入力されたデータを記憶する。
ROM75fは、後で説明する初期化時間テーブルを格納している。
CPU75gは、上述の接続されている機器の動作を制御する。また、CPU75gは、前記温度情報及び予定分析開始時刻を基に、前記ROM中の初期化時間テーブルを参照して、初期化時間を求める初期化時間算出部である。
以下で前述の初期化時間テーブルについて説明する。
一般的に分析装置において、装置内の各部位の温度と、測定用光源23の光量とを安定させる(分析装置を分析可能にする)ためには、従来の技術で説明したように、電源入力後に所定の時間(初期化時間)を必要とする。この初期化時間は、分析装置1の温度に相関して変化する。例えば、前記各部位を所定温度に暖める場合、電源切断から長時間経過した後では、分析装置は冷えてしまっているため、前記初期化時間は、長時間になる。なお、本実施の形態において、分析装置1の温度を測定するために、装置内温度測定部51と恒温槽温度測定部52とにより、装置内温度並びに恒温槽温度を取得する。
初期化時間テーブルは、図3中に示されるように、分析装置1内の温度及び恒温槽30の温度に相関した初期化時間が記録されている。この初期化時間テーブルに示されるように、初期化時間は、装置内温度並びに恒温槽温度が低い場合長く、高い場合短く設定される。例えば、恒温槽温度が20度であり、装置内温度が16度の場合、初期化時間は60分に設定され、恒温槽温度が37度であり、装置内温度が20度の場合、初期化時間は5分に設定される。なお、この初期化時間は、環境温度、ヒータ31、測定用光源23の性能、並びに装置の大きさなどの装置構成により変化する。このため、初期化時間テーブルは、分析装置の構成や設置場所などにあわせて作成される。
以下に、前記構成の分析装置の動作について説明する。
本実施の形態の分析装置において、検体を分析する場合、以下のようにして行われる。まず、使用者は、入出力部73により、分析開始命令を入力する。入力された分析開始命令は、制御部70に送られる。分析開始命令を受けた制御部70は、分析用制御部71により、分析ユニット20を制御し、検体の測定を行う。この測定を以下で具体的に説明する。
この測定において、分析用制御部71は、分析開始命令を受けた後、駆動部40を介して前記試料分注器、前記試薬分注器、及び前記攪拌装置を制御し、反応容器21中に、検体並びに試薬を分注し、これら混合溶液を攪拌する。このようにして作成された混合溶液は、恒温槽制御部72の制御により所定温度に安定維持された恒温槽によって、所定温度に保たれる。
続いて、分析用制御部71は、測定用光源23に駆動命令を出力する。駆動命令を受けた際に測定用光源23は、反応容器21に向けて測定光を照射する。受光部24は、反応容器21を透過した前記測定光を受光する。受光部24は、受光結果を制御部70に送り、制御部70は、受光結果に基づいて、検体の成分分析を行い、入出力部73により、分析結果を出力する。このようにして、分析ユニット20は、検体の分析を完了する。
以下に、分析ユニット20の分析時間予約について説明する。この分析時間予約とは、使用者が設定した時刻に分析ユニット20が分析可能な状態になるように分析ユニット20を設定することである。
この分析時間予約を行う際には、以下の複数の工程が行われる。この分析時間予約では、まず、分析開始時刻入力工程が行われる。
(分析開始時刻入力工程)
この分析開始時刻入力工程では、使用者が、入出力部73を介して前記予定分析開始時刻を制御部70に入力する。入力された予定分析開始時刻データは、I/Oポート75bを介してRAM75eに格納される。この予定分析開始時刻の入力は、分析装置1に電源が入っている際に行われる。本実施の形態においては、この予定分析開始時刻の入力は、分析用電源61並びに電源制御部用電源62の両方により、分析装置1に対して電力が提供されている際に行われる。
(電源切断工程)
この電源切断工程は、分析装置1の電源切断処理が行われる。この電源切断工程は、分析開始時刻入力工程が完了した後に、使用者が任意のタイミングで分析装置1に対して電源切断動作を行った際に実行される。なお、分析装置1に前記予定分析開始時刻が設定されていない場合、分析装置1は、電源切断動作により、電源部60の全電源が落とされ(OFFされ)、以下の工程を行わず停止する。なお、分析開始時刻が設定されている場合、この電源切断処理では、分析用電源61をOFFする。言い換えると、電源制御部74のみが常時稼働可能なように、電源制御部用電源62のみONにしておく。そして、続いて、起動工程が行われる。
(起動工程)
この起動工程では、分析装置1を分析可能な状態にするために必要な電源を投入(ON)するタイミングの判断、並びに電源の投入を行う。この起動工程は、電源切断工程後に所定周期で行われる。本実施の形態では、起動工程は、分析用電源61の電源の切断後、1分間隔で周期的に実行される。
この起動工程が実行された際に、まず、CPU75gは、装置内温度測定部51並びに恒温槽温度測定部52から、装置内温度並びに恒温槽温度を取得する。そして、CPU75gは、初期化時間テーブルを参照し、取得した装置内温度並びに恒温槽温度に対する初期化時間を求める。
続いて、CPU75gは、タイマ75aから現在の時刻を取得するとともに、RAM75eから予定分析開始時刻を取得する。CPU75gは、現在の時刻に初期化時間を足した時刻(加算後時刻)が、予定分析開始時刻以降であるかを判断する。
前記加算後時刻が予定分析開始時刻より前である場合、分析装置1の全電源を入れてしまうと、予定分析開始時刻前に、分析装置1が分析可能になってしまう。この場合、起動工程を終了し、再び、所定時間後に起動工程を最初から実行する。本実施の形態においては、上述のように1分後に再び起動工程が行われる。
前記加算後時刻が予定分析開始時刻以降である場合、CPU75gは、I/Oポート75bを介して、電源部60の切断されている全ての電源(本実施の形態においては分析用電源61)に電源投入命令を出力する。この電源供給命令により、電源部60は、全電源を投入する。この電源投入とともに、制御部70は、分析装置1の初期化動作を行う。本実施の形態の初期化動作では、分析用制御部71の命令により、測定用光源23が点灯され、恒温槽制御部72の命令により、ヒータ31が、加熱を開始し、恒温槽の温度を所定温度になるように調整を開始する。このようにして、分析装置1は、この初期化動作を開始してから前記初期化時間後に分析可能な状態になる。
以下に、より具体的に起動工程について説明する。この説明において、予定分析開始時刻が午後8時に設定されているものとする。
この起動工程が、午後7時24分に実行された際に、CPU75gは、装置内温度並びに恒温槽温度を取得する。本例において、装置内温度が20度、恒温槽温度が22度とする。また、本例において、CPU75gは、図3中の初期化時間テーブルにより初期化時間を求める。従って、初期化時間は35分となる。
続いて、CPU75gは、前記加算後時刻を求める。上述のように、起動工程の実行時の時刻が、午後7時24分で、初期化時間が35分である。従って、加算後時刻は、7時59分である。
続いて、CPU75gは、加算後時刻と予定分析開始時刻とを比較する。この比較により、加算後時刻が、予定分析開始時刻前だということが分かる。このため、CPU75gは、電源投入命令を出力せず、起動工程を終了する。
起動工程は、前述のように周期的に行われるため、起動工程のを終了した1分後、再び実行される。再び実行された起動工程においても、前記と同様に、CPU75gは、装置内温度並びに恒温槽温度を取得する。ここでも取得した装置内温度が20度、恒温槽温度が22度とする。このため、初期化時間は、35分となる。なお、この再び実行された起動工程は、起動開始が午後7時25分である。従って、加算後時刻が、午後8時になる。このため、CPU75gは、加算後時刻が予定分析開始時刻以降であるため、電源投入命令を出力し、全ての電源を投入させるとともに、初期化動作を開始させる。このように、本実施の形態の分析装置1は、所望の予定起動開始時間に、分析可能にされ得る。
本実施の形態の分析装置1は、上述のように取得した温度情報に基づいて算出した加算時刻が予定分析開始時刻以降になった際に電源を、自動的に投入する。従って、分析装置1は、確実に、設定された前記予定分析開始時刻に電源を投入し得る。従って、使用者は、確実に分析装置が分析可能になる時刻を知ることが出来、待ち時間を無くすことが出来とともに、無駄な電力消費を防止し得る。
なお、本実施の形態の起動工程において、加算後時刻と、予定分析開始時刻とを比較することにより、電源投入命令の出力タイミングを判断しているが、予定分析開始時刻から初期化時間を減じた時刻が、現在の時刻である場合に、電源を投入するように制御することも可能である。
また、本実施の形態において、温度測定部50は、温度測定手段として、装置内温度測定部51と、恒温槽温度測定部52とを有している。このため、初期化時間を、複数の温度情報に基づき算出し得る。従って、本実施の形態の分析装置1は、1つの温度情報で求める場合に比べて、より正確に初期化時間を求め得る。なお、分析装置1は、温度測定部50を1つの温度測定手段で構成することも可能である。また、分析装置1は、温度測定部50を3つ以上の温度測定手段により構成し、3つ以上の温度情報を取得することも可能である。この場合、初期化時間テーブルは、取得した3つ以上の温度情報から1つの初期化時間が求まるように変更される。
また、本実施の形態において、温度測定部50は、温度調節部である恒温槽30の温度を測定し得るように、恒温槽温度測定部52を有している。これにより、本実施の形態の分析装置1は、初期化に時間の掛かる恒温槽30の温度を取得し得るため、この温度情報を基により正確に前記初期化時間を求め得る。
また、電源制御部74は、前記初期化時間テーブルに基づいて、初期化時間を求める。このため、本実施の形態の分析装置1は、前記初期化時間テーブルを参照することにより、より迅速に初期化時間を求め得る。なお、電源制御部74は、初期化時間テーブルの代わりに、前記分析装置の温度と初期化時間との相関を示す関数に基づいて、前記初期化時間を算出するように構成することも可能である。この場合、分析装置1は、リニアに分析装置の温度に基づいて初期化時間を算出し得る。
また、本実施の形態において、初期化時間テーブルは、ROM75f中に格納されているが、ハードディスクやフラッシュメモリーなど他の公知の記録媒体に格納することも可能である。なお、RAM75eも同様に、他の記録媒体に代えることも可能である。また、分析装置1は、ROM75f並びにRAM75eを、1つの記録媒体に代え、この単一の記録媒体に全ての情報を格納するように構成され得る。
また、本実施の形態の電源制御部74は、電源制御部用電源62から常時電力が供給されるように、構成されているが、分析時間予約に、バッテリーなどのバックアップ用電源から電源が供給されるように構成し、電源部60の全ての電源を落とすように構成することも可能である。これにより、本実施の形態の分析装置1は、より消費電力を抑え得る。
また、本実施の形態において、予定分析開始時刻は、1つのみ設定されているが、複数設定し得るように構成することも可能である。
また、電源制御部74は、I/Oポート75bを介して電源部60と接続されているとともに、CPU75gから出力された電源投入命令により、電源部60が電源投入するように構成されている。しかしながら、電源制御部を、タイマ付リレーを介して、電源部60と接続するように構成し、タイマー付リレーのON/OFFにより電源部60の投入並びに切断(ON/OFF)を制御することも可能である。以下に、このタイマー付リレーを用いた本実施の形態の分析装置の変形例を説明する。
(変形例)
本実施の形態の変形例の電源制御部74’は、タイマー付リレーを備えている。このタイマー付リレーは、タイマーに設定された時刻に、接点のON/OFFをするように構成されている。電源部60は、前記接点のON/OFFに対応して、全電源のON/OFFが行われるように構成される。なお、タイマー付リレーは、電源部60の全電源を切断した場合でも動作するように構成されている。
この場合の分析時間予約において、タイマー付リレーを備えた電源制御部74’は、上述した分析時間予約に対して、電源切断工程並びに起動工程の処理が異なる。電源制御部74’は、電源制御部74と同様に、使用者が任意のタイミングで電源切断動作を行った際に行われる。電源制御部74’の電源切断工程では、まず、電源制御部74の起動工程と同様に、温度測定部50により分析装置の温度を取得し、この温度に基づいて初期化時間を算出する。続いて、電源制御部74’は、予定分析開始時刻から初期化時間を引いた電源投入時刻を求める。そして、この電源投入時刻をタイマー付リレーのタイマに、設定する。この設定後、電源制御部74’は、タイマー付リレーをOFFし、電源部60の全ての電源を切断する。
電源制御部74’の起動工程は、前記電源投入時刻になった際に実行される。電源投入時刻になった際に、タイマー付リレーは、接点をONにする。これにより、電源部60は、全電源が投入され、分析装置1は、前記初期化動作を開始する。これにより、分析装置1は、初期化時間後に、分析可能になる。このように、本変形例の分析装置1のように、切断時の分析装置の温度に基づいて電源投入時間を設定することも可能である。この場合、複数回温度を測定せずに、略予定分析可能時刻に分析装置を分析可能にし得る。従って、本変形例の分析装置1は、より簡単な制御で、分析可能になる時刻を設定可能である。
これまで、いくつかの実施の形態について図面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。
図1は、本発明の一実施の形態に従った分析装置を示す概略的なブロック図である。 図2は、図1中の電源制御部を示す概略的なブロック図である。 図3は、初期化時間テーブルを示す図である。
符号の説明
1…分析装置、20…分析ユニット、21…反応容器、23…測定用光源、24…受光部、30…恒温槽、31…ヒータ、40…駆動部、50…温度測定部、51…装置内温度測定部、52…恒温槽温度測定部、60…電源部、61…分析用電源、62…電源制御部用電源、70…制御部、71…分析用制御部、72…恒温槽制御部、73…入出力部、74、74’…電源制御部、74a…増幅器、74b…制御ユニット、75a…タイマ、75b…I/Oポート、75c…A/Dコンバータ、75e…RAM、75f…ROM、75g…CPU、75h…増幅器。

Claims (6)

  1. 検体の分析を行う分析装置であって、
    前記分析装置に電力を供給する電源と、
    現在の時刻を求めるタイマと、
    分析装置の温度を測定する温度測定手段と、
    分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部とを具備しており、
    前記電源制御部は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、現在の時刻に前記初期化時間を加えた時刻が、前記予定分析開始時刻以降になった際に、電源を投入する分析装置。
  2. 前記温度測定手段は、複数設けられている請求項1に記載の分析装置。
  3. 前記分析装置は、
    検体を分析するための分析ユニットと、
    前記分析ユニットの温度を調整する温度調節部と
    を有しており、
    少なくとも1つの前記温度測定手段は、前記温度調節部に設けられている請求項1又は2に記載の分析装置。
  4. 前記電源制御部は、前記初期化時間が前記分析装置の温度に相関して記録されている初期化時間テーブルを有しており、この初期化時間テーブルを参照して前記初期化時間を算出する請求項1項に記載の分析装置。
  5. 前記電源制御部は、前記分析装置の温度と初期化時間との相関を示す関数に基づいて、前記初期化時間を算出する請求項1に記載の分析装置。
  6. 検体の分析を行う分析装置であって、
    前記分析装置に電力を供給する電源と、
    現在の時刻を求めるタイマと、
    分析装置の温度を測定する温度測定手段と、
    分析を開始する時刻である予定分析開始時刻が設定可能であり、前記電源の起動を制御する電源制御部とを具備しており、
    前記電源制御部は、温度測定手段から前記電源の起動時の前記分析装置の温度を取得し、取得した温度に基づいて、分析装置の起動から分析可能になるまでの初期化時間を求め、前記予定分析開始時刻から前記初期化時間を減算した時刻に、電源を投入する分析装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009036723A (ja) * 2007-08-03 2009-02-19 Olympus Corp 自動分析装置および動作環境設定方法
JP2010066108A (ja) * 2008-09-10 2010-03-25 Olympus Corp 自動分析装置および自動分析装置の駆動制御方法
WO2012070557A1 (ja) * 2010-11-26 2012-05-31 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2014163855A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Sysmex Corp 検体処理装置および検体処理システム
JP2016090345A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 株式会社東芝 臨床検査装置
CN106461687A (zh) * 2014-06-24 2017-02-22 株式会社岛津制作所 控制装置
WO2017033648A1 (ja) * 2015-08-25 2017-03-02 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析システム
JP2017053684A (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009036723A (ja) * 2007-08-03 2009-02-19 Olympus Corp 自動分析装置および動作環境設定方法
JP2010066108A (ja) * 2008-09-10 2010-03-25 Olympus Corp 自動分析装置および自動分析装置の駆動制御方法
WO2012070557A1 (ja) * 2010-11-26 2012-05-31 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN103238073A (zh) * 2010-11-26 2013-08-07 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP5480399B2 (ja) * 2010-11-26 2014-04-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2014081392A (ja) * 2010-11-26 2014-05-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2014163855A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Sysmex Corp 検体処理装置および検体処理システム
CN106461687A (zh) * 2014-06-24 2017-02-22 株式会社岛津制作所 控制装置
EP3163304A4 (en) * 2014-06-24 2017-06-28 Shimadzu Corporation Control device
CN106461687B (zh) * 2014-06-24 2018-10-12 株式会社岛津制作所 控制装置
JP2016090345A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 株式会社東芝 臨床検査装置
WO2017033648A1 (ja) * 2015-08-25 2017-03-02 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析システム
JPWO2017033648A1 (ja) * 2015-08-25 2018-06-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析システム
US11549957B2 (en) 2015-08-25 2023-01-10 Hitachi High-Tech Corporation Automated analyzer and automated analysis system
JP2017053684A (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

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