JP2005175269A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005175269A
JP2005175269A JP2003414839A JP2003414839A JP2005175269A JP 2005175269 A JP2005175269 A JP 2005175269A JP 2003414839 A JP2003414839 A JP 2003414839A JP 2003414839 A JP2003414839 A JP 2003414839A JP 2005175269 A JP2005175269 A JP 2005175269A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power
line
power supply
switch
supply line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003414839A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4435553B2 (ja
Inventor
Takanobu Isono
貴亘 礒野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2003414839A priority Critical patent/JP4435553B2/ja
Priority to US11/007,227 priority patent/US7202700B2/en
Priority to CNB2004101019938A priority patent/CN100394356C/zh
Publication of JP2005175269A publication Critical patent/JP2005175269A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4435553B2 publication Critical patent/JP4435553B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0016Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

【課題】 半導体集積回路において、電源を遮断した後、再度電源を立ち上げる際に充電時間によるシステムの立ち上げが遅れると共に、貫通電流による電力消費が起こる。
【解決手段】 論理回路101に電圧を供給するセル電源線102と、セル電源線102に電圧を供給する容量電源線103と、制御回路電源線107と、セル電源線102と容量電源線103、制御回路電源線107とを分離・接続するスイッチ104、108と、スイッチ104、108を制御する信号105、109を駆動するバッファ回路106、110とを備え、システムを立ち上げる際、直前に容量電源線103に電位を加えて充電した後、セル/容量間スイッチ104をオンの状態にし、セル電源線102に電圧を加えることで、セル電源線102の電圧の上昇を急峻にすることが可能となり、充電時間を削減し、論理回路101を構成するトランジスタを流れる貫通電流も削減できる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、携帯電話などのモバイル機器等に使用され、電源遮断技術を用いて低消費電力化を図る半導体装置に関するものである。
近年、携帯電話などのモバイル機器における待機時の電力消費が問題になってきている。そこで、待機時の消費電力を削減するために、半導体装置などへの電圧供給を中断(電源遮断)し、トランジスタのオフリーク電流を削減する技術が用いられている。近年、半導体プロセスの微細化により、トランジスタの閾値も低下し、よりトランジスタのオフリークが増加することから、電源遮断技術は極めて有用である。オフリーク電流を削減し、低消費電力化を実施するための電源遮断技術は実用化されている(例えば、特許文献1)。従来の電源遮断は外部から電源線への電圧印加を停止することで、リーク電流を完全に抑えることができる。しかし、近年、回路動作時に、電源線の抵抗成分によって、トランジスタを駆動する電圧の低下が起こり、これにより、回路性能が劣化する。この回路性能の劣化を抑えるため、電源に寄生容量を多く持たせることで、電圧低下を防ぐ手法がとられている。
特開平9−269854号公報
しかしながら上記のように、回路性能の劣化を抑えるため、電源に寄生容量を多く持たせる手法では、この電源容量によって、電源遮断後のシステム復帰時に、電源容量に充電する時間が大きく、システムの立ち上げに時間がかかる。また、電源容量への充電時間がかかるため、トランジスタを駆動する電源の立ち上がりがトランジスタによってばらつき、そのため、トランジスタを流れる貫通電流が発生するため、電力を消費してしまう。
本発明の目的は、オフリーク電流を抑えつつ、電源遮断後の電源再投入時の電圧の立ち上げを急峻にし、このとき流れる貫通電流を削減し、高速化・低消費電力化を実現できる半導体装置を提供することである。
本発明の半導体装置は、論理回路と、論理回路に電圧を供給する第1の電源線と、第1の電源線に電圧を供給する第2の電源線とを備えた半導体装置であって、第3の電源線と、第1の電源線と第2の電源線とを分離・接続する第1のスイッチと、第1の電源線と第3の電源線とを分離・接続する第2のスイッチと、第3の電源線から電圧が供給され、第1のスイッチを制御する第1の信号を駆動する第1の制御回路と、第3の電源線から電圧が供給され、第2のスイッチを制御する第2の信号を駆動する第2の制御回路とを設けたことを特徴とする。
また、本発明において、半導体装置は複数のセルが配列されて構成され、内部に論理回路を構成するセルは、セル内電源線により第1の電源線を構成し、内部に第1の制御回路を構成するセルおよび内部に第2の制御回路を構成するセルは、それぞれセル内電源線を第3の電源線に接続するとともにセル内電源線の少なくとも片端に第2のスイッチを備えたことを特徴とする。
また、本発明において、第2の電源線および第3の電源線にそれぞれ電圧が供給され、第1のスイッチにより第1の電源線と第2の電源線とが接続され、第2のスイッチにより第1の電源線と第3の電源線とが接続された通常動作モードと、第1のスイッチにより第1の電源線と第2の電源線とが分離され、第2のスイッチにより第1の電源線と第3の電源線とが分離された低消費電力モードとを有し、通常動作モードから低消費電力モードへ切り替わる際、第1のスイッチにより第1の電源線と第2の電源線とが分離されるとともに、第2のスイッチにより第1の電源線と第3の電源線とが分離され、分離が完了した後、第2の電源線への電圧供給を停止し、低消費電力モードから通常モードへ切り替わる際、第2の電源線への電圧供給を開始し、第2の電源線が充電された後、第1のスイッチにより第2の電源線と第1の電源線とが接続され、第1の電源線が充電された後、第2のスイッチにより第1の電源線と第3の電源線とが接続されることを特徴とする。
この構成により、電源遮断後の再起動時に(低消費電力モードから通常モードへ切り替わる際)、容量電源線(第2の電源線)への電圧供給をシステムの起動より事前に行い、セル電源線(第1の電源線)の電圧の急峻な立ち上げが可能となり、システムの立ち上げが速くなるとともに、セル電源線を立ち上げる際の論理回路を構成するトランジスタによる貫通電流を大幅に削減することができる。また、セル電源線の立ち上げをシステムの起動の直前まで停止する(すなわち、セル電源線への電圧供給を長く停止する)ことで、オフリーク電流を削減することができる。
さらに、本発明において、第2の電源線および第3の電源線への電圧供給が停止され、第1のスイッチにより第1の電源線と第2の電源線とが接続され、第2のスイッチにより第1の電源線と第3の電源線とが接続された最低消費電力モードを有し、通常動作モードから最低消費電力モードへ切り替える際には、第2の電源線と第3の電源線への電圧供給を停止し、最低消費電力モードから通常動作モードへ切り替わる際には、第3の電源線への電圧供給を開始し、第1のスイッチにより第1の電源線と第2の電源線とが分離されるとともに第2のスイッチにより第1の電源線と第3の電源線とが分離されて低消費電力モードへ切り替わった後、低消費電力モードから通常動作モードへ切り替わることを特徴とする。
この最低消費電力モードは、長時間システムが停止する場合に、より低消費電力化を実現する上で有効である。
また、本発明において、第3の電源線から電源電圧が供給され、信号の状態を保持する信号論理保持回路を設けたことを特徴とする。
本発明によれば、電源を遮断したのち、システムを再起動させる際の電源立ち上げ時の貫通電流を防止し、急峻な電源立ち上げを実現し電源再投入の時間を大幅に削減できる。これにより消費電力を抑えつつ、高速回路を実現し、リアルタイムシステムを可能にする。
以下、本発明の半導体装置について図面を参照しながら説明する。
図1は本発明の実施の形態の半導体装置のブロック図を示しており、論理回路101と、この論理回路101に接地線(VSS)とともに回路電源電圧を供給するセル電源線102と、セル電源線102に電圧を供給することができる容量電源線103と、セル電源線102と容量電源線103とを分離・接続することができるセル/容量間スイッチ104とがある。このセル/容量間スイッチ104を制御する信号105を駆動するバッファ回路106は制御回路電源線107からの電圧よって駆動される。制御回路電源線107とセル電源線102を分離するセル/制御間スイッチ108がある。このセル/制御間スイッチ108を制御する信号109を駆動するバッファ回路110は制御回路電源線107からの電圧によって駆動される。
図2はセル/容量間スイッチ104を制御する回路群の構成要素のトランジスタ回路を示している。図2において、セル/容量間スイッチ104およびセル/制御間スイッチ108はそれぞれPチャネルトランジスタで構成され、バッファ回路106はPチャネルトランジスタとNチャネルトランジスタで構成されたインバータを2つ接続して構成している。なお、図2ではトランジスタを簡易的に示している。
セル/容量間スイッチ104はバッファ回路106によって駆動され、バッファ回路106は制御回路電源線107によって駆動され、この制御回路電源線107の両端にはセル/制御間スイッチ108が配置される。回路群120は、信号105、バッファ回路106、セル/制御間スイッチ108、制御回路電源線107、信号109によって構成される。回路群121は、セル/容量間スイッチ104、容量電源線103、回路群120から出力される信号111から構成される。この回路群121はセル電源線102への電圧供給が十分に可能である程度に複数存在し、回路群120は信号105の伝播遅延が大きすぎない程度に信号波形を保持することができる程度に複数存在する。
図3はセル/制御間スイッチ108を制御する回路群の構成要素のトランジスタ回路を示している。図3において、セル/制御間スイッチ108は図2と同様にPチャネルトランジスタで構成され、バッファ回路110は図2のバッファ回路106と同様にPチャネルトランジスタとNチャネルトランジスタで構成されたインバータを2つ接続して構成している。なお、図3でもトランジスタを簡易的に示している。
回路群122は、セル/制御間スイッチ108を制御する信号109を駆動するバッファ回路110を持ち、またセル/制御間スイッチ108を制御回路電源線107の両端に配置する。このセル/制御間スイッチ108はバッファ回路110から出力される信号112によって制御される。回路群122から出力される信号112は次段の回路群122の信号109となり、これらの回路群122が連なってセル電源線102と制御回路電源線107との分離回路が構成される。また、信号112は図2の回路群120が持つセル/制御間スイッチ108を制御する信号109としても機能する。回路群122は信号109の伝播遅延が大きすぎない程度に信号波形を保持することができる程度に複数存在する。
図4は図3の回路群122のレイアウト図を示す。回路群122を構成するセルは、スタンダードセル内で、接地線(VSS)と対向するセル内電源線を制御回路電源線107として意味付け、その両端にトランジスタで構成されたセル/制御間スイッチ108を配置する。回路群123は通常の論理を構成するスタンダードセルを示している。なお、図3のように回路群122が2つ並んで配置される場合、回路群122を構成するセルを2つ並べて配置するが、この場合、2つのセルのそれぞれ隣接する側のセル/制御間スイッチ108を設けずに、2つのセルのセル内電源線(制御回路電源線107)が接続されるように構成してもよい。また、図2の回路群120はレイアウトとしての構成は回路群122と全く同様であり、入力される信号が105となる構成をとる。
図5は図4の回路がレイアウトされる立体図を示す。回路群120と回路群121と回路群122とスタンダードセルから構成される回路群123がレイアウトされており、容量電源線103と制御回路電源線107は上層のメッシュ電源(電源配線を格子上に構成したもの)に相当する電源線からセル内電源線に垂直に接続した構成をとっている。
次に、上記のように構成される半導体装置の制御方法を説明する。この半導体装置では、論理回路101に電圧(電源電位VDD)を供給するセル電源線102に直接電圧が供給されることはなく、容量電源線103、制御回路電源線107からセル電源線102へ電圧が供給される。
通常動作モードでは、セル/容量間スイッチ104、セル/制御間スイッチ108ともにオンの状態で、セル電源線102、容量電源線103、制御回路電源線107はともに接続され、同電位の電源電位VDDになっている。このとき、容量電源線103と制御回路電源線107には同じ電源電位VDDが供給され、セル電源線102には、容量電源線103と制御回路電源線107から電源電位VDDが供給されている。
次に低消費電力モード1に移行する際、まずセル/容量間スイッチ104とセル/制御間スイッチ108がオフの状態に遷移し、その後、容量電源線103の電圧供給を中止し、セル電源線102(スタンダードセルのセル内電源線)、容量電源線103ともに電源が遮断された状態になり、接地電位VSSまで次第に下降する。電源遮断直後はリーク電流が流れるが、セル電源線102の電位がさがるとリーク電流が流れなくなる。この間、制御回路電源線107の電位は一定の電源電位VDDに保たれ、信号105と信号109は制御回路電源線107で駆動されるバッファ回路106とバッファ回路110によって伝播させられ、セル/容量間スイッチ104とセル/制御間スイッチ108がオフの状態で、セル電源線102と容量/制御回路電源線103、107とは分離された状態を保持することができる。
その後、低消費電力モード1から通常動作モードに移行する際は、システムの立ち上げの直前に容量電源線103を電源電位VDDへ上昇させていき、容量電源線103の電位が要求される電位V1(例えば電源電位VDD)まで上昇したのち、セル/容量間スイッチ104をオンの状態にし、セル電源線102に電圧を加える。これによりセル電源線102が要求される電位V2(例えば電源電位VDD)まで充電された後、セル/制御間スイッチ108をオンの状態にする。
なお、要求される電位V1は、電源電位VDD以下でもよく、セル電源線102が最も早く電源電位VDDまで充電されるために必要なタイミングにセル/容量間スイッチ104をオンの状態にすることで最も効果を引き出すことが可能となる。この効果とはセル電源線102が早く充電され、システムの起動を早くすることである。また、要求される電位V2は、電源電位VDD以下でもよく、セル/制御間スイッチ108をオンにすることで、制御回路電源線107からセル電源線102に充電される際、制御回路電源線107の電圧降下が起こったとしてもバッファ回路106によって伝播する信号によりセル/容量間スイッチ104が誤動作しない程度にセル電源線102が充電された後、セル/制御間スイッチ108をオンの状態にすることで最も効果を引き出すことが可能となる。この効果とは制御回路電源線107からセル電源線102への充電も行うことができるため、システムの起動を早くすることである。
以上の制御により、低消費電力モード1から通常動作モードに移行する際、セル電源線102の立ち上げをシステムの起動の直前まで停止することができ、リーク電流を抑えることができる。また、容量電源線103を充電したのち、セル/容量間スイッチ104をオンにするため、容量電源線103への充電とセル電源線102への充電を分離して行うことができ、より少ないセル電源線102の容量への充電で済むため、セル電源線102の電圧の上昇を急峻にすることが可能となり、それにより論理回路101を構成するトランジスタを流れる貫通電流も削減でき、低消費電力化が図れる。
なお、セル電源線102、容量電源線103、制御回路電源線107が複数あり、またセル電源線102とを分離するスイッチ104、108が複数あったとしても同様の効果があることは明白である。
さらに、低消費電力モード2を有し、通常動作モードから低消費電力モード2に移行する際は、容量電源線103と制御回路電源線107への電圧供給を停止する。これによりセル電源線102への電圧供給も停止され、セル電源線102と容量電源線103と制御回路電源線107はともに接地電位VSSまで次第に下降する。この低消費電力モード2は特に長時間システムが停止する場合に有効である。この低消費電力モード2から通常モードへの移行の手順は、まず制御回路電源線107に電源電位VDDを供給する。制御回路電源線107に電圧を供給することで、セル/制御間スイッチ108を駆動するバッファ回路110とセル/容量間スイッチ104を駆動するバッファ回路106とが駆動され、セル/制御間スイッチ108とセル/容量間スイッチ104をオフの状態にする。これにより、制御回路電源線107とセル電源線102は分離され、また容量電源線103とセル電源線102も分離され、低消費電力モード1の状態になる。この低消費電力モード1から通常動作モードへの移行は前述した手順で実施される。
さらに本実施の形態では、制御回路電源線107により駆動され、論理回路101の出力信号を保持する信号論理保持回路113を設けている。信号論理保持回路113は、例えばフリップフロップで構成され、低消費電力モード1ではフリップフロップに保持されている信号の論理を消滅させることなく、低電力を実現できる。また、低消費電力モード1から通常動作モードへの移行の際、フリップフロップの出力信号は一定の電圧を保持しており、データ信号の伝播が送りだされる出発地点であるフリップフロップの出力の電圧が一定に保持されていることで、データ信号の伝播経路における貫通電流が最も多く流れる中間電位の伝播が減少し、各論理ゲートのノードにおける信号が中間電位となる確率が減少し、さらに貫通電流が削減される。
本発明にかかる半導体装置は、オフリーク電流を抑えつつ、電源遮断後の電源再投入時の電圧の立ち上げを急峻にし、貫通電流も削減でき、高速化・低消費電力化を実現する半導体装置等として有用である。
本発明の実施の形態の半導体装置のブロック図である。 本発明の実施の形態における要部1のトランジスタ構成を示す図である。 本発明の実施の形態における要部2のトランジスタ構成を示す図である。 本発明の実施の形態における要部2のレイアウト図である。 本発明の実施の形態の半導体装置の立体レイアウト構造図である。
符号の説明
101 論理回路
102 セル電源線
103 容量電源線
104 セル/容量間スイッチ
105 スイッチ104の制御信号
106 信号105を駆動するバッファ回路
107 制御回路電源線
108 セル/制御間スイッチ
109 スイッチ108の制御信号
110 信号109を駆動するバッファ回路
111 回路群120によって出力される信号
112 回路群122によって出力される信号
113 信号論理保持回路
120 信号111を出力する回路群
121 スイッチ104を持つ回路群
122 信号112を出力する回路群
123 スタンダードセル回路

Claims (5)

  1. 論理回路と、前記論理回路に電圧を供給する第1の電源線と、前記第1の電源線に電圧を供給する第2の電源線とを備えた半導体装置であって、
    第3の電源線と、
    前記第1の電源線と前記第2の電源線とを分離・接続する第1のスイッチと、
    前記第1の電源線と前記第3の電源線とを分離・接続する第2のスイッチと、
    前記第3の電源線から電圧が供給され、前記第1のスイッチを制御する第1の信号を駆動する第1の制御回路と、
    前記第3の電源線から電圧が供給され、前記第2のスイッチを制御する第2の信号を駆動する第2の制御回路とを設けたことを特徴とする半導体装置。
  2. 前記半導体装置は複数のセルが配列されて構成され、内部に前記論理回路を構成するセルは、セル内電源線により前記第1の電源線を構成し、内部に前記第1の制御回路を構成するセルおよび内部に前記第2の制御回路を構成するセルは、それぞれセル内電源線を前記第3の電源線に接続するとともに前記セル内電源線の少なくとも片端に前記第2のスイッチを備えたことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 前記第2の電源線および前記第3の電源線にそれぞれ電圧が供給され、前記第1のスイッチにより前記第1の電源線と前記第2の電源線とが接続され、前記第2のスイッチにより前記第1の電源線と前記第3の電源線とが接続された通常動作モードと、
    前記第1のスイッチにより前記第1の電源線と前記第2の電源線とが分離され、前記第2のスイッチにより前記第1の電源線と前記第3の電源線とが分離された低消費電力モードとを有し、
    前記通常動作モードから低消費電力モードへ切り替わる際、前記第1のスイッチにより前記第1の電源線と前記第2の電源線とが分離されるとともに、前記第2のスイッチにより前記第1の電源線と前記第3の電源線とが分離され、前記分離が完了した後、前記第2の電源線への電圧供給を停止し、
    前記低消費電力モードから前記通常モードへ切り替わる際、前記第2の電源線への電圧供給を開始し、前記第2の電源線が充電された後、前記第1のスイッチにより前記第2の電源線と前記第1の電源線とが接続され、前記第1の電源線が充電された後、前記第2のスイッチにより前記第1の電源線と前記第3の電源線とが接続されることを特徴とする請求項1または請求項2記載の半導体装置。
  4. 前記第2の電源線および前記第3の電源線への電圧供給が停止され、前記第1のスイッチにより前記第1の電源線と前記第2の電源線とが接続され、前記第2のスイッチにより前記第1の電源線と前記第3の電源線とが接続された最低消費電力モードを有し、
    前記通常動作モードから前記最低消費電力モードへ切り替える際には、前記第2の電源線と前記第3の電源線への電圧供給を停止し、
    前記最低消費電力モードから前記通常動作モードへ切り替わる際には、前記第3の電源線への電圧供給を開始し、前記第1のスイッチにより前記第1の電源線と前記第2の電源線とが分離されるとともに前記第2のスイッチにより前記第1の電源線と前記第3の電源線とが分離されて前記低消費電力モードへ切り替わった後、前記低消費電力モードから前記通常動作モードへ切り替わることを特徴とする請求項3記載の半導体装置。
  5. 前記第3の電源線から電源電圧が供給され、信号の状態を保持する信号論理保持回路を設けたことを特徴とする請求項4記載の半導体装置。
JP2003414839A 2003-12-12 2003-12-12 半導体装置 Expired - Fee Related JP4435553B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003414839A JP4435553B2 (ja) 2003-12-12 2003-12-12 半導体装置
US11/007,227 US7202700B2 (en) 2003-12-12 2004-12-09 Semiconductor device which exhibits high-speed performance and low power consumption
CNB2004101019938A CN100394356C (zh) 2003-12-12 2004-12-13 半导体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003414839A JP4435553B2 (ja) 2003-12-12 2003-12-12 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005175269A true JP2005175269A (ja) 2005-06-30
JP4435553B2 JP4435553B2 (ja) 2010-03-17

Family

ID=34650549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003414839A Expired - Fee Related JP4435553B2 (ja) 2003-12-12 2003-12-12 半導体装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7202700B2 (ja)
JP (1) JP4435553B2 (ja)
CN (1) CN100394356C (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008300696A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2009222468A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Fujitsu Microelectronics Ltd 半導体装置の試験方法及びその装置
JP2011124339A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2012169459A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Hitachi Ltd 半導体装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1826651A1 (en) * 2004-05-14 2007-08-29 Zmos Technology, Inc. Internal voltage generator scheme and power management method
US7712066B2 (en) * 2005-12-29 2010-05-04 Agere Systems, Inc. Area-efficient power switching cell
US20070229147A1 (en) * 2006-03-30 2007-10-04 Intel Corporation Circuit supply voltage control using an error sensor
JP5528662B2 (ja) 2007-09-18 2014-06-25 ソニー株式会社 半導体集積回路
US7948292B1 (en) * 2007-09-28 2011-05-24 Ati Technologies Ulc Method and apparatus for buffering signals in voltage domains
JP6417781B2 (ja) * 2014-08-13 2018-11-07 株式会社ソシオネクスト 半導体装置
US10033388B1 (en) * 2017-03-21 2018-07-24 Xilinx, Inc. Circuit for and method of enabling the selection of a circuit
JP7228389B2 (ja) * 2019-01-23 2023-02-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置および半導体システム

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5594371A (en) * 1994-06-28 1997-01-14 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Low voltage SOI (Silicon On Insulator) logic circuit
JP3561012B2 (ja) * 1994-11-07 2004-09-02 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JPH09269854A (ja) 1996-04-02 1997-10-14 United Microelectron Corp 中央処理装置のための電力節減装置
JPH11112297A (ja) * 1997-10-06 1999-04-23 Nec Corp ラッチ回路及びこのラッチ回路を有する半導体集積回路
JP3185730B2 (ja) * 1997-11-14 2001-07-11 日本電気株式会社 相補型mos半導体装置
KR100269643B1 (ko) * 1997-11-27 2000-10-16 김영환 전력소비 억제회로
JP3080062B2 (ja) * 1998-04-06 2000-08-21 日本電気株式会社 半導体集積回路
JP4390305B2 (ja) * 1999-01-04 2009-12-24 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP3255158B2 (ja) * 1999-10-13 2002-02-12 株式会社日立製作所 半導体集積回路
JP2001127611A (ja) * 1999-10-27 2001-05-11 Univ Tokyo 半導体集積回路
JP3602028B2 (ja) 2000-03-27 2004-12-15 沖電気工業株式会社 半導体集積回路
JP2002064150A (ja) * 2000-06-05 2002-02-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2002290221A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Nec Corp 半導体出力回路の消費電力低減回路
US6759873B2 (en) * 2001-05-22 2004-07-06 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Reverse biasing logic circuit
JP2003110022A (ja) * 2001-09-28 2003-04-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JP3957560B2 (ja) * 2002-05-23 2007-08-15 松下電器産業株式会社 半導体装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008300696A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Fujitsu Ltd 半導体装置
KR100948327B1 (ko) * 2007-05-31 2010-03-17 후지쯔 가부시끼가이샤 반도체 장치
US7851948B2 (en) 2007-05-31 2010-12-14 Fujitsu Limited Semiconductor device
JP2009222468A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Fujitsu Microelectronics Ltd 半導体装置の試験方法及びその装置
JP2011124339A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2012169459A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Hitachi Ltd 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7202700B2 (en) 2007-04-10
CN100394356C (zh) 2008-06-11
JP4435553B2 (ja) 2010-03-17
US20050127941A1 (en) 2005-06-16
CN1627232A (zh) 2005-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4832232B2 (ja) 半導体集積回路装置及び電子装置
KR100574488B1 (ko) 레벨 쉬프터
JP2001186007A (ja) 金属酸化膜半導体トランジスタ回路およびそれを用いた半導体集積回路
JP5162956B2 (ja) 半導体集積回路およびその動作方法
JP4435553B2 (ja) 半導体装置
CN107888179B (zh) 半导体装置
US9124263B2 (en) Body bias coordinator, method of coordinating a body bias and sub-circuit power supply employing the same
US20030231526A1 (en) Semiconductor device
US8981831B1 (en) Level shifter with built-in logic function for reduced delay
JP2010010920A (ja) 半導体集積回路
JP2003347917A (ja) 半導体装置
KR100550143B1 (ko) 시모스 드라이버회로를 구비한 반도체장치
US8149642B2 (en) Semiconductor memory device
JP2004215035A (ja) 入力回路
JP3071408B2 (ja) 半導体集積回路の駆動方法及び半導体集積回路
US7345524B2 (en) Integrated circuit with low power consumption and high operation speed
US9401711B2 (en) Driver output with dynamic switching bias
JP3519284B2 (ja) 半導体集積論理回路及びその制御方法
JP2013125774A (ja) 半導体集積回路装置
JP2018019333A (ja) 半導体スイッチング回路
KR20010058871A (ko) 낮은 서브-스레숄드 누설전류를 갖는 로직게이트 회로
JP4469798B2 (ja) 集積回路装置、およびインバータ段の出力で出力信号を駆動するための方法
JP2008053976A (ja) 半導体装置
JP6946531B2 (ja) 半導体装置
JP2009070939A (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060517

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060823

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090714

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090716

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090908

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091201

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091224

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4435553

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees