JP2005158158A - 半導体記憶装置のリフレッシュ制御方式 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】1対のメモリサブアレイと、内部リフレッシュコマンドに応答して、外部リフレッシュコマンドの動作時間内に第1と第2のリフレッシュ起動信号を順番に出力する制御信号生成回路とを具備する。前記メモリサブアレイは、センスアンプを共用し、各々ビット線とワード線に接続されマトリクス状に配置された複数のメモリセルを有する。前記第1リフレッシュ起動信号に応答して、前記メモリサブアレイのうちの一方の第1ワード線に接続されたメモリセル群に1回目リフレッシュ動作が実行され、前記第2リフレッシュ起動信号に応答して、前記一方の前記第1ワード線とは異なる、第2ワード線に接続されたメモリセル群に2回目リフレッシュ動作が実行される。
【選択図】 図8
Description
図4は、本発明の第1実施形態による半導体記憶装置の構成を示すブロック図である。本実施形態の半導体記憶装置は、YデコーダYDEC1と、XデコーダXDEC2と、メモリセルアレイ3と、プリデコーダ/救済回路4と、リフレッシュカウンタ5と、スイッチ回路6と、X系制御回路7と、コマンドデコーダ8と、制御信号生成回路9を備えている。
2: XデコーダYDEC
3、3−1,3−2: メモリサブアレイ
4: プリでコーダ/救済回路
5: リフレッシュカウンタ
6: スイッチ回路
7: X系制御回路
8: コマンドでコーダ
9: 制御信号生成回路
10: メモリ領域
Claims (12)
- 1対のメモリサブアレイと、前記メモリサブアレイは、センスアンプを共用し、前記メモリサブアレイの各々はマトリクス状に配置された複数のメモリセルを有し、マトリクスの各列はビット線に接続され、各行はワード線に接続され、
内部リフレッシュコマンドに応答して、前記外部リフレッシュコマンドの動作時間内に第1と第2のリフレッシュ起動信号を順番に出力する制御信号生成回路とを具備し、
前記第1リフレッシュ起動信号に応答して、前記メモリサブアレイのうちの一方のメモリサブアレイの第1ワード線に接続された第1メモリセル群に1回目リフレッシュ動作が実行され、前記第2リフレッシュ起動信号に応答して、前記一方のメモリセルアレイ内の、前記第1メモリセル群が接続される前記第1ワード線とは異なる第2ワード線に接続された第2メモリセル群に2回目リフレッシュ動作が実行される
半導体記憶装置。 - 請求項1に記載の半導体記憶装置において、
前記対は、
前記メモリサブアレイと前記センスアンプとの間にそれぞれ設けられ、第1と第2の接続制御信号に応答してそれぞれ動作する第1と第2スイッチ回路と、
前記センスアンプに加えて、前記第1と第2スイッチ回路の間に設けられたイコライザとを有し、
前記制御信号生成回路は、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号に応答して、第1と第2センスアンプ制御信号をそれぞれ出力し、前記第1と第2センスアンプ制御信号の間にイコライザ制御信号を生成し、また、前記第1スイッチ回路により前記一方のメモリサブアレイを前記センスアンプと前記イコライザに接続し、前記メモリサブアレイの他方を前記センスアンプと前記イコライザから切り離すように前記第1と第2の接続制御信号を生成し、
前記第1と第2センスアンプ制御信号の各々に応答して前記センスアンプは活性化され、前記イコライザ制御信号に応答して前記イコライザが活性化される
半導体記憶装置。 - 請求項1又は2に記載の半導体記憶装置において、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号に応答して供給される第1と第2リフレッシュアドレスから、前記第1ワード線を指定する第1メインワード線選択信号と第1サブワード線選択信号の組と前記第2ワード線を指定する第2メインワード線選択信号と第2サブワード線選択信号の組とをそれぞれ出力するXデコーダを更に具備し、
前記1回目リフレッシュ動作と前記2回目リフレッシュ動作において、前記第1メインワード線選択信号と前記第2メインワード線選択信号とは同じであり、前記第1サブワード線選択信号と前記第2サブワード線選択信号とは異なる
半導体記憶装置。 - 請求項1又は2に記載の半導体記憶装置において、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号に応答して供給される第1と第2リフレッシュアドレスから、前記第1ワード線を指定する第1メインワード線選択信号と第1サブワード線選択信号の組と前記第2ワード線を指定する第2メインワード線選択信号と第2サブワード線選択信号の組とをそれぞれ出力するXデコーダを更に具備し、
前記1回目リフレッシュ動作と前記2回目リフレッシュ動作において、前記第1メインワード線選択信号と前記第2メインワード線選択信号とは異なり、前記第1サブワード線選択信号と前記第2サブワード線選択信号とは同じである
半導体記憶装置。 - 複数のバンクを有するメモリ領域と、
内部リフレッシュコマンドに応答して、第1と第2のリフレッシュ起動信号を順番に出力する制御信号生成回路とを具備し、
前記複数のバンクの各々は、複数のブロックを有し、前記複数のブロックの各々は複数のメモリサブアレイを有し、前記複数のメモリサブアレイの各々はマトリクス状に配置された複数のメモリセルを有し、前記複数のメモリセルの各列はビットラインに接続され、各行はワード線に接続され、
前記複数のバンクの各々の前記複数のブロックは複数のブロックグループに分けられ、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号の各々を応答して、リフレッシュされるべき前記メモリセル群を指定するリフレッシュアドレスを変えながら、前記内部リフレッシュコマンドに基づいて、前記複数のバンクの各々の前記複数のブロックグループの各々のうちの前記複数のメモリサブアレイに順番にリフレッシュ動作が実行され、その後、前記残りのブロックグループの前記複数のメモリサブアレイに順番に前記リフレッシュ動作が実行される
半導体記憶装置。 - 請求項5に記載の半導体記憶装置において、
前記複数のバンクは複数のバンクグループにグループ化され、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号の各々を応答して行われる前記リフレッシュ動作の開始のタイミングがバンクグループにより異なる
半導体記憶装置。 - 請求項6に記載の半導体記憶装置において、
前記制御信号生成回路は、前記内部リフレッシュコマンドのリフレッシュ動作時間内に前記第1と第2のリフレッシュ起動信号を順番に出力し、
前記第1リフレッシュ起動信号に応答しての前記複数のブロックグループの各々のうちの前記複数のメモリサブアレイのうちの特定メモリサブアレイに対する前記リフレッシュ動作と前記第2リフレッシュ起動信号に応答しての前記複数のブロックグループの各々のうちの前記複数のメモリサブアレイのうちの特定メモリサブアレイに対する前記リフレッシュ動作は、前記内部リフレッシュコマンドの前記リフレッシュ動作時間内に実行される
半導体記憶装置。 - 請求項5乃至7のいずれかに記載の半導体記憶装置において、
前記複数のメモリサブアレイは、複数の対を形成し、
前記複数の対の各々は、
センスアンプと、
前記メモリサブアレイと前記センスアンプとの間にそれぞれ設けられ、第1と第2の接続制御信号に応答してそれぞれ動作する第1と第2スイッチ回路と、
前記センスアンプに加えて、前記第1と第2スイッチ回路の間に設けられたイコライザとを有し、
前記制御信号生成回路は、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号に応答して、第1と第2センスアンプ制御信号をそれぞれ出力し、前記第1と第2センスアンプ制御信号の間にイコライザ制御信号を生成し、また、前記第1スイッチ回路により前記一方のメモリサブアレイを前記センスアンプと前記イコライザに接続し、前記メモリサブアレイの他方を前記センスアンプと前記イコライザから切り離すように前記第1と第2の接続制御信号を生成し、
前記第1と第2センスアンプ制御信号の各々に応答して前記センスアンプは活性化され、前記イコライザ制御信号に応答して前記イコライザが活性化される
半導体記憶装置。 - 請求項5乃至8のいずれかに記載の半導体記憶装置において、
前記第1と第2のリフレッシュ起動信号に応答して供給される第1と第2リフレッシュアドレスから、前記第1ワード線を指定する第1メインワード線選択信号と第1サブワード線選択信号の組と前記第2ワード線を指定する第2メインワード線選択信号と第2サブワード線選択信号の組とをそれぞれ出力するXデコーダを更に具備し、
前記1回目リフレッシュ動作と前記2回目リフレッシュ動作において、前記第1メインワード線選択信号と前記第2メインワード線選択信号とは同じであり、前記第1サブワード線選択信号と前記第2サブワード線選択信号とは異なる
半導体記憶装置。 - センスアンプを共用する2つのサブメモリアレイと、前記2つのサブメモリアレイはマトリクスに配置された複数のメモリセルを有し、前記複数のメモリセルの各々は、第1ワード線選択信号と第2ワード線選択信号により特定され、
単一のリフレッシュコマンドに応答して第1と第2のリフレッシュ起動信号を生成する起動制御信号生成回路とを具備し、
前記第1のリフレッシュ起動信号に応答して、前記2つのサブメモリアレイの一方の特定メモリセルのリフレッシュ動作が行なわれ、前記第2のリフレッシュ起動信号に応答して前記一方のサブメモリアレイの前記メモリセルとは異なるメモリセルのリフレッシュ動作が行われる
半導体記憶装置。 - 複数のバンクを有するメモリ領域と、前記複数のバンクの各々は、複数のブロックを有し、前記複数のブロックはメモリサブアレイの対を有し、前記メモリサブアレイの対は、センスアンプを共用し、前記メモリサブアレイはマトリクス状に配置された複数のメモリセルを有し、
単一の外部リフレッシュコマンドに対するリフレッシュ時間内の第1のリフレッシュ時間内に、前記複数のバンクの各々の前記複数のブロックのうちの複数の所定ブロック内の特定メモリセルに対してリフレッシュ動作が実行され、前記リフレッシュ時間内の前記第1のリフレッシュ時間後の第2のリフレッシュ時間内に、前記複数の所定ブロック内の前記特定メモリセルとは異なるメモリセルに対してリフレッシュ動作が実行される
半導体記憶装置。 - 請求項11に記載の半導体記憶装置において、
前記複数のバンクは複数のグループにグループ化され、
前記複数の所定ブロックの前記リフレッシュ動作の開始タイミングは前記グループ毎に異なる
半導体記憶装置。
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