JP2005141066A - 光デバイスおよびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 第1および第2のユニットの各光軸の位置精度を向上する。
【解決手段】 光ファイバ14を支持する第1の支持基板16を有する光ファイバユニット11、光学素子15を支持する第2の支持基板17を有する光学ユニット12を支持する第3の支持基板18に対して、光ファイバユニット11および光学ユニット12を位置決めするための位置決め機構20を備える。位置決め機構20は、第3の支持基板18の基準面18aに対向する光ファイバユニット11の対向面16a、基準面18aに対向する光学ユニット12の対向面17aおよび基準面18aに設けられた位置決め用凹部26,27,28と、これら位置決め用凹部26,27,28に係合される位置決め用ボール29とを有する。第1の支持基板16の対向面16a側には、光ファイバ14が支持され、第2の支持基板17の対向面17a側には、光学素子15が支持される。
【選択図】 図2

Description

本発明は、例えば光スイッチ、光アッテネータ等の光デバイスに関し、特に、光軸が互いに一致されて配設される光ファイバおよび光学素子をそれぞれ支持する支持基板を備える光デバイスに関する。
従来の光デバイスとしては、支持基板上に、光ファイバ、光学素子および光源がそれぞれ配設される構成が開示されている(例えば特許文献1参照。)。
図18に示すように、特許文献1に開示されている従来の光デバイス101は、光ファイバ116と、レーザーダイオード115と、レンズ素子113a,113bを有する光学基板111と、これら光ファイバ116、レーザーダイオード115および光学基板111をそれぞれ支持する支持基板112とを備えている。
支持基板112は、Si層112a上にSiO2層112b、Si層112cが積層されたSOI(Silicon On Insulator)基板からなる。支持基板112の主面上には、SOI基板のSiO2層112bを、エッチング処理時のエッチング・ストッパ層として利用しエッチング処理を施すことで、断面V字状のファイバ支持溝120および光源支持溝が形成され、これらファイバ支持溝120および光源支持溝に、光ファイバ116およびレーザーダイオード115がそれぞれ支持されている。そして、支持基板112の主面上には、エッチング処理によって開口部118が形成され、この開口部118内の支持面117上に、光学基板111が設けられて、レンズ素子113a,113bの光軸が、光ファイバ116およびレーザーダイオード115の光軸に対して、X軸、Y軸、Z軸方向に位置決めされている。
また、従来の他の光デバイスとしては、支持基板上に、光ファイバを有するファイバ支持基板、光学素子であるレンズを有する素子支持基板、および光源を有する光源支持基板がそれぞれ配設される構成が開示されている(例えば特許文献2参照。)。
図19に示すように、特許文献2に開示されている従来の光デバイス201は、光ファイバ250を支持するファイバ支持基板211と、レンズ230を支持する素子支持基板212と、半導体レーザ240を支持する光源支持基板213と、これら各支持基板211,212,213を支持する支持基板210とを備えている。
各支持基板211,212,213の主面上には、エッチング処理によって、ファイバ支持溝221、レンズ支持溝222、光源支持溝225がそれぞれ形成されており、これらファイバ支持溝221、レンズ支持溝222、光源支持溝225に、光ファイバ250、レンズ230、半導体レーザ240がそれぞれ支持されている。
支持基板210の主面上には、各支持基板211,212,213を位置決めするための位置決め用突部223が設けられている。また、各支持基板211,212,213には、支持基板210の主面に対向する対向面に、位置決め用突部223に係合される位置決め用凹部220が形成されている。そして、従来の光デバイス201では、支持基板210の位置決め用突部220を各支持基板211,212,213の位置決め用凹部220に係合させることで、光ファイバ250、レンズ230、半導体レーザ240の各光軸が位置決めされている。
特開2002−107580号公報(図1) 特開平9−311253号公報(図53)
ところで、光デバイスでは、光学損失を抑え、光学特性を向上するために、光ファイバの光軸と、光学素子の光軸とを高精度に位置決めすることが求められている。また、光デバイスでは、特に、光ファイバおよび光学素子を支持する支持基板の厚さ方向に対する光軸の位置精度の誤差を数μm〜サブμm程度に抑える必要がある。
しかしながら、光ファイバを支持するためのファイバ支持溝、および光学素子を支持するための素子支持溝を支持基板に形成する場合、一般的な機械加工では、加工精度が乏しく、上述した位置精度を達成することが非常に困難である。
また、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術を利用して、ファイバ支持溝および素子支持溝を支持基板に形成する場合にも、エッチング処理条件のバラツキに起因して加工寸法に誤差が生じてしまう。このため、ファイバ支持溝および素子支持溝の深さにバラツキが生じることで、光ファイバおよび光学素子の光軸は、支持基板の厚み方向に対する位置精度が損なわれてしまう問題がある。
したがって、図18に示すように、従来の光デバイス101では、エッチング処理条件のバラツキによってファイバ支持溝120、開口部118の支持面117等の加工寸法にバラツキが生じるため、光ファイバ116、レーザーダイオード115、レンズ素子113a,113bの各光軸のY軸方向に対する位置決め精度に誤差が生じてしまう問題がある。
また、この従来の光デバイス101では、複数の光ファイバ116を備える、いわゆる複数チャンネル構造にされる場合、支持基板112上に、各光ファイバ116の光軸をそれぞれ調整して組み付ける作業が煩雑になり、組付け精度が乏しい。
また、図19に示すように、従来の光デバイス201は、光デバイス101と同様に、エッチング処理条件のバラツキによってファイバ支持溝221、レンズ支持溝222、光源支持溝225および位置決め用凹部220等の加工寸法にバラツキが生じるため、光ファイバ250、レンズ230、半導体レーザ240の各光軸のY軸方向に対する位置決め精度に誤差が生じてしまう。
さらに、従来の光デバイス201では、支持基板210上に支持される3つの各支持基板211,212,213の厚さを等しく形成する必要があり、これら各支持基板211,212,213の厚さのバラツキによっても、光ファイバ250、レンズ230、半導体レーザ240の各光軸のY軸方向に対する位置決め精度に誤差が生じてしまう。
また、この光デバイス201は、例えば製造工程での加工効率を向上するためなどの理由から各支持基板のいずれかの厚さ等を変更する必要が生じた際に対応することが困難である不都合がある。
すなわち、上述した従来の光デバイスでは、光ファイバ等がファイバ支持基板等の主面上に支持される構造であるため、光ファイバの光軸等の位置精度が、ファイバ支持溝の加工精度に影響されてしまう問題がある。
そこで、本発明は、第1および第2のユニットの各光軸の位置精度を向上することができる光デバイスおよびその製造方法を提供することを目的とする。
上述した目的を達成するため、本発明に係る光デバイスは、光ファイバまたは第1の光学素子を支持する第1の支持基板を有する第1のユニットと、第2の光学素子を支持する第2の支持基板を有する第2のユニットと、第1のユニットおよび第2のユニットを支持する第3の支持基板と、第3の支持基板に対して、第1のユニットおよび第2のユニットを位置決めするための位置決め手段とを備える。位置決め手段は、第3の支持基板の主面に対向する第1のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域、および、第3の支持基板の主面に対向する第2のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域にそれぞれ設けられた位置決め用凹部と、この位置決め用凹部に係合される位置決め部材とを有する。そして、第1の支持基板の対向面側には、光ファイバまたは第1の光学素子が支持される。また、第2の支持基板の対向面側には、第2の光学素子が支持される。
以上のように構成した本発明に係る光デバイスは、位置決め用凹部に位置決め部材が係合されることによって、第3の支持基板に対して第1の光学ユニットおよび第2の光学ユニットが位置決めされ、第3の支持基板に対する第1のユニットおよび第2のユニットの各光軸が位置決めされる。そして、本発明の光デバイスによれば、第1の支持基板の対向面側および第2の支持基板の対向面側に、光ファイバまたは第1の光学素子、および第2の光学素子がそれぞれ支持されているため、第1および第2の支持基板の厚さ、位置決め用凹部の深さ等の加工寸法に生じたバラツキによって、第1のユニットの光軸と第2のユニットの光軸との相対位置には変化が生じないため、第1および第2のユニットの各光軸の位置精度が向上される。
また、本発明に係る光デバイスが備える位置決め手段は、大きさが互いに異なる複数の位置決め部材、または大きさが互いに異なる複数の位置決め用凹部を有してもよい。これによって、光デバイスは、第1のユニットの光軸および第2のユニットの一方の光軸を、他方の光軸に対して容易に傾斜させることで、光軸の傾斜角が調整される。
また、本発明に係る光デバイスが備える位置決め手段の位置決め用凹部は、位置決め部材が、光ファイバの光軸または第1の光学素子に平行または直交し、且つ対向面に平行な方向に調動可能に設けられてもよい。これによって、位置決め用凹部に対して位置決め部材を調動することで、第1のユニットの光軸または第2のユニットの光軸が、第3の支持基板の主面に平行な平面上で調整される。
また、本発明に係る光デバイスの製造方法は、光ファイバまたは第1の光学素子を支持する第1の支持基板を有する第1のユニット、および第2の光学素子を支持する第2の支持基板を有する第2のユニットを組み立てる第1の工程を有する。また、本発明の光デバイスの製造方法は、第1のユニットおよび第2のユニットを支持する第3の支持基板の主面に対向する第1のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域、および、第3の支持基板の主面に対向する第2のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域にそれぞれ設けられた位置決め用凹部と、この位置決め用凹部に係合される位置決め部材とを有し、第3の支持基板に対して第1のユニットおよび第2のユニットを位置決めするための位置決め手段を介して、
第1の支持基板の対向面側に光ファイバまたは第1の光学素子が支持された第1のユニット、および第2の支持基板の対向面側に第2の光学素子が支持された第2のユニットを、第3の支持板に組み立てる第2の工程を有する。
上述した本発明に係る光デバイスの製造方法によれば、第3の支持基板に、第1の工程で予め組み付けられた第1および第2のユニットを、位置決め手段を介してそれぞれ位置決めして組み立てることによって、第1および第2のユニットの各光軸が容易且つ確実に位置決めされる。したがって、本発明の光デバイスは、特に、第1のユニットが複数の光ファイバを備える、いわゆる複数チャンネル構造にされた場合に、各光ファイバの光軸の位置をそれぞれ調整して組み付ける煩雑な作業が解消される。
上述したように本発明によれば、第1のユニットの光軸と第2のユニットの光軸とを高精度に位置決めすることが可能になり、特に、第3の支持基板の厚さ方向に対する光軸の位置精度を向上することができる。したがって、本発明は、第1および第2のユニットの各光軸が高精度に位置決めされるため、光学損失を抑え、光学特性を向上することができる。
以下、本発明の具体的な実施形態について、図面を参照して説明する。
(第1の実施形態)
図1および図2に示すように、第1の実施形態に係る光デバイス1は、光ファイバ14およびこの光ファイバ14を支持する第1の支持基板16を有する光ファイバユニット11と、この光ファイバユニット11に対してビーム光の授受を行う光学素子15およびこの光学素子15を支持する第2の支持基板17を有する光学ユニット12と、これら光ファイバユニット11および光学ユニット12を支持する第3の支持基板18とを備えている。
また、この光デバイス1は、第3の支持基板18に対して、光ファイバユニット11の第1の支持基板16および光学ユニット12の第2の支持基板17を、X軸、Y軸、Z軸方向に対してそれぞれ位置決めするための位置決め手段である位置決め機構20を備えている。なお、図1および図2に示すように、光ファイバ14の光軸に直交し、且つ第3の支持基板18の主面に平行な方向をX軸方向、光ファイバ14の光軸に直交し、且つ第3の支持基板18の主面に直交する方向をY軸方向、光ファイバ14の光軸に平行な方向をZ軸方向としている。
光ファイバユニット11の第1の支持基板16は、例えばシリコンによって矩形状に形成されており、第3の支持基板18の主面18a(以下、基準面18aと称する。)に対向する対向面16a上に、各光ファイバ14を支持するための各ファイバ支持溝21がそれぞれ設けられている。各ファイバ支持溝21は、四角錐状(断面V字状)に形成されており、第1の支持基板16の長辺方向と平行に、この長辺方向の両側端に開口して設けられている。
各光ファイバ14は、例えば、シングルモード型光ファイバが用いられており、光学ユニット12側に臨む一端部に、ビーム光を平行光に変換するためのレンズ部材(不図示)が接合されて固定されている。このレンズ部材としては、例えば、所定長さのグレーディッドインデックス型光ファイバ(屈折率分布型光ファイバ)、マイクロフレネルレンズ、ボールレンズ、セルフォックレンズ等が設けられている。すなわち、各光ファイバ14は、光学ユニット12に臨む端部が、コリメータとして構成されている。また、各光ファイバ14には、図示しないが、グレーディッドインデックス型光ファイバの光学ユニット12側の端面に、光軸に対して傾斜された傾斜面が形成されており、この傾斜面に、出射されるビーム光の反射を防止するためのARコート(Anti Reflection Coating)処理が施されている。
そして、図3に示すように、光ファイバユニット11は、第1の支持基板16の各ファイバ支持溝21内に、例えば、接着材、溶接材やはんだ等のろう材等によって、各光ファイバ14が接合されて固定されており、光ファイバアレイとして構成されている。また、各光ファイバ14は、レンズ部材側の一端部が、第1の支持基板16の側端から外方に僅かに突出させて固定されている。
光学ユニット12の第2の支持基板17は、例えばシリコンによって矩形状に形成されており、第3の支持基板18の基準面18aに対向する対向面17a上に、光学素子15を支持するための素子支持溝22が設けられている。素子支持溝22は、底面を有する四角錐台状の凹部に形成されており、光ファイバユニット11側に隣接する側端に、この側端に開口して設けられている。
図4に示すように、光学素子15は、素子支持溝22内に、例えば、接着材、溶接材やはんだ等のろう材等によって接合されて固定されている。光学素子15としては、例えば、発光素子、受光素子、ミラー、レンズ、光スイッチ、光導波路、減衰フィルタ(光アッテネータ)、波長フィルタ(光モジュレータ)等が用いられる。
第3の支持基板18は、例えばシリコンによって矩形状に形成されている。なお、第1、第2および第3の支持基板16,17,18としては、例えばSOI(Silicon On Insulator)基板やガラス基板等の他の材料からなる基板が用いられてもよい。
位置決め機構20は、第1の支持基板16の対向面16a上に設けられた各位置決め用凹部26と、第2の支持基板17の対向面17a上に設けられた各位置決め用凹部27と、第3の支持基板18の基準面18a上に設けられた各位置決め用凹部28と、これら各位置決め用凹部26,27,28内に係合される複数の位置決め用ボール29とを有している。
各位置決め用凹部26,27,28は、各々同一寸法をなす例えば正四角錐台状にそれぞれ形成されている。位置決め用凹部26は、第1の支持基板16の各角部近傍に位置してそれぞれ設けられている。同様に、位置決め用凹部27は、第2の支持基板17の各角部近傍に位置してそれぞれ設けられている。また、位置決め用凹部28は、位置決め用凹部26,27に対向する位置にそれぞれ形成されている。位置決め用ボール29は、例えば、ガラス材、金属材、樹脂材等によって直径500μm程度に形成されており、外周面が、各位置決め用凹部26,27,28の内周面に当接される。
したがって、光デバイス1では、各位置決め用ボール29を介して、第3の支持基板18の基準面18a上に、光ファイバユニット11および光学ユニット12がそれぞれ支持されている。そして、第1の支持基板16の対向面16a側に支持された光ファイバ14、および第2の支持基板17の対向面17a側に支持された光学素子15は、第3の支持基板18の基準面18aに対して所定の間隙が確保されている。
ところで、第1、第2および第3の支持基板16,17,18には、ファイバ支持溝21、素子支持溝22、位置決め用凹部26,27,28が、後述するエッチング処理によってマスクパターンを用いてそれぞれ形成されている。しかしながら、各支持基板16,17,18上にフォトリソグラフィ処理によってマスクパターンを形成する際に、シリコンウェハの結晶方位とマスクパターンとに微少な位置ズレが生じてしまう。このようなマスクパターンの位置ズレと、ファイバ支持溝21等を加工する際のエッチング処理条件のバラツキとによって、これらファイバ支持溝21、素子支持溝22、位置決め用凹部26,27,28が、設定値に対して数μm〜数10μmの寸法誤差が生じてしまう。
ここで、ファイバ支持溝21に係合される光ファイバ14の光軸の位置、および素子支持溝21に支持される光学素子15の位置について説明する。
図5(a)に示すように、ファイバ支持溝21について、正方形をなす開口の一辺が幅2W1、水平方向に対する内周面の傾斜角θ(対向面に平行な平面に対する傾斜角θ)とし、光ファイバ14が半径R1として、ファイバ支持溝21内に係合された光ファイバ14の光軸O1と、第1の支持基板16の対向面16aとの間のY軸方向の距離H1を算出する。
光ファイバ14の光軸O1が、光ファイバ14とファイバ支持溝21の内周面との当接点Pに対して、鉛直方向に寸法a、水平方向に寸法bの点に位置されているとすれば、三角関数により、
各寸法a,bは、
a=R1cosθ、b=R1sinθ
となる。
また、第1の支持基板16の対向面16aに対する当接点PのY軸方向の位置cは、
c=(W1−b)tanθ=(W1sinθ−R1sin2θ)/cosθ
となる。
そして、光ファイバ14の光軸は、第1の支持基板16の対向面16aに対するY軸方向の距離H1が、
1=a−c
=R1cos2θ−(W1sinθ×R1sin2θ)/cosθ
=(R1−W1sinθ)/cosθ
によって算出される。
したがって、光ファイバ14の光軸O1は、距離H1が、半径R1および幅2W1の値によって決定される。
なお、主面の面方位が(100)面のSiウェハを使用して、結晶方位(111)面である内周面が形成される場合には、傾斜角θ=54.7度となる。
図示しないが、位置決め用凹部26内に係合される位置決め用ボール29の中心と、対向面16aとの間のY軸方向の距離についても、上述した光ファイバ14の距離H1と同様に算出されるため、説明を省略する。
また、図5(b)に示すように、素子支持溝22内に、例えば略直方体をなす光学素子15が支持される場合、素子支持溝22のX軸方向の開口の一辺が幅2W2、光学素子15のX軸方向の幅2Kとすれば、光学素子15の天面15aと、第2の支持基板17の対向面17aとの間の距離cは、
c=(W2−K)tanθ
によって算出される。
したがって、光学素子15の距離cは、幅2W2および幅2Kの値によって決定される。すなわち、素子支持溝22内に係合される光学素子15の外形寸法が定まっている場合、光学素子15の距離cは、幅2W2の値によって決定される。
続いて、第1および第2の支持基板16,17について、ファイバ支持溝21、素子支持溝22、位置決め用凹部26,27に生じる寸法誤差を、図面を参照して説明する。
図6に示すように、エッチング処理時の処理条件のバラツキによって、ファイバ支持溝21の内周面をなす結晶方位(111)面に直交する図6中矢印方向に対して、変位量Eだけ設定寸法以上にエッチングが進行し、いわゆるオーバー・エッチングが生じてしまう。この場合、ファイバ支持溝21は、第1の支持基板16の対向面16aに直交する深さ方向の変化量Dが、
D=Esinθ
によって算出される。
以下、ファイバ支持溝21、素子支持溝22、位置決め用凹部26,27の深さ方向の変化量Dと、第3の支持基板18の基準面18aに対する光ファイバ14および光学素子15の各光軸の位置との関係について説明する。
図7(a)に示すように、第1の支持基板16の対向面16aに、ファイバ支持溝21および位置決め用凹部26が設定寸法に形成されているとき、第3の支持基板18の基準面18aに対するY軸方向の光ファイバ14の光軸の位置HOPT1は、
OPT1=2HBAL1−HFIB1
によって算出される。
但し、第1の支持基板16の対向面16aおよび第3の支持基板18の基準面18aに対するY軸方向の位置決め用ボール29の中心位置HBAL1、第1の支持基板16の対向面16aに対するY軸方向の光ファイバ14の光軸の位置HFIB1とする。
図7(b)に示すように、ファイバ支持溝21および位置決め用凹部26に、変位量Eだけ設定寸法以上にエッチングが進行して寸法誤差が生じたとき、第1の支持基板16の対向面16aに対するY軸方向の位置決め用ボール29の中心位置HBAL2とすれば、基準面18aに対する光ファイバ14の光軸の位置HOPT1は、
OPT1=HBAL1+HBAL2−HFIB2
BAL2=HBAL1−Esinθ,HFIB2=HFIB1−Esinθ
となる。
したがって、基準面18aに対する光ファイバ14の光軸の位置HOPT1は、
OPT1=HBAL1+(HBAL1−Esinθ)−(HFIB1−Esinθ)
=2HBAL1−HFIB1
となる。
すなわち、光ファイバ14の光軸のY軸方向の位置HFIB1は、エッチング処理条件のバラツキによって、第1の支持基板16のファイバ支持溝21および位置決め用凹部26に寸法誤差が生じた場合であっても、常に一定になる。
したがって、光デバイス1は、第1の支持基板16のファイバ支持溝21および位置決め用凹部26の加工精度に影響されることなく、第3の支持基板18の基準面18aに対して光ファイバ14の光軸を高精度に位置決めされる。
なお、第1の支持基板16のファイバ支持溝21および位置決め用凹部26に各光ファイバ14および位置決め用ボール29がそれぞれ係合される場合について説明したが、第2の支持基板17の素子支持溝22および位置決め用凹部27の光学素子15および位置決め用ボール29が係合される場合についても同様であるため、説明を省略する。
また、図示しないが、第3の支持基板18の位置決め用凹部28の深さに寸法誤差が生じた場合には、光ファイバユニット11の対向面16aおよび光学ユニット12の対向面17aと、第3の支持基板18の基準面18aとの間隙の寸法が変動することになる。
しかしながら、第3の支持基板18の各位置決め用凹部28が同一のエッチング処理条件で形成されているため、各位置決め用凹部28におけるバラツキが生じることがなく、また第3の支持基板18上に光ファイバユニット11および光学ユニット12がそれぞれ支持されているため、第3の支持基板18に支持される光ファイバユニット12と光学ユニット11とのY軸方向の相対位置に変化が生じることがない。
すなわち、光デバイス1では、第3の支持基板18の位置決め用凹部28の深さに寸法誤差が生じた場合でも、光ファイバユニット11に支持されている光ファイバ14の光軸と、光学ユニット12の光学素子15の光軸とのY軸方向の相対位置が変動することがない。
したがって、第1の支持基板16、第2の支持基板17、第3の支持基板18のいずれも、ファイバ支持溝21、素子支持溝22、位置決め用凹部26,27,28の深さに寸法誤差が生じた場合であっても、光ファイバ14の光軸に対して光学素子15の光軸が高精度に位置決めされるため、光学損失の低減が図られ、光学特性が向上される。
なお、上述したように、第3の支持基板18の位置決め用凹部28の深さに寸法誤差が生じた場合には、第3の支持基板18の基準面18aと、光ファイバユニット11の対向面16aおよび光学ユニット12の対向面17aとの間の距離が変動することになるが、直径125μmの光ファイバ14に対して、比較的大きな直径500μm程度の位置決め用ボール29が用いられているため、第1の支持基板16側に支持された光ファイバ14が、第3の支持基板18の基準面18aに当接することなく、充分な間隙が確保されている。
次に、上述した第1の支持基板16にファイバ支持溝21および位置決め用凹部26を形成する溝加工工程を、図面を参照して説明する。なお、第2の支持基板17および第3の支持基板18に、素子支持溝22、位置決め用凹部27,28を形成する溝加工工程も同一であるため、説明を省略する。
まず、第1の支持基板16をなすSi基板として、例えば、4インチの場合には、厚さ525μmで片面研磨、厚さ400μmで両面研磨、厚さ300μmで両面研磨のものや、6インチの場合には、厚さ625μmの片面研磨されたものが適用される。
図8(a)に示すように、このようなSi基板30の両面上に、例えば熱酸化法やCDV(Chemical Vapor Deposition:化学蒸着)法等によって、マスク材をなすSiO2膜31を堆積させる。このSiO2膜31の膜厚は、エッチング処理によって加工する溝の深さに応じて異なるが、例えば数100μm〜数μm程度に設定される。
図8(b)に示すように、ファイバ支持溝21および位置決め用凹部26を加工するSi基板30の主面上に、例えばスピンコート法によってフォトレジストを塗布する。同様に、加工を行わないSi基板30の裏面上にも、フォトレジスト32を塗布する。フォトレジスト32を塗布した後、露光、現像して、フォトレジスト32を所望のパターンに形成する。
図8(c)に示すように、例えばバッファードフッ化水素酸(BHF)、フッ化水素酸(HF)等の溶液によってウエットエッチング処理を施して、Si基板30の主面上のSiO2膜31が所定のマスクパターンに形成される。なお、反応性イオンエッチング(RIE)で加工してもよく、その場合には、裏面にフォトレジスト32を塗布する必要がない。
続いて、図8(d)に示すように、SiO2膜31による所定のマスクパターンが形成されたSi基板30には、例えば水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)、水酸化カリウム(KOH)等の溶液によってウエットエッチング処理を行うことで、ファイバ支持溝21および位置決め用凹部26がそれぞれ加工される。なお、Si基板30には、四角錐状のファイバ支持溝21が形成された時点でエッチング処理を終了することで、四角錐台状の位置決め用凹部26が形成される。
そして、図8(e)に示すように、Si基板30にファイバ支持溝21および位置決め用凹部26がそれぞれ形成された後、HF等によるウエットエッチング処理によって、Si基板30の表裏面上のSiO2膜31によるマスクパターンを除去することで、第1の支持基板16が形成される。
以上のように、第1の支持基板16は、エッチング処理条件による寸法誤差が生じた場合であっても、同一のエッチング処理条件でファイバ支持溝21および位置決め用凹部26がそれぞれ形成されるため、ファイバ支持溝21および位置決め用凹部26に寸法誤差がほぼ均一に生じることになる。
また、第1、第2、第3の支持基板16、17,18は、同一のバッチで同一のエッチング処理条件下で、溝加工工程が行われることが望ましい。これによって、光デバイス1における光ファイバ14および光学素子15の光軸のY軸方向に対する位置精度が更に向上される。しかしながら、光デバイス1によれば、第1、第2、第3の支持基板16、17,18が、各々別のバッチで異なるエッチング処理条件下で、溝加工工程が施された場合であっても、Y軸方向に対する光ファイバ14および光学素子15の光軸の位置精度を充分に得ることができる。
上述した溝加工工程を経て形成された第1の支持基板16および第2の支持基板17には、各光ファイバ14および光学素子15が接合されて、光ファイバユニット11および光学ユニット12として組み立てられる。
そして、光デバイス1の製造工程では、第3の支持基板18の基準面18aの各位置決め用凹部28内に、各位置決め用ボール29がそれぞれ載置され、各位置決め用ボール29が、予め組み付けられた光ファイバユニット11および光学ユニット12の各位置決め用凹部26,27に係合されることで、基準面18aに平行なX軸およびY軸方向に対して位置決めされるとともに、基準面18aに直交するY軸方向に対して位置される。位置決めされた状態で、光デバイス1は、各位置決め用ボール29が係合された各位置決め用凹部26,27,28内に例えば接着材等を注入することによって固定される。この結果、光デバイス1は、第3の支持基板18に支持された光ファイバユニット11の各光ファイバ14の光軸と、光学ユニット12の光学素子15の光軸とが、容易且つ確実に高精度に位置決めされる。
上述したように、光デバイス1は、第3の支持基板18の基準面18aに対向する各対向面16a,17a側に光ファイバ14および光学素子15が支持された第1の支持基板16および第2の支持基板17を備えることで、製造工程のエッチング処理条件の差異に起因するファイバ支持溝21、素子支持溝22、位置決め用凹部26,27,28の加工寸法のバラツキによって、光ファイバ14の光軸および光学素子15の光軸の位置精度が影響されずに一定になるため、光ファイバ14および光学素子15の光軸のY軸方向に対する位置精度を向上することができる。したがって、光デバイス1によれば、光学損失を抑え、光学特性を向上することができる。
また、光デバイス1によれば、光ファイバ14および光学素子15が第1および第2の支持基板16,17の対向面16a,17a側に支持されることで、第1および第2の支持基板16,17の厚さにかかわらずに、第3の支持基板18の基準面18aに対する光ファイバ14および光学素子15の光軸のY軸方向に対する位置が一定であるため、第1および第2の支持基板16,17の厚さを任意の厚さに設定することが可能になり、溝加工工程等に応じた最適な厚さの支持基板を選択することができる。
また、光デバイス1によれば、予め組み立てられた光ファイバユニット11および光学ユニット12を、第3の支持基板18の基準面18aに対して、位置決め用ボール29を介して位置決めすることで、光ファイバ14および光学素子15の光軸をX軸、Y軸、Z軸方向に対して高精度に位置決めし、容易且つ確実に組み立てることができる。
(第2の実施形態)
上述した光デバイス1は、各位置決め用ボール29を介して、第3の支持基板18の基準面18aに対して、光ファイバユニット11の対向面16aおよび光学ユニット12の対向面17aがそれぞれ平行に位置決めされるように構成されたが、光ファイバユニットおよび光学ユニットの少なくとも一方が、第3の支持基板の基準面に対して傾斜された状態に位置決めされるように構成された第2の実施形態の光デバイスについて説明する。なお、第2の実施形態の光デバイスは、上述した光デバイス1と基本構成が同様であるため、同一部材には同一符号を付して説明を省略する。
図9に示すように、第2の実施形態に係る光デバイス2は、第3の支持基板上に、光学ユニット12が、位置決め用ボール29aおよび位置決め用ボール29bを介して支持されている。位置決め用ボール29bの直径は、位置決め用ボール29aの直径よりもやや大きく形成されている。
したがって、光デバイス2では、各位置決め用ボール29aと位置決め用ボール29との直径差、各中心間の距離等に応じて、光学ユニット12をX軸回り方向に傾斜させることで、光ファイバユニット11の光ファイバ14の光軸に対する光学素子15の光軸の傾斜角を微調整することが可能にされている。
なお、図示しないが、光デバイス2では、直径が異なる位置決め用ボール29a,29bを有する構成にされたが、例えば、位置決め用凹部の形状や大きさ等を異ならせることで傾斜させる構成にされてもよく、光ファイバユニット側を傾斜させる構成にされてもよいことは勿論である。
(第3の実施形態)
上述した光デバイス1は、第3の支持基板18上に、光ファイバユニット11および光学ユニット12が、各位置決め用ボール29を介して支持されることで、X軸、Y軸、Z軸方向に対して位置決めされるように構成されたが、必要に応じてX軸方向およびZ軸方向に対して光ファイバユニットおよび光学ユニットが調動可能に構成された第3の実施形態の光デバイスについて説明する。なお、第3の実施形態の光デバイスは、上述した光デバイス1と基本構成が同様であるため、同一部材には同一符号を付して説明を省略する。
図10に示すように、第3の実施形態の光デバイス3は、位置決め用ボール29を介してX軸方向に調動可能な第1の支持基板46を有する光ファイバユニット41と、位置決め用ロッド40を介してZ軸方向に調動可能な第2の支持基板47を有する光学ユニット42と、第1の支持基板46を位置決め用ボール29を介してX軸方向に調動可能に支持するとともに第2の支持基板47を位置決め用ロッド40を介してZ軸方向に調動可能に支持する第3の支持基板48とを備えている。
第1の支持基板46の対向面には、位置決め用ボール29がX軸方向に調動可能に係合される位置決め用凹部51が設けられている。第2の支持基板47の対向面には、位置決め用ロッド40がZ軸方向に調動可能に係合される位置決め用凹部52が設けられている。位置決め用ロッド40は、例えば円柱状や角柱状に形成されている。また、第3の支持基板48には、第1の支持基板46の位置決め用凹部51および第2の支持基板47の位置決め用凹部52に対応する位置に、X軸方向に調動可能な位置決め用凹部53およびZ軸方向に調動可能な位置決め用凹部54がそれぞれ設けられている。
そして、光デバイス3は、第3の支持基板48上で、光ファイバユニット41および光学ユニット42がそれぞれ調動された後、例えば接着材等によって、各位置決め用凹部51,52,53,54内の所定の位置に位置決め用ボール29および位置決め用ロッド40が固定される。
上述したように、光デバイス3によれば、第3の支持基板48に対して光ファイバユニット41の光軸をX軸方向に調整するとともに、第3の支持基板48に対して光学ユニット42の光軸をZ軸方向に調整することができる。
また、図示しないが、光デバイスは、位置決め用ロッドが係合される位置決め用凹部が、長手方向に沿って幅が次第に変化する、いわゆるテーパ状に形成されてもよい。このように形成された場合、位置決め用凹部内で位置決め用ロッドの位置を調整することで、光ファイバの光軸に対する光学素子の光軸の傾斜角を微調整することも可能になる。
(第4の実施形態)
上述した光デバイス1は、光ファイバユニット11および光学ユニット12のみを備える構成にされたが、更に他の光学ユニットを備える第4の実施形態の光デバイスについて図面を参照して説明する。なお、第4の実施形態の光デバイスは、上述した光デバイス1と基本構成が同一であるため、同一部材、同一箇所には同一符号を付して説明を省略する。
図11に示すように、第4の実施形態の光デバイス4は、光ファイバユニット11と光学ユニット12との間に位置して設けられる他の光学ユニット63と、これら光ファイバユニット11および光学ユニット12、他の光学ユニット63をそれぞれ支持する第3の支持基板65とを備えている。
他の光学ユニット63は、光ファイバユニット11の光ファイバ14の光軸および光学ユニット12の光学素子15の光軸に対して、光軸が一致される光学素子66と、この光学素子66を支持する第4の支持基板67とを有している。第4の支持基板67には、第3の支持基板65の基準面に対向する対向面に、上述した光学ユニット12と同様に、光学素子66を支持する素子支持溝(不図示)および位置決め用ボール29が係合される位置決め用凹部69がそれぞれ設けられている。光学素子66としては、例えば波長フィルタや減衰フィルタ等が用いられて、光デバイス4が、光アッテネータや光モジュレータとして構成される。
また、第3の支持基板65の基準面には、第4の支持基板67の位置決め用凹部69に対応する位置に、位置決め用ボール29が係合される位置決め用凹部70がそれぞれ設けられている。
なお、光デバイス4は、必要に応じて更に他の光デバイスを備える構成にされてもよいことは勿論である。
(第5の実施形態)
上述した光デバイス1は、四角錐状のファイバ支持溝21、四角錐台状の素子支持溝22および位置決め用凹部26,27,28を備える構成にされたが、他の形状の位置決め用凹部が設けられた第4の実施形態の光デバイスについて説明する。なお、第4の実施形態の光デバイスは、上述した光デバイス1と基本構成が同一であるため、同一部材には同一符号を付して説明を省略する。
図12および図13に示すように、第5の実施形態の光デバイス5は、丸穴状の位置決め用凹部74が設けられた第2の支持基板73を有する光学ユニット72を備えている。この位置決め用凹部74は、第2の支持基板73の対向面73aに対して内周面が垂直にされており、正方形状の底面を有している。位置決め用凹部74には、開口縁に位置決め用ボール29が係合される。
図13に示すように、位置決め用凹部74について、内径2M、位置決め用ボール29が半径R2、位置決め用凹部74に係合された位置決め用ボール29の中心O2とすれば、位置決め用凹部74内に係合された位置決め用ボール29の中心O2と、第2の支持基板73の対向面73aとの間のY軸方向の距離H2は、
2=√(R2 2−M2
によって算出される。
なお、位置決め用凹部74について説明したが、ファイバ支持溝および素子支持溝が丸穴状の凹部として形成された場合も同様であるため、説明を省略する。
すなわち、例えば丸穴や角穴状等のファイバ支持溝に支持される光ファイバ14の光軸の位置も、上述したファイバ支持溝21に支持される光ファイバ14の光軸のY軸方向の位置と同様に算出され、第3の支持基板の基準面に対して常に一定になる。
光デバイスは、特に、後述する光スイッチとして適用される場合、光学ユニットのスイッチ素子を構成する固定ミラーおよび可動ミラーを、例えばドライエッチングにより、第2の支持基板の対向面に対して垂直に形成するため、このエッチング処理で、位置決め用凹部も同様に対向面に対して垂直に形成することが都合がよい。また、このような光スイッチでは、例えばDRIE(Deep RIE:深堀反応性イオンエッチング)によって、固定ミラーおよび可動ミラーが、第2の支持基板の対向面から垂直に形成されることで、これら固定ミラーおよび可動ミラーの光軸を、光ファイバユニット(光ファイバアレイ)の光軸に対して、容易に高精度に位置決めすることができる。
なお、上述したように、位置決め用凹部、およびファイバ支持溝、素子支持溝は、必要に応じて他の任意の形状に形成されてもよい。
また、図示しないが、位置決め用凹部、ファイバ支持溝および素子支持溝は、第1および第2の支持基板を厚み方向に貫通する貫通穴とされてもよい。この構成の場合には、貫通穴内に対して、第1および第2の支持基板の対向面の反対側の開口から接着材等を注入することによって、位置決め用ボール等を接合することもできる。また、接着材として光硬化性の接着剤を用いる場合、第1および第2の支持基板の対向面の反対側の開口から光を照射することにより、容易に光硬化性の接着剤を硬化させることができる。 (第6の実施形態)
本発明に係る光デバイスが適用された光スイッチについて、図面を参照して説明する。光スイッチにおいて、上述した光デバイス1と同一部材には同一符号を付して説明を省略する。
図14および図15に示すように、光スイッチ6は、4本の光ファイバ14a〜14dが設けられた第1の支持基板80を有する光ファイバユニット71と、固定ミラー86a〜86dおよび可動ミラー87a,87bが設けられた第2の支持基板81を有する光学ユニット72と、これら光ファイバユニット71および光学ユニット72を支持する第3の支持基板82とを備えている。
光ファイバユニット71は、第1の支持基板80の対向面80a側に、各光ファイバ14a〜14dの先端部が非等間隔に配列されて、光路長を後述するように調整するように配置されている。本実施形態では、光ファイバ14aおよび14cの組と、光ファイバ14bおよび14dの組とに分けられ、いずれか一方の組(例えば光ファイバ14aおよび14c)が出射側光ファイバで、他方の組(例えば光ファイバ14bおよび14d)が入射側光ファイバとなる。
光学ユニット72は、固定ミラー86a〜86dが、第2の支持基板81の対向面81a側に一体に形成されている。一方、可動ミラー87a,87bは、第2の支持基板81に対して厚み方向であるY軸方向に移動可能な可動部89に設けられている。可動部89は、第2の支持基板81に設けられた凹部81a内に位置し、平面部89aと、この平面部89aを凹部81aの内周面に接続する弾性を有する梁部89bと、平面部89aから連続して形成されたステージ部89cとからなる。そして、ステージ部89c上に、可動ミラー87a,87bが設けられている。また、第2の支持基板81の対向面81a上またはこの対向面81aの反対側の主面上には、可動ミラー87a,87bを駆動するための駆動手段(不図示)が設けられている。
図15に拡大して模式的に示すように、平面的に見ると、光ファイバ14aの先端部の前方に固定ミラー86aが位置し、光ファイバ14bの先端部の前方に可動ミラー87aと固定ミラー86bが位置し、光ファイバ14cの先端部の前方に可動ミラー87bと固定ミラー86cが位置し、光ファイバ14dの先端部の前方に固定ミラー86dが位置している。なお、第2の支持基板81の厚さ方向に見ると、可動ミラー87a,87bは、可動部89が図14に示すような初期位置にあるときに、光ファイバ14b,14cと対向し、可動部89がY軸方向に移動したときに、光ファイバ14b,14cと対向しない位置に移動する。光ファイバ14a〜14dの先端部は非等間隔で配列されているが、これらの光軸は互いに平行であり、固定ミラー86a〜86dおよび可動ミラー87a,87bの反射面は全てこれらの光軸に対して45度傾いた姿勢で配置されている。
本実施形態では、可動部89の、光ファイバ14a〜14dに臨む側の反対側にも、上述したのと全く同一の、ダミーのステージ部89cおよび可動ミラー87a,87bと固定ミラー86a〜86dが設けられている。これによって、可動部89は完全に対称形状になるため、移動時にねじり等の不要な動きを生じることがない。このため、各可動ミラー87a,87bのビーム光に対する相対角度や相対位置が正確に保たれる。
なお、本実施形態の光ファイバ14a〜14dは、グレーデッドインデックス型光ファイバを備えたファイバコリメータであり、端面が、クリーブまたは研磨により3〜8度程度傾斜させられ、反射防止用のARコート処理が施されて、反射損失を減じてある。そして、各光ファイバ14a〜14dは、グレーデッドインデックス型光ファイバが設けられた先端部がほぼ一直線上に並ぶように配置されている。
第2の支持基板81に設けられている駆動手段は、可動部89に吸引力または反発力を働かせる電磁アクチュエータまたは静電アクチュエータであるが、これは従来から周知の構成であるためここでは図示および説明を省略する。なお、駆動手段として電磁アクチュエータを用いる場合には、図示しない磁性体または磁石が可動部89に設けられる。駆動手段として静電アクチュエータを用いる場合には、可動部89とその対向する面に一対の電極(図示せず)が形成される。
このような構成の光スイッチ6において、図14に示されている状態では、可動部89の梁部89bは弾性変形せず、平面部89a上の可動ミラー87a,87bは、光ファイバ14b,14cと対向するように位置する。したがって、例えば、図15に実線で示すように、光ファイバ14aから出射されたビーム光は、固定ミラー86aに反射され、さらに可動ミラー87aに反射されて光ファイバ14bに入射する。光ファイバ14cから出射されたビーム光は、可動ミラー87bに反射され、さらに固定ミラー86dに反射されて光ファイバ14dに入射する。このようにして、光ファイバ14aから14bに至る光路と、光ファイバ14cから14dに至る光路が形成されている。
一方、駆動手段が駆動されて可動部89に吸引力または反発力を及ぼしたとき、梁部89bが弾性変形して、平面部89aおよびステージ部89cが第2の支持基板81の上方または下方に移動する。これによって、ステージ部89c上の可動ミラー87a,87bは、光ファイバ14a〜14dの先端部に対向しない位置に移動する。すなわち、可動ミラー87a,87bは光ファイバ14a〜14dの光路から退出するため、例えば、図15に1点鎖線で示すように、光ファイバ14aから出射されたビーム光は、固定ミラー86aに反射され、さらに固定ミラー86dに反射されて光ファイバ14dに入射する。光ファイバ14cから出射されたビーム光は、可動ミラー87a,87bが光路上に存在しないため、固定ミラー86cに反射され、さらに固定ミラー86bに反射されて、光ファイバ14bに入射する。このようにして、光ファイバ14aから14dに至る光路と、光ファイバ14cから14bに至る光路が形成されている。
この場合の光路長について説明する。まず、可動部89が図示されている初期位置にある状態(切り換え前)では、光ファイバ14aから、固定ミラー86aおよび可動ミラー87aを介して光ファイバ14cに至る光路が形成されており、その光路長(各光ファイバの先端部間の距離)は、図15に示すように、E+A+E=A+2Eである。そして、光ファイバ14cから、可動ミラー87bおよび固定ミラー86dを介して光ファイバ14dに至る光路も形成され、その光路長はE+C+E=C+2Eである。これに対し、可動部89が移動した状態では、光ファイバ14aから、固定ミラー86aおよび固定ミラー86dを介して光ファイバ14dに至る光路が形成されており、その光路長はE+A+B+C+E=A+B+C+2Eである。そして、光ファイバ14cから、固定ミラー86cおよび固定ミラー86bを介して光ファイバ14bに至る光路も形成され、その光路長はE+D+B+D+E=B+2D+2Eである。ここで、各光ファイバ14a〜14dと固定ミラー86a〜86dおよび可動ミラー87a,87bの相対位置関係を、A=C=B+2Dと設定することにより、考えられる4通りの光路のうちの3つの光路長が等しくなる。したがって、これらの3つの光路に関しては、光ファイバ14a〜14dがファイバコリメータである場合にも全て最適な条件で光ファイバ間の光の伝達が行える。
一般にアド・ドロップ方式といわれる光通信方式の光学手段では、「IN」、「OUT」、「ADD」、「DROP」という4つの光ファイバを組み合わせて光路を構成するが、特に切り換え前後の「IN」−「OUT」という光路と「ADD」−「OUT」という光路と、「IN」−「DROP」という光路が重要であり、これらの光路ができるだけ低損失で良好に光の伝達を行えるようにしたいため、少なくともこれらの光路長、具体的には光ファイバの端部間の距離を一致させて、且つファイバコリメータの特性に応じて最適な距離になるように配置する。しかし、「ADD」−「DROP」という光路は、アド・ドロップ方式の光通信において通常はあまり必要とされないので、光路長についても特に問わない。したがって、図15に示す構成では、光ファイバ14a〜14dを、例えば「ADD」、「OUT」、「IN」、「DROP」の順に設定すれば、「IN」−「OUT」光路の光路長(B+2D+2E)と、「ADD」−「OUT」光路の光路長(A+2E)と、「IN」−「DROP」光路の光路長(C+2E)を等しくすることができ、「ADD」−「DROP」光路の光路長(A+B+C+2E)のみ異なるようにすることができる。これによると、全ての光路の光路長が同一ではないが、十分な効果が得られる。なお、「ADD」、「OUT」、「IN」、「DROP」の組み合わせは上述したものに限られず、光の入射と出射の関係が適正であり、「ADD」−「DROP」以外の3つの光路の光路長が全て等しくなるような組み合わせであれば、自由に設定することができる。
上述した通り、A=C=B+2Dと設定することにより3つの光路(アド・ドロップ方式の場合、「IN」−「OUT」、「ADD」−「OUT」、「IN」−「DROP」)の光路長を等しくできる。実際には、ファイバコリメータの特性、ファイバの径や各ミラーの大きさ等を考慮した上で、適切な寸法が選択される。
本実施形態では、1枚のミラーで複数のビーム光を同時に反射する構成にはなっておらず、1枚のミラーでは1つのビーム光のみを反射する構成であるため、各ミラーを小型化でき、ミラー配置領域を小さくできるので、それに伴って光ファイバ14a〜14dの先端部をより近接させて、光路長を短くすることができる。そして、光路長を短くすることによって、光ファイバ14a〜14dおよび各ミラー86a〜86d,87a,87bの位置や角度のずれに対する許容範囲が大きくなる。
また、可動ミラー87a,87bが、好ましくはビーム光のスポット径の3倍以下、より好ましくは1.5倍程度と小型であるため、可動部全体を小型軽量化して、電磁石などの駆動手段の出力を小さく抑えることができるとともに、共振周波数を高くして高速光通信用にスイッチング速度を速くすることができる。さらに、光スイッチ全体を小型化して1枚のウェハから製造できる光スイッチの個数を増やし、製造コストを低減することも可能である。
最後に、上述した各実施形態の光デバイス1〜5、光スイッチ6に適用される変形例について、図面を参照して簡単に説明する。便宜上、上述した光デバイス1と同一部材には同一符号を付して説明を省略する。
図16に示すように、光ファイバユニット11および光学ユニット12を支持する第3の支持基板93の基準面93a上には、位置決め部材である上述の位置決め用ボール29や位置決め用ロッド40の代わりに、第1の支持基板16および第2の支持基板17の各位置決め用凹部に係合される位置決め用突部94がそれぞれ一体に形成されている。位置決め用突部94は、例えばエッチング処理によって四角柱状に形成されており、先端の外周縁が、位置決め用凹部26の内周面に当接される。
また、図17に示すように、光ファイバ14を支持する第1の支持基板に95は、四角錐状(断面V字状)の位置決め用凹部96が形成されている。この第1の支持基板95を支持する第3の支持基板97の基準面97a上には、位置決め用凹部96に係合される位置決め用突部98が一体に形成されている。位置決め用突部98は、例えばエッチング処理によって三角錐台状に形成されており、先端部が、位置決め用凹部96の内周面に当接される。
なお、図示しないが、位置決め用突部は、位置決め用凹部に係合される形状であれば、例えば半球状等の他の形状に任意に形成されてもよいことは勿論である。
また、本実施形態の光デバイスは、第1のユニットとして、光ファイバを有する光ファイバユニットを備える構成とされたが、光ファイバを備える構成に限定されるものではなく、第1のユニットが有する第1の光学素子としては、例えば、発光素子、受光素子、ミラー、レンズ、光スイッチ、光導波路、減衰フィルタ、波長フィルタ等が用いられてもよい。
本発明に係る第1の実施形態の光デバイスを示す平面図である。 前記光デバイスを示す側面図である。 図1の前記光デバイスを示すA−A断面図である。 図1の前記光デバイスを示すB−B断面図である。 (a)が光ファイバを支持するファイバ支持溝を示す断面図、(b)に光学素子を支持する素子支持溝を示す断面図である。 エッチング処理によるファイバ支持溝の変化量を説明するための模式図である。 ファイバ支持溝の変化に伴う光ファイバの光軸の位置を説明するための断面図であって、(a)は、設定寸法に形成されている状態を模式的に示す断面図、(b)は、寸法誤差が生じた状態を模式的に示す断面図である。 Si基板にファイバ支持溝および位置決め用凹部を形成する溝加工工程を模式的に示す断面図である。 第2の実施形態の光デバイスを模式的に示す側面図である。 第3の実施形態の光デバイスを模式的に示す平面図である。 第4の実施形態の光デバイスを模式的に示す側面図である。 第5の実施形態の光デバイスを模式的に示す側面図である。 位置決め用凹部を説明するための断面図である。 第6の実施形態の光デバイスを示す平面図である。 各光ファイバの光路長を説明するための模式図である。 位置決め用突部を示す断面図である。 他の位置決め用凹部および位置決め用突部を示す断面図である。 従来の光デバイスを示す斜視図である。 従来の他の光デバイスを示す斜視図である。
符号の説明
1 光デバイス
11 光ファイバユニット
12 光学ユニット
14 光ファイバ
15 光学素子
16 第1の支持基板
16a 対向面
17 第2の支持基板
17a 対向面
18 第3の支持基板
18a 基準面
20 位置決め機構
21 ファイバ支持溝
22 素子支持溝
26,27,28 位置決め用凹部
29 位置決め用ボール

Claims (12)

  1. 光ファイバまたは第1の光学素子を支持する第1の支持基板を有する第1のユニットと、
    第2の光学素子を支持する第2の支持基板を有する第2のユニットと、
    前記第1のユニットおよび前記第2のユニットを支持する第3の支持基板と、
    前記第3の支持基板に対して、前記第1のユニットおよび前記第2のユニットを位置決めするための位置決め手段とを備え、
    前記位置決め手段は、前記第3の支持基板の主面に対向する前記第1のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域、および、前記第3の支持基板の前記主面に対向する前記第2のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域にそれぞれ設けられた位置決め用凹部と、該位置決め用凹部に係合される位置決め部材とを有し、
    前記第1の支持基板の前記対向面側には、前記光ファイバまたは前記第1の光学素子が支持され、
    前記第2の支持基板の前記対向面側には、前記第2の光学素子が支持されていることを特徴とする光デバイス。
  2. 前記位置決め部材は、ボール状またはロッド状に形成されている請求項1に記載の光デバイス。
  3. 前記位置決め手段は、大きさが互いに異なる複数の前記位置決め部材、または大きさが互いに異なる複数の前記位置決め用凹部を有する請求項1または2に記載の光デバイス。
  4. 前記位置決め部材は、前記第1、第2の支持基板の前記対向面、第3の支持基板の前記主面の少なくとも1つに一体に突出形成されている請求項1に記載の光デバイス。
  5. 前記位置決め用凹部は、前記位置決め部材が、前記光ファイバまたは前記第1の光学素子の光軸に平行または直交し、且つ前記対向面に平行な方向に調動可能に設けられている請求項1ないし4のいずれか1項に記載の光デバイス。
  6. 前記第1、第2、第3の支持基板の少なくとも1つは、シリコンからなる請求項1ないし5のいずれか1項に記載の光デバイス。
  7. 前記位置決め用凹部は、エッチング処理によって形成されている請求項1ないし6のいずれか1項に記載の光デバイス。
  8. 前記位置決め用凹部は、前記第1、第2の支持基板の前記対向面、第3の支持基板の前記主面の少なくとも1つに、内周面が直交されて設けられている請求項1ないし7のいずれか1項に記載の光デバイス。
  9. 前記第1のユニットは、複数の前記光ファイバを有する請求項1ないし8のいずれか1項に記載の光デバイス。
  10. 前記第1のユニットは、4本の前記光ファイバを有し、
    前記第2のユニットの前記第2の光学素子は、前記各光ファイバの光路を切り換える光スイッチ素子である請求項1ないし9のいずれか1項に記載の光デバイス。
  11. 前記第3の支持基板には、他の光学素子を支持する他の支持基板を有する更に他のユニットが、前記位置決め手段を介して支持されている請求項1ないし10のいずれか1項に記載の光デバイス。
  12. 光ファイバまたは第1の光学素子を支持する第1の支持基板を有する第1のユニット、および第2の光学素子を支持する第2の支持基板を有する第2のユニットを組み立てる第1の工程と、
    前記第1のユニットおよび前記第2のユニットを支持する第3の支持基板の主面に対向する前記第1のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域、および、前記第3の支持基板の前記主面に対向する前記第2のユニットの対向面または前記主面の該対向面に対向する領域にそれぞれ設けられた位置決め用凹部と、該位置決め用凹部に係合される位置決め部材とを有し、前記第3の支持基板に対して前記第1のユニットおよび前記第2のユニットを位置決めするための位置決め手段を介して、
    前記第1の支持基板の前記対向面側に前記光ファイバまたは第1の光学素子が支持された前記第1のユニット、および前記第2の支持基板の前記対向面側に前記第2の光学素子が支持された前記第2のユニットを、前記第3の支持板に組み立てる第2の工程とを有することを特徴とする光デバイスの製造方法。
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