JP2005043341A - パネル検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 本発明は、ディスプレイ用パネルを検査するためのカメラの支持構造を改善したパネル検査装置に関する。
【解決手段】 ディスプレイ用パネルを検査するためのパネル検査装置において、前記パネルを支持するパネル支持台と、前記パネル支持台と離隔して前記パネル支持台に支持された前記パネルを撮影する複数のカメラと、前記複数のカメラのうちの少なくとも一つを回転可能に支持するカメラ支持部とを含むことを特徴とする。これにより、カメラの数を減らし、装着が容易であるだけでなく、製作費を節減することができる。
【選択図】 図3
【解決手段】 ディスプレイ用パネルを検査するためのパネル検査装置において、前記パネルを支持するパネル支持台と、前記パネル支持台と離隔して前記パネル支持台に支持された前記パネルを撮影する複数のカメラと、前記複数のカメラのうちの少なくとも一つを回転可能に支持するカメラ支持部とを含むことを特徴とする。これにより、カメラの数を減らし、装着が容易であるだけでなく、製作費を節減することができる。
【選択図】 図3
Description
本発明はパネル検査装置に関し、より詳しくは、ディスプレイ用パネルを検査するためのカメラの支持構造を改善したパネル検査装置に関する。
最近、画像を形成するディスプレイ装置の画像面の大型化、厚さの薄型化及び重量の軽量化を達成するために多くの研究が進められており、このような大型化及び薄型化を達成するために多様な種類のディスプレイ用パネルが開発されている。そして、このようなディスプレイ用パネルとしてはLCD(Liquid Crystal Display)パネルやPDP(Plasma Display PANEL)パネルなどが挙げられ、このようなパネルを生産する過程ではパネルの品質を検査するパネル検査過程が必須である。
図1は従来のパネル検査装置の斜視図である。
図1に示されているように、従来のパネル検査装置101は、パネル103を支持するパネル支持台110と、パネル支持台110の上側にパネル支持台110と離隔してパネル支持台110に支持されたパネル103を撮影するカメラユニット104と、カメラユニット104を支持するカメラ支持台130とを含む。
図1に示されているように、従来のパネル検査装置101は、パネル103を支持するパネル支持台110と、パネル支持台110の上側にパネル支持台110と離隔してパネル支持台110に支持されたパネル103を撮影するカメラユニット104と、カメラユニット104を支持するカメラ支持台130とを含む。
パネル支持台110はテーブル形状に備えられ、その上側がパレット111によって収容されて移送されたパネル103を支持する。
カメラユニット104はカメラ支持台130に設置され、パネル支持台110に支持されたパネル103の中心と垂直をなすように設置された1台の第1カメラ105と、第1カメラ105を中心として前後左右方向に各々設置された4台の第2カメラ107とを有する。
第1カメラ105はパネル103と垂直をなすように設置されてパネル103の全体板面を垂直方向に撮影する。そして、4台の第2カメラ107はパネル103と一定の角度をなして設置されパネル103を一定の角度で撮影する。
これによって、カメラ支持台130に設置された5台の第1及び第2カメラ105、107から構成されたカメラユニット104によってパネル支持台110に支持されたパネル103を垂直方向及び一定の角で撮影して、パネル103上に発生する斑のような欠陥を検査することができる。
しかし、従来のパネル検査装置はパネルを検査するために基本的で5大のカメラに構成されたカメラユニットを必要とするために検査装置の製作費が多くかかる。そして、パネルが大型化される場合には基本的な5大のカメラに撮影が不可能であって多量のカメラが必要であるために多量のカメラの設置するのが容易でないだけでなく、製作費があまり多く所用される問題点がある。つまり、パネルの大きさが14インチである場合には基本的な5大のカメラに構成された一つのカメラユニットを必要とするけれど、パネルの大きさが21インチに大型化される場合には少なくとも4つのカメラユニットが必要となって銃装着されるカメラの数は20通り増加するようになる。
前記目的は、本発明によって、ディスプレイ用パネルを検査するためのパネル検査装置において、前記パネルを支持するパネル支持台と;前記パネル支持台と離隔して前記パネル支持台に支持された前記パネルを撮影する複数のカメラと;前記複数のカメラのうちの少なくとも一つを回転が可能なように支持するカメラ支持部を含むことを特徴とするパネル検査装置によって達成される。
ここで、前記複数のカメラは前記パネルの板面と直角をなすように備えられた第1カメラと、前記第1カメラと離隔して前記パネルの板面と鋭角をなすように備えられた第2カメラを含むのが好ましい。
前記カメラ支持部は、前記第2カメラを回転が可能なように駆動する駆動部と;前記駆動部と前記第1カメラの間に備えられて前記第1カメラを支持する第1ブラケットと;前記駆動部と前記第2カメラの間に備えられて前記第2カメラを支持する第2ブラケットを含むのが好ましい。
前記第2ブラケットは各々前記第2カメラが前記第1カメラの中心軸線を中心に回転可能なように支持するのが好ましい。
前記駆動部は駆動モータを含み、前記第1カメラの中心軸線は前記駆動モータの回転軸線と一致するのが好ましい。
前記第2ブラケットは前記第1ブラケットから前記パネル支持台方向に鋭角をなして備えられるのが好ましい。
前記カメラ支持部は複数に備えられることが好ましく、前記カメラ支持部に支持された前記第2カメラは回転時近接した前記他のカメラ支持部に支持された前記第1カメラと干渉されないように備えられるのが好ましい。
以上で説明したように、本発明によると、カメラの数を減らし装着が容易なだけでなく、製作費を節減することができる。
説明に先立って、いろいろな実施例において、同一な構成を有する構成要素については同一な符号を使用して代表的に第1実施例で説明し、その他の実施例では第1実施例と異なる構成について説明するようにする。
以下、添付した図面を参照して本発明を詳細に説明する。
図2及び図3に示されているように、本発明の第1実施例によるパネル検査装置1はディスプレイ用パネル3を支持するパネル支持台10と、パネル支持台10と離隔してパネル支持台10に支持されたパネル3を撮影する複数のカメラ5、7と、複数のカメラ5、7のうちの少なくとも一つを回転可能に支持するカメラ支持部20とを含む。そして、パネル検査装置1はカメラ支持部20がパネル支持台10と離隔するようにカメラ支持部20を支持するカメラ支持台30をさらに含むのが好ましい。そして、パネル検査装置1はカメラによって撮影された画像を作業者が確認して検査することができるようにモニター(図示せず)をさらに含むのが好ましい。
図2及び図3に示されているように、本発明の第1実施例によるパネル検査装置1はディスプレイ用パネル3を支持するパネル支持台10と、パネル支持台10と離隔してパネル支持台10に支持されたパネル3を撮影する複数のカメラ5、7と、複数のカメラ5、7のうちの少なくとも一つを回転可能に支持するカメラ支持部20とを含む。そして、パネル検査装置1はカメラ支持部20がパネル支持台10と離隔するようにカメラ支持部20を支持するカメラ支持台30をさらに含むのが好ましい。そして、パネル検査装置1はカメラによって撮影された画像を作業者が確認して検査することができるようにモニター(図示せず)をさらに含むのが好ましい。
パネル3はLCD(Liquid Crystal Display)パネルやPDP(Plasma Display Panel)パネルのような薄板ディスプレイパネルを通称するものであって、本明細書ではLCDパネルを一例として説明する。この時、パネルの大きさはカメラの撮影範囲を外れない程度であるのが好ましい。
LCDパネルはモニターやテレビのようなディスプレイ装置に装着されて画像を形成する役割を果たす。そして、LCDパネルは上部ガラス及び下部ガラスを含むパネル部と、パネル部の後方に備えられてパネル部に向かって光を供給するバックライトユニットとを含む。そして、上部ガラス及び下部ガラスの間には所定のパターンと液晶が備えられる。そして、LCDパネルはこのような液晶の配列状態及び異物の混入によって斑が発生することがあり、LCDパネルの外側表面にすり傷などによって損傷及びバックライトユニットからLCDパネル上に光が漏出される等の欠陥が発生することがあり、本発明によるパネル検査装置1はこのような欠陥を検査するための装置である。
パネル支持台10はテーブル形状に備えられ、その上側がパレット11によって収容されて移送されたパネル3を支持する。
カメラ5、7はカメラ支持部20に回転可能に設置されてパネル支持台10に支持されたパネル3を撮影する。そして、カメラ5、7はパネル3の板面と直角をなすように備えられた第1カメラ5と、第1カメラ5と離隔してパネル3の板面と鋭角をなすように備えられた第2カメラ7とを含む。そして、第2カメラ7がパネル3の板面となす角度は大略60程度であるのが好ましい。つまり、第2カメラ7の中心軸線Bと第1カメラ5の中心軸線Aとがなす角度は大略30程度であるのが好ましい。しかし、第2カメラ7の中心軸線Bと第1カメラ5の中心軸線Aとがなす角度はパネル3の種類及び欠陥の種類などによって変更されることができ、その角度範囲は0よりは大きく90よりは小さいのが好ましい。そして、以下では第2カメラ7の中心軸線Bと第1カメラ5の中心軸線Aとがなす角度を視野角という。そして、この時、第1及び第2カメラ5、7の各撮影範囲はパネル3の板面の面積より大きいか同一な程度であるのが好ましい。
カメラ支持部20はカメラ支持台30に装着されて第1及び第2カメラ5、7をパネル3と離隔するように支持する。そして、カメラ支持部20は第1及び第2カメラ5、7を回転可能に駆動する駆動部21と、駆動部21と第1カメラ5との間に備えられて第1カメラ5を支持する第1ブラケット25と、駆動部21と第2カメラ7との間に備えられて第2カメラ7を支持する第2ブラケット27とを含む。しかし、第1カメラ5は駆動部21またはカメラ支持台30に直接結合されて回転しないように備えられることができることはもちろんである。
駆動部21は第1及び第2ブラケット25、27を回転させるように駆動軸23を有する駆動モータ22であるのが好ましい。
第1ブラケット25は一側が駆動軸23と結合され他側が第1カメラ5の後方の一領域と結合されて、第1カメラ5が第1カメラ5の中心軸線Aを中心に回転可能なように支持するのが好ましい。そして、第1カメラ5の中心軸線Aは駆動モータ22の駆動軸23の回転軸線と一致するのがさらに好ましい。そして、第1ブラケット25は駆動軸23及び第1カメラ5とスクリューによって結合されるのが好ましいが、溶接又は接着剤などによって結合されることができることはもちろんである。
第2ブラケット27は一側が第1ブラケット25と結合され他側が第2カメラ7の後方の一領域と結合されて、第2カメラ7が第1カメラ5の中心軸線Aを中心に回転可能なように支持するのが好ましい。そして、第2ブラケット27は第1ブラケット25からパネル支持台10方向に鋭角をなして備えられるのが好ましい。そして、第2ブラケット27と第1ブラケット25とがなす角度は第2カメラ7の中心軸線Bと第1カメラ5の中心軸線Aとがなす角度である視野角と同一な程度であるのが好ましい。そして、第2ブラケット27は第1ブラケット25及び第2カメラ7とスクリューによって結合されるのが好ましいが、溶接又は接着剤などによって結合されることができることはもちろんである。
このような構成によって、本発明の第1実施例によるパネル検査装置の作動過程を説明すると次の通りである。
まず、パネル3をパレット11に収容してパネル支持台10上へ移送する。この時、パネル3の大きさは第1カメラ5及び第2カメラ7の各撮影範囲よりは小さいのが好ましく、一例として14インチである。そして、カメラ支持部20に備えられた駆動部21を作動させて第1及び第2カメラ5、7を回転させる。これによって、第1カメラ5はパネル3に垂直方向に撮影し、第2カメラ7は第1カメラ5の中心軸線Aを中心に回転しながら視野角方向にパネル3を撮影する。これによって、モニター(図示せず)を通じて撮影された画像を確認してパネル3の欠陥つまり、パネル3の液晶状態及び異物混入によって発生する斑、パネル3の外側表面上に発生する損傷と、パネル3上に漏出される光による欠陥などを検査する。
したがって、本発明の第1実施例によるパネル検査装置1は第1及び第2カメラ5、7を回転可能に支持するカメラ支持部20を備えることにより、従来のパネル検査装置に比べてカメラの数を画期的に減らすことができるので、装着が容易であるだけでなく、製作費を節減することができる。
図4は本発明の第2実施例によるパネル検査装置の斜視図である。図4に示されているように、本発明による第2実施例は第1実施例よりさらに大型化されたパネル3aを検査することができるようにカメラ支持部20を複数個備えるという点が第1実施例と異なる点である。つまり、パネル3aが大型化される場合には第1及び第2カメラ5、7の各撮影範囲がパネル3aの板面よりさらに小さいため一つの第1及び第2カメラ5、7のみではパネル3aを検査することができないので、複数の第1及び第2カメラ5、7及びこれを支持する複数のカメラ支持部20を必要とする。
各カメラ支持部20は第1及び第2カメラ5、7を回転可能に支持し、カメラ支持部20に支持された第2カメラ7は回転時に近接した他のカメラ支持部20に支持された第1カメラ5と干渉されないように備えられるのが好ましい。つまり、第1ブラケット25と結合された第2ブラケット27がパネル3a方向に所定の角度折り曲げられて形成されて、第2カメラ7が回転時に近接した他のカメラ支持部20に装着された第1カメラ5と衝突しないように備えられる。
このような構成によって本発明の第2実施例によるパネル検査装置の作動過程を説明すると次の通りである。
まず、パネル3aをパレット11に収容してパネル支持台10上へ移送する。この時、パネル3aの大きさは第1カメラ5及び第2カメラ7の各撮影範囲よりは大きいのが好ましく、一例として第1実施例の14インチより大きい21インチである。そして、カメラ支持台30には4つのカメラ支持部20が備えられて総8台のカメラが装着される。そして、各カメラ支持部20に備えられた駆動部21を作動させて第1及び第2カメラ5、7を回転させる。これにより、各第1カメラ5はパネル3aと垂直方向に撮影し、各第2カメラ7は第1カメラ5の中心軸線Aを中心に回転しながら視野角方向にパネル3aを撮影する。これにより、モニター(図示せず)を通じてカメラによって撮影された画像を確認してパネル3aの欠陥を検査する。
したがって、本発明の第2実施例によるパネル検査装置は第1及び第2カメラ5、7を回転可能に支持する複数のカメラ支持部20を備えることにより従来のパネル検査装置に比べてカメラを画期的に減らすことができるので、装着が容易であるだけでなく、製作費を節減することができる。
そして、パネルが第2実施例よりさらに大型化されて4台のカメラ支持部で撮影することができなくなると、パネルの大きさに合せて適切な台数のカメラ支持部を設置し、各カメラ支持部には第1及び第2カメラが装着されるのが好ましい。このように、パネルの大きさによってカメラ支持部及び第1及び第2カメラを適切に設置することができることはもちろんである。
1 パネル検査装置
3、3a パネル
5 第1カメラ
7 第2カメラ
10 パネル支持台
11 パレット
20 カメラ支持部
21 駆動部
22 駆動モータ
23 駆動軸
25 第1ブラケット
27 第2ブラケット
30 カメラ支持台
3、3a パネル
5 第1カメラ
7 第2カメラ
10 パネル支持台
11 パレット
20 カメラ支持部
21 駆動部
22 駆動モータ
23 駆動軸
25 第1ブラケット
27 第2ブラケット
30 カメラ支持台
Claims (8)
- ディスプレイ用パネルを検査するためのパネル検査装置において、
前記パネルを支持するパネル支持台と、
前記パネル支持台と離隔して、前記パネル支持台に支持された前記パネルを撮影する複数のカメラと、
前記複数のカメラのうちの少なくとも一つを回転可能に支持するカメラ支持部と
を含むことを特徴とするパネル検査装置。 - 前記複数のカメラは、前記パネルの板面と直角をなすように備えられた第1カメラと、
前記第1カメラと離隔して前記パネルの板面と鋭角をなすように備えられた第2カメラとを含むことを特徴をする、請求項1に記載のパネル検査装置。 - 前記カメラ支持部は、
前記第2カメラを回転可能に駆動する駆動部と、 前記駆動部と前記第1カメラとの間に備えられて前記第1カメラを支持する第1ブラケットと、
前記駆動部と前記第2カメラとの間に備えられて前記第2カメラを支持する第2ブラケットとを含むことを特徴とする、請求項2に記載のパネル検査装置。 - 前記第2ブラケットは各々前記第2カメラが前記第1カメラの中心軸線を中心に回転可能なように支持することを特徴とする、請求項3に記載のパネル検査装置。
- 前記駆動部は駆動モータを含み、
前記第1カメラの中心軸線は前記駆動モータの回転軸線と一致することを特徴とする、請求項4に記載のパネル検査装置。 - 前記第2ブラケットは、前記第1ブラケットから前記パネル支持台方向に鋭角をなして備えられることを特徴とする、請求項4に記載のパネル検査装置。
- 前記カメラ支持部は、複数個備えられることを特徴とする、請求項2に記載のパネル検査装置。
- 前記カメラ支持部に支持された前記第2カメラは、回転時に近接した前記他のカメラ支持部に支持された前記第1カメラと干渉されないように備えられることを特徴とする、請求項7に記載のパネル検査装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006268050A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Samsung Electronics Co Ltd | 画像検査装置、パネル検査方法及び表示パネルの製造方法 |
JP2006337217A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Shindenshi Corp | 表面実装基板等の外観検査方法およびその装置 |
US8818073B2 (en) | 2010-07-29 | 2014-08-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Display panel test apparatus and method of testing a display panel using the same |
CN107328791A (zh) * | 2017-07-31 | 2017-11-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种缺陷检测方法及装置 |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7337960B2 (en) * | 2004-02-27 | 2008-03-04 | Evolution Robotics, Inc. | Systems and methods for merchandise automatic checkout |
KR20060044032A (ko) * | 2004-11-11 | 2006-05-16 | 삼성전자주식회사 | 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법 |
KR101144185B1 (ko) * | 2005-06-29 | 2012-05-10 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 화질 검사 장치 및 방법 |
DE502005008676D1 (de) * | 2005-07-13 | 2010-01-21 | Audi Ag | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Prüfung von Carbon-Keramik-Brems- und Kupplungskomponenten |
KR101224766B1 (ko) * | 2005-12-23 | 2013-01-21 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 배관 퇴적물 검사 로봇 시스템 |
KR101166828B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2012-07-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치용 검사장비 및 검사 방법 |
US7909248B1 (en) * | 2007-08-17 | 2011-03-22 | Evolution Robotics Retail, Inc. | Self checkout with visual recognition |
DE102009017694B3 (de) * | 2009-04-15 | 2010-12-02 | Göpel electronic GmbH | Anordnung einer rotatorischen Bildaufnahmeeinheit für die Abbildung von Objekten auf Leiterplatten unter einem polaren Betrachtungswinkel von 45° |
US20110175902A1 (en) * | 2010-01-20 | 2011-07-21 | Apple Inc. | Multilayer display device |
US8432540B2 (en) * | 2010-03-31 | 2013-04-30 | Cooper S.K. Kuo | Support mechanism for inspection systems |
DE102010050445B4 (de) * | 2010-11-04 | 2014-02-20 | Göpel electronic GmbH | Anordnung und Verfahren zur Korrektur von Messpositionen von zur Inspektion elektronischer Flachbaugruppen aufgenommener Messbilder |
KR101240947B1 (ko) * | 2010-12-30 | 2013-03-18 | 주식회사 미르기술 | 비전검사장치 |
CN102607804B (zh) * | 2011-01-25 | 2014-12-31 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 夹持组件及应用该夹持组件的背光模组测试装置 |
US9176536B2 (en) | 2011-09-30 | 2015-11-03 | Apple, Inc. | Wireless display for electronic devices |
US9810942B2 (en) | 2012-06-15 | 2017-11-07 | Apple Inc. | Quantum dot-enhanced display having dichroic filter |
KR20140007583A (ko) | 2012-07-09 | 2014-01-20 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시패널 검사 장치 및 그 방법 |
CN103217436B (zh) * | 2013-03-06 | 2015-05-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种背光模组瑕疵的检测方法及设备 |
US20160334196A1 (en) * | 2014-06-27 | 2016-11-17 | Marvin Carlston | Projectile |
US9918009B2 (en) * | 2015-08-03 | 2018-03-13 | GE Lighting Solutions, LLC | Method and system for imaging in a luminaire |
ITUB20159510A1 (it) * | 2015-12-22 | 2017-06-22 | Sacmi | Apparato di ispezione ottica di oggetti |
WO2019062715A1 (en) * | 2017-09-27 | 2019-04-04 | Zhejiang Dahua Technology Co., Ltd. | MONITORING DEVICE |
KR102411607B1 (ko) | 2017-10-13 | 2022-06-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널의 검사 방법 |
JP6993917B2 (ja) * | 2018-03-27 | 2022-01-14 | 本田技研工業株式会社 | 検査装置及び方法 |
CN109270714A (zh) * | 2018-10-15 | 2019-01-25 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种显示面板的检测方法 |
CN109459386B (zh) * | 2018-12-22 | 2021-07-23 | 南昌逸勤科技有限公司 | 测试设备和测试方法 |
KR102161175B1 (ko) * | 2019-10-04 | 2020-09-29 | (주)칼리온 | 디스플레이의 픽셀별 검사를 위한 3차원 스캐닝 시스템 및 그 방법 |
KR102200508B1 (ko) * | 2019-11-13 | 2021-01-08 | 팸텍주식회사 | 디퓨저 검사 장치 |
KR20220030515A (ko) * | 2020-09-02 | 2022-03-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | 해상력 측정 장치 및 그것을 이용한 해상력 측정 방법 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4629319A (en) * | 1984-02-14 | 1986-12-16 | Diffracto Ltd. | Panel surface flaw inspection |
US4894551A (en) * | 1987-06-05 | 1990-01-16 | Anima Corporation | Sectional form measuring apparatus |
JPH0820239B2 (ja) * | 1987-07-07 | 1996-03-04 | 日産自動車株式会社 | 車体計測方法 |
US4870357A (en) * | 1988-06-03 | 1989-09-26 | Apple Computer, Inc. | LCD error detection system |
FR2669180A1 (fr) * | 1990-11-12 | 1992-05-15 | Axis Vision Sarl | Machine d'inspection de composants assembles sur une carte electronique. |
US5349190A (en) * | 1991-12-02 | 1994-09-20 | Adac Laboratories | Adjustable triple-detector image data acquisition system |
AU1742895A (en) * | 1994-06-09 | 1996-01-04 | Kollmorgen Instrument Corporation | Stereoscopic electro-optical system for automated inspection and/or alignment of imaging devices on a production assembly line |
TW410524B (en) * | 1994-07-14 | 2000-11-01 | Advantest Corp | LCD panel image quality examining device and LCD image sampling method |
JPH08201750A (ja) | 1995-01-24 | 1996-08-09 | Advantest Corp | Lcdパネル画質検査装置用カメラ装置 |
JPH08292406A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Advantest Corp | Lcdパネル検査装置 |
US5790247A (en) * | 1995-10-06 | 1998-08-04 | Photon Dynamics, Inc. | Technique for determining defect positions in three dimensions in a transparent structure |
US6141034A (en) * | 1995-12-15 | 2000-10-31 | Immersive Media Co. | Immersive imaging method and apparatus |
FR2759791B1 (fr) * | 1997-02-17 | 1999-04-09 | Cogema | Dispositif de cartographie de sources de rayonnement |
KR19990017129A (ko) | 1997-08-21 | 1999-03-15 | 윤종용 | 엘씨디 패널 테스트 장치 |
TW495060U (en) | 1998-07-24 | 2002-07-11 | Inventec Corp | Brightness test device of liquid crystal display panel |
JP3673657B2 (ja) * | 1998-11-06 | 2005-07-20 | 松下電器産業株式会社 | プラズマディスプレイ蛍光体の検査装置および検査方法 |
JP3421299B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2003-06-30 | 科学技術振興事業団 | 輝度の視野角依存性ならびに場所依存性測定装置及びその測定方法 |
KR100477855B1 (ko) | 2001-08-27 | 2005-03-23 | 에스이디스플레이 주식회사 | 액정디스플레이 패널 검사장치 |
JP4052547B2 (ja) * | 2001-09-05 | 2008-02-27 | 三菱化学株式会社 | 複数の1次元ccdカメラの姿勢および位置の調整方法 |
-
2003
- 2003-07-23 KR KR1020030050449A patent/KR100541449B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-03-04 US US10/791,798 patent/US7110104B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-03-30 JP JP2004101336A patent/JP2005043341A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006268050A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Samsung Electronics Co Ltd | 画像検査装置、パネル検査方法及び表示パネルの製造方法 |
JP2006337217A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Shindenshi Corp | 表面実装基板等の外観検査方法およびその装置 |
JP4653568B2 (ja) * | 2005-06-03 | 2011-03-16 | 新電子株式会社 | 表面実装基板の外観検査方法およびその装置 |
US8818073B2 (en) | 2010-07-29 | 2014-08-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Display panel test apparatus and method of testing a display panel using the same |
KR101830679B1 (ko) | 2010-07-29 | 2018-02-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 |
CN107328791A (zh) * | 2017-07-31 | 2017-11-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种缺陷检测方法及装置 |
CN107328791B (zh) * | 2017-07-31 | 2020-06-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种缺陷检测方法及装置 |
Also Published As
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