KR20140007583A - 표시패널 검사 장치 및 그 방법 - Google Patents
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Abstract
표시패널 검사 장치는 제1 시야각에서 표시패널에서 방출되는 광의 제1 R.G.B 성분을 측정하는 제1 계측기, 제2 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제2 R.G.B 성분을 측정하는 제2 계측기, 상기 제1 R.G.B 성분을 이용하여 제1 시야각에서의 제1 xy 색좌표를 산출하고, 상기 제2 R.G.B 성분을 이용하여 제2 시야각에서의 제2 xy 색좌표를 산출하는 색좌표 산출부, 및 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표가 색좌표계 상의 스펙 영역에 포함되도록 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 패널 제어부를 포함한다. 시야각에 따른 색감이 변화가 양품 생산 기준의 스펙(specification)에 포함되도록 하여 시야각에 따른 표시패널의 색감 변화를 최소한으로 줄일 수 있다.
Description
본 발명은 표시패널 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 표시패널의 시야각에 따른 색감 불량을 보정하는 표시패널 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로 LCD(Liquid Crystal Display)나 OLED(Organic Light Emitting Display)의 표시패널은 화면을 바라보는 각도(시야각)에 따라 휘도나 RGB 픽셀 간의 밝기 차이가 나타난다. 즉, 사용자가 정면이 아니 다른 시야각에서는 표시패널의 영상 화면을 제대로 보기 어려운 점이 있다. 예를 들어, 정면에서 백색(white)로 표시되는 화면이 정면으로부터 60도의 시야각에서는 reddish 또는 greenish하게 보일 수 있다.
이러한 시야각 문제는 표시패널의 시청 품질을 떨어뜨리고, 사용자가 매번 표시패널이 사용자의 정면으로 향하도록 표시패널의 위치를 변경하여야 하는 불편을 야기한다. 이러한 시야각 문제를 해결하기 위한 최적의 방법은 시야각에 따른 표시패널의 색감 변화를 최소한으로 줄이는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 시야각에 따른 표시패널의 색감 변화를 최소화할 수 있는 표시패널 검사 장치 및 그 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사 장치는 제1 시야각에서 표시패널에서 방출되는 광의 제1 R.G.B 성분을 측정하는 제1 계측기, 제2 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제2 R.G.B 성분을 측정하는 제2 계측기, 상기 제1 R.G.B 성분을 이용하여 제1 시야각에서의 제1 xy 색좌표를 산출하고, 상기 제2 R.G.B 성분을 이용하여 제2 시야각에서의 제2 xy 색좌표를 산출하는 색좌표 산출부, 및 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표가 색좌표계 상의 스펙 영역에 포함되도록 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 패널 제어부를 포함하고, 상기 타겟 색좌표에 따라 상기 표시패널에 공급되는 데이터 신호가 조절된다.
상기 제1 시야각은 상기 표시패널의 정면일 수 있다.
상기 제1 계측기와 상기 제2 계측기는 서로 다른 시야각에서 상기 표시패널의 동일한 측정 지점에서 방출되는 광을 동일한 거리에서 측정할 수 있다.
상기 색좌표 산출부는 상기 제1 R.G.B 성분을 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하고, 상기 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제1 xy 색좌표로 변환할 수 있다.
상기 색좌표 산출부는 상기 제2 R.G.B 성분을 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하고, 상기 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제2 xy 색좌표로 변환할 수 있다.
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 reddish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시킬 수 있다.
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 greenish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정할 수 있다.
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 greenish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시킬 수 있다.
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 reddish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시패널 검사 방법은 표시패널을 화이트로 발광시키는 단계, 제1 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제1 R.G.B 성분을 측정하는 단계, 제2 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제2 R.G.B 성분을 측정하는 단계, 상기 제1 R.G.B 성분을 이용하여 제1 시야각에서의 제1 xy 색좌표를 산출하는 단계, 상기 제2 R.G.B 성분을 이용하여 제2 시야각에서의 제2 xy 색좌표를 산출하는 단계, 및 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표가 색좌표계 상의 스펙 영역에 포함되도록 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계를 포함하고, 상기 타겟 색좌표에 따라 상기 표시패널에 공급되는 데이터 신호가 조절된다.
상기 제1 R.G.B 성분을 측정하는 단계는, 상기 표시패널의 정면에 위치한 제1 계측기를 이용하여 상기 표시패널의 측정 지점에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제2 R.G.B 성분을 측정하는 단계는, 상기 표시패널의 정면과 다른 시야각에서 상기 측정 지점과 상기 제1 계측기 간의 거리와 동일한 거리에 위치한 제2 계측기를 이용하여 상기 표시패널의 측정 지점에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제1 xy 색좌표를 산출하는 단계는, 상기 제1 R.G.B 성분을 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하는 단계, 및 상기 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제1 xy 색좌표로 변환하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제2 xy 색좌표를 산출하는 단계는, 상기 제2 R.G.B 성분을 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하는 단계, 및 상기 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제2 xy 색좌표로 변환하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계는, 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 reddish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시키는 단계를 포함할 수 있다.
상기 표시패널의 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시키는 단계는, 상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 greenish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계는, 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 greenish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시키는 단계를 포함할 수 있다.
상기 표시패널의 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시키는 단계는, 상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 reddish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계를 포함할 수 있다.
시야각에 따른 색감이 변화가 양품 생산 기준의 스펙(specification)에 포함되도록 하여 시야각에 따른 표시패널의 색감 변화를 최소한으로 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 방법을 설명하기 위한 그래프이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 방법을 설명하기 위한 그래프이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 제1 실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 제1 실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시패널 검사 장치(100)는 제1 계측기(21), 제2 계측기(22), 색좌표 산출부(30) 및 패널 제어부(40)를 포함한다.
제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)는 표시패널(10)의 측정 지점(P)으로부터 동일한 거리(d)에서 표시패널(10)에서 방출되는 광의 R(적색).G(녹색).B(청색)을 측정한다. 이때, 제1 계측기(21)는 표시패널(10)의 정면에서 측정 지점(P)을 향하고, 제2 계측기(21)는 표시패널(10)의 정면으로부터 정해진 각도의 시야각에서 측정 지점(P)을 향한다. 제1 계측기(21)와 제2 계측기(22)는 동일한 측정 지점(P)에서 방출되는 광을 측정한다.
제1 계측기(21)는 항상 표시패널(10)의 정면에서 측정 지점(P)을 향하도록 고정되어 있을 수 있으며, 제2 계측기(22)는 여러 가지 각도의 시야각에서 측정 지점(P)을 향하도록 이동 가능하게 구성될 수 있다.
제1 계측기(21)는 표시패널(10)에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정하기 위한 컬러 필터 및 적외선 영역의 광을 흡수하기 위한 적외선 필터를 포함할 수 있다. 컬러 필터는 R 성분만을 투과시키는 적색 필터, G 성분만을 투과시키는 녹색 필터 및 B 성분만을 투과시키는 청색 필터를 포함할 수 있다. 표시패널(10)에서 방출되는 광은 적외선 필터에 의해 적외선 영역의 광이 제거된다. 적외선 영역의 광이 제거된 광은 분광되어 적색 필터, 녹색 필터 및 청색 필터 각각을 투과한다. 제1 계측기(21)는 R.G.B 성분의 광 각각을 전기적 신호로 변환하여 색좌표 산출부에 전달한다.
제2 계측기(22)는 제1 계측기(21)와 동일하게 구성되고, 제1 계측기(21)와 다른 시야각에서 표시패널(10)에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정한다. 제2 계측기(22)는 R.G.B 성분의 광 각각을 전기적 신호로 변환하여 색좌표 산출부에 전달한다. 전기적 신호는 표시패널(10)이 방출하는 광의 R.G.B. 성분을 나타낸다.
즉, 제1 계측기(21)는 제1 시야각에서 표시패널(10)이 방출하는 광의 제1 R.G.B 성분을 색좌표 산출부(30)에 전달하고, 제2 계측기(22)는 제2 시야각에서 표시패널(10)이 방출하는 광의 제2 R.G.B 성분을 색좌표 산출부(30)에 전달한다.
색좌표 산출부(30)는 제1 계측기(21)에서 전달받은 제1 R.G.B 성분을 이용하여 제1 시야각에서의 제1 xy 색좌표를 산출하고, 제2 계측기(22)에서 전달받은 제2 R.G.B 성분을 이용하여 제2 시야각에서의 제2 xy 색좌표를 산출한다.
제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)에 포함된 컬러 필터의 분광 특성은 CIE에서 제정한 삼자극 함수와 동일해야 하는데, 실제로 컬러 필터의 분광 특성은 CIE 삼자극 함수와 일치하지 않는다.
따라서, 색좌표 산출부(30)는 제1 R.G.B 성분 및 제2 R.G.B 성분을 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정한 후 CIE 삼자극 함수 XYZ를 xy 색좌표로 변환한다.
수학식 1은 측정된 R.G.B 성분을 CIE 삼자극 함수로 보정하는 수식의 일예를 나타낸다.
여기서, {R,G,B}s는 측정된 R.G.B 성분이고, {R,G,B}c는 CIE 삼자극 함수이고, A는 3 3 변환행렬을 나타낸다. 수학식 1에 의해 제1 계측기(21)에서 측정된 제1 R.G.B 성분 및 제2 계측기(22)에서 측정된 제2 R.G.B 성분은 CIE 삼자극 함수 XYZ로 표현된다.
색좌표 산출부(30)는 CIE 삼자극 함수 XYZ를 xy 색좌표로 변환한다.
수학식 2는 CIE 삼자극 함수 XYZ를 xy 색좌표로 변환하는 수식의 일예를 나타낸다.
여기서, xy 색좌표는 CIEXYZ 1931 색좌표계 상의 값이다.
색좌표 산출부(30)는 수학식 1, 2를 이용하여 제1 계측기(21)의 제1 R.G.B 성분을 제1 xy 색좌표로 변환하고, 제2 계측기(22)의 제2 R.G.B 성분을 제2 xy 색좌표로 변환할 수 있다.
패널 제어부(40)는 CIEXYZ 1931 색좌표계 상에서 표시패널(10)의 시야각에 따른 색감이 양품인지 여부를 결정하는 스펙(specification)을 포함한다. 스펙 영역은 표시패널(10)을 화이트(white)로 발광시킬 때, 표시패널(10)의 시야각에 따른 색감 변화를 허용하는 범위이다. 스펙 영역은 표시패널(10)의 생산자의 의도에 따라 결정될 수 있다.
패널 제어부(40)는 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표가 스펙 영역에 포함되는지 여부를 확인한다. 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표가 스펙 영역에 포함되는 경우, 표시패널(10)은 제1 시야각 및 제2 시야각에 대해 양품이다.
제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않으면, 패널 제어부(40)는 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표가 모두 스펙 영역에 포함되도록 타겟 색좌표를 보정한다. 타겟 색좌표는 표시패널(10)에 입력되는 RGB 데이터에 대해 표시패널(10)이 색을 표현하는 기준이 되는 색좌표이다. 타겟 색좌표에 따라 표시패널(10)에 공급되는 데이터 신호가 조절된다.
예를 들어, 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표 중 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 reddish한 것으로 확인되면, 패널 제어부(40)는 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표를 모두 스펙 영역에 포함시키는 정도의 가중치로 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시킨다. 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표 중 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 greenish한 것으로 확인되면, 패널 제어부(40)는 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표를 모두 스펙 영역에 포함시키는 정도의 가중치로 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시킨다.
표시패널(10)은 패널 제어부(40)에 의해 결정된 가중치에 따라 보정된 타겟 색좌표에 따라 RGB 데이터를 처리하여 표시하게 된다. 즉, 표시패널(10)은 보정된 타겟 색좌표에 따라 표시패널에 공급되는 데이터 신호를 조절한다.
이상에서, 2개의 시야각에서의 xy 색좌표를 산출하여 타겟 색좌표를 보정하는 것으로 설명하였으나, 제안하는 표시패널 검사 장치(100)는 2 이상의 시야각에서 표시패널(10)의 R.G.B 성분을 측정하여 2 이상의 xy 색좌표가 스펙 영역에 포함되도록 타겟 색좌표를 보정할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 1 및 2를 참조하면, 표시패널 검사 장치(100)는 표시패널(10)을 화이트로 발광시킨다(S110). 이때, 제1 계측기(21)는 표시패널(10)의 정면(제1 시야각)에서 측정 지점(P)을 향하도록 설정되고, 제2 계측기(22)는 표시패널(10)의 정면으로부터 정해진 각도의 제2 시야각에서 측정 지점(P)을 향하도록 설정된다. 측정 지점(P)은 표시패널(10)의 가운데 부분일 수도 있고, 임의의 위치 부분일 수도 있다.
제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)는 표시패널(10)에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정한다(S120). 제1 계측기(21)는 제1 시야각에서 표시패널(10)이 방출하는 광의 제1 R.G.B 성분을 측정하고, 제2 계측기(22)는 제2 시야각에서 표시패널(10)이 방출하는 광의 제2 R.G.B 성분을 측정한다.
제1 계측기(21)에서 측정된 제1 R.G.B 성분으로부터 CIEXYZ 1931 색좌표계 상의 제1 xy 색좌표가 산출된다(S130). 이때, 제1 R.G.B 성분은 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정되고, 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ가 제1 xy 색좌표로 변환된다.
제2 계측기(22)에서 측정된 제2 R.G.B 성분으로부터 CIEXYZ 1931 색좌표계 상의 제2 xy 색좌표가 산출된다(S140). 이때, 제2 R.G.B 성분은 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정되고, 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ가 제2 xy 색좌표로 변환된다.
표시패널 검사 장치(100)는 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표는 CIEXYZ 1931 색좌표계 상의 스펙 영역에 포함되는지 여부를 확인하고, 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않으면 제1 xy 색좌표 및 제2 xy 색좌표가 모두 스펙 영역에 포함되도록 표시패널(10)의 타겟 색좌표를 보정한다(S150). 표시패널(10)의 타겟 색좌표를 보정하는 방법에 대하여 도 3을 참조하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 방법을 설명하기 위한 그래프이다.
도 3을 참조하면, CIEXYZ 1931 색좌표계 상에서 흑체(block body) 라인, greenish 라인, reddish 라인 및 스펙 영역(Spec. Area)을 나타낸다. 흑체(block body), greenish 라인, reddish 라인은 플랑크 곡선(Planck's curve)을 따른다.
화이트로 발광하는 표시패널(10)을 계측기(21, 22)로 측정하였을 때, xy 색좌표가 흑체 라인을 중심으로 greenish 라인을 벗어나면 화이트를 표시하는 표시패널(10)이 greenish하게 보이는 것이다.
그리고, 화이트로 발광하는 표시패널(10)을 계측기(21, 22)로 측정하였을 때, xy 색좌표가 흑체 라인을 중심으로 reddish 라인을 벗어나면 화이트를 표시하는 표시패널(10)이 reddish하게 보이는 것이다.
정면의 제1 시야각에서 제1 계측기(21)에 의해 측정된 광의 xy 색좌표가 G1이고, 소정의 제2 시야각에서 제2 계측기(22)에 의해 측정된 광의 xy 색좌표가 G2라고 하자. 정면에서 표시패널(10)을 봤을 때는 화이트로 보이는 반면 제2 시야각에서 표시패널(10)을 봤을 때 greenish하게 보이는 greenish case이다. G2가 greenish하게 스펙 영역을 벗어나므로, 타겟 색좌표의 y를 감소시키고 x를 증가시켜 G2가 스펙 영역에 포함되도록 한다. 이때, G1이 스펙 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 타겟 색좌표의 y를 감소시키고 x를 증가시킨다. 그리고 가능하면 G1이 reddish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 타겟 색좌표의 y를 감소시키고 x를 증가시키는 것이 바람직하다. 그러면 정면에서 표시패널(10)이 화이트로 보이도록 유지하면서 제2 시야각에서 표시패널(10)이 greenish하게 보이는 정도를 줄일 수 있다. 표시패널(10)의 타겟 색좌표는 G1 및 G2가 플랑크 곡선의 등온 라인을 따라 이동되도록 보정될 수 있다.
정면의 제1 시야각에서 제1 계측기(21)에 의해 측정된 광의 xy 색좌표가 R1이고, 소정의 제2 시야각에서 제2 계측기(22)에 의해 측정된 광의 xy 색좌표가 R2라고 하자. 정면에서 표시패널(10)을 봤을 때는 화이트로 보이는 반면 제2 시야각에서 표시패널(10)을 봤을 때 reddish하게 보이는 reddish case이다. R2가 reddish하게 스펙 영역을 벗어나므로, 타겟 색좌표의 x를 감소시키고 y를 증가시켜 R2가 스펙 영역에 포함되도록 한다. 이때, R1이 스펙 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 타겟 색좌표의 x를 감소시키고 y를 증가시킨다. 그리고 가능하면 R1이 greenish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 타겟 색좌표의 x를 감소시키고 y를 증가시키는 것이 바람직하다. 그러면 정면에서 표시패널(10)이 화이트로 보이도록 유지하면서 제2 시야각에서 표시패널(10)이 reddish하게 보이는 정도를 줄일 수 있다. 표시패널(10)의 타겟 색좌표는 R1 및 R2가 플랑크 곡선의 등온 라인을 따라 이동되도록 보정될 수 있다.
3 이상의 시야각에서 표시패널(10)의 광을 측정하여 3 이상의 xy 색좌표가 산출된 경우에도 3 이상의 xy 색좌표가 스펙 영역에 포함되도록 표시패널(10)의 타겟 색좌표를 보정할 수 있다.
이러한 방법으로 시야각에 따른 표시패널(10)의 색감 변화를 최소한으로 줄일 수 있다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
10 : 표시패널
21 : 제1 계측기
22 : 제2 계측기
30 : 색좌표 산출부
40 : 패널 제어부
100 : 표시패널 검사 장치
21 : 제1 계측기
22 : 제2 계측기
30 : 색좌표 산출부
40 : 패널 제어부
100 : 표시패널 검사 장치
Claims (18)
- 제1 시야각에서 표시패널에서 방출되는 광의 제1 R.G.B 성분을 측정하는 제1 계측기;
제2 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제2 R.G.B 성분을 측정하는 제2 계측기;
상기 제1 R.G.B 성분을 이용하여 제1 시야각에서의 제1 xy 색좌표를 산출하고, 상기 제2 R.G.B 성분을 이용하여 제2 시야각에서의 제2 xy 색좌표를 산출하는 색좌표 산출부; 및
상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표가 색좌표계 상의 스펙 영역에 포함되도록 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 패널 제어부를 포함하고,
상기 타겟 색좌표에 따라 상기 표시패널에 공급되는 데이터 신호가 조절되는 표시패널 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 제1 시야각은 상기 표시패널의 정면인 표시패널 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 제1 계측기와 상기 제2 계측기는 서로 다른 시야각에서 상기 표시패널의 동일한 측정 지점에서 방출되는 광을 동일한 거리에서 측정하는 표시패널 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 색좌표 산출부는 상기 제1 R.G.B 성분을 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하고, 상기 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제1 xy 색좌표로 변환하는 표시패널 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 색좌표 산출부는 상기 제2 R.G.B 성분을 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하고, 상기 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제2 xy 색좌표로 변환하는 표시패널 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 reddish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시키는 표시패널 검사 장치. - 제6 항에 있어서,
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 greenish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 표시패널 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 greenish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시키는 표시패널 검사 장치. - 제8 항에 있어서,
상기 패널 제어부는 상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 reddish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 표시패널 검사 장치. - 표시패널을 화이트로 발광시키는 단계;
제1 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제1 R.G.B 성분을 측정하는 단계;
제2 시야각에서 상기 표시패널에서 방출되는 광의 제2 R.G.B 성분을 측정하는 단계;
상기 제1 R.G.B 성분을 이용하여 제1 시야각에서의 제1 xy 색좌표를 산출하는 단계;
상기 제2 R.G.B 성분을 이용하여 제2 시야각에서의 제2 xy 색좌표를 산출하는 단계; 및
상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표가 색좌표계 상의 스펙 영역에 포함되도록 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계를 포함하고,
상기 타겟 색좌표에 따라 상기 표시패널에 공급되는 데이터 신호가 조절되는 는 표시패널 검사 방법. - 제10 항에 있어서,
상기 제1 R.G.B 성분을 측정하는 단계는,
상기 표시패널의 정면에 위치한 제1 계측기를 이용하여 상기 표시패널의 측정 지점에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정하는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 제2 R.G.B 성분을 측정하는 단계는,
상기 표시패널의 정면과 다른 시야각에서 상기 측정 지점과 상기 제1 계측기 간의 거리와 동일한 거리에 위치한 제2 계측기를 이용하여 상기 표시패널의 측정 지점에서 방출되는 광의 R.G.B 성분을 측정하는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제10 항에 있어서,
상기 제1 xy 색좌표를 산출하는 단계는,
상기 제1 R.G.B 성분을 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하는 단계; 및
상기 제1 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제1 xy 색좌표로 변환하는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제10 항에 있어서,
상기 제2 xy 색좌표를 산출하는 단계는,
상기 제2 R.G.B 성분을 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ로 보정하는 단계; 및
상기 제2 CIE 삼자극 함수 XYZ를 상기 제2 xy 색좌표로 변환하는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제10 항에 있어서,
상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계는,
상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 reddish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시키는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제15 항에 있어서,
상기 표시패널의 타겟 색좌표의 x를 감소시키거나 y를 증가시키는 단계는,
상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 greenish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제10 항에 있어서,
상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계는,
상기 제1 xy 색좌표 및 상기 제2 xy 색좌표 중 적어도 어느 하나가 스펙 영역에 포함되지 않고 greenish한 것으로 확인되면 상기 표시패널의 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시키는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법. - 제17 항에 있어서,
상기 표시패널의 타겟 색좌표의 y를 감소시키거나 x를 증가시키는 단계는,
상기 제1 xy 색좌표가 상기 색좌표계 상의 reddish 라인을 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 표시패널의 타겟 색좌표를 보정하는 단계를 포함하는 표시패널 검사 방법.
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