CN110806650B - 基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法 - Google Patents

基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法 Download PDF

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Abstract

本公开涉及一种基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法,该基板玻璃检测设备用于检测基板玻璃的对比度,其包括第一支架和第二支架,第一支架包括第一底座和设置在第一底座上端的第一载物台,第一载物台上设置有光源和第一偏振片,第二支架包括第二底座和设置在第二底座上端的第二载物台,第二载物台上设置第二偏振片,第二偏振片绕垂直其表面的轴线可转动地设置于第二载物台,第一载物台能够相对于第一底座转动和/或第二载物台能够相对于第二底座转动,以使该基板玻璃检测设备处于检测位置,第一偏振片所在的平面和第二偏振片所在的平面能够成角度设置。上述设备能够使基板玻璃上显现出用于判定对比度的图案,以此实现对其对比度的检测。

Description

基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法
技术领域
本公开涉及基板玻璃生产技术领域,具体地,涉及一种基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法。
背景技术
基板玻璃是液晶面板的主要部件和基础载体,在整个液晶面板产业链中占据重要的战略地位,液晶显示器的很多性能比如分辨率、透光度、重量、视角等都与基板玻璃的性能密切相关。
在实际生产中,有些基板玻璃可能会存在对比度不均的问题,这会影响到液晶面板的质量。但是,现有技术中尚未存在能够有效检测出基板玻璃的对比度不均的方法或设备。
发明内容
本公开的目的是提供一种基板玻璃检测设备,该设备能够有效检测出基板玻璃的对比度是否合格。
为了实现上述目的,本公开提供一种基板玻璃检测设备,其包括第一支架和第二支架,所述第一支架包括第一底座和设置在所述第一底座上端的第一载物台,所述第一载物台上设置有光源和第一偏振片,所述第二支架包括第二底座和设置在所述第二底座上端的第二载物台,所述第二载物台上设置第二偏振片,所述第二偏振片绕垂直其表面的轴线可转动地设置于所述第二载物台,所述第一载物台能够相对于第一底座转动和/或所述第二载物台能够相对于第二底座转动,以使该基板玻璃检测设备处于检测位置,所述第一偏振片所在的平面和所述第二偏振片所在的平面能够成角度设置。
可选地,在所述检测位置,所述第一偏振片所在的平面和所述第二偏振片所在的平面之间的角度为60°-120°,优选为90°。
可选地,所述第一载物台包括构造成L形结构的支撑板和止挡板,所述光源为面光源且一侧贴靠在所述支撑板上且下端由所述止挡板止挡,所述第一偏振片贴靠在所述光源的另一侧且下端由所述止挡板止挡,所述支撑板绕第一水平转轴可转动地设置在第一底座上。
可选地,所述第二底座的上端面设置有沿水平方向贯通的凹槽,所述第二载物台位于所述凹槽的两个侧壁之间,并通过第二水平转轴可转动地支撑于所述凹槽的两个侧壁,所述第二载物台中心部位开设有偏振片安装孔,所述第二偏振片设置于所述偏振片安装孔。
可选地,所述第二底座的上端构造成U形架,所述U形架包括第一杆、第二杆以及连接在所述第一杆和第二杆之间的第三杆,所述第二水平转轴包括同轴设置的第一半轴和第二半轴,所述第一半轴的两端分别连接所述第一杆和所述第二载物台的一侧,所述第二半轴的两端分别连接所述第二杆和所述第二载物台的另一侧。
可选地,所述第一杆上设置有用于安装所述第一半轴的第一安装孔,所述第一杆上还设置有与所述第一安装孔连通的第一紧固螺孔,所述第一紧固螺孔的轴线与所述第一安装孔的轴线垂直,第一紧固螺丝穿设于所述第一紧固螺孔以用于将所述第一半轴周向锁止在所述第一安装孔内;和/或,
所述第二杆上设置有用于安装所述第二半轴的第二安装孔,所述第二杆上还设置有与所述第二安装孔连通的第二紧固螺孔,所述第二紧固螺孔的轴线与所述第二安装孔的轴线垂直,第二紧固螺丝穿设于所述第二紧固螺孔以用于将所述第二半轴周向锁止在所述第二安装孔内。
可选地,所述第二底座上设置有用于指示所述第二载物台转动角度的角度盘,所述第二载物台对应位置设置有用于指示角度盘上刻度的指示件。
可选地,所述第二载物台中心部位开设有偏振片安装孔,所述第二偏振片通过轴承嵌设在所述偏振片安装孔内,所述第二偏振片的外缘与所述轴承的内圈相连,所述轴承的外圈固定在所述偏振片安装孔的内壁。
可选地,所述第二载物台上还设置有磁铁块,所述第二偏振片为圆形且直径大于所述轴承的内径,所述磁铁块用于将所述第二偏振片锁止在所述轴承的内圈上。
根据本公开的另一方面,还提供了一种基板玻璃对比度检测方法,采用上述的基板玻璃检测设备,包括:
确定检测位置步骤:
记所述第一偏振片所在的平面和所述第二偏振片所在的平面之间的角度为偏振片夹角,所述第二偏振片远离所述第一偏振片的一侧为观察侧,将基板玻璃放置于所述第一偏振片上,使所述偏振片夹角大于0°且小于180°,且使所述第一偏振片的透光轴方向和所述第二偏振片的透光轴方向投影至D竖直面时正交,以使从所述观察侧观测到所述基板玻璃上出现明暗对比度最明显的图案,此时,所述第一偏振片和所述第二偏振片处于检测位置;
获得参照图案步骤:将标准的基板玻璃放置在处于所述检测位置的所述第一偏振片上以获得参照图案;
检测步骤:将待检测的基板玻璃放置在处于所述检测位置的第一偏振片上以获得待评判图案;
判定步骤:将所述待评判图案和所述参照图案进行比较,以判断所述待检测的基板玻璃的对比度情况。
可选地,所述确定检测位置的步骤包括:
第一步,绕水平轴线或绕竖直轴线转动所述第一载物台和/或第二载物台,以使所述偏振片夹角大于0°且小于180°;
第二步,将基板玻璃放置于所述第一偏振片上,绕垂直于所述第二偏振片的轴线旋转所述第二偏振片以使该第二偏振片的透光轴的方向改变,直至在所述观察侧看到所述基板玻璃上出现明暗对比度最明显的图案,此时,所述第一偏振片的透光轴方向和所述第二偏振片的透光轴方向投影至D竖直面时正交。
可选地,所述确定检测位置的步骤包括:
第一步,使所述第一偏振片和所述第二偏振片处于相对设置且相互平行的位置,绕垂直于所述第二偏振片的轴线旋转所述第二偏振片,直至所述光源的光线无法同时穿过所述第一偏振片和所述第二偏振片;
第二步,绕水平轴线或绕竖直轴线转动所述第一载物台和/或第二载物台,直至在所述观察侧看到所述基板玻璃上出现明暗对比度最明显的图案。
可选地,在所述检测位置,所述偏振片夹角为60°-120°,优选为90°。
通过上述技术方案,通过将第二偏振片可转动地设置于第二载物台能够方便地使第一偏振片和第二偏振片的透光轴方向大致正交。通过将第一偏振片和第二偏振片分别设置于不同的支架上,且第一载物台和第二载物台中的至少一者能够相对于底座转动,从而便于调整第一偏振片和第二偏振片之间的相对位置,使之处于检测位置。通过上述的基板玻璃检测设备,将基板玻璃放置于处于检测位置的第一偏振片和第二偏振片之间,能够使基板玻璃上显现出用于判定对比度是否合格的图案,以此实现对基板玻璃对比度的检测。
本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本公开的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本公开,但并不构成对本公开的限制。在附图中:
图1是本公开一种实施方式的基板玻璃检测设备的立体结构示意图;
图2是本公开一种实施方式的第二支架的立体结构示意图;
图3是图2中的第二载物台和部分第二底座的立体结构示意图;
图4是偏振片夹角为90°时待检测的基板玻璃的照片;
图5是偏振片夹角为60°时待检测的基板玻璃的照片;
图6是偏振片夹角为120°时待检测的基板玻璃的照片;
图7是偏振片夹角为90°时标准的基板玻璃的照片。
附图标记说明
100-基板玻璃检测设备;10-第一支架;11-第一底座;12-第一载物台;121-支撑板;122-止挡板;13-光源;14-第一偏振片;15-第一水平转轴;16-连接杆;20-第二支架;21-第二底座;211-第一杆;212-第二杆;213-第三杆;214-第一安装孔;215-第一紧固螺丝;216-第二安装孔;217-第二紧固螺孔;22-第二载物台;221-偏振片安装孔;23-第二偏振片;24-凹槽;25-第二水平转轴;251-第一半轴;252-第二半轴;26-角度盘;27-指示件;28-轴承;29-磁铁块;50-观察侧;200-基板玻璃;θ-偏振片夹角;A-暗区域;B-亮区域。
具体实施方式
以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开,并不用于限制本公开。
在本公开中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上、下、左、右”通常是指基板玻璃检测设备位于水平面上的状态下定义的,具体地可以参考如图1所示的图面方向。“内、外”是指相关零部件轮廓的内、外。此外,本公开实施例中使用的术语“第一”、“第二”等是为了区别一个要素和另一个要素,不具有顺序性和重要性。另外,在本公开中,正交指的是两张偏振片的透光轴方向大致为相互垂直,不一定是标准的90°,稍大于90°或稍小于90°也算是正交。在本申请中,在检测时第一偏振片14和第二偏振片23并非相互平行,第一偏振片14的透光轴方向和第二偏振片23的透光轴方向正交指的是第一偏振片14的透光轴方向和第二偏振片23的透光轴方向投影至如图1所示的D竖直面时是相互垂直的,D竖直面即是垂直于图1的图面方向的竖直面。
如图1-图3所示,根据本公开的一个方面,提供了一种基板玻璃检测设备100,用于检测基板玻璃200的对比度。该基板玻璃检测设备100包括第一支架10和第二支架20。第一支架10包括第一底座11和设置在第一底座11上端的第一载物台12。第一载物台12上设置有光源13和第一偏振片14。第二支架20包括第二底座21和设置在第二底座21上端的第二载物台22。第二载物台22上设置第二偏振片23,第二偏振片23绕垂直其表面的轴线可转动地设置于第二载物台22。第一载物台12能够相对于第一底座11转动和/或第二载物台22能够相对于第二底座21转动,以使该基板玻璃检测设备100处于检测位置,第一偏振片14所在的平面和第二偏振片23所在的平面能够成角度设置。
在本公开,如图1所示,第一载物台12和第二载物台22可以是绕水平轴线X旋转,也可以是绕竖直轴线Z轴旋转,本公开对此不作限制。为了便于说明,以下以第一载物台12和第二载物台22绕水平轴线X旋转为例,进行说明。
在需要检测时,将第一支架10和第二支架20相对布置,以使第一偏振片14和第二偏振片23相对设置,且光源13向第一偏振片14投射的光线,依次穿过第一偏振片14和第二偏振片23。在检测开始前,可以旋转第一载物台12和/或第二载物台22使得第一偏振片14和第二偏振片23平行设置,然后可以通过绕垂直其表面的轴线旋转第二偏振片23并观察依次通过第一偏振片14和第二偏振片23的光线,直到光源13的所有光线无法同时穿过第一偏振片14和第二偏振片23,即透过第二偏振片23完全看不到第一偏振片14背后的光源13,从而使第一偏振片14的透光轴方向和第二偏振片23的透光轴方向大致为正交。然后,绕水平轴线X旋转,转动第一载物台12和/或第二载物台22以使第一偏振片14所在的平面和第二偏振片23所在的平面能够成角度设置,从而使基板玻璃检测设备100处于检测位置。此时,如图1所示,第一偏振片14的透光轴方向和第二偏振片23的透光轴方向均投影至D竖直面上时仍是正交的。
在检测位置时,第一偏振片14和第二偏振片23所在的平面之间具有夹角,为了便于描述,在下文中将此夹角称为偏振片夹角θ。需要说明的是,如图1所示,当绕水平轴线X旋转时,本申请中的偏振片夹角θ具体指的是,第一偏振片14的光线射出面和第二偏振片23的光线入射面之间的开口朝上的夹角,可以参考图1中的角θ。
第二偏振片23背离第一偏振片14的一侧为观察侧50。在该检测位置时,将基板玻璃200放置于第一偏振片14和第二偏振片23之间,且基板玻璃200平行于第一偏振片14放置,在观察侧50透过第二偏振片23观测基板玻璃200,此时基板玻璃200上能够显现出用于判定对比度是否合格的图案,如图4所示。从图中可以明显看出,基板玻璃200上出现了对比度很明显的暗区域A和亮区域B。
通过将第二偏振片23可转动地设置于第二载物台22能够方便地使第一偏振片14和第二偏振片23的透光轴方向大致正交。通过将第一偏振片14和第二偏振片23分别设置于不同的支架上,且第一载物台12和第二载物台22中的至少一者能够相对于底座转动,从而便于调整第一偏振片14和第二偏振片23之间的相对位置,使之处于检测位置。通过上述的基板玻璃检测设备100,将基板玻璃200放置于处于检测位置的第一偏振片14和第二偏振片23之间,能够使基板玻璃200上显现出用于判定对比度是否合格的图案,以此实现对基板玻璃200对比度的检测。
在本公开中,对偏振片夹角θ的具体数值不作限制。在一种实施方式中,在检测位置,第一偏振片14所在的平面和第二偏振片23所在的平面之间的角度可以为60°-120°。发明人通过不断实验发现,如图4-图6所示,当偏振片夹角θ为60°-120°时,在观察侧50透过第二偏振片23观测基板玻璃200,基板玻璃200上能够显现出具有对比度明显的暗区域A和亮区域B的图案。需要说明的是,发明人发现,当第一偏振片14和第二偏振片23处于现有技术中的相互平行的状态时,绕垂直于第二偏振片23轴线的方向旋转第二偏振片23,在基板玻璃200上完全无法显现出上述的图案。
优选地,第一偏振片14所在的平面和第二偏振片23所在的平面之间的角度为90°,即偏振片夹角θ为90°。如图4-图6所示,通过旋转载物台,使得偏振片夹角θ从60°转到90°的过程中,图案会越来越清晰。同时,偏振片夹角θ从90°转到120°的过程中,图案会越来越模糊。因此,当偏振片夹角θ为90°能够得到最为清晰的图案,从而能够提高对基板玻璃200对比度检测的准确率。
可选地,第一偏振片14和第二偏振片23可位于同一高度上,第一偏振片14与水平面的夹角为45°,且第二偏振片23与水平面的夹角也为45°。第一偏振片14的上端与第二偏振片23的上端距离较远,第一偏振片14的下端与第二偏振片23的下端距离较近,即第一偏振片14和第二偏振片23大致构成Y字形。这样既方便在第一载物台12上放置基板玻璃200,而且基板玻璃200不易滑落,又方便工作人员站在观察侧50通过第二偏振片23观察基板玻璃200,不用过于抬头或弯腰进行观测。
在本公开中,第一载物台12可以根据设计需要形成任意适当的结构和形状。在一种实施方式中,为了便于放置第一偏振片14和基板玻璃200,如图1所示,第一载物台12包括可构造成L形结构的支撑板121和止挡板122。光源13为面光源,且光源13的一侧贴靠在支撑板121上且下端由止挡板122止挡,第一偏振片14贴靠在光源13的另一侧且下端由止挡板122止挡。即光源13设置于支撑板121和第一偏振片14之间。支撑板121绕第一水平转轴15可转动地设置在第一底座11上,以带动第一偏振片14能够绕第一水平转轴15转动。第一水平转轴15与水平面平行,第一载物台12在旋转时为俯仰式旋转。如图1所示,第一水平转轴15与水平轴线X平行。可选地,面光源可以采用平面灯。
在其他实施方式中,光源13还可以是一组灯源,并在这些灯源与第一偏振片14之间放置白色的蒙布,从而使得光源13的光线能够均匀地照射到第一偏振片14上。
通过构造成L形结构的第一载物台12,在安装光源13和第一偏振片14时仅需将其放置于支撑板121上,通过止挡板122抵靠于光源13和第一偏振片14的下端以对其进行止挡,从而能够方便地安装和拆卸光源13和第一偏振片14,也便于调整第一偏振片14的位置。另外,在检测基板玻璃200时,可以直接将基板玻璃200放置于第一偏振片14上并通过止挡板122对其止挡,如此便能方便地完成对基板玻璃200的安装,安装拆卸方便,而且不会对基板玻璃200造成损伤。
可选地,第一载物台12的背面通过连接杆16与第一底座11连接,连接杆16固定于第一载物台12的背面。可选地,连接杆16和第一底座11之间设置有紧固螺栓,紧固螺栓同时穿设于连接杆16和第一底座11。当需要调节第一载物台12的角度时,拧松紧固螺栓,扳动第一载物台12至所需角度,然后拧紧紧固螺栓,从而将第一载物台12锁止于所需角度。或者,在其他实施方式中,可以将连接杆16带阻尼地转动设置于第一底座11的上端,以方便调节第一载物台12的角度
在本公开中,第二载物台22可以根据设计需要形成任意适当的结构和形状,只要能够承载第二偏振片23即可。在一种实施方式中,如图2和图3所示,第二底座21的上端面设置有沿水平方向贯通的凹槽24,第二载物台22位于凹槽24的两个侧壁之间,并通过第二水平转轴25可转动地支撑于凹槽24的两个侧壁。如图1所示,第二水平转轴25与水平轴线X平行。由于设置有凹槽24,使得第二载物台22能够在载物的同时,不会阻挡第二偏振片23,即不会妨碍在观察侧50透过第二偏振片23来观测第一偏振片14和第二偏振片23之间的基板玻璃200,从而便于在观察侧50透过第二偏振片23观察到基板玻璃200上的图案。
在本公开中,水平方向贯通的凹槽24可以根据设计需要采用任意适当的结构和形状。在一种实施方式中,第二底座21的上端构造成U形架,U形架包括第一杆211、第二杆212以及连接在第一杆211和第二杆212之间的第三杆213。第二水平转轴25包括同轴设置的第一半轴251和第二半轴252,第一半轴251的两端分别连接第一杆211和第二载物台22的一侧,第二半轴252的两端分别连接第二杆212和第二载物台22的另一侧。第二载物台22的两侧分别通过第一半轴251和第二半轴252连接于U形架的两个侧壁之间。
通过将第二底座21的上端设置为U形架,并通过同轴设置的第一半轴251和第二半轴252将第二载物台22连接于U形架,这样既不会对第二偏振片23造成阻挡,又能够方便地绕第二水平转轴25转动第二载物台22,以调节偏振片夹角θ。
在其他实施方式中,第二底座21的上端还可以构造成Y形架,第二载物台22设置于Y形架的顶部的两个分支之间。
如图3所示,第一杆211上设置有用于安装第一半轴251的第一安装孔214,第一杆211上还设置有与第一安装孔214连通的第一紧固螺孔,第一紧固螺孔的轴线与第一安装孔214的轴线垂直,第一紧固螺丝215穿设于第一紧固螺孔以用于将第一半轴251周向锁止在第一安装孔214内;和/或,第二杆212上设置有用于安装第二半轴252的第二安装孔216,第二杆212上还设置有与第二安装孔216连通的第二紧固螺孔,第二紧固螺孔的轴线与第二安装孔216的轴线垂直,第二紧固螺丝217穿设于第二紧固螺孔以用于将第二半轴252周向锁止在第二安装孔216内。可选地,第一安装孔214和第二安装孔216内还设置有轴承,第一半轴251和第二半轴252通过轴承设置于第一安装孔214和第二安装孔216内。第一紧固螺孔与第一安装孔214上的未安装轴承段连通。同理,第二紧固螺孔与第二安装孔216上的未安装轴承段连通。
第一紧固螺丝215穿设于第一紧固螺孔并抵顶于第一半轴251,以能够限制第一半轴251的转动,同理,第二紧固螺丝217穿设于第二紧固螺孔并抵顶于第二半轴252,以能够限制第二半轴252的转动。从而能够通过第一紧固螺丝215和第二紧固螺丝217限制第二载物台22绕第二水平转轴25的转动。可以理解的是,只要能够限制住第一半轴251和第二半轴252中的一者的转动,即可限制第二载物台22的转动。在本公开的一种实施方式中,为了使限位稳固,第一半轴251和第二半轴252均设置有紧固螺丝。在实际测试时,可以先旋松紧固螺丝,转动第二载物台22以调节偏振片夹角θ,当调整至合适的偏振片夹角θ后,再旋紧第一紧固螺丝215和第二紧固螺丝217,以使第二载物台22能够保持在合适的测试位置。因此,通过第一紧固螺丝和第二紧固螺丝与第一半轴251和第二半轴252的配合,能够方便地将第二载物台22锁止于任何所需的角度。
为了指示第二载物台22的偏转角度,如图3所示,第二底座21上设置有用于指示第二载物台22转动角度的角度盘26,第二载物台22对应位置设置有用于指示角度盘26上刻度的指示件27。第二载物台22在绕第二水平转轴25转动时会带动指示件27在角度盘26的刻度上移动。例如,当第二载物台22与水平面平行时,指示件27指向角度盘26上的0°刻度,当第二载物台22处于竖直位置时,指示件27指向角度盘26上的90°刻度。通过观察指示件27在角度盘26上的位置,能够方便地知晓第二载物台22所处的角度。
为了便于绕垂直第二偏振片23表面的轴线旋转第二偏振片23,如图3所示,第二载物台22中心部位开设有偏振片安装孔221。第二偏振片23通过轴承28嵌设在偏振片安装孔221内,第二偏振片23的外缘与轴承28的内圈相连,轴承28的外圈固定在偏振片安装孔221的内壁。轴承28可以是回转轴承28或常见的大直径的滚动轴承28。通过轴承28实现第二偏振片23的旋转,使得第二偏振片23的转动更加顺畅,也便于对第二偏振片23的透光轴角度进行微调,从而使第一偏振片14和第二偏振片23的透光轴方向大致正交。
为了方便安装第二偏振片23,在本公开中,如图3所示,第二载物台22上还设置有磁铁块29。第二偏振片23为圆形且直径大于轴承28的内径。磁铁块29用于将第二偏振片23锁止在轴承28的内圈上。进一步地,磁铁块29的数量为多个,绕轴承28的周向间隔布置。进一步地,第二偏振片23的外缘位于轴承28的内径和外径之间,这样既能够将第二偏振片23固定于轴承28的内径上,在第二偏振片23旋转时又不会与轴承28的外径产生摩擦。通过利用磁铁块29将第二偏振片23固定于轴承28的内圈,能够非常方便地实现第二偏振片23的安装和拆卸,同时也不会对第二偏振片23的表面造成损伤。
在其他实施方式中,也可以采用胶粘的方式将第二偏振片23固定于轴承28的内圈上。
可选地,第一底座11和第二底座21的距离可为1.5m-2m。这样便于在观察侧50用相机拍摄基板玻璃200上的待评判图时得到大小合适的清晰的图像。
在本公开中的另一方面中,还提供了一种基板玻璃200对比度检测方法,采用上述的基板玻璃检测设备100,该方法包括确定检测位置步骤、获得参照图案步骤、检测步骤和判定步骤。
其中,确定检测位置步骤包括:记第一偏振片14所在的平面和第二偏振片23所在的平面之间的角度为偏振片夹角θ,第二偏振片23远离第一偏振片14的一侧为观察侧50,将基板玻璃200放置于第一偏振片14上,使偏振片夹角θ为大于0°且小于180°。且使第一偏振片14的透光轴方向和第二偏振片23的透光轴方向投影至如图1所示的D竖直面时正交,以使从观察侧50观测到基板玻璃200上出现明暗对比度最明显的图案,此时,第一偏振片14和第二偏振片23处于检测位置。
具体地,可以通过旋转第一载物台12和/或第二载物台22的角度,以此来调节偏振片夹角θ。
可选地,在本公开的一种实施方式中,在检测位置,偏振片夹角θ为60°-120°。如图4-图6所示,此时基板玻璃200上能够显现出具有对比度明显的暗区域A和亮区域B的图案。
可选地,在本公开的另一种实施方式中,在检测位置,偏振片夹角θ为90°。如图4所示,此时基板玻璃200上显现出的暗区域A和亮区域B之间的区别最大。
需要说明的是,在本公开中,偏振片夹角θ并不限制在60°-120°及90°这个具体值,其可以为任意适当的角度,只要在该角度,基板玻璃200能够显示出便于进行对比度判别的图案即可。
优选地,可以将第一载物台12与水平面的夹角设置为45°,且第二载物台22与水平面的夹角也设置为45°。第一载物台12上的第一偏振片14朝上设置,第二载物台22上的第二偏振片23朝上设置,大致构成Y字形。调整完成后,第一载物台12和第二载物台22分别通过锁紧螺栓和锁紧螺丝进行锁止,使得偏振片夹角θ保持不变。
获得参照图案步骤包括:将标准的基板玻璃200放置在处于检测位置的第一偏振片14上以获得参照图案。具体地,将标准的基板玻璃200贴合于第一偏振片14放置于第一载物台12上。然后在观察侧50记录下此时标准的基板玻璃200上的图案,并作为参照图案,如图7所示。从图7中可以看出,标准的基板玻璃200上未呈现出明显的暗区域A,颜色整体上较为均匀,暗区域A与亮区域B之间的对比度也不明显。
可以将基板玻璃200装配至具体的产品(如液晶显示器)上以辨别是否存在对比度缺陷。若没有缺陷,则可将此基板玻璃200确定为标准的基板玻璃200。需要说明的是,标准的基板玻璃的对比度并不是绝对的均匀,只是相对来说较为均匀,因此不会影响液晶显示屏等产品的显示功能。
检测步骤包括:将待检测的基板玻璃200放置在处于检测位置的第一偏振片14上以获得待评判图案。具体地,将待检测的基板玻璃200贴合于第一偏振片14放置于第一载物台12上。然后在观察侧50记录下此时待检测的基板玻璃200上的图案,并作为待评判图案。
判定步骤包括:将待评判图案和参照图案进行比较,以判断待检测的基板玻璃的对比度情况。
可选地,可以通过比较参照图案和待评判图案的灰度值来进行判定,当待评判图案的暗区域A比参照图案的暗区域A更暗,且待评判图案的亮区域B比参照图案的亮区域B更亮,则判定此待检测的基板玻璃200不合格,反之,该待检测的基板玻璃200合格。
可以理解的是,在其他实施方式中,可以通过对比图案的其他特征进行判定,这取决于图案之间的具体差异。例如可以对比图案之间的具体形状。
针对上述的确定检测位置的步骤,具有不同的实施方式。在其中一种实施方式中,确定检测位置的步骤包括:
第一步,绕水平轴线转动第一载物台12和/或第二载物台22,以使偏振片夹角θ为60°-120°。
第二步,将基板玻璃200放置于第一偏振片14上,在偏振片夹角θ处于60°-120°时,绕垂直于第二偏振片23的轴线旋转第二偏振片23以使该第二偏振片23的透光轴的方向改变,直至在观察侧50看到基板玻璃200上出现明暗对比度最明显的图案,此时,第一偏振片14的透光轴方向和第二偏振片23的透光轴方向投影至如图1所示的D竖直面时正交。
在实际操作时,当旋转第二偏振片23时,可以逐渐看到基板玻璃200上出现如图4中所示的暗区域A,颜色大致为灰黑色,暗区域A周围区域(简称亮区域B)的亮度明显大于暗区域A处的亮度。通过旋转第二偏振片23使得亮区域B的亮度越来越大,暗区域A处越来越暗,且暗区域A越来越明显,直到暗区域A开始变模糊之前,停止旋转,从而得到明暗对比度最明显的图案,此时第一偏振片14和第二偏振片23所处的位置,即为检测位置。检测位置即为使基板玻璃200能够显现出图案的位置。
在本实施方式中,图案为暗区域A。可以理解的是,在其他实施例中,图案可能是暗斑,亮斑,暗条纹等。条纹的具体形状与基板玻璃200的缺陷有关,而基板玻璃200的缺陷的产生与基板玻璃200的具体生产工艺有关。
在上述的确定检测位置的步骤的另一种实施方式中,确定检测位置的步骤包括:
第一步,使第一偏振片14和第二偏振片23处于相对设置且相互平行的位置,绕垂直于第二偏振片23的轴线旋转第二偏振片23,直至光源13的光线无法同时穿过第一偏振片14和第二偏振片23。
第二步,绕水平轴线转动第一载物台12和/或第二载物台22,使偏振片夹角θ为60°-120°。
可选地,可以利用相机等拍照设备拍照记录图案,便于后续对图案进行比较。
以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式,但是,本公开并不限于上述实施方式中的具体细节,在本公开的技术构思范围内,可以对本公开的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本公开的保护范围。
另外需要说明的是,在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征,在不矛盾的情况下,可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复,本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外,本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合,只要其不违背本公开的思想,其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (15)

1.一种基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,包括第一支架(10)和第二支架(20),所述第一支架(10)包括第一底座(11)和设置在所述第一底座(11)上端的第一载物台(12),所述第一载物台(12)上设置有光源(13)和第一偏振片(14),所述第二支架(20)包括第二底座(21)和设置在所述第二底座(21)上端的第二载物台(22),所述第二载物台(22)上设置第二偏振片(23),所述第二偏振片(23)绕垂直其表面的轴线可转动地设置于所述第二载物台(22),所述第一载物台(12)能够相对于第一底座(11)转动和/或所述第二载物台(22)能够相对于第二底座(21)转动,以使该基板玻璃对比度的检测设备(100)处于检测位置,所述第一偏振片(14)所在的平面和所述第二偏振片(23)所在的平面能够成角度设置。
2.根据权利要求1所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,在所述检测位置,所述第一偏振片(14)所在的平面和所述第二偏振片(23)所在的平面之间的角度为60°-120°。
3.根据权利要求1所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,在所述检测位置,所述第一偏振片(14)所在的平面和所述第二偏振片(23)所在的平面之间的角度为90°。
4.根据权利要求1-3中任意一项所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第一载物台(12)包括构造成L形结构的支撑板(121)和止挡板(122),所述光源(13)为面光源且一侧贴靠在所述支撑板(121)上且下端由所述止挡板(122)止挡,所述第一偏振片(14)贴靠在所述光源(13)的另一侧且下端由所述止挡板(122)止挡,所述支撑板(121)绕第一水平转轴(15)可转动地设置在第一底座(11)上。
5.根据权利要求1-3中任意一项所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第二底座(21)的上端面设置有沿水平方向贯通的凹槽(24),所述第二载物台(22)位于所述凹槽(24)的两个侧壁之间,并通过第二水平转轴(25)可转动地支撑于所述凹槽(24)的两个侧壁,所述第二载物台(22)中心部位开设有偏振片安装孔(221),所述第二偏振片(23)设置于所述偏振片安装孔(221)。
6.根据权利要求5所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第二底座(21)的上端构造成U形架,所述U形架包括第一杆(211)、第二杆(212)以及连接在所述第一杆(211)和第二杆(212)之间的第三杆(213),所述第二水平转轴(25)包括同轴设置的第一半轴(251)和第二半轴(252),所述第一半轴(251)的两端分别连接所述第一杆(211)和所述第二载物台(22)的一侧,所述第二半轴(252)的两端分别连接所述第二杆(212)和所述第二载物台(22)的另一侧。
7.根据权利要求6所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第一杆(211)上设置有用于安装所述第一半轴(251)的第一安装孔(214),所述第一杆(211)上还设置有与所述第一安装孔(214)连通的第一紧固螺孔,所述第一紧固螺孔的轴线与所述第一安装孔(214)的轴线垂直,第一紧固螺丝(215)穿设于所述第一紧固螺孔以用于将所述第一半轴(251)周向锁止在所述第一安装孔(214)内;和/或,
所述第二杆(212)上设置有用于安装所述第二半轴(252)的第二安装孔(216),所述第二杆(212)上还设置有与所述第二安装孔(216)连通的第二紧固螺孔,所述第二紧固螺孔的轴线与所述第二安装孔(216)的轴线垂直,第二紧固螺丝(217)穿设于所述第二紧固螺孔以用于将所述第二半轴(252)周向锁止在所述第二安装孔(216)内。
8.根据权利要求5所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第二底座(21)上设置有用于指示所述第二载物台(22)转动角度的角度盘(26),所述第二载物台(22)对应位置设置有用于指示角度盘(26)上刻度的指示件(27)。
9.根据权利要求1-3中任意一项所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第二载物台(22)中心部位开设有偏振片安装孔(221),所述第二偏振片(23)通过轴承(28)嵌设在所述偏振片安装孔(221)内,所述第二偏振片(23)的外缘与所述轴承(28)的内圈相连,所述轴承(28)的外圈固定在所述偏振片安装孔(221)的内壁。
10.根据权利要求9所述的基板玻璃对比度的检测设备,其特征在于,所述第二载物台(22)上还设置有磁铁块(29),所述第二偏振片(23)为圆形且直径大于所述轴承(28)的内径,所述磁铁块(29)用于将所述第二偏振片(23)锁止在所述轴承(28)的内圈上。
11.一种基板玻璃对比度检测方法,采用权利要求1-10中任一项所述的基板玻璃对比度的检测设备(100),其特征在于,包括:
确定检测位置步骤:
记所述第一偏振片(14)所在的平面和所述第二偏振片(23)所在的平面之间的角度为偏振片夹角(θ),所述第二偏振片(23)远离所述第一偏振片(14)的一侧为观察侧(50),将基板玻璃(200)放置于所述第一偏振片(14)上,使所述偏振片夹角(θ)大于0°且小于180°,且使所述第一偏振片(14)的透光轴方向和所述第二偏振片(23)的透光轴方向投影至D竖直面时正交,以使从所述观察侧(50)观测到所述基板玻璃(200)上出现明暗对比度最明显的图案,此时,所述第一偏振片(14)和所述第二偏振片(23)处于检测位置;
获得参照图案步骤:将标准的基板玻璃(200)放置在处于所述检测位置的所述第一偏振片(14)上以获得参照图案;
检测步骤:将待检测的基板玻璃(200)放置在处于所述检测位置的第一偏振片(14)上以获得待评判图案;
判定步骤:将所述待评判图案和所述参照图案进行比较,以判断所述待检测的基板玻璃(200)的对比度情况。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述确定检测位置的步骤包括:
第一步,绕水平轴线(X)或绕竖直轴线(Z)转动所述第一载物台(12)和/或第二载物台(22),以使所述偏振片夹角(θ)大于0°且小于180°;
第二步,将基板玻璃(200)放置于所述第一偏振片(14)上,绕垂直于所述第二偏振片(23)的轴线旋转所述第二偏振片(23)以使该第二偏振片(23)的透光轴的方向改变,直至在所述观察侧(50)看到所述基板玻璃(200)上出现明暗对比度最明显的图案,此时,所述第一偏振片(14)的透光轴方向和所述第二偏振片(23)的透光轴方向投影至D竖直面时正交。
13.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述确定检测位置的步骤包括:
第一步,使所述第一偏振片(14)和所述第二偏振片(23)处于相对设置且相互平行的位置,绕垂直于所述第二偏振片(23)的轴线旋转所述第二偏振片(23),直至所述光源(13)的光线无法同时穿过所述第一偏振片(14)和所述第二偏振片(23);
第二步,绕水平轴线(X)或绕竖直轴线(Z)转动所述第一载物台(12)和/或第二载物台(22),直至在所述观察侧(50)看到所述基板玻璃(200)上出现明暗对比度最明显的图案。
14.根据权利要求12或13所述的方法,其特征在于,在所述检测位置,所述偏振片夹角(θ)为60°-120°。
15.根据权利要求12或13所述的方法,其特征在于,在所述检测位置,所述偏振片夹角(θ)为90°。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101657696A (zh) * 2007-07-17 2010-02-24 夏普株式会社 透明基板的端部检测方法和端部检测装置以及处理装置
CN104062049A (zh) * 2014-06-13 2014-09-24 京东方科技集团股份有限公司 一种基板检测方法和装置
KR20170063317A (ko) * 2015-11-30 2017-06-08 삼성전자주식회사 반도체 소자 검사 장치 및 검사 방법
CN110286130A (zh) * 2019-07-26 2019-09-27 上海御微半导体技术有限公司 一种缺陷检测装置及其方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104111548A (zh) * 2014-06-30 2014-10-22 京东方科技集团股份有限公司 用于阵列基板检测设备的光学系统及阵列基板检测设备

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101657696A (zh) * 2007-07-17 2010-02-24 夏普株式会社 透明基板的端部检测方法和端部检测装置以及处理装置
CN104062049A (zh) * 2014-06-13 2014-09-24 京东方科技集团股份有限公司 一种基板检测方法和装置
KR20170063317A (ko) * 2015-11-30 2017-06-08 삼성전자주식회사 반도체 소자 검사 장치 및 검사 방법
CN110286130A (zh) * 2019-07-26 2019-09-27 上海御微半导体技术有限公司 一种缺陷检测装置及其方法

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