KR102411607B1 - 표시 패널의 검사 방법 - Google Patents

표시 패널의 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102411607B1
KR102411607B1 KR1020170132923A KR20170132923A KR102411607B1 KR 102411607 B1 KR102411607 B1 KR 102411607B1 KR 1020170132923 A KR1020170132923 A KR 1020170132923A KR 20170132923 A KR20170132923 A KR 20170132923A KR 102411607 B1 KR102411607 B1 KR 102411607B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
target
distance
display panel
coordinates
color
Prior art date
Application number
KR1020170132923A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20190042118A (ko
Inventor
이성민
이동진
조주경
양선아
전혁상
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020170132923A priority Critical patent/KR102411607B1/ko
Priority to US16/034,149 priority patent/US10713779B2/en
Publication of KR20190042118A publication Critical patent/KR20190042118A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102411607B1 publication Critical patent/KR102411607B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • H01L51/56
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/60Analysis of geometric attributes
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/90Determination of colour characteristics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10Measuring as part of the manufacturing process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/20Sequence of activities consisting of a plurality of measurements, corrections, marking or sorting steps
    • H01L51/0031
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70Testing, e.g. accelerated lifetime tests
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10024Color image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30121CRT, LCD or plasma display
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/351Thickness
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • H10K50/15Hole transporting layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • H10K50/16Electron transporting layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/17Carrier injection layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/17Carrier injection layers
    • H10K50/171Electron injection layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/81Anodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/82Cathodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/85Arrangements for extracting light from the devices
    • H10K50/852Arrangements for extracting light from the devices comprising a resonant cavity structure, e.g. Bragg reflector pair

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명은 시야각에 따른 표시 패널의 색차를 최소화하기 위한 표시 패널의 검사 방법에 관한 것으로, 색도도(chromaticity diagram) 상에 중심점을 갖는 기준 영역를 설정하는 단계; 표시 패널을 백색으로 발광시키는 단계; 제1 시야각에서 표시 패널의 타겟점의 제1 색좌표를 측정하는 단계; 제2 시야각에서 타겟점의 제2 색좌표를 측정하는 단계; 제1 색좌표와 제2 색좌표의 차이 값을 산출하는 단계; 차이 값을 중심점을 원점으로 하는 타겟 극좌표로 변환하는 단계; 및 타겟 극좌표가 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계;를 포함한다.

Description

표시 패널의 검사 방법{INSPECTING METHOD OF DISPLAY PANEL}
본 발명은 표시 패널의 검사 방법에 관한 것이다.
유기 발광 표시 장치(organic light emitting display device)는 빛을 방출하는 유기 발광 소자(organic light emitting diode)를 가지고 화상을 표시하는 자발광형 표시 장치다. 유기 발광 표시 장치는 낮은 소비전력, 높은 휘도 및 높은 반응속도 등의 특성을 가지므로 현재 표시 장치로서 주목받고 있다.
유기 발광 표시 장치의 표시 패널은 화면을 바라보는 각도(시야각)에 따라 휘도 차이 또는 R, G, B 픽셀 간의 밝기 차이가 나타날 수 있다. 예를 들어, 정면에서 백색(white)으로 표시되는 화면이 정면으로부터 60도의 시야각에서는 불그스름(reddish)하거나, 푸르스름(bluish)하거나, 노르스름(yellowish)하거나, 녹색을 띄게(greenish) 보일 수 있다.
이러한 시야각 문제는 표시 패널의 표시 품질을 떨어뜨리고, 사용자에게 불편을 야기할 수 있다. 이에 따라, 시야각에 따른 표시 패널의 색차를 최소화하기 위한 연구들이 진행되고 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 시야각에 따른 표시 패널의 색차를 최소화하기 위한 표시 패널의 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 표시 패널의 검사 방법은, 색도도(chromaticity diagram) 상에 중심점을 갖는 기준 영역를 설정하는 단계; 표시 패널을 백색으로 발광시키는 단계; 제1 시야각에서 표시 패널의 타겟점의 제1 색좌표를 측정하는 단계; 제2 시야각에서 타겟점의 제2 색좌표를 측정하는 단계; 제1 색좌표와 제2 색좌표의 차이 값을 산출하는 단계; 차이 값을 중심점을 원점으로 하는 타겟 극좌표로 변환하는 단계; 및 타겟 극좌표가 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계;를 포함한다.
기준 영역을 설정하는 단계는, 기준 영역을 정의하는 기준 라인의 기준 색좌표를 설정하는 단계; 및 기준 색좌표를 중심점을 원점으로 하는 기준 극좌표로 변환하는 단계;를 포함한다.
타겟 극좌표가 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계는, 타겟 극좌표의 각도를 기준 극좌표의 각도와 비교하는 단계; 및 타겟 극좌표의 각도가 기준 극좌표의 각도와 동일한 경우, 중심점으로부터 기준 극좌표 사이의 제1 거리와 중심점으로부터 타겟 극좌표 사이의 제2 거리의 크기를 비교하는 단계;를 포함한다.
제1 거리가 제2 거리보다 크거나 같은 경우, 타겟 극좌표가 기준 영역 내에 있다고 판단한다.
제1 거리가 제2 거리보다 작은 경우, 타겟 극좌표가 기준 영역의 밖에 있다고 판단한다.
표시 패널은, 기판 상에 배치된 제1 전극; 제1 전극 상에 배치된 복수의 유기층; 복수의 유기층 상에 배치된 제2 전극;을 포함한다.
제1 거리가 제2 거리보다 작은 경우, 복수의 유기층 중 적어도 어느 하나의 두께를 조절하는 단계를 더 포함한다.
복수의 유기층의 전체 두께는 약 1Å 내지 100Å의 범위 내에서 조절된다.
복수의 유기층은 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층 중 적어도 하나를 포함한다.
복수의 유기층은 정공 주입층, 정공 수송층, 전자 주입층, 전자 수송층, 발광 보조층 및 공진 보조층 중 적어도 하나를 더 포함한다.
타겟 극좌표가 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계는, 타겟 극좌표의 각도를 기준 극좌표의 각도와 비교하는 단계; 및 타겟 극좌표의 각도가 기준 극좌표의 각도와 동일한 경우, 중심점으로부터 기준 극좌표 사이의 제1 거리와 중심점으로부터 타겟 극좌표 사이의 제2 거리의 비율을 산출하는 단계;를 포함한다.
제1 거리에 대한 제2 거리의 비율이 1 이하인 경우, 타겟 극좌표가 기준 영역 내에 있다고 판단한다.
제1 거리에 대한 제2 거리의 비율이 1을 초과하는 경우, 타겟 극좌표가 기준 영역의 밖에 있다고 판단한다.
표시 패널은, 기판 상에 배치된 제1 전극; 제1 전극 상에 배치된 복수의 유기층; 복수의 유기층 상에 배치된 제2 전극;을 포함한다.
제1 거리에 대한 제2 거리의 비율이 1을 초과하는 경우, 복수의 유기층 중 적어도 어느 하나의 두께를 조절하는 단계를 더 포함한다.
복수의 유기층의 전체 두께는 약 1Å 내지 약 100Å의 범위 내에서 조절된다.
복수의 유기층은 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층 중 적어도 하나를 포함한다.
기준 라인은 원형 또는 비정형의 폐곡선이다.
1 시야각은 상기 표시 패널의 정면 시야각이다.
표시 패널의 정면 시야각을 0도라고 할 때, 제2 시야각은 약 15도 내지 약 60도이다.
본 발명에 따른 표시 패널의 검사 방법은 시야각에 따른 표시 패널의 색차를 최소화하기 위한 것으로, 특히, 정형 또는 비정형의 기준 영역 내에 타겟 극좌표가 위치하는지를 용이하게 판단할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 블록도이다.
도 2는 CIE 1976의 색도도(chromaticity diagram)를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 4a 및 도 4b는 각각 원형 및 비정형의 기준 영역을 색도도 상에 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 따라서, 몇몇 실시예에서, 잘 알려진 공정 단계들, 잘 알려진 소자 구조 및 잘 알려진 기술들은 본 발명이 모호하게 해석되는 것을 피하기 위하여 구체적으로 설명되지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 또한, 본 명세서에서 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 이러한 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되는 것은 아니다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소들로부터 구별하는 목적으로 사용된다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 블록도이고, 도 2는 CIE 1976의 색도도(chromaticity diagram)를 나타낸 도면이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널(10)의 검사 장치(1)는 제1 계측기(21), 제2 계측기(22), 색좌표 산출부(30) 및 판단부(40)를 포함한다.
제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)는 표시 패널(10)의 타겟점(P)으로부터 동일한 거리(d)에서 표시 패널(10)로부터 방출되는 광을 측정한다. 이때, 제1 계측기(21)는 표시 패널(10)의 정면부에서 타겟점(P)을 향하고, 제2 계측기(22)는 표시 패널(10)의 정면부로부터 소정 각도 기울어진 측면부에서 타겟점(P)을 향할 수 있다. 예를 들어, 제1 계측기(21)는 항상 표시 패널(10)의 정면부에서 타켓점(P)을 향하도록 고정되어 있을 수 있고, 제2 계측기(22)는 다양한 각도의 측면부에서 타겟점(P)을 향하도록 이동 가능하게 구성될 수 있다. 따라서, 제1 계측기(21)와 제2 계측기(22)는 동일한 타겟점(P)으로부터 방출되는 광을 각각 다른 각도(시야각)에서 측정할 수 있다.
제1 계측기(21)는 정면 시야각인 제1 시야각에서 타겟점(P)으로부터 방출되는 광을 측정하고, 이를 전기적 신호로 변환한다. 제2 계측기(22)는 측면 시야각인 제2 시야각에서 타겟점(P)으로부터 방출되는 광을 측정하고, 이를 전기적 신호로 변환한다. 제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)는 각각 변환된 전기적 신호를 색좌표 산출부(30)로 출력한다.
색좌표 산출부(30)는 제1 계측기(21)에서 전달 받은 전기적 신호를 이용하여 제1 시야각에서의 제1 색좌표를 산출한다. 또한, 색좌표 산출부(30)는 제2 계측기(22)에서 전달 받은 전기적 신호를 이용하여 제2 시야각에서의 제2 색좌표를 산출한다. 제1 색좌표 및 제2 색좌표는 각각 백색을 나타낸다. 백색은 약 3000K에서 35000K 사이의 색온도를 가질 수 있다.
이때, 제1 색좌표 및 제2 색좌표는 도 2의 CIE 1976의 색도도(chromaticity diagram) 상의 색좌표 값이다. CIE 1976의 u`v` 색도도는 흑체궤적(BBL, Black Body Locus), 색온도(Color Temperature)와 상관색온도(CCT, Correlated Color Temperture) 등의 개념을 포함할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 표시 패널(10)은 CIE에서 규정한 색 공간에서 특정한 색 영역(color gamut)을 가질 수 있다. 이러한 색 영역은 표시 패널(10)이 얼마나 많은 색을 표현할 수 있는지를 나타내는 지표가 될 수 있다.
판단부(40)는 표시 패널(10)의 시야각에 따른 색차(color difference)가 적절한 범위 내에 있는지를 판단한다. 상세하게는, 판단부(40)는 u`v` 색도도 상에 미리 설정된 기준 영역을 갖고, 제1 시야각에서의 제1 색좌표와 제2 시야각에서의 제2 색좌표의 차이 값이 기준 영역 내에 있는지를 판단한다. 기준 영역은 표시 패널(10)을 백색(white)으로 발광시킬 때, 표시 패널(10)의 색차를 허용하는 범위에 대응된다. 기준 영역은 표시 패널(10)의 생산자의 의도에 따라 결정될 수 있다.
판단부(40)는 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값이 기준 영역 내에 있는 경우, 표시 패널(10)이 시야각에 대하여 양품이라고 판단할 수 있다. 반면, 판단부(40)는 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값이 기준 영역 내에 있지 않은 경우, 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값이 기준 영역 내에 있도록 제2 색좌표를 보정할 수 있다. 이에 대하여는 뒤에서 자세하게 설명하기로 한다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널(10)은 기판(111), 배선부(130), 및 유기 발광 소자(210)를 포함하는 유기 발광 표시 패널이다.
기판(111)은 유리, 석영, 세라믹, 및 플라스틱 등으로 이루어진 군에서 선택된 절연성 재료로 만들어질 수 있다. 그러나, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 기판(111)은 스테인리스강 등의 금속성 재료로 만들어질 수도 있다.
기판(111) 상에 배선부(130)가 배치된다. 또한, 도시되지 않았으나, 기판(111)과 배선부(130) 사이에 버퍼층이 더 배치될 수 있다. 버퍼층은 다양한 무기막들 및 유기막들 중에서 선택된 하나 이상의 막을 포함할 수 있다. 버퍼층은 불순 원소 또는 수분과 같이 불필요한 성분이 배선부(130)나 유기 발광 소자(210)로 침투하는 것을 방지하면서 동시에 표면을 평탄화하는 역할을 수행할 수 있다.
배선부(130)는 복수의 박막 트랜지스터 및 복수의 축전 소자를 포함하며, 배선부(130) 상에 배치된 유기 발광 소자(210)를 구동한다. 유기 발광 소자(210)는 배선부(130)로부터 전달받은 구동 신호에 따라 발광하여 화상을 표시한다.
유기 발광 소자(210)는 제1 전극(211), 제1 전극(211) 상에 배치된 유기 발광층(212)과, 유기 발광층(212) 상에 배치된 제2 전극(213)을 포함한다. 제1 전극(211) 및 제2 전극(213)으로부터 각각 정공과 전자가 유기 발광층(212) 내부로 주입된다. 이렇게 주입된 정공과 전자가 결합되어 형성된 엑시톤(exiton)이 여기 상태로부터 기저 상태로 떨어질 때 발광이 이루어진다.
본 발명의 일 실시예에 따른 제1 전극(211)은 정공을 주입하는 애노드(anode)이며, 제2 전극(213)은 전자를 주입하는 캐소드(cathode)이다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 전극(211)이 캐소드이고, 제2 전극(213)이 애노드일 수도 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제1 전극(211)은 광투과막으로 이루어지고, 제2 전극(213)은 반투과막으로 이루어진다. 또한, 유기 발광층(212)에서 발생된 빛은 제2 전극(213)을 통과해 방출된다.
구체적으로 제1 전극(211)은 투명 도전막을 포함하며, 투명 도전막은 투명도전성산화물(Transparent Conductive Oxide; TCO)로 만들어질 수 있다. 예를 들어, 투명도전성산화물(Transparent Conductive Oxide; TCO)은 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ZnO(Zinc Oxide), AZO(Aluminum Zinc Oxide) 및 In2O3(Indium Oxide) 중 적어도 어느 하나일 수 있다. 제1 전극(211)은 두 개 이상의 투명 도전막이 적층된 구조를 가질 수 있다.
제2 전극(213)은 마그네슘(Mg), 은(Ag), 금(Au), 칼슘(Ca), 리튬(Li), 크롬(Cr), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 하나 이상의 금속을 포함하는 반투과막으로 만들어질 수 있다. 일반적으로, 반투과막은 200nm 이하의 두께를 갖는다. 그러나 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 전극(213)의 두께가 이에 한정되는 것은 아니다.
제1 전극(211)과 유기 발광층(212) 사이에 정공 주입층(215, hole injection layer; HIL) 및 정공 수송층(216, hole transporting layer; HTL)이 배치된다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 유기 발광 소자(210)는 정공 주입층(215) 및 정공 수송층 중 어느 하나만 포함할 수도 있고, 정공 주입층(215)과 정공 수송층(216)은 생략될 수도 있다. 또한, 제1 전극(211)과 유기 발광층(212) 사이에 별도의 발광 보조층 또는 공진 보조층이 더 배치될 수도 있다.
유기 발광층(212)과 제2 전극(213) 사이에 전자 주입층(217, electron injection layer, EIL) 및 전자 수송층(218, electron transport layer; ETL)이 배치된다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 유기 발광 소자(210)는 전자 주입층(217) 및 전자 수송층(218) 중 어느 하나만 포함할 수도 있고, 전자 주입층(217) 및 전자 수송층(218)은 생략될 수도 있다. 또한, 유기 발광층(212)과 제2 전극(213) 사이에 별도의 발광 보조층 또는 공진 보조층이 더 배치될 수도 있다.
유기 발광층(212), 정공 주입층(215), 정공 수송층(216), 전자 주입층(217) 및 전자 수송층(218)을 각각 유기층이라고도 한다. 즉, 유기 발광 소자(210)는 유기물로 이루어진 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)을 제1 전극(211)과 제2 전극(213)이 싸고 있는 구조로 이루어져 있다. 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)은 각각 저분자 유기물 또는 고분자 유기물로 만들어질 수 있다. 또한, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)은 각각 정해진 픽셀 영역에 증착 공정을 통해 형성될 수 있다.
이때, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)의 증착 두께(T)에 따라, 시야각에 따른 표시 패널(10)의 색차가 달라질 수 있다. 따라서, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)의 증착 두께(T)를 조절함으로써, 시야각에 따른 표시 패널(10)의 색차를 최소화할 수 있다. 예를 들어, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218) 중 적어도 어느 하나의 증착 두께를 조절하여, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)의 전체 증착 두께(T)를 조절할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)의 전체 증착 두께(T)는 약 1Å 내지 약 100Å의 범위 내에서 조절될 수 있다.
상기한 바와 같이, 검사 장치(1)의 판단부(40)는 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값이 기준 영역 내에 있지 않은 경우, 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값이 기준 영역 내에 있도록 제2 색좌표를 보정할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)의 증착 두께(T)를 조절하여, 제2 시야각에서의 제2 색좌표가 보정될 수 있다. 즉, 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)의 증착 두께(T)를 조절함으로써, 시야각에 따른 표시 패널(10)의 색차를 최소화할 수 있다. 이에 대하여는 뒤에서 자세하게 설명하기로 한다.
도 4a 및 도 4b는 각각 원형 및 비정형의 기준 영역을 색도도 상에 나타낸 도면이다. 상세하게는, 도 4a는 기준 영역을 정의하는 기준 라인이 원형의 폐곡선인 경우를 나타낸 도면이며, 도 4b는 기준 영역을 정의하는 기준 라인이 비정형의 폐곡선인 경우를 나타낸 도면이다.
기준 영역을 정의하는 기준 라인(Ls0)이 원형의 폐곡선인 경우, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)는 방향에 관계 없이 항상 일정하다. 따라서, 표시 패널(10)의 임의의 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값은 방향에 관계 없이 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터의 거리에 따라 기준 영역 내에 있는지 판단될 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 바와 같이, 표시 패널(10)의 어느 하나의 측정 대상 위치를 나타내는 제1 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값을 제1 타겟 색좌표(Pt01(Δu01`, Δv01`))라고 정의할 때, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 제1 타겟 색좌표(Pt01)까지의 거리(r0)는 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)보다 작다(r0<r). 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 제1 타겟 색좌표(Pt01)까지의 거리(r0)가 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)보다 작은 경우, 판단부(40)는 제1 타겟 색좌표(Pt01)가 기준 영역 내에 위치한다고 판단한다. 반면, 도시되지 않았으나, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 제1 타겟 색좌표(Pt01)까지의 거리(r0)가 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)보다 큰 경우, 판단부(40)는 제1 타겟 색좌표(Pt01)가 기준 영역의 밖에 위치한다고 판단한다.
또한, 표시 패널(10)의 다른 하나의 측정 대상 위치를 나타내는 제2 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값을 제2 타겟 색좌표(Pt02(Δu02`, Δv02`))라고 정의할 때, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 제2 타겟 색좌표(Pt02)까지의 거리(r0)는 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)보다 작다(r0<r). 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 제2 타겟 색좌표(Pt02)까지의 거리(r0)가 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)보다 작은 경우, 판단부(40)는 제2 타겟 색좌표(Pt02)가 기준 영역 내에 위치한다고 판단한다. 반면, 도시되지 않았으나, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 제2 타겟 색좌표(Pt02)까지의 거리(r0)가 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터 기준 라인(Ls0)까지의 거리(r)보다 큰 경우, 판단부(40)는 제2 타겟 색좌표(Pt02)가 기준 영역의 밖에 위치한다고 판단한다.
이때, 도 4a에 도시된 바와 같이, 제1 타겟 색좌표(Pt01)와 제2 타겟 색좌표(Pt02)는 각각의 좌표 값에는 차이가 있으나, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터의 거리(r0)는 서로 동일하다. 즉, 제1 타겟 색좌표(Pt01)와 제2 타겟 색좌표(Pt02)는 색도도 상에서 기준 영역의 중심점(Pc0)을 기준으로 위치하는 방향에는 차이가 있으나, 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터의 거리(r0)는 서로 동일하다.
따라서, 기준 영역을 정의하는 기준 라인(Ls0)이 원형의 폐곡선인 경우 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt01, Pt02)는, 위치에 관계 없이 기준 영역의 중심점(Pc0)으로부터의 거리(r0)에 따라 각각 기준 영역 내에 있는지 판단될 수 있다.
반면, 기준 영역을 정의하는 기준 라인(Ls1)이 비정형의 폐곡선인 경우, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 기준 라인(Ls1)까지의 거리는 일정하지 않고, 방향에 따라 다른 값을 갖는다. 따라서, 표시 패널(10)의 임의의 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값은 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터의 거리만으로 기준 영역 내에 있는지 판단될 수 없다.
예를 들어, 도 4b에 도시된 바와 같이, 표시 패널(10)의 어느 하나의 측정 대상 위치를 나타내는 제1 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값을 제1 타겟 색좌표(Pt11(Δu11`, Δv11`))라고 정의할 때, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 제1 타겟 색좌표(Pt11)까지의 거리(r1)는 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 동일한 방향으로의 기준 라인(Ls1)까지의 거리(r11)보다 작다(r1<r11). 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 제1 타겟 색좌표(Pt11)까지의 거리(r1)가 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 동일한 방향으로의 기준 라인(Ls1)까지의 거리(r11)보다 작은 경우, 판단부(40)는 제1 타겟 색좌표(Pt11)가 기준 영역 내에 위치한다고 판단한다.
또한, 표시 패널(10)의 다른 하나의 측정 대상 위치를 나타내는 제2 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값을 제2 타겟 색좌표(Pt12(Δu12`, Δv12`))라고 정의할 때, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 제2 타겟 색좌표(Pt12)까지의 거리(r1)는 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 동일한 방향으로의 기준 라인(Ls1)까지의 거리(r12)보다 크다(r1>r12). 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 제2 타겟 색좌표(Pt12)까지의 거리(r1)가 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 동일한 방향으로의 기준 라인(Ls1)까지의 거리(r12)보다 큰 경우, 판단부(40)는 제2 타겟 색좌표(Pt12)가 기준 영역의 밖에 위치한다고 판단한다.
이때, 도 4b에 도시된 바와 같이, 제1 타겟 색좌표(Pt11)와 제2 타겟 색좌표(Pt12)는 각각의 좌표 값에는 차이가 있으나, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터의 거리(r1)는 서로 동일하다. 즉, 제1 타겟 색좌표(Pt11)와 제2 타겟 색좌표(Pt12)는 색도도 상에서 기준 영역의 중심점(Pc1)을 기준으로 위치하는 방향에는 차이가 있으나, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터의 거리(r1)는 서로 동일하다.
다만, 기준 라인(Ls1)이 비정형의 폐곡선인 경우, 기준 라인(Ls0)이 원형의 폐곡선인 경우와는 달리, 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt11, Pt12)는 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt11, Pt12)까지의 거리(r1)만으로 각각 기준 영역 내에 있는지 판단될 수 없다.
다시 말하면, 기준 라인(Ls1)이 비정형의 폐곡선인 경우 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt11, Pt12)는, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터 기준 라인(Ls1)까지의 거리(r11, r12)가 방향에 따라 일정하지 않으므로, 기준 영역의 중심점(Pc1)으로부터의 거리(r1)만으로 각각 기준 영역 내에 있는지 판단될 수 없다. 따라서, 기준 라인(Ls1)이 비정형의 폐곡선인 경우 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt11, Pt12)가 각각 기준 영역 내에 있는지 판단하기 위해서는, 중심점(Pc1)으로부터 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt11, Pt12)까지의 거리(r1)뿐만 아니라, 제1 및 제2 타겟 색좌표(Pt11, Pt12) 각각의 위치가 고려되어야 한다.
이하, 도 5 및 도 6을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 상세하게 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타낸 흐름도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 1, 도 5 및 도 6을 참조하면, 먼저, 색도도 상에 중심점(Pc1)을 갖는 기준 영역을 설정한다(S11). 기준 영역은 표시 패널(10)의 생산자의 의도에 따라 결정될 수 있다. 기준 영역은 기준 라인(Ls1)에 의해 정의되며, 본 발명의 일 실시예에 따른 기준 라인(Ls1)은 비정형의 폐곡선이다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 기준 라인(Ls1)은 정형의 폐곡선일 수도 있다.
기준 라인(Ls1)에 대응되는 기준 색좌표를 기준 극좌표(Ps(rs, θs))로 변환한다(S12). 이때, 기준 극좌표(Ps(rs, θs))는 기준 영역의 중심점(Pc1)을 원점으로 하여 변환된다. 기준 색좌표를 Ps(Δus`, Δvs`)라고 할 때, 기준 극좌표(Ps(rs, θs))는 다음의 수학식 1에 따라 변환될 수 있다.
[수학식 1]
Figure 112017100650262-pat00001
이어서, 표시 패널(10)을 백색(white)으로 발광시키고(S13), 제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)가 표시 패널(10)의 타겟점(P)으로부터 방출되는 광을 각각 측정한다(S14). 이때, 제1 계측기(21)는 정면 시야각인 제1 시야각에서 타겟점(P)으로부터 방출되는 광을 측정하고, 제2 계측기(22)는 측면 시야각인 제2 시야각에서 타겟점(P)으로부터 방출되는 광을 측정한다. 정면 시야각인 제1 시야각이 0도라고 할 때, 제2 시야각은 약 15도 내지 약 60도일 수 있다.
색좌표 산출부(30)는 제1 계측기(21) 및 제2 계측기(22)로부터 전달 받은 전기적 신호를 이용하여, 제1 시야각에서의 제1 색좌표 및 제2 시야각에서의 제2 색좌표를 각각 산출한다(S15).
이어서, 판단부(40)는 표시 패널(10)의 시야각에 따른 색차가 적절한 범위 내에 있는지를 판단하기 위하여, 제1 색좌표와 제2 색좌표의 차이 값(Δut`, Δvt`)을 산출한다(S16). 상기한 바와 같이, 제1 색좌표와 제2 색좌표의 차이 값(Δut`, Δvt`)을 타겟 색좌표라고 정의한다.
타겟 색좌표를 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))로 변환한다(S17). 이때, 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))는 기준 영역의 중심점(Pc1)을 원점으로 하여 변환된다. 타겟 색좌표를 Pt(Δut`, Δvt`)라고 할 때, 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))는 다음의 수학식 2에 따라 변환될 수 있다.
[수학식 2]
Figure 112017100650262-pat00002
이어서, 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 각도(θt)를 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 각도(θs)와 비교한다. 이때, 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 각도(θt)와 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 각도(θs)가 동일할 때(θst), 판단부(40)는 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 거리(rs)와 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 거리(rt)의 크기를 비교한다(S18).
판단부(40)는 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 거리(rs)가 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 거리(rt)보다 크거나 같은 경우 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))가 기준 영역 내에 있다고 판단하고, 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 거리(rs)가 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 거리(rt)보다 작은 경우 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))가 기준 영역의 밖에 있다고 판단한다(S19).
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널(10)의 검사 방법은 기준 색좌표 (Ps(Δus`, Δvs`)) 및 타겟 색좌표(Pt(Δut`, Δvt`))를 각각 기준 극좌표(Ps(rs, θs)) 및 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))로 변환하고, 중심점(Pc1)을 기준으로 동일한 방향에 위치하는 기준 극좌표(Ps(rs, θs))와 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 크기를 비교함으로써, 비정형의 기준 영역 내에 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))가 위치하는지를 용이하게 판단할 수 있다.
이하, 도 7 내지 도 9를 참조하여, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 상세하게 설명한다. 본 발명의 일 실시예와 동일한 구성에 대한 설명은 설명의 편의를 위해 생략한다.
도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타낸 흐름도이고, 도 8 및 도 9는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7을 참조하면, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널(10)의 검사 방법은, 본 발명의 일 실시예와 단계 S11 내지 단계 S17까지는 동일하다.
단계 S17에 이어서, 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 각도(θt)를 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 각도(θs)와 비교한다. 이때, 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 각도(θt)와 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 각도(θs)가 동일할 때(θst), 판단부(40)는 기준 극좌표(Ps(rs, θs))의 거리(rs)에 대한 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 거리(rt)의 비율(rt/rs)을 산출한다(S18`).
판단부(40)는 산출한 거리 비율(rt/rs)이 1 이하인 경우 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))가 기준 영역 내에 있다고 판단하고, 산출한 거리 비율(rt/rs)이 1을 초과하는 경우 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))가 기준 영역의 밖에 있다고 판단한다(S19`).
본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 패널(10)의 검사 방법은 기준 색좌표 (Ps(Δus`, Δvs`)) 및 타겟 색좌표(Pt(Δut`, Δvt`))를 각각 기준 극좌표(Ps(rs, θs)) 및 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))로 변환하고, 중심점(Pc1)을 기준으로 동일한 방향에 위치하는 기준 극좌표(Ps(rs, θs))와 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))의 거리 비율(rt/rs)을 산출함으로써, 비정형의 기준 영역 내에 타겟 극좌표(Pt(rt, θt))가 위치하는지를 용이하게 판단할 수 있다.
이러한 검사 과정은 표시 패널(10)의 타겟점을 변경하며 반복적으로 수행될 수 있다. 이를 통해, 도 8에 도시된 바와 같이, 복수의 타겟점에서 측정된 제1 색좌표와 제2 색좌표 간의 차이 값이 각각 기준 영역 내에 있는지 판단될 수 있다. 즉, 중심점(Pc1)을 기준으로 동일한 방향에 위치하는 기준 극좌표(Ps)와 타겟 극좌표(Pt)의 거리 비율(rt/rs)을 각각 산출함으로써, 복수의 타겟점에서의 타겟 극좌표(Pt)가 각각 기준 영역 내에 위치하는지를 판단할 수 있다.
또한, 검사 과정이 타겟점을 변경하며 반복적으로 수행됨으로써, 기준 영역의 밖에 위치하는 복수의 타겟 극좌표(Pt)가 어느 영역에 집중되어 분포하는지 확인할 수 있다.
상기한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 소자(210)는 복수의 유기층(212, 215, 216, 217, 218)을 포함한다. 또한, 유기 발광 소자(210)는 적색 유기 발광층을 포함하는 적색 유기 발광 소자, 녹색 유기 발광층을 포함하는 녹색 유기 발광 소자 및 청색 유기 발광층을 포함하는 청색 유기 발광 소자 중 어느 하나일 수 있다. 기준 영역의 밖에 위치하는 복수의 타겟 극좌표(Pt)가 어느 영역에 집중되어 분포하는지 확인하여, 적색, 녹색 및 청색 유기 발광 소자(210) 중 적어도 어느 하나에 포함된 복수의 유기층의 증착 두께(T)를 조절할 수 있다. 복수의 유기층의 증착 두께(T)를 조절함으로써, 시야각에 따른 표시 패널(10)의 색차를 최소화할 수 있다. 본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 복수의 유기층의 전체 증착 두께(T)는 약 1Å 내지 약 100Å의 범위 내에서 조절될 수 있다.
예를 들어, 도 8에 도시된 바와 같이, 복수의 타겟 극좌표(Pt)가 기준 영역 밖의 좌상측에 집중되어 분포하는 경우, 측면 시야각인 제2 시야각에서 표시 패널(10)의 백색이 녹색을 띄게(greenish) 보일 수 있다. 따라서, 복수의 타겟 극좌표(Pt)가 기준 영역 밖의 좌상측에 집중되어 분포하는 경우, 녹색 유기 발광층의 두께를 감소하여 시야각에 따른 표시 패널(10)의 색차를 최소화할 수 있다.
또한, 예를 들어, 복수의 타겟 극좌표(Pt)가 기준 영역 밖의 하측에 집중되어 분포하는 경우, 측면 시야각인 제2 시야각에서 표시 패널(10)의 백색이 푸르스름(bluish)하게 보일 수 있다. 따라서, 복수의 타겟 극좌표(Pt)가 기준 영역 밖의 하측에 집중되어 분포하는 경우, 청색 유기 발광층의 두께를 감소하여 시야각에 따른 표시 패널(10)의 색차를 최소화할 수 있다.
또한, 검사 과정이 표시 패널(10)의 타겟점을 변경하며 반복적으로 수행됨으로써, 복수의 타겟점에 대한 각각의 거리 비율(rt/rs)을 산출할 수 있으며, 산출된 거리 비율(rt/rs)에 따라 횟수를 카운트하여, 도 9와 같이 정규화(normalization)할 수 있다.
이상, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
1: 표시 패널의 검사 장치
10: 표시 패널
21: 제1 계측기
22: 제2 계측기
30: 색좌표 산출부
40: 판단부

Claims (20)

  1. 색도도(chromaticity diagram) 상에 중심점을 갖는 기준 영역를 설정하는 단계;
    표시 패널을 백색으로 발광시키는 단계;
    제1 시야각에서 상기 표시 패널의 타겟점의 제1 색좌표를 측정하는 단계;
    제2 시야각에서 상기 타겟점의 제2 색좌표를 측정하는 단계;
    상기 제1 색좌표와 상기 제2 색좌표의 차이 값을 산출하는 단계;
    상기 차이 값을 상기 중심점을 원점으로 하는 타겟 극좌표로 변환하는 단계; 및
    상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계;를 포함하고,
    상기 기준 영역을 설정하는 단계는,
    상기 기준 영역을 정의하는 기준 라인의 기준 색좌표를 설정하는 단계; 및
    상기 기준 색좌표를 상기 중심점을 원점으로 하는 기준 극좌표로 변환하는 단계;를 포함하고,
    상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계는,
    상기 타겟 극좌표의 각도를 상기 기준 극좌표의 각도와 비교하는 단계; 및
    상기 타겟 극좌표의 각도가 상기 기준 극좌표의 각도와 동일한 경우, 상기 중심점으로부터 상기 기준 극좌표 사이의 제1 거리와 상기 중심점으로부터 상기 타겟 극좌표 사이의 제2 거리의 크기를 비교하는 단계;를 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 거리가 상기 제2 거리보다 크거나 같은 경우, 상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역 내에 있다고 판단하는 표시 패널의 검사 방법.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 거리가 상기 제2 거리보다 작은 경우, 상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역의 밖에 있다고 판단하는 표시 패널의 검사 방법.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 표시 패널은,
    기판 상에 배치된 제1 전극;
    상기 제1 전극 상에 배치된 복수의 유기층; 및
    상기 복수의 유기층 상에 배치된 제2 전극;을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 거리가 상기 제2 거리보다 작은 경우, 상기 복수의 유기층 중 적어도 어느 하나의 두께를 조절하는 단계를 더 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 복수의 유기층의 전체 두께는 1Å 내지 100Å의 범위 내에서 조절되는 표시 패널의 검사 방법.
  9. 제6 항에 있어서,
    상기 복수의 유기층은 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층 중 적어도 하나를 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 복수의 유기층은 정공 주입층, 정공 수송층, 전자 주입층, 전자 수송층, 발광 보조층 및 공진 보조층 중 적어도 하나를 더 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  11. 색도도(chromaticity diagram) 상에 중심점을 갖는 기준 영역를 설정하는 단계;
    표시 패널을 백색으로 발광시키는 단계;
    제1 시야각에서 상기 표시 패널의 타겟점의 제1 색좌표를 측정하는 단계;
    제2 시야각에서 상기 타겟점의 제2 색좌표를 측정하는 단계;
    상기 제1 색좌표와 상기 제2 색좌표의 차이 값을 산출하는 단계;
    상기 차이 값을 상기 중심점을 원점으로 하는 타겟 극좌표로 변환하는 단계; 및
    상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계;를 포함하고,
    상기 기준 영역을 설정하는 단계는,
    상기 기준 영역을 정의하는 기준 라인의 기준 색좌표를 설정하는 단계; 및
    상기 기준 색좌표를 상기 중심점을 원점으로 하는 기준 극좌표로 변환하는 단계;를 포함하고,
    상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역 내에 있는지 판단하는 단계는,
    상기 타겟 극좌표의 각도를 상기 기준 극좌표의 각도와 비교하는 단계; 및
    상기 타겟 극좌표의 각도가 상기 기준 극좌표의 각도와 동일한 경우, 상기 중심점으로부터 상기 기준 극좌표 사이의 제1 거리와 상기 중심점으로부터 상기 타겟 극좌표 사이의 제2 거리의 비율을 산출하는 단계;를 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 제1 거리에 대한 상기 제2 거리의 비율이 1 이하인 경우, 상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역 내에 있다고 판단하는 표시 패널의 검사 방법.
  13. 제11 항에 있어서,
    상기 제1 거리에 대한 상기 제2 거리의 비율이 1을 초과하는 경우, 상기 타겟 극좌표가 상기 기준 영역의 밖에 있다고 판단하는 표시 패널의 검사 방법.
  14. 제11 항에 있어서,
    상기 표시 패널은,
    기판 상에 배치된 제1 전극;
    상기 제1 전극 상에 배치된 복수의 유기층; 및
    상기 복수의 유기층 상에 배치된 제2 전극;을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 제1 거리에 대한 상기 제2 거리의 비율이 1을 초과하는 경우, 상기 복수의 유기층 중 적어도 어느 하나의 두께를 조절하는 단계를 더 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  16. 제14 항에 있어서,
    상기 복수의 유기층의 전체 두께는 1Å 내지 100Å의 범위 내에서 조절되는 표시 패널의 검사 방법.
  17. 제14 항에 있어서,
    상기 복수의 유기층은 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층 중 적어도 하나를 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
  18. 제1 항에 있어서,
    상기 기준 라인은 원형 또는 비정형의 폐곡선인 표시 패널의 검사 방법.
  19. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 시야각은 상기 표시 패널의 정면 시야각인 표시 패널의 검사 방법.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 표시 패널의 정면 시야각을 0도라고 할 때, 상기 제2 시야각은 15도 내지 60도인 표시 패널의 검사 방법.
KR1020170132923A 2017-10-13 2017-10-13 표시 패널의 검사 방법 KR102411607B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170132923A KR102411607B1 (ko) 2017-10-13 2017-10-13 표시 패널의 검사 방법
US16/034,149 US10713779B2 (en) 2017-10-13 2018-07-12 Method of inspecting display panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170132923A KR102411607B1 (ko) 2017-10-13 2017-10-13 표시 패널의 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190042118A KR20190042118A (ko) 2019-04-24
KR102411607B1 true KR102411607B1 (ko) 2022-06-22

Family

ID=66095985

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170132923A KR102411607B1 (ko) 2017-10-13 2017-10-13 표시 패널의 검사 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10713779B2 (ko)
KR (1) KR102411607B1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110047421B (zh) * 2019-05-28 2022-07-22 昆山国显光电有限公司 一种显示面板的分类方法
CN112881405B (zh) * 2021-01-13 2022-08-05 苏州精濑光电有限公司 一种检测装置及检测方法
CN112859331B (zh) * 2021-02-26 2023-04-07 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 多畴垂直取向液晶显示面板的模拟方法
CN114739644A (zh) * 2022-06-10 2022-07-12 武汉精立电子技术有限公司 色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070035536A1 (en) * 2005-08-11 2007-02-15 Eastman Kodak Company Display calibration method for optimum angular performance

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000081368A (ja) 1998-09-04 2000-03-21 Advantest Corp Lcd パネル画質検査方法、lcd パネル画質検査装置及び画像取込方法
US6606116B1 (en) * 2000-03-30 2003-08-12 Ncr Corporation Methods and apparatus for assessing quality of information displays
US6633382B2 (en) 2001-05-22 2003-10-14 Xerox Corporation Angular, azimuthal and displacement insensitive spectrophotometer for color printer color control systems
KR100541449B1 (ko) 2003-07-23 2006-01-11 삼성전자주식회사 패널검사장치
US7132644B2 (en) 2003-10-02 2006-11-07 Mazet Gmbh Photo sensor for standardized color measurement
KR20060044032A (ko) 2004-11-11 2006-05-16 삼성전자주식회사 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법
EP1869875B1 (en) 2005-04-04 2012-05-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Color conversion unit for reduced fringing
KR20090020790A (ko) 2007-08-24 2009-02-27 엘지전자 주식회사 시야각에 따른 화질 보정 장치 및 방법
JP5200547B2 (ja) 2008-01-10 2013-06-05 コニカミノルタオプティクス株式会社 ディスプレイ用カラーセンサおよびそれを用いるディスプレイシステムならびにディスプレイの校正方法
JP5589299B2 (ja) 2009-04-10 2014-09-17 コニカミノルタ株式会社 測色装置および該方法ならびに液晶表示システム
JP5404191B2 (ja) 2009-06-02 2014-01-29 新日鐵住金株式会社 排水枡の補修方法及び補修枡
KR101830679B1 (ko) 2010-07-29 2018-02-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
KR20140007583A (ko) * 2012-07-09 2014-01-20 삼성디스플레이 주식회사 표시패널 검사 장치 및 그 방법
KR102050480B1 (ko) 2013-01-02 2019-12-02 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
CN104751756B (zh) * 2015-04-23 2017-12-12 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的光学调节装置、方法和显示装置
KR101834812B1 (ko) 2015-10-27 2018-03-06 엘지전자 주식회사 비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070035536A1 (en) * 2005-08-11 2007-02-15 Eastman Kodak Company Display calibration method for optimum angular performance

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190042118A (ko) 2019-04-24
US10713779B2 (en) 2020-07-14
US20190114757A1 (en) 2019-04-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102411607B1 (ko) 표시 패널의 검사 방법
CN105185807B (zh) 有机发光显示装置以及制造该装置的方法
US20210399075A1 (en) Organic light emitting display device
US9018621B2 (en) Organic light emitting diode display device and method of fabricating the same
US10873056B2 (en) Organic light-emitting display apparatus
KR102397823B1 (ko) 유기 발광 표시 장치
US20170207285A1 (en) Organic light emitting display device
KR101400058B1 (ko) 유기발광표시장치
KR20220038642A (ko) 유기 발광 표시 장치
US20210225952A1 (en) Pixel unit, method for manufacturing the pixel unit, display panel and display device
CN101409330B (zh) 白光有机发光器件及采用其的彩色显示设备
US10205126B2 (en) Light emission device including light extraction plane and a plurality of reflection interfaces, display apparatus including the light emission device, and illumination apparatus including the light emission device
US20150228223A1 (en) Organic light-emitting display device
CN108448007A (zh) 有机发光显示面板及其显示装置
US10598837B2 (en) Polarizing plate having specified ratio of triiodide ions to iodine to pentaiodide ions and organic light-emitting display device having the same
CN102354700A (zh) 显示装置
KR20180077834A (ko) 전계발광 표시장치
CN108389978A (zh) 一种有机发光显示面板及其有机发光显示装置
US20240155866A1 (en) Display device and method of manufacturing the same
CN109119438B (zh) 显示基板及其制造方法、显示装置
KR20140087629A (ko) 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR20150079127A (ko) 유기 발광 표시 장치
KR20190061695A (ko) 유기 발광 표시 장치
US20110084288A1 (en) Organic light emitting diode display and method of manufacturing the same
US9960215B2 (en) Organic electroluminescent display device

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant