JP2004348045A - 基準マーク位置測定装置 - Google Patents

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隆史 福井
Hiroshi Kamimura
寛 上村
Tamito Kagami
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Abstract

【課題】基準マーク位置測定装置において、基板の基準マーク位置の測定精度を低下させることなく、上記基準マークの測定を開始してから基板を次工程の実施位置に移送するまでの時間を短縮する。
【解決手段】搬送部20により基板載置台15を搬送方向(図中矢印Y方向)に搬送しつつ、斜走査部35によりカメラ30を斜走査方向(図中矢印J方向)に移動させながら基板10の基準マーク11の横断方向(図中矢印X方向)における位置をカメラ30を通して測定して基準マーク11の横断方向の位置を示す位置データを位置データ取得部40によって取得する。その後、上記と同様の動作により、基準スケール25の目盛26の横断方向の位置を示す基準位置データを基準位置データ取得部45によって取得し、上記基準位置データに基づいて、上記基準マークの位置データを基準スケールの目盛を基準にした位置データに補正する。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板中に配された基準マークを測定する、基準マーク位置測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、感光材料層を有するプリント配線用等の基板を基板載置台に載置して搬送方向に搬送しながら上記搬送方向と直交する方向にレーザビーム等を走査してこの基板上に画像パターンを記録する露光装置が知られている。また、基板の位置を示すこの基板中の基準マークの位置や画像パターンを露光する際の基板への露光位置の基準となる基板中の基準マークの位置を測定装置で測定した後この基板を露光装置に搬送し、露光装置により、上記測定された基準マークの位置情報に基づいて、この基板に対して画像パターンを正確に露光する露光システムも知られている(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開2000−338432号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、基板に露光する画像パターンの微細化および高精度化に伴い、基板の変形をも考慮して画像パターンの露光を行ないたいという要請がある。このような要請に対して、基板中に多数の基準マークを配置しこれらの基準マークの位置を正確に測定することにより基板の変形をも考慮したより適切な位置に画像パターンを露光する検討が行なわれている。
【0005】
しかしながら、基板中に配置された多数の基準マークの位置を正確に測定するには多くの時間を要するため、この測定を開始してから露光を開始するまでの時間、すなわち基準マークの測定を開始してから、測定終了後に基板を移送してこの基板を露光する位置に配置するまでの時間を短縮したいという要請がある。
【0006】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、基板の基準マーク位置の測定精度を低下させることなく、上記基準マークの測定を開始してからこの基板を次工程の実施位置に移送するまでの時間を短縮することができる基準マーク位置測定装置を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の基準マーク位置測定装置は、基準マークを有する基板を載置する基板載置台と、基板載置台を所定の搬送方向に搬送する搬送手段と、基板載置台に配置された、搬送方向と直交する横断方向における位置を示す目盛を有する基準スケールと、基準マークおよび目盛の横断方向における位置を測定するためのカメラと、カメラを、搬送方向に対して斜めに交わる搬送方向に向かう斜走査方向に移動させる斜走査手段と、搬送手段により前記基板が載置された前記基板載置台を搬送方向に搬送しつつ、斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させながら基板の基準マークの横断方向における位置をカメラで測定して基準マークの横断方向における位置を示す位置データを取得する位置データ取得手段と、搬送手段により基板載置台を搬送方向に搬送しつつ、斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させながら基準スケールの目盛の横断方向における位置をカメラで測定して基準スケールの目盛の横断方向における位置を示す基準位置データを取得する基準位置データ取得手段と、前記基準位置データに基づいて、前記基準マークの位置データを基準スケールの目盛を基準にした位置データに補正する位置補正手段とを備えていることを特徴とするものである。
【0008】
前記基準マーク位置測定装置は、前記斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させる際のカメラの搬送方向の速度成分と、搬送手段により基板載置台を搬送方向へ搬送する際の基板載置台の搬送方向の速度成分とを等しくするようにしたり、あるいは、カメラの測定視野内に基準スケールの目盛が2つ以上現れないように構成することができる。
【0009】
なお、前記基板は、画像パターンが記録されるものとすることができ、例えば、この記録媒体は、プリント基板作成用の感光材料層を有する基板、あるいは液晶表示器やプラズマ表示器等のディスプレイ基板作成用の感光材料層を有する基板等とすることができる。
【0010】
また、前記搬送手段により基板載置台に載置されて搬送される基板は、基準マークが横断方向に並ぶように基板載置台に載置されることが好ましい。また、基準スケールは横断方向の位置を示す目盛がこの横断方向に並ぶように基板載置台に配置されていることが好ましい。
【0011】
【発明の効果】
本発明の基準マーク位置測定装置は、搬送手段により基板が載置された基板載置台を搬送方向に搬送しつつ、斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させながら上記基板の基準マークの横断方向における位置をこのカメラで測定して上記基準マークの横断方向における位置を示す位置データを取得する位置データ取得手段、搬送手段により基板載置台を搬送方向に搬送しつつ、斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させながら基準スケールの目盛の横断方向における位置をこのカメラで測定して上記目盛の横断方向における位置を示す基準位置データを取得する基準位置データ取得手段、および上記基準位置データに基づいて、上記基準マークの位置データを基準スケールの目盛を基準にした位置データに補正する位置補正手段を備えているので、基板を次工程に搬送しながら基準マークの測定を行なうことができ、この基準マークの測定を開始してから基板を次工程の実施位置に移送するまでの時間を短縮することができる。これとともに、基準マークの位置データを基準スケールの目盛を基準にした位置データに補正することにより基準マークの位置の測定精度を低下を抑制することができる。
【0012】
すなわち、位置データ取得手段によって取得した位置データに横断方向の測定誤差が含まれていても、基準位置データ取得手段によって取得した上記と同様の測定誤差を含む基準位置データを用いて、上記位置データおよび基準位置データそれぞれに含まれる位置誤差を相殺するようにして、上記基準マークの位置データを上記基準スケールの目盛を基準にした位置データに補正することができるので、上記基準マークの位置の測定精度の低下を抑制することができる。
【0013】
また、斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させる際のこのカメラの搬送方向の速度成分と、搬送手段により基板載置台を搬送方向へ搬送する際のこの基板載置台の搬送方向の速度成分とを等しくすれば、例えば、基板載置台に載置された基板中の複数の基準マークあるいは上記基準スケールの目盛が横断方向に並んでいる場合には、各基準マークあるいは各目盛のそれぞれをカメラの測定視野内の同じ位置に位置させて測定を行なうことができ、基準マークの測定精度の低下をより抑制することができる。
【0014】
また、カメラの測定視野内に基準スケールの目盛が2つ以上現れないように構成するようにすれば、基準スケールの目盛の位置をカメラで測定する際に、目盛の位置を容易に測定することができ、この目盛の位置を示す基準位置データを取得する際の処理の負担を軽減することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。図1(a)は本発明の実施の形態の基準マーク位置測定装置の概略構成を示す平面図、図1(b)は上記装置の正面図である。なお図1(a)においてはデータを処理する構成要素を省略している。
【0016】
図1に示すように、本発明の実施の形態による基準マーク位置測定装置100は、感光材料が塗布された、基準マーク11を有するプリント配線用の基板10を載置する基板載置台15と、基板載置台15を所定の搬送方向(図中矢印Y方向)に搬送する定盤65上に配設された搬送部20と、基板載置台15に配置された、上記搬送方向と直交する横断方向(図中矢印X方向)における位置を示す目盛26A、26B、26C、26D(各目盛をまとめて目盛26ともいう)を有する基準スケール25と、基準マーク11および目盛26の横断方向における位置を測定するためのカメラ30と、カメラ30を、搬送方向に対して斜めに交わるこの搬送方向に向かう斜走査方向に移動させる斜走査部35とを備えている。上記斜走査部35は、搬送方向に対して斜めに交わり基板載置台の進行方向に沿った方向である斜走査方向(図中矢印J方向)にカメラ30を移動させる。
【0017】
なお、基準スケール25は、目盛11を基板載置台15に直接形成したものであってもよいし、基板載置台15とは個別に製作したものをこの基板載置台15に配設するようにしてもよい。
【0018】
斜走査部35は、定盤65上に配設された2本の支柱36と、2本の支柱36に両端が支持された上記斜走査方向に延びるレール37と、レール37に組み合わされる移動台38とを有する門型の構造からなり、この斜走査部35は搬送部20をまたぐように定盤65上に配置されている。上記移動台38はカメラ30を支持し、このカメラ30と一体的にレール37に沿って上記斜走査方向に移送される。
【0019】
基板10の基準マーク11は、基板10の表面に形成されたり、あるいは基板10が表面に透明層が積層されているものである場合にはこの基板10の内部に形成される場合もある。
【0020】
さらに、この基準マーク位置測定装置100は、搬送部20により基板載置台15を搬送方向に搬送しつつ、斜走査部35によりカメラ30を斜走査方向に移動させながら基板10の各基準マーク11の位置をカメラ30で測定して各基準マーク11の位置を示す位置データを取得する位置データ取得部40と、搬送部20により基板載置台15を搬送方向に搬送しつつ、斜走査部35によりカメラ30を斜走査方向に移動させながら基準スケール25の各目盛26の位置をカメラ30で測定して各目盛26の位置を示す基準位置データを取得する基準位置データ取得部45と、上記基準位置データに基づいて、基準マーク11の位置データを基準スケール25の目盛26を基準にした位置データに補正する位置補正部50とを備えている。
【0021】
上記基準マーク位置測定装置100は、斜走査部35によりカメラ30を斜走査方向に移動させる際のカメラ30の搬送方向の速度成分と、搬送部20により基板載置台15を搬送方向へ搬送する際の基板載置台15の搬送方向の速度成分とが概略等しくなるように、かつ、カメラ30の測定視野内に基準スケール25の目盛26A、26B、26C、26Dが2つ以上現れないように構成されている。また、装置全体の動作およびこれらの動作のタイミング等はコントローラ60によって制御される。
【0022】
なお、上記レール37には、斜走査方向の位置を示すニアスケール71が配設され、上記レール37に組み合わされる移動台38には上記リニアスケール71の目盛を読み取るためのスケール検出器72が配設され、このスケール検出器72は斜走査部35によりカメラ30とともに斜走走査方向に移送される。
【0023】
上記搬送部20の側面には、搬送方向の位置を示すリニアスケール75が配設され、上記搬送部20によって搬送される基板載置台15には上記リニアスケール75の目盛を読み取るためのスケール検出器76が配設され、このスケール検出器76は搬送部20により基板載置台15とともに搬送される。
【0024】
上記リニアスケール71の目盛を読み取ってスケール検出器72から出力されるパルス、およびリニアスケール75の目盛を読み取ってスケール検出器76から出力されるパルスはコントローラ60に入力される。コントローラ60は上記入力したパルスに基づいて上記搬送部20による基板載置台15の搬送と、斜走査部35による移動台38の移動とを同期制御するとともに、カメラ30が基準マーク11および基準スケール25の目盛26を測定するタイミング、すなわち、基準マーク11および目盛26の画像を取り込むタイミングを制御する。
【0025】
なお、搬送部20は基板載置台15を搬送方向に移動させるものであればどのように構成されたものであってもよく、また、斜走査部35はカメラ30を斜走査方向に移動させるものであればどのように構成されたものであってもよい。例えば、上記搬送部20および斜走査部35は、従来より知られている機械要素等で構成することができる。より具体的には、例えば、移動機構としてはレール上に移動ステージを移動させるボール・レールシステム、エアスライドシステム等を採用することができ、移動駆動力伝達機構としては、ラック・ピニオン機構、ボールネジ・ボールブッシュ機構、あるいはピストン・シリンダ機構等を採用することができる。また、移動駆動原としては、回転モータ、リニアモータ、油圧アクチュエータ、空圧アクチュエータ等を採用することができる。
【0026】
次に上記実施の形態における作用について説明する。図2は基準マーク位置測定装置で測定が行われる前後工程で使用される基板供給機と露光装置とを示す側面図、図3は基板の基準マークを示す平面図、図4はカメラが基準マーク111Aを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図、図5はカメラが取得した基準マーク111Aを含む画像を示す図、図6はカメラが基準マーク111Bを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図、図7はカメラが1行目の各基準マーク111を測定するときに各画像中に現れる各基準マーク111の位置を示す図、図8はカメラが基準マーク111Dを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図、図9はカメラが基準マーク113Dを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図である。なお、図4以降の図においてはリニアスケール71、スケール検出器72、リニアスケール75、スケール検出器76、位置データ取得部40、基準位置データ取得部45、および位置補正部50の図示を省略した。
【0027】
図2に示すように、先端に吸着部を有する移送アーム83が配された基板供給機82により、多数の基板が収容されている供給ストッカ81から基板10が取り出されて、この基板10が基準マーク位置測定装置100の基板載置台15上に載置される。
【0028】
搬送部20により、上記基板載置台15に載置された、基準マーク11を有する基板10が所定の搬送方向(図中矢印Y方向)に搬送される。これとともに、斜走査部35が、移動台38を斜走査方向に移動させる。なお、搬送部20は、基板10を次工程である露光処理を行う露光工程に向けて搬送する。また、次工程である露光工程では、露光ヘッド86を有する露光装置85が基板10を露光する。
【0029】
搬送部20により基板載置台15を搬送方向に搬送しつつ、斜走査部35によりカメラ30が配設された移動台38を斜走査方向に移動させながら、位置データ取得部40が、カメラ30が取得した画像を入力し基準マーク11の横断方向における位置および搬送方向における位置を示す位置データを取得する。
【0030】
なお、図3に示すように、基板載置台15に載置された基板10の各基準マーク11は、横断方向に基準マークが4つ並ぶ行が搬送方向に3行並ぶように形成されている。1行目の4つの基準マーク111として、111A、111B、111C、111Dを有し、2行目の4つの基準マーク112として、112A、112B、112C、112Dを有し、3行目の4つの基準マーク113として、113A、113B、113C、113Dを有する。
【0031】
また、上記各基準マーク11、および基準スケール25の各目盛26A、26B、26C、および26Dをカメラ30で測定する位置は予め設定されている。すなわち、上記カメラ30とともに移動台38に配設されて斜走査方向に移動するスケール検出器72がリニアスケール71の原点を検出してからこのリニアスケール71の目盛を読み取って出力するパルス数をPnとし、上記基板載置台15とともに搬送されるスケール検出器76がリニアスケール75の原点を読み取ってからこのリニアスケール75の目盛を読み取って出力するパルス数をPmとすると、カメラ30が各基準マーク11と各目盛26の画像を取り込む位置は上記出力されるパルス数Pn、パルス数Pmで定められる。上記カメラ30が上記各画像を取り込む位置は、パルス数Pn、パルス数Pmに基づいて以下の表1に示すように設定されている。
【0032】
【表1】
Figure 2004348045
表1に示すように、例えば、カメラ30により基準マーク111Aを測定するときには、コントローラ60が上記出力されるパルス数Pnが1000のときにパルス数Pmが1000となるように搬送部20による基板載置台15の搬送と斜走査部35による移動台38の移送とを同期制御し、パルス数Pnが1000、かつパルス数Pmが1000となったときにカメラ30が画像を取り込むようにコントローラ60からカメラ30に対して信号を出力する。
【0033】
ここで、1列目の基準マーク111A,112A,113Aおよび基準スケール25の目盛26Aがカメラ30で測定される位置は横断方向に同じ位置(上記出力されるパルス数Pnが1000になる位置)であり、以下2列目、3列目、および4列目においても各基準マーク11および各目盛26がカメラ30で測定される位置は、それぞれ横断方向に同じ位置(上記出力されるパルス数Pnがそれぞれ2000、3000、4000になる位置)となる。
【0034】
また、上記各パルス数の設定により定められるカメラ30が各画像を取り込むときの基板載置台15上の位置(基板載置台を基準とした位置)は、上記表1に示すように、例えば、基準マーク111Aの画像を取り込むときのカメラ30の測定視野の中心(以後、視野中心Ceという)の位置は基板載置台15上の座標値(X1、Y1)で示される位置であり、基準スケール25の目盛26Cの画像を取り込むときのカメラ30の視野中心Ceの位置は基板載置台15上の座標値(X3、Y4)で示される位置である。上記表1に示すそれぞれの視野中心Ceの座標値は位置補正部50に予め入力され記憶されている。
【0035】
なお、基準スケール25の各目盛26は基板載置台15に配設されているので基板載置台15を基準にした各目盛26の正確な位置は予め測定され位置補正部50に記憶されており、基板載置台15を基準にした目盛26Aの座標値は(U1,V1),目盛26Bの座標値は(U2,V1),目盛26Cの座標値は(U3,V1),目盛26Dの座標値は(U4,V1)である。これに対して、上記各基準スケール11および各目盛26の画像を取り込むときのカメラ30の視野中心Ceは、リニアスケールの目盛のカウント数に基づいて定められるので、カメラ30が上記画像を取り込むときの視野中心Ceの位置の再現性は高いが、上記予め設定された基板載置台15を基準にした視野中心Ceの座標値に対しては誤差を含む。したがって、例えば、基準マーク111Aの画像を取り込むときのカメラ30の視野中心Ceの位置は座標値(X1、Y1)と正確には一致しない場合もある。
【0036】
次に、上記各基準マーク11の位置を示す位置データおよび基準スケール25の各目盛26の位置を示す基準位置データが取得される場合について詳しく説明する。
【0037】
定盤65に対する基板載置台15の搬送方向の位置を示す上記スケール検出器72からのパルス数Pnと、定盤65に対するカメラ30の視野中心Ceの位置を示す上記スケール検出器76からのパルス数Pmとをコントローラ60がカウントし、このコントローラ60が、上記パルス数Pn、Pmが予め定められた上記表1に示す設定値に合致するように、搬送部20による基板載置台15の搬送と斜走査部35による移動台38の移送とを同期制御する。そして、上記パルス数Pn、Pmが上記設定値に合致したときにコントローラ60がカメラ30に対して画像取り込ようにこのカメラ30に信号を出力し、カメラ30が画像を取り込む。ここで、カメラ30の視野中心Ceの位置に対応する基板載置台15上の位置は予め定められている(表1の視野中心Ceの座標値参照)。
【0038】
さらに、カメラ30の測定視野内に入った基準マーク11(または目盛26)の上記視野中心Ceの位置を基準にした位置が、上記カメラ30によって取得された画像に基づいて求められ、これが基板載置台15上における基準マーク11(または目盛26)の位置を示す位置データ(基準位置データ)となる。
【0039】
より具体的には、図4に示すように、基準マーク111Aの位置をカメラ30で測定するときには、スケール検出器72から出力されるパルス数Pnが1000、スケール検出器76から出力されるパルス数Pmが1000となったときにコントローラ60からの指示によりカメラ3によって基準マーク111Aを含む画像が取り込まれる。
【0040】
ここで、基板載置台15上における基準マーク111Aの位置は、基板載置台15上へ基板10を配置するときの位置決め誤差や、基板10自身の歪み等によって、予め予想される位置からずれるので、図5に示すように、上記カメラ30により取り込まれた画像に現れる基準マーク111Aの中心Deの位置と視野中心Ceの位置とはずれている。カメラ30から上記画像を入力した位置データ取得部40は、上記視野中心Ceの位置を基準にした基準マーク111Aの中心Deの位置を示す座標値(e11、f11)を位置データとして取得する。
【0041】
上記のようにして、位置データ取得部40が、カメラ30により取り込まれた画像が示す各視野中心Ceの位置を基準にした各基準マーク11の中心Deの位置の座標値をそれぞれ位置データとして取得する。
【0042】
次に、スケール検出器72から出力されるパルス数Pnが2000、スケール検出器76から出力されるパルス数Pmが1200となったときに、コントローラ60からの指示によりカメラ30が画像を取り込む。このとき、カメラ30は、図6に示すように、基準マーク111Bの画像を取り込む位置に位置する。
【0043】
なお、カメラ30の搬送方向の速度成分と、基板載置台15の搬送方向の速度成分とが等しくなるように設定されており、かつ、基板10中には基準マークが横断方向(図中矢印X方向)に4つの並んでいる。これにより、図7に示すように、基準マーク111A、111B、111C、111Dの画像を取込んだときには、カメラ30の測定視野内に現れる各基準マーク111A、111B、111C、111Dの中心Deの位置は横断方向に平行な直線G上に位置となる。これにより、各基準マーク11の位置データの取得を容易に行うことができる。
【0044】
1行目の基準マーク111に関する測定の最後に、カメラ30は、図8に示すように、基準マーク111Dの画像を取り込む位置に位置する。
【0045】
上記基準マーク111に関する測定が終了すると、斜走査部35が、上記斜走査方向に移動したカメラ30を初期位置に戻す。なお、カメラ30の初期位置は、カメラ30の移動範囲中のリニアスケール71の原点側の端部37Sである(図1参照)。
【0046】
つづいて、上記搬送部20による基板載置台15の搬送を継続しつつ、斜走査部35により初期位置に戻ったカメラ30を斜走査方向に移動させながら、上記と同様に、各基準マーク112A,112B、112C,112Dの位置を示す上記と同様の位置データが位置データ取得部40によって取得される。
【0047】
さらに、上記と同様の動作を繰り返して、各基準マーク113A,113B、113C,および113Dの位置を示す上記と同様の位置データが位置データ取得部40によって取得される。
【0048】
ここで、基板10が搬送方向に搬送されながら上記測定が行われるので、測定対象となる最後の基準マーク113Dを測定するときには、図9に示すように、基板10は搬送部20によって搬送され、次工程である基板10の露光処理が行われる露光装置85の露光領域87に近づく。
【0049】
このようにして、最初の基準マーク111Aから最後の基準マーク113Dまでの測定が行われる。基準マーク113Dの測定が終了すると斜走査部35が、斜走査方向に移動したカメラ30を初期位置に戻す。
【0050】
次に、搬送部20により基板載置台15の搬送を継続しつつ、斜走査部35により初期位置に戻ったカメラ30を斜走査方向に移動させながら、基準スケール25の目盛26の位置をカメラ30で測定して基板載置台15上における各目盛26の横断方向および搬送方向における位置を示す基準位置データを取得する。
【0051】
以下、基準位置データ取得部45による上記基準位置データの取得について説明する。図10はカメラが取得した基準スケールの目盛を含む画像を示す図、図11はカメラが目盛26Dを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図である。
【0052】
上記位置データ取得部40が各基準マーク11の位置を示す位置データを取得した上記と同様の動作により、基準スケール25の各目盛26の位置を示す基準位置データが基準位置データ取得部45によって取得される。
【0053】
すなわち、搬送部20による基板載置台15の搬送を継続しつつ、初期位置に戻ったカメラ30を斜走査部35により斜走査方向に移動させながら、スケール検出器72から出力されるパルス数Pnと、スケール検出器76から出力されるパルス数Pmとが予め定められた上記表1に示す設定値に合致したときにカメラ30により画像を取り込む。これにより、例えば、図10に示すような、基準スケール25の目盛26Aを含む画像の取得により、カメラ30の視野中心Ceの位置を基準にした目盛26Aの中心Deの位置を示す座標値(e14,f14)が基準位置データとして求められる。
【0054】
なお、カメラ30の測定視野内には基準スケールの目盛が2つ以上現れないように構成されているので、カメラ30で取り込まれた画像に基づく各目盛26の位置の測定をより容易に行うことができる。
【0055】
この基準スケール25の各目盛26の測定も基板載置台15を搬送方向に搬送しながら行なうので、測定対象となる最後の目盛26Dを測定するときには、図11に示すように、基板10は、次工程である基板の露光処理が行われる露光装置85の露光領域87に向けてさらに搬送されている。
【0056】
次に、位置補正部50が、上記基準位置データに基づいて、各基準マーク11の位置データを基準スケール25の各目盛26を基準にした位置データに補正する処理について説明する。ここでは、基準マーク111Aの位置をカメラ20で測定して得られた位置データの補正について詳しく説明する。図12は位置補正部による位置データの補正手法を示す図である。
【0057】
図12に示すように、予め設定されたパルス数(パルス数Pnが1000、パルス数Pmが1000)が検出されたときに、カメラ30で基準マーク111Aの画像を取り込んだときのこのカメラ30の視野中心Ceの基板載置台15を基準とした位置を示す座標は座標値(X1、Y1)であり、一方、位置データ取得部40が取得した位置データである上記視野中心Ceを基準とした基準マーク111Aの中心Deの位置を示す座標は座標値(e11、f11)である。
【0058】
また、予め設定されたパルス数(パルス数Pnが1000、パルス数Pmが4000)が検出されたときに、カメラ30で基準スケール26Aの画像を取り込んだときのこのカメラ30の視野中心Ceの基板載置台15を基準とした位置を示す座標は座標値(X1、Y4)であり、一方、基準位置データ取得部45が取得した基準位置データである上記視野中心Ceを基準とした目盛26Aの中心Deの位置を示す座標は座標値(e14、f14)である。さらに、予め位置補正部50に入力され記憶された基板載置台15を基準とした目盛26Aの位置を示す正確な座標は座標値(U1、V1)である。
【0059】
基準マーク111Aの中心Deの基板載置台15を基準とした位置を示す座標を座標値(XX1、YY1)とすると、横断方向の座標値XX1は以下の式によって求めることができる。
【0060】
XX1=U1−e14+e11
すなわち、基準マーク111Aをカメラ30で測定したときの視野中心Ceの横断方向の座標値と目盛26Aをカメラ30で測定したときの視野中心Ceの横断方向の座標値とは等しいと考えられるので(どちらの場合もスケール検出器72から出力されたパルス数Paが1000のときに取得された画像なので)、これにより、位置データ取得部40が取得した基準マーク111Aの横断方向における位置を示す位置データを、基準スケール25の目盛26Aを基準にしたより正確な位置データに補正することができる。
【0061】
上記と同様の手法により、位置補正部50が、位置データ取得部40が取得した2行目の基準マーク112Aおよび3行目の基準マーク113Aの横断方向の位置を示す位置データを、基準スケール25の目盛26Aを基準にしたより正確な位置データに補正する。
【0062】
上記と同様に、位置補正部50が、位置データ取得部40が取得した基準マーク111B、112B、113Bの各中心Deの位置を示す位置データを基準スケール25の目盛26Bを基準にした、より正確な位置データに補正し、基準マーク111C、112C、113Cの各中心Deの位置を示す位置データを基準スケール25の目盛26Cを基準にした、より正確な位置データに補正する。
【0063】
なお、位置補正部50は、基準マーク111Aの中心Deの基板載置台15を基準とした搬送方向の位置を示す上記座標値YY1を以下の式によって求める。
【0064】
YY1=V1―f14+(Y1−Y4)+f11
すなわち、上記演算により、位置データ取得部40が取得した基準マーク111Aの中心Deの搬送方向における位置を示す位置データが、基準スケール25の目盛26Aを基準にした位置データに補正される。
【0065】
上記と同様に、位置データ取得部40が取得した各基準マーク11の中心Deの搬送方向における位置を示す位置データが上記手法によって、基準スケール25の各目盛26を基準にした位置データに補正され、位置補正部50による補正が終了する。
【0066】
上記のことにより、基準マーク位置測定装置が基板を次工程に向けて搬送しながら、基準マークの位置を測定するので、上記測定を開始してからこの基板を次工程に送るまでの時間を短縮することができ、さらにこの測定された基準マークの位置の補正を行なうので、基準マークの位置の測定精度を低下を抑制することができる。
【0067】
なお、上記実施の形態においては、斜走査手段によりカメラを斜走査方向に移動させる際のこのカメラの搬送方向の速度成分と、搬送手段により基板載置台を搬送方向へ搬送する際の基板載置台の搬送方向の速度成分とを等しくする例を示したが、必ずしも上記2つの速度成分を等しくする場合に限らず、上記2つの速度成分が等しくしない場合であっても上記と同様の効果を得ることができる。
【0068】
また、上記実施の形態においては、カメラの測定視野内に基準スケールの目盛が2つ以上現れないように構成する例を示したが、カメラの測定視野内に基準スケールの目盛が2つ以上現れるように構成した場合であっても上記と同様の基板の基準マークの測定を開始してからこの基板を次工程の実施位置に移送するまでの時間を短縮する効果を得ることができる。
【0069】
また、基準マーク位置測定装置は、図13(a)、(b)に示すように、斜走査部35に複数のカメラ、例えば、カメラ30Aおよびカメラ30Bを備えるようにし、これらのカメラ30A、30Bを斜走査方向(図中矢印J方向)に移動させて、上記と同様に基板10の基準マーク11および基準スケール25の目盛26の位置を測定するようにしてもよい。なお、図13(a)は上記基準マーク位置測定装置の概略構成を示す平面図、図13(b)は上記装置の正面図である。
【0070】
上記のように、複数のカメラを備えるようにすることにより、カメラが1台の場合に比して、カメラの移動速度をより低速にすることができ、カメラのブレを少なくすることができるので、基準スケールの目盛や基準マークをより正確に測定することができる。
【0071】
また、基準マーク位置測定装置は、図14に示すように、定盤65上に配設された2本の支柱36Eと、上記2本の支柱36Eに両端が支持された横断方向(図中矢印X方向)に対して平行に延びるレール37Eと、レール37Eに組み合わされるこのレール37E上を移動可能な4つの移動台38Eとを有する門型の構造からなるカメラ保持部35Eを、斜走査部35の代わりに備えるようにし、4つの移動台38Eに、複数のカメラ、例えば、カメラ30A、30B、30C、30Dを配置するようにしてもよい。なお、図14(a)は上記基準マーク位置測定装置の概略構成を示す平面図、図14(b)は上記装置の正面図である。
【0072】
この場合には、基板10の基準マーク11および基準スケール25の目盛26の位置を測定するときに、各カメラ30(カメラ30A、30B、30C、30D)の位置を移動せずに測定を行う。すなわち、図15に示すように、固定された4台のカメラそれぞれが搬送される基板上の基準マークを測定するようにし、カメラ30Aが搬送方向(図中矢印Y方向)へ並ぶ基準マーク111A,112A、113Aを測定し、カメラ30Bが上記と同様に搬送方向へ並ぶ基準マーク111B,112B、113Bを測定し、カメラ30Cが搬送方向へ並ぶ基準マーク111C,112C、113Cを測定し、カメラ30Dが搬送方向へ並ぶ基準マーク111D,112D、113Dを測定する。ここで、基板に配置される基準マークの位置が変更された場合には、各移動台38Eをレール37E上に横断方向へ移動させて各カメラ30の位置を変更する。
【0073】
上記のように、基準スケールの目盛や基準マークを、位置が固定された複数のカメラをで測定することにより、カメラを移動させるときの振動の発生等を防止することができ、カメラのブレを少なくすることができるので、基準スケールの目盛や基準マークをより正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の基準マーク位置測定装置の概略構成を示す図
【図2】基準マーク位置測定装置で測定が行われる前後工程で使用される基板供給機と露光装置とを示す側面図
【図3】基板の基準マークを示す平面図
【図4】カメラが基準マーク111Aを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図
【図5】カメラが取得した基準マーク111Aを含む画像を示す図
【図6】カメラが基準マーク111Bを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図
【図7】カメラが1行目の各基準マーク111を測定するときに各画像中に現れる各基準マーク111の位置を示す図
【図8】カメラが基準マーク111Dを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図
【図9】カメラが基準マーク113Dを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図
【図10】カメラが取得した基準スケールの目盛を含む画像を示す図
【図11】カメラが目盛26Dを測定する位置に移動したときの様子を示す平面図
【図12】位置補正部による位置データの補正手法を示す図
【図13】斜走査方向に移動する2台カメラを有する基準マーク位置測定装置の概略構成を示す図
【図14】固定された4台カメラを有する基準マーク位置測定装置の概略構成を示す図
【図15】固定された4台カメラそれぞれで測定される基準マークを示す図
【符号の説明】
10 基板
11 基準マーク
12 基板載置台
20 搬送部
25 基準スケール
26 目盛
30 カメラ
35 斜走査部
65 定盤
100 基準マーク位置測定装置

Claims (3)

  1. 基準マークを有する基板を載置する基板載置台と、
    前記基板載置台を所定の搬送方向に搬送する搬送手段と、
    前記基板載置台に配置された、前記搬送方向と直交する横断方向における位置を示す目盛を有する基準スケールと、
    前記基準マークおよび前記目盛の前記横断方向における位置を測定するためのカメラと、
    該カメラを、前記搬送方向に対して斜めに交わる該搬送方向に向かう斜走査方向に移動させる斜走査手段と、
    前記搬送手段により前記基板載置台を前記搬送方向に搬送しつつ、前記斜走査手段により前記カメラを前記斜走査方向に移動させながら前記基板の基準マークの前記横断方向における位置を該カメラで測定して該基準マークの前記横断方向における位置を示す位置データを取得する位置データ取得手段と、
    前記搬送手段により前記基板載置台を前記搬送方向に搬送しつつ、前記斜走査手段により前記カメラを前記斜走査方向に移動させながら前記基準スケールの目盛の前記横断方向における位置を該カメラで測定して該目盛の前記横断方向における位置を示す基準位置データを取得する基準位置データ取得手段と、
    前記基準位置データに基づいて、前記基準マークの位置データを前記基準スケールの目盛を基準にした位置データに補正する位置補正手段とを備えていることを特徴とする基準マーク位置測定装置。
  2. 前記斜走査手段により前記カメラを前記斜走査方向に移動させる際の該カメラの前記搬送方向の速度成分と、前記搬送手段により前記基板載置台を前記搬送方向へ搬送する際の該基板載置台の前記搬送方向の速度成分とを等しくしたことを特徴とする請求項1記載の基準マーク位置測定装置。
  3. 前記カメラの測定視野内に前記基準スケールの目盛が2つ以上現れないように構成されていることを特徴とする請求項1または2記載の基準マーク位置測定装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006284890A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Fuji Photo Film Co Ltd アライメントセンサの位置校正方法、基準パターン校正方法、露光位置補正方法、校正用パターン及びアライメント装置
JP2007085912A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Omron Corp 位置測定方法及び位置測定装置並びに位置測定システム
JP2007108037A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Omron Corp 位置測定方法、距離測定方法及び位置測定装置
JP2010093250A (ja) * 2008-10-07 2010-04-22 Asml Netherlands Bv 基板測定方法および基板測定装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006284890A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Fuji Photo Film Co Ltd アライメントセンサの位置校正方法、基準パターン校正方法、露光位置補正方法、校正用パターン及びアライメント装置
JP4533785B2 (ja) * 2005-03-31 2010-09-01 富士フイルム株式会社 アライメントセンサの位置校正方法、基準パターン校正方法、露光位置補正方法、校正用パターン及びアライメント装置
JP2007085912A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Omron Corp 位置測定方法及び位置測定装置並びに位置測定システム
JP2007108037A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Omron Corp 位置測定方法、距離測定方法及び位置測定装置
JP2010093250A (ja) * 2008-10-07 2010-04-22 Asml Netherlands Bv 基板測定方法および基板測定装置

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