JP2004281047A - 情報記録媒体および記録再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】データの記録に先だって、データのパターンに応じたファーストパルスとラストパルスの最適な移動量を求め、正しい位置にマークを記録する。
【解決手段】特定パターンを記録したトラックの再生を行い、２値化回路１１５において所定のスライスレベルより２値化され、０、１の信号列に変換された信号における特定のエッジ間隔をパルス位置ずれ測定回路１２０で測定する。測定したエッジ間隔と正規の値とのずれ量が小さくなるように、パルス移動回路１１０のファーストパルス、ラストパルスの移動量の設定を更新する。
【選択図】 図１

Description

本発明は記録可能な情報記録媒体、および情報記録媒体への光学情報の記録再生装置に関する。

情報記録媒体に光学情報、特にデジタル情報を記録再生する装置は、大容量のデータを記録再生する手段として注目されている。

記録可能な光学的情報記録媒体の一つに相変化型光ディスクがある。相変化型光ディスクへの記録は、半導体レーザの光ビームを回転するディスクに照射し、記録膜を加熱融解させることで行う。その光ビーム強度の強弱により記録膜の到達温度および冷却過程が異なり、記録膜の相変化が起こる。

光ビーム強度が強い時は、高温状態から急速に冷却するので記録膜がアモルファス化し、また光ビーム強度が比較的弱いときは、中高温状態から徐々に冷却するので記録膜が結晶化する。アモルファス化した部分を通常マークと呼び、マークとマークの間の結晶化した部分を通常スペースと呼ぶ。そしてこのマークとスペースに二値情報を記録する。通常光ビーム強度が強い時のレーザパワーをピークパワー、光ビーム強度が弱い時のレーザパワーをバイアスパワーと呼ぶ。

再生時は、記録膜が相変化を起こさない程度に弱い光ビームを照射し、その反射光を検出する。通常アモルファス化したマーク部分は反射率が低く、結晶化したスペース部分は反射率が高い。よってマーク部分とスペース部分の反射光量の違いを検出して再生信号を得る。

相変化型光ディスクへのデータの記録方式として、マークポジション記録方式（またはＰＰＭ方式）とマークエッジ記録方式（またはＰＷＭ方式）があり、通常はマークエッジ記録方式の方が情報記録密度が高くなる。

マークエッジ記録方式では、マークポジション記録方式と比較して長いマークを記録する。相変化型光ディスクにピークパワーを照射して長いマークを記録すると、記録膜の熱蓄積のために、マークの後半部ほど半径方向の幅が太くなる。これはダイレクトオーバライトしたとき消し残りが発生したり、再生時にトラック間の信号クロストークを発生するなど、信号品質を大きく損ねる。

また、記録密度を高めるために、記録するマークおよびスペースの長さを短くすることが考えられるが、この場合、特にスペース長が短くなると、記録したマークの終端の熱がスペース部分を伝導して次のマークの始端の温度分布に影響を与えたり、逆に次に記録したマークの始端の熱が前のマークの終端の冷却過程に影響を与えたりする熱干渉が生じる。従来の記録法方で熱干渉が生じると、マークのエッジ位置が変動することになり、再生時の誤り率が増加するという課題があった。

以上の様な課題に対して、特許文献１（または特許文献２及び特許文献３）において、マークエッジ記録のマークに相当する部分を、一定幅の始端部分、一定周期のパルス状の中間部分、一定幅の終端部分に分解した信号とし、これで２値のレーザ出力を高速にスイッチングして記録した。

すると長いマークの中間部分は一定周期のパルス状にレーザ電流を駆動することによりマーク形成に必要最小限のパワーを照射するのでマーク幅が広がらずほぼ一定幅となり、マークの始端部分、終端部分には一定幅のレーザ光が十分に照射されるので、ダイレクトオーバライト時にも、形成されるマークのエッジ部分のジッターが増加しなかった。

更にマークの始端部分と終端部分の位置を、マーク長が小さいときとマーク前後のスペース長が小さいときにこれを検出し、マーク長やスペース長が大きいときの位置とは変化させて記録することにより、熱干渉に起因するピークシフトを記録時に補償することが可能になった。

特開平７−１２９９５９号公報 米国特許第5,490,126号明細書 米国特許第5,636,194号明細書

しかしながら特許文献１では、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を求める手法について言及されていない。

最適な手法が確立されていなければ、最適記録自体の信頼性が低かったり、最適記録が実現できても、最適位置の過剰な探索による時間の浪費や回路コストの浪費につながる。

また、マーク始端部分と終端部分の位置をデータに応じて変化させるという手法は、データの高密度化を実現するために発明されたが、記録するマークのエッジが熱的な影響で動くという微妙な現象は、ディスクの構造や記録膜組成、および記録装置の特性に依存するところが大きく、これらが少しでも異なると、最適な記録を行えないという課題があった。

本発明は上記課題を鑑み、ディスクの構造や記録膜組成、および記録装置の特性が異なっても、マーク始端部分とマーク終端部分の最適な位置を簡単に求めて、最適な記録を行えるような情報記録媒体、記録再生装置を提供することを目的とする。

この課題を解決するため、本発明の第1の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体において、
データを記録するデータ記録領域と、
特定記録装置に情報記録媒体が装着された場合、その特定記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、該特定記録装置の固有情報と共に記録するための特定情報記録領域と、
を有することを特徴とする情報記録媒体である。

第２の観点によれば、上記特定記録装置の固有情報は、該特定記録装置の製造会社名，製品番号，製造場所、製造年月日の少なくともいずれか一つであることを特徴とする第1の観点に記載の情報記録媒体である。

第３の観点によれば、上記特定情報記録領域には、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報を記録することを特徴とする第1の観点に記載の情報記録媒体である。

第４の観点によれば、上記特定情報記録領域には、さらに上記前照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を記録することを特徴とする第３の観点に記載の情報記録媒体である。

第５の観点によれば、上記特定情報記録領域には、さらにデータ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報を記録することを特徴とする第1の観点に記載の情報記録媒体である。

第６の観点によれば、上記特定情報記録領域には、さらに上記後照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を記録することを特徴とする第５の観点に記載の情報記録媒体である。

第７の観点によれば、上記特定情報記録領域には、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられるアシンメトリの情報を記録することを特徴とする第1の観点に記載の情報記録媒体である。

第８の観点によれば、上記情報記録媒体は、さらに、該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの一般始端パルス位置Ｔｕと一般終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、予め記録しておく制御情報記録領域を有することを特徴とする第1の観点に記載の情報記録媒体である。

第９の観点によれば、上記特定情報記録領域には、複数の異なった記録装置に対し、それぞれの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方と、該特定記録装置の固有情報との対を記録することを特徴とする第1の観点に記載の情報記録媒体である。

第１０の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体であって、
データを記録するデータ記録領域と、特定記録装置に情報記録媒体が装着された場合、その特定記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、該特定記録装置の固有情報と共に記録するための特定情報記録領域と、を有する情報記録媒体が装着可能な記録再生装置において、
情報記録媒体の所定の領域から情報記録媒体の固有の情報を読み出す再生手段と、
読み出された固有の情報を保持するメモリを有することを特徴とするの記録再生装置である。

第１１の観点によれば、上記情報記録媒体の固有の情報は、該情報記録媒体の製造会社名，製品番号，製造場所、製造年月日の少なくともいずれか一つであることを特徴とする第１０の観点に記載の記録再生装置である。

第１２の観点によれば、上記メモリには、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報を記録することを特徴とする第１０の観点に記載の記録再生装置である。

第１３の観点によれば、上記メモリには、さらに上記前照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を記録することを特徴とする第１２の観点に記載の記録再生装置である。

第１４の観点によれば、上記メモリには、さらにデータ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報を記録することを特徴とする第１０の観点に記載の記録再生装置である。

第１５の観点によれば、上記メモリには、さらに上記後照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を記録することを特徴とする第１４の観点に記載の記録再生装置である。

第１６の観点によれば、上記メモリには、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられるアシンメトリの情報を記録することを特徴とする第９の観点に記載の記録再生装置である。

第１７の観点によれば、上記メモリには、さらに、上記特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を記録することを特徴とする第１０の観点に記載の記録再生装置である。

第１８の観点によれば、上記メモリには、装着された複数の異なった情報記録媒体に対し、それぞれの固有情報を記録することを特徴とする第１０の観点に記載の記録再生装置である。

第１９の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体であって、
データを記録するデータ記録領域と、特定記録装置に情報記録媒体が装着された場合、その特定記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、該特定記録装置の固有情報と共に記録するための特定情報記録領域と、を有する情報記録媒体に記録する方法において、
該特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を決定し、
その後、該データ記録領域に、データを記録することを特徴とする記録方法である。

第２０の観点によれば、上記特定始端パルス位置Ｔｕは、パターン信号のマーク部およびその直前のスペース部の長さにより求められ、上記特定終端パルス位置Ｔｄは、パターン信号のマーク部およびその直後のスペース部の長さにより求められることを特徴とする第１９の観点に記載の記録方法である。

第２１の観点によれば、上記特定始端パルス位置Ｔｕは、記録すべきパターン信号のマーク部の先頭エッジである第１基準点Ｒ１と、該複数の駆動パルスのファーストパルスの始端エッジとの時間差ＴＦで表される一方、上記特定終端パルス位置Ｔｄは、記録すべきパターン信号のマーク部の終端エッジと所定の位置関係にある第２基準点Ｒ２と、該複数の駆動パルスのラストパルスの終端エッジとの時間差ＴＬで表されることを特徴とする第１９の観点に記載の記録方法である。

第２２の観点によれば、上記パターン信号にはＤＳＶを０にするための調整信号が含まれていることを特徴とする第２０の観点に記載の方法である。

第２３の観点によれば、上記特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方の決定は、情報記録媒体の特定情報記録領域を再生し、必要な情報を得て行うことを特徴とする第１９の観点に記載の方法である。

第２４の観点によれば、上記特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方の決定は、情報記録媒体が装着された特定記録再生装置のメモリ情報を読み出し、必要な情報を得て行うことを特徴とする第１９の観点に記載の方法である。

第２５の観点によれば、上記特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方の決定された情報は、該特定記録装置の固有情報と共に上記情報記録媒体の上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第１９の観点に記載の方法である。

第２６の観点によれば、上記特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方の決定された情報は、上記情報記録媒体の固有の情報と共に、上記特定記録装置のメモリに記録することを特徴とする第１９の観点に記載の方法である。

第２７の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第１９の観点に記載の方法である。

第２８の観点によれば、さらに上記前照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第２７の観点に記載の方法である。

第２９の観点によれば、さらにデータ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第１９の観点に記載の方法である。

第３０の観点によれば、さらに上記後照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第２９の観点に記載の方法である。

第３１の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられるアシンメトリの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第１９の観点に記載の情報記録媒体である。

第３２の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体であって、
データを記録するデータ記録領域と、特定記録装置に情報記録媒体が装着された場合、その特定記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、該特定記録装置の固有情報と共に記録するための特定情報記録領域と、を有する情報記録媒体に記録する方法において、
マークを記録するための光ビームの照射パワーを決定し、
その後、該特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を決定することを特徴とする記録方法である。

第３３の観点によれば、上記光ビームの照射パワーの決定は、予め決められた所定のパターン信号を情報記録媒体に記録することにより決定されることを特徴とする第３２の観点に記載の記録方法である。

第３４の観点によれば、上記所定のパターン信号には単一信号が含まれていることを特徴とする第３３の観点に記載の記録方法である。

第３５の観点によれば、上記所定のパターン信号にはＤＳＶを０にするための調整信号が含まれていることを特徴とする第３３の観点に記載の方法である。

第３６の観点によれば、情報記録媒体に記録された所定のパターン信号は、再生され、記録用の所定のパターン信号と、再生された所定のパターン信号とを比較し、両パターン信号の差が所定値以下となるように照射パワーを決定することを特徴とする第３３の観点に記載の記録方法である。

第３７の観点によれば、上記予め決められた所定のパターン信号は、情報記録媒体に予め記録されていることを特徴とする第３３の観点に記載の記録方法である。

第３８の観点によれば、上記予め決められた所定のパターン信号は、記録装置に予め記録されていることを特徴とする第３３の観点に記載の記録方法である。

第３９の観点によれば、固有の情報記録媒体について決定された照射パワーは、該固有の情報記録媒体に記録しておくことを特徴とする第３３の観点に記載の記録方法である。

第４０の観点によれば、固有の情報記録媒体について決定された照射パワーは、該固有の情報記録媒体の情報と共に、記録装置に記録しておくことを特徴とする第３３の観点に記載の記録方法である。

第４１の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第３２の観点に記載の方法である。

第４２の観点によれば、さらに上記前照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第４１の観点に記載の方法である。

第４３の観点によれば、さらにデータ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第３２の観点に記載の方法である。

第４４の観点によれば、さらに上記後照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第４３の観点に記載の方法である。

第４５の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体であって、データを記録するデータ記録領域と、特定記録装置に情報記録媒体が装着された場合、その特定記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、該特定記録装置の固有情報と共に記録するための特定情報記録領域と、を有する情報記録媒体に記録する方法において、
該特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を決定し、
その後、マークを記録するための光ビームの照射パワーを決定することを特徴とする記録方法である。

第４６の観点によれば、上記光ビームの照射パワーの決定は、予め決められた所定のパターン信号を情報記録媒体に記録することにより決定されることを特徴とする第４５の観点に記載の記録方法である。

第４７の観点によれば、上記予め決められた所定のパターン信号は、情報記録媒体に予め記録されていることを特徴とする第４６の観点に記載の記録方法である。

第４８の観点によれば、上記予め決められた所定のパターン信号は、記録装置に予め記録されていることを特徴とする第４６の観点に記載の記録方法である。

第４９の観点によれば、固有の情報記録媒体について決定された照射パワーは、該固有の情報記録媒体に記録しておくことを特徴とする第４６の観点に記載の記録方法である。

第５０の観点によれば、固有の情報記録媒体について決定された照射パワーは、該固有の情報記録媒体の情報と共に、記録装置に記録しておくことを特徴とする第４６の観点に記載の記録方法である。

第５１の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第４５の観点に記載の方法である。

第５２の観点によれば、さらに上記前照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第５１の観点に記載の方法である。

第５３の観点によれば、さらにデータ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第４５の観点に記載の方法である。

第５４の観点によれば、さらに上記後照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第５３の観点に記載の方法である。

第５５の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられるアシンメトリの情報を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第４５の観点に記載の情報記録媒体である。

第５６の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体であって、データを記録するデータ記録領域と、特定記録装置に情報記録媒体が装着された場合、その特定記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を、該特定記録装置の固有情報と共に記録するための特定情報記録領域と、を有する情報記録媒体に記録する方法において、
記録された信号の周波数が異なっても、再生信号において同じレベルの群遅延が得られるように群遅延を補正し、
その後、該特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方を決定することを特徴とする記録方法である。

第５７の観点によれば、上記群遅延の補正は、所定長さのスペース部を有するテスト信号を情報記録媒体に記録することにより行うことを特徴とする第５６の観点に記載の記録方法である。

第５８の観点によれば、上記テスト信号は、情報記録媒体に予め記録されているエンボス信号を用いることを特徴とする第５７の観点に記載の記録方法である。

第５９の観点によれば、上記テスト信号は、情報記録媒体の特定領域に予め記録されていることを特徴とする第５７の観点に記載の記録方法である。

第６０の観点によれば、上記テスト信号は、記録装置に予め記録されていることを特徴とする第５７の観点に記載の記録方法である。

第６１の観点によれば、上記群遅延の補正は、上記テスト信号を再生した信号のジッタが最小になるように行うことを特徴とする第５７の観点に記載の記録方法である。

第６２の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第５６の観点に記載の方法である。

第６３の観点によれば、さらに上記前照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第６２の観点に記載の方法である。

第６４の観点によれば、さらにデータ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報を、上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第５６の観点に記載の方法である。

第６５の観点によれば、さらに上記後照射パワーを決定するために使用されるパターン信号を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第６４の観点に記載の方法である。

第６６の観点によれば、さらに特定始端パルス位置Ｔｕと特定終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられるアシンメトリの情報を上記特定情報記録領域に記録することを特徴とする第５６の観点に記載の情報記録媒体である。

第６７の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体において、
データを記録するデータ記録領域と、
凹凸のピット列で予めコントロールデータを記録したコントロールデータゾーンとを有し、
該コントロールデータには、記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方と、該始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いられる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報とが含まれていることを特徴とする情報記録媒体である。

第６８の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体において、
データを記録するデータ記録領域と、
凹凸のピット列で予めコントロールデータを記録したコントロールデータゾーンとを有し、
該コントロールデータには、記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方と、該データ領域の実データを記録するために用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報とが含まれていることを特徴とする情報記録媒体である。

第６９の観点は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックと、
該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体において、
データを記録するデータ記録領域と、
凹凸のピット列で予めコントロールデータを記録したコントロールデータゾーンとを有し、
該コントロールデータには、記録装置により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方と、前記パルス位置を決定するために用いられるアシンメトリ情報とが含まれていることを特徴とする情報記録媒体である。

本実施の形態の光学情報の記録方法により、データの記録に先立って、マークの始端位置を、記録するマーク部およびその前のスペース部の長さにより求め、マークの終端位置を、記録するマーク部およびその後のスペース部の長さにより求めることにより、記録時の熱蓄積や熱干渉の影響を記録時に補償して、ジッターの少ない記録を実現することができる。

また、本実施の形態の光学情報の記録方法により、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するための試し記録に先だって、上記試し記録を行う際の最適な照射パワーを決定することにより、より最適な記録を実現することができる。

また、本実施の形態の光学情報の記録方法により、マーク始端部分と終端部分の最適な位置の決定後に、データの記録を行う際の最適な照射パワーを決定することにより、より最適な記録を実現することができる。

以下本発明の実施の形態における光学情報の記録方法について図面を参照しながら説明する。図１は本発明による実施の形態の光学情報の記録装置、すなわち光ディスク装置のブロック図である。

図１において、１０１は光ディスク、１０２はスピンドルモータ、１０３は半導体レーザ、１０４はコリメータレンズ、１０５はビームスプリッタ、１０６は対物レンズ、１０７は集光レンズ、１０８は光検出器、１０９はレーザ駆動回路、１１０はパルス移動回路、１１１はパルス発生回路、１１２はプリアンプ、１１３はローパスフィルタ、１１４は再生イコライザ、１１５は２値化回路、１１６はＰＬＬ、１１７は復調回路、１１８は誤り訂正回路、１１９はパワー設定回路、１２０はパルス位置ずれ測定回路、１２１はスイッチ、１２２、１２３、１２４はスイッチの接点、１２５は位置調節用特定パターン発生回路、１２６は変調回路、１２７は記録データ発生回路、１２８は再生データ信号、１２９はメモリ、１３０はメモリ、１３１はデータ比較回路、１３２はメモリである。記録データ発生回路１２７には単一パターン発生回路１２７ａ、ランダムパターン発生回路１２７ｂ、実信号発生回路１２７ｃが含まれる。

さらに、図１において、１３８、１３９は同じ遅延量を持った遅延回路、１４０はアシンメトリ検出回路である。

メモリ１２９には、２つのテーブルが保持され、この２つのテーブルは本発明によって図５（ａ）に示すように修正が加えられ、修正後の２つのテーブルに書き換えられる。

メモリ１３２は、レーザを駆動するためのパワー（ピークパワーとバイアスパワーがある）を決定するための情報を保持すると共に、最終的に決定されたパワーの最適値を保持する。

メモリ１３０は、（１）光ディスクに予め書きこまれている光ディスクの固有情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）、（２）後で説明する調整方式、（３）メモリ１２９に修正されて上書きされた２つのテーブル、及び（４）メモリ１３２に最終的に決定されたパワーの最適値を保持する。なお、メモリ１３０には、複数枚の異なった光ディスクについて、それぞれ上記内容（１），（２），（３），（４）が保持される。従って、ある光ディスクが装着され、データ記録を行う場合、その光ディスクについて既に上記内容（１），（２），（３），（４）が保持されていれば、記録に必要な前準備の情報、特に（３），（４）の情報を再び求める動作を行うことなく、直ちにデータ記録が実行される。

図３７にメモリ１３０におけるデータのレイアウトを示す。上記内容（１）は、図３７のディスク固有情報ｎに含まれ、上記内容（２）、（３）は、パルス位置情報に含まれ、上記内容（４）は、前照射パワー(temporary powerとも言う)情報、後照射パワー(operational powerとも言う）情報に含まれる。記録装置にディスクが装着されると、まずディスクからディスク固有情報が読み出される。読み出されたディスク固有情報と、メモリ１３０に記録されたディスク固有情報が比較され、同一のものがメモリ１３０に記録されているかどうかを判断する。

同一のものが記録されていない場合、すなわち、記録装置に新たなディスクが装着された場合は、ディスク固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報がワンセットとして、メモリ１３０に記録される。この場合、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報を試し書き等を行って得るために数秒から十数秒の時間を必要とする。

同一のものが記録されている場合、すなわち、記録装置に以前同じディスクが装着されたことがある場合は、メモリ１３０から同一と判断されたディスク固有情報に属する前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報が読み出される。読み出された前照射パワー情報、後照射パワー情報はメモリ１３２に送られる一方、パルス位置情報はメモリ１２９に送られる。この場合、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報をメモリから読み出すだけなので、これら情報を得るため必要な数秒から十数秒の時間を省くことができる。

このように、ｎ枚の異なったディスクが装着されれば、ｎ個のセットのディスク固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報がメモリ１３０に記録される。好ましい実施の形態においては、ｎ個のセットを複数箇所、たとえば２個所で記録する。このようにすれば、メモリ１３０の一箇所が傷や汚れによりデータの再生できなくても、他方の個所のデータを再生することが出来る。

図２は光ディスク１０１の平面図である。図２において、２０１はデータ記録領域、２０２は試し記録領域である。

図1において、光ディスク１０１が装着されると、半導体レーザ１０３、コリメータレンズ１０４、ビームスプリッタ１０５、対物レンズ１０６、集光レンズ１０７、光検出器１０８等で構成された光ヘッドは、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を求めるための領域２０２に移動する。

なお領域２０２は光ディスク１０１の内周側に設けられた、試し記録をするためのユーザ領域以外の記録領域（たとえばドライブテストゾーン）とする。なお、上記領域は光ディスクの外周側にあっても良いし、内周側と外周側の両方にあっても良い。このときスイッチ１２１において、接点１２２は接点１２３とつながっている。なお通常のデータの記録時には、接点１２２は接点１２４とつながり、記録データ発生回路１２７の出力信号が変調回路１２６で変調された信号がパルス発生回路１１１へ入力される。

まずパワー設定回路１１９によりピークパワー、バイアスパワーがレーザ駆動回路１０９に設定される。続いて位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力信号がスイッチ１２１を介してパルス発生回路１１１に入力される。以降の信号の流れを図３を用いて説明する。

図３において、３０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力信号である第１の特定パターン信号、３０２はパルス発生回路１１１の出力信号、３０３はパルス移動回路１１０の出力信号、３０４は信号３０３のようにピークパワー、バイアスパワーを変調して記録した結果、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークの模式図である。３０１、３０２、３０３は同じ時間軸上で発生するわけではないが、分かりやすくするために、対応する箇所が縦に並ぶように図示してある。

第１の特定パターン信号３０１において、３０９、３１１、３１３、３１５、３１７、３１９はディスク上でマークとなるマーク部であり、３１０、３１２、３１４、３１６、３１８、３２０はディスク上でスペースとなるスペース部である。３２０の後方は再び３０９となる。すなわち第１の特定パターン信号３０１は３０９〜３２０を連続させたパターンである。

例えばRun Length Limited（２，１０）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録する場合、最短の３Ｔから最長の１１Ｔまでのマークおよびスペースが存在する。ここでＴは基準周期を表わしており、３０９はマークとなる６Ｔ信号（以下６Ｔマーク部）、３１０は６Ｔスペース部、３１１は３Ｔマーク部、３１２は６Ｔスペース部、３１３は６Ｔマーク部、３１４は６Ｔスペース部、３１５は６Ｔマーク部、３１６は４Ｔスペース部、３１７は６Ｔマーク部、３１８は６Ｔスペース部、３１９は７Ｔマーク部、３２０は６Ｔスペース部である。

なお、一定期間のマーク部とスペース部の総和の差をＤＳＶとしたときに、ＤＳＶが０でないときに限り、ＤＳＶを略０にするための信号３１９、３２０を入れることにより、再生時に直流成分もしくは低周波成分の少ない信号を得ることができる。直流成分もしくは低周波成分が多い信号を再生すると、二値化回路１１５において、誤った０、１の信号列に変換される危険がある。そこで第１の特定パターン信号３０１では、７Ｔマーク部３１９を補助信号として挿入し、ＤＳＶを略０にする。すなわち、パターン信号３０１は、マーク部３０９、３１１、３１３、３１５、３１７、３１９の期間の総和（３４Ｔ）と、スペース部３１０、３１２、３１４、３１６、３１８、３２０の総和（３４Ｔ）とが等しくなるように構成されている。ＤＳＶの計算は、マーク部の期間をプラス、スペース部の期間をマイナスで加算して行われる。したがって、パターン信号３０１のＤＳＶは、０になる。

第１の特定パターン信号３０１は、パルス発生回路１１１でパルス列に変換され、信号３０２が出力される。３Ｔから１１Ｔまでの各マーク部に対応するパルスがパルス発生回路１１１から出力される状態を図４に示す。

図４において、６Ｔ信号を例にとって説明すると、先頭にあるパルス４０１をファーストパルスと呼び、最後尾にあるパルス４０４をラストパルスと呼ぶ。またファーストパルスとラストパルスの間にあるパルス４０２とパルス４０３をマルチパルスと呼び、一定周期のパルスで構成されている。

マルチパルスの個数は６Ｔのマークには２個あり、７Ｔのマークには３個、５Ｔのマークには１個というように、マークがＴだけ長くなるごとにマルチパルスの個数が１つ増え、Ｔだけ短くなるごとにマルチパルスの個数が１つ減る。従って４Ｔのマークはファーストパルスとラストパルスのみで構成され、マルチパルスはない。また３Ｔのマークは一つのパルスで構成される。

なお本実施の形態では、ファーストパルスの時間長さを１．５Ｔ、ラストパルスの時間長さを０．５Ｔ、マルチパルスの長さを０．５Ｔとしているが、光ディスク媒体１０１の構成によっては、この時間長さでなくても良い。またマルチパルスの数や周期も上記に限定されるものではない。

パルス発生回路１１１の出力信号３０２は、パルス移動回路１１０に入力され、ファーストパルスとラストパルスの位置が移動した信号３０３が出力される。図５にファーストパルスの位置とラストパルスの位置を移動させる際の、マーク部長、スペース部長の分類を示す。

図５（ａ）は、修正が行われた後のテーブルを示し、図５（ｂ）は、かかる修正が行われる前のテーブルを示す。図５（ａ）のテーブルの中の記号３Ｓ３Ｍ，４Ｓ３Ｍ等は、一種のアドレスであり、テーブルの中のどの分類かをしめすと共に、そのアドレスにかかれた値をも表す。アドレスと見た場合、たとえば、３Ｓ３Ｍは、３Ｔのスペース部の後に３Ｔのマーク部が続く信号の場合をあらわす。後で説明するように、３Ｓ３Ｍで示された箇所には、ファーストパルスの移動量ＴＦの値であって、３Ｔのスペース部の後に３Ｔのマーク部が続く場合に必要な移動量の値が記憶される。この移動量ＴＦの値は、あるひとつのテスト用の光ディスクに対して、たとえば試行錯誤的に求められ、図５（ａ）のテーブルを完成する。完成されたテーブルの内容は、テスト用の光ディスクと同じ組成を有する光ディスクの全てに記憶させる。図５（ｂ）の左のテーブルには、所定の初期値が記憶されている。図５（ｂ）の右のテーブルも同様に、ラストパルスの移動量の修正前の初期値が記憶されている。

ファーストパルスの位置、すなわち始端パルス位置Ｔｕは、マーク部と直前のスペース部に応じて変化し、本実施の形態ではマーク部、スペース部ともに３Ｔ信号、４Ｔ信号、５Ｔ以上の信号の計３通りに分類し、マーク部とスペース部の組み合わせにより最大９通りの移動量を設定する。

同様にラストパルスの位置、すなわち終端パルス位置Ｔｄは、マーク部と直後のスペース部に応じて変化し、本実施の形態ではマーク部、スペース部ともに３Ｔ信号、４Ｔ信号、５Ｔ以上の信号の計３通りに分類し、マーク部とスペース部の組み合わせにより最大９通りの移動量を設定する。

移動量の設定についての詳しい説明は、本願出願人の先の出願（特願平１１−１８５２９８，アメリカ合衆国特許出願番号ＳＮ０９／３５２，２１１，欧州特許出願番号９９１１３０６０．０）に開示されており、その内容は、本願の一部を構成するものとする。

図３３は、図３の信号３０１における６Ｔマーク部３１７と、それに対応する信号３０２の部分の拡大図が示されている。この場合、６Ｔマーク部３１７の直前には、４Ｔスペース部３１６が存在している。４Ｔスペース部があって６Ｔマーク部がある場合は、図５（ａ）の左のテーブルにある４Ｓ５Ｍの分類に当てはまる。ここで、この分類に書き込まれるファーストパルス移動量ＴＦの初期値の修正について説明する。

図１の装置において、パターン発生回路１２５からパターン信号３０１が生成される。このパターン信号３０１は、パルス発生回路１１１に送られると共に、遅延回路１３９、パルス位置ずれ測定回路１２０、およびメモリ１２９にも送られる。メモリ１２９には予め図５（ｂ）に示す２つのテーブルが記憶されている。パルス位置ずれ測定回路１２０では、パターン信号３０１が記憶され、再生時に再生信号との比較に用いられる。パルス発生回路１１１からは、パターン信号の記録に必要なパルス信号３０２が出力される。たとえば、図４の上２段に示すように、パターン信号３０１のマーク部の立ち上がりエッジに応じて、パルス発生回路１１１からは、ファーストパルス４０１が出力され、それに続いてマルチパルス４０２、４０３、ラストパルス４０４が出力される。

パルス信号３０２は、遅延回路１３８で所定時間（たとえば１３Ｔ）遅延されて、パルス移動回路１１０に送られる。メモリ１２９においては、送られてきたパターン信号３０１を分析し、過去１０Ｔ以上の期間内において、図５（ａ）の１８分類３Ｓ３Ｍ、３Ｓ４Ｍ、３Ｓ５Ｍ、４Ｓ３Ｍ、４Ｓ４Ｍ、４Ｓ５Ｍ、５Ｓ３Ｍ、５Ｓ４Ｍ、５Ｓ５Ｍ、３Ｍ３Ｓ、４Ｍ３Ｓ、５Ｍ３Ｓ、３Ｍ４Ｓ、４Ｍ４Ｓ、５Ｍ４Ｓ、３Ｍ５Ｓ、４Ｍ５Ｓ、５Ｍ５Ｓの内のいずれかひとつに該当するものがあるかどうかを検出する。たとえば、パターン発生回路１２５からパターン信号３０１における４Ｔスペース部３１６と、それに続く６Ｔマーク部３１７が出力された場合、メモリ１２９は分類４Ｓ５Ｍ属する信号が送り出されたことを検出する。この検出に応答して、メモリ１２９は、テーブルの４Ｓ５Ｍ0に記憶されている移動量を読み出し、パルス移動回路１１０に送る。初回の場合は、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0が読み出される。パルス移動回路１１０では、所定時間遅れて送られてきたパルス信号２０２のファーストパルスを、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0に基づいて移動させる。

図１、図３３を用いて、ファーストパルスの移動について説明する。パルス移動回路１１０は、所定パターン、たとえば４Ｓ５Ｍ（４Ｔスペース部２１６と６Ｔマーク部２１７の連続）で分類されるパターンが、間もなく遅延回路１３９から送られてくることを、メモリ１２９から知らされると共に、その分類４Ｓ５Ｍ0に対応する移動量ＴＦをメモリ１２９から受ける。パルス移動回路１１０は、遅延回路１３９から送られてくる６Ｔマーク部３１７の立ち上がりパルスエッジ、すなわち図３３のＲ１のタイミングでカウントを開始し、移動量ＴＦをカウントする。遅延回路１３８から送られてきたファーストパルスは、パルス移動回路１１０においてカウント期間、すなわち、移動量ＴＦだけ遅らされて出力される。

従って、図３３に示すように、ファーストパルス移動量ＴＦは、例えば信号３０１の立ち上がりエッジＲ１を基準とした場合、その基準Ｒ１からの時間差で表される。一例として、パルス移動量ＴＦは３ｎｓ程度である。ファーストパルスはパルス幅を変更することなく移動される。

図３のパターン信号には、上述した図５（ａ）の１８分類の内、４つの分類が存在する。すなわち、期間３２１に現れる分類３Ｍ５Ｓ、期間３２２に現れる分類５Ｓ３Ｍ、期間３２３に現れる分類４Ｓ５Ｍ、期間３２４に現れる５Ｍ４Ｓである。従って、パターン信号３０１により、４つの分類に対応するパルス信号の移動が行われる。

このように移動されたパルスに従って、レーザ駆動が行われ、マークの記録が実行される。図３に記録マーク３０４を示す。好ましい実施の形態においては、図３に示すパターン信号３０１（３０９から３２０まで）は、繰り返し出力され、トラック１周にわたり記録される。トラック１周の記録が終わると、そのトラック１周が再生される。再生は、光検出器１０８から得られた光信号が電気信号に変換されて、プリアンプ１１２、ローパスフィルタ１１３、イコライザ１１４、２値化回路１１５において処理され、２値化回路１１５から再生信号３０５が出力される。再生信号３０５は、パルス位置ずれ測定回路１２０に入力される。パルス位置ずれ測定回路１２０には、トラック１周からの再生信号３０５が繰り返し入力され、分類に対応した期間３２１、３２２、３２３、３２４が個別に読み取られ、それぞれ期間の平均値が個別に求められる。

パルス位置ずれ測定回路１２０では、記録時に記録されたパターン信号３０１から得られた分類に対応した期間３２１、３２２、３２３、３２４と、再生された信号３０５から得られた同期間の平均値をそれぞれ比較し、パルスの位置ずれが生じているかどうかを検出する。上述の例について説明すれば、パターン信号３０１におけるスペース部３１６とマーク部３１７とを加えた時間と、再生信号３０５における対応した期間３２４の平均値とを比較し、両者の差を求める。差がある場合はパルスの位置ずれが生じていると判断され、その差はメモリ１２９に送られる。メモリ１２９では、その差が、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0が原因となって生じたものであるので、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0を、差に応じて増減させ、移動量の修正を行い、修正された値を分類４Ｓ５Ｍに上書きする。

上述の説明では、一回の帰還ループ（１１０、１０９、１０８、１１２、１１５、１２０、１２６、１２９）により修正された値が分類４Ｓ５Ｍに上書きされたが、帰還を複数回行ってもよい。以上のようにして、図３３におけるファーストパルス移動量ＴＦの修正を行う。

同様にラストパルスの移動量は、マーク部と直後のスペース部に応じて変化し、本実施の形態ではマーク部、スペース部ともに３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の計３通りに分類し、マーク部とスペース部の組み合わせにより最大９通りの移動量を設定する。ラストパルスもファーストパルスと同様な方法でパルス移動量ＴＬの修正を行う。

また、図３３に示すように、上述と同様にしてラストパルス移動量ＴＬが修正される。ラストパルス移動量ＴＬは、マーク部の終端エッジから２Ｔ前方にずれた新たな基準Ｒ２から、ラストパルスの終端エッジまでの時間間隔を言い、ファーストパルスで説明した上記の帰還ループにより、この時間間隔が修正される。ＴＬは本実施の形態では１１ｎｓ程度である。ここでＴＬの値が変わってもラストパルスの幅は変化せず、本実施の形態では同じ幅のまま時間軸を移動する。

図３において、３０６は修正された移動量のテーブル（図５（ａ））を用いて得られたパルス移動回路１１０の出力信号、３０７はこの出力信号によって記録されたマーク、３０８は、このマークによって再生された再生信号を示す。修正前の移動量のテーブル（図５（ｂ））を用いて得られた再生信号３０５は、オリジナルのパターン信号３０１とは誤差を生じているが、修正後の移動量のテーブル（図５（ａ））を用いて得られた再生信号３０８は、オリジナルのパターン信号３０１とはほとんど誤差を生じていない。

以上の説明においては、図３のパターン信号３０１を用いて、１８分類の内、４つの分類について移動量の修正を行ったが、残りの分類の修正は、別のパターン信号を用いて行われる。図６のパターン信号６０１を用いて、分類４Ｍ５Ｓ、５Ｓ４Ｍ、３Ｓ５Ｍ、５Ｍ３Ｓについて移動量の修正を行う。図７のパターン信号７０１を用いて、分類４Ｍ４Ｓ、３Ｍ３Ｓ、４Ｓ４Ｍ、３Ｓ３Ｍについて移動量の修正を行う。図８のパターン信号８０１を用いて、分類４Ｍ３Ｓ、４Ｓ３Ｍについて移動量の修正を行う。図９のパターン信号９０１を用いて、分類３Ｍ４Ｓ、３Ｓ４Ｍについて移動量の修正を行う。

なお分類５Ｍ５Ｓ、５Ｓ５Ｍについては、ある初期値を定めても良いし、もしくは図３２のパターン信号３２０１を用いて、移動量の修正を行う。なお、分類５Ｍ５Ｓ、５Ｓ５Ｍについて移動量の修正は、マーク、スペース共にもっとも長い周期ものであり熱干渉の影響がもっとも少ない分類であるため、各遅延量は少なく、他の遅延量を決める参考基準として用いることができるため他の分類の修正より先に行うほうが好ましい。

なおパターン信号の記録前は、図５（ｂ）に示すように、所定の初期値が設定されている。この初期値は、個別的に経験的に求められた値でもよいし、全て同じ値であってもよい。同じ値の例としては、たとえば、図５（ｂ）の左のテーブルにあっては、５Ｓ５Ｍの場合におけるファーストパルス移動量の値、例えば１ｎｓでもよい。また、同図の右のテーブルにあっては、５Ｍ５Ｓに設定されている値でもよい。なお、この場合、図４に示すように、ファーストパルス４０１とマルチパルス４０２の間の時間長さが０．５Ｔになるように分類５Ｓ５Ｍに設定される値を決定し、マルチパルス４０３とラストパルス４０４の間の時間長さが０．５Ｔになるように分類５Ｍ５Ｓに設定される値を決定する。なお分類５Ｓ５Ｍと分類５Ｍ５Ｓに設定される値を他の方法で求めても良い。

一例を図３２に示す。
図３２において、３２０１は特定パターン信号発生回路１２５の出力信号である６Ｔ単一周期信号、３２０２はパルス発生回路１１１の出力信号、３２０３はパルス移動回路１１０の出力信号、３２０４は信号３０３のようにピークパワー、バイアスパワーを変調して記録した結果、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークの模式図である。３２０１、３２０２、３２０３は同じ時間軸上にはないが、分かりやすくするために、対応する箇所が縦に並ぶように図示してある。図３２のパターン信号は、６Ｔ間隔でマークとスペースが連続する単一周期信号であり、上述した図５（ａ）の１８分類の内、５Ｓ５Ｍ、５Ｍ５Ｓの２つの分類が存在する。図３２において信号３２０３に従ってレーザ駆動が行われ、マークの記録が実行される。好ましい実施の形態においては、図３２に示すパターン信号３２０１は、繰り返され、トラック１周にわたり記録される。トラック１周の記録が終わると、そのトラック１周が再生される。再生は、光検出器１０８から得られた光信号が電気信号に変換されて、プリアンプ１１２、ローパスフィルタ１１３、イコライザ１１４において処理され、イコライザ１１４から再生信号３２０５が出力されて、アシンメトリ検出回路１４０および二値化回路１１５に入力される。二値化回路１１５は、二値化回路の出力信号において、マークに対応する出力レベルと、スペースに対応する出力レベルの間隔が等しくなるようにスライスレベル信号３２０９を調整し、上記スライスレベル信号３２０９がアシンメトリ測定回路１４０に入力される。アシンメトリ測定回路では再生信号３２０５の最小値３２１０と最大値３２１１の平均値と、スライスレベル信号３２１２とを比較し、両者の差もしくは比が規定範囲外であるときは、３２０４におけるマーク部分とスペース部分の長さがずれており、このずれはファーストパルスおよびラストパルスの位置ずれに起因していると判断され、両者の差の正負に応じて例えばファーストパルスとラストパルスが反対方向に同一時間だけ移動するように、移動量の初期値５Ｓ５Ｍ0と５Ｍ５Ｓ0を修正し、メモリ１２９に修正された値を上書きする。一回の帰還ループ（１１０、１０９、１０８、１１２、１１４、１１５、１４０、１２９）により修正された値５Ｓ５Ｍおよび５Ｍ５Ｓが上書きされてもよいし、帰還を複数回行ってもよい。以上のように６Ｔマークが正しい長さで記録されるように５Ｓ５Ｍと５Ｍ５Ｓが決定される。基準となるマークの物理的な長さを正しくすることにより、他の分類のマークも正しい長さになり、よりジッタの少ない記録が実現できる。

ここで、さらに図３８の表に示したオプションについて説明する。

図１５に示される光ディスク１５０１において、１５０３に、ディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、上記アシンメトリの情報を記録してもよい。一般的にアシンメトリは小さい方が望ましいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適な値が異なる。

例えば図３２において、（（３２１５＋３２１４）／２−３２１６）／（３２１５−３２１４）の値が１．０５となるときが最適である場合に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もしくは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に分類５Ｓ５Ｍと分類５Ｍ５Ｓに設定される値を求めることができる。

パルス移動回路１１０の出力信号３０３はレーザ駆動回路１０９に入力され、信号３０３におけるＨレベルの時間がピークパワーで発光し、Ｌレベルの時間がバイアスパワーで発光することにより図３の３０４に示す様なマーク列が形成される。

再生時には、半導体レーザ１０３から出射されたレーザ光はコリメータレンズ１０４で平行光にされた後、ビームスプリッタ１０５に入射され、ビームスプリッタ１０５を透過した光は、対物レンズ１０６によって集光されて光スポットとして光ディスク１０１に照射される。

光ディスク１０１で反射された光は、対物レンズ１０６で集光され、再びビームスプリッタ１０５に進み、ビームスプリッタ１０５で反射された光は、集光レンズ１０７により集光され、光検出器１０８に結像される。

光検出器１０８において光量は電気信号に変換されて、プリアンプ１１２に入力されて増幅される。さらにプリアンプ１１２の出力信号はローパスフィルタ１１３で高域周波数の信号を遮断され、イコライザ１１４で波形等価が行われ、２値化回路１１５において所定のスライスレベルより２値化され、０、１の信号列に変換された信号３０５が出力され、パルス位置ずれ測定回路１２０に入力される。パルス位置ずれ測定回路１２０は、特定のエッジのエッジ間隔もしくはエッジ間隔のジッタを測定し、ここでは信号３０５における特定のエッジ間隔３２１、３２２、３２３、３２４を測定する。

図３におけるエッジ間隔３２１が正規の９Ｔよりも長い場合には、バス１２６を介して、図５（ａ）のラストパルス移動量３Ｍ５Ｓの設定を、現在の値３Ｍ５Ｓ0から、ずれの分だけ小さくする。同様に、エッジ間隔３２２が正規の９Ｔよりも長い場合には、バス１２６を介して、図５（ａ）のファーストパルス移動量５Ｓ３Ｍを、現在の値５Ｓ５Ｍ0から、ずれの分だけ大きくする。同様に、エッジ間隔３２３、３２４についても、それぞれのずれの分だけ４Ｓ５Ｍの値、５Ｍ４Ｓの値を更新する。

４つの設定の更新が終了すると、再度第１の特定パターン信号３０１を記録し、エッジ間隔を測定する。４つのエッジ間隔の全てについて同時に、正規の値と測定したエッジ間隔との差が一定値以下になるまで同様のサイクルを繰り返す。

第１の特定パターン信号の記録が終了すると第２の特定パターン信号を記録する。図６において、６０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力信号である第２の特定パターン信号、６０２はパルス発生回路１１１の出力信号、６０３はパルス移動回路１１０の出力信号を示す。６０４は信号６０３によって記録され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークを示す。以下、第１の特定パターンの場合と同様のやり方で、図５（ａ）のファーストパルス５Ｓ４Ｍ、３Ｓ５Ｍおよびラストパルス４Ｍ５Ｓ、５Ｍ３Ｓの設定を更新する。

第２の特定パターン信号の記録が終了すると第３の特定パターン信号を記録する。図７において、７０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力信号である第３の特定パターン信号、７０２はパルス発生回路１１１の出力信号、７０３はパルス移動回路１１０の出力信号を示す。７０４は信号７０３によって記録され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークを示す。図１７では７１０〜７１１の１０Ｔ（６Ｔスペース／４Ｔマーク）と、７１２〜７１３の１０Ｔ（４Ｔマーク、１０Ｔスペース）が重なり、連続する波形となって現れるため、被測定信号７１０〜７１１が次の被測定信号７１２〜７１３と重なり、被測定信号を正確に分離して測定することが難しくなる。そこで２つの１０Ｔの長さがほぼ同一になるとジッタが最小になることを利用してジッタメータ等で代用して測定できる。上記以外は第１の特定パターンの場合と同様のやり方で、図５（ａ）のファーストパルス４Ｓ４Ｍ、３Ｓ３Ｍ、ラストパルス４Ｍ４Ｓ、３Ｍ３Ｓの設定を更新する。

なお第３の特定パターンにおいてエッジのジッタが最小になる条件は、エッジの間隔が正規の時間になる条件と等価である。例えばエッジ間隔７２９、７３０が共に正規の９Ｔの時間間隔になっていれば、９Ｔのエッジ間隔のジッタも最小となるが、少なくともどちらか一方が９Ｔから少しでもずれていれば９Ｔのエッジ間隔のジッタも大きくなる。

第３の特定パターン信号の記録が終了すると第４の特定パターン信号を記録する。図８において、８０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力信号である第４の特定パターン信号、８０２はパルス発生回路１１１の出力信号、８０３はパルス移動回路１１０の出力信号を示す。８０４は信号８０３によって記録され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークを示す。以下、第１の特定パターンの場合とほぼ同様のやり方で、図５（ａ）のファーストパルス４Ｓ３Ｍ、およびラストパルス４Ｍ３Ｓの設定を更新する。

第４の特定パターン信号の記録が終了すると第５の特定パターン信号を記録する。図９において、９０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力信号である第５の特定パターン信号、９０２はパルス発生回路１１１の出力信号、９０３はパルス移動回路１１０の出力信号を示す。９０４は信号９０３によって記録され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークを示す。以下、第４の特定パターンの場合と同様のやり方で、図５（ａ）のファーストパルス３Ｓ４Ｍ、ラストパルス３Ｍ４Ｓの設定を更新する。

以上のように、データの記録に先立って、マークの始端位置を、記録するマーク部およびその前のスペース部の長さにより求め、マークの終端位置を、記録するマーク部およびその後のスペース部の長さにより求めることにより、記録時の熱蓄積や熱干渉の影響を記録時に補償して、ジッターの少ない記録を実現することができる。

さらに、実際に記録する記録装置を用いて光ディスクに試し記録を行い、マークの始端位置、終端位置を決定することにより、特定の記録装置と特定の光ディスクの組み合わせに対する最適なマークの始端位置、終端位置を得ることが出来る。

なお本実施の形態では、第１の特定パターンから第５の特定パターンを試し記録して、エッジの間隔が正規の時間になるように、もしくはエッジ間隔のジッタが最小になるように調整いるが、試し記録により入力信号に応じたマークの始端位置、終端位置を決定することができるのであれば、他の特定パターンでも良く、また他の調整方法でも良い。

なお本実施の形態では、特定パターン信号の記録前は、図５（ｂ）に示すように、マーク、スペースとも５Ｔ以上の場合における、ファーストパルスの設定である５Ｓ５Ｍと、ラストパルスの設定である５Ｍ５Ｓが、全てのマーク部に適応されているが、例えばファーストパルス位置の５Ｓ５Ｍと４Ｓ５Ｍと３Ｓ５Ｍの３つの設定に着目した場合、３つともマーク長が同じで、直前のスペース長のみが異なるので、設定値の大きさを比較した際に、５Ｓ５Ｍ＜４Ｓ５Ｍ＜３Ｓ５Ｍもしくは、５Ｓ５Ｍ＞４Ｓ５Ｍ＞３Ｓ５Ｍと単調性を示しやすい。

図１０はファーストパルスの設定において５Ｓ５Ｍ＜４Ｓ５Ｍ＜３Ｓ５Ｍとなる場合の一例の説明図である。スペース長が短くなるほど、直前のマークからの熱が伝わって、直後のマークの始端部分が伸びる。

図１１はラストパルスの設定において５Ｓ５Ｍ＜４Ｓ５Ｍ＜３Ｓ５Ｍとなる場合の一例の説明図である。スペース長が短くなるほど、直後のマークの始端部分からの熱が、直前のマークの終端部分に伝わり、直前のマークの終端部分が徐冷になって後退する。

始端位置、終端位置のスペースに対する変化の方向や大きさは、ディスク構造や、膜組成に依存するが、単調性を利用すれば、例えばファーストパルス位置の５Ｓ５Ｍと３Ｓ５Ｍの設定が決定した際に、４Ｓ５Ｍの初期値を５Ｓ５Ｍと３Ｓ５Ｍの平均値とすることにより、４Ｓ５Ｍの設定を決定するまでに必要な試し記録の回数を減らすことができる。

同様に例えばファーストパルス位置の５Ｓ４Ｍと４Ｓ４Ｍの設定が決定した際に、３Ｓ４Ｍの初期値を４Ｓ４Ｍとする、もしくは例えば５Ｓ４Ｍ＜４Ｓ４Ｍのときに、４Ｓ４Ｍと５Ｓ４Ｍの差を４Ｓ４Ｍから減じた値を初期値とすることにより、３Ｓ４Ｍの設定するまでに必要な試し記録の回数を減らすことができる。

以上のように図５（ａ）における各設定の縦方向の関係を利用することによって、試し記録の回数を減らすことができる。

なお本実施の形態では、ファーストパルス、ラストパルスはマーク、スペースの組み合わせに応じて移動するとしているが、ファーストパルス、ラストパルスのパルス幅を変化させる記録方式においても同様の方法で、パルス幅の最適化を行うことができる。一例を図１２に示す。

図１２は光ディスク１２０１の平面図である。図１２において、１２０２はデータ領域である。１２０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラストパルスの調整方式を決定するための情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。１２０４は試し記録領域である。試し記録に先だって領域１２０３を再生することにより、調整方式が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動させる方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式なのかを知ることができる。

次に図１の記録装置に、図１３に示される光ディスク１３０１を装着した場合について説明する。図１３において１３０２はデータ領域である。１３０３はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の少なくともいずれか一方の位置情報、すなわち駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方の値、が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。

光ディスク１３０１が記録装置に装着されると、光ヘッドは、上記マーク始端部分と終端部分の最適な位置情報が記録されている領域１３０３に移動して、上記領域１３０３を再生し、再生データ信号１２８が、パルス位置設定回路１２９に入力され、マーク始端部分と終端部分の最適な位置情報が、バス１２６を介してパルス移動回路１１０に設定される。

以上のように、光ディスク１３０１の領域１３０３に記録された、入力信号に応じたマーク始端位置と終端位置の最適な位置情報を再生し、記録装置に設定することにより、試し記録を行うことなく、ディスク構造や記録膜等の光ディスクのタイプが異なっても、最適な記録を行うことができる。

なお領域１３０３に記録されているマーク始端部分と終端部分の最適な位置情報は、全てのディスクごとに求めなくても良く、ディスクごとのばらつきが小さければ、同一のディスク構造、同一の記録膜組成のディスクから求めた値が、代表値として記録されていても良い。

また、図１４は光ディスク１４０１の平面図である。図１４において１４０２はデータ領域である。１４０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラストパルスの調整方式を決定するための情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。１４０４はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の少なくともいずれか一方の位置情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。領域１４０３を再生することにより、調整方式が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動させる方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式なのかも知ることができる。

なおディスクに照射される光スポットの形状の違い等、記録装置側にばらつきがあると、記録に最適なマーク始端部分とマーク終端部分の最適な位置は異なるので、特定の領域に記録されているディスク製造時における最適な、もしくは代表的な位置情報を再生して、その状態を初期値として試し記録を行っても良い。

これにより、ディスク構造や記録膜等の違いによらず、唯一の初期値から試し記録を始める場合に比べて、ディスク製造時の最適な位置を初期値とすることにより、データを記録する際の最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの記録の回数が減り、最適化に要する時間を短縮することができる。一例を図１５に示す。

図１５は光ディスク１５０１の平面図である。図１５において１５０２はデータ領域である。１５０３はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。１５０４は試し記録領域である。領域１５０３を再生した後に、領域１５０４にて試し記録を行うことにより、唯一の設定値でデータの記録を行う場合に比べて、より最適な記録を実現することができる。

また、図１６は光ディスク１６０１の平面図である。図１６において１６０２はデータ領域である。１６０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラストパルスの調整方式を決定するための情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。１６０４はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。領域１６０３を再生することにより、調整方式が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動させる方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式なのかも知ることができる。１６０５は試し記録領域である。領域１６０３、１６０４を再生した後に、領域１６０５にて試し記録を行うことにより、唯一の設定値でデータの記録を行う場合に比べて、より最適な記録を実現することができる。

次に図１の記録装置に、図１７に示される光ディスク１７０１を装着した場合について説明する。図１７において１７０２はデータ領域である。１７０３はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報(一般）が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。１７０４は試し記録を行う領域である。１７０５は上記試し記録により決定された結果のデータであるマーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を記録する領域である。

この場合、試し記録により決定された結果のデータと共に、試し記録を行った記録装置の固有情報（たとえば記録装置の製造会社名，製品番号，製造場所、製造年月日など）を領域１７０５に記録する。

このように、領域１７０５に試し記録により決定された結果のデータと、試し記録を行った記録装置の固有情報を対として記録することにより、光ディスク１７０１を同じ記録装置に装着してデータを記録する際に、上記領域１７０５を再生してマーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を得ることにより、試し記録を行わなくても、記録装置のばらつきを考慮した記録を実現することができる。

なお、領域１７０５には、複数対の、試し記録により決定された結果のデータと、試し記録を行った記録装置の固有情報を記録することが出来る。

さらに次回に光ディスク１７０１を上記記録装置に装着してデータを記録する際に、領域１７０５を再生してマーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を得た後に、領域１７０４において試し記録を行うことにより、唯一の初期値から試し記録を始める場合や、凹凸のピット列で構成されている、ディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報(一般）が記録されている領域１７０３を初期値として試し記録を行う場合に比べて、記録装置のばらつきを考慮している分、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

また、図１８は光ディスク１８０１の平面図である。図１８において１８０２はデータ領域である。１８０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラストパルスの調整方式を決定するための情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。１８０４はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報(一般)が記録されている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されている。

１８０５は試し記録領域である。１８０６は上記試し記録により決定された結果のデータであるマーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を記録する領域である。領域１８０３を再生することにより、調整方式が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動させる方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式なのかも知ることができる。

この場合、試し記録により決定された結果のデータと共に、試し記録を行った記録装置の固有情報（たとえば記録装置の製造会社名，製品番号，製造場所、製造年月日など）を領域１８０６に記録する。

このように、領域１８０６に試し記録により決定された結果のデータと、試し記録を行った記録装置の固有情報を対として記録することにより、光ディスク１８０１を同じ記録装置に装着してデータを記録する際に、上記領域１８０６を再生してマーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を得ることにより、試し記録を行わなくても、記録装置のばらつきを考慮した記録を実現することができる。

なお、領域１８０６には、複数対の、試し記録により決定された結果のデータと、試し記録を行った記録装置の固有情報を記録することが出来る。

以上説明した図２および図１２から図１８に示されている光ディスクについての構成をまとめたものを図３８の表に示す。

以下、図３８の表においてオプションとして追加される情報について説明する。

図１２の光ディスク１２０１において、領域１２０３に、調整方式以外にも、光ディスク１２０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）を記録してもよい。この場合は、上記光ディスク１２０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

メモリ１３０には、新たなディスクが装着されると、そのディスクの固有情報と、マーク始端部分と終端部分の位置情報が格納される。これにより、色々なディスク（メーカーが異なったもの、バージョンが異なったものなど）についてのディスク固有情報と、マーク始端部分と終端部分の位置情報とがメモリ130に蓄積される。

過去に装着されて記録を行ったディスクと同じディスクが再び装着されると、装着されたディスクのディスク固有情報を、領域１２０３を再生して読み出すと共に、このディスク固有情報をメモリ130に蓄積されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

また図１５の光ディスク１５０１において、領域１５０３に、マーク始端部分と終端部分の位置情報以外にも、光ディスク１５０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）を記録してもよい。この場合は、上記光ディスク１５０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

過去に装着されて記録を行ったディスクと同じディスクが再び装着されると、装着されたディスクのディスク固有情報を、領域１５０３を再生して読み出すと共に、このディスク固有情報をメモリ１３０に蓄積されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

また図１６の光ディスク１６０１において、領域１６０３に、調整方式以外にも、光ディスク１６０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、上記光ディスク１６０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

過去に装着されて記録を行ったディスクと同じディスクが再び装着されると、装着されたディスクのディスク固有情報を、領域１６０３を再生して読み出すと共に、このディスク固有情報をメモリ130に蓄積されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

また図１７の光ディスク１７０１において、領域１７０３に、マーク始端部分と終端部分の位置情報以外にも、光ディスク１７０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）を記録してもよい。この場合は、上記光ディスク１７０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

過去に装着されて記録を行ったディスクと同じディスクが再び装着されると、装着されたディスクのディスク固有情報を、領域１７０３を再生して読み出すと共に、このディスク固有情報をメモリ１３０に蓄積されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

また図１８の光ディスク１８０１において、領域１８０３に、調整方式以外にも、光ディスク１８０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、上記光ディスク１８０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

過去に装着されて記録を行ったディスクと同じディスクが再び装着されると、装着されたディスクのディスク固有情報を、領域１８０３を再生して読み出すと共に、このディスク固有情報をメモリ130に蓄積されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

図３４、図３５を用いてより詳細なディスクレイアウトを説明する。図３４と図３５とを上下につなぎ合わせたものが、ディスクの最内周からピット領域、ミラー領域、記録領域の順に最外周までに配置される種々の領域を示す。

ピット領域は、イニシャルゾーンとその外周側のコントロールデータゾーンにより構成される。光ディスクの最内周にイニシャルゾーンがあることにより、光ヘッドが誤って目標より内周側に移動しても、サーボが外れにくくなる効果がある。コントロールデータゾーンには、ディスクタイプ、再生パワー、パルス調整方式、前照射パワー情報、後照射パワー情報、ファーストパルス、ラストパルスのパルス位置情報、光ディスクの製造会社、ロット番号、製品番号等のディスク固有情報が記録されている。コントロールデータゾーンの内容は傷や汚れにより再生できなくなるのを防止するために複数セット記録されている。

ミラー領域は、ピット領域と記録領域を結合する領域である。ミラー領域には何も記録されておらず、信号が再生されないので、光ヘッドが移動中でもミラー領域を通過したことは容易に認識することができ、特定場所へ光ヘッドの移動をより正確に実施することができる。

記録領域は、ガードトラックゾーン１、ディスクテストゾーン１，ドライブテストゾーン１、記録装置固有情報記録ゾーン１、欠陥管理領域１、データ領域、欠陥管理領域２、記録装置固有情報記録ゾーン２、ドライブテストゾーン２、ディスクテストゾーン２、ガードトラックゾーン２から構成されている。

ガードトラックゾーン１は、ミラー領域直後でサーボが安定しない場合があるので未記録領域とし、記録を行わない。

ディスクテストゾーン１はディスク製造者によって使用される領域である。ディスクテストゾーン１で、ディスクに記録を行う際のパワーや最適なパルス位置を決定もしくは確認を行う。

ドライブテストゾーン１は記録装置によって使用される領域である。ドライブテストゾーンとディスクテストゾーンを分離することにより、ディスク製造メーカーは、ディスクテストゾーンで任意の記録を行うことができる。

記録装置固有情報記録ゾーン１は、光ディスクが新たな記録装置に、記録を目的として装着されるたびに、新たな記録装置に関するデータが追加されるゾーンである。記録装置にディスクが装着されると、ディスクの記録装置固有情報記録ゾーン１から記録装置固有情報１〜ｎが読み出される。読み出された記録装置固有情報１〜ｎの中に、ディスクが装着された記録装置の記録装置固有情報と同じものが含まれているかどうかが判断される。ディスクが装着された記録装置の記録装置固有情報は、たとえばメモリ１３０に含まれており、また、同じものが含まれているかどうかが判断は、メモリ１３０を制御するＣＰＵ(図示せず）により行うことが可能である。

同一のものが記録されていない場合、すなわち、ディスクが新たな記録装置に装着された場合は、記録装置固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報がワンセットとして、記録装置固有情報記録ゾーン１に記録される。この場合、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報を試し書き等を行って得るために数秒から十数秒の時間を必要とする。

同一のものが記録されている場合、すなわち、ディスクが以前同じ記録装置に装着されたことがある場合は、記録装置固有情報記録ゾーン１から同一と判断された記録装置固有情報に属する前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報が読み出される。読み出された前照射パワー情報、後照射パワー情報はメモリ１３２に送られる一方、パルス位置情報はメモリ１２９に送られる。この場合、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報を記録装置固有情報記録ゾーン１から読み出すだけなので、これら情報を得るため必要な数秒から十数秒の時間を省くことができる。

このように、ｎ個の異なった記録装置に、当該ディスクが順次装着されれば、ｎ個のセットの記録装置固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報がディスクに記録される。好ましい実施の形態においては、ｎ個のセットを複数箇所、たとえばディスクの内周側と外周側の２個所で記録する。このようにすれば、傷や汚れにより一方のデータが再生できなくても、他方のデータを再生することが出来る。さらに、記録装置固有情報記録ゾーン１においても、同じ情報が複数回記録されるようにしてもよい。

記録装置固有情報を再生して、かつてその光ディスクに記録したことが判明すると、ドライブテストゾーンで試し記録を行う際に、記録する内容を簡略化することができる。特定の記録装置と、上記光ディスクと上記記録装置の組み合わせに依存する情報は、傷や汚れにより再生できなくなるのを防止するために複数セット記録されている。さらに記録装置固有情報記録ゾーンには複数の記録装置において、同様の記録を行う領域を確保している。これは、記録装置が異なると、レーザパワーが微妙に異なるからである。

欠陥管理領域１は欠陥管理を行うための領域である。

データ領域はユーザがデータを記録する領域である。

欠陥管理領域２は欠陥管理を行うための領域である。

記録装置固有情報記録ゾーン２は、記録装置固有情報記録ゾーン１と同様に、記録装置を使って記録した際に、上記記録装置の固有情報と、記録パワーやパルス位置情報等の上記光ディスクと上記記録装置の組み合わせに依存する情報を記録する領域である。ディスク固有情報記録ゾーンを内周側と外周側に分散して設けることにより、片方が傷や汚れにより記録できなくなってももう片方に記録することができる。

ドライブテストゾーン２は、ドライブテストゾーン１と同様に、記録装置によって試し記録に使用される領域である。ドライブテストゾーンを内周側と外周側に分散して設けることにより、片方が傷や汚れにより記録できなくなってももう片方に記録することができる。またディスクの反りが大きい場合に、内周と外周で試し記録を行い、内周での結果と外周での結果から半径位置ごとに記録パラメータを補間することができる。

ディスクテストゾーン２は、ディスクテストゾーン１と同様に、光ディスク製造メーカーによって試し記録に使用される領域である。ディスクテストゾーンを内周側と外周側に分散して設けることにより、例えばディスクの反りが、記録に与える影響を把握して、出荷基準とすることができる。

ガードトラックゾーン２は未記録領域とし、記録を行わない。光ディスクの最外周にガードトラックゾーン２があることにより、光ヘッドが誤って目標より外周側に移動しても、サーボが外れにくくなる効果がある。

以上のゾーンや領域は予めアドレスで管理されており、記録装置は上記レイアウトと各ゾーンや領域のアドレスの情報を予め把握しているものとする。

以上のゾーンや領域と、図２、図１２から図１８に示した領域との対応関係は、図３８の表に示されている。

また、図２の光ディスク２０１においても、光ディスク２０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）を記録してもよい。この場合は、上記光ディスク２０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

過去に装着されて記録を行ったディスクと同じディスクが再び装着されると、装着されたディスクのディスク固有情報を読み出すと共に、このディスク固有情報をメモリ１３０に蓄積されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間をより短縮することができる。

なお本実施の形態では、マーク始端部分と終端部分の最適な位置は、上記試し記録を行うことにより決定されるが、上記決定に先立って、試し記録を行う際の光ビームの照射パワー（ピークパワーとバイアスパワーを含む）を決定しても良い。このようにマーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定される前に、決定される照射パワーを前照射パワーという。これに対し、マーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定された後に、決定される照射パワーを後照射パワーという。前照射パワーは、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するための照射パワーであり、後照射パワーは、データ領域の実データを記録するための照射パワーである。照射パワーが最適値よりも大きくなったり、小さくなると、種種の不都合が生じる。以下、この不都合について説明する。

マーク始端部分と終端部分の最適な位置は、光ディスクの諸特性以外にも、試し記録を行う際の照射パワーにも依存し、照射パワーが大きく異なると、マーク始端部分と、マーク終端部分の最適な位置が決定できない、もしくは決定したとしても、記録品質は悪い。この理由を、図１９を用いて説明する。

図１９は最短マークである３Ｔ信号を異なる照射パワーで記録したときの、マーク形状と、再生波形の模式図である。１９０１は照射パワーが適切な場合のマーク形状で、マーク長と、スペース長はほぼ等しい。従って再生波形１９０２における再生振幅１９１１も大きい。

１９０３は照射パワーが小さい場合のマーク形状で、マーク長が、スペース長より短い。マーク長とスペース長が等しくないので、再生波形１９０４における再生振幅１９１２は再生振幅１９１１よりも小さくなる。

１９０５は、マーク形状が１９０３となる照射パワーで、マーク形状が１９０３となる発光時間よりも長い発光時間で記録したときのマーク形状である。発光時間を長くすることにより、マーク長とスペース長がほぼ等しくなるが、マーク幅は適切な照射パワーで記録した場合の１９０１のマーク幅よりも狭いので、再生波形１９０６における再生振幅１９１３は、再生振幅１９１１よりは小さい。

１９０７は照射パワーが大きい場合のマーク形状で、マーク長が、スペース長より長い。マーク長とスペース長が等しくないので、再生波形１９０７における再生振幅１９１４は再生振幅１９１１よりも小さくなる。

１９０９は、マーク形状が１９０７となる照射パワーで、マーク形状が１９０７となる発光時間よりも短い発光時間で記録したときのマーク形状である。発光時間を短くすることにより、マーク長とスペース長が近づくが、照射パワーが大きいために、等しくはならないので、再生波形１９１０における再生振幅１９１５は、再生振幅１９１１よりは小さい。

以上のように、照射パワーが小さいときにはマーク幅を必要な幅にすることが出来ないことにより、また照射パワーが大きいときには、マーク長とスペース長を等しくすることができないことにより、データの最適な記録を行えない場合がある。マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行う際、光ビームの照射パワーが決定されておれば、より確実にデータの最適な記録を行うことができる。

決定するパワーとしては、少なくともピークパワーとバイアスパワーがあるが、まずピークパワーの決定方法について説明する。光ディスク１０１が装着されると、光ヘッドは、最適な照射パワー値を決定するための領域２０２に移動する。このときスイッチ１２１において、接点１２２は接点１２４とつながっている。

まずパワー設定回路１１９によりピークパワー、バイアスパワーの初期値がレーザ駆動回路１０９に設定される。続いて記録データ発生回路１２７の単一パターン発生回路１２７ａの出力信号が変調回路１２６で変調され、スイッチ１２１を介してパルス発生回路１１１に入力されてパルス列に変換され、出力信号が遅延回路１３８を介してパルス移動回路１１０に入力されてパルスの始端位置と終端位置が移動した信号が出力される。

図２０に、変調回路１２６から出力される信号パターンの説明図を示す。信号パターンは、光ディスクに予め記録されていてもよいし、記録装置に予め記録されていてもよい。図２０（ａ）は光ディスク１０１のセクタ構造の説明図であり、２０１はデータ領域、２０２は試し記録領域、２００１はトラック、２００２、２００３はアドレス、２００４はセクタである。

図２０（ａ）のセクタ２００４の構成を図２０（ｂ）に示す。セクタ２００４は、図１におけるＰＬＬ１１６において同期を引き込むために必要な、４Ｔ周期の繰り返し信号であるＶＦＯ信号２００５と、メインデータ２００６から構成される。

メインデータ２００６は、２００７、２００８、２００９で表されるフレーム群から構成され、さらに例えばフレーム２００７は、データの再生開始タイミングを決定するシンクマーク（sync mark)と、シンクマークに含まれる一定期間のマーク部とスペース部の総和の差であるＤＳＶ成分を０にするためのＤＳＶ補償パターン２０１１と、３Ｔ単一パターン２０１２とから構成される。３Ｔ単一パターンの例が、図２０（ｃ）に示されている。ＤＳＶ補償パターン２０１１により、記録する信号パターンにおけるＤＳＶ成分が０になり、再生時に、上記信号パターンの適切な二値化が可能になる。

なお、本実施の形態では３Ｔ単一パターンが多く含まれる信号を記録しているが、単一周期のパターンであれば、３Ｔ単一パターン２０１２の代わりに、４Ｔ以上の単一パターンでも良い。単一周期の信号を記録することにより、マーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定されていないためにランダム信号の記録品質が悪い場合でも、適切な照射パワーを決定することができる。さらに変調前、もしくは復調後の信号を比較することにより、データ比較回路１３１に必要なメモリを小さくすることができる。

３Ｔ単一パターン２０１２の代わりに、４Ｔ単一パターンを用いた場合には、ＶＦＯ信号も４Ｔ周期なので、ＶＦＯ信号部とメインデータ部のアシンメトリがずれることがなく、より適切な二値化が可能になる。

また、本実施の形態では３Ｔ単一パターンが多く含まれる信号を記録しているが、単一周期のパターンの代わりに、マーク始端部分と終端部分の最適な位置調整量が同一である分類に含まれる信号郡で構成されたパターンでも良い。同分類の信号郡を記録することにより、マーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定されていないために全分類で構成されたランダム信号の記録品質が悪い場合でも、適切な照射パワーを決定することができる。

パルス移動回路１１０の出力信号はレーザ駆動回路１０９に入力され、出力信号に応じて半導体レーザがピークパワーとバイアスパワーで発光し、マーク列が形成される。

記録が終了するとマーク列の再生を行い、復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入力される。単一パターン発生回路１２７ａの出力信号も、データ比較回路１３１に入力され、記録データと再生データの比較を行い、例えばＢＥＲ（バイトエラーレート）が検出される。

図２１にピークパワーとＢＥＲの関係を示す。図２１において横軸がピークパワーであり、縦軸がＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥＲが小さいほど正確な記録が行われている。そこでバイアスパワーを固定したまま、ピークパワーを変えながら、同様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値になるピークパワー２１０２（たとえば8ミリワット）を見つけ、一定のマージンを上乗せしたパワー（たとえば10ミリワット）を設定ピークパワーとする。このとき上乗せするマージン量を適切に設定しておくことにより、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行う際のピークパワーを最適化することができる。なおマージン量の上乗せの方法は、ＢＥＲがある閾値になるピークパワーにマージン定数（例えば１．２）を乗じても良いし、あるマージン定数（例えば２ｍＷ）を加算しても良い。

次にバイアスパワーの決定方法について説明する。まずパワー設定回路１１９により先ほど決定したピークパワーと、バイアスパワーの初期値がレーザ駆動回路１０９に設定される。続いて変調回路１２６から、記録データ発生回路１２７の内のランダムパターン発生回路１２７ｂからの信号に応じて、ランダム信号が出力され、上記パワーにより記録が行われる。さらにその後、変調回路１２６から、記録データ発生回路１２７の内の単一パターン発生回路１２７ａからの信号に応じて、３Ｔ単一パターンが多く含まれる信号が出力され、上記パワーにより記録が行われる。

記録が終了するとマーク列の再生を行い、復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入力される。記録データ発生回路１２７の出力信号も、データ比較回路１３１に入力され、記録データと再生データの比較を行い、ＢＥＲが検出される。

図２２にバイアスパワーとＢＥＲの関係を示す。図２２において横軸がバイアスパワーであり、縦軸がＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥＲが小さいほど正確な記録が行われている。そこでピークパワーを固定したまま、バイアスパワーを変えながら、同様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値になるバイアスパワーの下限値２２０２（たとえば３ミリワット）とバイアスパワーの上限値２２０３（例えば７ミリワット）を見つけ、例えば下限値２２０２と上限値２２０３の平均値（５ミリワット）を、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行う際のバイアスパワーとする。

別の方法によるバイアスパワーの決定について説明する。図２３に示すように、ランダム信号を記録した後に３Ｔ単一パターンが多く含まれる信号を記録してＢＥＲを検出し、さらに、ランダム信号を記録した後に１１Ｔ単一パターンが多く含まれる信号を記録して同様のＢＥＲ検出を行う。３Ｔ単一パターン信号を用いた場合と、１１Ｔ単一パターン信号を用いた場合のそれぞれについて、下限値と上限値を求め、下限値の大きい方の値２３０２と、上限値の小さい方の値２３０３との平均値を、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行う際のバイアスパワーとしても良い。

最短間隔の信号である３Ｔ信号を記録した際にＢＥＲが閾値以下となるバイアスパワーの範囲と、最長間隔の信号である１１Ｔ信号を記録した際にＢＥＲが閾値以下となるバイアスパワーの範囲が異なるときには、両者が閾値以下となる範囲の平均値にバイアスパワーを設定することにより、バイアスパワーの設定をより最適にすることができる。

以上のように、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するための試し記録に先だって、上記試し記録を行う際の最適な照射パワーを決定することにより、より最適な記録を実現することができる。

さらに、マークの始端位置、終端位置を実際に記録する記録装置で、実際に記録されるディスクに試し記録を行って照射パワーを決定することにより、記録装置、記録されるディスクの組み合わせにおける最適な記録を実現することができる。

なお本実施の形態では、再生信号品質を検出する方法として、ＢＥＲを検出しているが、再生信号品質を検出できるのであれば、ジッタを検出する等の他の方法でも良い。

ピークパワー決定の別の方法として、６Ｔ単一周期信号のアシンメトリを検出する方法がある。一例を図３６に示す。図３６において、３６０１は特定パターン信号発生回路１２５の出力信号である６Ｔ単一周期信号、３６０２はパルス発生回路１１１の出力信号、３６０３はパルス移動回路１１０の出力信号、３６０４は信号３６０３のようにピークパワー、バイアスパワーを変調して記録した結果、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマークの模式図である。３６０１、３６０２、３６０３は同じ時間軸上にはないが、分かりやすくするために、対応する箇所が縦に並ぶように図示してある。図３６のパターン信号は、６Ｔ間隔でマークとスペースが連続する単一周期信号であり、上述した図５（ａ）の１８分類の内、５Ｓ５Ｍ、５Ｍ５Ｓの２つの分類が存在する。図３６において信号３６０３に従ってレーザ駆動が行われ、マークの記録が実行される。好ましい実施の形態においては、図３６に示すパターン信号３６０１は、繰り返され、トラック１周にわたり記録される。トラック１周の記録が終わると、そのトラック１周が再生される。再生は、光検出器１０８から得られた光信号が電気信号に変換されて、プリアンプ１１２、ローパスフィルタ１１３、イコライザ１１４において処理され、イコライザ１１４から再生信号３６０５が出力されて、アシンメトリ検出回路１４０および二値化回路１１５に入力される。二値化回路１１５は、二値化回路の出力信号において、マークに対応する出力レベルと、スペースに対応する出力レベルの間隔が等しくなるようにスライスレベル信号３６０９を調整し、上記スライスレベル信号３６０９がアシンメトリ測定回路１４０に入力される。アシンメトリ測定回路では再生信号３６０５の最小値３６１０と最大値３６１１の平均値と、スライスレベル信号３６１２とを比較し、両者の差もしくは比が規定範囲外であるときは、ピークパワーの値がずれていると判断され、両者の差もしくは比の正負に応じてピークパワーを修正し、アシンメトリが規定範囲内に入るまで、ピークパワーを変化させて６Ｔ単一周期信号の記録、再生、アシンメトリ測定を行う。

ここで、さらに図３８の表に示したオプションについて説明する。

図１５に示される光ディスク１５０１において、１５０３に、ディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録してもよい。前照射パワーの情報には、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリがあるが、記録されるのは全てであってもよいし、少なくともいずれか一つであってもよい。以下、同様である。

このディスクが装着されると、まず領域１５０３を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、領域１５０３から求められたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。試し記録によりバイアスパワー(特定）を求めたのは、レーザの劣化や、レンズのくもりによりレーザパワーが落ちていることがあるからである。従って、ピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

言うまでもなく、レーザパワーに変動がなければ、領域１５０３を再生して求めたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用してもよい。

またピークパワーを、アシンメトリを検出して求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ましいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適な値が異なる。

例えば図３６において、
（（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１５−３６１４）
の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もしくは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

またピークパワーを、ＢＥＲを検出して求める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

同様に図１６に示される光ディスク１６０１において、１６０４に、ディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録してもよい。

このディスクが装着されると、まず領域１６０４を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、領域１６０４から求められたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。これによりピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

言うまでもなく、レーザパワーに変動がなければ、領域１６０４を再生して求めたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用してもよい。

またピークパワーをアシンメトリを検出して求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ましいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適な値が異なる。

例えば図３６において、
（（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１５−３６１４）
の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もしくは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

またピークパワーをＢＥＲを検出して求める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

また図１７に示される光ディスク１７０１において、１７０３に、ディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録してもよい。

このディスクが装着されると、まず領域１７０３を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、領域１７０３から求められたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。これによりピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

言うまでもなく、レーザパワーに変動がなければ、領域１７０３を再生して求めたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用してもよい。

またピークパワーをアシンメトリを検出して求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ましいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適な値が異なる。

例えば図３６において、
（（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１５−３６１４）
の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もしくは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

またピークパワーをＢＥＲを検出して求める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

図１７に示される光ディスク１７０１において、さらに、領域１７０５に、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイアスパワー(特定）、ピークパワー(特定）、マージン定数、アシンメトリ等の前照射パワーの情報を記録してもよい。

この場合、次回に光ディスク１７０１を記録装置に装着してデータを記録する際に、領域１７０５を再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例えばバイアスパワー(特定）を決定した結果が、領域１７０５に記録されているバイアスパワー(一般）と同じであれば、以降のピークパワー決定のための試し記録や、データに応じたマーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。また領域１７０３に記録されたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生できないときでも、領域１７０５に記録してあることにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。

同様に、図１８に示される光ディスク１８０１において、１８０４に、ディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録してもよい。

このディスクが装着されると、まず領域１８０４を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、領域１８０４から求められたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。これによりピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

言うまでもなく、レーザパワーに変動がなければ、領域１８０４を再生して求めたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用してもよい。
またピークパワーをアシンメトリを検出して求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ましいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適な値が異なる。

例えば図３６において、
（（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１５−３６１４）
の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もしくは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

またピークパワーをＢＥＲを検出して求める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

図１８に示される光ディスク１８０１において、さらに、領域１８０６に、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイアスパワー(特定）、ピークパワー(特定）、マージン定数、アシンメトリ等の前照射パワーの情報を記録してもよい。

この場合、次回に光ディスク１８０１を記録装置に装着してデータを記録する際に、領域１８０６を再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例えばバイアスパワー(特定）を決定した結果が、領域１８０６に記録されているバイアスパワー(一般）と同じであれば、以降のピークパワー決定のための試し記録や、データに応じたマーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。また領域１８０３に記録されたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生できないときでも、領域１８０５に記録してあることにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。

なお図１２の光ディスク１２０１において、領域１２０３に、調整方式以外にも、光ディスク１２０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、この光ディスク１２０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワーとバイアスパワー）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１２０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また図１５の光ディスク１５０１において、領域１５０３に、領域１５０３に、マーク始端部分と終端部分の位置情報以外にも、光ディスク１５０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、上記光ディスク１５０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１５０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。 また領域１５０３に記録されたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生できないときでも、メモリ１３０に格納してあることにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。

また図１６の光ディスク１６０１において、領域１６０３に、調整方式以外にも、光ディスク１６０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、上記光ディスク１６０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１６０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また領域１６０３に記録されたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生できないときでも、メモリ１３０に格納してあることにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。

また図１７の光ディスク１７０１において、領域１７０３に、領域１７０３に、マーク始端部分と終端部分の位置情報以外にも、光ディスク１７０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、上記光ディスク１７０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１７０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また領域１７０３や領域１７０５に記録されたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生できないときでも、メモリ１３０に格納してあることにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。さらに領域１７０５が他の記録装置により書きかえられている場合でも、メモリ１３０を参照することにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。

また図１８の光ディスク１８０１において、領域１８０３に、調整方式以外にも、光ディスク１８０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、上記光ディスク１８０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１８０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また領域１８０３や領域１８０５に記録されたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生できないときでも、メモリ１３０に格納してあることにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。さらに領域１８０５が他の記録装置により書きかえられている場合でも、メモリ１３０を参照することにより速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。

なお本実施の形態では、バイアスパワー(特定）の決定後にピークパワー(特定）を決定しているが、ピークパワー(特定）の決定後にバイアスパワー(特定）を決定しても良い。

また本実施の形態では、マーク始端部分と終端部分の最適な位置は、上記領域に試し記録を行うことにより決定されるが、上記決定の後に、データの記録を行う際の光ビームの後照射パワー値を決定しても良い。

例えば図５（ａ）における、ファーストパルス位置の３Ｓ５Ｍの設定や、ラストパルス位置の３Ｓ５Ｍの設定が、前照射パワーのピークパワーを決定する際の初期設定値と大きく異なる場合には、上記ピークパワーを決定した際のマージンが少なくなっている可能性がある。例えば記録しようとする領域が汚れている場合に、本来であれば２ミリワット程度実効的な照射パワーが下がっても正しく記録できるところが、マージンが少なくなっているために、１ミリワット下がっただけで正しく記録できなくなる。

この場合は、後照射パワー値を決定することにより、より確実にパワーマージンを確保した最適な記録を行うことができる。

決定するパワーとしては、少なくともピークパワーとバイアスパワーがあるが、まずピークパワーの決定方法について説明する。スイッチ１２１において、接点１２２は接点１２４とつながっている。まずメモリ１３２からのデータに基づきパワー設定回路１１９によりピークパワー、バイアスパワーの初期値がレーザ駆動回路１０９に設定される。続いて記録データ発生回路１２７のランダムパターン発生回路１２７ｂの出力信号が変調回路１２６で変調され、スイッチ１２１を介してパルス発生回路１１１に入力されてパルス列に変換され、出力信号がパルス移動回路１１０に入力されてファーストパルスとラストパルスの位置が移動した信号が出力される。なお変調回路１２６から出力される信号は、ＤＳＶ成分が０となるようなランダム信号である。

パルス移動回路１１０の出力信号はレーザ駆動回路１０９に入力され、出力信号に応じて半導体レーザがピークパワーとバイアスパワーで発光し、マーク列が形成される。

記録が終了するとマーク列の再生を行い、復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入力される。一方で記録データ発生回路１２７のランダムパターン発生回路１２７ｂの出力信号も、データ比較回路１３１に入力され、記録データと再生データの比較を行い、例えばＢＥＲ（バイトエラーレート）が検出される。

図２４にピークパワーとＢＥＲの関係を示す。図２４において横軸がピークパワーであり、縦軸がＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥＲが小さいほど正確な記録が行われている。そこでバイアスパワーを固定したまま、ピークパワーを変えながら、同様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値になるピークパワー２４０２（例えば８ミリワット）を見つけ、一定のマージンを上乗せしたパワー（例えば１０ミリワット）を設定ピークパワーとする。このとき上乗せするマージン量を適切に設定しておくことにより、データの記録を行う際のピークパワーを最適化することができる。なおマージン量の上乗せの方法は、ＢＥＲがある閾値になるピークパワーに定数（例えば１．２）を乗じても良いし、ある定数（例えば２ｍＷ）を加算しても良い。

次にバイアスパワーの決定方法について説明する。まずパワー設定回路１１９により先ほど決定したピークパワーと、バイアスパワーの初期値がレーザ駆動回路１０９に設定される。続いてランダムパターン発生回路１２７ｂから出力信号を受け、変調回路１２６はランダム信号を出力し、上記パワーにより記録が行われる。

記録が終了するとマーク列の再生を行い、復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入力される。一方でランダムパターン発生回路１２７ｂの出力信号も前後して、データ比較回路１３１に入力され、記録データと再生データの比較を行い、ＢＥＲが検出される。

図２５にバイアスパワーとＢＥＲの関係を示す。図２５において横軸がバイアスパワーであり、縦軸がＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥＲが小さいほど正確な記録が行われている。そこでピークパワーを固定したまま、バイアスパワーを変えながら、同様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値になるバイアスパワーの下限値２５０２（例えば３ミリワット）とバイアスパワーの上限値２５０３（例えば７ミリワット）を見つけ、例えば下限値２５０２と上限値２５０３の平均値（５ミリワット）を、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行うためのバイアスパワーとする。

以上のように、マーク始端部分と終端部分の最適な位置の決定後に、データの記録を行う際の最適な照射パワーを決定することにより、より最適な記録を実現することができる。

さらに、マークの始端位置、終端位置を実際に記録する記録装置で、実際に記録されるディスクに、データに応じたマーク始端部分と終端部分の最適な位置条件で、試し記録を行って照射パワーを決定することにより、記録装置、記録されるディスクの組み合わせにおける最適な記録を実現することができる。

なお本実施の形態では、再生信号品質を検出する方法として、ＢＥＲを検出しているが、再生信号品質を検出できるのであれば、ジッタを検出する等の他の方法でも良い。

ここでさらに図３８の表に示したオプションについて説明する。

また図１５に示される光ディスク１５０１において、１５０３にディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、後照射パワーの情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数）を記録してもよい。後照射パワーの情報には、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数があるが、記録されるのは全てであってもよいし、少なくともいずれか一つであってもよい。以下、同様である。

このディスクが装着されると、領域１５０３を再生して、後照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、領域１５０３から求められたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー(特定）の最適値を求めることができる。これにより、ピークパワー(特定）決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。言うまでもなく、レーザパワーに変動がなければ、領域１５０３を再生して求めたピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用してもよい。

またピークパワーを、ＢＥＲを検出して求める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めることができる。

なお領域１５０３に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための後照射パワーの情報が記録されていなければ、前照射パワーの情報を利用しても良いし、その逆に前照射パワーを求める際に、後照射パワーの情報を利用しても良い。

同様に図１６に示される光ディスク１６０１において、１６０４にディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、後照射パワーの情報を記録してもよい。

このディスクが装着されると、領域１６０４を再生して、後照射パワーの情報を得ることにより、例えばバイアスパワーを決定する際に、領域１６０４に記録されているピークパワーとバイアスパワーの比を計算して、ピークパワー決定後に、上記比をピークパワーに乗ずることにより、バイアスパワーの最適値を予測し、バイアスパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なお領域１６０４に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整する際の照射パワーの情報が記録されていないときに、上記位置調整後に決定した照射パワーの情報を得ることにより、例えば位置調整前のバイアスパワーを決定する際に、領域１６０４に記録されている、位置調整後に決定したピークパワーとバイアスパワーの比を計算して、位置調整前のピークパワー決定後に、上記比を位置調整前のピークパワーに乗ずることにより、位置調整前のバイアスパワーの最適値を予測し、位置調整前のバイアスパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また図１7に示される光ディスク１7０１において、１7０３にディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、後照射パワーの情報を記録してもよい。

このディスクが装着されると、領域１7０３を再生して、後照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、領域１7０３から求められたピークパワーとバイアスパワーとの比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワーに乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求めることができる。これにより、ピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なお領域１7０３に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情報が記録されていなければ、後照射パワーの情報を利用する。まず、領域１7０３に記録されている後照射パワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーのバイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずることにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求めることができる。これにより前照射パワーのピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

図１7に示される光ディスク１7０１において、さらに、領域１7０5に、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイアスパワー、ピークパワー、マージン定数を含む後照射パワーの情報を記録してもよい。

この場合、次回に光ディスク１7０１を記録装置に装着してデータを記録する際に、領域１7０5を再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例えばバイアスパワーを決定した結果が、領域１7０5に記録されているバイアスパワーと同じであれば、以降のピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また図１8に示される光ディスク１8０１において、１8０4にディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、後照射パワーの情報を記録してもよい。

このディスクが装着されると、領域１8０4を再生して、後照射パワーの情報を求める。続いて試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、領域１8０4から求められたピークパワーとバイアスパワーとの比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワーに乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求めることができる。これにより、ピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なお領域１8０4に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情報が記録されていなければ、後照射パワーの情報を利用する。まず、領域１8０4に記録されている後照射パワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーのバイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずることにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求めることができる。これにより前照射パワーのピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

図１8に示される光ディスク１8０１において、さらに、領域１8０6に、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイアスパワー、ピークパワー、マージン定数を含む後照射パワーの情報を記録してもよい。

この場合、次回に光ディスク１8０１を記録装置に装着してデータを記録する際に、領域１8０6を再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例えばバイアスパワーを決定した結果が、領域１8０6に記録されているバイアスパワーと同じであれば、以降のピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なお本実施の形態では、バイアスパワー(特定）の決定後にピークパワー(特定）を決定しているが、ピークパワー(特定）の決定後にバイアスパワー(特定）を決定しても良い。

なお図１２の光ディスク１２０１において、領域１２０３に、調整方式以外にも、光ディスク１２０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、この光ディスク１２０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための後照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１２０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワーとバイアスパワーとの比を求め、この比をバイアスパワーに乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なおメモリ１３０に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情報が記録されていなければ、後照射パワーの情報を利用する。まず、領域１2０３に記録されている後照射パワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーのバイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずることにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求めることができる。これにより前照射パワーのピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また図１６の光ディスク１６０１において、領域１6０３に、調整方式以外にも、光ディスク１6０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、この光ディスク１6０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための後照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１６０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワーとバイアスパワーとの比を求め、この比をバイアスパワーに乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なおメモリ１３０に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情報が記録されていなければ、後照射パワーの情報を利用する。まず、領域１6０３に記録されている後照射パワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーのバイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずることにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求めることができる。これにより前照射パワーのピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

また図１８の光ディスク１８０１において、領域１8０３に、調整方式以外にも、光ディスク１8０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が記録されている場合には、この光ディスク１8０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための後照射パワー情報（ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数）を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。

このディスクが装着されると、まず領域１8０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報がメモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合は、試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、メモリ１３０に記憶されたピークパワーとバイアスパワーとの比を求め、この比をバイアスパワーに乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求めることが出来る。従ってピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

なおメモリ１３０に、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情報が記録されていなければ、後照射パワーの情報を利用する。まず、領域１8０３に記録されている後照射パワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーのバイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずることにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求めることができる。これにより前照射パワーのピークパワー決定のための試し記録を省略することができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮することができる。

ところで本実施の形態では、記録媒体から二値化回路までの再生系の特性は理想的であるという前提でマーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定されているが、再生系の特性が理想的ではない場合もある。

図２６は実際の装置における再生系の群遅延の周波数特性を示している。信号周波数に対して、群遅延特性は平坦になるというのが理想的であるが、２６０１に示すように平坦でない群遅延特性を持つ場合がある。このように、周波数に対して一定でない群遅延特性をもつと、さまざまな長さの組み合わせである信号に対してエッジシフトを引き起こすことになる。エッジシフトを持った装置においてＴｕ、Ｔｄの決定を行うとエッジシフト分まで含めてＴｕ、Ｔｄの位置を決定することになり、その装置自身で再生する場合には問題ないが、他の例えば群遅延特性が平坦な装置で再生するとエッジシフトにより再生性能が悪化する。

図２７は平坦でない群遅延特性をもつ装置の再生信号の一例である。この例では特に長いマークとスペースによる単一信号を示しているが、平坦でない群遅延特性を持つ装置での再生信号は、２７０１に示すように、マーク形状に依存せず本来平坦となるべきスペース部分でも傾きを持つ。この傾きを検出することによって、群遅延特性の平坦性が検出できる。

図２８（ａ）に長いスペースを有するテスト信号を用いて平坦性を検出する方法の一例を示す。このテスト信号は、記録媒体内周部にピット列(エンボス形式）で形成される信号、たとえばフレーム同期信号として用いられ信号内に一定周期で含まれる１４Ｔスペースの信号でも、記録媒体の特定の領域にあらかじめ記録されている信号でも、その記録装置に記録されている信号でも構わない。テスト信号には長いスペース（たとえば７Ｔから１４Ｔ程度）が含まれる。

２８０１は二値化回路のスライスレベル、２８０２は１４Ｔスペースのテスト信号を記録し、それを再生した再生信号である。２８０２の再生信号をＰＬＬクロックタイミングｔ０からｔ１４においてサンプリングし、ｓ１からｓ１３のサンプル値を得る。

図２８（ｂ）は、サンプリングの演算回路２８０３を示す。ｓ１からｓ１３のサンプル値を演算回路２８０３によって演算し、値を求める。すなわち、サンプル値ｓ１からｓ６までを合算し、サンプル値ｓ８からｓ１３までを合算する。そして二つの合算された値の差を求める。２８０２のような再生波形の場合、２８０３の演算回路の出力は負の値となり、逆の傾きを持つ場合は正の値となる。

なお、このサンプリングおよび演算はディジタル回路を想定しているが、２８０２のような傾きは負（または正）を出力し、逆の傾きは正（または負）を出力する構成であればディジタル回路である必要はなく、アナログ回路でも構わない。

図２９（ａ）、（ｂ）は群遅延に周波数特性を持たせた場合の群遅延補正回路の例である。

図２９（ａ）はオペアンプで構成した回路例で、通常の反転オペアンプ２９０３のフィードバック抵抗に周波数特性を持たせるため、抵抗２９０２を介してコンデンサ２９０１を挿入している。この抵抗２９０２の抵抗値、コンデンサ２９０１の容量を適当に選ぶことによって、高周波側が遅延する求めたい群遅延特性が得られる。

逆に低周波側を遅延させたいときはコンデンサ２９０１の代わりにインダクタを用いることによって可能となる。

図２９（ｂ）は群遅延補正回路の回路例のブロック図を示している。再生信号が遅延線２９０４、２９０５を通して遅延され、元の信号と、遅延線２９０４後の信号、遅延線２９０５後の信号にそれぞれ係数回路２９０６、２９０７、２９０８で重み付けされ、加算器２９０９で加算される。信号２８０２は、図２８（ａ）で示した信号であり、検出器２８０３は、たとえば図２８(ｂ)の演算回路を示す。検出器２８０３の出力値に応じた係数値がコントローラ２９１０から出力され、増幅器２９０６，２９０７、２９０８の増幅率を制御する。増幅後、すなわち重み付け後は、加算器２９０９で加算され、群遅延補正回路を含めた再生系の群遅延特性の平坦性を確保する。

このような構成の回路は、係数２９０６と係数２９０８が等しければ群遅延特性が平坦になるということが広く知られているが逆に等しくない場合は群遅延が周波数特性をもつことから、適当な係数を選べば、求めたい群遅延特性の等価回路を実現できる。

図２８（ａ）で示したスペース部の平坦性を検出し、再生系のどこかに挿入された図２９（ａ）、（ｂ）で示した群遅延補正を制御することによって、再生系全体の群遅延特性を平坦にできる。その後でＴｕ、Ｔｄの決定を行えば他の装置で再生したときのエッジシフトを小さく押さえることができ、装置間の再生互換をより一層確保することができる。

図３０は図２９（Ａ）、（ｂ）の回路で群遅延補正量を変化させた場合の再生信号のジッタを示している。なお、この再生信号は、記録媒体内周部にピット列で形成されている信号でも、記録媒体の特定の領域にあらかじめ記録されている信号でも、エッジシフトを起こさないように選んだＴｕ、Ｔｄを用いてその装置で記録された信号でも構わない。

３００１は、再生系の群遅延特性が平坦な場合、３００２は、再生系の群遅延特性が平坦でない場合を示している。前述の通り、再生系全体の群遅延特性が平坦でないとエッジシフトを引き起こし、再生性能の悪化を招き、それはエラーレートやジッタの悪化につながる。再生系の群遅延特性が平坦であれば３００１に示すように、群遅延補正回路の群遅延平坦性が０（群遅延補正なし）のときにエラーレート、ジッタは最小になり、群遅延補正量を大きくすればするほどジッタは悪化し大きくなる。

しかしながら、もともと再生系に装置特有の群遅延特性を持っていたとすると、３００２のように、ある群遅延補正量のところでジッタは最小になる。このジッタが最小になる補正を行うことによってエッジシフトはもっとも小さくなっていると考えられるので、群遅延特性が平坦に近くなっていると考えられる。このようにジッタを検出しながら、ジッタが最小になるように図２９の群遅延補正量を制御して、その後でＴｕ、Ｔｄの決定を行えば他の装置で再生したときのエッジシフトを小さく押さえることができ、装置間の再生互換を確保できる。なお、エラーレートのように群遅延特性やエッジシフトによって変化するものであれば、ジッタでなくても構わない。

なお、装置特有の群遅延特性が径時変化しないものであれば、工程において特性を補正するようにすれば同様の効果が得られる。また、群遅延特性が装置によらず特定の特性を示すものであれば、その代表値によって補正するようにしておけば同様の効果が得られる。

本発明の実施の形態における光学情報の記録装置のブロック図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態における記録パルス列の説明図。 本発明の実施の形態における分類方法の説明図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態の位置調整における、初期値補間の説明図。 本発明の実施の形態の位置調整における、初期値補間の説明図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 本発明の実施の形態における光ディスクの平面図。 位置調整の前に照射パワーを決定することの説明図。 本発明の実施の形態における記録パターンの説明図。 本発明の実施の形態における位置調整前のピークパワー決定方法の説明図。 本発明の実施の形態における位置調整前のバイアスパワー決定方法の説明図。 本発明の実施の形態における位置調整前のバイアスパワー決定方法の説明図。 本発明の実施の形態における位置調整後のピークパワー決定方法の説明図。 本発明の実施の形態における位置調整後のバイアスパワー決定方法の説明図。 本発明の実施の形態における再生系の群遅延の周波数特性図。 本発明の実施の形態における再生信号の説明図。 本発明の実施の形態における群遅延検出方法の説明図。 本発明の実施の形態における群遅延補正回路のブロック図。 本発明の実施の形態における群遅延補正量とジッタの相関図。 ディスクのメインデータの配列構成図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態におけるディスクにおけるデータのレイアウトを示す展開図。 本発明の実施の形態におけるディスクにおけるデータのレイアウトを示す展開図。 本発明の実施の形態における信号の説明図。 本発明の実施の形態のメモリ１３０におけるデータのレイアウトを示す展開図。 本発明の種々の実施の形態を示した表。

符号の説明

１０１ 光ディスク
１０２ スピンドルモータ
１０３ 半導体レーザ
１０９ レーザ駆動回路
１１０ パルス移動回路
１１１ パルス発生回路
１１９ パワー設定回路
１２０ パルス位置ずれ回路
１２９ パルス位置設定回路
１３０ メモリ
１３１ データ比較回路
２０１ データ領域
２０２ 試し記録領域

Claims (2)

1. 同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックに、オリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスに基づく光ビームを照射して形成されるマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録媒体において、
   データを記録するデータ記録部と特定情報記録部とを有し、
   該特定情報記録部に、該駆動パルスのファーストパルス位置を変化させることによって再生ジッターが一定値以下となるようなファーストパルス変化量の値が記録されており、
   上記ファーストパルス変化量の値を上記複数の駆動パルス内のファーストパルス位置へ利用する方式は、ファーストパルス幅を変えずに記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスの立ち上がりエッジまでの時間間隔を変化させることによってファーストパルスを移動する方式と、記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスの立ち上がりエッジまでの時間間隔を変化させ、かつ記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスの立ち下がりエッジまでの時間間隔を変化させないことによってファーストパルスの幅を変化させる方式のいずれかであり、
   かつ記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスに続くパルスの立ち上がりエッジまでの時間間隔を変化させず、
   更に前記特定情報記録部には、データ領域に実データを記録するために用いられる光ビームのパワーに関する情報であって、ピークパワーを設定するための情報、バイアスパワーを設定するための情報、マージン定数に関する情報の少なくとも一つが記録されていることを特徴とする情報記録媒体。
2. 同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数のトラックに、オリジナル信号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルスに基づく光ビームを照射して形成されたマークと、該マークおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録するデータ記録部と特定情報記録部とを有し、該特定情報記録部に、駆動パルスのファーストパルス位置を変化させることによって再生ジッターが一定値以下となるようなファーストパルス変化量の値が記録されており、上記ファーストパルス変化量の値を上記複数の駆動パルス内のファーストパルス位置へ利用する方式は、ファーストパルス幅を変えずに記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスの立ち上がりエッジまでの時間間隔を変化させることによってファーストパルスを移動する方式と、記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスの立ち上がりエッジまでの時間間隔を変化させ、かつ記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスの立ち下がりエッジまでの時間間隔を変化させないことによってファーストパルスの幅を変化させる方式のいずれかであり、かつ記録すべきオリジナル信号の所定のタイミングからファーストパルスに続くパルスの立ち上がりエッジまでの時間間隔を変化させず、更に前記特定情報記録部には、データ領域に実データを記録するために用いられる光ビームのパワーに関する情報であって、ピークパワーを設定するための情報、バイアスパワーを設定するための情報、マージン定数に関する情報の少なくとも一つが記録されている情報記録媒体を記録再生する装置であって、
   情報記録媒体にあらかじめ記録されたファーストパルス移動量を再生する手段と、
   再生されたファーストパルス移動量を記憶する手段と、
   記録データ信号により駆動パルスを生成すると共に、生成された駆動パルスを、該ファーストパルス移動方式により修正する手段と、
   該修正された駆動パルスにより光ビームを発生させて情報記録媒体上にスペースとマークとを形成する手段と、
   から成ることを特徴とする記録再生装置。
   

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