JP2000231729A - 情報記録媒体 - Google Patents

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Abstract

(57)【要約】 【課題】データの記録に先だって、データのパターンに
応じたファーストパルスとラストパルスの最適な移動量
を求め、正しい位置にマークを記録する。 【解決手段】特定パターンを記録したトラックの再生を
行い、２値化回路１１５において所定のスライスレベル
より２値化され、０、１の信号列に変換された信号にお
ける特定のエッジ間隔をパルス位置ずれ測定回路１２０
で測定する。測定したエッジ間隔と正規の値とのずれ量
が小さくなるように、パルス移動回路１１０のファース
トパルス、ラストパルスの移動量の設定を更新する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録可能な情報記
録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】情報記録媒体に光学情報、特にデジタル
情報を記録再生する装置は、大容量のデータを記録再生
する手段として注目されている。
【０００３】記録可能な光学的情報記録媒体の一つに相
変化型光ディスクがある。相変化型光ディスクへの記録
は、半導体レーザの光ビームを回転するディスクに照射
し、記録膜を加熱融解させることで行う。その光ビーム
強度の強弱により記録膜の到達温度および冷却過程が異
なり、記録膜の相変化が起こる。
【０００４】光ビーム強度が強い時は、高温状態から急
速に冷却するので記録膜がアモルファス化し、また光ビ
ーム強度が比較的弱いときは、中高温状態から徐々に冷
却するので記録膜が結晶化する。アモルファス化した部
分を通常マークと呼び、マークとマークの間の結晶化し
た部分を通常スペースと呼ぶ。そしてこのマークとスペ
ースに二値情報を記録する。通常光ビーム強度が強い時
のレーザパワーをピークパワー、光ビーム強度が弱い時
のレーザパワーをバイアスパワーと呼ぶ。
【０００５】再生時は、記録膜が相変化を起こさない程
度に弱い光ビームを照射し、その反射光を検出する。通
常アモルファス化したマーク部分は反射率が低く、結晶
化したスペース部分は反射率が高い。よってマーク部分
とスペース部分の反射光量の違いを検出して再生信号を
得る。
【０００６】相変化型光ディスクへのデータの記録方式
として、マークポジション記録方式（またはＰＰＭ方
式）とマークエッジ記録方式（またはＰＷＭ方式）があ
り、通常はマークエッジ記録方式の方が情報記録密度が
高くなる。
【０００７】マークエッジ記録方式では、マークポジシ
ョン記録方式と比較して長いマークを記録する。相変化
型光ディスクにピークパワーを照射して長いマークを記
録すると、記録膜の熱蓄積のために、マークの後半部ほ
ど半径方向の幅が太くなる。これはダイレクトオーバラ
イトしたとき消し残りが発生したり、再生時にトラック
間の信号クロストークを発生するなど、信号品質を大き
く損ねる。
【０００８】また、記録密度を高めるために、記録する
マークおよびスペースの長さを短くすることが考えられ
るが、この場合、特にスペース長が短くなると、記録し
たマークの終端の熱がスペース部分を伝導して次のマー
クの始端の温度分布に影響を与えたり、逆に次に記録し
たマークの始端の熱が前のマークの終端の冷却過程に影
響を与えたりする熱干渉が生じる。従来の記録法方で熱
干渉が生じると、マークのエッジ位置が変動することに
なり、再生時の誤り率が増加するという課題があった。
【０００９】以上の様な課題に対して、特開平７−１２
９９５９号（米国特許第5,490,126号、第5,636,194号）
において、マークエッジ記録のマークに相当する部分
を、一定幅の始端部分、一定周期のパルス状の中間部
分、一定幅の終端部分に分解した信号とし、これで２値
のレーザ出力を高速にスイッチングして記録した。
【００１０】すると長いマークの中間部分は一定周期の
パルス状にレーザ電流を駆動することによりマーク形成
に必要最小限のパワーを照射するのでマーク幅が広がら
ずほぼ一定幅となり、マークの始端部分、終端部分には
一定幅のレーザ光が十分に照射されるので、ダイレクト
オーバライト時にも、形成されるマークのエッジ部分の
ジッターが増加しなかった。
【００１１】更にマークの始端部分と終端部分の位置
を、マーク長が小さいときとマーク前後のスペース長が
小さいときにこれを検出し、マーク長やスペース長が大
きいときの位置とは変化させて記録することにより、熱
干渉に起因するピークシフトを記録時に補償することが
可能になった。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら特願５−
２７９５１３号では、マーク始端部分と終端部分の最適
な位置を求める手法について言及されていない。
【００１３】最適な手法が確立されていなければ、最適
記録自体の信頼性が低かったり、最適記録が実現できて
も、最適位置の過剰な探索による時間の浪費や回路コス
トの浪費につながる。
【００１４】また、マーク始端部分と終端部分の位置を
データに応じて変化させるという手法は、データの高密
度化を実現するために発明されたが、記録するマークの
エッジが熱的な影響で動くという微妙な現象は、ディス
クの構造や記録膜組成、および記録装置の特性に依存す
るところが大きく、これらが少しでも異なると、最適な
記録を行えないという課題があった。
【００１５】本発明は上記課題を鑑み、ディスクの構造
や記録膜組成、および記録装置の特性が異なっても、マ
ーク始端部分とマーク終端部分の最適な位置を簡単に求
めて、最適な記録を行えるような情報記録媒体、記録装
置を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
になされた、本発明の第１の観点にかかる情報記録装置
は、（ａ）同心円状あるいはスパイラル状に形成された
複数のトラックと、該トラックに記録するオリジナル信
号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動
パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射し
てマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報
を記録する情報記録媒体において、（ｂ）データを記録
するデータ記録領域と、（ｃ）凹凸のピット列で予めコ
ントロールデータを記録したコントロールデータゾーン
とを有し、（ｄ）該コントロールデータには、記録装置
により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な
駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄ
の少なくともいずれか一方と、該始端パルス位置Ｔｕと
終端パルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方値を決定
するために用いられる光ビームのパワーである前照射パ
ワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、
マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報
とが含まれていることを特徴とするものである。
【００１７】本発明の第２の観点にかかる情報記録媒体
は、（ａ）同心円状あるいはスパイラル状に形成された
複数のトラックと、該トラックに記録するオリジナル信
号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動
パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射し
てマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報
を記録する情報記録媒体において、（ｂ）データを記録
するデータ記録領域と、（ｃ）凹凸のピット列で予めコ
ントロールデータを記録したコントロールデータゾーン
とを有し、（ｄ）該コントロールデータには、記録装置
により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な
駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄ
の少なくともいずれか一方と、該データ領域の実データ
を記録するために用いられる光ビームのパワーである後
照射パワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパ
ワー、マージン定数の内少なくとも一つの情報とが含ま
れていることを特徴とするものである。情報記録媒体で
ある。
【００１８】本発明の第３の観点にかかる情報記録媒体
は、（ａ）同心円状あるいはスパイラル状に形成された
複数のトラックと、該トラックに記録するオリジナル信
号のマーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動
パルスを用いて光ビームを該トラックの記録面に照射し
てマークおよび、マークとマークの間のスペースで情報
を記録する情報記録媒体において、（ｂ）データを記録
するデータ記録領域と、（ｃ）凹凸のピット列で予めコ
ントロールデータを記録したコントロールデータゾーン
とを有し、（ｄ）該コントロールデータには、記録装置
により該情報記録媒体にマークを記録するために必要な
駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄ
の少なくともいずれか一方と、前記パルス位置を決定す
るために用いられるアシンメトリ情報とが含まれている
ことを特徴とするものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態における
光学情報の記録方法について図面を参照しながら説明す
る。図１は本発明による実施の形態の光学情報の記録装
置、すなわち光ディスク装置のブロック図である。
【００２０】図１において、１０１は光ディスク、１０
２はスピンドルモータ、１０３は半導体レーザ、１０４
はコリメータレンズ、１０５はビームスプリッタ、１０
６は対物レンズ、１０７は集光レンズ、１０８は光検出
器、１０９はレーザ駆動回路、１１０はパルス移動回
路、１１１はパルス発生回路、１１２はプリアンプ、１
１３はローパスフィルタ、１１４は再生イコライザ、１
１５は２値化回路、１１６はＰＬＬ、１１７は復調回
路、１１８は誤り訂正回路、１１９はパワー設定回路、
１２０はパルス位置ずれ測定回路、１２１はスイッチ、
１２２、１２３、１２４はスイッチの接点、１２５は位
置調節用特定パターン発生回路、１２６は変調回路、１
２７は記録データ発生回路、１２８は再生データ信号、
１２９はメモリ、１３０はメモリ、１３１はデータ比較
回路、１３２はメモリである。記録データ発生回路１２
７には単一パターン発生回路１２７ａ、ランダムパター
ン発生回路１２７ｂ、実信号発生回路１２７ｃが含まれ
る。
【００２１】さらに、図１において、１３８、１３９は
同じ遅延量を持った遅延回路、１４０はアシンメトリ検
出回路である。
【００２２】メモリ１２９には、２つのテーブルが保持
され、この２つのテーブルは本発明によって図５（ａ）
に示すように修正が加えられ、修正後の２つのテーブル
に書き換えられる。
【００２３】メモリ１３２は、レーザを駆動するための
パワー（ピークパワーとバイアスパワーがある）を決定
するための情報を保持すると共に、最終的に決定された
パワーの最適値を保持する。
【００２４】メモリ１３０は、光ディスクに予め書き
こまれている光ディスクの固有情報（光ディスクの製造
会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構
造、記録膜組成など）、後で説明する調整方式、メ
モリ１２９に修正されて上書きされた２つのテーブル、
及びメモリ１３２に最終的に決定されたパワーの最適
値を保持する。なお、メモリ１３０には、複数枚の異な
った光ディスクについて、それぞれ上記内容，，
，が保持される。従って、ある光ディスクが装着さ
れ、データ記録を行う場合、その光ディスクについて既
に上記内容，，，が保持されていれば、記録に
必要な前準備の情報、特に，の情報を再び求める動
作を行うことなく、直ちにデータ記録が実行される。
【００２５】図３７にメモリ１３０におけるデータのレ
イアウトを示す。上記内容は、図３７のディスク固有
情報ｎに含まれ、上記内容、は、パルス位置情報に
含まれ、上記内容は、前照射パワー(temporary power
とも言う)情報、後照射パワー(operational powerとも
言う）情報に含まれる。記録装置にディスクが装着され
ると、まずディスクからディスク固有情報が読み出され
る。読み出されたディスク固有情報と、メモリ１３０に
記録されたディスク固有情報が比較され、同一のものが
メモリ１３０に記録されているかどうかを判断する。
【００２６】同一のものが記録されていない場合、すな
わち、記録装置に新たなディスクが装着された場合は、
ディスク固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情
報、パルス位置情報がワンセットとして、メモリ１３０
に記録される。この場合、前照射パワー情報、後照射パ
ワー情報、パルス位置情報を試し書き等を行って得るた
めに数秒から十数秒の時間を必要とする。
【００２７】同一のものが記録されている場合、すなわ
ち、記録装置に以前同じディスクが装着されたことがあ
る場合は、メモリ１３０から同一と判断されたディスク
固有情報に属する前照射パワー情報、後照射パワー情
報、パルス位置情報が読み出される。読み出された前照
射パワー情報、後照射パワー情報はメモリ１３２に送ら
れる一方、パルス位置情報はメモリ１２９に送られる。
この場合、前照射パワー情報、後照射パワー情報、パル
ス位置情報をメモリから読み出すだけなので、これら情
報を得るため必要な数秒から十数秒の時間を省くことが
できる。
【００２８】このように、ｎ枚の異なったディスクが装
着されれば、ｎ個のセットのディスク固有情報、前照射
パワー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報がメモ
リ１３０に記録される。好ましい実施の形態において
は、ｎ個のセットを複数箇所、たとえば２個所で記録す
る。このようにすれば、メモリ１３０の一箇所が傷や汚
れによりデータの再生できなくても、他方の個所のデー
タを再生することが出来る。
【００２９】図２は光ディスク１０１の平面図である。
図２において、２０１はデータ記録領域、２０２は試し
記録領域である。
【００３０】図1において、光ディスク１０１が装着さ
れると、半導体レーザ１０３、コリメータレンズ１０
４、ビームスプリッタ１０５、対物レンズ１０６、集光
レンズ１０７、光検出器１０８等で構成された光ヘッド
は、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を求めるた
めの領域２０２に移動する。
【００３１】なお領域２０２は光ディスク１０１の内周
側に設けられた、試し記録をするためのユーザ領域以外
の記録領域（たとえばドライブテストゾーン）とする。
なお、上記領域は光ディスクの外周側にあっても良い
し、内周側と外周側の両方にあっても良い。このときス
イッチ１２１において、接点１２２は接点１２３とつな
がっている。なお通常のデータの記録時には、接点１２
２は接点１２４とつながり、記録データ発生回路１２７
の出力信号が変調回路１２６で変調された信号がパルス
発生回路１１１へ入力される。
【００３２】まずパワー設定回路１１９によりピークパ
ワー、バイアスパワーがレーザ駆動回路１０９に設定さ
れる。続いて位置調整用特定パターン発生回路１２５の
出力信号がスイッチ１２１を介してパルス発生回路１１
１に入力される。以降の信号の流れを図３を用いて説明
する。
【００３３】図３において、３０１は位置調整用特定パ
ターン発生回路１２５の出力信号である第１の特定パタ
ーン信号、３０２はパルス発生回路１１１の出力信号、
３０３はパルス移動回路１１０の出力信号、３０４は信
号３０３のようにピークパワー、バイアスパワーを変調
して記録した結果、光ディスク１０１のトラック上に生
成されるマークの模式図である。３０１、３０２、３０
３は同じ時間軸上で発生するわけではないが、分かりや
すくするために、対応する箇所が縦に並ぶように図示し
てある。
【００３４】第１の特定パターン信号３０１において、
３０９、３１１、３１３、３１５、３１７、３１９はデ
ィスク上でマークとなるマーク部であり、３１０、３１
２、３１４、３１６、３１８、３２０はディスク上でス
ペースとなるスペース部である。３２０の後方は再び３
０９となる。すなわち第１の特定パターン信号３０１は
３０９〜３２０を連続させたパターンである。
【００３５】例えばRun Length Limited（２，１０）変
調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録する場
合、最短の３Ｔから最長の１１Ｔまでのマークおよびス
ペースが存在する。ここでＴは基準周期を表わしてお
り、３０９はマークとなる６Ｔ信号（以下６Ｔマーク
部）、３１０は６Ｔスペース部、３１１は３Ｔマーク
部、３１２は６Ｔスペース部、３１３は６Ｔマーク部、
３１４は６Ｔスペース部、３１５は６Ｔマーク部、３１
６は４Ｔスペース部、３１７は６Ｔマーク部、３１８は
６Ｔスペース部、３１９は７Ｔマーク部、３２０は６Ｔ
スペース部である。
【００３６】なお、一定期間のマーク部とスペース部の
総和の差をＤＳＶとしたときに、ＤＳＶが０でないとき
に限り、ＤＳＶを略０にするための信号３１９、３２０
を入れることにより、再生時に直流成分もしくは低周波
成分の少ない信号を得ることができる。直流成分もしく
は低周波成分が多い信号を再生すると、二値化回路１１
５において、誤った０、１の信号列に変換される危険が
ある。そこで第１の特定パターン信号３０１では、７Ｔ
マーク部３１９を補助信号として挿入し、ＤＳＶを略０
にする。すなわち、パターン信号３０１は、マーク部３
０９、３１１、３１３、３１５、３１７、３１９の期間
の総和（３４Ｔ）と、スペース部３１０、３１２、３１
４、３１６、３１８、３２０の総和（３４Ｔ）とが等し
くなるように構成されている。ＤＳＶの計算は、マーク
部の期間をプラス、スペース部の期間をマイナスで加算
して行われる。したがって、パターン信号３０１のＤＳ
Ｖは、０になる。 第１の特定パターン信号３０１は、
パルス発生回路１１１でパルス列に変換され、信号３０
２が出力される。３Ｔから１１Ｔまでの各マーク部に対
応するパルスがパルス発生回路１１１から出力される状
態を図４に示す。図４において、６Ｔ信号を例にとって
説明すると、先頭にあるパルス４０１をファーストパル
スと呼び、最後尾にあるパルス４０４をラストパルスと
呼ぶ。またファーストパルスとラストパルスの間にある
パルス４０２とパルス４０３をマルチパルスと呼び、一
定周期のパルスで構成されている。
【００３７】マルチパルスの個数は６Ｔのマークには２
個あり、７Ｔのマークには３個、５Ｔのマークには１個
というように、マークがＴだけ長くなるごとにマルチパ
ルスの個数が１つ増え、Ｔだけ短くなるごとにマルチパ
ルスの個数が１つ減る。従って４Ｔのマークはファース
トパルスとラストパルスのみで構成され、マルチパルス
はない。また３Ｔのマークは一つのパルスで構成され
る。
【００３８】なお本実施の形態では、ファーストパルス
の時間長さを１．５Ｔ、ラストパルスの時間長さを０．
５Ｔ、マルチパルスの長さを０．５Ｔとしているが、光
ディスク媒体１０１の構成によっては、この時間長さで
なくても良い。またマルチパルスの数や周期も上記に限
定されるものではない。
【００３９】パルス発生回路１１１の出力信号３０２
は、パルス移動回路１１０に入力され、ファーストパル
スとラストパルスの位置が移動した信号３０３が出力さ
れる。図５にファーストパルスの位置とラストパルスの
位置を移動させる際の、マーク部長、スペース部長の分
類を示す。
【００４０】図５（ａ）は、修正が行われた後のテーブ
ルを示し、図５（ｂ）は、かかる修正が行われる前のテ
ーブルを示す。図５（ａ）のテーブルの中の記号３Ｓ３
Ｍ，４Ｓ３Ｍ等は、一種のアドレスであり、テーブルの
中のどの分類かをしめすと共に、そのアドレスにかかれ
た値をも表す。アドレスと見た場合、たとえば、３Ｓ３
Ｍは、３Ｔのスペース部の後に３Ｔのマーク部が続く信
号の場合をあらわす。後で説明するように、３Ｓ３Ｍで
示された箇所には、ファーストパルスの移動量ＴＦの値
であって、３Ｔのスペース部の後に３Ｔのマーク部が続
く場合に必要な移動量の値が記憶される。この移動量Ｔ
Ｆの値は、あるひとつのテスト用の光ディスクに対し
て、たとえば試行錯誤的に求められ、図５（ａ）のテー
ブルを完成する。完成されたテーブルの内容は、テスト
用の光ディスクと同じ組成を有する光ディスクの全てに
記憶させる。図５（ｂ）の左のテーブルには、所定の初
期値が記憶されている。図５（ｂ）の右のテーブルも同
様に、ラストパルスの移動量の修正前の初期値が記憶さ
れている。
【００４１】ファーストパルスの位置、すなわち始端パ
ルス位置Ｔｕは、マーク部と直前のスペース部に応じて
変化し、本実施の形態ではマーク部、スペース部ともに
３Ｔ信号、４Ｔ信号、５Ｔ以上の信号の計３通りに分類
し、マーク部とスペース部の組み合わせにより最大９通
りの移動量を設定する。
【００４２】同様にラストパルスの位置、すなわち終端
パルス位置Ｔｄは、マーク部と直後のスペース部に応じ
て変化し、本実施の形態ではマーク部、スペース部とも
に３Ｔ信号、４Ｔ信号、５Ｔ以上の信号の計３通りに分
類し、マーク部とスペース部の組み合わせにより最大９
通りの移動量を設定する。
【００４３】移動量の設定についての詳しい説明は、本
願出願人の先の出願（特願平１１−１８５２９８，アメ
リカ合衆国特許出願番号ＳＮ０９／３５２，２１１，欧
州特許出願番号９９１１３０６０．０）に開示されてお
り、その内容は、本願の一部を構成するものとする。
【００４４】図３３は、図３の信号３０１における６Ｔ
マーク部３１７と、それに対応する信号３０２の部分の
拡大図が示されている。この場合、６Ｔマーク部３１７
の直前には、４Ｔスペース部３１６が存在している。４
Ｔスペース部があって６Ｔマーク部がある場合は、図５
（ａ）の左のテーブルにある４Ｓ５Ｍの分類に当てはま
る。ここで、この分類に書き込まれるファーストパルス
移動量ＴＦの初期値の修正について説明する。
【００４５】図１の装置において、パターン発生回路１
２５からパターン信号３０１が生成される。このパター
ン信号３０１は、パルス発生回路１１１に送られると共
に、遅延回路１３９、パルス位置ずれ測定回路１２０、
およびメモリ１２９にも送られる。メモリ１２９には予
め図５（ｂ）に示す２つのテーブルが記憶されている。
パルス位置ずれ測定回路１２０では、パターン信号３０
１が記憶され、再生時に再生信号との比較に用いられ
る。パルス発生回路１１１からは、パターン信号の記録
に必要なパルス信号３０２が出力される。たとえば、図
４の上２段に示すように、パターン信号３０１のマーク
部の立ち上がりエッジに応じて、パルス発生回路１１１
からは、ファーストパルス４０１が出力され、それに続
いてマルチパルス４０２、４０３、ラストパルス４０４
が出力される。
【００４６】パルス信号３０２は、遅延回路１３８で所
定時間（たとえば１３Ｔ）遅延されて、パルス移動回路
１１０に送られる。メモリ１２９においては、送られて
きたパターン信号３０１を分析し、過去１０Ｔ以上の期
間内において、図５（ａ）の１８分類３Ｓ３Ｍ、３Ｓ４
Ｍ、３Ｓ５Ｍ、４Ｓ３Ｍ、４Ｓ４Ｍ、４Ｓ５Ｍ、５Ｓ３
Ｍ、５Ｓ４Ｍ、５Ｓ５Ｍ、３Ｍ３Ｓ、４Ｍ３Ｓ、５Ｍ３
Ｓ、３Ｍ４Ｓ、４Ｍ４Ｓ、５Ｍ４Ｓ、３Ｍ５Ｓ、４Ｍ５
Ｓ、５Ｍ５Ｓの内のいずれかひとつに該当するものがあ
るかどうかを検出する。たとえば、パターン発生回路１
２５からパターン信号３０１における４Ｔスペース部３
１６と、それに続く６Ｔマーク部３１７が出力された場
合、メモリ１２９は分類４Ｓ５Ｍ属する信号が送り出さ
れたことを検出する。この検出に応答して、メモリ１２
９は、テーブルの４Ｓ５Ｍ0に記憶されている移動量を
読み出し、パルス移動回路１１０に送る。初回の場合
は、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0が読み出される。パルス
移動回路１１０では、所定時間遅れて送られてきたパル
ス信号２０２のファーストパルスを、移動量の初期値４
Ｓ５Ｍ0に基づいて移動させる。
【００４７】図１、図３３を用いて、ファーストパルス
の移動について説明する。パルス移動回路１１０は、所
定パターン、たとえば４Ｓ５Ｍ（４Ｔスペース部２１６
と６Ｔマーク部２１７の連続）で分類されるパターン
が、間もなく遅延回路１３９から送られてくることを、
メモリ１２９から知らされると共に、その分類４Ｓ５Ｍ
0に対応する移動量ＴＦをメモリ１２９から受ける。パ
ルス移動回路１１０は、遅延回路１３９から送られてく
る６Ｔマーク部３１７の立ち上がりパルスエッジ、すな
わち図３３のＲ１のタイミングでカウントを開始し、移
動量ＴＦをカウントする。遅延回路１３８から送られて
きたファーストパルスは、パルス移動回路１１０におい
てカウント期間、すなわち、移動量ＴＦだけ遅らされて
出力される。
【００４８】従って、図３３に示すように、ファースト
パルス移動量ＴＦは、例えば信号３０１の立ち上がりエ
ッジＲ１を基準とした場合、その基準Ｒ１からの時間差
で表される。一例として、パルス移動量ＴＦは３ｎｓ程
度である。ファーストパルスはパルス幅を変更すること
なく移動される。
【００４９】図３のパターン信号には、上述した図５
（ａ）の１８分類の内、４つの分類が存在する。すなわ
ち、期間３２１に現れる分類３Ｍ５Ｓ、期間３２２に現
れる分類５Ｓ３Ｍ、期間３２３に現れる分類４Ｓ５Ｍ、
期間３２４に現れる５Ｍ４Ｓである。従って、パターン
信号３０１により、４つの分類に対応するパルス信号の
移動が行われる。
【００５０】このように移動されたパルスに従って、レ
ーザ駆動が行われ、マークの記録が実行される。図３に
記録マーク３０４を示す。好ましい実施の形態において
は、図３に示すパターン信号３０１（３０９から３２０
まで）は、繰り返し出力され、トラック１周にわたり記
録される。トラック１周の記録が終わると、そのトラッ
ク１周が再生される。再生は、光検出器１０８から得ら
れた光信号が電気信号に変換されて、プリアンプ１１
２、ローパスフィルタ１１３、イコライザ１１４、２値
化回路１１５において処理され、２値化回路１１５から
再生信号３０５が出力される。再生信号３０５は、パル
ス位置ずれ測定回路１２０に入力される。パルス位置ず
れ測定回路１２０には、トラック１周からの再生信号３
０５が繰り返し入力され、分類に対応した期間３２１、
３２２、３２３、３２４が個別に読み取られ、それぞれ
期間の平均値が個別に求められる。
【００５１】パルス位置ずれ測定回路１２０では、記録
時に記録されたパターン信号３０１から得られた分類に
対応した期間３２１、３２２、３２３、３２４と、再生
された信号３０５から得られた同期間の平均値をそれぞ
れ比較し、パルスの位置ずれが生じているかどうかを検
出する。上述の例について説明すれば、パターン信号３
０１におけるスペース部３１６とマーク部３１７とを加
えた時間と、再生信号３０５における対応した期間３２
４の平均値とを比較し、両者の差を求める。差がある場
合はパルスの位置ずれが生じていると判断され、その差
はメモリ１２９に送られる。メモリ１２９では、その差
が、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0が原因となって生じたも
のであるので、移動量の初期値４Ｓ５Ｍ0を、差に応じ
て増減させ、移動量の修正を行い、修正された値を分類
４Ｓ５Ｍに上書きする。
【００５２】上述の説明では、一回の帰還ループ（１１
０、１０９、１０８、１１２、１１５、１２０、１２
６、１２９）により修正された値が分類４Ｓ５Ｍに上書
きされたが、帰還を複数回行ってもよい。以上のように
して、図３３におけるファーストパルス移動量ＴＦの修
正を行う。
【００５３】同様にラストパルスの移動量は、マーク部
と直後のスペース部に応じて変化し、本実施の形態では
マーク部、スペース部ともに３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の計
３通りに分類し、マーク部とスペース部の組み合わせに
より最大９通りの移動量を設定する。ラストパルスもフ
ァーストパルスと同様な方法でパルス移動量ＴＬの修正
を行う。
【００５４】また、図３３に示すように、上述と同様に
してラストパルス移動量ＴＬが修正される。ラストパル
ス移動量ＴＬは、マーク部の終端エッジから２Ｔ前方に
ずれた新たな基準Ｒ２から、ラストパルスの終端エッジ
までの時間間隔を言い、ファーストパルスで説明した上
記の帰還ループにより、この時間間隔が修正される。Ｔ
Ｌは本実施の形態では１１ｎｓ程度である。ここでＴＬ
の値が変わってもラストパルスの幅は変化せず、本実施
の形態では同じ幅のまま時間軸を移動する。
【００５５】図３において、３０６は修正された移動量
のテーブル（図５（ａ））を用いて得られたパルス移動
回路１１０の出力信号、３０７はこの出力信号によって
記録されたマーク、３０８は、このマークによって再生
された再生信号を示す。修正前の移動量のテーブル（図
５（ｂ））を用いて得られた再生信号３０５は、オリジ
ナルのパターン信号３０１とは誤差を生じているが、修
正後の移動量のテーブル（図５（ａ））を用いて得られ
た再生信号３０８は、オリジナルのパターン信号３０１
とはほとんど誤差を生じていない。
【００５６】以上の説明においては、図３のパターン信
号３０１を用いて、１８分類の内、４つの分類について
移動量の修正を行ったが、残りの分類の修正は、別のパ
ターン信号を用いて行われる。図６のパターン信号６０
１を用いて、分類４Ｍ５Ｓ、５Ｓ４Ｍ、３Ｓ５Ｍ、５Ｍ
３Ｓについて移動量の修正を行う。図７のパターン信号
７０１を用いて、分類４Ｍ４Ｓ、３Ｍ３Ｓ、４Ｓ４Ｍ、
３Ｓ３Ｍについて移動量の修正を行う。図８のパターン
信号８０１を用いて、分類４Ｍ３Ｓ、４Ｓ３Ｍについて
移動量の修正を行う。図９のパターン信号９０１を用い
て、分類３Ｍ４Ｓ、３Ｓ４Ｍについて移動量の修正を行
う。
【００５７】なお分類５Ｍ５Ｓ、５Ｓ５Ｍについては、
ある初期値を定めても良いし、もしくは図３２のパター
ン信号３２０１を用いて、移動量の修正を行う。なお、
分類５Ｍ５Ｓ、５Ｓ５Ｍについて移動量の修正は、マー
ク、スペース共にもっとも長い周期ものであり熱干渉の
影響がもっとも少ない分類であるため、各遅延量は少な
く、他の遅延量を決める参考基準として用いることがで
きるため他の分類の修正より先に行うほうが好ましい。
なおパターン信号の記録前は、図５（ｂ）に示すよう
に、所定の初期値が設定されている。この初期値は、個
別的に経験的に求められた値でもよいし、全て同じ値で
あってもよい。同じ値の例としては、たとえば、図５
（ｂ）の左のテーブルにあっては、５Ｓ５Ｍの場合にお
けるファーストパルス移動量の値、例えば１ｎｓでもよ
い。また、同図の右のテーブルにあっては、５Ｍ５Ｓに
設定されている値でもよい。なお、この場合、図４に示
すように、ファーストパルス４０１とマルチパルス４０
２の間の時間長さが０．５Ｔになるように分類５Ｓ５Ｍ
に設定される値を決定し、マルチパルス４０３とラスト
パルス４０４の間の時間長さが０．５Ｔになるように分
類５Ｍ５Ｓに設定される値を決定する。なお分類５Ｓ５
Ｍと分類５Ｍ５Ｓに設定される値を他の方法で求めても
良い。
【００５８】一例を図３２に示す。 図３２において、
３２０１は特定パターン信号発生回路１２５の出力信号
である６Ｔ単一周期信号、３２０２はパルス発生回路１
１１の出力信号、３２０３はパルス移動回路１１０の出
力信号、３２０４は信号３０３のようにピークパワー、
バイアスパワーを変調して記録した結果、光ディスク１
０１のトラック上に生成されるマークの模式図である。
３２０１、３２０２、３２０３は同じ時間軸上にはない
が、分かりやすくするために、対応する箇所が縦に並ぶ
ように図示してある。図３２のパターン信号は、６Ｔ間
隔でマークとスペースが連続する単一周期信号であり、
上述した図５（ａ）の１８分類の内、５Ｓ５Ｍ、５Ｍ５
Ｓの２つの分類が存在する。図３２において信号３２０
３に従ってレーザ駆動が行われ、マークの記録が実行さ
れる。好ましい実施の形態においては、図３２に示すパ
ターン信号３２０１は、繰り返され、トラック１周にわ
たり記録される。トラック１周の記録が終わると、その
トラック１周が再生される。再生は、光検出器１０８か
ら得られた光信号が電気信号に変換されて、プリアンプ
１１２、ローパスフィルタ１１３、イコライザ１１４に
おいて処理され、イコライザ１１４から再生信号３２０
５が出力されて、アシンメトリ検出回路１４０および二
値化回路１１５に入力される。二値化回路１１５は、二
値化回路の出力信号において、マークに対応する出力レ
ベルと、スペースに対応する出力レベルの間隔が等しく
なるようにスライスレベル信号３２０９を調整し、上記
スライスレベル信号３２０９がアシンメトリ測定回路１
４０に入力される。アシンメトリ測定回路では再生信号
３２０５の最小値３２１０と最大値３２１１の平均値
と、スライスレベル信号３２１２とを比較し、両者の差
もしくは比が規定範囲外であるときは、３２０４におけ
るマーク部分とスペース部分の長さがずれており、この
ずれはファーストパルスおよびラストパルスの位置ずれ
に起因していると判断され、両者の差の正負に応じて例
えばファーストパルスとラストパルスが反対方向に同一
時間だけ移動するように、移動量の初期値５Ｓ５Ｍ0と
５Ｍ５Ｓ0を修正し、メモリ１２９に修正された値を上
書きする。一回の帰還ループ（１１０、１０９、１０
８、１１２、１１４、１１５、１４０、１２９）により
修正された値５Ｓ５Ｍおよび５Ｍ５Ｓが上書きされても
よいし、帰還を複数回行ってもよい。以上のように６Ｔ
マークが正しい長さで記録されるように５Ｓ５Ｍと５Ｍ
５Ｓが決定される。基準となるマークの物理的な長さを
正しくすることにより、他の分類のマークも正しい長さ
になり、よりジッタの少ない記録が実現できる。
【００５９】ここで、さらに図３８の表に示したオプシ
ョンについて説明する。
【００６０】図１５に示される光ディスク１５０１にお
いて、１５０３に、ディスク製造時の最適な、もしくは
代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加え
て、上記アシンメトリの情報を記録してもよい。一般的
にアシンメトリは小さい方が望ましいが、ディスクの記
録膜構成等に依存して、わずかながら最適な値が異な
る。
【００６１】例えば図３２において、（（３２１５＋３
２１４）／２−３２１６）／（３２１５−３２１４）の
値が１．０５となるときが最適である場合に、ディスク
に最適なアシンメトリの値（１．０５もしくは１．０５
に所定の演算を施した値）を記録しておくことにより、
より詳細に分類５Ｓ５Ｍと分類５Ｍ５Ｓに設定される値
を求めることができる。
【００６２】パルス移動回路１１０の出力信号３０３は
レーザ駆動回路１０９に入力され、信号３０３における
Ｈレベルの時間がピークパワーで発光し、Ｌレベルの時
間がバイアスパワーで発光することにより図３の３０４
に示す様なマーク列が形成される。
【００６３】再生時には、半導体レーザ１０３から出射
されたレーザ光はコリメータレンズ１０４で平行光にさ
れた後、ビームスプリッタ１０５に入射され、ビームス
プリッタ１０５を透過した光は、対物レンズ１０６によ
って集光されて光スポットとして光ディスク１０１に照
射される。
【００６４】光ディスク１０１で反射された光は、対物
レンズ１０６で集光され、再びビームスプリッタ１０５
に進み、ビームスプリッタ１０５で反射された光は、集
光レンズ１０７により集光され、光検出器１０８に結像
される。
【００６５】光検出器１０８において光量は電気信号に
変換されて、プリアンプ１１２に入力されて増幅され
る。さらにプリアンプ１１２の出力信号はローパスフィ
ルタ１１３で高域周波数の信号を遮断され、イコライザ
１１４で波形等価が行われ、２値化回路１１５において
所定のスライスレベルより２値化され、０、１の信号列
に変換された信号３０５が出力され、パルス位置ずれ測
定回路１２０に入力される。パルス位置ずれ測定回路１
２０は、特定のエッジのエッジ間隔もしくはエッジ間隔
のジッタを測定し、ここでは信号３０５における特定の
エッジ間隔３２１、３２２、３２３、３２４を測定す
る。
【００６６】図３におけるエッジ間隔３２１が正規の９
Ｔよりも長い場合には、バス１２６を介して、図５
（ａ）のラストパルス移動量３Ｍ５Ｓの設定を、現在の
値３Ｍ５Ｓ0から、ずれの分だけ小さくする。同様に、
エッジ間隔３２２が正規の９Ｔよりも長い場合には、バ
ス１２６を介して、図５（ａ）のファーストパルス移動
量５Ｓ３Ｍを、現在の値５Ｓ５Ｍ0から、ずれの分だけ
大きくする。同様に、エッジ間隔３２３、３２４につい
ても、それぞれのずれの分だけ４Ｓ５Ｍの値、５Ｍ４Ｓ
の値を更新する。
【００６７】４つの設定の更新が終了すると、再度第１
の特定パターン信号３０１を記録し、エッジ間隔を測定
する。４つのエッジ間隔の全てについて同時に、正規の
値と測定したエッジ間隔との差が一定値以下になるまで
同様のサイクルを繰り返す。
【００６８】第１の特定パターン信号の記録が終了する
と第２の特定パターン信号を記録する。図６において、
６０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力
信号である第２の特定パターン信号、６０２はパルス発
生回路１１１の出力信号、６０３はパルス移動回路１１
０の出力信号を示す。６０４は信号６０３によって記録
され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマー
クを示す。以下、第１の特定パターンの場合と同様のや
り方で、図５（ａ）のファーストパルス５Ｓ４Ｍ、３Ｓ
５Ｍおよびラストパルス４Ｍ５Ｓ、５Ｍ３Ｓの設定を更
新する。
【００６９】第２の特定パターン信号の記録が終了する
と第３の特定パターン信号を記録する。図７において、
７０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力
信号である第３の特定パターン信号、７０２はパルス発
生回路１１１の出力信号、７０３はパルス移動回路１１
０の出力信号を示す。７０４は信号７０３によって記録
され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマー
クを示す。図１７では７１０〜７１１の１０Ｔ（６Ｔス
ペース／４Ｔマーク）と、７１２〜７１３の１０Ｔ（４
Ｔマーク、１０Ｔスペース）が重なり、連続する波形と
なって現れるため、被測定信号７１０〜７１１が次の被
測定信号７１２〜７１３と重なり、被測定信号を正確に
分離して測定することが難しくなる。そこで２つの１０
Ｔの長さがほぼ同一になるとジッタが最小になることを
利用してジッタメータ等で代用して測定できる。上記以
外は第１の特定パターンの場合と同様のやり方で、図５
（ａ）のファーストパルス４Ｓ４Ｍ、３Ｓ３Ｍ、ラスト
パルス４Ｍ４Ｓ、３Ｍ３Ｓの設定を更新する。
【００７０】なお第３の特定パターンにおいてエッジの
ジッタが最小になる条件は、エッジの間隔が正規の時間
になる条件と等価である。例えばエッジ間隔７２９、７
３０が共に正規の９Ｔの時間間隔になっていれば、９Ｔ
のエッジ間隔のジッタも最小となるが、少なくともどち
らか一方が９Ｔから少しでもずれていれば９Ｔのエッジ
間隔のジッタも大きくなる。
【００７１】第３の特定パターン信号の記録が終了する
と第４の特定パターン信号を記録する。図８において、
８０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力
信号である第４の特定パターン信号、８０２はパルス発
生回路１１１の出力信号、８０３はパルス移動回路１１
０の出力信号を示す。８０４は信号８０３によって記録
され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマー
クを示す。以下、第１の特定パターンの場合とほぼ同様
のやり方で、図５（ａ）のファーストパルス４Ｓ３Ｍ、
およびラストパルス４Ｍ３Ｓの設定を更新する。
【００７２】第４の特定パターン信号の記録が終了する
と第５の特定パターン信号を記録する。図９において、
９０１は位置調整用特定パターン発生回路１２５の出力
信号である第５の特定パターン信号、９０２はパルス発
生回路１１１の出力信号、９０３はパルス移動回路１１
０の出力信号を示す。９０４は信号９０３によって記録
され、光ディスク１０１のトラック上に生成されるマー
クを示す。以下、第４の特定パターンの場合と同様のや
り方で、図５（ａ）のファーストパルス３Ｓ４Ｍ、ラス
トパルス３Ｍ４Ｓの設定を更新する。
【００７３】以上のように、データの記録に先立って、
マークの始端位置を、記録するマーク部およびその前の
スペース部の長さにより求め、マークの終端位置を、記
録するマーク部およびその後のスペース部の長さにより
求めることにより、記録時の熱蓄積や熱干渉の影響を記
録時に補償して、ジッターの少ない記録を実現すること
ができる。
【００７４】さらに、実際に記録する記録装置を用いて
光ディスクに試し記録を行い、マークの始端位置、終端
位置を決定することにより、特定の記録装置と特定の光
ディスクの組み合わせに対する最適なマークの始端位
置、終端位置を得ることが出来る。
【００７５】なお本実施の形態では、第１の特定パター
ンから第５の特定パターンを試し記録して、エッジの間
隔が正規の時間になるように、もしくはエッジ間隔のジ
ッタが最小になるように調整いるが、試し記録により入
力信号に応じたマークの始端位置、終端位置を決定する
ことができるのであれば、他の特定パターンでも良く、
また他の調整方法でも良い。 なお本実施の形態では、
特定パターン信号の記録前は、図５（ｂ）に示すよう
に、マーク、スペースとも５Ｔ以上の場合における、フ
ァーストパルスの設定である５Ｓ５Ｍと、ラストパルス
の設定である５Ｍ５Ｓが、全てのマーク部に適応されて
いるが、例えばファーストパルス位置の５Ｓ５Ｍと４Ｓ
５Ｍと３Ｓ５Ｍの３つの設定に着目した場合、３つとも
マーク長が同じで、直前のスペース長のみが異なるの
で、設定値の大きさを比較した際に、５Ｓ５Ｍ＜４Ｓ５
Ｍ＜３Ｓ５Ｍもしくは、５Ｓ５Ｍ＞４Ｓ５Ｍ＞３Ｓ５Ｍ
と単調性を示しやすい。
【００７６】図１０はファーストパルスの設定において
５Ｓ５Ｍ＜４Ｓ５Ｍ＜３Ｓ５Ｍとなる場合の一例の説明
図である。スペース長が短くなるほど、直前のマークか
らの熱が伝わって、直後のマークの始端部分が伸びる。
【００７７】図１１はラストパルスの設定において５Ｓ
５Ｍ＜４Ｓ５Ｍ＜３Ｓ５Ｍとなる場合の一例の説明図で
ある。スペース長が短くなるほど、直後のマークの始端
部分からの熱が、直前のマークの終端部分に伝わり、直
前のマークの終端部分が徐冷になって後退する。
【００７８】始端位置、終端位置のスペースに対する変
化の方向や大きさは、ディスク構造や、膜組成に依存す
るが、単調性を利用すれば、例えばファーストパルス位
置の５Ｓ５Ｍと３Ｓ５Ｍの設定が決定した際に、４Ｓ５
Ｍの初期値を５Ｓ５Ｍと３Ｓ５Ｍの平均値とすることに
より、４Ｓ５Ｍの設定を決定するまでに必要な試し記録
の回数を減らすことができる。
【００７９】同様に例えばファーストパルス位置の５Ｓ
４Ｍと４Ｓ４Ｍの設定が決定した際に、３Ｓ４Ｍの初期
値を４Ｓ４Ｍとする、もしくは例えば５Ｓ４Ｍ＜４Ｓ４
Ｍのときに、４Ｓ４Ｍと５Ｓ４Ｍの差を４Ｓ４Ｍから減
じた値を初期値とすることにより、３Ｓ４Ｍの設定する
までに必要な試し記録の回数を減らすことができる。
【００８０】以上のように図５（ａ）における各設定の
縦方向の関係を利用することによって、試し記録の回数
を減らすことができる。
【００８１】なお本実施の形態では、ファーストパル
ス、ラストパルスはマーク、スペースの組み合わせに応
じて移動するとしているが、ファーストパルス、ラスト
パルスのパルス幅を変化させる記録方式においても同様
の方法で、パルス幅の最適化を行うことができる。一例
を図１２に示す。
【００８２】図１２は光ディスク１２０１の平面図であ
る。図１２において、１２０２はデータ領域である。１
２０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラストパ
ルスの調整方式を決定するための情報が記録されている
領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成
されている。１２０４は試し記録領域である。試し記録
に先だって領域１２０３を再生することにより、調整方
式が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動さ
せる方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式な
のかを知ることができる。
【００８３】次に図１の記録装置に、図１３に示される
光ディスク１３０１を装着した場合について説明する。
図１３において１３０２はデータ領域である。１３０３
はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始
端部分と終端部分の少なくともいずれか一方の位置情
報、すなわち駆動パルスの始端パルス位置Ｔｕと終端パ
ルス位置Ｔｄの少なくともいずれか一方の値、が記録さ
れている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット
列で構成されている。
【００８４】光ディスク１３０１が記録装置に装着され
ると、光ヘッドは、上記マーク始端部分と終端部分の最
適な位置情報が記録されている領域１３０３に移動し
て、上記領域１３０３を再生し、再生データ信号１２８
が、パルス位置設定回路１２９に入力され、マーク始端
部分と終端部分の最適な位置情報が、バス１２６を介し
てパルス移動回路１１０に設定される。
【００８５】以上のように、光ディスク１３０１の領域
１３０３に記録された、入力信号に応じたマーク始端位
置と終端位置の最適な位置情報を再生し、記録装置に設
定することにより、試し記録を行うことなく、ディスク
構造や記録膜等の光ディスクのタイプが異なっても、最
適な記録を行うことができる。
【００８６】なお領域１３０３に記録されているマーク
始端部分と終端部分の最適な位置情報は、全てのディス
クごとに求めなくても良く、ディスクごとのばらつきが
小さければ、同一のディスク構造、同一の記録膜組成の
ディスクから求めた値が、代表値として記録されていて
も良い。
【００８７】また、図１４は光ディスク１４０１の平面
図である。図１４において１４０２はデータ領域であ
る。１４０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラ
ストパルスの調整方式を決定するための情報が記録され
ている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列
で構成されている。１４０４はディスク製造時の最適
な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の少な
くともいずれか一方の位置情報が記録されている領域で
あり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成されて
いる。領域１４０３を再生することにより、調整方式
が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動させ
る方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式なの
かも知ることができる。
【００８８】なおディスクに照射される光スポットの形
状の違い等、記録装置側にばらつきがあると、記録に最
適なマーク始端部分とマーク終端部分の最適な位置は異
なるので、特定の領域に記録されているディスク製造時
における最適な、もしくは代表的な位置情報を再生し
て、その状態を初期値として試し記録を行っても良い。
【００８９】これにより、ディスク構造や記録膜等の違
いによらず、唯一の初期値から試し記録を始める場合に
比べて、ディスク製造時の最適な位置を初期値とするこ
とにより、データを記録する際の最適な位置が決定され
るまでに繰り返される特定パターンの記録の回数が減
り、最適化に要する時間を短縮することができる。一例
を図１５に示す。
【００９０】図１５は光ディスク１５０１の平面図であ
る。図１５において１５０２はデータ領域である。１５
０３はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマー
ク始端部分と終端部分の位置情報が記録されている領域
であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成され
ている。１５０４は試し記録領域である。領域１５０３
を再生した後に、領域１５０４にて試し記録を行うこと
により、唯一の設定値でデータの記録を行う場合に比べ
て、より最適な記録を実現することができる。
【００９１】また、図１６は光ディスク１６０１の平面
図である。図１６において１６０２はデータ領域であ
る。１６０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラ
ストパルスの調整方式を決定するための情報が記録され
ている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列
で構成されている。１６０４はディスク製造時の最適
な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置
情報が記録されている領域であり、ディスクの最内周に
凹凸のピット列で構成されている。領域１６０３を再生
することにより、調整方式が、例えばファーストパル
ス、ラストパルスを移動させる方式なのか、もしくはパ
ルス幅を変化させる方式なのかも知ることができる。１
６０５は試し記録領域である。領域１６０３、１６０４
を再生した後に、領域１６０５にて試し記録を行うこと
により、唯一の設定値でデータの記録を行う場合に比べ
て、より最適な記録を実現することができる。
【００９２】次に図１の記録装置に、図１７に示される
光ディスク１７０１を装着した場合について説明する。
図１７において１７０２はデータ領域である。１７０３
はディスク製造時の最適な、もしくは代表的なマーク始
端部分と終端部分の位置情報(一般）が記録されている
領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列で構成
されている。１７０４は試し記録を行う領域である。１
７０５は上記試し記録により決定された結果のデータで
あるマーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を記
録する領域である。
【００９３】この場合、試し記録により決定された結果
のデータと共に、試し記録を行った記録装置の固有情報
（たとえば記録装置の製造会社名，製品番号，製造場
所、製造年月日など）を領域１７０５に記録する。
【００９４】このように、領域１７０５に試し記録によ
り決定された結果のデータと、試し記録を行った記録装
置の固有情報を対として記録することにより、光ディス
ク１７０１を同じ記録装置に装着してデータを記録する
際に、上記領域１７０５を再生してマーク始端部分と終
端部分の位置情報(特定）を得ることにより、試し記録
を行わなくても、記録装置のばらつきを考慮した記録を
実現することができる。
【００９５】なお、領域１７０５には、複数対の、試し
記録により決定された結果のデータと、試し記録を行っ
た記録装置の固有情報を記録することが出来る。
【００９６】さらに次回に光ディスク１７０１を上記記
録装置に装着してデータを記録する際に、領域１７０５
を再生してマーク始端部分と終端部分の位置情報(特
定）を得た後に、領域１７０４において試し記録を行う
ことにより、唯一の初期値から試し記録を始める場合
や、凹凸のピット列で構成されている、ディスク製造時
の最適な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分
の位置情報(一般）が記録されている領域１７０３を初
期値として試し記録を行う場合に比べて、記録装置のば
らつきを考慮している分、最適な位置が決定されるまで
に繰り返される特定パターンの記録の回数が減り、最適
化に要する時間をより短縮することができる。
【００９７】また、図１８は光ディスク１８０１の平面
図である。図１８において１８０２はデータ領域であ
る。１８０３は入力信号に応じたファーストパルス、ラ
ストパルスの調整方式を決定するための情報が記録され
ている領域であり、ディスクの最内周に凹凸のピット列
で構成されている。１８０４はディスク製造時の最適
な、もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置
情報(一般)が記録されている領域であり、ディスクの最
内周に凹凸のピット列で構成されている。
【００９８】１８０５は試し記録領域である。１８０６
は上記試し記録により決定された結果のデータであるマ
ーク始端部分と終端部分の位置情報(特定）を記録する
領域である。領域１８０３を再生することにより、調整
方式が、例えばファーストパルス、ラストパルスを移動
させる方式なのか、もしくはパルス幅を変化させる方式
なのかも知ることができる。
【００９９】この場合、試し記録により決定された結果
のデータと共に、試し記録を行った記録装置の固有情報
（たとえば記録装置の製造会社名，製品番号，製造場
所、製造年月日など）を領域１８０６に記録する。
【０１００】このように、領域１８０６に試し記録によ
り決定された結果のデータと、試し記録を行った記録装
置の固有情報を対として記録することにより、光ディス
ク１８０１を同じ記録装置に装着してデータを記録する
際に、上記領域１８０６を再生してマーク始端部分と終
端部分の位置情報(特定）を得ることにより、試し記録
を行わなくても、記録装置のばらつきを考慮した記録を
実現することができる。
【０１０１】なお、領域１８０６には、複数対の、試し
記録により決定された結果のデータと、試し記録を行っ
た記録装置の固有情報を記録することが出来る。
【０１０２】以上説明した図２および図１２から図１８
に示されている光ディスクについての構成をまとめたも
のを図３８の表に示す。
【０１０３】以下、図３８の表においてオプションとし
て追加される情報について説明する。
【０１０４】図１２の光ディスク１２０１において、領
域１２０３に、調整方式以外にも、光ディスク１２０１
に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製
造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）
を記録してもよい。この場合は、上記光ディスク１２０
１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始端
部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３０
に格納しても良い。
【０１０５】メモリ１３０には、新たなディスクが装着
されると、そのディスクの固有情報と、マーク始端部分
と終端部分の位置情報が格納される。これにより、色々
なディスク（メーカーが異なったもの、バージョンが異
なったものなど）についてのディスク固有情報と、マー
ク始端部分と終端部分の位置情報とがメモリ130に蓄積
される。
【０１０６】過去に装着されて記録を行ったディスクと
同じディスクが再び装着されると、装着されたディスク
のディスク固有情報を、領域１２０３を再生して読み出
すと共に、このディスク固有情報をメモリ130に蓄積さ
れたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着
されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報
を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまで
に繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、
もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間を
より短縮することができる。
【０１０７】また図１５の光ディスク１５０１におい
て、領域１５０３に、マーク始端部分と終端部分の位置
情報以外にも、光ディスク１５０１に固有の情報（光デ
ィスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月
日、ディスク構造、記録膜組成など）を記録してもよ
い。この場合は、上記光ディスク１５０１に固有の情報
と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分
の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良
い。
【０１０８】過去に装着されて記録を行ったディスクと
同じディスクが再び装着されると、装着されたディスク
のディスク固有情報を、領域１５０３を再生して読み出
すと共に、このディスク固有情報をメモリ１３０に蓄積
されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装
着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情
報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるま
でに繰り返される特定パターンの試し記録が不要にな
る、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時
間をより短縮することができる。
【０１０９】また図１６の光ディスク１６０１におい
て、領域１６０３に、調整方式以外にも、光ディスク１
６０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、上記光ディスク１６
０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始
端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３
０に格納しても良い。
【０１１０】過去に装着されて記録を行ったディスクと
同じディスクが再び装着されると、装着されたディスク
のディスク固有情報を、領域１６０３を再生して読み出
すと共に、このディスク固有情報をメモリ130に蓄積さ
れたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着
されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報
を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまで
に繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、
もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間を
より短縮することができる。
【０１１１】また図１７の光ディスク１７０１におい
て、領域１７０３に、マーク始端部分と終端部分の位置
情報以外にも、光ディスク１７０１に固有の情報（光デ
ィスクの製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月
日、ディスク構造、記録膜組成など）を記録してもよ
い。この場合は、上記光ディスク１７０１に固有の情報
と、試し記録により決定するマーク始端部分と終端部分
の位置情報を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良
い。
【０１１２】過去に装着されて記録を行ったディスクと
同じディスクが再び装着されると、装着されたディスク
のディスク固有情報を、領域１７０３を再生して読み出
すと共に、このディスク固有情報をメモリ１３０に蓄積
されたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装
着されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情
報を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるま
でに繰り返される特定パターンの試し記録が不要にな
る、もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時
間をより短縮することができる。
【０１１３】また図１８の光ディスク１８０１におい
て、領域１８０３に、調整方式以外にも、光ディスク１
８０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、上記光ディスク１８
０１に固有の情報と、試し記録により決定するマーク始
端部分と終端部分の位置情報を、記録装置のメモリ１３
０に格納しても良い。
【０１１４】過去に装着されて記録を行ったディスクと
同じディスクが再び装着されると、装着されたディスク
のディスク固有情報を、領域１８０３を再生して読み出
すと共に、このディスク固有情報をメモリ130に蓄積さ
れたディスク固有情報と照合し、メモリ１３０から装着
されたディスクのマーク始端部分と終端部分の位置情報
を読み出す。これにより、最適な位置が決定されるまで
に繰り返される特定パターンの試し記録が不要になる、
もしくは試し記録の回数が減り、最適化に要する時間を
より短縮することができる。 図３４、図３５を用いて
より詳細なディスクレイアウトを説明する。図３４と図
３５とを上下につなぎ合わせたものが、ディスクの最内
周からピット領域、ミラー領域、記録領域の順に最外周
までに配置される種々の領域を示す。
【０１１５】ピット領域は、イニシャルゾーンとその外
周側のコントロールデータゾーンにより構成される。光
ディスクの最内周にイニシャルゾーンがあることによ
り、光ヘッドが誤って目標より内周側に移動しても、サ
ーボが外れにくくなる効果がある。コントロールデータ
ゾーンには、ディスクタイプ、再生パワー、パルス調整
方式、前照射パワー情報、後照射パワー情報、ファース
トパルス、ラストパルスのパルス位置情報、光ディスク
の製造会社、ロット番号、製品番号等のディスク固有情
報が記録されている。コントロールデータゾーンの内容
は傷や汚れにより再生できなくなるのを防止するために
複数セット記録されている。
【０１１６】ミラー領域は、ピット領域と記録領域を結
合する領域である。ミラー領域には何も記録されておら
ず、信号が再生されないので、光ヘッドが移動中でもミ
ラー領域を通過したことは容易に認識することができ、
特定場所へ光ヘッドの移動をより正確に実施することが
できる。
【０１１７】記録領域は、ガードトラックゾーン１、デ
ィスクテストゾーン１，ドライブテストゾーン１、記録
装置固有情報記録ゾーン１、欠陥管理領域１、データ領
域、欠陥管理領域２、記録装置固有情報記録ゾーン２、
ドライブテストゾーン２、ディスクテストゾーン２、ガ
ードトラックゾーン２から構成されている。
【０１１８】ガードトラックゾーン１は、ミラー領域直
後でサーボが安定しない場合があるので未記録領域と
し、記録を行わない。
【０１１９】ディスクテストゾーン１はディスク製造者
によって使用される領域である。ディスクテストゾーン
１で、ディスクに記録を行う際のパワーや最適なパルス
位置を決定もしくは確認を行う。
【０１２０】ドライブテストゾーン１は記録装置によっ
て使用される領域である。ドライブテストゾーンとディ
スクテストゾーンを分離することにより、ディスク製造
メーカーは、ディスクテストゾーンで任意の記録を行う
ことができる。
【０１２１】記録装置固有情報記録ゾーン１は、光ディ
スクが新たな記録装置に、記録を目的として装着される
たびに、新たな記録装置に関するデータが追加されるゾ
ーンである。記録装置にディスクが装着されると、ディ
スクの記録装置固有情報記録ゾーン１から記録装置固有
情報１〜ｎが読み出される。読み出された記録装置固有
情報１〜ｎの中に、ディスクが装着された記録装置の記
録装置固有情報と同じものが含まれているかどうかが判
断される。ディスクが装着された記録装置の記録装置固
有情報は、たとえばメモリ１３０に含まれており、ま
た、同じものが含まれているかどうかが判断は、メモリ
１３０を制御するＣＰＵ(図示せず）により行うことが
可能である。
【０１２２】同一のものが記録されていない場合、すな
わち、ディスクが新たな記録装置に装着された場合は、
記録装置固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情
報、パルス位置情報がワンセットとして、記録装置固有
情報記録ゾーン１に記録される。この場合、前照射パワ
ー情報、後照射パワー情報、パルス位置情報を試し書き
等を行って得るために数秒から十数秒の時間を必要とす
る。
【０１２３】同一のものが記録されている場合、すなわ
ち、ディスクが以前同じ記録装置に装着されたことがあ
る場合は、記録装置固有情報記録ゾーン１から同一と判
断された記録装置固有情報に属する前照射パワー情報、
後照射パワー情報、パルス位置情報が読み出される。読
み出された前照射パワー情報、後照射パワー情報はメモ
リ１３２に送られる一方、パルス位置情報はメモリ１２
９に送られる。この場合、前照射パワー情報、後照射パ
ワー情報、パルス位置情報を記録装置固有情報記録ゾー
ン１から読み出すだけなので、これら情報を得るため必
要な数秒から十数秒の時間を省くことができる。
【０１２４】このように、ｎ個の異なった記録装置に、
当該ディスクが順次装着されれば、ｎ個のセットの記録
装置固有情報、前照射パワー情報、後照射パワー情報、
パルス位置情報がディスクに記録される。好ましい実施
の形態においては、ｎ個のセットを複数箇所、たとえば
ディスクの内周側と外周側の２個所で記録する。このよ
うにすれば、傷や汚れにより一方のデータが再生できな
くても、他方のデータを再生することが出来る。さら
に、記録装置固有情報記録ゾーン１においても、同じ情
報が複数回記録されるようにしてもよい。
【０１２５】記録装置固有情報を再生して、かつてその
光ディスクに記録したことが判明すると、ドライブテス
トゾーンで試し記録を行う際に、記録する内容を簡略化
することができる。特定の記録装置と、上記光ディスク
と上記記録装置の組み合わせに依存する情報は、傷や汚
れにより再生できなくなるのを防止するために複数セッ
ト記録されている。さらに記録装置固有情報記録ゾーン
には複数の記録装置において、同様の記録を行う領域を
確保している。これは、記録装置が異なると、レーザパ
ワーが微妙に異なるからである。
【０１２６】欠陥管理領域１は欠陥管理を行うための領
域である。
【０１２７】データ領域はユーザがデータを記録する領
域である。
【０１２８】欠陥管理領域２は欠陥管理を行うための領
域である。
【０１２９】記録装置固有情報記録ゾーン２は、記録装
置固有情報記録ゾーン１と同様に、記録装置を使って記
録した際に、上記記録装置の固有情報と、記録パワーや
パルス位置情報等の上記光ディスクと上記記録装置の組
み合わせに依存する情報を記録する領域である。ディス
ク固有情報記録ゾーンを内周側と外周側に分散して設け
ることにより、片方が傷や汚れにより記録できなくなっ
てももう片方に記録することができる。
【０１３０】ドライブテストゾーン２は、ドライブテス
トゾーン１と同様に、記録装置によって試し記録に使用
される領域である。ドライブテストゾーンを内周側と外
周側に分散して設けることにより、片方が傷や汚れによ
り記録できなくなってももう片方に記録することができ
る。またディスクの反りが大きい場合に、内周と外周で
試し記録を行い、内周での結果と外周での結果から半径
位置ごとに記録パラメータを補間することができる。
【０１３１】ディスクテストゾーン２は、ディスクテス
トゾーン１と同様に、光ディスク製造メーカーによって
試し記録に使用される領域である。ディスクテストゾー
ンを内周側と外周側に分散して設けることにより、例え
ばディスクの反りが、記録に与える影響を把握して、出
荷基準とすることができる。
【０１３２】ガードトラックゾーン２は未記録領域と
し、記録を行わない。光ディスクの最外周にガードトラ
ックゾーン２があることにより、光ヘッドが誤って目標
より外周側に移動しても、サーボが外れにくくなる効果
がある。
【０１３３】以上のゾーンや領域は予めアドレスで管理
されており、記録装置は上記レイアウトと各ゾーンや領
域のアドレスの情報を予め把握しているものとする。
【０１３４】以上のゾーンや領域と、図２、図１２から
図１８に示した領域との対応関係は、図３８の表に示さ
れている。
【０１３５】また、図２の光ディスク２０１において
も、光ディスク２０１に固有の情報（光ディスクの製造
会社名、製品番号、製造場所、製造年月日、ディスク構
造、記録膜組成など）を記録してもよい。この場合は、
上記光ディスク２０１に固有の情報と、試し記録により
決定するマーク始端部分と終端部分の位置情報を、記録
装置のメモリ１３０に格納しても良い。
【０１３６】過去に装着されて記録を行ったディスクと
同じディスクが再び装着されると、装着されたディスク
のディスク固有情報を読み出すと共に、このディスク固
有情報をメモリ１３０に蓄積されたディスク固有情報と
照合し、メモリ１３０から装着されたディスクのマーク
始端部分と終端部分の位置情報を読み出す。これによ
り、最適な位置が決定されるまでに繰り返される特定パ
ターンの試し記録が不要になる、もしくは試し記録の回
数が減り、最適化に要する時間をより短縮することがで
きる。
【０１３７】なお本実施の形態では、マーク始端部分と
終端部分の最適な位置は、上記試し記録を行うことによ
り決定されるが、上記決定に先立って、試し記録を行う
際の光ビームの照射パワー（ピークパワーとバイアスパ
ワーを含む）を決定しても良い。このようにマーク始端
部分と終端部分の最適な位置が決定される前に、決定さ
れる照射パワーを前照射パワーという。これに対し、マ
ーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定された後
に、決定される照射パワーを後照射パワーという。前照
射パワーは、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を
決定するための照射パワーであり、後照射パワーは、デ
ータ領域の実データを記録するための照射パワーであ
る。照射パワーが最適値よりも大きくなったり、小さく
なると、種種の不都合が生じる。以下、この不都合につ
いて説明する。
【０１３８】マーク始端部分と終端部分の最適な位置
は、光ディスクの諸特性以外にも、試し記録を行う際の
照射パワーにも依存し、照射パワーが大きく異なると、
マーク始端部分と、マーク終端部分の最適な位置が決定
できない、もしくは決定したとしても、記録品質は悪
い。この理由を、図１９を用いて説明する。
【０１３９】図１９は最短マークである３Ｔ信号を異な
る照射パワーで記録したときの、マーク形状と、再生波
形の模式図である。１９０１は照射パワーが適切な場合
のマーク形状で、マーク長と、スペース長はほぼ等し
い。従って再生波形１９０２における再生振幅１９１１
も大きい。
【０１４０】１９０３は照射パワーが小さい場合のマー
ク形状で、マーク長が、スペース長より短い。マーク長
とスペース長が等しくないので、再生波形１９０４にお
ける再生振幅１９１２は再生振幅１９１１よりも小さく
なる。
【０１４１】１９０５は、マーク形状が１９０３となる
照射パワーで、マーク形状が１９０３となる発光時間よ
りも長い発光時間で記録したときのマーク形状である。
発光時間を長くすることにより、マーク長とスペース長
がほぼ等しくなるが、マーク幅は適切な照射パワーで記
録した場合の１９０１のマーク幅よりも狭いので、再生
波形１９０６における再生振幅１９１３は、再生振幅１
９１１よりは小さい。
【０１４２】１９０７は照射パワーが大きい場合のマー
ク形状で、マーク長が、スペース長より長い。マーク長
とスペース長が等しくないので、再生波形１９０７にお
ける再生振幅１９１４は再生振幅１９１１よりも小さく
なる。
【０１４３】１９０９は、マーク形状が１９０７となる
照射パワーで、マーク形状が１９０７となる発光時間よ
りも短い発光時間で記録したときのマーク形状である。
発光時間を短くすることにより、マーク長とスペース長
が近づくが、照射パワーが大きいために、等しくはなら
ないので、再生波形１９１０における再生振幅１９１５
は、再生振幅１９１１よりは小さい。
【０１４４】以上のように、照射パワーが小さいときに
はマーク幅を必要な幅にすることが出来ないことによ
り、また照射パワーが大きいときには、マーク長とスペ
ース長を等しくすることができないことにより、データ
の最適な記録を行えない場合がある。マーク始端部分と
終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行う
際、光ビームの照射パワーが決定されておれば、より確
実にデータの最適な記録を行うことができる。
【０１４５】決定するパワーとしては、少なくともピー
クパワーとバイアスパワーがあるが、まずピークパワー
の決定方法について説明する。光ディスク１０１が装着
されると、光ヘッドは、最適な照射パワー値を決定する
ための領域２０２に移動する。このときスイッチ１２１
において、接点１２２は接点１２４とつながっている。
【０１４６】まずパワー設定回路１１９によりピークパ
ワー、バイアスパワーの初期値がレーザ駆動回路１０９
に設定される。続いて記録データ発生回路１２７の単一
パターン発生回路１２７ａの出力信号が変調回路１２６
で変調され、スイッチ１２１を介してパルス発生回路１
１１に入力されてパルス列に変換され、出力信号が遅延
回路１３８を介してパルス移動回路１１０に入力されて
パルスの始端位置と終端位置が移動した信号が出力され
る。
【０１４７】図２０に、変調回路１２６から出力される
信号パターンの説明図を示す。信号パターンは、光ディ
スクに予め記録されていてもよいし、記録装置に予め記
録されていてもよい。図２０（ａ）は光ディスク１０１
のセクタ構造の説明図であり、２０１はデータ領域、２
０２は試し記録領域、２００１はトラック、２００２、
２００３はアドレス、２００４はセクタである。
【０１４８】図２０（ａ）のセクタ２００４の構成を図
２０（ｂ）に示す。セクタ２００４は、図１におけるＰ
ＬＬ１１６において同期を引き込むために必要な、４Ｔ
周期の繰り返し信号であるＶＦＯ信号２００５と、メイ
ンデータ２００６から構成される。
【０１４９】メインデータ２００６は、２００７、２０
０８、２００９で表されるフレーム群から構成され、さ
らに例えばフレーム２００７は、データの再生開始タイ
ミングを決定するシンクマーク（sync mark)と、シンク
マークに含まれる一定期間のマーク部とスペース部の総
和の差であるＤＳＶ成分を０にするためのＤＳＶ補償パ
ターン２０１１と、３Ｔ単一パターン２０１２とから構
成される。３Ｔ単一パターンの例が、図２０（ｃ）に示
されている。ＤＳＶ補償パターン２０１１により、記録
する信号パターンにおけるＤＳＶ成分が０になり、再生
時に、上記信号パターンの適切な二値化が可能になる。
【０１５０】なお、本実施の形態では３Ｔ単一パターン
が多く含まれる信号を記録しているが、単一周期のパタ
ーンであれば、３Ｔ単一パターン２０１２の代わりに、
４Ｔ以上の単一パターンでも良い。単一周期の信号を記
録することにより、マーク始端部分と終端部分の最適な
位置が決定されていないためにランダム信号の記録品質
が悪い場合でも、適切な照射パワーを決定することがで
きる。さらに変調前、もしくは復調後の信号を比較する
ことにより、データ比較回路１３１に必要なメモリを小
さくすることができる。
【０１５１】３Ｔ単一パターン２０１２の代わりに、４
Ｔ単一パターンを用いた場合には、ＶＦＯ信号も４Ｔ周
期なので、ＶＦＯ信号部とメインデータ部のアシンメト
リがずれることがなく、より適切な二値化が可能にな
る。
【０１５２】また、本実施の形態では３Ｔ単一パターン
が多く含まれる信号を記録しているが、単一周期のパタ
ーンの代わりに、マーク始端部分と終端部分の最適な位
置調整量が同一である分類に含まれる信号郡で構成され
たパターンでも良い。同分類の信号郡を記録することに
より、マーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定さ
れていないために全分類で構成されたランダム信号の記
録品質が悪い場合でも、適切な照射パワーを決定するこ
とができる。
【０１５３】パルス移動回路１１０の出力信号はレーザ
駆動回路１０９に入力され、出力信号に応じて半導体レ
ーザがピークパワーとバイアスパワーで発光し、マーク
列が形成される。
【０１５４】記録が終了するとマーク列の再生を行い、
復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入
力される。単一パターン発生回路１２７ａの出力信号
も、データ比較回路１３１に入力され、記録データと再
生データの比較を行い、例えばＢＥＲ（バイトエラーレ
ート）が検出される。
【０１５５】図２１にピークパワーとＢＥＲの関係を示
す。図２１において横軸がピークパワーであり、縦軸が
ＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥＲが
小さいほど正確な記録が行われている。そこでバイアス
パワーを固定したまま、ピークパワーを変えながら、同
様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値になるピー
クパワー２１０２（たとえば8ミリワット）を見つけ、
一定のマージンを上乗せしたパワー（たとえば10ミリワ
ット）を設定ピークパワーとする。このとき上乗せする
マージン量を適切に設定しておくことにより、マーク始
端部分と終端部分の最適な位置を決定するために試し記
録を行う際のピークパワーを最適化することができる。
なおマージン量の上乗せの方法は、ＢＥＲがある閾値に
なるピークパワーにマージン定数（例えば１．２）を乗
じても良いし、あるマージン定数（例えば２ｍＷ）を加
算しても良い。
【０１５６】次にバイアスパワーの決定方法について説
明する。まずパワー設定回路１１９により先ほど決定し
たピークパワーと、バイアスパワーの初期値がレーザ駆
動回路１０９に設定される。続いて変調回路１２６か
ら、記録データ発生回路１２７の内のランダムパターン
発生回路１２７ｂからの信号に応じて、ランダム信号が
出力され、上記パワーにより記録が行われる。さらにそ
の後、変調回路１２６から、記録データ発生回路１２７
の内の単一パターン発生回路１２７ａからの信号に応じ
て、３Ｔ単一パターンが多く含まれる信号が出力され、
上記パワーにより記録が行われる。
【０１５７】記録が終了するとマーク列の再生を行い、
復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入
力される。記録データ発生回路１２７の出力信号も、デ
ータ比較回路１３１に入力され、記録データと再生デー
タの比較を行い、ＢＥＲが検出される。
【０１５８】図２２にバイアスパワーとＢＥＲの関係を
示す。図２２において横軸がバイアスパワーであり、縦
軸がＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥ
Ｒが小さいほど正確な記録が行われている。そこでピー
クパワーを固定したまま、バイアスパワーを変えなが
ら、同様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値にな
るバイアスパワーの下限値２２０２（たとえば３ミリワ
ット）とバイアスパワーの上限値２２０３（例えば７ミ
リワット）を見つけ、例えば下限値２２０２と上限値２
２０３の平均値（５ミリワット）を、マーク始端部分と
終端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行う
際のバイアスパワーとする。
【０１５９】別の方法によるバイアスパワーの決定につ
いて説明する。図２３に示すように、ランダム信号を記
録した後に３Ｔ単一パターンが多く含まれる信号を記録
してＢＥＲを検出し、さらに、ランダム信号を記録した
後に１１Ｔ単一パターンが多く含まれる信号を記録して
同様のＢＥＲ検出を行う。３Ｔ単一パターン信号を用い
た場合と、１１Ｔ単一パターン信号を用いた場合のそれ
ぞれについて、下限値と上限値を求め、下限値の大きい
方の値２３０２と、上限値の小さい方の値２３０３との
平均値を、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決
定するために試し記録を行う際のバイアスパワーとして
も良い。
【０１６０】最短間隔の信号である３Ｔ信号を記録した
際にＢＥＲが閾値以下となるバイアスパワーの範囲と、
最長間隔の信号である１１Ｔ信号を記録した際にＢＥＲ
が閾値以下となるバイアスパワーの範囲が異なるときに
は、両者が閾値以下となる範囲の平均値にバイアスパワ
ーを設定することにより、バイアスパワーの設定をより
最適にすることができる。
【０１６１】以上のように、マーク始端部分と終端部分
の最適な位置を決定するための試し記録に先だって、上
記試し記録を行う際の最適な照射パワーを決定すること
により、より最適な記録を実現することができる。
【０１６２】さらに、マークの始端位置、終端位置を実
際に記録する記録装置で、実際に記録されるディスクに
試し記録を行って照射パワーを決定することにより、記
録装置、記録されるディスクの組み合わせにおける最適
な記録を実現することができる。
【０１６３】なお本実施の形態では、再生信号品質を検
出する方法として、ＢＥＲを検出しているが、再生信号
品質を検出できるのであれば、ジッタを検出する等の他
の方法でも良い。
【０１６４】ピークパワー決定の別の方法として、６Ｔ
単一周期信号のアシンメトリを検出する方法がある。一
例を図３６に示す。図３６において、３６０１は特定パ
ターン信号発生回路１２５の出力信号である６Ｔ単一周
期信号、３６０２はパルス発生回路１１１の出力信号、
３６０３はパルス移動回路１１０の出力信号、３６０４
は信号３６０３のようにピークパワー、バイアスパワー
を変調して記録した結果、光ディスク１０１のトラック
上に生成されるマークの模式図である。３６０１、３６
０２、３６０３は同じ時間軸上にはないが、分かりやす
くするために、対応する箇所が縦に並ぶように図示して
ある。図３６のパターン信号は、６Ｔ間隔でマークとス
ペースが連続する単一周期信号であり、上述した図５
（ａ）の１８分類の内、５Ｓ５Ｍ、５Ｍ５Ｓの２つの分
類が存在する。図３６において信号３６０３に従ってレ
ーザ駆動が行われ、マークの記録が実行される。好まし
い実施の形態においては、図３６に示すパターン信号３
６０１は、繰り返され、トラック１周にわたり記録され
る。トラック１周の記録が終わると、そのトラック１周
が再生される。再生は、光検出器１０８から得られた光
信号が電気信号に変換されて、プリアンプ１１２、ロー
パスフィルタ１１３、イコライザ１１４において処理さ
れ、イコライザ１１４から再生信号３６０５が出力され
て、アシンメトリ検出回路１４０および二値化回路１１
５に入力される。二値化回路１１５は、二値化回路の出
力信号において、マークに対応する出力レベルと、スペ
ースに対応する出力レベルの間隔が等しくなるようにス
ライスレベル信号３６０９を調整し、上記スライスレベ
ル信号３６０９がアシンメトリ測定回路１４０に入力さ
れる。アシンメトリ測定回路では再生信号３６０５の最
小値３６１０と最大値３６１１の平均値と、スライスレ
ベル信号３６１２とを比較し、両者の差もしくは比が規
定範囲外であるときは、ピークパワーの値がずれている
と判断され、両者の差もしくは比の正負に応じてピーク
パワーを修正し、アシンメトリが規定範囲内に入るま
で、ピークパワーを変化させて６Ｔ単一周期信号の記
録、再生、アシンメトリ測定を行う。
【０１６５】ここで、さらに図３８の表に示したオプシ
ョンについて説明する。
【０１６６】図１５に示される光ディスク１５０１にお
いて、１５０３に、ディスク製造時の最適な、もしくは
代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加え
て、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調整
するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、バイ
アスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録して
もよい。前照射パワーの情報には、ピークパワー、バイ
アスパワー、マージン定数、アシンメトリがあるが、記
録されるのは全てであってもよいし、少なくともいずれ
か一つであってもよい。以下、同様である。
【０１６７】このディスクが装着されると、まず領域１
５０３を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて
試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した
後、領域１５０３から求められたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し
記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずること
により、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが
出来る。試し記録によりバイアスパワー(特定）を求め
たのは、レーザの劣化や、レンズのくもりによりレーザ
パワーが落ちていることがあるからである。従って、ピ
ークパワー(特定）決定のための試し記録を省略するこ
とができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮する
ことができる。
【０１６８】言うまでもなく、レーザパワーに変動がな
ければ、領域１５０３を再生して求めたピークパワー
(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用しても
よい。
【０１６９】またピークパワーを、アシンメトリを検出
して求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望
ましいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずか
ながら最適な値が異なる。
【０１７０】例えば図３６において、 （（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１
５−３６１４） の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もし
くは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておく
ことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めるこ
とができる。
【０１７１】またピークパワーを、ＢＥＲを検出して求
める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構
成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って
例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは
１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことに
より、より詳細に最適なピークパワーを求めることがで
きる。
【０１７２】同様に図１６に示される光ディスク１６０
１において、１６０４に、ディスク製造時の最適な、も
しくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に
加えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を
調整するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、
バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録
してもよい。
【０１７３】このディスクが装着されると、まず領域１
６０４を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて
試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した
後、領域１６０４から求められたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し
記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずること
により、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが
出来る。これによりピークパワー(特定）決定のための
試し記録を省略することができ、最適記録条件を求める
ための時間を短縮することができる。
【０１７４】言うまでもなく、レーザパワーに変動がな
ければ、領域１６０４を再生して求めたピークパワー
(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用しても
よい。
【０１７５】またピークパワーをアシンメトリを検出し
て求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ま
しいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかな
がら最適な値が異なる。
【０１７６】例えば図３６において、 （（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１
５−３６１４） の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もし
くは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておく
ことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めるこ
とができる。
【０１７７】またピークパワーをＢＥＲを検出して求め
る場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成
等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例
えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは
１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことに
より、より詳細に最適なピークパワーを求めることがで
きる。
【０１７８】また図１７に示される光ディスク１７０１
において、１７０３に、ディスク製造時の最適な、もし
くは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加
えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置を調
整するための、前照射パワーの情報（ピークパワー、バ
イアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を記録し
てもよい。
【０１７９】このディスクが装着されると、まず領域１
７０３を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて
試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した
後、領域１７０３から求められたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し
記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずること
により、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが
出来る。これによりピークパワー(特定）決定のための
試し記録を省略することができ、最適記録条件を求める
ための時間を短縮することができる。
【０１８０】言うまでもなく、レーザパワーに変動がな
ければ、領域１７０３を再生して求めたピークパワー
(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用しても
よい。
【０１８１】またピークパワーをアシンメトリを検出し
て求める場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ま
しいが、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかな
がら最適な値が異なる。
【０１８２】例えば図３６において、 （（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１
５−３６１４） の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もし
くは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておく
ことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めるこ
とができる。
【０１８３】またピークパワーをＢＥＲを検出して求め
る場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成
等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例
えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは
１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことに
より、より詳細に最適なピークパワーを求めることがで
きる。
【０１８４】図１７に示される光ディスク１７０１にお
いて、さらに、領域１７０５に、試し記録により決定す
るマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイ
アスパワー(特定）、ピークパワー(特定）、マージン定
数、アシンメトリ等の前照射パワーの情報を記録しても
よい。
【０１８５】この場合、次回に光ディスク１７０１を記
録装置に装着してデータを記録する際に、領域１７０５
を再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例
えばバイアスパワー(特定）を決定した結果が、領域１
７０５に記録されているバイアスパワー(一般）と同じ
であれば、以降のピークパワー決定のための試し記録
や、データに応じたマーク始端部分とマーク終端部分の
位置を調整するための試し記録を省略することができ、
最適記録条件を求めるための時間を短縮することができ
る。また領域１７０３に記録されたマージン定数やアシ
ンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生で
きないときでも、領域１７０５に記録してあることによ
り速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。
【０１８６】同様に、図１８に示される光ディスク１８
０１において、１８０４に、ディスク製造時の最適な、
もしくは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報
に加えて、上記マーク始端部分とマーク終端部分の位置
を調整するための、前照射パワーの情報（ピークパワ
ー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ）を
記録してもよい。
【０１８７】このディスクが装着されると、まず領域１
８０４を再生して前照射パワーの情報を求める。続いて
試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定した
後、領域１８０４から求められたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比を試し
記録により求めたバイアスパワー(特定）に乗ずること
により、ピークパワー(特定）の最適値を求めることが
出来る。これによりピークパワー(特定）決定のための
試し記録を省略することができ、最適記録条件を求める
ための時間を短縮することができる。
【０１８８】言うまでもなく、レーザパワーに変動がな
ければ、領域１８０４を再生して求めたピークパワー
(一般）とバイアスパワー(一般）をそのまま利用しても
よい。またピークパワーをアシンメトリを検出して求め
る場合、一般的にアシンメトリは小さい方が望ましい
が、ディスクの記録膜構成等に依存して、わずかながら
最適な値が異なる。
【０１８９】例えば図３６において、 （（３６１５＋３６１４）／２−３６１６）／（３６１
５−３６１４） の値が１．０５となるピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なアシンメトリの値（１．０５もし
くは１．０５に所定の演算を施した値）を記録しておく
ことにより、より詳細に最適なピークパワーを求めるこ
とができる。
【０１９０】またピークパワーをＢＥＲを検出して求め
る場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構成
等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って例
えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは
１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことに
より、より詳細に最適なピークパワーを求めることがで
きる。
【０１９１】図１８に示される光ディスク１８０１にお
いて、さらに、領域１８０６に、試し記録により決定す
るマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイ
アスパワー(特定）、ピークパワー(特定）、マージン定
数、アシンメトリ等の前照射パワーの情報を記録しても
よい。
【０１９２】この場合、次回に光ディスク１８０１を記
録装置に装着してデータを記録する際に、領域１８０６
を再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例
えばバイアスパワー(特定）を決定した結果が、領域１
８０６に記録されているバイアスパワー(一般）と同じ
であれば、以降のピークパワー決定のための試し記録
や、データに応じたマーク始端部分とマーク終端部分の
位置を調整するための試し記録を省略することができ、
最適記録条件を求めるための時間を短縮することができ
る。また領域１８０３に記録されたマージン定数やアシ
ンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等により再生で
きないときでも、領域１８０５に記録してあることによ
り速やかに最適な前照射パワーを求めることができる。
【０１９３】なお図１２の光ディスク１２０１におい
て、領域１２０３に、調整方式以外にも、光ディスク１
２０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、この光ディスク１２
０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分
の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワ
ーとバイアスパワー）を、記録装置のメモリ１３０に格
納しても良い。
【０１９４】このディスクが装着されると、まず領域１
２０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定し
た後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイ
アスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー
(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピーク
パワー(特定）決定のための試し記録を省略することが
でき、最適記録条件を求めるための時間を短縮すること
ができる。
【０１９５】また図１５の光ディスク１５０１におい
て、領域１５０３に、領域１５０３に、マーク始端部分
と終端部分の位置情報以外にも、光ディスク１５０１に
固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造
場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が
記録されている場合には、上記光ディスク１５０１に固
有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を
調整するための前照射パワー情報（ピークパワー、バイ
アスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）を、記録
装置のメモリ１３０に格納しても良い。
【０１９６】このディスクが装着されると、まず領域１
５０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定し
た後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイ
アスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー
(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピーク
パワー(特定）決定のための試し記録を省略することが
でき、最適記録条件を求めるための時間を短縮すること
ができる。 また領域１５０３に記録されたマージン定
数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等によ
り再生できないときでも、メモリ１３０に格納してある
ことにより速やかに最適な前照射パワーを求めることが
できる。
【０１９７】また図１６の光ディスク１６０１におい
て、領域１６０３に、調整方式以外にも、光ディスク１
６０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、上記光ディスク１６
０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分
の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワ
ー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）
を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。
【０１９８】このディスクが装着されると、まず領域１
６０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定し
た後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイ
アスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー
(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピーク
パワー(特定）決定のための試し記録を省略することが
でき、最適記録条件を求めるための時間を短縮すること
ができる。
【０１９９】また領域１６０３に記録されたマージン定
数やアシンメトリ等の前照射パワーの情報が汚れ等によ
り再生できないときでも、メモリ１３０に格納してある
ことにより速やかに最適な前照射パワーを求めることが
できる。
【０２００】また図１７の光ディスク１７０１におい
て、領域１７０３に、領域１７０３に、マーク始端部分
と終端部分の位置情報以外にも、光ディスク１７０１に
固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番号、製造
場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成など）が
記録されている場合には、上記光ディスク１７０１に固
有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分の位置を
調整するための前照射パワー情報（ピークパワー、バイ
アスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）を、記録
装置のメモリ１３０に格納しても良い。
【０２０１】このディスクが装着されると、まず領域１
７０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定し
た後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイ
アスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー
(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピーク
パワー(特定）決定のための試し記録を省略することが
でき、最適記録条件を求めるための時間を短縮すること
ができる。
【０２０２】また領域１７０３や領域１７０５に記録さ
れたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情
報が汚れ等により再生できないときでも、メモリ１３０
に格納してあることにより速やかに最適な前照射パワー
を求めることができる。さらに領域１７０５が他の記録
装置により書きかえられている場合でも、メモリ１３０
を参照することにより速やかに最適な前照射パワーを求
めることができる。
【０２０３】また図１８の光ディスク１８０１におい
て、領域１８０３に、調整方式以外にも、光ディスク１
８０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、上記光ディスク１８
０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分
の位置を調整するための前照射パワー情報（ピークパワ
ー、バイアスパワー、マージン定数、アシンメトリ等）
を、記録装置のメモリ１３０に格納しても良い。
【０２０４】このディスクが装着されると、まず領域１
８０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワー(特定）を決定し
た後、メモリ１３０に記憶されたピークパワー(一般）
とバイアスパワー(一般）との比を求め、この比をバイ
アスパワー(特定）に乗ずることにより、ピークパワー
(特定）の最適値を求めることが出来る。従ってピーク
パワー(特定）決定のための試し記録を省略することが
でき、最適記録条件を求めるための時間を短縮すること
ができる。
【０２０５】また領域１８０３や領域１８０５に記録さ
れたマージン定数やアシンメトリ等の前照射パワーの情
報が汚れ等により再生できないときでも、メモリ１３０
に格納してあることにより速やかに最適な前照射パワー
を求めることができる。さらに領域１８０５が他の記録
装置により書きかえられている場合でも、メモリ１３０
を参照することにより速やかに最適な前照射パワーを求
めることができる。
【０２０６】なお本実施の形態では、バイアスパワー
(特定）の決定後にピークパワー(特定）を決定している
が、ピークパワー(特定）の決定後にバイアスパワー(特
定）を決定しても良い。
【０２０７】また本実施の形態では、マーク始端部分と
終端部分の最適な位置は、上記領域に試し記録を行うこ
とにより決定されるが、上記決定の後に、データの記録
を行う際の光ビームの後照射パワー値を決定しても良
い。
【０２０８】例えば図５（ａ）における、ファーストパ
ルス位置の３Ｓ５Ｍの設定や、ラストパルス位置の３Ｓ
５Ｍの設定が、前照射パワーのピークパワーを決定する
際の初期設定値と大きく異なる場合には、上記ピークパ
ワーを決定した際のマージンが少なくなっている可能性
がある。例えば記録しようとする領域が汚れている場合
に、本来であれば２ミリワット程度実効的な照射パワー
が下がっても正しく記録できるところが、マージンが少
なくなっているために、１ミリワット下がっただけで正
しく記録できなくなる。
【０２０９】この場合は、後照射パワー値を決定するこ
とにより、より確実にパワーマージンを確保した最適な
記録を行うことができる。
【０２１０】決定するパワーとしては、少なくともピー
クパワーとバイアスパワーがあるが、まずピークパワー
の決定方法について説明する。スイッチ１２１におい
て、接点１２２は接点１２４とつながっている。まずメ
モリ１３２からのデータに基づきパワー設定回路１１９
によりピークパワー、バイアスパワーの初期値がレーザ
駆動回路１０９に設定される。続いて記録データ発生回
路１２７のランダムパターン発生回路１２７ｂの出力信
号が変調回路１２６で変調され、スイッチ１２１を介し
てパルス発生回路１１１に入力されてパルス列に変換さ
れ、出力信号がパルス移動回路１１０に入力されてファ
ーストパルスとラストパルスの位置が移動した信号が出
力される。なお変調回路１２６から出力される信号は、
ＤＳＶ成分が０となるようなランダム信号である。
【０２１１】パルス移動回路１１０の出力信号はレーザ
駆動回路１０９に入力され、出力信号に応じて半導体レ
ーザがピークパワーとバイアスパワーで発光し、マーク
列が形成される。
【０２１２】記録が終了するとマーク列の再生を行い、
復調回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入
力される。一方で記録データ発生回路１２７のランダム
パターン発生回路１２７ｂの出力信号も、データ比較回
路１３１に入力され、記録データと再生データの比較を
行い、例えばＢＥＲ（バイトエラーレート）が検出され
る。
【０２１３】図２４にピークパワーとＢＥＲの関係を示
す。図２４において横軸がピークパワーであり、縦軸が
ＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥＲが
小さいほど正確な記録が行われている。そこでバイアス
パワーを固定したまま、ピークパワーを変えながら、同
様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値になるピー
クパワー２４０２（例えば８ミリワット）を見つけ、一
定のマージンを上乗せしたパワー（例えば１０ミリワッ
ト）を設定ピークパワーとする。このとき上乗せするマ
ージン量を適切に設定しておくことにより、データの記
録を行う際のピークパワーを最適化することができる。
なおマージン量の上乗せの方法は、ＢＥＲがある閾値に
なるピークパワーに定数（例えば１．２）を乗じても良
いし、ある定数（例えば２ｍＷ）を加算しても良い。
【０２１４】次にバイアスパワーの決定方法について説
明する。まずパワー設定回路１１９により先ほど決定し
たピークパワーと、バイアスパワーの初期値がレーザ駆
動回路１０９に設定される。続いてランダムパターン発
生回路１２７ｂから出力信号を受け、変調回路１２６は
ランダム信号を出力し、、上記パワーにより記録が行わ
れる。 記録が終了するとマーク列の再生を行い、復調
回路１１７の出力信号がデータ比較回路１３１に入力さ
れる。一方でランダムパターン発生回路１２７ｂの出力
信号も前後して、データ比較回路１３１に入力され、記
録データと再生データの比較を行い、ＢＥＲが検出され
る。
【０２１５】図２５にバイアスパワーとＢＥＲの関係を
示す。図２５において横軸がバイアスパワーであり、縦
軸がＢＥＲである。再生条件が等しければ、一般にＢＥ
Ｒが小さいほど正確な記録が行われている。そこでピー
クパワーを固定したまま、バイアスパワーを変えなが
ら、同様の記録再生を繰り返し、ＢＥＲがある閾値にな
るバイアスパワーの下限値２５０２（例えば３ミリワッ
ト）とバイアスパワーの上限値２５０３（例えば７ミリ
ワット）を見つけ、例えば下限値２５０２と上限値２５
０３の平均値（５ミリワット）を、マーク始端部分と終
端部分の最適な位置を決定するために試し記録を行うた
めのバイアスパワーとする。
【０２１６】以上のように、マーク始端部分と終端部分
の最適な位置の決定後に、データの記録を行う際の最適
な照射パワーを決定することにより、より最適な記録を
実現することができる。
【０２１７】さらに、マークの始端位置、終端位置を実
際に記録する記録装置で、実際に記録されるディスク
に、データに応じたマーク始端部分と終端部分の最適な
位置条件で、試し記録を行って照射パワーを決定するこ
とにより、記録装置、記録されるディスクの組み合わせ
における最適な記録を実現することができる。
【０２１８】なお本実施の形態では、再生信号品質を検
出する方法として、ＢＥＲを検出しているが、再生信号
品質を検出できるのであれば、ジッタを検出する等の他
の方法でも良い。
【０２１９】ここでさらに図３８の表に示したオプショ
ンについて説明する。
【０２２０】また図１５に示される光ディスク１５０１
において、１５０３にディスク製造時の最適な、もしく
は代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加え
て、後照射パワーの情報（ピークパワー、バイアスパワ
ー、マージン定数）を記録してもよい。後照射パワーの
情報には、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定
数があるが、記録されるのは全てであってもよいし、少
なくともいずれか一つであってもよい。以下、同様であ
る。 このディスクが装着されると、領域１５０３を再
生して、後照射パワーの情報を求める。続いて試し記録
を行ってバイアスパワー(特定）を決定した後、領域１
５０３から求められたピークパワー(一般）とバイアス
パワー(一般）との比を求め、この比を試し記録により
求めたバイアスパワー(特定）に乗ずることにより、ピ
ークパワー(特定）の最適値を求めることができる。こ
れにより、ピークパワー(特定）決定のための試し記録
を省略することができ、最適記録条件を求めるための時
間を短縮することができる。言うまでもなく、レーザパ
ワーに変動がなければ、領域１５０３を再生して求めた
ピークパワー(一般）とバイアスパワー(一般）をそのま
ま利用してもよい。
【０２２１】またピークパワーを、ＢＥＲを検出して求
める場合、上乗せするマージン量はディスクの記録膜構
成等に依存して、わずかながら最適量が異なる。従って
例えば閾値の１．２倍のピークパワーが最適である場合
に、ディスクに最適なマージン定数（１．２もしくは
１．２に所定の演算を施した値）を記録しておくことに
より、より詳細に最適なピークパワーを求めることがで
きる。
【０２２２】なお領域１５０３に、マーク始端部分とマ
ーク終端部分の位置を調整するための後照射パワーの情
報が記録されていないければ、前照射パワーの情報を利
用しても良いし、その逆に前照射パワーを求める際に、
後照射パワーの情報を利用しても良い。
【０２２３】同様に図１６に示される光ディスク１６０
１において、１６０４にディスク製造時の最適な、もし
くは代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加
えて、後照射パワーの情報を記録してもよい。
【０２２４】このディスクが装着されると、領域１６０
４を再生して、後照射パワーの情報を得ることにより、
例えばバイアスパワーを決定する際に、領域１６０４に
記録されているピークパワーとバイアスパワーの比を計
算して、ピークパワー決定後に、上記比をピークパワー
に乗ずることにより、バイアスパワーの最適値を予測
し、バイアスパワー決定のための試し記録を省略するこ
とができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮する
ことができる。
【０２２５】なお領域１６０４に、マーク始端部分とマ
ーク終端部分の位置を調整する際の照射パワーの情報が
記録されていないときに、上記位置調整後に決定した照
射パワーの情報を得ることにより、例えば位置調整前の
バイアスパワーを決定する際に、領域１６０４に記録さ
れている、位置調整後に決定したピークパワーとバイア
スパワーの比を計算して、位置調整前のピークパワー決
定後に、上記比を位置調整前のピークパワーに乗ずるこ
とにより、位置調整前のバイアスパワーの最適値を予測
し、位置調整前のバイアスパワー決定のための試し記録
を省略することができ、最適記録条件を求めるための時
間を短縮することができる。
【０２２６】また図１7に示される光ディスク１7０１に
おいて、１7０３にディスク製造時の最適な、もしくは
代表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加え
て、後照射パワーの情報を記録してもよい。
【０２２７】このディスクが装着されると、領域１7０
３を再生して、後照射パワーの情報を求める。続いて試
し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、領域１7
０３から求められたピークパワーとバイアスパワーとの
比を求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワ
ーに乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求める
ことができる。これにより、ピークパワー決定のための
試し記録を省略することができ、最適記録条件を求める
ための時間を短縮することができる。
【０２２８】なお領域１7０３に、マーク始端部分とマ
ーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情
報が記録されていないければ、後照射パワーの情報を利
用する。まず、領域１7０３に記録されている後照射パ
ワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーの
バイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパ
ワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録
により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずるこ
とにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求め
ることができる。これにより前照射パワーのピークパワ
ー決定のための試し記録を省略することができ、最適記
録条件を求めるための時間を短縮することができる。
【０２２９】図１7に示される光ディスク１7０１におい
て、さらに、領域１7０5に、試し記録により決定するマ
ーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイアス
パワー、ピークパワー、マージン定数を含む後照射パワ
ーの情報を記録してもよい。
【０２３０】この場合、次回に光ディスク１7０１を記
録装置に装着してデータを記録する際に、領域１7０5を
再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例え
ばバイアスパワーを決定した結果が、領域１7０5に記録
されているバイアスパワーと同じであれば、以降のピー
クパワー決定のための試し記録を省略することができ、
最適記録条件を求めるための時間を短縮することができ
る。
【０２３１】また図１8に示される光ディスク１8０１に
おいて、１8０4にディスク製造時の最適な、もしくは代
表的なマーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、
後照射パワーの情報を記録してもよい。
【０２３２】このディスクが装着されると、領域１8０4
を再生して、後照射パワーの情報を求める。続いて試し
記録を行ってバイアスパワーを決定した後、領域１8０4
から求められたピークパワーとバイアスパワーとの比を
求め、この比を試し記録により求めたバイアスパワーに
乗ずることにより、ピークパワーの最適値を求めること
ができる。これにより、ピークパワー決定のための試し
記録を省略することができ、最適記録条件を求めるため
の時間を短縮することができる。
【０２３３】なお領域１8０4に、マーク始端部分とマー
ク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情報
が記録されていなければ、後照射パワーの情報を利用す
る。まず、領域１8０4に記録されている後照射パワーを
求める。続いて試し記録を行って前照射パワーのバイア
スパワーを決定した後、後照射パワーのピークパワーと
バイアスパワーの比を求める。この比を試し記録により
求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずることによ
り、前照射パワーのピークパワーの最適値を求めること
ができる。これにより前照射パワーのピークパワー決定
のための試し記録を省略することができ、最適記録条件
を求めるための時間を短縮することができる。
【０２３４】図１8に示される光ディスク１8０１におい
て、さらに、領域１8０6に、試し記録により決定するマ
ーク始端部分と終端部分の位置情報に加えて、バイアス
パワー、ピークパワー、マージン定数を含む後照射パワ
ーの情報を記録してもよい。
【０２３５】この場合、次回に光ディスク１8０１を記
録装置に装着してデータを記録する際に、領域１8０6を
再生して、前照射パワーの情報を得ることにより、例え
ばバイアスパワーを決定した結果が、領域１8０6に記録
されているバイアスパワーと同じであれば、以降のピー
クパワー決定のための試し記録を省略することができ、
最適記録条件を求めるための時間を短縮することができ
る。
【０２３６】なお本実施の形態では、バイアスパワー
(特定）の決定後にピークパワー(特定）を決定している
が、ピークパワー(特定）の決定後にバイアスパワー(特
定）を決定しても良い。
【０２３７】なお図１２の光ディスク１２０１におい
て、領域１２０３に、調整方式以外にも、光ディスク１
２０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、この光ディスク１２
０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分
の位置を調整するための後照射パワー情報（ピークパワ
ー、バイアスパワー、マージン定数）を、記録装置のメ
モリ１３０に格納しても良い。
【０２３８】このディスクが装着されると、まず領域１
２０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、メ
モリ１３０に記憶されたピークパワーとバイアスパワー
との比を求め、この比をバイアスパワーに乗ずることに
より、ピークパワーの最適値を求めることが出来る。従
ってピークパワー決定のための試し記録を省略すること
ができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮するこ
とができる。
【０２３９】なおメモリ１３０に、マーク始端部分とマ
ーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情
報が記録されていないければ、後照射パワーの情報を利
用する。まず、領域１2０３に記録されている後照射パ
ワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーの
バイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパ
ワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録
により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずるこ
とにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求め
ることができる。これにより前照射パワーのピークパワ
ー決定のための試し記録を省略することができ、最適記
録条件を求めるための時間を短縮することができる。
【０２４０】また図１６の光ディスク１６０１におい
て、領域１6０３に、調整方式以外にも、光ディスク１6
０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、この光ディスク１6
０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分
の位置を調整するための後照射パワー情報（ピークパワ
ー、バイアスパワー、マージン定数）を、記録装置のメ
モリ１３０に格納しても良い。
【０２４１】このディスクが装着されると、まず領域１
６０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、メ
モリ１３０に記憶されたピークパワーとバイアスパワー
との比を求め、この比をバイアスパワーに乗ずることに
より、ピークパワーの最適値を求めることが出来る。従
ってピークパワー決定のための試し記録を省略すること
ができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮するこ
とができる。
【０２４２】なおメモリ１３０に、マーク始端部分とマ
ーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情
報が記録されていないければ、後照射パワーの情報を利
用する。まず、領域１6０３に記録されている後照射パ
ワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーの
バイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパ
ワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録
により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずるこ
とにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求め
ることができる。これにより前照射パワーのピークパワ
ー決定のための試し記録を省略することができ、最適記
録条件を求めるための時間を短縮することができる。
【０２４３】また図１８の光ディスク１８０１におい
て、領域１8０３に、調整方式以外にも、光ディスク１8
０１に固有の情報（光ディスクの製造会社名、製品番
号、製造場所、製造年月日、ディスク構造、記録膜組成
など）が記録されている場合には、この光ディスク１8
０１に固有の情報と、マーク始端部分とマーク終端部分
の位置を調整するための後照射パワー情報（ピークパワ
ー、バイアスパワー、マージン定数）を、記録装置のメ
モリ１３０に格納しても良い。
【０２４４】このディスクが装着されると、まず領域１
8０３を再生して、再生した固有情報と同じ固有情報が
メモリ１３０にあるかどうかを認識する。あった場合
は、試し記録を行ってバイアスパワーを決定した後、メ
モリ１３０に記憶されたピークパワーとバイアスパワー
との比を求め、この比をバイアスパワーに乗ずることに
より、ピークパワーの最適値を求めることが出来る。従
ってピークパワー決定のための試し記録を省略すること
ができ、最適記録条件を求めるための時間を短縮するこ
とができる。
【０２４５】なおメモリ１３０に、マーク始端部分とマ
ーク終端部分の位置を調整するための前照射パワーの情
報が記録されていないければ、後照射パワーの情報を利
用する。まず、領域１8０３に記録されている後照射パ
ワーを求める。続いて試し記録を行って前照射パワーの
バイアスパワーを決定した後、後照射パワーのピークパ
ワーとバイアスパワーの比を求める。この比を試し記録
により求めた前照射パワーのバイアスパワーに乗ずるこ
とにより、前照射パワーのピークパワーの最適値を求め
ることができる。これにより前照射パワーのピークパワ
ー決定のための試し記録を省略することができ、最適記
録条件を求めるための時間を短縮することができる。
【０２４６】ところで本実施の形態では、記録媒体から
二値化回路までの再生系の特性は理想的であるという前
提でマーク始端部分と終端部分の最適な位置が決定され
ているが、再生系の特性が理想的ではない場合もある。
【０２４７】図２６は実際の装置における再生系の群遅
延の周波数特性を示している。信号周波数に対して、群
遅延特性は平坦になるというのが理想的であるが、２６
０１に示すように平坦でない群遅延特性を持つ場合があ
る。このように、周波数に対して一定でない群遅延特性
をもつと、さまざまな長さの組み合わせである信号に対
してエッジシフトを引き起こすことになる。エッジシフ
トを持った装置においてＴｕ、Ｔｄの決定を行うとエッ
ジシフト分まで含めてＴｕ、Ｔｄの位置を決定すること
になり、その装置自身で再生する場合には問題ないが、
他の例えば群遅延特性が平坦な装置で再生するとエッジ
シフトにより再生性能が悪化する。
【０２４８】図２７は平坦でない群遅延特性をもつ装置
の再生信号の一例である。この例では特に長いマークと
スペースによる単一信号を示しているが、平坦でない群
遅延特性を持つ装置での再生信号は、２７０１に示すよ
うに、マーク形状に依存せず本来平坦となるべきスペー
ス部分でも傾きを持つ。この傾きを検出することによっ
て、群遅延特性の平坦性が検出できる。
【０２４９】図２８（ａ）に長いスペースを有するテス
ト信号を用いて平坦性を検出する方法の一例を示す。こ
のテスト信号は、記録媒体内周部にピット列(エンボス
形式）で形成される信号、たとえばフレーム同期信号と
して用いられ信号内に一定周期で含まれる１４Ｔスペー
スの信号でも、記録媒体の特定の領域にあらかじめ記録
されている信号でも、その記録装置に記録されている信
号でも構わない。テスト信号には長いスペース（たとえ
ば７Ｔから１４Ｔ程度）が含まれる。
【０２５０】２８０１は二値化回路のスライスレベル、
２８０２は１４Ｔスペースのテスト信号を記録し、それ
を再生した再生信号である。２８０２の再生信号をＰＬ
Ｌクロックタイミングｔ０からｔ１４においてサンプリ
ングし、ｓ１からｓ１３のサンプル値を得る。
【０２５１】図２８（ｂ）は、サンプリングの演算回路
２８０３を示す。ｓ１からｓ１３のサンプル値を演算回
路２８０３によって演算し、値を求める。すなわち、サ
ンプル値ｓ１からｓ６までを合算し、サンプル値ｓ８か
らｓ１３までを合算する。そして二つの合算された値の
差を求める。２８０２のような再生波形の場合、２８０
３の演算回路の出力は負の値となり、逆の傾きを持つ場
合は正の値となる。
【０２５２】なお、このサンプリングおよび演算はディ
ジタル回路を想定しているが、２８０２のような傾きは
負（または正）を出力し、逆の傾きは正（または負）を
出力する構成であればディジタル回路である必要はな
く、アナログ回路でも構わない。
【０２５３】図２９（ａ）、（ｂ）は群遅延に周波数特
性を持たせた場合の群遅延補正回路の例である。
【０２５４】図２９（ａ）はオペアンプで構成した回路
例で、通常の反転オペアンプ２９０３のフィードバック
抵抗に周波数特性を持たせるため、抵抗２９０２を介し
てコンデンサ２９０１を挿入している。この抵抗２９０
２の抵抗値、コンデンサ２９０１の容量を適当に選ぶこ
とによって、高周波側が遅延する求めたい群遅延特性が
得られる。
【０２５５】逆に低周波側を遅延させたいときはコンデ
ンサ２９０１の代わりにインダクタを用いることによっ
て可能となる。
【０２５６】図２９（ｂ）は群遅延補正回路の回路例の
ブロック図を示している。再生信号が遅延線２９０４、
２９０５を通して遅延され、元の信号と、遅延線２９０
４後の信号、遅延線２９０５後の信号にそれぞれ係数回
路２９０６、２９０７、２９０８で重み付けされ、加算
器２９０９で加算される。信号２８０２は、図２８
（ａ）で示した信号であり、検出器２８０３は、たとえ
ば図２８(ｂ)の演算回路を示す。検出器２８０３の出力
値に応じた係数値がコントローラ２９１０から出力さ
れ、増幅器２９０６，２９０７、２９０８の増幅率を制
御する。増幅後、すなわち重み付け後は、加算器２９０
９で加算され、群遅延補正回路を含めた再生系の群遅延
特性の平坦性を確保する。
【０２５７】このような構成の回路は、係数２９０６と
係数２９０８が等しければ群遅延特性が平坦になるとい
うことが広く知られているが逆に等しくない場合は群遅
延が周波数特性をもつことから、適当な係数を選べば、
求めたい群遅延特性の等価回路を実現できる。
【０２５８】図２８（ａ）で示したスペース部の平坦性
を検出し、再生系のどこかに挿入された図２９（ａ）、
（ｂ）で示した群遅延補正を制御することによって、再
生系全体の群遅延特性を平坦にできる。その後でＴｕ、
Ｔｄの決定を行えば他の装置で再生したときのエッジシ
フトを小さく押さえることができ、装置間の再生互換を
より一層確保することができる。
【０２５９】図３０は図２９（Ａ）、（ｂ）の回路で群
遅延補正量を変化させた場合の再生信号のジッタを示し
ている。なお、この再生信号は、記録媒体内周部にピッ
ト列で形成されている信号でも、記録媒体の特定の領域
にあらかじめ記録されている信号でも、エッジシフトを
起こさないように選んだＴｕ、Ｔｄを用いてその装置で
記録された信号でも構わない。
【０２６０】３００１は、再生系の群遅延特性が平坦な
場合、３００２は、再生系の群遅延特性が平坦でない場
合を示している。前述の通り、再生系全体の群遅延特性
が平坦でないとエッジシフトを引き起こし、再生性能の
悪化を招き、それはエラーレートやジッタの悪化につな
がる。再生系の群遅延特性が平坦であれば３００１に示
すように、群遅延補正回路の群遅延平坦性が０（群遅延
補正なし）のときにエラーレート、ジッタは最小にな
り、群遅延補正量を大きくすればするほどジッタは悪化
し大きくなる。
【０２６１】しかしながら、もともと再生系に装置特有
の群遅延特性を持っていたとすると、３００２のよう
に、ある群遅延補正量のところでジッタは最小になる。
このジッタが最小になる補正を行うことによってエッジ
シフトはもっとも小さくなっていると考えられるので、
群遅延特性が平坦に近くなっていると考えられる。この
ようにジッタを検出しながら、ジッタが最小になるよう
に図２９の群遅延補正量を制御して、その後でＴｕ、Ｔ
ｄの決定を行えば他の装置で再生したときのエッジシフ
トを小さく押さえることができ、装置間の再生互換を確
保できる。なお、エラーレートのように群遅延特性やエ
ッジシフトによって変化するものであれば、ジッタでな
くても構わない。
【０２６２】なお、装置特有の群遅延特性が径時変化し
ないものであれば、工程において特性を補正するように
すれば同様の効果が得られる。また、群遅延特性が装置
によらず特定の特性を示すものであれば、その代表値に
よって補正するようにしておけば同様の効果が得られ
る。
【０２６３】
【発明の効果】本実施の形態の光学情報の記録方法によ
り、データの記録に先立って、マークの始端位置を、記
録するマーク部およびその前のスペース部の長さにより
求め、マークの終端位置を、記録するマーク部およびそ
の後のスペース部の長さにより求めることにより、記録
時の熱蓄積や熱干渉の影響を記録時に補償して、ジッタ
ーの少ない記録を実現することができる。
【０２６４】また、本実施の形態の光学情報の記録方法
により、マーク始端部分と終端部分の最適な位置を決定
するための試し記録に先だって、上記試し記録を行う際
の最適な照射パワーを決定することにより、より最適な
記録を実現することができる。
【０２６５】また、本実施の形態の光学情報の記録方法
により、マーク始端部分と終端部分の最適な位置の決定
後に、データの記録を行う際の最適な照射パワーを決定
することにより、より最適な記録を実現することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態における光学情報の記録装
置のブロック図。
【図２】本発明の実施の形態における光ディスクの平面
図。
【図３】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図４】本発明の実施の形態における記録パルス列の説
明図。
【図５】本発明の実施の形態における分類方法の説明
図。
【図６】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図７】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図８】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図９】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図１０】本発明の実施の形態の位置調整における、初
期値補間の説明図。
【図１１】本発明の実施の形態の位置調整における、初
期値補間の説明図。
【図１２】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１３】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１４】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１５】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１６】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１７】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１８】本発明の実施の形態における光ディスクの平
面図。
【図１９】位置調整の前に照射パワーを決定することの
説明図。
【図２０】本発明の実施の形態における記録パターンの
説明図。
【図２１】本発明の実施の形態における位置調整前のピ
ークパワー決定方法の説明図。
【図２２】本発明の実施の形態における位置調整前のバ
イアスパワー決定方法の説明図。
【図２３】本発明の実施の形態における位置調整前のバ
イアスパワー決定方法の説明図。
【図２４】本発明の実施の形態における位置調整後のピ
ークパワー決定方法の説明図。
【図２５】本発明の実施の形態における位置調整後のバ
イアスパワー決定方法の説明図。
【図２６】本発明の実施の形態における再生系の群遅延
の周波数特性図。
【図２７】本発明の実施の形態における再生信号の説明
図。
【図２８】本発明の実施の形態における群遅延検出方法
の説明図。
【図２９】本発明の実施の形態における群遅延補正回路
のブロック図。
【図３０】本発明の実施の形態における群遅延補正量と
ジッタの相関図。
【図３１】ディスクのメインデータの配列構成図。
【図３２】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図３３】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図３４】本発明の実施の形態におけるディスクにおけ
るデータのレイアウトを示す展開図。
【図３５】本発明の実施の形態におけるディスクにおけ
るデータのレイアウトを示す展開図。
【図３６】本発明の実施の形態における信号の説明図。
【図３７】本発明の実施の形態のメモリ１３０における
データのレイアウトを示す展開図。
【図３８】本発明の種々の実施の形態を示した表。
【符号の説明】
１０１ 光ディスク １０２ スピンドルモータ １０３ 半導体レーザ １０９ レーザ駆動回路 １１０ パルス移動回路 １１１ パルス発生回路 １１９ パワー設定回路 １２０ パルス位置ずれ回路 １２９ パルス位置設定回路 １３０ メモリ １３１ データ比較回路 ２０１ データ領域 ２０２ 試し記録領域
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１２年４月３日（２０００．４．３）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１６】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の情報記録媒体は、複数のトラックが同心円状
あるいはスパイラル状に形成され、前記トラックの記録
面に光ビームを照射することにより、データが記録膜の
光学特性を変化させたマークおよび、マークとマークの
間隔で現されるスペースの長さ情報として記録される情
報記録媒体において、前記マーク始端位置と終端位置
を、入力信号に応じて変化させることによって再生ジッ
ターが一定値以下となるような始端位置、終端位置の両
方あるいはどちらか一方の数値もしくは代表値、および
始端位置、終端位置の利用方式が、前記情報記録媒体の
特定位置にあらかじめ記録されている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１７】また、この課題を解決するために本発明の
情報記録媒体は、マークの始端位置は、記録信号のマー
ク部およびその直前のスペース部の長さにより求めら
れ、マークの終端位置は、記録信号のマーク部およびそ
の直後のスペース部の長さにより求められる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１８】本発明の第１の観点にかかる情報記録媒体
は、同心円状あるいはスパイラル状に形成された複数の
トラックと、該トラックに記録するオリジナル信号のマ
ーク部の長さに応じて数が調整される複数の駆動パルス
を用いて光ビームを該トラックの記録面に照射してマー
クおよび、マークとマークの間のスペースで情報を記録
する情報記録媒体において、データを記録するデータ記
録領域と、凹凸のピット列で予めコントロールデータを
記録したコントロールデータゾーンとを有し、該コント
ロールデータには、記録装置により該情報記録媒体にマ
ークを記録するために必要な駆動パルスのファーストパ
ルス移動量ＴＦとラストパルス移動量ＴＬの少なくとも
いずれか一方と、上記ファーストパルス移動量およびラ
ストパルス移動量を、それぞれ、上記複数の駆動パルス
の内のファーストパルスおよびラストパルスへ利用する
方式が、ファーストパルスおよびラストパルスを移動す
る方式とファーストパルスおよびラストパルスの幅を変
化させる方式の少なくとも２つが存在し、いずれかの方
式を示す情報と、が含まれ、該データ記録領域には、情
報記録媒体にマークを記録する記録装置についての固有
の情報を記録する、記録装置固有情報記録ゾーンが含ま
れることを特徴とするものである。本発明の第２の観点
にかかる情報記録媒体は、第１の観点にかかる情報記録
媒体において、上記記録装置固有情報記録ゾーンは、複
数の異なった記録装置の固有の情報を記録するため、複
数の区分に分かれていることを特徴とするものである。
本発明の第３の観点にかかる情報記録媒体は、第１の観
点にかかる情報記録媒体において、上記コントロールデ
ータには、更に、ファーストパルス移動量ＴＦとラスト
パルス移動量ＴＬの少なくともいずれか一方の値を決定
するために用いられる光ビームのパワーである前照射パ
ワーの情報であって、ピークパワー、バイアスパワー、
マージン定数、アシンメトリの内少なくとも一つの情報
が含まれていることを特徴とするものである。本発明の
第４の観点にかかる情報記録媒体は、第１の観点にかか
る情報記録媒体において、上記コントロールデータに
は、更に、データ領域に実データを記録するために用い
られる光ビームのパワーである後照射パワーの情報であ
って、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数の
内少なくとも一つの情報が含まれていることを特徴とす
るものである。本発明の第５の観点にかかる情報記録媒
体は、第１の観点にかかる情報記録媒体において、上記
コントロールデータには、更に、前記パルス位置を決定
するために用いられるアシンメトリ情報が含まれている
ことを特徴とするものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 敦史 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 石田 隆 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 同心円状あるいはスパイラル状に形成さ
    れた複数のトラックと、 該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さ
    に応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビ
    ームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マ
    ークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録
    媒体において、 データを記録するデータ記録領域と、 凹凸のピット列で予めコントロールデータを記録したコ
    ントロールデータゾーンとを有し、 該コントロールデータには、記録装置により該情報記録
    媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの始端
    パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいず
    れか一方と、該始端パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔ
    ｄの少なくともいずれか一方値を決定するために用いら
    れる光ビームのパワーである前照射パワーの情報であっ
    て、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定数、ア
    シンメトリの内少なくとも一つの情報とが含まれている
    ことを特徴とする情報記録媒体。
  2. 【請求項２】 同心円状あるいはスパイラル状に形成さ
    れた複数のトラックと、 該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さ
    に応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビ
    ームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マ
    ークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録
    媒体において、 データを記録するデータ記録領域と、 凹凸のピット列で予めコントロールデータを記録したコ
    ントロールデータゾーンとを有し、 該コントロールデータには、記録装置により該情報記録
    媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの始端
    パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいず
    れか一方と、該データ領域の実データを記録するために
    用いられる光ビームのパワーである後照射パワーの情報
    であって、ピークパワー、バイアスパワー、マージン定
    数の内少なくとも一つの情報とが含まれていることを特
    徴とする情報記録媒体。
  3. 【請求項３】 同心円状あるいはスパイラル状に形成さ
    れた複数のトラックと、 該トラックに記録するオリジナル信号のマーク部の長さ
    に応じて数が調整される複数の駆動パルスを用いて光ビ
    ームを該トラックの記録面に照射してマークおよび、マ
    ークとマークの間のスペースで情報を記録する情報記録
    媒体において、 データを記録するデータ記録領域と、 凹凸のピット列で予めコントロールデータを記録したコ
    ントロールデータゾーンとを有し、 該コントロールデータには、記録装置により該情報記録
    媒体にマークを記録するために必要な駆動パルスの始端
    パルス位置Ｔｕと終端パルス位置Ｔｄの少なくともいず
    れか一方と、前記パルス位置を決定するために用いられ
    るアシンメトリ情報とが含まれていることを特徴とする
    情報記録媒体。
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