JP2001023174A - チルト及び／または集束ずれ補償方法及びその装置 - Google Patents

チルト及び／または集束ずれ補償方法及びその装置

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JP2001023174A JP2000190119A JP2000190119A JP2001023174A JP 2001023174 A JP2001023174 A JP 2001023174A JP 2000190119 A JP2000190119 A JP 2000190119A JP 2000190119 A JP2000190119 A JP 2000190119A JP 2001023174 A JP2001023174 A JP 2001023174A
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▲キュン▼根 李
Jung-Wan Ko
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盛晨 朱
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 チルト及び／または集束ずれ補償方法及びそ
の装置を提供する。 【解決手段】 光記録媒体の集束ずれ及び／またはチル
トを検出する集束ずれ／チルト検出器及び集束ずれ／チ
ルト検出器により検出された集束ずれ及び／またはチル
トに従って所定の体系により所定の記録パターンを有す
る記録パルスを補償する記録補償器を含んで、検出され
た集束ずれに従って記録パワーを調節し、検出されたチ
ルトに従って記録パターンをシフトさせ、記録に必要な
パワーレベル及び／または記録時間を調節して希望の大
きさ（長さと幅）のマークを記録することによって、高
密度光ディスクシステムに適している。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はチルト及び／または
集束ずれ補償方法及びその装置に係り、特に光記録媒体
のチルト／集束ずれに従って記録に必要なパワー及び／
または時間などを制御してチルト／集束ずれを補償する
方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光記録媒体中高密度記録が要求されるデ
ィスクがチルトされていたり、集束ずれで記録されたり
チルトと集束ずれが同時に発生する場合、チルト及び／
または集束ずれの影響が既存の赤色レーザーを使用する
ディスクよりはるかに大きく示されるため、これを補償
する方法が必要となっている。既存の赤色レーザー（波
長６５０ｎｍ）を使用する代わり、高密度化のために短
波長（４００ｎｍ）の青色レーザーと共に高開口数(Num
erical Aperture:ＮＡ）の対物レンズを使用する場合、
下記の表１で示したようにシステムに影響を与える。特
に記録に影響を及ぼす項目では、ディスクのチルトが大
きくなり、フォーカス深度が浅くなるに従うマージンの
減少である。
【０００３】
【表１】
【０００４】一方、現在ＤＶＤ−ＲＡＭ(Digital Versa
tile Disc Random Access Memory)において半径方向チ
ルトとトラック方向チルトの許容範囲は各々０．７゜、
０．３゜である。このようなチルトの許容範囲内で基本
的なディスクの特性が満足されるべきである。例えば、
記録に必要なパワー（記録パワー、消去パワー等）はデ
ィスク規格で定めた記録特性を得るのに充分のパワーレ
ベルを維持すべきである。
【０００５】しかし、高密度記録が要求されるにつれて
短波長の青色レーザー（波長４００ｎｍ）を使用する場
合チルトに従う影響が大きく示され、即ち、同じ基板厚
さと高密度を得るために高い開口数を使用すればコマ収
差値がはるかに大きく示される。このコマ収差を表現し
た式は下記のように与えられる。
【０００６】
【数１】
【０００７】ここで、ｎは基板の屈折率、ｄは基板の厚
さ、ＮＡは対物レンズの開口数を各々示している。図１
は前記の数学式１を用いて基板厚さが０．６ｍｍで、基
板屈折率が１．５で、チルトが０．５゜の場合、波長と
開口数に従うコマ収差を３次元的に示している。即ち、
波長が短くなるほど、開口数が大きくなるほどコマ収差
が増加することが分かる。
【０００８】図２はチルトに従うビームの強度変化を示
す図面であって、横軸はチルトを示し、縦軸はビームの
ピーク強度を示している。図２を通じてチルトが大きく
なるほど記録ビームの強度は、波長が４００ｎｍの場合
が波長が６５０ｎｍの場合より非常に激しく減少するた
め、このような状態で記録すれば、希望の長さ及び幅を
有するマークを記録できない。同じ４００ｎｍ波長と同
じ０．６ｍｍ基板厚さ（ｔ）を有しても開口数（ＮＡ）
が大きくなるほどビームの強度が減少することが分か
る。
【０００９】図３はチルトに従うビームのスポットの大
きさの変化を示す図面であって、横軸はチルトを示し、
縦軸はチルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０゜）のビームの
大きさ対チルトに従うビームの大きさを正規化（Ｂｅａ
ｍ ｗｉｄｔｈtilt／ｂｅａｍ ｗｉｄｔｈtilt=0）して
示している。図３を通じてチルトが大きくなるほどスポ
ットの大きさは波長が４００ｎｍの場合が波長が６５０
ｎｍの場合より増加することが分かり、同じ波長４００
ｎｍを有しても開口数（ＮＡ）が大きくなるほどスポッ
トの大きさが増加することが分かる。
【００１０】図４はチルトに従う最大温度対記録パワー
との変化を示す図面であって、横軸はチルトを示してお
り、縦軸はチルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０゜）の最大
温度ＴMAX対チルトに従う最大温度ＴMAXを正規化（Ｔｍ
ａｘtilt／Ｔｍａｘtilt=0）して示している。図４を通
じてチルトが大きくなるほど最大温度ＴMAXは波長が４
００ｎｍの場合が波長が６５０ｎｍの場合より激しく減
少することが分かり、同じ波長４００ｎｍを有しても記
録パワーＰWが大きくなるほど最大温度ＴMAXが減少する
ことが分かる。しかし、波長６５０ｎｍの場合には最大
温度ＴMAXが記録パワーＰWに従う変化に鈍いことが分か
る。
【００１１】さらに、光源として用いられる短波長のレ
ーザーダイオードは、温度変動に従って出射パワーが変
化すれば発光効率が低下するので、レーザーダイオード
を安定的に発光させてこそディスク上に記録された情報
をエラーなしに読出できて光ディスクシステムの信頼性
を高められる。
【００１２】図５はチルトに従う最大温度対記録時間の
変化を示す図面であって、横軸はチルトを示し、縦軸は
チルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０゜）の最大温度ＴMAX
対チルトに従う最大温度ＴMAXを正規化（Ｔｍａｘtilt
／Ｔｍａｘtilt＝０）して示している。図５を通じて図
４と同じようにチルトが大きくなるほど最大温度ＴMA X
は波長が４００ｎｍの場合が波長が６５０ｎｍの場合よ
り激しく減少することが分かり、同じ波長４００ｎｍを
有しても記録時間ＴWが短いほど最大温度ＴMAXが激しく
減少することが分かる。しかし、波長６５０ｎｍの場合
には最大温度Ｔ MAXが記録時間ＴWに従う変化に鈍いこと
が分かる。
【００１３】結果的に、チルトに従ってビームの強度が
波長４００ｎｍで非常に激しく減少するだけでなくビー
ムのスポットも大きくなるので、このような状態で記録
すれば希望の長さ及び幅を有するマークを記録できなく
てパワー密度が最終的に減少する。また、４００ｎｍ波
長を有するレーザービームを用いて高密度記録が要求さ
れるディスク上に記録時、非晶質マークを形成するのに
必要な温度が図４及び図５に示したようにチルトに従っ
て激しく減少するのでこのチルトの補償が要求される。
【００１４】一方、チルトを補償できる方法では、ディ
スクの製造側面で、表１で示す関係式からディスクの基
板厚さを現在用いられる０．６ｍｍよりさらに薄くして
チルトのマージンを増やすことができる。しかし、ディ
スクの基板の厚さが０．６ｍｍより薄い場合、製造側面
や特性面で問題があるため、単純に０．６ｍｍより薄く
製造できない。また、記録側面では入射ビームのフォー
カス深度が浅くなるにつれて集束ずれマージンが小さく
なり、従って少量の集束ずれが発生しても記録側面で問
題になる。これに対して赤色と青色波長で集束ずれに従
うビームの強度とスポット大きさの変化が示された図６
及び図７を結付けて説明する。
【００１５】図６は集束ずれに従うビームの強度変化を
示す図面であって、横軸は集束ずれを、縦軸は正規化さ
れたビームのピーク強度を各々示している。集束ずれが
大きくなるほど入射ビームの強度は波長が４００ｎｍで
開口数（ＮＡ）が０．６５の場合が、波長が６５０ｎｍ
で開口数が０．６の場合より非常に激しく減少するた
め、このような状態で記録すれば、希望の長さ及び幅を
有するマークを記録できない。また、同じ波長でも開口
数（ＮＡ）が大きくなるほどビームの強度が減少する。
【００１６】図７は集束ずれに従うビームのスポット大
きさの変化を示す図面であって、横軸は集束ずれを、縦
軸はスポット大きさ比を各々示している。集束ずれが大
きくなるほどスポット大きさは波長が４００ｎｍの場合
が波長が６５０ｎｍの場合より増加することが分かり、
同じ波長を有しても開口数（ＮＡ）が大きくなるほどス
ポット大きさが増加する。
【００１７】従って、集束ずれが発生してもチルトによ
る影響と同様にピークパワー及びスポット大きさに影響
があるため正常的な記録を行なうことができない。ま
た、集束ずれとチルトが共に発生する場合にはさらに問
題になる。集束ずれとチルトが同時に発生した場合のビ
ーム形状、ピークパワーとスポット大きさは図８及び図
９に示されている。
【００１８】図８はチルトと集束ずれが同時に発生する
時のビームプロファイルの変化を示している。曲線１は
正常状態のビームで、曲線２は集束ずれが０．２５μｍ
の場合のビーム形状で、曲線３は集束ずれが０．５μｍ
の場合のビーム形状で、曲線４はチルトが０．５゜の場
合のビーム形状で、曲線５はチルトが０．５゜で集束ず
れが０．２５μｍの場合のビーム形状で、曲線６はチル
トが０．５゜で集束ずれが０．５μｍの場合のビーム形
状である。横軸はビームのトラック(tangential)方向を
示し、縦軸は正規化されたビームの強度を示している。
【００１９】図９はチルトと集束ずれが同時に発生する
時ビームスポット大きさ及びピークパワー強度の変化を
示す図面であって、横軸は正常状態１、集束ずれが０．
２５μｍの場合２、集束ずれが０．５μｍの場合３、チ
ルトが０．５゜の場合４、チルトが０．５゜で集束ずれ
が０．２５μｍの場合５、チルトが０．５゜で集束ずれ
が０．５μｍの場合６を各々示している。縦軸は正常状
態のピーク強度対チルトと集束ずれがある場合のピーク
強度を正規化した値と、正常状態のスポット大きさとチ
ルトと集束ずれがある場合のスポット大きさを正規化し
た値を示している。集束ずれまたはチルトが大きくなる
ほどピークパワーの強度が小さくなりスポット大きさは
大きくなり、集束ずれまたはチルトが単独で発生した場
合より集束ずれとチルトが同時に発生した場合がピーク
パワーの強度がさらに小さくなり、スポット大きさはさ
らに大きくなることが分かる。
【００２０】図８及び図９に示した結果から、記録時集
束ずれまたはチルトが単独で発生した場合より集束ずれ
とチルトが同時に発生した場合がさらに深刻な影響を及
ぼす問題点があるので、チルト及び／または集束ずれの
補償が必要となった。
【００２１】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、光記録媒体のチルトに従って記録に必要なパワー及
び／または時間を調節して記録を遂行するチルト補償方
法を提供することにある。本発明の他の目的は、検出さ
れた光記録媒体のチルトに従って適応的に記録パルスを
補償する方法を提供することにある。本発明のさらに他
の目的は、検出された光記録媒体の集束ずれに従って適
応的に記録パルスを補償する方法を提供することにあ
る。
【００２２】本発明のさらに他の目的は、光記録媒体の
チルト及び集束ずれに従って記録に必要なパワー及び／
または時間を調節して記録を遂行するチルト及び集束ず
れ補償方法を提供することにある。本発明のさらに他の
目的は、検出された集束ずれを先ず補償した後検出され
たチルトを補償する方法を提供することにある。
【００２３】本発明のさらに他の目的は、検出された光
記録媒体のチルト及び／または集束ずれに従って適応的
に記録パルスの記録パターンを補償する方法を提供する
ことにある。本発明のさらに他の目的は、光記録媒体の
チルトに従って記録に必要なパワー及び／または時間を
調節して記録を遂行するチルト補償装置を提供すること
にある。本発明のさらに他の目的は、検出された光記録
媒体のチルトに従って適応的に記録パルスを補償するチ
ルト補償装置を提供することにある。
【００２４】本発明のさらに他の目的は、光記録媒体の
チルト及び／または集束ずれに従って記録に必要なパワ
ー及び／または時間を調節して記録を遂行するチルト及
び／または集束ずれ補償装置を提供することにある。本
発明のさらに他の目的は、検出された集束ずれを先ず補
償した後検出されたチルトを補償する装置を提供するこ
とにある。本発明のさらに他の目的は、検出された光記
録媒体のチルト及び／または集束ずれに従って適応的に
記録パルスの記録パターンを補償する装置を提供するこ
とにある。
【００２５】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明に係るチルト補償方法は、光記録媒体のチ
ルトを補償する方法において、光記録媒体のチルトを検
出する段階と、検出されたチルトに従って所定の体系を
用いて所定の記録パターンを有する記録信号を補償する
段階を含むことを特徴としている。本発明に係る集束ず
れ補償方法は、光記録媒体の集束ずれを補償する方法に
おいて、光記録媒体の集束ずれを検出する段階と、検出
された集束ずれに従って所定の体系により補償記録を遂
行する段階とを含むことを特徴としている。
【００２６】本発明に係るチルト及び集束ずれ補償方法
は、光記録媒体のチルト及び集束ずれを補償する方法に
おいて、光記録媒体の集束ずれを検出する段階と、検出
された集束ずれに従って所定の体系により所定の記録パ
ターンを有する記録パルスを補償する段階と、光記録媒
体のチルトを検出する段階と、検出されたチルトに従っ
て所定の記録パターンを有する記録パルスを補償する段
階とを含むことを特徴としている。
【００２７】本発明に係るチルト補償装置は、光記録媒
体上に情報を記録及び／または再生する装置において、
光記録媒体のチルトを検出するチルト検出器と、チルト
検出器により検出されたチルトに従って所定の体系を用
いて所定の記録パターンを有する記録信号を補償する記
録補償器とを含むことを特徴としている。本発明に係る
チルト及び／または集束ずれ補償装置は、光記録媒体上
に情報を記録及び／または再生する装置において、光記
録媒体の集束ずれ及び／またはチルトを検出する集束ず
れ／チルト検出器と、前記集束ずれ／チルト検出器によ
り検出された集束ずれ及び／またはチルトに従って所定
の体系により所定の記録パターンを有する記録パルスを
補償する記録補償器とを含むことを特徴としている。
【００２８】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面を参照して本
発明に係るチルト及び／または集束ずれ補償方法及びそ
の装置の望ましい実施形態を説明する。先ず、図２で前
述したようにチルトが発生すれば、入射ビームのピーク
強度が波長４００ｎｍの場合、非常に急激に減少するた
め記録パワーに対する補償が必要で、消去パワーも一定
の大きさだけ補償すべきである。
【００２９】また、図３において、前述したように波長
６５０ｎｍではチルトに従ってビームのスポット大きさ
の増加が鈍いが、波長４００ｎｍではそうでない。例え
ば、図３で波長６５０ｎｍで、チルト１゜に該当するス
ポット大きさが、波長４００ｎｍで開口数が０．７５の
場合にはチルトが０．３゜で発生する。従って、ビーム
のピーク強度が減少するだけでなく、ビームのスポット
大きさが増加してパワー密度が減少する効果が発生す
る。
【００３０】図４及び図５では、チルトに従う最大温度
の減少が波長６５０ｎｍより波長４００ｎｍでさらに激
しいことが分かる。この結果に基づいて同じチルトに対
して記録時マーク形成に必要なエネルギーの減少が波長
４００ｎｍで顕著であることが分かる。次に、波長６５
０ｎｍと波長４００ｎｍで記録パワーに従うマークの形
態を比較するためにマークの長さと幅を測定して、チル
トに従う変化量は各々図１０及び図１１に示されている
し、チルトが発生する場合、波長６５０ｎｍと波長４０
０ｎｍで記録パワーＰWに従う記録マークの長さＬと幅
Ｗの変化量がチルトがゼロ（ｔｉｌｔ＝０）の時を基準
として示されている。
【００３１】図１０はチルトに従う記録マークの長さ対
記録パワーとの変化を示す図面であって、横軸はチルト
を示しており、縦軸はチルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０
゜）の記録マークの長さＬ対チルトに従う記録マークの
長さＬを正規化（Ｌtilt／Ｌ tilt＝０）して示してい
る。図１０を通じてチルトが大きくなるほど記録マーク
の長さＬは波長が４００ｎｍの場合が波長が６５０ｎｍ
の場合より短くなることが分かり、同じ波長４００ｎｍ
を有しても記録パワーＰWが小さいほど記録マークの長
さＬが短くなることが分かる。
【００３２】図１１はチルトに従う記録マークの幅対記
録パワーとの変化を示す図面であって、横軸はチルトを
示し、縦軸はチルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０゜）の記
録マークの幅Ｗ対チルトに従う記録マークの幅Ｗを正規
化（Ｗtilt／Ｗtilt＝０）して示している。図１１を通
じてチルトが大きくなるほど記録マークの幅Ｗは波長４
００ｎｍの場合が波長６５０ｎｍの場合より縮み、同じ
波長４００ｎｍを有しても記録パワーＰWが小さいほど
記録マークの幅Ｗが縮むことが分かる。従って、図１０
及び図１１に示した結果からチルトに従う記録マークの
形態の変化において、記録マークの長さＬより記録マー
クの幅Ｗの縮みが大きいことが分かり、波長６５０ｎｍ
の時より波長４００ｎｍでより激しく縮むことが分か
る。
【００３３】例えば、図１０及び図１１に示した結果か
ら波長４００ｎｍでチルトが０．６゜の場合、記録パワ
ー５ｍＷから記録パワー７ｍＷに記録すれば記録マーク
の長さＬは約７２％から８８％程度、記録マークの幅Ｗ
は約５５％から７５％に増加することが分かる。即ち、
記録パワーの補償に従って記録マークの大きさが補償さ
れることを確認できる。従って、光ディスクシステムに
適用される記録データに対して記録波形をマルチ波形で
制御する記録方式などをさらに活用し、記録パワーだけ
でなく消去パワーをさらに用いて補償するならばチルト
がゼロ（ｔｉｌｔ＝０゜）の状態に近接できる。
【００３４】今まで説明したチルトに従う記録パワー別
記録マークの最大温度、マークの長さ及びマークの幅の
変化をまとめたテーブルは図１２に示されているが、図
１２Ａは波長が６５０ｎｍの場合で、図１２Ｂは波長が
４００ｎｍの場合である。一方、検出されたチルトに従
って記録時間を用いて補償できるが、一例として記録時
間を調節して記録マークの長さ方向に補償できる。従っ
て、記録に必要なパワーレベルと記録に必要な時間を用
いてチルトに従って補償して希望の長さと幅を有するマ
ークを記録できる。
【００３５】図１３はチルトに従う記録マークの長さ対
記録時間ＴＷとの変化を示す図面であって、横軸はチル
トを示し、縦軸はチルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０゜）
の記録マークの長さＬ対チルトに従う記録マークの長さ
Ｌを正規化（Ｌtilt／Ｌtilt＝０）して示している。図
１３を通じてチルトが大きくなるほど記録マークの長さ
Ｌは波長が４００ｎｍの場合が波長が６５０ｎｍの場合
より短くなり、同じ波長４００ｎｍを有しても記録時間
ＴWが小さいほど記録マークの長さＬが短くなることが
分かる。
【００３６】図１４はチルトに従う記録マークの幅対記
録時間ＴWとの変化を示す図面であって、横軸はチルト
を示し、縦軸はチルトがゼロの時（ｔｉｌｔ＝０゜）の
記録マークの幅Ｗ対チルトに従う記録マークの幅Ｗを正
規化（Ｗtilt／Ｗtilt＝０）して示している。図１４を
通じてチルトが大きくなるほど記録マークの幅Ｗは波長
４００ｎｍの場合が波長６５０ｎｍの場合より縮み、同
じ波長４００ｎｍを有しても記録時間ＴWが短いほど記
録マークの幅Ｗが縮むことが分かる。図１５はチルトに
従う記録時間ＴW別最大温度、マークの長さ及びマーク
の幅の変化を整理したテーブルで、図１５Ａは波長が６
５０ｎｍの場合で、図１５Ｂは波長が４００ｎｍの場合
である。
【００３７】一方、図６で前述したようにチルト／集束
ずれが発生すれば、波長４００ｎｍで入射ビームのピー
ク強度が非常に激しく減少するため記録パワーに対する
補償が必要である。また、図７で前述したように波長６
５０ｎｍではチルト／集束ずれに従ってビームのスポッ
ト大きさの増加が鈍いが、波長４００ｎｍでは激しい増
加を示している。このような結果は、集束ずれとチルト
が共に存在する時さらに深刻化することが図９を通じて
分かる。従って、集束ずれが発生すればビームのピーク
強度が減少するだけでなく、ビームのスポット大きさが
大きくなってパワー密度が減少する効果がチルトだけ発
生した時と同様に発生する。
【００３８】このような入射ビームの集束ずれ効果は、
波長６５０ｎｍと４００ｎｍで記録パワーに従うマーク
の形態（マークの長さと幅）に対して集束ずれに従う変
化を示す図１６を通じて分かる。正常状態の記録パワー
６ｍＷの場合より集束ずれが増加するにつれて、即ち、
０．２５μｍから０．５μｍに増加するにつれて記録さ
れたマークの長さ及び幅が段々縮まっている。集束ずれ
に従って縮まったマークの長さ及び幅を記録パワーで補
償する場合、集束ずれ０．２５μｍでは記録パワーが
６．７５ｍＷの時、集束ずれ０．５μｍでは記録パワー
が８ｍＷの時正常状態と同じマークの形態を得ることが
できる。従って、図１７に示したように集束ずれに従う
補償記録パワーを用いて希望の記録マーク、即ち、集束
ずれのない記録マークと同様に記録できることが分か
る。
【００３９】図１８はチルトがゼロの時、チルトが０．
５゜発生する時とチルト０．５゜と集束ずれ０．２５μ
ｍが同時に発生する時、各々記録パワーを正常記録パワ
ーの６ｍＷから１ｍＷずつ増やした場合に対応する記録
位置のシフト量、記録マークの長さと幅を測定した結果
がテーブルで示されている。チルトが０゜の時は最適記
録パワーが６ｍＷであるため、６ｍＷより大きい記録パ
ワーは無意味で、チルトが０．５゜の時は８ｍＷより大
きい記録パワーは無意味である。
【００４０】図１９は、図１８に示した結果に基づいて
チルトが０．５゜の場合と０．５゜のチルトと０．２５
μｍ集束ずれが同時に発生した場合の記録パワーに従う
記録マークの長さと幅の変化を示している。チルトが
０．５゜発生した場合の正常状態のマークの幅を得るた
めに必要な記録パワーと正常状態のマークの長さを得る
ために必要な記録パワーとの差（Δ１）と、チルト０．
５゜と集束ずれが０．２５μｍが同時に発生した場合の
正常状態のマークの幅を得るために必要な記録パワーと
正常状態のマークの長さを得るために必要な記録パワー
との差（Δ２）がほとんど同一であることが分かる。
【００４１】図２０は、図１９に示した結果に基づいて
チルトだけ発生した場合（チルトが０．５゜の時）記録
パワーだけでなく記録時間により記録パターンの補償効
果を説明するための図面であって、マークの長さの補償
は記録パワーで調節し、マークの幅は記録時間で補償す
ることが効果的である。特に、マークの幅を補償する時
図２１（ａ）に示した記録パターンの最初のパルスの終
了時間ＴEFP及び／または最後のパルスの開始時間ＴSLP
で補償する。記録パワーだけでチルトを補償する場合、
マークの長さは上記のように記録パワーで調節し、マー
クの幅は最初のパルスと最後のパルスとの間にあるマル
チパルスの記録パワーを調節して補償する場合もある。
【００４２】一方、図２１（ａ）に示したような入力Ｎ
ＲＺＩ(Non Return to Zero Inversion)データに対して
図２１（ｂ）に示したように記録パルスを構成してディ
スク上に記録する。ここで、このＮＲＺＩデータはマー
クとスペースに区分され、スペース期間にはレーザーダ
イオードがオフ状態である。ディスクがＤＶＤ(Digital
Versatile Disc)の場合、３Ｔ，４Ｔ，・・・１４Ｔ（こ
こでＴは１ビット長さ）の長さを有するＮＲＺＩデータ
のマークを最初のパルス、最後のパルス及びクーリング
パルスは変えずにマルチパルスの数だけ変えて記録す
る。
【００４３】即ち、ＤＶＤ規格に従う記録パルスの記録
パターンは最初のパルス、マルチパルス列と最後のパル
スよりなり、基本的な記録パルスの最初のパルスの上昇
エッジは記録マークの上昇エッジより一定時間遅延され
た時点で、最初のパルスの上昇エッジは１ｎｓ(nano se
cond)単位で前後にシフトでき、最後のパルスの上昇エ
ッジも１ｎｓ単位で前後にシフトでき、マルチパルス列
はいくつの短いパルスで分割して記録マークの後端部で
列の蓄積を縮めて記録マークの変形を起こせない。
【００４４】図２１（ｂ）に示した１は最初のパルスの
開始時間ＴSFPで、２は最初のパルスの終了時間Ｔ
EFPで、３は最後のパルスの開始時間ＴSLPで、４は最後
のパルスの終了時間ＴELPで、５はクーリングパルス期
間ＴLCである。また、ＰWは記録光出力（write power：
ピーク光出力ともいう）で、Ｐｒは再生光出力で、Ｐｂ
はバイアス光出力（消去光出力ともいう）である。従っ
て、図２１（ｂ）に示した記録パターンを有する記録パ
ルスを用いて入力ＮＲＺＩデータに対してディスク上に
マークとスペースとして記録される時、チルトによるビ
ームシフトによって、記録されたマークの開始点がシフ
トされる。これを補償するためにチルトに従って記録パ
ターンのシフトが必要である。
【００４５】図２２は、チルトに従う記録パワー別図２
１に示した記録パターンの変化、即ち、チルト及び記録
パワーに従ってマークの記録位置、シフト量、マークの
長さと幅の変化を示している。チルトが大きくなるほど
マークの記録位置のシフト量も大きくなり、マークの長
さと幅は小さくなることが分かる。また、同一チルトで
は記録パワーが大きくなるほどマークの記録位置のシフ
ト量は小さくなり、マークの長さと幅が大きくなること
が分かる。図２２に示したように、チルトが０゜の時は
最適記録パワーが６ｍＷであるため、６ｍＷより大きい
記録パワーは無意味で、チルトが０．５゜の時は８ｍＷ
より大きい記録パワーは無意味で、チルトが１．０゜の
時は記録パワー６ｍＷと７ｍＷでは記録を遂行できな
い。
【００４６】図２３は、図２２に示した結果からチルト
が０．５゜の時記録パワーによる記録パターン（マーク
の大きさと幅）の補償効果を説明するための図面であ
る。横軸は記録パワーＰＷを示し、縦軸は記録パワーが
６ｍＷの時、チルトが０゜で記録マークの長さと、幅対
チルトが０．５゜で記録パワーに従う記録マークの長さ
と幅を正規化（Ｌ，ＷPW,tilt=0.5／Ｌ，
ＷPW=6,tilt=0）して示している。
【００４７】チルトが存在する時（チルトが０．５
゜）、記録パワーが大きくなるほどマークの長さと幅が
大きくなることが分かり、記録パワーに従ってマークの
長さがより効果的に補償されることが分かる。例えば、
記録パワーが６ｍＷの時マークの長さは正常値の８５％
に該当し、マークの幅は正常値の７５％に該当するの
で、同じ記録パワーに対してマークの幅よりマークの長
さを補償することが効果的であることが分かる。
【００４８】図２４は、図２３に示した結果に基づいて
チルトが０．５゜の時記録パワーだけでなく記録時間に
より記録パターンの補償効果を説明するための図面であ
って、マークの長さの補償は記録パワーで調節し、マー
クの幅は記録時間で補償することが効果的であることが
分かる。特に、マークの幅を補償する時図２１（ｂ）に
示した記録パターンの最初のパルスの終了時間ＴEFP及
び／または最後のパルスの開始時間ＴSLPで補償する。
記録パワーだけでチルトを補償する場合、マークの幅は
最初のパルスと最後のパルスとの間にあるマルチパルス
の記録パワーを調節して補償する場合もある。
【００４９】図２２に示した結果に基づいてチルトに従
って記録パターンのシフト量、マークの長さと幅を補償
するための記録パワー及び／または記録時間などをメモ
リに予め貯蔵して検出されたチルトに従って適応的に補
償できる。また、メモリにはチルトだけでなく入力デー
タの記録パターン（マークの長さ）に従って記録パター
ンのシフト量、マークの長さと幅を補償するための記録
パワー及び／または記録時間などが貯蔵されうる。
【００５０】図２５は、２．６ＧＢ ＤＶＤ−ＲＡＭを
使用して検出された集束ずれに従う記録パワーの補償を
実験した結果であって、シミュレーション結果の図１６
と同じ傾向を示し、横軸は記録パワーを、縦軸は相対的
なマークの長さと幅を各々示している。２．６ＧＢ Ｄ
ＶＤ−ＲＡＭの正常状態のパワーが１２ｍＷ(=write po
wer)／３．０ｍＷ(=bias power)／５．５ｍＷ(=read po
wer)で、集束ずれが０．１ｍが発生した場合記録パワー
を増やせばマークの長さと幅が補償されることが分か
る。
【００５１】図２６は、図２５に示した同一ディスク
（２．６ＧＢ ＤＶＤ−ＲＡＭ）を用いてチルトが１゜
が発生した場合、記録パワー補償に従う記録マークの長
さと幅変化に対する結果を示す図面であって、横軸は記
録パワーを、縦軸は相対的なマークの長さと幅を各々示
している。チルトが存在する時記録パワーを制御すれば
マークの長さと幅が補償されることが分かる。
【００５２】図２７は、図２６に示した同一ディスク
（２．６ＧＢ ＤＶＤ−ＲＡＭ）を用いてチルトがない
場合とチルトが１゜の場合各パワーに従うジッタの変化
を示し、横軸は記録パワーを、縦軸はジッタ量を各々示
している。チルトのない正常状態では記録パワーが大き
くなってもジッタがほとんど発生しないが、チルトが存
在する場合には記録パワーが大きくなるほどジッタ量が
小さくなることが分かる。
【００５３】結論的に、集束ずれだけ発生した場合には
記録パワーだけで補償でき、集束ずれとチルトが共に発
生した場合にはチルトによるビームのシフトを全体的な
記録パターンをシフトして補償し、マークの長さの補償
は記録パワーで調節し、マークの幅の補償は記録時間で
調節するが、特に記録パターンの最初のパルスの終了時
間ＴEFP及び／または最後のパルスの開始時間ＴSLPで補
償する。また、記録パワーだけで集束ずれとチルトを補
償する場合、マークの長さは記録パワーで調節し、マー
クの幅は最初のパルスと最後のパルスとの間にあるマル
チパルスの記録パワーを調節して補償する場合もある。
【００５４】図２８は本発明の一実施形態に係るチルト
補償方法のフローチャートであって、Ｓ１０１段階では
チルトを検出し、Ｓ１０２段階では検出されたチルトが
ゼロ（ｔｉｌｔ＝０゜）かどうかを判断する。Ｓ１０２
段階でチルトのマージンα゜を考慮してチルトがα゜か
どうかを判断できる。Ｓ１０３段階では、検出されたチ
ルトがゼロでなければＳ１０１段階で検出されたチルト
に従って記録パルスの記録パターンをチルトを補償する
方向にシフトし、記録マークの長さと幅を補償してチル
トがゼロに近接に調節する（Ｓ１０４段階）。
【００５５】即ち、マークの長さの補償は記録パワーで
調節し、マークの幅の補償は記録時間で調節するが、特
に記録パターンの最初のパルスの終了時間ＴEFP及び／
または最後のパルスの開始時間ＴSLPで補償する。ま
た、記録パワーだけでチルトを補償する場合、マークの
長さの補償は上記のように記録パワーで調節し、マーク
の幅は最初のパルスと最後のパルスとの間にあるマルチ
パルスの記録パワーを調節して補償する場合もある。
【００５６】Ｓ１０５段階では、Ｓ１０２段階でチルト
がゼロであればレーザーダイオードに提供される記録に
必要なパワーと記録時間をそのまま維持して記録を遂行
したり、Ｓ１０４段階で提供される検出されたチルトに
従って記録に必要なパワー及び／または記録時間を有す
る記録パルスをレーザーダイオードに印加して記録を遂
行する。
【００５７】ここで、Ｓ１０３段階とＳ１０４段階で必
要なシフト量、記録パワー及び／または記録時間は、チ
ルト／入力データのマークの長さに従って記録パターン
のシフト量とマークの長さと幅を補償するための記録パ
ワー及び／または記録時間が貯蔵されたメモリを用いる
ことによって検出されたチルトを適応的に補償できる。
【００５８】図２９は本発明の他の実施形態に係るチル
ト及び集束ずれ補償方法のフローチャートであって、チ
ルト及び／または集束ずれを検出し（Ｓ２０１段階）、
検出された集束ずれが所定のマージンαμｍ以下かどう
かを判断する（Ｓ２０２段階）。Ｓ２０２段階で判断し
た結果が検出された集束ずれが所定のマージンαμｍよ
り大きければ検出された集束ずれに従って記録パワーを
調節し（Ｓ２０３段階）、Ｓ２０２段階で判断した結果
が集束ずれが所定のマージンαμｍ以下であればＳ２０
１段階で検出されたチルトが所定のマージンβ゜以下か
どうかを判断する（Ｓ２０４段階）。
【００５９】Ｓ２０４段階で判断した結果がチルトが所
定のマージンβ゜より大きければ、検出されたチルトに
従って記録パルスの記録パターンを、チルトによりシフ
トされただけ逆方向にシフトした後（Ｓ２０５段階）、
記録マークの長さと幅を補償してチルトがゼロに近接す
るように調節する（Ｓ２０６段階）。Ｓ２０６段階でマ
ークの長さの補償は記録パワーで調節し、マークの幅の
補償は記録時間で調節するが、特に記録パターンの最初
のパルスの終了時間ＴEFP及び／または最後のパルスの
開始時間ＴSLPで補償する。また、記録パワーだけでチ
ルトを補償する場合、マークの長さは前記のように記録
パワーで調節し、マークの幅は最初のパルスと最後のパ
ルスとの間にあるマルチパルスの記録パワーを調節して
補償する場合もある。
【００６０】Ｓ２０７段階では、集束ずれが所定のマー
ジンαμｍ以下だけでなくＳ２０４段階でチルトが所定
のマージンβ゜以下であれば、レーザーダイオードに提
供される記録に必要なパワー及び／または時間をそのま
ま維持して記録を遂行したり、Ｓ２０３段階で検出され
た集束ずれに従って補償された記録パワーまたはＳ２０
６段階で検出されたチルトに従って補償された記録に必
要なパワー及び／または時間を有する記録パルスをレー
ザーダイオードに印加して記録を遂行する。
【００６１】ここで、Ｓ２０３段階で集束ずれに従う補
償記録パワーとＳ２０５段階とＳ２０６段階で必要なシ
フト量、記録パワー及び／または記録時間はチルト／入
力データの記録パターン（マークの長さ）に従って記録
パターンのシフト量とマークの長さと幅を補償するため
の記録パワー及び／または記録時間が貯蔵されたメモリ
を用いることによって検出されたチルト及び／または集
束ずれを適応的に補償できる。また、メモリには集束ず
れとチルトが同時に発生した場合、集束ずれまたはチル
トが単独で発生した場合に各々対応して記録に必要なパ
ワー及び／または時間、シフト量が貯蔵されうる。
【００６２】図３０は本発明の一実施形態に係るチルト
補償装置のブロック図であって、参照符号１０２は光デ
ィスク、１０４はピックアップ部、１０６は再生信号検
出器、１０８はチルト検出器、１１０は記録補償器、１
１２はレーザーダイオードＬＤ駆動器である。図３０に
おいて、光ディスク１０２を駆動させるピックアップ部
１０４は、対物レンズ１、半ミラー２、コリメーターレ
ンズ３などを含む光学系、ディスク１０２から反射され
てくる光信号を多分割して検出する光検出器ＰＤ、レー
ザーダイオードＬＤ、図面には示されなかったが、集束
及びトラッキングを行なうためのアクチュエータなどの
メカニズムを内蔵している。
【００６３】望ましい一例として、ピックアップ部１０
４のレーザーダイオード波長が約４３０ｎｍ（青色波
長）以下のものを使用し、ディスク基板の厚さが０．３
ｍｍ以上であれば対物レンズの開口数が０．６以上のも
のを使用し、ディスク基板の厚さが０．３ｍｍ以下であ
れば、対物レンズの開口数が０．７以上のものを使用す
る。
【００６４】再生信号検出器１０６は光検出器ＰＤの出
力信号から再生信号を検出する。チルト検出器１０８
は、再生信号検出器１０６から提供される再生信号また
は光検出器ＰＤの出力信号を用いて光ディスク１０２の
チルトを検出する。このチルト検出器１０８はトラック
方向のチルトだけを検出しても構わない。
【００６５】記録補償器１１０は、チルトに従って記録
マークの開始点がチルトを補償する方向にシフトさせる
ためにチルト検出器１０８で検出されたチルトに従って
シフト量だけ大きさ時間的に先立って記録パルスを発生
する。また、マークの長さの補償は記録パワーで調節
し、マークの幅の補償は記録時間で調節するが、ここで
マークの幅は記録パターンの最初のパルスの終了時間Ｔ
EFP及び／または最後のパルスの開始時間ＴSLPで補償す
る。また、記録パワーだけでチルトを補償する場合、マ
ークの長さの補償は前記のように記録パワーで調節し、
マークの幅は最初のパルスと最後のパルスとの間にある
マルチパルスの記録パワーを調節して補償する場合もあ
る。
【００６６】また、記録補償器１１０はチルトに従って
記録パターンのシフト量、マークの長さと幅を補償する
ための記録パワー及び／または記録時間などが貯蔵され
たメモリを内蔵して、チルト検出器１０８で検出された
チルトに従って適応的に補償できる。また、メモリには
チルトだけでなく入力データの記録パターン（マークの
長さ）に従って記録パターンのシフト量、マークの長さ
と幅を補償するための記録パワー及び／または記録時間
などが貯蔵されうる。
【００６７】レーザーダイオードＬＤ駆動器１１２は、
記録補償器１１０で調節された記録パルスのパワーレベ
ルに従って記録時間だけ電流信号に変換してレーザーダ
イオードＬＤに流せて、ピックアップ部１０４により光
ディスク１０２に記録を遂行する。即ち、レーザーダイ
オードを連続的にオンまたはオフさせて光ディスクに熱
を加えれば記録データが記録マークで記録される。
【００６８】図３１は、本発明の他の実施形態に係るチ
ルト及び集束ずれ補償装置の一実施形態に係るブロック
図であって、参照符号２０２は光ディスク、２０４はピ
ックアップ部、２０６は再生信号検出器、２０８は集束
ずれ／チルト検出器、２１０は記録補償器、２１２はレ
ーザーダイオードＬＤ駆動器である。図３１において、
光ディスク２０２を駆動させるピックアップ部２０４
は、対物レンズ１１、半ミラー１２、コリメーターレン
ズ１３などを含む光学系、ディスク２０２から反射され
てくる光信号を多分割して検出する光検出器ＰＤ、レー
ザーダイオードＬＤ、図面には示されなかったが、集束
及びトラッキングを行なうためのアクチュエータなどの
メカニズムを内蔵している。
【００６９】望ましい一例として、ピックアップ部２０
４のレーザーダイオード波長が約４３０ｎｍ（青色波
長）以下のものを使用し、ディスク基板の厚さが０．３
ｍｍ以上であれば対物レンズの開口数が０．６以上のも
のを使用し、ディスク基板の厚さが０．３ｍｍ以下であ
れば、対物レンズの開口数が０．７以上のものを使用す
る。再生信号検出器２０６は光検出器ＰＤの出力信号か
ら再生信号を検出する。集束ずれ／チルト検出器２０８
は、再生信号検出器２０６から提供される再生信号また
は光検出器ＰＤの出力信号を用いて集束ずれ／ディスク
のチルトを検出する。チルト検出時トラック方向のチル
トだけを検出しても構わない。
【００７０】記録補償器２１０は、集束ずれ／チルト検
出器２０８で集束ずれが検出されれば検出された集束ず
れに従って記録パワーを補償した記録パルスを発生し、
チルトが検出されれば記録マークの開始点をシフトさせ
るために検出されたチルトに従ってシフト量だけ時間的
に先立って記録パルスを発生させるが、この時、マーク
の長さの補償は記録パワーで調節し、マークの幅の補償
は記録時間で調節するが、ここでマークの幅は記録パタ
ーンの最初のパルスの終了時間ＴEFP及び／または最後
のパルスの開始時間ＴSLPで補償する。また、記録パワ
ーだけでチルトを補償する場合、マークの長さの補償は
前記のように記録パワーで調節し、マークの幅は最初の
パルスと最後のパルスとの間にあるマルチパルスの記録
パワーを調節して補償する場合もある。
【００７１】また、記録補償器２１０は集束ずれに従う
補償記録パワー、チルト／入力データのマークの長さに
従って記録パターンのシフト量、マークの長さと幅を補
償するための記録パワー及び／または記録時間などが貯
蔵されたメモリを内蔵して、集束ずれ／チルト検出器２
０８で検出されたチルト及び／または集束ずれに従って
適応的に補償できる。
【００７２】レーザーダイオードＬＤ駆動器１１２は、
記録補償器１１０で調節された記録パルスのパワーレベ
ルに従って記録時間だけ電流信号に変換してレーザーダ
イオードＬＤに流せて、ピックアップ部１０４により光
ディスク１０２に記録を遂行する。即ち、レーザーダイ
オードを連続的にオンまたはオフさせて光ディスクに熱
を加えば記録データが記録マークで記録される。
【００７３】本発明は記録に必要なパワー（記録パワ
ー、消去パワーなど）レベルを、検出されたチルト及び
／または集束ずれに従って一定大きさだけ増やし、記録
時間も調節する。結果的にチルト及び／または集束ずれ
がない時と類似の温度まで到達でき、従って希望の大き
さ（長さ、幅）のマークを記録できる。
【００７４】
【発明の効果】前述したように、本発明は検出されたチ
ルト及び／または集束ずれに従って記録に必要なパワー
レベル及び／または記録に必要な時間を調節して記録を
補償することによって希望の大きさ（長さ、幅）のマー
クを記録できる効果があって、高密度光ディスクシステ
ムに適している。
【図面の簡単な説明】
【図１】 波長と開口数に従うコマ収差を説明するため
の図面である。
【図２】 チルトに従うピーク強度変化を示す図面であ
る。
【図３】 チルトに従うスポット大きさの変化を示す図
面である。
【図４】 チルトに従う最大温度対記録パワーとの変化
を示す図面である。
【図５】 チルトに従う最大温度対記録時間との変化を
示す図面である。
【図６】 集束ずれに従うピーク強度変化を示す図面で
ある。
【図７】 集束ずれに従うスポット大きさの変化を示す
図面である。
【図８】 集束ずれとチルトが同時に発生した場合のビ
ームのプロファイル変化を示す図面である。
【図９】 集束ずれとチルトが同時に発生した場合のビ
ームスポット大きさとピーク強度の変化を示す図面であ
る。
【図１０】 チルトに従う記録マークの長さ対記録パワ
ーとの変化を示す図面である。
【図１１】 チルトに従う記録マークの幅対記録パワー
との変化を示す図面である。
【図１２】 図１２Ａと図１２Ｂは、各々波長が６５０
ｎｍの場合と波長が４００ｎｍの場合、チルトに従う記
録パワー別最大温度、記録マークの長さと記録マークの
幅の変化を整理したテーブルである。
【図１３】 チルトに従う記録マークの長さ対記録時間
との変化を示す図面である。
【図１４】 チルトに従う記録マークの幅対記録時間と
の変化を示す図面である。
【図１５】 図１５Ａと図１５Ｂは、各々波長が６５０
ｎｍの場合と波長が４００ｎｍの場合、チルトに従う記
録時間別最大温度、記録マークの長さと記録マークの幅
の変化を整理したテーブルである。
【図１６】 集束ずれが０．２５μｍと０．５μｍの
時、記録パワーの補償効果を示す図面である。
【図１７】 集束ずれに従う補償記録パワーを示す図面
である。
【図１８】 チルト／集束ずれに従う記録パワー別記録
パルスのシフト量と記録マークの長さと記録マークの幅
の変化を示すテーブルである。
【図１９】 チルトが０．５゜の時とチルト０．５゜及
び集束ずれ０．２５μｍの時の記録パワー補償効果を示
す図面である。
【図２０】 チルトが０．５゜の時、記録パワーと記録
時間に従う補償効果を示す図面である。
【図２１】 図２１（ａ）と図２１（ｂ）は、本発明に
係るチルト及び／または集束ずれ補償に用いられる記録
パルスの記録パターンを示す図面である。
【図２２】 チルトに従う記録パワー別記録パルスのシ
フト量と記録マークの長さと記録マークの幅の変化を示
すテーブルである。
【図２３】 チルト０．５゜で記録パワーによる記録マ
ークの長さ及び記録マークの幅の補償効果を示す図面で
ある。
【図２４】 チルト０．５゜で記録パワーと記録時間の
変化に従う記録マークの長さ及び記録マークの幅の補償
効果を示す図面である。
【図２５】 ２．６ＧＢ ＤＶＤ−ＲＡＭで集束ずれが
１μｍの時の記録補償効果を示す図面である。
【図２６】 ２．６ＧＢ ＤＶＤ−ＲＡＭでチルトが
１．０゜の時の記録補償効果を示す図面である。
【図２７】 ２．６ＧＢ ＤＶＤ−ＲＡＭでチルトが
１．０゜の時の記録補償効果に従うジッタ変化を示す図
面である。
【図２８】 本発明の一実施形態に係るチルト補償方法
のフローチャートである。
【図２９】 本発明の他の実施形態に係るチルト及び集
束ずれ補償方法のフローチャートである。
【図３０】 本発明の一実施形態に係るチルト補償装置
のブロック図である。
【図３１】 本発明の他の実施形態に係るチルト及び集
束ずれ補償装置の一実施形態に係るブロック図である。
【符号の説明】
１１ 対物レンズ １２ 半ミラー １３ コリメーターレンズ １０２ 光ディスク １０４ ピックアップ部 １０６ 再生信号検出器 １０８ チルト検出器 １１０ 記録補償器 １１２ レーザーダイオードＬＤ駆動器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 朱 盛晨 大韓民国京畿道水原市八達区靈通洞972− ２番地住公アパート834棟503号 (72)発明者 朴 仁植 大韓民国京畿道水原市勧善区勧善洞1035番 地勧善２次アパート220棟502号

Claims (40)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光記録媒体のチルトを補償する方法にお
    いて、 （ａ） 前記光記録媒体のチルトを検出する段階と、 （ｂ） 検出されたチルトに従って所定の体系を用いて
    所定の記録パターンを有する記録信号を補償する段階を
    含む方法。
  2. 【請求項２】 前記所定の体系は、前記記録信号を記録
    するのに必要な光パワーレベルを調節することを特徴と
    する請求項１に記載の方法。
  3. 【請求項３】 前記所定の体系は、前記記録信号を記録
    するのに必要な時間を調節することを特徴とする請求項
    １に記載の方法。
  4. 【請求項４】 前記（ｂ）段階は、 （ｂ１） 前記検出されたチルトに従って記録パターン
    をシフトする段階と、 （ｂ２） 前記記録信号に対応する記録マークの大きさ
    を補償するために前記検出されたチルトに従って記録に
    必要なパワー及び／または時間を調節する段階とを含む
    請求項１に記載の方法。
  5. 【請求項５】 前記（ｂ２）段階では、前記マークの長
    さの補償は記録に必要なパワーで調節し、前記マークの
    幅の補償は記録に必要な時間で調節することを特徴とす
    る請求項４に記載の方法。
  6. 【請求項６】 前記マークの長さの補償は記録パワーで
    調節し、前記マークの幅の補償は記録パターンの最初の
    パルスの終了時間及び／または最後のパルスの開始時間
    で調節することを特徴とする請求項５に記載の方法。
  7. 【請求項７】 前記（ｂ２）段階では、前記マークの長
    さの補償は記録パワーで調節し、前記マークの幅の補償
    は記録パターンのマルチパルス列の記録パワーを調節す
    ることを特徴とする請求項４に記載の方法。
  8. 【請求項８】 入力データに対して所定の記録パターン
    を有する記録パルスによりマークとスペースで記録され
    ている光記録媒体のチルトを補償する方法において、 （ａ） 前記光記録媒体のチルトを検出する段階と、 （ｂ） チルト及び／またはマークの長さに従って記録
    パターンのシフト量、マークの長さと幅を補償するため
    に記録に必要なパワー及び／または時間などが貯蔵され
    たメモリを用いて前記（ａ）段階で検出されたチルトに
    従って適応的に記録パターンを補償する段階を含む方
    法。
  9. 【請求項９】 光記録媒体の集束ずれを補償する方法に
    おいて、 （ａ） 前記光記録媒体の集束ずれを検出する段階と、 （ｂ） 検出された集束ずれに従って所定の体系により
    補償記録を遂行する段階とを含む方法。
  10. 【請求項１０】 前記所定の体系は、検出された集束ず
    れに従って光パワーレベルを調節することを特徴とする
    請求項９に記載の方法。
  11. 【請求項１１】 光記録媒体のチルト及び集束ずれを補
    償する方法において、 （ａ） 前記光記録媒体の集束ずれを検出する段階と、 （ｂ） 検出された集束ずれに従って所定の体系により
    所定の記録パターンを有する記録パルスを補償する段階
    と、 （ｃ） 前記光記録媒体のチルトを検出する段階と、 （ｄ） 検出されたチルトに従って所定の記録パターン
    を有する記録パルスを補償する段階とを含む方法。
  12. 【請求項１２】 前記所定の体系は、検出された集束ず
    れに従って光パワーレベルを調節することを特徴とする
    請求項１１に記載の方法。
  13. 【請求項１３】 前記（ｄ）段階は、 （ｄ１） 前記検出されたチルトに従って記録パターン
    をチルトに従ってシフトされただけ逆方向にシフトする
    段階と、 （ｄ２） 前記記録信号に対応する記録マークの大きさ
    を補償するために記録に必要なパワー及び／または時間
    を調節する段階とを含むことを特徴とする請求項１１に
    記載の方法。
  14. 【請求項１４】 前記（ｄ２）段階では、前記マークの
    長さの補償は記録に必要なパワーで調節し、前記マーク
    の幅の補償は記録に必要な時間で調節することを特徴と
    する請求項１３に記載の方法。
  15. 【請求項１５】 前記マークの長さの補償は記録パワー
    で調節し、前記マークの幅の補償は記録パターンの最初
    のパルスの終了時間／最後のパルスの開始時間で調節す
    ることを特徴とする請求項１４に記載の方法。
  16. 【請求項１６】 前記（ｄ２）段階では、前記マークの
    長さの補償は記録パワーで調節し、前記マークの幅の補
    償は記録パターンのマルチパルス列の記録パワーを調節
    することを特徴とする請求項１３に記載の方法。
  17. 【請求項１７】 入力データに対して所定の記録パター
    ンを有する記録パルスによりマークとスペースで記録さ
    れている光記録媒体のチルト及び／または集束ずれを補
    償する方法において、 （ａ） 前記光記録媒体のチルト及び／または集束ずれ
    を検出する段階と、 （ｂ） 集束ずれに従う補償記録パワー、チルト／マー
    クの長さに従って記録パターンのシフト量、マークの長
    さと幅を補償するために記録に必要なパワー及び／また
    は時間などが貯蔵されたメモリを用いて前記（ａ）段階
    で検出されたチルト及び／または集束ずれに従って適応
    的に記録パターンを補償する段階とを含む方法。
  18. 【請求項１８】 光記録媒体上に情報を記録及び／また
    は再生する装置において、 光記録媒体のチルトを検出するチルト検出器と、 前記チルト検出器により検出されたチルトに従って所定
    の体系を用いて所定の記録パターンを有する記録信号を
    補償する記録補償器とを含むチルト補償装置。
  19. 【請求項１９】 前記所定の体系は、前記記録信号を記
    録するのに必要な光パワーレベルを調節することを特徴
    とする請求項１８に記載のチルト補償装置。
  20. 【請求項２０】 前記所定の体系は、前記記録信号を記
    録するのに必要な時間を調節することを特徴とする請求
    項１８に記載のチルト補償装置。
  21. 【請求項２１】 前記記録補償器は、前記検出されたチ
    ルトに従って記録パターンをシフトさせ、マークの長さ
    と幅を記録に必要なパワー及び／または時間で補償する
    ことを特徴とする請求項１８に記載のチルト補償装置。
  22. 【請求項２２】 前記マークの長さの補償は記録に必要
    なパワーで調節し、前記マークの幅の補償は記録に必要
    な時間で調節することを特徴とする請求項２１に記載の
    チルト補償装置。
  23. 【請求項２３】 前記マークの長さの補償は記録パワー
    で調節し、前記マークの幅の補償は記録パターンの最初
    のパルスの終了時間／最後のパルスの開始時間で調節す
    ることを特徴とする請求項２２に記載のチルト補償装
    置。
  24. 【請求項２４】 前記マークの長さの補償は記録パワー
    で調節し、前記マークの幅の補償は記録パターンのマル
    チパルス列のパワーを調節することを特徴とする請求項
    ２１に記載のチルト補償装置。
  25. 【請求項２５】 前記光源の波長が約青色波長４３０ｎ
    ｍ以下であることを特徴とする請求項１８に記載のチル
    ト補償装置。
  26. 【請求項２６】 前記光記録媒体の基板厚さが０．３ｍ
    ｍ以上で、対物レンズの開口数が０．６以上であること
    を特徴とする請求項１８に記載のチルト補償装置。
  27. 【請求項２７】 前記光記録媒体の基板厚さが０．３ｍ
    ｍ以下で、対物レンズの開口数が０．７以上であること
    を特徴とする請求項１８に記載のチルト補償装置。
  28. 【請求項２８】 入力データに対して所定の記録パター
    ンを有する記録パルスによりマークとスペースで記録さ
    れている光記録媒体のチルトを補償する装置において、 前記光記録媒体のチルトを検出するチルト検出器と、 チルト及び／またはマークの長さに従って記録パターン
    のシフト量、マークの長さと幅を補償するために記録に
    必要なパワー及び／または時間などが貯蔵されたメモリ
    を用いて前記チルト検出器で検出されたチルトに従って
    適応的に記録パターンを補償する記録補償器とを含むチ
    ルト補償装置。
  29. 【請求項２９】 光記録媒体上に情報を記録及び／また
    は再生する装置において、 光記録媒体の集束ずれ及び／またはチルトを検出する集
    束ずれ／チルト検出器と、 前記集束ずれ／チルト検出器により検出された集束ずれ
    及び／またはチルトに従って所定の体系により所定の記
    録パターンを有する記録パルスを補償する記録補償器と
    を含むチルト／集束ずれ補償装置。
  30. 【請求項３０】 前記所定の体系は、検出された集束ず
    れに従って前記記録パルスを記録するのに必要な光パワ
    ーレベルを調節することを特徴とする請求項２９に記載
    のチルト／集束ずれ補償装置。
  31. 【請求項３１】 前記所定の体系は、検出されたチルト
    に従って前記記録パルスを記録するのに必要なパワー及
    び／または時間を調節することを特徴とする請求項２９
    に記載のチルト／集束ずれ補償装置。
  32. 【請求項３２】 前記記録補償器は、前記検出された集
    束ずれに従って記録パワーを調節した後、前記検出され
    たチルトに従って記録パターンをチルトに従ってシフト
    されただけ補償するために時間的に先立つ記録パルスを
    生成し、マークの長さと幅を補償するためにパワー及び
    ／または時間が調節された記録パターンを有する補償さ
    れた記録パルスを生成することを特徴とする請求項２９
    に記載のチルト／集束ずれ補償装置。
  33. 【請求項３３】 前記マークの長さの補償は記録に必要
    なパワーで調節し、前記マークの幅の補償は記録に必要
    な時間で調節することを特徴とする請求項３２に記載の
    チルト／集束ずれ補償装置。
  34. 【請求項３４】 前記マークの長さの補償は記録パワー
    で調節し、前記マークの幅の補償は記録パターンの最初
    のパルスの終了時間／最後のパルスの開始時間で調節す
    ることを特徴とする請求項３３に記載のチルト／集束ず
    れ補償装置。
  35. 【請求項３５】 前記マークの長さの補償は記録パワー
    で調節し、前記マークの幅の補償は記録パターンのマル
    チパルス列のパワーを調節することを特徴とする請求項
    ３２に記載のチルト／集束ずれ補償装置。
  36. 【請求項３６】 前記光源の波長が約青色波長４３０ｎ
    ｍ以下であることを特徴とする請求項２９に記載のチル
    ト／集束ずれ補償装置。
  37. 【請求項３７】 前記光記録媒体の基板厚さが０．３ｍ
    ｍ以上で、対物レンズの開口数が０．６以上であること
    を特徴とする請求項２９に記載のチルト／集束ずれ補償
    装置。
  38. 【請求項３８】 前記光記録媒体の基板厚さが０．３ｍ
    ｍ以下で、対物レンズの開口数が０．７以上であること
    を特徴とする請求項２９に記載のチルト／集束ずれ補償
    装置。
  39. 【請求項３９】 入力データに対して所定の記録パター
    ンを有する記録パルスによりマークとスペースで記録さ
    れている光記録媒体のチルト及び／または集束ずれを補
    償する装置において、 前記光記録媒体の集束ずれ及び／またはチルトを検出す
    る集束ずれ／チルト検出器と、 集束ずれに従う補償記録パワー、チルト／マークの長さ
    に従って記録パターンのシフト量、マークの長さと幅を
    補償するための記録に必要なパワー及び／または時間な
    どが貯蔵されたメモリを用いて前記集束ずれ／チルト検
    出器から検出された集束ずれ及び／またはチルトに従っ
    て適応的に記録パターンを補償する記録補償器とを含む
    チルト／集束ずれ補償装置。
  40. 【請求項４０】 前記メモリには集束ずれとチルトが同
    時に発生した場合、集束ずれまたはチルトが単独で発生
    した場合に各々対応して記録に必要なパワー及び／また
    は時間、シフト量が貯蔵されていることを特徴とする請
    求項３９に記載のチルト／集束ずれ補償装置。
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