JP2004216715A

JP2004216715A - 射出成形機のモニタ装置

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Publication number: JP2004216715A
Application number: JP2003006705A
Authority: JP
Inventors: Osamu Saito; 修齋藤; Kenji Araki; 賢治荒木
Original assignee: Fanuc Corp
Current assignee: Fanuc Corp
Priority date: 2003-01-15
Filing date: 2003-01-15
Publication date: 2004-08-05
Anticipated expiration: 2023-01-15
Also published as: US20050092113A1; US20040139810A1; US20070113691A1; CN1292887C; DE102004001010B4; US7261009B2; US20080184826A1; US6904819B2; JP3830453B2; CN1517197A; DE102004001010A1

Abstract

【課題】成形の安定性をも含めて、成形状態を判別できるようなモニタ装置を提供する。
【解決手段】各成形サイクル毎に変量（射出圧力、射出速度）を所定サンプリング周期毎に検出し、最新の成形サイクルから過去複数の成形サイクル数分を記憶する。第１軸を時間（サンプリング回数）、第２軸を変量の値、第３軸を成形サイクルとして、記憶した各成形サイクルの変量の変化パターンを、３次元的にグラフ表示する。１成形サイクルにおける変量変化パターンは、第１軸と第２軸によって把握できる。又、各成形サイクル間の変量変化パターンの変化は第３軸方向の各変量パターンを比較して把握できる。これにより、成形状態が安定しているか否かも判別できる。
【選択図】図５

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、射出成形機における成形状態を監視するモニタ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
射出成形サイクルにおける射出中の射出速度、射出圧力等の各種変量の状態は、成形状態の良否を表すものとみることができる。そのため、成形中の各種変量をサンプリングして表示装置上にグラフ表示し、成形条件の調整、評価、成形の安定性を判断する材料としている。特に、成形の安定性を評価する場合、複数の成形サイクルにわたって波形を重ね描きすることで各成形サイクルの波形の変遷，バラツキ等を判別できるようにして、成形安定性の評価を行っている。
【０００３】
この成形サイクルの波形の変遷、推移を把握するには、描画された成形サイクル波形の順位を判別する必要があるが、波形グラフを重ね描きすると波形が重なり合い、成形サイクル間の波形の推移を判別することが困難となる。そのため、最新の波形グラフとそれより前の波形グラフの波形を色分けして描画することによって、成形サイクル波形の時間的推移を判別するようにした方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
又、例えば、横軸（第１軸）にショット数（成形サイクル数）、縦軸（第２軸）に射出開始位置又はクッション量をとり、第３軸にロットをとって、３次元的に３種類のモニタリングデータ間の相関関係を表示するようにしたものも知られている（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】
特公平６−９８６５０号公報
【特許文献２】
特開２００２−２７３７７３号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
成形状態の安定性を判断するには、単一成形サイクル内における各種変量の時間的推移、変化と共に、複数成形サイクル間のその推移、変化を観察、判別できることが望ましい。すなわち、単一成形サイクルにおける各変量の変化推移パターンが分かり、複数成形サイクル間のパターンの変化、推移も判別できることが望ましい。前述した従来の成形波形パターンを色分けして表示する特許文献１に記載された方法では、色の変化によって、最新の波形パターンと過去の波形パターンが色分けされて判別できるが、過去の波形パターンは同一色であり、かつ、過去の波形パターンも最新の波形パターンも重ね描きされていることから、波形パターンが重なり合って、その変化、推移、変化傾向等を判別することは難しい。
【０００６】
また、特許文献２に記載された方法では、ロット間の波形パターンを比較し、ロット間の違い等が判別することができるが、単一成形サイクルにおける変量の変化波形パターンの変化、推移を判別することはできず、成形の安定性を判別することはできない。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、成形の安定性をも含めて、成形状態を判別できるような射出成形機のモニタ装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
射出成形機のモニタ装置であって、請求項１に係わる発明は、射出成形工程における１成形サイクル中に変化する変量を所定周期毎に検出して記憶するサンプリング手段と、時間を第１軸とし、前記変量を第２軸とし、成形サイクル数を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示する手段を設け、３次元的に変量変化パターンをグラフ表示するようにした。又、請求項２に係わる発明は、サンプリング手段で検出する変量として、少なくとも可動部材の位置と他の１以上の変量とし、グラフ表示する手段が前記可動部材の位置を第１軸、前記他の変量を第２軸、成形サイクル数を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示するようにした。
【０００９】
請求項３に係わる発明は、さらに、各成形サイクルにおける所定のタイミングにおける時刻を記憶する手段を設け、グラフ表示する手段により時間を第１軸、前記変量を第２軸、前記時刻を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示するようにした。又、請求項４に係わる発明は、サンプリング手段で検出する変量を少なくとも可動部材の位置と他の１以上の変量とし、各成形サイクルにおける所定のタイミングにおける時刻を記憶する手段を設け、グラフ表示する手段で、前記可動部材の位置を第１軸、前記変量を第２軸、前記時刻を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示するようにした。
請求項５に係わる発明は、前記サンプリング手段が射出成形機に内蔵されているものとし、請求項６に係わる発明は、前記サンプリング手段を射出成形機の外部に設け射出成形機に接続されているものとした。さらに、請求項７に係わる発明は、グラフ表示手段が射出成形機に内蔵されるものとした。請求項８に係わる発明は、グラフ表示手段を射出成形機の外部に設けて射出成形機に接続するようにした。請求項９に係わる発明は、前記変量を、特定の成形サイクルの変量値を基準変量としてサンプリングした変量と基準変量との差とした。
【００１０】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明を実施する各実施形態におけるモニタ装置を構成する射出成形機の制御装置の要部と射出成形機の要部を記載したブロック図である。
符号１は射出成形機の射出シリンダ、符号２はスクリュである。スクリュ２は、回転運動を射出軸方向の直線運動に変換するための駆動変換機５を介して射出用サーボモータＭ１により射出軸方向に駆動され、また、伝動機構３を介してスクリュ回転用サーボモータＭ２により計量回転されるようになっている。スクリュ２の基部には圧力検出器４が設けられ、スクリュ２の軸方向に作用する樹脂圧力、すなわち、射出工程における射出圧力や計量混練り工程におけるスクリュ背圧が検出される。射出用サーボモータＭ１にはパルスコーダ等のスクリュ２の位置や移動速度である射出速度を検出するための位置・速度検出器Ｐ１が配備されている。また、スクリュ回転用サーボモータＭ２には、スクリュ２の回転速度を検出するための速度検出器Ｐ２が配備されている。
【００１１】
射出成形機の制御装置１０は、数値制御用のマイクロプロセッサであるＣＮＣ用ＣＰＵ２５、プログラマブルマシンコントローラ用のマイクロプロセッサであるＰＭＣ用ＣＰＵ１８、サーボ制御用のマイクロプロセッサであるサーボＣＰＵ２０、および、Ａ／Ｄ変換器１６を介して射出圧力やスクリュ背圧のサンプリング処理を行うためのマイクロプロセッサの圧力モニタ用ＣＰＵ１７を有し、バス２２を介して相互の入出力を選択することにより各マイクロプロセッサ間での情報伝達が行えるようになっている。
【００１２】
ＰＭＣ用ＣＰＵ１８には、射出成形機のシーケンス動作を制御するシーケンスプログラムやモニタデータ表示処理のプログラム等を記憶したＲＯＭ１３および演算データの一時記憶等に用いられるＲＡＭ１４が接続されている。一方、ＣＮＣ用ＣＰＵ２５には射出成形機を全体的に制御するプログラム等を記憶したＲＯＭ２７および演算データの一時記憶等に用いられるＲＡＭ２８が接続されている。
【００１３】
また、サーボＣＰＵ２０および圧力モニタ用ＣＰＵ１７の各々には、サーボ制御専用の制御プログラムを格納したＲＯＭ２１やデータの一時記憶に用いられるＲＡＭ１９、および、圧力データ等を得るためのサンプリング処理に関する制御プログラムを格納したＲＯＭ１１やデータの一時記憶に用いられるＲＡＭ１２が接続されている。更に、サーボＣＰＵ２０には、該ＣＰＵ２０からの指令に基いて型締め用，エジェクタ用（図示せず）および射出用，スクリュー回転用等の各軸のサーボモータを駆動するサーボアンプ１５が接続され、射出用サーボモータＭ１に配備した位置・速度検出器Ｐ１およびスクリュー回転用サーボモータＭ２に配備した速度検出器Ｐ２からの出力の各々がサーボＣＰＵ２０に帰還され、位置・速度検出器Ｐ１からのフィードバック信号に基いてサーボＣＰＵ２０により算出されたスクリュー２の現在位置や射出速度（スクリュ移動速度）及び速度検出器Ｐ２で検出されるスクリュー２の回転速度が、ＲＡＭ１９に設けられたそれぞれの現在位置記憶レジスタ、現在速度記憶レジスタに記憶される。
【００１４】
インターフェイス２３には、外部パーソナルコンピュータ等が接続できるようになっている。ディスプレイ付手動データ入力装置２９はＣＲＴ表示回路２６を介してバス２２に接続され、モニタ表示画面や機能メニューの選択および各種データの入力操作等が行えるようになっており、数値データ入力用のテンキーおよび各種のファンクションキー等が設けられている。
【００１５】
成形データ保存用ＲＡＭ２４は不揮発性メモリで構成され、射出成形作業に関する成形条件（射出保圧条件，計量条件等）と各種設定値，パラメータ，マクロ変数等を記憶する。
【００１６】
以上の構成により、ＣＮＣ用ＣＰＵ２５がＲＯＭ２７の制御プログラムに基いて各軸のサーボモータに対してパルス分配を行い、サーボＣＰＵ２０は各軸に対してパルス分配された移動指令とパルスコーダＰ１，速度検出器Ｐ２等の検出器で検出された位置のフィードバック信号および速度のフィードバック信号に基いて、従来と同様に位置ループ制御，速度ループ制御さらには電流ループ制御等のサーボ制御を行い、いわゆるディジタルサーボ処理を実行する。
【００１７】
本実施形態においては、圧力モニタ用ＣＰＵ１７が射出保圧工程毎にサンプリング処理を繰り返し実行し、所定のサンプリング周期毎に、圧力検出器４およびＡ／Ｄ変換器１６を介しスクリュ２に作用する射出圧力を読み取ると共にメモリ１９の現在速度記憶レジスタに記憶する射出速度、スクリュ位置を読み取りＲＡＭ１２に記憶するようにしている。
【００１８】
図２は、第１の実施形態における圧力モニタ用ＣＰＵ１７が実施するモニタデータ取得処理のフローチャートである。この実施形態では、所定サンプリング周期毎にモニタデータとして射出圧力ＰＲと射出速度Ｖを検出するものである。
運転が開始されると、まず、成形サイクル数（ショット（射出）数）をカウントするショットカウンタＳを「０」にセットし（ステップ１００）、射出開始が開始されると（ステップ１０１）、サンプリング数を計数するサンプリングカウンタｔを「０」にセットし（ステップ１０２）、保圧終了か判断し（ステップ１０３）、終了してなければ、ショットカウンタＳとサンプリングカウンタｔの値に対応して、ロードセルから検出される現在射出圧力ＰＲａ、位置・速度検出器から検出される現在射出速度Ｖａを、ＰＲ（ｓ，ｔ）、Ｖ（ｓ，ｔ）として、それぞれＲＡＭ１２に設けられたテーブルに記憶する（ステップ１０４）。ＲＡＭ１２に設けられたテーブルは、図３に示すように（ｍ＋１）回の成形サイクルのサンプリングデータを巡回して記憶するテーブルであり、ショットカウンタＳに合わせて、サンプリングデータを記憶するようになっている。
【００１９】
次に、サンプリングカウンタｔを１インクリメントし（ステップ１０５）、ステップ１０３に戻る。以下、保圧終了まで、所定サンプリング周期毎ステップ１０３〜１０５の処理を繰り返し実行し、図３に示すようにテーブルにサンプリングした射出圧力ＰＲ（ｓ，ｔ）、射出速度Ｖ（ｓ，ｔ）を格納する。
【００２０】
保圧が終了すると、運転終了指令が入力されているか判断し（ステップ１０６）、運転終了でなければ、ショットカウンタＳを１インクリメントし（ステップ１０７）、該ショットカウンタＳが記憶しようとする設定数ｍを越えているか判別し（ステップ１０８）、設定数ｍを越えていなければ、ステップ１０１に戻る。又、設定数ｍを越えていれば、ショットカウンタＳを「０」にセットし（ステップ１０９）、ステップ１０１に戻る。
【００２１】
以下、運転終了まで、上述したステップ１０１〜１０９までの処理を繰り返し実行する。これによって、テーブルには図３に示すように、各ショット毎のサンプリングデータである射出圧力ＰＲ（ｓ，ｔ）、射出速度Ｖ（ｓ，ｔ）が（ｍ＋１）回の成形サイクル分巡回して記憶されることになる。
【００２２】
一方、モニタ表示指令が入力されると、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、図４の表示処理を所定周期毎実行する。
まず、ポインタＰの値がショットカウンタＳと一致するか判断する（ステップ２００）。これは、ポインタＰが現在サンプリングデータを採取している成形サイクルを示すか否かを判断するものである。一致していれば、サンプリングデータの書き替え中であるから、このまま当該周期の処理を終了し、一致していなければ、ポインタＰにショットカウンタＳの値を格納すると共に、指標ｉに設定数ｍをセットする（ステップ２０１）。
【００２３】
次に、ポインタＰに１加算し、指標ｉを１でデクリメントとし（ステップ２０２）、ポインタＰの値が設定数ｍを越えているか判断し（ステップ２０３）、越えていればポインタＰに「０」をセットして（ステップ２０４）、ステップ２０５に移行する。又、ポインタＰの値が設定数ｍを越えていなければ、ステップ２０３からステップ２０５に移行する。これにより、記憶する中で一番古いサンプリングデータを指定することになる。
【００２４】
ステップ２０５では、図５に示すように、第１軸に時間、第２軸に射出圧力、射出速度、第３軸に成形サイクル数（ショット数）をとった座標に対して、指標ｉで示されるサイクル数（ショット数）の第３軸位置にポインタＰで示される射出圧力、射出速度のサンプリングデータを第１軸のサンプリング数（時間）に対応させてプロットしてグラフ表示する（ステップ２０５）。この場合、図５に示すように、射出圧力、射出速度を実線と破線、又は表示色を変えて、射出圧力、射出速度のグラフを区別して表示する。そして、指標ｉの値が「０」か判断し（ステップ２０６）、「０」でなければ、ステップ２０２に戻る。以下、指標ｉの値が「０」になるまで、ステップ２０２〜２０６の処理を繰り返し実行し、指標ｉの値が「０」になると、サンプリングデータ表示処理は終了する。
【００２５】
上述した処理によって、現在の射出中で、サンプリングデータを取得しつつあるショットよりもｍ回前の成形サイクルのサンプリングデータが第３軸の（ｍ−１）の位置にグラフ表示され、現在の成形サイクル（ショット）より１つ前の成形サイクル（ショット）のサンプリングデータが第３軸「０」の位置（ｉ＝０）にグラフ表示されることになる。
【００２６】
例えば、ｍ＝５で、Ｓ＝０から５までの６成形サイクルのサンプリングデータをテーブルに巡回して記憶するものとし、ショットカウンタＳの値が「２」であったとする。この場合、テーブルに記憶するＰ＝Ｐ＋１＝Ｓ＋１＝２＋１＝３のサンプリングデータは、一番古いｍ回前のショットのサンプリングデータであり、最初は、このサンプリングデータがｉ＝ｍ−１＝５−１＝４の位置に表示されることになる。そして、ステップ２０２でポインタＰが「１」インクリメントされ、指標ｉが１ディクリメントされることから、次にＰ＝４（＝Ｓ）のサンプリングデータがｉ＝３の第３軸位置に表示され、次に、Ｐ＝５（＝Ｓ）のサンプリングデータがｉ＝２の第３軸位置に表示される。次は、ステップ２０２でＰ＝６となることから、ステップ２０３、２０４により、Ｐ＝０とされ、Ｐ＝０（＝Ｓ）のサンプリングデータがｉ＝１の第３軸位置に表示される。そして最後に、Ｐ＝１（＝Ｓ）のサンプリングデータがｉ＝０の第３軸位置に表示される。
【００２７】
以上のようにして、ポインタＰ＝４で示されるＳ＝４の、現在書き換え中のサンプリングデータより、記憶する中で一番古いサンプリングデータ中から順次新しいサンプリングデータをｉ＝４、３、２、１、０の第３軸位置にグラフ表示されることになる。
【００２８】
かくして、テーブルに記憶する、現在書き換え中のサンプリングデータ以外でｍ個のサンプリングデータのグラフ表示が終了するとステップ２０６からステップ２０７に移行し、ポインタＰを１インクリメントし当該周期の処理を終了する。ポインタＰを１インクリメントすることによって、該ポインタＰの値は、現在サンプリングデータを書き換え中である現在のショットカウンタＳの値と同一となる。
【００２９】
そして、サンプリングデータの取得が終了し図２のステップ１０７、１０９の処理でショットカウンタＳの値が書き換えられ、ステップ２００でポインタＰの値とショットカウンタＳの値が一致しなくなると、再びステップ２０１以下の処理が実行され、図５に示すように、最新ｍショットのサンプリングデータのグラフ表示が行われることになる。
【００３０】
この図５において、成形サイクルの変量である射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖ、が時間に対する変化パターンとしてグラフ表示されることになり、各成形サイクルにおける変量の変化推移をこの１つの変化パターンで容易に把握することができる。また、各成形サイクルの変量変化パターンが第３軸方向に並列して描画されることから、成形サイクル間の変量変化パターンの変化も容易に把握することができ、成形の安定性の判断が容易にできる。
【００３１】
図６は、本発明の第２の実施形態におけるサンプリングデータ取得処理のフローチャートである。この第２の実施形態では、モニタデータとしてスクリュ位置ＰＯをもサンプリングする点で第１の実施形態と相違するものである。図６に示すサンプリングデータ取得処理と、図２に示す第１の実施形態におけるサンプリングデータ取得処理を比較し、ステップ３００〜ステップ３０９はステップ１００〜ステップ１０９に対応し、ステップ３０４の処理とステップ１０４の処理が異なるのみで他の処理は同一である。この第２の実施形態ではステップ３０４でのデータ取得を、ＲＡＭ１９の現在位置記憶レジスタに記憶されるスクリュ位置ＰＯａの取得をも追加し、射出圧力ＰＲａ、射出速度Ｖａ、スクリュ位置ＰＯａを所定サンプリング周期毎に求めＲＡＭ１２に設けた図７に示すようなテーブルに記憶するものである。
【００３２】
なお、第１の実施形態と比較しスクリュ位置ＰＯａがサンプリングデータとして追加されているだけであるから、図６に示す処理の詳細な説明は省略する。
【００３３】
この第２の実施形態におけるモニタデータ表示処理については、図４に示した第１の実施形態における表示処理と概略同一であるが、ステップ２０５の処理が異なり、他は同一である。
【００３４】
第１の実施形態では、ステップ２０５の処理で第１軸を時間（サンプリング回数）としたが、この第２の実施形態では、第１軸をスクリュ位置ＰＯとして表示するものである。図８に示すように、第１軸をスクリュ位置ＰＯ、第２軸を射出圧力ＰＲ及び射出速度Ｖとし、第３軸を成形サイクル数、すなわちショット数としている。そして、図７に示すようなテーブルに記憶した各成形サイクル（ショット）毎の各サンプリング時のスクリュ位置ＰＯに対応する射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖをプロットして図８に示すように、スクリュ位置に対応する射出圧力、射出速度パターンを、新しい成形サイクル（ショット）ほど手前（座標系の原点に近い方）になるように表示する。
【００３５】
図９は、本発明の第３の実施形態におけるサンプリングデータ取得処理のフローチャートである。この第３の実施形態では、サンプリングデータとして取得するデータは、各ショット毎に射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖであり、第１の実施形態と同一であるが、成形サイクルにおける所定タイミングの点を記憶するもので、この実施形態では、保圧終了時刻を記憶するものであり、この点で第１の実施形態と相違するものである。すなわち、図９に示すサンプリングデータ取得処理のフローチャートと図２に示す第１の実施形態のフローチャートと比較し、保圧終了後、ステップ４０６で時刻Ｔａを読み取りテーブルに記憶させる点が第１の実施形態と相違するのみである。他の処理は同一である。
【００３６】
そして、この第３の実施形態では図１０に示すようにテーブルには、各ショット毎に所定サンプリング周期毎の射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖ、及び時刻Ｔが記憶されることになる。
【００３７】
又、この第３の実施形態におけるモニタデータ表示処理については、図４に示した第１の実施形態における表示処理と概略同一であるが、ステップ２０５の処理が異なり、他は同一である。この第３の実施形態では、図１１に示すように、第１軸をサンプリング時間、第２軸を射出圧力ＰＲ及び射出速度Ｖ、第３軸を各成形サイクルにおける保圧終了時刻Ｔとし、テーブルに記憶した保圧終了時刻Ｔに対応する第３軸位置に、射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖの時間に対するパターンを描画することになる。
【００３８】
この第３の実施形態の場合、ステップ２０５の処理は、現在時刻からテーブルに記憶する当該成形サイクルの時刻を減算した値に対応する位置が、その成形サイクルのサンプリングデータを描画する第３軸の位置（ステップ２０５のｉの位置）となる。
【００３９】
図１２は、本発明の第４の実施形態におけるサンプリングデータ取得処理のフローチャートである。この第４の実施形態は、第３の実施形態と比較し、スクリュ位置ＰＯをもサンプリングデータとして取得する点で異なるだけである。すなわち、ステップ５０４の処理とステップ４０４の処理が異なるだけである。他は同一であるから、この図１０に示すの処理についても説明を省略する。
【００４０】
この第４の実施形態の場合、ＲＡＭ１２に設けられたテーブルには、図１３に示すように、成形サイクル毎（ショット毎）に、各サンプリング時刻毎の射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖ、スクリュ位置ＰＯ及び保圧終了時の時刻Ｔが記憶されることになる。
【００４１】
又、この第４の実施形態におけるモニタデータ表示処理については、図１４に示すように、第１軸をスクリュ位置、第２軸を射出圧力ＰＲ及び射出速度Ｖ、第３軸を各成形サイクルにおける保圧終了時刻Ｔとし、テーブルに記憶した保圧終了時刻Ｔに対応する第３軸位置に、射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖをスクリュ位置ＰＯに対応させてプロットしてスクリュ位置ＰＯ対する射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖのパターンを描画することになる。
【００４２】
上述した各実施形態では、変量（射出圧力、射出速度、スクリュ位置等）を各成形サイクル毎に検出し、グラフ表示するようにしたが、所定成形サイクル数毎に、所定成形サイクル数の間隔をもって１成形サイクルの変量のサンプリングデータをテーブルに記憶するようにし、グラフ表示は、この記憶したデータに基いて、所定成形サイクル数の成形サイクル間隔でグラフ表示するようにしてもよい。又、射出、保圧、計量等の各工程毎に表示する場合、時刻を記憶するタイミングはそれぞれの工程の開始、終了時刻が望ましく、その選択を自動化することもできる。さらに、モニタデータ取得処理はオペレータの操作により起動、終了するようにしてもよい。
【００４３】
上述した実施形態では、モニタデータとしてサンプリングするデータを射出圧力、射出速度、スクリュ位置、さらには、保圧終了時の時刻としたが、成形に関連する、スクリュ回転速度、背圧、モータトルク、型開閉位置・速度、エジェクタ位置・速度、シリンダやノズル温度等の他の変量をモニタデータとしてサンプリングして、上述したように、３次元的に表示するようにしてもよいものである。時刻を記憶するタイミングとして射出開始、サイクル開始、型閉開始でもよい。さらに、時刻の記憶として、時計から得られる時刻だけでなく、電源投入時などの特定時刻からの経過時間を使用してもよい。
又、表示においても、表示した３次元座標系を回転させることができるようにしてもよい。
又、グラフ表示する変量は、特定のサイクルの変量値を基準とし、サンプリングした変量と基準変量との差でもよい。例えば、この基準となる特定サイクルを記憶する中で一番古いサイクルとして、このサイクルの変量値を基準変量値とする場合には、図４において、ステップ２０１で、基準サイクルを指定する基準ポインタを設け、このポインタに「Ｓ＋１」を格納し、記憶する中で一番古いサイクルを設定する（なお、Ｓ＋１が設定数ｍを越える場合には基準ポインタに「０」を格納する）。そして、ステップ２０５では、ポインタＰで示されるサイクルのサンプリングデータから基準ポインタに記憶するサイクルの対応するサンプリングデータの変量を減じて差を求め、この差を表示するようにすればよい。
又、基準となる特定のサイクルのサンプリングデータの変量を予め基準データとして設定記憶しておき、ステップ２０５で、各サンプリングの変量と対応する基準サンプリングデータの変量との差を求め、表示するようにしてもよい。
【００４４】
又、上述した実施形態では、射出成形機の制御装置１０自体によって、モニタ装置を構成し、各変量ｘをサンプリングする手段Ａも、グラフ表示する手段Ｂも、各成形サイクル（ショット）のサンプリングした変量データを記憶する手段Ｃも全て射出成形機を制御する制御装置内に設けたものとした。この形態を概略的に示せば、図１５に示すような形態となる。
【００４５】
一方、各種変量ｘをサンプリングする手段Ａは、射出成形機の制御装置１０内に設け、サンプリングされたデータを集計、編集等の処理を行うために、サンプリングデータの記憶手段Ｃ及びグラフ表示手段Ｂをパーソナルコンピュータ５０に設けるようにしてもよい。図１６は、この形態の概要図である。この場合、パーソナルコンピュータ５０は射出成形機の制御装置１０に設けられたインタフェース２３を介して接続される。又、サンプリング手段Ａを構成する圧力モニタＣＰＵ１７は、各成形サイクル（ショット）毎、変量（射出圧力、射出速度等）ｘをサンプリングしてＲＡＭ１２に記憶しておき、成形サイクル（ショット）終了毎に、あるいは所定ショット数分のデータをまとめて所定ショット数毎にインタフェース２３を介してパーソナルコンピュータ５０に転送し、パーソナルコンピュータ５０では、図３、図７、図１０、図１３で示したような、テーブルを設けておき、送られて来た各成形サイクル毎の各種変量ｘのサンプリングデータを記憶するようにする。そして、パーソナルコンピュータ５０がこの記憶したサンプリングデータを３次元表示する。又、この図１６で示す形態にすることによって、複数の射出成形機における各種変量ｘのサンプリングデータを集中して中央管理装置のコンピュータに設けた記憶手段に記憶し、各射出成形機のサンプリングデータのグラフ表示を行い複数の射出成形機の成形状態を集中的にモニタできるようにしてもよい。
【００４６】
さらに、図１７に示すように、サンプリング手段Ａも、グラフ表示手段Ｂも、サンプリングデータを記憶する記憶手段Ｃもパーソナルコンピュータに設けるようにしてもよい。この場合、射出成形機の変量を検出する手段と、パーソナルコンピュータ５０とを接続する必要がある。例えば、変量ｘとして射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖ、スクリュ位置ＰＯをサンプリングする場合には、圧力検出器４、位置・速度検出器Ｐ１とパーソナルコンピュータ５０を接続し、これら圧力検出器４、位置・速度検出器Ｐ１で検出される射出圧力ＰＲ、射出速度Ｖ、スクリュ位置ＰＯをパーソナルコンピュータ５０で所定周期毎検出し、記憶手段に前述した第１〜第４の実施形態のようにして記憶し、グラフ表示するようにする。
【００４７】
【発明の効果】
本発明は、各成形サイクルの成形状態を表す各種変量を時間やスクリュ位置に対する波形として成形サイクルを表す軸に沿って３次元的にグラフ表示するようにしたから、成形サイクル間の変量変化パターン（変量変化波形）の推移が視覚的に容易に把握することができる。これにより、成形の安定性を容易に判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の各実施形態におけるモニタ装置を構成する射出成形機の制御装置の要部と射出成形機の要部を記載したブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態におけるモニタデータ取得処理のフローチャートである。
【図３】同第１の実施形態におけるサンプリングデータを記憶するテーブルの説明図である。
【図４】同第１の実施形態におけるモニタデータ表示処理のフローチャートである。
【図５】同第１の実施形態におけるモニタデータ表示画面の一例である。
【図６】本発明の第２の実施形態におけるモニタデータ取得処理のフローチャートである。
【図７】同第２の実施形態におけるサンプリングデータを記憶するテーブルの説明図である。
【図８】同第２の実施形態におけるモニタデータ表示画面の一例である。
【図９】本発明の第３の実施形態におけるモニタデータ取得処理のフローチャートである。
【図１０】同第３の実施形態におけるサンプリングデータを記憶するテーブルの説明図である。
【図１１】同第３の実施形態におけるモニタデータ表示画面の一例である。
【図１２】本発明の第４の実施形態におけるモニタデータ取得処理のフローチャートである。
【図１３】同第４の実施形態におけるサンプリングデータを記憶するテーブルの説明図である。
【図１４】同第４の実施形態におけるモニタデータ表示画面の一例である。
【図１５】本発明の各実施形態の概要説明図である。
【図１６】本発明の他の形態の概要説明図である。
【図１７】本発明のさらに他の形態の概要説明図である。
【符号の説明】
１射出シリンダ
２スクリュ
３伝動機構
４圧力検出器
５駆動変換機
Ｍ１射出用サーボモータ
Ｍ２スクリュ回転用サーボモータ
Ｐ１位置・速度検出器
１０制御装置

Claims

射出成形工程における１成形サイクル中に変化する変量を所定周期毎に検出して記憶するサンプリング手段と、時間を第１軸とし、前記変量を第２軸とし、成形サイクル数を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示する手段を有する射出成形機のモニタ装置。
射出成形工程における１成形サイクル中に変化する、少なくとも可動部材の位置と他の１以上の変量を所定周期毎に検出して記憶するサンプリング手段と、前記可動部材の位置を第１軸とし、前記他の変量を第２軸とし、成形サイクル数を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示する手段を有する射出成形機のモニタ装置。
射出成形工程における１成形サイクル中に変化する変量を所定周期毎に検出して記憶するサンプリング手段と、各成形サイクルにおける所定のタイミングにおける時刻を記憶する手段と、時間を第１軸とし、前記変量を第２軸とし、前記時刻を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示する手段を有する射出成形機のモニタ装置。
射出成形工程における１成形サイクル中に変化する、少なくとも可動部材の位置と他の１以上の変量を所定周期毎に検出して記憶するサンプリング手段と、各成形サイクルにおける所定のタイミングにおける時刻を記憶する手段と、前記可動部材の位置を第１軸とし、前記変量を第２軸とし、前記時刻を第３軸として複数の成形サイクル分の前記変量をグラフ表示する手段を有する射出成形機のモニタ装置。
前記サンプリング手段は射出成形機に内蔵されていることを特徴とする請求項１乃至４の内いずれか１項に記載の射出成形機のモニタ装置。
前記サンプリング手段は射出成形機の外部にあり、射出成形機に接続されていることを特徴とする請求項１乃至４の内いずれか１項に記載の射出成形機のモニタ装置。
前記グラフ表示手段は射出成形機に内蔵されていることを特徴とする請求項１乃至６の内いずれか１項に記載の射出成形機のモニタ装置。
前記グラフ表示手段は射出成形機の外部にあり、射出成形機に接続されていることを特徴とする請求項１乃至６の内いずれか１項に記載の射出成形機のモニタ装置。
前記変量は、特定の成形サイクルの変量値を基準とし、サンプリングした変量と基準変量との差であることを特徴とする請求項１乃至８の内いずれか１項に記載の射出成形機のモニタ装置。