JP2004212353A - 光学的検査装置 - Google Patents
光学的検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004212353A JP2004212353A JP2003002686A JP2003002686A JP2004212353A JP 2004212353 A JP2004212353 A JP 2004212353A JP 2003002686 A JP2003002686 A JP 2003002686A JP 2003002686 A JP2003002686 A JP 2003002686A JP 2004212353 A JP2004212353 A JP 2004212353A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dark
- field
- transparent member
- image
- stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
【課題】透明部材の暗視野画像から、この透明部材に存在する欠陥部を高精度に検出できるようにする。
【解決手段】ステージ3に搭載したメガネレンズ2に対し、下方に配設されているライン照明手段5aからライン状の暗視野照明用検査光を投光し、メガネレンズ2を透過した透過光を撮像装置4で撮像し、パソコン8へ出力する。パソコン8では、入力された撮像装置4からの画像に基づき明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出し、次いで暗視野領域の輝度分布から欠陥部の有無を検出する。暗視野領域はライン照明手段5aを移動させることで連続的に抽出し、抽出した各暗視野領域を合成することで、メガネレンズ2全体の暗視野画像を生成する。
【選択図】図1
【解決手段】ステージ3に搭載したメガネレンズ2に対し、下方に配設されているライン照明手段5aからライン状の暗視野照明用検査光を投光し、メガネレンズ2を透過した透過光を撮像装置4で撮像し、パソコン8へ出力する。パソコン8では、入力された撮像装置4からの画像に基づき明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出し、次いで暗視野領域の輝度分布から欠陥部の有無を検出する。暗視野領域はライン照明手段5aを移動させることで連続的に抽出し、抽出した各暗視野領域を合成することで、メガネレンズ2全体の暗視野画像を生成する。
【選択図】図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レンズやガラス板等の透明部材に形成される傷等の欠陥部を暗視野画像に基づいて検出する光学的検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
周知のように、レンズやガラス板等の透明部材の検査工程では、透明部材の表面、裏面及び内部に、微細な傷、泡等の欠陥が存在するか否かを検査し、欠陥が検出された場合は、不良品として廃棄処分している。
【0003】
従来、透明部材に欠陥部が存在するか否かの検査は、検査員の肉眼により行っていた。すなわち、検査員は、透明部材に対して照明光を照射し、その際、透明部材の向きを変えながら、その反射光を観察して欠陥部が存在しているか否かを検出している。
【0004】
しかし、肉眼による検査は、検査員の体調、及び各検査員の検査能力によってばらつきが生じやすいため、検査精度を常に均一な状態とすることが困難である。又、肉眼による検査では微細な欠陥部を検出するには限界があり、より厳しい品質が要求れた場合に対応することができない。
【0005】
そのため、最近では透明部材に対して照明光を直接、或いは間接的に照射し、その透過光或いは反射光をCCDカメラ等の撮像装置で撮像して、欠陥の有無を自動的に検査する装置が種々提案されている。例えば、特開2002−90258号公報には、透明部材に存在する欠陥の有無を透過型の暗視野像により検査する技術が開示されている。
【0006】
すなわち、この公報に開示されている技術では、装置にセットされた透明部材(撮影レンズ)は、その下部に配置された投光器からの検査光により照射され、透明部材の上部に配置された撮像装置にて暗視野撮影が行われる。
【0007】
その際、透明部材の表面に傷が発生している場合、その部位において散乱された検査光が撮像装置によって受光され、そのときの階調値が所定値以上の場合、欠陥が存在すると判定する。
【0008】
この公報に開示されている装置では、透明部材を暗視野撮影するために、透明部材に対して均一な検査光を照射する投光器の中央部に、遮光マスクを取付け、撮像装置の撮像領域に投光器が含まれるのを防止することで、撮像装置にて透明部材の暗視野像を得るようにしている。
【0009】
【特許文献1】
特開2002−90258号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した公報に開示されてい技術のように、暗視野像を得るために投光器の中央に遮光マスクを配設すると、有効暗視野領域が狭められてしまい、透明部材全面にわたって欠陥部を高精度に検出することが出来ない問題がある。
【0011】
これに対処するに、複数の暗視野光を透明部材に照射することで、有効暗視野領域を拡大することも考えられるが、構造が複雑化するばかりでなく、互いに隣接する暗視野光同士が干渉してしまう不都合がある。
【0012】
従って、本発明の目的は、複数の暗視野光を用いることなく、簡単な構造で有効暗視野領域の実質的な拡大を図り、有効暗視野領域を透明部材全面に形成することができ、この透明部材を暗視野光で検査することで、透明部材の表面、裏面、及び内部に存在する欠陥を高精度に検出することの可能な光学的検査装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明による光学的検査装置は、透明部材を搭載するステージと、上記ステージの一方の面に設定間隔を開けて対設する撮像装置と、上記ステージの他方の面に対設する照明装置とを備え、上記照明装置を上記ステージと平行な方向へ直線移動自在に支持し、上記照明装置に、該照明装置の移動方向に直交する方向へ延出すると共に上記透過部材に対してライン状の暗視野照明用検査光を投光するライン照明手段を設け、演算手段では、上記ライン照明手段から投光されたライン状の暗視野照明用検査光によって上記撮像装置で撮像した上記透明部材の画像に基づき該画像の明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出すると共に、該暗視野領域中の輝度分布から上記透明部材の欠陥部を検出することを特徴とする。
【0014】
このような構成では、ステージに透明部材を搭載し、照明装置に備えられているライン照明手段からライン状の暗視野照明用検査光を透明部材に投光し、その透過光を撮像装置にて撮像する。演算手段では、撮像装置で撮像した透明部材の画像に基づき明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出し、更に、抽出した暗視野領域中の輝度分布から透明部材に存在する欠陥部を検出する。
【0015】
この場合、好ましくは、上記演算手段では、上記照明装置の移動に同期して上記暗視野領域を連続的に抽出し、抽出した該各暗視野領域を合成して上記透明部材全体の暗視野画像を生成する。更に、上記欠陥部のサイズを画素数で表示することで、欠陥部の大きさを瞬時に認識することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の一実施の形態を説明する。図1に光学的検査装置全体構成図、図2に図1のII矢視平面図を示す。
【0017】
本実施の形態による光学的検査装置1は、透明部材としてのメガネレンズ2を搭載するステージ3を有し、このステージ3の鉛直方向に撮像装置4が対設されている。このステージ3と撮像装置4とは互いに連接された状態で固定されており、ステージ3と撮像装置4との間隔は、図示しない調整機構により調整自在にされている。
【0018】
又、この撮像装置4の観察光軸が、ステージ3の中心に対設されている。このステージ3の中央には、メガネレンズ2の外縁よりもやや小さい径の貫通孔3aが穿設されている。メガネレンズ2はガラス或いはプラスチック製であり、光学的検査装置1により、表面に形成された傷や、製造過程で内部に形成された気泡を検出し、更に、表面に反射防止膜(マルチコート膜)やハードコート膜がコーティングされている場合は、コーティング不良の有無を検出する。
【0019】
又、ステージ3の下方に照明装置5が配設されている。この照明装置5に、メガネレンズ2に対してライン状の暗視野照明用検査光を投光するライン照明手段5aが固設されている。このライン照明手段5aは、複数の光ファイバーを一列に配設したライン型ライトガイド、或いは複数のLED(Light Emitting Diode)をライン状に配設したLEDアレイ、或いは円柱状の蛍光灯等で構成されている。この場合、ライン照明手段5aは、少なくともメガネレンズ2の直径をカバーする長さを有している。
【0020】
尚、ライン型ライトガイドの入射端には照明光源(図示せず)が対設されている。更に、ライン照明手段5aの出射側に、投光される暗視野照明用検査光を拡散する拡散プレートを配設するようにしてもよい。
【0021】
又、照明装置5は、基台6に対しリニアスライダ(図示せず)を介して支持されている。このリニアスライダは、照明装置5をライン照明手段5aの延出方向に対して直交する方向(図1、図2の矢印で示す方向)へ直線状に移動させるもので、移動量は駆動手段7から出力される駆動信号に従って制御される。尚、照明装置5の移動量は、リニアエンコーダ等の位置計測手段(図示せず)により検出される。
【0022】
一方、撮像装置4は、撮像部にCCD(Charge Coupled Device)やMOS(Metal Oxide Semiconductor)等の固体撮像素子(図示せず)を備えるカメラ4aを有し、このカメラ4aにカメラレンズ4bが装着され、更に、このカメラレンズ4bの入射面に光学フィルタ4cが装着されている。固体撮像素子で撮像し、光電変換された画像は、A/D変換器(図示せず)によりデジタル画像信号に変換されて、演算手段としてのパーソナルコンピュータ(以下「パソコン」と略称)8に出力される。パソコン8は、光学的検査装置1全体の制御及び画像データの処理を行うもので、各種演算を行うCPU、制御プログラムや各種データを記憶する記憶手段等で構成されている。更に、このパソコン8に、モニタ9、キーボード10、マウス11等の周辺機器が接続されている。
【0023】
パソコン8は、カメラ4aから出力されてA/D変換された画像信号に基づき、輝度分布を求め、この輝度分布から明部と暗部との境界領域である特定最適照明部分(以下、本実施の形態では、この領域を「暗視野領域A」と称する)を抽出する。
【0024】
そして、照明装置5の移動に伴い、それに同期して暗視野領域Aを連続的に抽出して、各暗視野領域Aを合成し、図5に示すように、メガネレンズ2全面の暗視野画像を生成する。暗視野画像は、メガネレンズ2の表面に微細な傷等の欠陥部がある場合、或いはメガネレンズ2の内部に気泡が形成されている場合、メガネレンズ2を透過してカメラ4aに取込まれる暗視野照明用検査光が、図4、図5に矢印m1で示すように白く強調される。
【0025】
従って、暗視野照明による撮像で得られた暗視野画像から、その輝度分布を求めることで、欠陥部の位置や大きさ(画素数)を計測し、所定の判定基準に照らして不適合か否かを判断することができる。
【0026】
以下、上述した光学的検査装置1を用いてメガネレンズ2の欠陥部を検出する手順について、図3に示す検査ルーチンに従って説明する。
【0027】
先ず、ステップS1で、光学的検査装置1のステージ3にメガネレンズ2を所定に搭載し、固定する。次いで、ステップS2へ進み、メガネレンズ2の全面が計測されたか否かを調べる。メガネレンズ2をステージ3に搭載した状態では、このステージ3の下方に配設されている照明装置5は、図1及び図2に示すようにメガネレンズ2の周縁一側に配置されている。
【0028】
従って、検査開始直後は、ステップS3へ進み、パソコン8から駆動手段7へ駆動信号を出力する。その結果、この駆動手段7が、図示しないリニアスライダを駆動させて、照明装置5を、図1、図2の状態から、同図の左方向へ一定速度、或いは断続的に移動させる。
【0029】
すると、この照明装置5に設けられているライン照明手段5aから投光される暗視野照明用検査光がメガネレンズ2に照射され、このメガネレンズ2を透過した暗視野照明用検査光が、その上方に対設されている撮像装置4の光学フィルタ4c、カメラレンズ4bを介してカメラ4aに設けられている固体撮像素子に受光される。そして、この固体撮像素子に受光された画像が光電変換され、A/D変換器(図示せず)によりデジタル画像信号に変換されて、パソコン8に出力される。
【0030】
パソコン8は、ステップS4で、画像信号を取込み、続く、ステップS5で、この画像信号の輝度分布と、照明装置5の移動量を検出する位置計測手段(図示せず)からの信号に基づき検出したライン照明手段5aによる照明位置とに基づき、暗視野領域A(図4参照)を抽出する。
【0031】
そして、ステップS6で、今回抽出した暗視野領域Aの画像(暗視野画像)が連続しているか否かを調べ、連続している場合は、ステップS7へ進み、又、暗視野画像に抜けがあるために連続していない場合は、ステップS3へ戻り、照明装置5を戻す方向へ移動させて、暗視野照明用検査光を照射し、同一位置の暗視野画像を再度取り込む。
【0032】
又、ステップS6からステップS7へ進むと、今回抽出した暗視野画像の輝度分布を求め、メガネレンズ2の表面或いは裏面に形成された傷、或いは内部に形成された気泡等の欠陥部が存在するか否か検査し、欠陥部が検出された場合、ステップS8へ分岐し、又、欠陥部が検出されなかった場合は、ステップS9へ進む。
【0033】
欠陥部が検出されてステップS8へ進むと、欠陥部の画素数(pix)をカウントし、ステップS9へ進む。
【0034】
ステップS9では、パソコン8に設けられている記憶手段(図示せず)に、今回抽出した暗視野画像データを蓄積すると共に、欠陥部が検出された場合は、この欠陥部のエリアと欠陥サイズ(画素数)とを記憶し、ステップS2へ戻り、次の暗視野領域Aを抽出し、当該暗視野領域Aに欠陥部があるか否かを検査する。
【0035】
このようにして、メガネレンズ2全面の測定が終了した場合、ステップS2からステップS10へ分岐し、測定結果を出力してルーチンを終了する。
【0036】
図5に示すように、メガネレンズ2全面の測定が終了すると、各暗視野領域A毎に抽出した暗視野画像が合成された状態で出力される。
【0037】
この暗視野画像の合成画像は、例えばモニタ9に表示される。図6にモニタ9の表示内容を例示する。同図に示すように、モニタ9には、紙面に向かって左側にメガネレンズ2の全体画像が表示される。この画像中に欠陥部の位置及びサイズが表示されると共に、エリアが表示される。
【0038】
本実施の形態ではメガネレンズ2を同心円状の1〜3のエリアに区分し、欠陥部をエリア別に割り出し、モニタ9の右下に、エリア別検出結果を欠陥サイズ(画素数)毎に集計して表示すると共に、その上部に検出部の拡大画像を表示できるように設定されている。欠陥サイズを画素数で表示することで、欠陥部の大きさを瞬時に認識することができる。同様に、メガネレンズ2全体を表示する暗視野画像中に、欠陥部を表示することで、欠陥部の存在する位置を瞬時に認識することができる。
【0039】
このように、本実施の形態では、メガネレンズ2の欠陥部を暗視野画像により自動的に検出するようにしたので、従来のような検査員の肉眼による検査に比し、検査精度が均一化され、しかも、微細な欠陥部も検出することが可能であるため、より厳しい品質が要求される場合にも充分対応することが可能となる。
【0040】
又、撮像装置4で撮像した画像の輝度分布に基づき暗視野領域Aを抽出するようにしたので、メガネレンズ2に埃や微細なゴミが付着されている場合であっても、更に、メガネレンズ2の厚みや曲率が相違する場合であっても、これらに影響されることなく、メガネレンズ2自体の欠陥のみを一律に検出することが可能となり、より高い検出精度を得ることができる。
【0041】
更に、メガネレンズ2を搭載するステージ3と撮像装置4とを固定し、照明装置5の移動により、メガネレンズ2全面を暗視野撮影するようにしたので、ステージ3と撮像装置4とを移動させる場合に比し、メガネレンズ2が受ける振動を最小限とすることができるため、より高い検査精度を得ることができると共に、構造が簡素化され、製品コストの低減を実現することができる。更に、照明装置5に設けられているライン照明手段5aから出射されるライン状の暗視野照明用検査光を移動させることで、暗視野領域A別の暗視野画像を得るようにしたので、従来のよな暗視野照明用検査光を固定された位置から投光するものに比し、有効暗視野領域の実質的な拡大を図ることができる。
【0042】
尚、この場合、カメラレンズ4bの倍率や画格の調整、カメラ4aとメガネレンズ2との間に介在させる光学フィルタ4cの選別を適宜設定することで、暗視野領域Aをできるだけ広い領域で取り入れ、パソコン8にてより効率よく画像処理を行うことが可能となる。更に、カメラレンズ4bの焦点深度を調整することで、メガネレンズ2の内部に形成された気泡、或いは裏面に形成されている傷等の欠陥部をより鮮明に検出することが可能となる。
【0043】
更に、本発明は上述した実施の形態に限るものではなく、例えば、透明部材は、メガネレンズ2に限定されず、光学レンズ等の光学素子や透明基板等であってもよい。
【0044】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明によれば、複数の暗視野光を用いることなく、簡単な構造で有効暗視野領域の実質的な拡大を図り、有効暗視野領域を透明部材全面に形成することができ、この透明部材を暗視野光で検査することで、透明部材の表面、裏面、及び内部に存在する欠陥を高精度に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光学的検査装置全体構成図
【図2】図1のII矢視平面図
【図3】検査ルーチンを示すフローチャート
【図4】暗視野領域を示す説明図
【図5】暗視野領域の合成画像を示す説明図
【図6】検査結果の表示例を示す説明図
【符号の説明】
1 光学的検査装置
2 メガネレンズ(透明部材)
3 ステージ
4 撮像装置
5 照明装置
5a ライン照明手段
8 パソコン(演算手段)
【発明の属する技術分野】
本発明は、レンズやガラス板等の透明部材に形成される傷等の欠陥部を暗視野画像に基づいて検出する光学的検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
周知のように、レンズやガラス板等の透明部材の検査工程では、透明部材の表面、裏面及び内部に、微細な傷、泡等の欠陥が存在するか否かを検査し、欠陥が検出された場合は、不良品として廃棄処分している。
【0003】
従来、透明部材に欠陥部が存在するか否かの検査は、検査員の肉眼により行っていた。すなわち、検査員は、透明部材に対して照明光を照射し、その際、透明部材の向きを変えながら、その反射光を観察して欠陥部が存在しているか否かを検出している。
【0004】
しかし、肉眼による検査は、検査員の体調、及び各検査員の検査能力によってばらつきが生じやすいため、検査精度を常に均一な状態とすることが困難である。又、肉眼による検査では微細な欠陥部を検出するには限界があり、より厳しい品質が要求れた場合に対応することができない。
【0005】
そのため、最近では透明部材に対して照明光を直接、或いは間接的に照射し、その透過光或いは反射光をCCDカメラ等の撮像装置で撮像して、欠陥の有無を自動的に検査する装置が種々提案されている。例えば、特開2002−90258号公報には、透明部材に存在する欠陥の有無を透過型の暗視野像により検査する技術が開示されている。
【0006】
すなわち、この公報に開示されている技術では、装置にセットされた透明部材(撮影レンズ)は、その下部に配置された投光器からの検査光により照射され、透明部材の上部に配置された撮像装置にて暗視野撮影が行われる。
【0007】
その際、透明部材の表面に傷が発生している場合、その部位において散乱された検査光が撮像装置によって受光され、そのときの階調値が所定値以上の場合、欠陥が存在すると判定する。
【0008】
この公報に開示されている装置では、透明部材を暗視野撮影するために、透明部材に対して均一な検査光を照射する投光器の中央部に、遮光マスクを取付け、撮像装置の撮像領域に投光器が含まれるのを防止することで、撮像装置にて透明部材の暗視野像を得るようにしている。
【0009】
【特許文献1】
特開2002−90258号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した公報に開示されてい技術のように、暗視野像を得るために投光器の中央に遮光マスクを配設すると、有効暗視野領域が狭められてしまい、透明部材全面にわたって欠陥部を高精度に検出することが出来ない問題がある。
【0011】
これに対処するに、複数の暗視野光を透明部材に照射することで、有効暗視野領域を拡大することも考えられるが、構造が複雑化するばかりでなく、互いに隣接する暗視野光同士が干渉してしまう不都合がある。
【0012】
従って、本発明の目的は、複数の暗視野光を用いることなく、簡単な構造で有効暗視野領域の実質的な拡大を図り、有効暗視野領域を透明部材全面に形成することができ、この透明部材を暗視野光で検査することで、透明部材の表面、裏面、及び内部に存在する欠陥を高精度に検出することの可能な光学的検査装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明による光学的検査装置は、透明部材を搭載するステージと、上記ステージの一方の面に設定間隔を開けて対設する撮像装置と、上記ステージの他方の面に対設する照明装置とを備え、上記照明装置を上記ステージと平行な方向へ直線移動自在に支持し、上記照明装置に、該照明装置の移動方向に直交する方向へ延出すると共に上記透過部材に対してライン状の暗視野照明用検査光を投光するライン照明手段を設け、演算手段では、上記ライン照明手段から投光されたライン状の暗視野照明用検査光によって上記撮像装置で撮像した上記透明部材の画像に基づき該画像の明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出すると共に、該暗視野領域中の輝度分布から上記透明部材の欠陥部を検出することを特徴とする。
【0014】
このような構成では、ステージに透明部材を搭載し、照明装置に備えられているライン照明手段からライン状の暗視野照明用検査光を透明部材に投光し、その透過光を撮像装置にて撮像する。演算手段では、撮像装置で撮像した透明部材の画像に基づき明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出し、更に、抽出した暗視野領域中の輝度分布から透明部材に存在する欠陥部を検出する。
【0015】
この場合、好ましくは、上記演算手段では、上記照明装置の移動に同期して上記暗視野領域を連続的に抽出し、抽出した該各暗視野領域を合成して上記透明部材全体の暗視野画像を生成する。更に、上記欠陥部のサイズを画素数で表示することで、欠陥部の大きさを瞬時に認識することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の一実施の形態を説明する。図1に光学的検査装置全体構成図、図2に図1のII矢視平面図を示す。
【0017】
本実施の形態による光学的検査装置1は、透明部材としてのメガネレンズ2を搭載するステージ3を有し、このステージ3の鉛直方向に撮像装置4が対設されている。このステージ3と撮像装置4とは互いに連接された状態で固定されており、ステージ3と撮像装置4との間隔は、図示しない調整機構により調整自在にされている。
【0018】
又、この撮像装置4の観察光軸が、ステージ3の中心に対設されている。このステージ3の中央には、メガネレンズ2の外縁よりもやや小さい径の貫通孔3aが穿設されている。メガネレンズ2はガラス或いはプラスチック製であり、光学的検査装置1により、表面に形成された傷や、製造過程で内部に形成された気泡を検出し、更に、表面に反射防止膜(マルチコート膜)やハードコート膜がコーティングされている場合は、コーティング不良の有無を検出する。
【0019】
又、ステージ3の下方に照明装置5が配設されている。この照明装置5に、メガネレンズ2に対してライン状の暗視野照明用検査光を投光するライン照明手段5aが固設されている。このライン照明手段5aは、複数の光ファイバーを一列に配設したライン型ライトガイド、或いは複数のLED(Light Emitting Diode)をライン状に配設したLEDアレイ、或いは円柱状の蛍光灯等で構成されている。この場合、ライン照明手段5aは、少なくともメガネレンズ2の直径をカバーする長さを有している。
【0020】
尚、ライン型ライトガイドの入射端には照明光源(図示せず)が対設されている。更に、ライン照明手段5aの出射側に、投光される暗視野照明用検査光を拡散する拡散プレートを配設するようにしてもよい。
【0021】
又、照明装置5は、基台6に対しリニアスライダ(図示せず)を介して支持されている。このリニアスライダは、照明装置5をライン照明手段5aの延出方向に対して直交する方向(図1、図2の矢印で示す方向)へ直線状に移動させるもので、移動量は駆動手段7から出力される駆動信号に従って制御される。尚、照明装置5の移動量は、リニアエンコーダ等の位置計測手段(図示せず)により検出される。
【0022】
一方、撮像装置4は、撮像部にCCD(Charge Coupled Device)やMOS(Metal Oxide Semiconductor)等の固体撮像素子(図示せず)を備えるカメラ4aを有し、このカメラ4aにカメラレンズ4bが装着され、更に、このカメラレンズ4bの入射面に光学フィルタ4cが装着されている。固体撮像素子で撮像し、光電変換された画像は、A/D変換器(図示せず)によりデジタル画像信号に変換されて、演算手段としてのパーソナルコンピュータ(以下「パソコン」と略称)8に出力される。パソコン8は、光学的検査装置1全体の制御及び画像データの処理を行うもので、各種演算を行うCPU、制御プログラムや各種データを記憶する記憶手段等で構成されている。更に、このパソコン8に、モニタ9、キーボード10、マウス11等の周辺機器が接続されている。
【0023】
パソコン8は、カメラ4aから出力されてA/D変換された画像信号に基づき、輝度分布を求め、この輝度分布から明部と暗部との境界領域である特定最適照明部分(以下、本実施の形態では、この領域を「暗視野領域A」と称する)を抽出する。
【0024】
そして、照明装置5の移動に伴い、それに同期して暗視野領域Aを連続的に抽出して、各暗視野領域Aを合成し、図5に示すように、メガネレンズ2全面の暗視野画像を生成する。暗視野画像は、メガネレンズ2の表面に微細な傷等の欠陥部がある場合、或いはメガネレンズ2の内部に気泡が形成されている場合、メガネレンズ2を透過してカメラ4aに取込まれる暗視野照明用検査光が、図4、図5に矢印m1で示すように白く強調される。
【0025】
従って、暗視野照明による撮像で得られた暗視野画像から、その輝度分布を求めることで、欠陥部の位置や大きさ(画素数)を計測し、所定の判定基準に照らして不適合か否かを判断することができる。
【0026】
以下、上述した光学的検査装置1を用いてメガネレンズ2の欠陥部を検出する手順について、図3に示す検査ルーチンに従って説明する。
【0027】
先ず、ステップS1で、光学的検査装置1のステージ3にメガネレンズ2を所定に搭載し、固定する。次いで、ステップS2へ進み、メガネレンズ2の全面が計測されたか否かを調べる。メガネレンズ2をステージ3に搭載した状態では、このステージ3の下方に配設されている照明装置5は、図1及び図2に示すようにメガネレンズ2の周縁一側に配置されている。
【0028】
従って、検査開始直後は、ステップS3へ進み、パソコン8から駆動手段7へ駆動信号を出力する。その結果、この駆動手段7が、図示しないリニアスライダを駆動させて、照明装置5を、図1、図2の状態から、同図の左方向へ一定速度、或いは断続的に移動させる。
【0029】
すると、この照明装置5に設けられているライン照明手段5aから投光される暗視野照明用検査光がメガネレンズ2に照射され、このメガネレンズ2を透過した暗視野照明用検査光が、その上方に対設されている撮像装置4の光学フィルタ4c、カメラレンズ4bを介してカメラ4aに設けられている固体撮像素子に受光される。そして、この固体撮像素子に受光された画像が光電変換され、A/D変換器(図示せず)によりデジタル画像信号に変換されて、パソコン8に出力される。
【0030】
パソコン8は、ステップS4で、画像信号を取込み、続く、ステップS5で、この画像信号の輝度分布と、照明装置5の移動量を検出する位置計測手段(図示せず)からの信号に基づき検出したライン照明手段5aによる照明位置とに基づき、暗視野領域A(図4参照)を抽出する。
【0031】
そして、ステップS6で、今回抽出した暗視野領域Aの画像(暗視野画像)が連続しているか否かを調べ、連続している場合は、ステップS7へ進み、又、暗視野画像に抜けがあるために連続していない場合は、ステップS3へ戻り、照明装置5を戻す方向へ移動させて、暗視野照明用検査光を照射し、同一位置の暗視野画像を再度取り込む。
【0032】
又、ステップS6からステップS7へ進むと、今回抽出した暗視野画像の輝度分布を求め、メガネレンズ2の表面或いは裏面に形成された傷、或いは内部に形成された気泡等の欠陥部が存在するか否か検査し、欠陥部が検出された場合、ステップS8へ分岐し、又、欠陥部が検出されなかった場合は、ステップS9へ進む。
【0033】
欠陥部が検出されてステップS8へ進むと、欠陥部の画素数(pix)をカウントし、ステップS9へ進む。
【0034】
ステップS9では、パソコン8に設けられている記憶手段(図示せず)に、今回抽出した暗視野画像データを蓄積すると共に、欠陥部が検出された場合は、この欠陥部のエリアと欠陥サイズ(画素数)とを記憶し、ステップS2へ戻り、次の暗視野領域Aを抽出し、当該暗視野領域Aに欠陥部があるか否かを検査する。
【0035】
このようにして、メガネレンズ2全面の測定が終了した場合、ステップS2からステップS10へ分岐し、測定結果を出力してルーチンを終了する。
【0036】
図5に示すように、メガネレンズ2全面の測定が終了すると、各暗視野領域A毎に抽出した暗視野画像が合成された状態で出力される。
【0037】
この暗視野画像の合成画像は、例えばモニタ9に表示される。図6にモニタ9の表示内容を例示する。同図に示すように、モニタ9には、紙面に向かって左側にメガネレンズ2の全体画像が表示される。この画像中に欠陥部の位置及びサイズが表示されると共に、エリアが表示される。
【0038】
本実施の形態ではメガネレンズ2を同心円状の1〜3のエリアに区分し、欠陥部をエリア別に割り出し、モニタ9の右下に、エリア別検出結果を欠陥サイズ(画素数)毎に集計して表示すると共に、その上部に検出部の拡大画像を表示できるように設定されている。欠陥サイズを画素数で表示することで、欠陥部の大きさを瞬時に認識することができる。同様に、メガネレンズ2全体を表示する暗視野画像中に、欠陥部を表示することで、欠陥部の存在する位置を瞬時に認識することができる。
【0039】
このように、本実施の形態では、メガネレンズ2の欠陥部を暗視野画像により自動的に検出するようにしたので、従来のような検査員の肉眼による検査に比し、検査精度が均一化され、しかも、微細な欠陥部も検出することが可能であるため、より厳しい品質が要求される場合にも充分対応することが可能となる。
【0040】
又、撮像装置4で撮像した画像の輝度分布に基づき暗視野領域Aを抽出するようにしたので、メガネレンズ2に埃や微細なゴミが付着されている場合であっても、更に、メガネレンズ2の厚みや曲率が相違する場合であっても、これらに影響されることなく、メガネレンズ2自体の欠陥のみを一律に検出することが可能となり、より高い検出精度を得ることができる。
【0041】
更に、メガネレンズ2を搭載するステージ3と撮像装置4とを固定し、照明装置5の移動により、メガネレンズ2全面を暗視野撮影するようにしたので、ステージ3と撮像装置4とを移動させる場合に比し、メガネレンズ2が受ける振動を最小限とすることができるため、より高い検査精度を得ることができると共に、構造が簡素化され、製品コストの低減を実現することができる。更に、照明装置5に設けられているライン照明手段5aから出射されるライン状の暗視野照明用検査光を移動させることで、暗視野領域A別の暗視野画像を得るようにしたので、従来のよな暗視野照明用検査光を固定された位置から投光するものに比し、有効暗視野領域の実質的な拡大を図ることができる。
【0042】
尚、この場合、カメラレンズ4bの倍率や画格の調整、カメラ4aとメガネレンズ2との間に介在させる光学フィルタ4cの選別を適宜設定することで、暗視野領域Aをできるだけ広い領域で取り入れ、パソコン8にてより効率よく画像処理を行うことが可能となる。更に、カメラレンズ4bの焦点深度を調整することで、メガネレンズ2の内部に形成された気泡、或いは裏面に形成されている傷等の欠陥部をより鮮明に検出することが可能となる。
【0043】
更に、本発明は上述した実施の形態に限るものではなく、例えば、透明部材は、メガネレンズ2に限定されず、光学レンズ等の光学素子や透明基板等であってもよい。
【0044】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明によれば、複数の暗視野光を用いることなく、簡単な構造で有効暗視野領域の実質的な拡大を図り、有効暗視野領域を透明部材全面に形成することができ、この透明部材を暗視野光で検査することで、透明部材の表面、裏面、及び内部に存在する欠陥を高精度に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光学的検査装置全体構成図
【図2】図1のII矢視平面図
【図3】検査ルーチンを示すフローチャート
【図4】暗視野領域を示す説明図
【図5】暗視野領域の合成画像を示す説明図
【図6】検査結果の表示例を示す説明図
【符号の説明】
1 光学的検査装置
2 メガネレンズ(透明部材)
3 ステージ
4 撮像装置
5 照明装置
5a ライン照明手段
8 パソコン(演算手段)
Claims (3)
- 透明部材を搭載するステージと、
上記ステージの一方の面に設定間隔を開けて対設する撮像装置と、
上記ステージの他方の面に対設する照明装置と、
を備え、
上記照明装置を上記ステージと平行な方向へ直線移動自在に支持し、
上記照明装置に、該照明装置の移動方向に直交する方向へ延出すると共に上記透過部材に対してライン状の暗視野照明用検査光を投光するライン照明手段を設け、
演算手段では、上記ライン照明手段から投光されたライン状の暗視野照明用検査光によって上記撮像装置で撮像した上記透明部材の画像に基づき該画像の明部と暗部との境界に存在する暗視野領域を抽出すると共に、該暗視野領域中の輝度分布から上記透明部材の欠陥部を検出することを特徴とする光学的検査装置。 - 上記演算手段では、上記照明装置の移動に同期して上記暗視野領域を連続的に抽出し、抽出した該各暗視野領域を合成して上記透明部材全体の暗視野画像を生成することを特徴とする請求項1記載の光学的検査装置。
- 上記欠陥部のサイズを画素数で表示することを特徴とする請求項1又は2記載の光学的検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003002686A JP2004212353A (ja) | 2003-01-09 | 2003-01-09 | 光学的検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003002686A JP2004212353A (ja) | 2003-01-09 | 2003-01-09 | 光学的検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004212353A true JP2004212353A (ja) | 2004-07-29 |
Family
ID=32820348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003002686A Pending JP2004212353A (ja) | 2003-01-09 | 2003-01-09 | 光学的検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004212353A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005207824A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | Pentax Corp | 検査システム |
JP2012042254A (ja) * | 2010-08-16 | 2012-03-01 | Canon Inc | レンズ欠陥の検査方法 |
WO2016009920A1 (ja) * | 2014-07-14 | 2016-01-21 | 住友化学株式会社 | 基板の検査装置及び基板の検査方法 |
JP2017040612A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | キヤノン株式会社 | 検査方法、検査装置、画像処理装置、プログラム及び記録媒体 |
CN112161956A (zh) * | 2020-09-25 | 2021-01-01 | 重庆金山医疗器械有限公司 | 一种镜片检测方法、装置、系统及可读存储介质 |
WO2023276555A1 (ja) * | 2021-06-30 | 2023-01-05 | 株式会社Screenホールディングス | 光学レンズ検査装置、および光学レンズ検査方法 |
-
2003
- 2003-01-09 JP JP2003002686A patent/JP2004212353A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005207824A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | Pentax Corp | 検査システム |
JP4495473B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2010-07-07 | Hoya株式会社 | 検査システム |
JP2012042254A (ja) * | 2010-08-16 | 2012-03-01 | Canon Inc | レンズ欠陥の検査方法 |
WO2016009920A1 (ja) * | 2014-07-14 | 2016-01-21 | 住友化学株式会社 | 基板の検査装置及び基板の検査方法 |
JP2016020824A (ja) * | 2014-07-14 | 2016-02-04 | 株式会社サイオクス | 基板の検査装置及び基板の検査方法 |
US10209203B2 (en) | 2014-07-14 | 2019-02-19 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Wafer inspection apparatus and wafer inspection method |
JP2017040612A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | キヤノン株式会社 | 検査方法、検査装置、画像処理装置、プログラム及び記録媒体 |
CN112161956A (zh) * | 2020-09-25 | 2021-01-01 | 重庆金山医疗器械有限公司 | 一种镜片检测方法、装置、系统及可读存储介质 |
WO2023276555A1 (ja) * | 2021-06-30 | 2023-01-05 | 株式会社Screenホールディングス | 光学レンズ検査装置、および光学レンズ検査方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7907270B2 (en) | Inspection apparatus and method, and production method for pattern substrates | |
US20100302364A1 (en) | Three dimensional shape measurement apparatus and method | |
TW200839227A (en) | Automatic inspection system for flat panel substrate | |
JPWO2006059647A1 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP2009513984A (ja) | 複合構造に欠陥がないか検査するための装置および方法 | |
JP2009020000A (ja) | 検査装置および方法 | |
TW201241420A (en) | Tire shape testing device and tire shape testing method | |
JP2007171149A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
KR20110010749A (ko) | 관찰 장치 및 관찰 방법 | |
JP2004037248A (ja) | 検査装置および貫通孔の検査方法 | |
JP2015055561A (ja) | マイクロレンズアレイの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
JPH05160233A (ja) | ボンデイングワイヤ検査方法 | |
US20100309309A1 (en) | Method for precisely detecting crack width | |
KR101015807B1 (ko) | 표면 검사 장치 및 표면 검사 방법 | |
JP2008198966A (ja) | ウエーハ欠陥検査装置 | |
JPH05160231A (ja) | ボンデイングワイヤ検査装置 | |
JP5042503B2 (ja) | 欠陥検出方法 | |
JP2004212353A (ja) | 光学的検査装置 | |
JP2009236760A (ja) | 画像検出装置および検査装置 | |
JP2002090258A (ja) | レンズの検査方法及び装置並びにシステム | |
JPH11248643A (ja) | 透明フィルムの異物検査装置 | |
JP2008064656A (ja) | 周縁検査装置 | |
CN208672536U (zh) | 一种大口径超精密表面的暗场缺陷检测装置 | |
JP2004257776A (ja) | 光透過体検査装置 | |
JP2007163315A (ja) | 透明材料中の欠陥の形状及び位置の計測方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20040519 |