JP2005207824A - 検査システム - Google Patents
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Abstract
検査装置における被検物の搬送や移動にかかる時間を短縮しつつ、小型化が実現された光学部材の検査システムを提供すること。
【解決手段】
検査システムは、供給トレイにある複数の被検物を順次検査部にて検査し、該検査部における検査結果に対応した収納トレイに該被検物を振り分ける検査システムであって、検査部は、被検物を該検査位置で保持する保持手段と、被検物を撮像する撮像手段とが、検査位置にある被検物を挟んで略同一直線上に並んで配設されており、保持手段は、被検物を供給トレイから検査位置まで搬送し、かつ検査位置にある被検物を収納トレイに搬送する構成にした。
【選択図】 図1
Description
r3<r1<r2
r3<r1<r2
このような関係を持つヘッド8を使用することにより、製品として実際に使用されるレンズ領域を汚したり傷つけたりすることなく、レンズLを保持することができ、かつ暗視野照明を用いてレンズLを撮像した時に、撮像画像にヘッド8の当接面8aが無用に映り込むことを有効に回避することができる。
8 ヘッド
10 検査部
10A 保持・搬送部
10B 撮像部
51〜53 トレイ
100 検査システム
Claims (17)
- 供給トレイにある複数の被検物を順次検査部にて検査し、該検査部における検査結果に対応した収納トレイに該被検物を振り分ける検査システムであって、
前記検査部は、前記被検物を所定の検査位置で保持する保持手段と、前記被検物を撮像する撮像手段とを有し、
前記保持手段における前記被検物との当接面と、前記撮像手段とは、検査位置にある前記被検物を挟んで対峙しており、
前記保持手段は、前記被検物を前記供給トレイから前記検査位置まで搬送し、かつ前記検査位置にある前記被検物を前記収納トレイに搬送することを特徴とする検査システム。 - 請求項1に記載の検査システムにおいて、
前記撮像手段は、
前記検査位置にある前記被検物を含む所定範囲を撮像する撮像部と、
前記撮像部と前記被検物が略共役な関係になる位置に配設される対物光学系と、
前記被検物と前記対物光学系との間に配設され、少なくとも前記所定範囲を照明する光を照射する発光部と、を有することを特徴とする検査システム。 - 前記被検物が前記検査位置にある状態において、前記当接面の中心は前記対物光学系の光軸上にあり、かつ前記被検物の中心軸と前記対物光学系の光軸は略一致することを特徴とする請求項2に記載の検査システム。
- 請求項2または請求項3に記載の検査システムにおいて、
前記対物光学系の光軸は、前記供給トレイおよび前記収納トレイと略直交することを特徴とする検査システム。 - 請求項2から請求項4のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記保持手段は、前記被検物を吸引する吸引手段を有しており、該吸引手段が前記当接面から前記対物光学系の光軸に沿う方向に前記被検物を吸引することにより前記被検物を保持することを特徴とする検査システム。 - 2から請求項5のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記保持手段は、該保持手段に着脱自在に構成され、前記当接面の直径が各々異なる複数のヘッドを有し、
前記発光部から前記光が前記対物光学系の光軸と略平行に照射されるか否かに対応して、所定の直径を有するヘッドが前記保持手段に装着されることを特徴とする検査システム。 - 請求項6に記載の検査システムにおいて、
前記発光部は、前記対物光学系の光軸に対して斜めに前記光を照射し、
前記所定の直径は、前記被検物の全長よりも短いことを特徴とする検査システム。 - 請求項7に記載の検査システムにおいて、
前記被検物は、レンズであり、
前記所定の直径r1、前記レンズの口径r2、前記レンズの有効径r3が、以下の関係、
r3<r1<r2
を満たすことを特徴とする検査システム。 - 請求項6に記載の検査システムにおいて、
前記発光部は、前記対物光学系の光軸と略平行に前記光を照射し、
前記所定の直径は、前記被検物の全長よりも長いことを特徴とする検査システム。 - 請求項9に記載の検査システムにおいて、
前記当接面は、前記被検物よりも高い反射率を有することを特徴とする検査システム。 - 請求項10に記載の検査システムにおいて、
前記当接面は、鏡面加工がなされていることを特徴とする検査システム。 - 請求項9から請求項11のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記被検物は、レンズであり、
前記所定の直径は、前記レンズの口径よりも長いことを特徴とする検査システム。 - 請求項1から請求項12のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記被検物の形状を検査することを特徴とする検査システム。 - 請求項1から請求項13のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記保持手段は、前記直線に平行な二つの軸を有し、該二つの軸と直交する面内で各軸に対して回動自在なアーム型ロボットであることを特徴とする検査システム。 - 請求項1から請求項14のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記保持手段は、前記直線に直交する面内において、互いに直交する二つの方向に移動自在なアーム型ロボットであることを特徴とする検査システム。 - 請求項3から請求項15のいずれかに記載の検査システムにおいて、
前記保持手段が前記被検物を前記供給トレイから前記検査位置まで搬送するルート上に、前記検査位置において前記被検物の中心軸が前記対物光学系の光軸と略一致するように、前記被検物の位置ずれを補正する位置ずれ補正手段をさらに有することを特徴とする検査システム。 - 請求項16に記載の検査システムにおいて、
前記位置ずれ補正手段は、前記被検物が一時的に載置されるテーブルと、前記テーブルの中心を通る中心線を基準として、前記テーブルの載置面に沿って互いに同量だけ離反しあるいは接近する方向にスライドする被検物挟持手段と、を有し、
前記保持手段は、前記当接面の中心が前記中心線上に位置するまで駆動すると、前記テーブルに前記被検物を載置し、前記被検物挟持手段によって挟持された前記被検物を再び保持、搬送することを特徴とする検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004013328A JP4495473B2 (ja) | 2004-01-21 | 2004-01-21 | 検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004013328A JP4495473B2 (ja) | 2004-01-21 | 2004-01-21 | 検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005207824A true JP2005207824A (ja) | 2005-08-04 |
JP4495473B2 JP4495473B2 (ja) | 2010-07-07 |
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ID=34899425
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004013328A Expired - Fee Related JP4495473B2 (ja) | 2004-01-21 | 2004-01-21 | 検査システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4495473B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN102389876A (zh) * | 2008-08-07 | 2012-03-28 | 三星电机株式会社 | 透镜分拣设备和透镜分拣方法 |
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-
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JP4495473B2 (ja) | 2010-07-07 |
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A621 | Written request for application examination |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A977 | Report on retrieval |
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R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
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