JP2015055561A - マイクロレンズアレイの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
しかしながら、マイクロレンズの配列ピッチが数十μm以下になった場合には、上述した様々な欠陥も数十μm以下のサイズのものを検出する必要がある。このような小さい欠陥を人間の目による目視検査で確実に検出するのは非常に難しい。
特許文献2においては、マイクロレンズアレイを構成するマイクロレンズごとにその焦点距離を測定する方法が開示されている。
特許文献3においては、マイクロレンズアレイの焦点距離を各レンズのエッジからではなく、正確に各レンズ主点からの距離として計測するための方法が開示されている。
まず、マイクロレンズアレイに平行光を入射させる。平行光を得るため、両文献においてはレーザ光などのコヒーレント光を用いている。
そして、マイクロレンズアレイの各マイクロレンズを透過して来た光を受光器で受光する。このとき、マイクロレンズアレイに平行光を入射したので、各マイクロレンズからの射出光は焦点距離の位置で収束するはずである。
逆に、焦点距離の位置から外れたところに受光器があると、光を受光する面積は大きくなり、受光輝度値は減少するであろう。
そして、受光面積が最小となるか、受光輝度値が最大となる受光器の地点を求めれば、すなわちそれがマイクロレンズの焦点距離である。
焦点距離が設計値からずれてしまっている異常なマイクロレンズを含むマイクロレンズアレイは、選別や廃棄等の対象となる。
複数のマイクロレンズが面内に配列されたマイクロレンズアレイの欠陥検査方法であって、
光源から前記マイクロレンズアレイに照射された光が各マイクロレンズを透過して生成された、光軸に沿った方向のある1か所における複数の集光スポットの画像を、撮像素子を用いて取得し、
取得された前記集光スポットの画像から前記マイクロレンズの欠陥の有無を検出することを特徴とする。
前記マイクロレンズの前記集光スポットの輪郭線を取得し、
前記集光スポットの形状、前記集光スポットの面積、前記集光スポット内の最大光強度、及び前記集光スポット内の積分強度の少なくとも一つについて、検査項目として前記輪郭線を用いて算出することを特徴とする。
前記マイクロレンズの焦点からずれた位置における前記集光スポットの画像から、各マイクロレンズの欠陥の有無を検出することを特徴とする。
前記マイクロレンズアレイに照射される光が、前記マイクロレンズアレイに向かって発散してくる光であることを特徴とする。
前記マイクロレンズの前記集光スポットを検出する位置は、前記マイクロレンズから、前記マイクロレンズの焦点距離の2倍の位置までの範囲内であることを特徴とする。
検査の対象とする前記集光スポットの前記検査項目と、周囲の前記集光スポットの前記検査項目とを比較することにより、欠陥の有無を判定することを特徴とする。
複数のマイクロレンズが面内に配列されたマイクロレンズアレイに光を照射して、前記マイクロレンズアレイに照射された光が各マイクロレンズを透過して生成された集光スポットの画像を複数まとめて検査するマイクロレンズ欠陥検査装置であって、
前記マイクロレンズアレイに光を照射する光源と、
前記マイクロレンズアレイへと入射する光の発散角を変更する発散角変更手段と、
光軸に沿った方向のある1か所における、前記集光スポットの画像を取得するための撮像素子と、
前記撮像素子に前記集光スポットの像を結像させる撮像レンズと、
前記集光スポットの画像から前記マイクロレンズの欠陥の有無を検出する欠陥検出手段と、
を備えることを特徴とする。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図1は、実施の形態1にかかるマイクロレンズアレイ欠陥検査装置100の構成を示す図である。
マイクロレンズアレイ欠陥検査装置100は、光源110と、発散角変更手段120と、撮像レンズ130と、撮像素子140と、マイクロレンズアレイ支持部150と、コンピュータ170を備える。検査対象となるマイクロレンズアレイ160は、マイクロレンズアレイ支持部150に支持される。
光軸に沿った方向をz軸とし、マイクロレンズアレイ160が配置された位置をz=0とする。マイクロレンズアレイ160上の各マイクロレンズ161が生成する集光スポットは、それぞれのマイクロレンズ161からその焦点距離Fだけ離れた平面A上(z=F)に焦点を結び、このとき集光スポットが最小となる。その後、透過光は拡がり、平面B上(z=2F)で隣接した集光スポットと重なり始める。
まず、マイクロレンズアレイ160上の検査対象領域を決定する。そして、光源110からマイクロレンズアレイ160上の検査対象領域へと光を照射する。すると、マイクロレンズアレイ160へと照射された光が、マイクロレンズアレイ160上の各マイクロレンズ161を透過して、集光スポットを複数形成する。
図5及び図6は、マイクロレンズアレイ160上の図4の顕微鏡写真に示した箇所に対応する集光スポットの画像である。図5は、マイクロレンズ161の焦点よりもマイクロレンズ161に近い位置における集光スポットの画像である。図6は、マイクロレンズ161の焦点での集光スポットの画像である。図5及び図6ともに、各集光スポットが分離した状態で画像を取得することができている。
マイクロレンズ161の集光スポットの形状からマイクロレンズ161の欠陥の有無を検出する方法について説明する。
まず、取得した複数のマイクロレンズ161の集光スポットの画像を二値化処理し、各集光スポットの輪郭を抽出し、集光スポットごとにその輪郭線を求める。図7に、図5の集光スポットの輪郭線を求めた結果を示す。図8に、図6の集光スポットの輪郭線を求めた結果を示す。
次に、各集光スポットの輪郭線の楕円近似結果から、楕円の長軸及び短軸の長さを算出する。そして、長軸及び短軸の長さが、周囲の集光スポットの平均値から大きく離れている箇所の集光スポットを欠陥有り(不良)と判定する。
マイクロレンズ161の集光スポットの面積からマイクロレンズ161の欠陥の有無を検出する方法について説明する。
上述したマイクロレンズ161の集光スポット形状の検査で各集光スポットの輪郭線が得られた(図7、図8)。この輪郭線を構成する画素の座標から、輪郭線内の面積を積分して求める。積分を用いずに、単純に輪郭線上及びその内側にある画素数を集計するだけでもよい。
各集光スポットのうち、その面積が周囲の集光スポットの面積の平均値から大きく離れているものを欠陥有り(不良)と判定する。
上述したマイクロレンズ161の集光スポット形状の検査で各集光スポットの輪郭線が得られ、この輪郭線を構成する画素の座標がわかる(図7、図8)。これより、集光スポットの輪郭線上及び輪郭線の内側にある各画素の受光量を比較し、受光量が最大の画素の数値を、その集光スポット内の最大強度とする。
各集光スポットのうち、最大強度が周囲の集光スポットの平均値から大きく離れているものを欠陥有り(不良)と判定する。
上述したマイクロレンズ161の集光スポット形状の検査で各集光スポットの輪郭線が得られ、この輪郭線を構成する画素の座標がわかる(図7、図8)。これより、集光スポットの輪郭線上及び輪郭線の内側の画素の受光量を全て積算して求めた数値を、その集光スポットの積分強度とする。
各集光スポットのうち、積分強度が周囲の集光スポットの平均値から大きく離れているものを欠陥有り(不良)と判定する。
なお、上述の各検査項目についての良否判定スライスレベルは、例えば、欠陥を有する複数のサンプルの検査結果に統計的な処理を施すことにより、適切な数値を決めることができる。
樹脂成形品には一定の反りがあるのが一般的である。このため、マイクロレンズアレイ160に反りがある場合には、マイクロレンズアレイ160上のある測定箇所では分離した集光スポットが得られていても、別な測定箇所では分離した集光スポットを得ることができないことがある。例えば、上述の焦点距離が約100μmのマイクロレンズ161の場合、分離した集光スポットが得られる範囲は焦点距離の2倍の約200μmしかないため、撮像レンズ130や撮像素子140を配置する際の公差に十分な余裕があるとはいえない。
0 < z < 2・S2 ・・・(2)
110 光源
120 発散角変更手段
121 第1のレンズ
122 第2のレンズ
123 ピンホール
130 撮像レンズ
140 撮像素子
150 マイクロレンズアレイ支持部
160 マイクロレンズアレイ
161 マイクロレンズ
170 コンピュータ
Claims (7)
- 複数のマイクロレンズが面内に配列されたマイクロレンズアレイの欠陥検査方法であって、
光源から前記マイクロレンズアレイに照射された光が各マイクロレンズを透過して生成された、光軸に沿った方向のある1か所における複数の集光スポットの画像を、撮像素子を用いて取得し、
取得された前記集光スポットの画像から前記マイクロレンズの欠陥の有無を検出することを特徴とする
マイクロレンズアレイの欠陥検査方法。 - 前記マイクロレンズの前記集光スポットの輪郭線を取得し、
前記集光スポットの形状、前記集光スポットの面積、前記集光スポット内の最大光強度、及び前記集光スポット内の積分強度の少なくとも一つについて、検査項目として前記輪郭線を用いて算出することを特徴とする
請求項1に記載のマイクロレンズアレイの欠陥検査方法。 - 前記マイクロレンズの焦点からずれた位置における前記集光スポットの画像から、各マイクロレンズの欠陥の有無を検出することを特徴とする
請求項1又は2に記載のマイクロレンズアレイの欠陥検査方法。 - 前記マイクロレンズアレイに照射される光が、前記マイクロレンズアレイに向かって発散してくる光であることを特徴とする
請求項1〜3のいずれか一項に記載のマイクロレンズアレイの欠陥検査方法。 - 前記マイクロレンズの前記集光スポットを検出する位置は、前記マイクロレンズから、前記マイクロレンズの焦点距離の2倍の位置までの範囲内であることを特徴とする
請求項1〜4のいずれか一項に記載のマイクロレンズアレイの欠陥検査方法。 - 検査の対象とする前記集光スポットの前記検査項目と、周囲の前記集光スポットの前記検査項目とを比較することにより、欠陥の有無を判定することを特徴とする
請求項1〜5のいずれか一項に記載のマイクロレンズアレイの欠陥検査方法。 - 複数のマイクロレンズが面内に配列されたマイクロレンズアレイに光を照射して、前記マイクロレンズアレイに照射された光が各マイクロレンズを透過して生成された集光スポットの画像を複数まとめて検査するマイクロレンズ欠陥検査装置であって、
前記マイクロレンズアレイに光を照射する光源と、
前記マイクロレンズアレイへと入射する光の発散角を変更する発散角変更手段と、
光軸に沿った方向のある1か所における、前記集光スポットの画像を取得するための撮像素子と、
前記撮像素子に前記集光スポットの像を結像させる撮像レンズと、
前記集光スポットの画像から前記マイクロレンズの欠陥の有無を検出する欠陥検出手段と、
を備えることを特徴とする
マイクロレンズ欠陥検査装置。
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