JP2004171922A - 透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - Google Patents

透過型電子顕微鏡及び立体観察法 Download PDF

Info

Publication number
JP2004171922A
JP2004171922A JP2002336392A JP2002336392A JP2004171922A JP 2004171922 A JP2004171922 A JP 2004171922A JP 2002336392 A JP2002336392 A JP 2002336392A JP 2002336392 A JP2002336392 A JP 2002336392A JP 2004171922 A JP2004171922 A JP 2004171922A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
image
sample surface
predetermined portion
angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002336392A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3785458B2 (ja
Inventor
Takayoshi Tanji
敬義 丹司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nagoya University NUC
Original Assignee
Nagoya University NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nagoya University NUC filed Critical Nagoya University NUC
Priority to JP2002336392A priority Critical patent/JP3785458B2/ja
Priority to US10/713,109 priority patent/US7012253B2/en
Priority to EP03257301A priority patent/EP1426998A2/en
Publication of JP2004171922A publication Critical patent/JP2004171922A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3785458B2 publication Critical patent/JP3785458B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/22Optical, image processing or photographic arrangements associated with the tube
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/15Means for deflecting or directing discharge
    • H01J2237/151Electrostatic means
    • H01J2237/1514Prisms
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/26Electron or ion microscopes
    • H01J2237/2611Stereoscopic measurements and/or imaging

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】試料の変化を実時間で観察できる透過型電子顕微鏡及びこの顕微鏡を用いた立体観察法を提供する。
【解決手段】電子線照射源1から電子線を発射し、電子線照射源1の前方に設けた偏向板2によって前記電子線を偏向して得た第1の電子線E1を、試料Sの所定部分に対して第1の角度θ1で照射するとともに、偏向板2によって前記電子線を偏向して得た第2の電子線E2を、試料Sの前記所定部分に対して第1の角度θ1と異なる第2の角度θ2で照射する。次いで、3次元表示装置によって、第1の電子線E1によって得られた第1の像及び第2の電子線E2によって得られた第2の像を結合させ、試料Sの前記所定部位の像を立体的に表示する。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、透過型電子顕微鏡及び立体観察法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、透過型電子顕微鏡を用いた立体観察法としては、CT法及びステレオ法が広く使用されている。CT法は、一つの試料を0度から180度回転させるとともに、前記角度範囲内において試料の所定部分の投影画像を多数枚撮影し、得られた画像を計算機処理することによって前記所定部分の3次元構造を得、立体観察を可能ならしめるものである。ステレオ投影法は試料を回転させ、前記試料の傾きが視差角だけ異なる2枚の像を撮影し、現像及び焼き付けした後にステレオビュアーなどを用いることにより立体観察するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記CT法においては計算機処理に時間を要し、前記試料の変化を実時間で観察することができないという問題があった。また、前記ステレオ投影法においては前記試料の回転という操作に加えて、現像及び焼き付けという操作が加わり、これら一連の操作には数十分を要することから、この場合においても前記試料の変化を実時間で観察することができないという問題があった。
【0004】
本発明は、試料の変化を実時間で観察できる透過型電子顕微鏡及びこの顕微鏡を用いた立体観察法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく、本発明は、
電子線照射源と、
前記電子線照射源の前方に設けられ、前記電子線照射源から発せられた電子線を偏向して得た第1の電子線を、試料面の所定部分に対して第1の角度で照射するとともに、前記電子線照射源から発せられた前記電子線を偏向して得た第2の電子線を、前記試料面の前記所定部分に対して前記第1の角度と異なる第2の角度で照射させるための偏向装置と、
前記第1の電子線による第1の像及び前記第2の電子線による第2の像を結合させ、前記試料面の前記所定部位の像を立体的に表示する3次元表示装置と、
を具えることを特徴とする、透過型電子顕微鏡に関する。
【0006】
また、本発明は、
電子線照射源から電子線を発射する工程と、
前記電子線照射源の前方に設けた偏向装置によって前記電子線を偏向して得た第1の電子線を、試料面の所定部分に対して第1の角度で照射するとともに、前記偏向装置によって前記電子線を偏向して得た第2の電子線を、前記試料面の前記所定部分に対して前記第1の角度と異なる第2の角度で照射する工程と、
3次元表示装置によって、前記第1の電子線によって得られた第1の像及び前記第2の電子線によって得られた第2の像を結合させ、前記試料面の前記所定部位の像を立体的に表示する工程と、
を含むことを特徴とする、立体観察法に関する。
【0007】
本発明者らは上記目的を達成すべく鋭意検討を実施した。その結果、所定の電子線照射源より発せられた電子線を偏向させて2種類の電子線を形成し、それぞれ異なる角度で試料面の同一部分に入射させることにより、前記2種類の電子線に対応させた2種類の像を得、これらを結合することによって、前記試料面の前記部分を3次元的に観察できることを見出したものである。すなわち、前記試料面の前記部分に対して、前記2種類の電子線を異なる角度で照射するようにしているので、前記2種類の像は、前記角度に対応した視差角だけ異なる2種類の像に相当する。したがって、これらの像を結合して、所定の3次元画像表示装置上に表示するようにすれば、前記部分の立体表示が可能となり、立体観察が可能となるものである。
【0008】
また、本発明によれば、上述したCT法などのような複雑な計算機処理を必要とせず、さらにステレオ投影法などのように現像及び焼き付けなどの操作を必要としないので、前記試料面の観察に要するタクトタイムは前記第1の電子線及び前記第2の電子線の、前記試料面に対する照射時期のずれ(時間間隔)に依存する。しかしながら、前記照射時間のずれは限りなく小さくすることができ、所定の外部信号などと同期させることにより、100分の1秒オーダ程度まで簡易に低減することができる。したがって、前記試料面の観察を実時間で実行することができるようになる。
【0009】
なお、本発明の好ましい態様においては、前記偏向装置は偏向板を含み、前記偏向板に印加する電圧の極性を切り替えることにより、前記電子線の偏向方向を変化させ、前記第1の電子線及び前記第2の電子線を形成する。これによって、前記試料面の同一部分に対して異なる角度で照射すべき、前記第1の電子線及び前記第2の電子線を簡易に形成することができる。したがって、前記試料面の立体観察を簡易に行なうことができるようになる。
【0010】
また、本発明の他の好ましい態様においては、前記偏向装置は、一対のフィラメントと、この一対のフィラメントの外方に設けられた一対のアース電極とからなる電子線台形プリズムを含み、前記フィラメントに印加する電圧の極性を切り替えることにより、前記電子線の偏向方向を変化させ、前記第1の電子線及び前記第2の電子線を形成する。これによって、前記試料面の同一部分に対して異なる角度で照射すべき、前記第1の電子線及び前記第2の電子線を簡易に形成することができる。したがって、前記試料面の立体観察を簡易に行なうことができるようになる。
【0011】
さらに、前記電子線照射源及び前記電子線台形プリズムの前方において結像装置を設けることにより、前記第1の電子線による前記第1の像、及び前記電子線照射源から発せられた第3の電子線により、前記試料面を介することなく得た第3の像を重ね合わせた第1の電子線ホログラムと、前記第2の電子線による前記第2の像、及び前記第3の像を重ね合わせた第2の電子線ホログラムとを形成することができる。したがって、前記電子線ホログラムから分離して得た前記第1の像及び前記第2の像の再生像を3次元画像表示装置上に表示することにより、前記部分の立体表示を簡易に実現することができ、前記試料面の立体観察を簡易に行なうことができるようになる。
【0012】
なお、「電子線台形プリズム」とは、一対のフィラメント及びこの一対のフィラメントの外方に設けられた一対のアース電極間の電位分布が台形状となるために、便宜上呼称しているものである。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を発明の実施の形態に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明の透過型電子顕微鏡における一態様の構成を概略的に示す図である。図1に示す透過型電子顕微鏡10は、電子線照射源1、並びにこの電子線照射源1の前方に順次に設けられた偏向板2、照射レンズ3、結像レンズ4及び撮像素子6を具えている。撮像素子6はステレオ表示モニタ8に接続されている。また、観察すべき試料Sは照射レンズ3及び結像レンズ4間に配置されている。
【0014】
電子線照射源1から発せられた電子線は、偏向板2を通過する際に偏向板2に印加された電圧によって左方向に偏向され、その結果第1の電子線E1が形成される。第1の電子線E1は試料Sの所定部分に角度θ1で照射される。次いで、偏向板2に印加する電圧の極性を切り替えることにより、電子線照射源1から発せられた前記電子線は右方向に偏向され、その結果第2の電子線E2が形成される。
【0015】
第1の電子線E1及び第2の電子線E2は試料Sを透過し、第1の電子線E1による試料Sの第1の像及び第2の電子線E2による試料Sの第2の像は、それぞれ結像レンズ4を通過して、撮像素子6で撮像される。次いで、前記第1の像及び前記第2の像に相当する電気信号がステレオ表示モニタ8に送信される。モニタ8においては、前記第1の像及び前記第2の像を結合し、試料Sの前記所定部分の画像が立体的に表示され、結果として前記所定部分の立体観察を行なうことができる。
【0016】
図1に示す透過型電子顕微鏡において、前記試料面の観察に要するタクトタイムは前記第1の電子線及び前記第2の電子線の、前記試料面に対する照射時期のずれ(時間間隔)に依存する。そして、この時間間隔は、偏向板2に対する印加電圧の極性の切り替え時間に相当する。したがって、前記電圧極性の切り替えを所定の外部信号などと同期させて行なうことにより、前記時間間隔を極めて短く、例えば100分の1秒オーダ程度まで簡易に低減することができる。したがって、試料Sの前記所定部分の立体観察を実時間で行なうことができる。
【0017】
なお、前記電圧極性の切り替えは、撮像素子6に対する操作信号と同期させることができる。この場合、第1の電子線E1による前記第1の像及び第2の電子線E2による前記第2の像を、それぞれ撮像素子6のフレーム毎に簡易に取り込むことができるようになる。したがって、同一フレーム中に前記第1の像及び前記第2の像が同時に取り込まれたり、前記第1の像及び前記第2の像を取り込まないフレームの出現を回避することができるため、立体観察をより正確に行なうことができるようになる。
【0018】
また、試料Sに対する第1の電子線E1の照射角度θ1は、試料Sの前記所定部分に立てた法線から1度〜5度の範囲に設定することが好ましい。また、試料Sに対する第2の電子線E2の照射角度θ2は、前記法線から1度〜5度の範囲に設定することが好ましい。これによって、試料Sの前記所定部分の立体画像を制度良く得ることができ、立体観察を高精度に行なうことができるようになる。
【0019】
図2は、図1に示す透過型電子顕微鏡の変形例を示す構成図である。図1に示す透過型電子顕微鏡10においては、偏向板2と試料Sとの間に照射レンズ3を配置しているが、図2に示す透過型電子顕微鏡10−1においては、電子線照射源1と偏向板2との間に照射レンズ3を配置している。
【0020】
図1及び図2から明らかなように、照射レンズ3を偏向板2と試料Sとの間に配置した場合においては、単一の偏向板2を準備するのみで電子線照射源1からの電子線を偏向することができるが、照射レンズ3を電子線照射源1と偏向板2との間に設けた場合においては、2組の偏向板2−1及び2−2を準備して電子線照射源1からの電子線を偏向する。システムの構成を簡易化するという観点からは、図1に示すような構成のものが好ましい。
【0021】
図3は、本発明の透過型電子顕微鏡における他の態様の構成を概略的に示す図である。図3に示す透過型電子顕微鏡20は、電子線照射源11、並びにこの電子線照射源11の前方に順次に設けられた電子線台形プリズム12、照射レンズ13、結像レンズ14、電子線バイプリズム15及び撮像素子16を具えている。撮像素子16は分離再生回路17を介してステレオ表示モニタ18に接続されている。また、観察すべき試料Sは照射レンズ13及び結像レンズ14間に配置されている。なお、結像レンズ14及び電子線バイプリズム15は、結像レンズ系を構成する。
【0022】
図4は、電子線台形プリズムの構成を示す概略図である。図4に示すように、電子線台形プリズム12は、一対のフィラメント122と、このフィラメント122と外方に設けられた一対のアース電極123とを具えている。この場合、フィラメント122及びアース電極123間の電位分布は台形状となる。したがって、電子線台形プリズム12を用いた場合、一対のフィラメント122間の領域Aを通過する電子線は偏向されず、フィラメント122及びアース電極123間を通過する電子線のみ、それらの間に発生する電場によって偏向される。
【0023】
電子線照射源11から発せられた電子線は、電子線台形プリズム12の領域Bを通過する際に、フィラメント122及びアース電極123間に発生する電場によって左方向に偏向され、その結果第1の電子線E1が形成される。第1の電子線E1は試料Sの所定部分に角度θ1で照射される。次いで、フィラメント122及びアース電極123間に印加する電圧の極性を切り替えることにより、電子線照射源1から発せられた前記電子線は、電子線台形プリズム12の領域Bを通過する際に右方向に偏向され、その結果第2の電子線E2が形成される。
【0024】
第1の電子線E1及び第2の電子線E2は試料Sを透過し、第1の電子線E1による試料Sの第1の像及び第2の電子線E2による試料Sの第2の像は、それぞれ結像レンズ14を通過して、電子線バイプリズム15に至る。一方、電子線照射源11から発せされた第3の電子線E3は試料Sを介さずに進行し、結像レンズ14を経て電子線バイプリズム15に至る。次いで、物体波としての前記第1の像及び前記第2の像、並びに参照波としての第3の電子線E3は、電子線バイプリズム15でそれぞれ重ね合わされ、電子線ホログラムHを形成する。
【0025】
次いで、電子線ホログラムHは撮像素子16で撮像され、分離再生回路17で分離された後、前記第1の像及び前記第2の像がステレオ表示モニタ18に取り込まれる。その結果、試料Sの前記所定部分の画像が立体的に表示され、前記所定部分の立体観察を行なうことができる。
【0026】
図3に示す透過型電子顕微鏡においても、前記試料面の観察に要するタクトタイムは前記第1の電子線及び前記第2の電子線の、前記試料面に対する照射時期のずれ(時間間隔)に依存する。そして、この時間間隔は、電子線台形プリズム12のフィラメント122及びアース電極123間に印加する電圧の極性の切り替え時間に相当する。したがって、前記電圧極性の切り替えを所定の外部信号などと同期させて行なうことにより、前記時間間隔を極めて短く、例えば100分の1秒オーダ程度まで簡易に低減することができる。したがって、試料Sの前記所定部分の立体観察を実時間で行なうことができる。
【0027】
なお、この場合においても、前記電圧極性の切り替えは、撮像素子16に対する操作信号と同期させることができ、上述した作用効果を得ることができる。
【0028】
但し、図3に示す透過型電子顕微鏡においては、前記第1の電子線及び前記第2の電子線の切り替えを外部信号と同期させなくても電子線ホログラムHを得ることができる。したがって、前述した同期操作を実行しなくても、試料Sの所定部分の立体観察を行なうことができる。
【0029】
また、試料Sに対する第1の電子線E1の照射角度θ1は、試料Sの前記所定部分に立てた法線から1度〜5度の範囲に設定することが好ましい。また、試料Sに対する第2の電子線E2の照射角度θ2は、前記法線から1度〜5度の範囲に設定することが好ましい。これによって、試料Sの前記所定部分の立体画像を精度良く得ることができ、立体観察を高精度に行なうことができるようになる。
【0030】
以上、具体例を挙げながら発明の実施の形態に基づいて本発明を詳細に説明してきたが、本発明は上記内容に限定されるものではなく、本発明の範疇を逸脱しない限りにおいてあらゆる変形や変更が可能である。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、試料の変化を実時間で観察できる透過型電子顕微鏡及びこの顕微鏡を用いた立体観察法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の透過型電子顕微鏡における一態様の構成を概略的に示す図である。
【図2】図1に示す透過型電子顕微鏡の変形例を示す構成図である。
【図3】本発明の透過型電子顕微鏡における他の態様の構成を概略的に示す図である。
【図4】電子線台形プリズムの構成を示す概略図である。
【符号の説明】
1、11 電子線照射源
2、2−1、2−2 偏向板
3、13 照射レンズ
4、14 結像レンズ
6、16 撮像素子
8、10 ステレオ表示モニタ
10、10−1、20 透過型電子顕微鏡
12 電子線台形プリズム
15 電子線バイプリズム
17 分離再生回路
E1 第1の電子線
E2 第2の電子線
E3 第3の電子線
S 試料
H ホログラム

Claims (24)

  1. 電子線照射源と、
    前記電子線照射源の前方に設けられ、前記電子線照射源から発せられた電子線を偏向して得た第1の電子線を、試料面の所定部分に対して第1の角度で照射するとともに、前記電子線照射源から発せられた前記電子線を偏向して得た第2の電子線を、前記試料面の前記所定部分に対して前記第1の角度と異なる第2の角度で照射させるための偏向装置と、
    前記第1の電子線による第1の像及び前記第2の電子線による第2の像を結合させ、前記試料面の前記所定部位の像を立体的に表示する3次元表示装置と、
    を具えることを特徴とする、透過型電子顕微鏡。
  2. 前記偏向装置は、前記電子線照射源の前方に設けられた偏向板を含むことを特徴とする、請求項1に記載の透過型電子顕微鏡。
  3. 前記第1の角度は、前記試料面の法線方向から右側に1度〜5度に設定するとともに、前記第2の角度は、前記試料面の前記法線方向から左側に1度〜5度に設定することを特徴とする、請求項2に記載の透過型電子顕微鏡。
  4. 前記電子線照射源及び前記偏向板の前方において、前記第1の電子線による前記第1の像と、前記第2の電子線による前記第2の像とを撮像する撮像素子を具えることを特徴とする、請求項2又は3に記載の透過型電子顕微鏡。
  5. 前記第1の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期と、前記第2の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期とを、前記撮像素子の操作信号と同期させたことを特徴とする、請求項4に記載の透過型電子顕微鏡。
  6. 前記偏向装置と前記試料面との間に配置した照射レンズを具えることを特徴とする、請求項2〜5のいずれか一に記載の透過型電子顕微鏡。
  7. 前記電子線照射源と前記偏向装置との間に配置した照射レンズを具えることを特徴とする、請求項2〜5のいずれか一に記載の透過型電子顕微鏡。
  8. 前記偏向装置は、一対のフィラメントと、この一対のフィラメントの外方に設けられた一対のアース電極とからなる電子線台形プリズムを含むことを特徴とする、請求項1に記載の透過型電子顕微鏡。
  9. 前記第1の角度は、前記試料面の法線方向から右側に1度〜5度に設定するとともに、前記第2の角度は、前記試料面の前記法線方向から左側に1度〜5度に設定することを特徴とする、請求項8に記載の透過型電子顕微鏡。
  10. 前記電子線照射源及び前記電子線台形プリズムの前方において、
    前記第1の電子線による前記第1の像、及び前記電子線照射源から発せられた第3の電子線により、前記試料面を介することなく得た第3の像を重ね合わせた第1の電子線ホログラムと、前記第2の電子線による前記第2の像、及び前記第3の像を重ね合わせた第2の電子線ホログラムとを形成するための結像装置を具えることを特徴とする、請求項8又は9に記載の透過型電子顕微鏡。
  11. 前記結像装置の前方において、前記電子線ホログラムを撮像するための撮像素子を具えることを特徴とする、請求項10に記載の透過型電子顕微鏡。
  12. 前記第1の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期と、前記第2の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期とを、前記撮像素子の操作信号と同期させたことを特徴とする、請求項11に記載の透過型電子顕微鏡。
  13. 前記第1の電子線ホログラム及び前記第2の電子線ホログラムを分離再生するための分離再生回路を具えることを特徴とする、請求項10〜12のいずれか一に記載の透過型電子顕微鏡。
  14. 電子線照射源から電子線を発射する工程と、
    前記電子線照射源の前方に設けた偏向装置によって前記電子線を偏向して得た第1の電子線を、試料面の所定部分に対して第1の角度で照射するとともに、前記偏向装置によって前記電子線を偏向して得た第2の電子線を、前記試料面の前記所定部分に対して前記第1の角度と異なる第2の角度で照射する工程と、
    3次元表示装置によって、前記第1の電子線によって得られた第1の像及び前記第2の電子線によって得られた第2の像を結合させ、前記試料面の前記所定部位の像を立体的に表示する工程と、
    を含むことを特徴とする、立体観察法。
  15. 前記偏向装置は偏向板を含み、前記偏向板に印加する電圧の極性を切り替えることにより、前記電子線の偏向方向を変化させ、前記第1の電子線及び前記第2の電子線を形成することを特徴とする、請求項14に記載の立体観察法。
  16. 前記第1の角度は、前記試料面の法線方向から右側に1度〜5度に設定するとともに、前記第2の角度は、前記試料面の前記法線方向から左側に1度〜5度に設定することを特徴とする、請求項15に記載の立体観察法。
  17. 前記電子線照射源並びに前記偏向板の前方に設けた撮像素子によって、前記第1の電子線による前記第1の像及び前記第2の電子線による前記第2の像を撮像する工程を含むことを特徴とする、請求項16に記載の立体観察法。
  18. 前記第1の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期と、前記第2の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期とを、前記撮像素子の操作信号と同期させる工程を含むことを特徴とする、請求項17に記載の立体観察法。
  19. 前記偏向装置は、一対のフィラメントと、この一対のフィラメントの外方に設けられた一対のアース電極とからなる電子線台形プリズムを含み、前記フィラメントに印加する電圧の極性を切り替えることにより、前記電子線の偏向方向を変化させ、前記第1の電子線及び前記第2の電子線を形成することを特徴とする、請求項14に記載の立体観察法。
  20. 前記第1の角度は、前記試料面の法線方向から右側に1度〜5度に設定するとともに、前記第2の角度は、前記試料面の前記法線方向から左側に1度〜5度に設定することを特徴とする、請求項19に記載の立体観察法。
  21. 前記電子線照射源及び前記電子線台形プリズムの前方において結像装置を設け、前記第1の電子線による前記第1の像、及び前記電子線照射源から発せられた第3の電子線により、前記試料面を介することなく得た第3の像を重ね合わせた第1の電子線ホログラムと、前記第2の電子線による前記第2の像、及び前記第3の像を重ね合わせた第2の電子線ホログラムとを形成する工程を具えることを特徴とする、請求項19又は20に記載の立体観察法。
  22. 前記結像装置の前方において撮像素子を設け、前記電子線ホログラムを撮像する工程を含むことを特徴とする、請求項21に記載の立体観察法。
  23. 前記第1の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期と、前記第2の電子線の前記試料面の前記所定部分に対する照射時期とを、前記撮像素子の操作信号と同期させる工程を含むことを特徴とする、請求項24に記載の立体観察法。
  24. 前記第1の電子線ホログラムと、前記第2の電子線ホログラムとを分離再生回路において分離再生した後、前記3次元表示装置によって立体的に表示することを特徴とする、請求項21〜23のいずれか一に記載の立体観察法。
JP2002336392A 2002-11-20 2002-11-20 透過型電子顕微鏡及び立体観察法 Expired - Lifetime JP3785458B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002336392A JP3785458B2 (ja) 2002-11-20 2002-11-20 透過型電子顕微鏡及び立体観察法
US10/713,109 US7012253B2 (en) 2002-11-20 2003-11-17 Transmission electron microscope and three-dimensional observing method
EP03257301A EP1426998A2 (en) 2002-11-20 2003-11-19 Transmission electron microscope and three-dimensional observing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002336392A JP3785458B2 (ja) 2002-11-20 2002-11-20 透過型電子顕微鏡及び立体観察法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004171922A true JP2004171922A (ja) 2004-06-17
JP3785458B2 JP3785458B2 (ja) 2006-06-14

Family

ID=32310629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002336392A Expired - Lifetime JP3785458B2 (ja) 2002-11-20 2002-11-20 透過型電子顕微鏡及び立体観察法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7012253B2 (ja)
EP (1) EP1426998A2 (ja)
JP (1) JP3785458B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005066998A1 (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 Riken 干渉装置
JP2011040217A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Hitachi Ltd 透過型電子顕微鏡およびそれを用いた試料像の観察方法
JP4807592B2 (ja) * 2005-02-21 2011-11-02 国立大学法人京都工芸繊維大学 電子顕微鏡及び複合照射レンズ

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4512183B2 (ja) * 2004-03-31 2010-07-28 独立行政法人理化学研究所 電子線干渉装置
US9008378B2 (en) * 2006-12-20 2015-04-14 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Arrangement and imaging of biological samples
EP2193360B1 (fr) * 2007-09-25 2014-11-05 Centre National De La Recherche Scientifique Procede et systeme de mesure de deformations a l'echelle nanometrique
JP5156429B2 (ja) 2008-02-15 2013-03-06 株式会社日立製作所 電子線装置
US20120241612A1 (en) * 2009-12-11 2012-09-27 Hitachi Ltd Electron Beam Biprism Device and Electron Beam Device
JP5934965B2 (ja) * 2012-04-26 2016-06-15 国立研究開発法人理化学研究所 電子線装置
EP3376522A1 (en) 2017-03-14 2018-09-19 Technische Universität Berlin Method and apparatus for carrying out a time-resolved interferometric measurement
CN114002240A (zh) * 2021-09-27 2022-02-01 中国科学院广州地球化学研究所 一种地质样品微结构的电子显微三维重构表征方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4922576B1 (ja) 1970-04-30 1974-06-10
DE2541245A1 (de) * 1975-09-12 1977-03-24 Siemens Ag Korpuskularstrahl-rastermikroskop
JPH01264151A (ja) 1988-04-15 1989-10-20 Hitachi Ltd 荷電粒子線装置における複数ビーム発生装置
JPH03246861A (ja) 1990-02-23 1991-11-05 Nec Corp 透過型電子顕微鏡
US5576543A (en) * 1995-08-21 1996-11-19 Texsem Laboratories, Inc. Method and apparatus for determining crystallographic characteristics

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005066998A1 (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 Riken 干渉装置
US7538323B2 (en) 2004-01-09 2009-05-26 Riken Interferometer
JP4807592B2 (ja) * 2005-02-21 2011-11-02 国立大学法人京都工芸繊維大学 電子顕微鏡及び複合照射レンズ
JP2011040217A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Hitachi Ltd 透過型電子顕微鏡およびそれを用いた試料像の観察方法
EP2315232A2 (en) 2009-08-07 2011-04-27 Hitachi, Ltd. Transmission electron microscope and method for observing specimen image with the same
US8193494B2 (en) 2009-08-07 2012-06-05 Hitachi, Ltd. Transmission electron microscope and method for observing specimen image with the same

Also Published As

Publication number Publication date
US7012253B2 (en) 2006-03-14
EP1426998A2 (en) 2004-06-09
JP3785458B2 (ja) 2006-06-14
US20040144923A1 (en) 2004-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101436218B1 (ko) 하전 입자선 장치 및 화상 표시 방법
AU557618B2 (en) Stereoscopic television system
JP3807721B2 (ja) 画像合成装置
KR101294261B1 (ko) 마스크와 시간다중화 방식을 이용한 3차원 집적 영상 표시방법
JP3785458B2 (ja) 透過型電子顕微鏡及び立体観察法
JP2013172292A (ja) 撮像装置及び撮像素子アレイ
JP2012060625A (ja) 画像処理装置、立体画像表示装置および立体画像表示システム、ならびに立体画像表示装置の視差ずれ検出方法および立体画像表示装置の製造方法
CN102713725B (zh) 显示装置及显示方法
JP2008146221A (ja) 画像表示システム
JPWO2019106999A1 (ja) 撮像装置および方法、並びに、撮像素子
JPS63242233A (ja) 電子内視鏡装置
CN102998287A (zh) 信息处理设备、信息处理方法、程序及信息处理系统
US4719482A (en) Three-dimensional color television
JPH06205447A (ja) 立体図形を発生する方法とその装置
JPH0377619B2 (ja)
JPH09282443A (ja) X線荷物検査装置
CN102188256A (zh) 医疗图像生成设备、医疗图像显示设备、医疗图像生成方法和程序
JPH10224820A (ja) 複眼カメラ装置
JP3403048B2 (ja) 3次元像再生装置及び3次元被写体情報入力装置
JPS584132A (ja) 立体像観察装置
JPS62229749A (ja) エネルギ−選択可視化装置
JP3944202B2 (ja) 立体像再生装置及びその制御方法並びに記憶媒体
JPS62252055A (ja) 立体視電子顕微鏡
JPH05191838A (ja) 三次元情報記録再生装置
JP4658787B2 (ja) 画像合成装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20040520

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20040810

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050111

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050309

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060221

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3785458

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060425

A072 Dismissal of procedure [no reply to invitation to correct request for examination]

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A072

Effective date: 20060829

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term