JP2004111827A - 半導体レーザの光出力制御回路 - Google Patents
半導体レーザの光出力制御回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004111827A JP2004111827A JP2002275447A JP2002275447A JP2004111827A JP 2004111827 A JP2004111827 A JP 2004111827A JP 2002275447 A JP2002275447 A JP 2002275447A JP 2002275447 A JP2002275447 A JP 2002275447A JP 2004111827 A JP2004111827 A JP 2004111827A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bias current
- resistor
- semiconductor laser
- modulation
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0427—Electrical excitation ; Circuits therefor for applying modulation to the laser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06808—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the electrical laser parameters, e.g. voltage or current
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Abstract
【解決手段】変調電流とバイアス電流とが供給される半導体レーザ1と、入力された変調信号に基づいて変調電流を供給する変調電流供給手段2と、バイアス電流を供給するバイアス電流供給手段3とを備え、変調電流供給手段2には周囲温度の上昇にともなって変調電流を増加させるための第一の温度補正手段21を設け、バイアス電流供給手段3には周囲温度の上昇にともなってバイアス電流を増加させるための第二の温度補正回路31を設けた。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体レーザの光出力を周囲温度の如何に関わらず一定にするための半導体レーザの光出力制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の半導体レーザの光出力制御回路を図4に示す。半導体レーザ41に変調電流を流すためのトランジスタ42のベースには基準電圧Vrefが印加され、そのエミッタは変調用パルス信号がベースに入力されるトランジスタ43のエミッタに接続される。これら二つのエミッタはトランジスタ44のコレクタに接続され、そのベースとエミッタとの間にはオペアンプ45が設けられる。オペアンプ45にはトランジスタ44のエミッタ抵抗46の電圧が入力され、さらにサーミスタ47によって反転入力端(−)に負帰還がかけられ、非反転入力端(+)がサーミスタ48によって接地される。
【0003】
以上の構成において、連続するパルス信号によってトランジスタ42と43とが交互にオン/オフして半導体レーザ41に変調電流が流れる。また、オペアンプ45にサーミスタ47、48が接続されていることから、半導体レーザ41に流れる変調電流は温度の上昇に対応して増加するように働く。これによって半導体レーザ41の効率が低下しても光出力が一定となる。
【0004】
また、半導体レーザ41の光出力はその一部が受光素子50によって検出される。検出された電圧は光出力制御回路51に入力される。光出力制御回路51は、半導体レーザ41の光出力が周囲温度の如何に関わらず一定となるように、半導体レーザ41にバイアス電流を流すためのトランジスタ52を駆動する。すなわち、温度上昇に伴う半導体レーザ41の効率低下で、検出された電圧が下がれば、光出力制御回路51がそれを補うようにトランジスタ52を制御してバイアス電流を増加する(特許文献1参照。)。
【0005】
【特許文献1】
特開平5−259563号公報(図1)
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
半導体レーザ41から出力される光出力レベルはバイアス電流と変調電流との和によって決まる。そのため、上記構成では変調用パルス信号が連続して入力されていれば変調電流とバイアス電流とが温度に依存して変化するので、常に光出力レベルが一定となるように光出力制御回路51によって制御されている。しかし、変調用パルス信号がいわゆるバースト状に入力されるような場合は、変調用パルス信号が入力されない期間では半導体レーザ41に変調電流が流れず、従って受光素子50に電流が流れないので、光出力制御回路51は最大の電流を半導体レーザ41に流そうとする。その結果、半導体レーザ41が破壊されるという問題があるので、従来の構成ではバーストモードでは使用できない。
【0007】
本発明は、バーストモードでも半導体レーザに供給する変調電流とバイアス電流とをそれぞれ周囲温度に対応して変化させることができて、光出力レベルを周囲温度の如何に関わらず常に一定にすることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は、変調電流とバイアス電流とが供給される半導体レーザと、入力された変調信号に基づいて前記変調電流を供給する変調電流供給手段と、前記バイアス電流を供給するバイアス電流供給手段とを備え、前記変調電流供給手段には周囲温度の上昇にともなって前記変調電流を増加させるための第一の温度補正手段を設け、前記バイアス電流供給手段には前記周囲温度の上昇にともなって前記バイアス電流を増加させるための第二の温度補正回路を設けた。
【0009】
また、前記バイアス電流供給手段には前記バイアス電流によって負帰還される帰還回路を設けた。
【0010】
また、前記第一の温度補正手段は第一のサーミスタと前記第一のサーミスタに直列接続された第一の抵抗と前記第一のサーミスタに並列接続された第二の抵抗とからなる第一の抵抗回路と、前記第一の抵抗回路に直列接続された第三の抵抗とから構成され、前記第二の温度補正手段は第二のサーミスタと前記第二のサーミスタに直列接続された第四の抵抗と前記第二のサーミスタに並列接続された第五の抵抗とからなる第二の抵抗回路と、前記第二の抵抗回路に直列接続された第六の抵抗とから構成され、前記第一の温度補正手段の両端間に前記変調信号を入力すると共に、前記第二の温度補正手段の両端間に直流電圧を印加し、前記第三の抵抗の両端間に出力される変調信号によって前記変調電流を供給し、前記第六の抵抗の両端間に出力される分圧電圧によって前記バイアス電流を供給した。
【0011】
また、前記帰還回路は前記半導体レーザに前記バイアス電流を流すトランジスタと、前記トランジスタのエミッタとグランドとの間に接続された第七の抵抗と、前記第二の温度補正手段と前記トランジスタのベースとの間に介挿されたオペアンプとから構成され、前記分圧電圧を前記オペアンプの非反転入力端に接続し、前記トランジスタのエミッタを前記オペアンプの反転入力端に接続した。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明の半導体レーザの光出力制御回路を図1乃至図3に従って説明する。図1は本発明の半導体レーザの光出力制御回路の構成を示し、図2は半導体レーザの光出力特性を示し、図3は半導体レーザに供給する変調電流とバイアス電流との温度特性を示す。
【0013】
図1において、半導体レーザ1には、変調電流供給手段2から変調電流が供給され、バイアス電流供給手段3からバイアス電流が供給される。
【0014】
半導体レーザ1の光出力レベルはそこに流れる全電流(Io)によって決まるが、通常は発光開始前後の電流(バイアス電流Ib)を常時流しておき、そのうえにパルス状の変調電流(Im)を重畳することで短時間で発光させるようにしている。また、発光効率は図2に示すように周囲温度の上昇にともなって低下する性質を有している。よって、一定の光出力を得るためには温度が上昇するほど大きな電流を必要とする。
【0015】
例えば25°Cのときには必要な全電流Io1のうちバイアス電流Ib1を常時供給しておき、そのうえに変調電流Im1を重畳する。温度が65°Cに上昇すれば必要な全電流Io2、バイアス電流Ib2、変調電流Im2は増加する。半導体レーザ1に必要な諸電流を温度によってどのように変化するかを実測によって求めたのが図3である。図3のAの実線は全電流(Io)、Bの実線はバイアス電流(Ib)、Cの実線は変調電流(Im)である。
【0016】
変調電流供給手段2は変調電流を設定する第一の温度補正手段21とその次段に設けられた第一のオペアンプ22とその次段に設けられた第一のトランジスタ23とを有する。
【0017】
第一の温度補正手段21は第一のサーミスタ21aと此に直列接続された第一の抵抗21bと第一のサーミスタ21aに並列接続された第二の抵抗21cとからなる第一の抵抗回路21Aと、第一の抵抗回路21Aに直列接続された第三の抵抗21Bとからなり、第一の抵抗回路21Aと第三の抵抗21Bとにより分圧回路を構成する。そして、第一の抵抗回路21A側の一端にパルス状の変調信号が入力され、第一の抵抗21B側の他端が接地される。第一の抵抗回路21Aと第三の抵抗21Bとの接続点から分圧された変調信号が出力される。
【0018】
変調信号は第一のオペアンプ22の非反転入力端(+)に入力される。第一のオペアンプ22から出力される変調信号は第一のトランジスタ23のベースに入力される。第一のトランジスタ23のコレクタは半導体レーザ1に接続され、エミッタは抵抗を介して接地される。
よって、変調信号によって第一のトランジスタ23はオン/オフを繰り返し、オン時に半導体レーザ1に変調電流(Im)を供給する。
【0019】
ここで、第一のサーミスタの21aのサーミスタ定数を6000K、第一乃至第三の抵抗21b、21c、21Bの抵抗値をそれぞれ1kΩ、3kΩ、6.85kΩに選定すると、変調電流(Im)は図3のCの点線のようになり、実線の特性とは最大1.5%以内で極めて近似する特性が得られる。
【0020】
バイアス電流供給手段3は第二の温度補正手段31とその次段に設けられた第二のオペアンプ32とその次段に設けられた第二のトランジスタ33とを有する。
【0021】
第二の温度補正手段31はバイアス電流を設定する第一の温度補正手段21と同様な構成を有し、第二のサーミスタ31aと此に直列接続された第四の抵抗31bと第二のサーミスタ31aに並列接続された第五の抵抗31cとからなる第二の抵抗回路31Aと、第二の抵抗回路31Aに直列接続された第六の抵抗31Bとからなる。そして、第二の抵抗回路31Aと第六の抵抗31Bとにより分圧回路を構成する。第二の抵抗回路31A側の一端にバイアス用の直流電圧が印加され、第六の抵抗31B側の他端が接地される。第二の抵抗回路31Aと第六の抵抗21Bとの接続点から分圧されたバイアス電圧が出力される。
【0022】
バイアス電圧は第二のオペアンプ32の非反転入力端(+)に入力される。第二のオペアンプ32から出力されるバイアス電圧は第二のトランジスタ33のベースに印加される。第二のトランジスタ33のコレクタは半導体レーザ1に接続され、エミッタは第七の抵抗34を介して接地される。また、第二のトランジスタ33のエミッタが第二のオペアンプ32の反転入力端(−)に接続される。
よって、バイアス電圧によって第二のトランジスタ23がオンとなり半導体レーザ1にバイアス電流(Ib)が供給される。
【0023】
ここで、第二のサーミスタの31aのサーミスタ定数を3700K、第四乃至第六の抵抗31b、31c、31Bの抵抗値をそれぞれ115Ω、6.17kΩ、287Ωに選定すると、バイアス電流(Ib)は図3のBの点線のようになり、実線の特性とは最大1.5%以内で極めて近似する特性が得られる。
【0024】
なお、第二のトランジスタ33のエミッタが第二のオペアンプ32の反転入力端(−)に接続されることで、第二のオペアンプ32にはバイアス電流(Ib)に基づく第七の抵抗に発生する電圧よって負帰還がかかり、第二のトランジスタ33が温度依存性を有していても第二の温度補正手段31によって設定されたバイアス電流(Ib)が一定になるように制御される。
【0025】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、半導体レーザに変調電流を供給する変調電流供給手段には周囲温度の上昇にともなって変調電流を増加させるための第一の温度補正手段を設け、半導体レーザにバイアス電流を供給するバイアス電流供給手段には周囲温度の上昇にともなってバイアス電流を増加させるための第二の温度補正回路を設けたので、変調電流とバイアス電流とをそれぞれ独立して温度に対応して変化させることができる。従って、変調信号の有無の期間が混在するバーストモードでも光出力レベルを周囲温度の如何に関わらず常に一定にすることができる。
【0026】
また、バイアス電流供給手段にはバイアス電流によって負帰還される帰還回路を設けたので、第二の温度補正手段31によって設定されたバイアス電流は一定になるように制御される。
【0027】
また、第一の温度補正手段は第一のサーミスタを含む第一の抵抗回路と、第一の抵抗回路に直列接続された第三の抵抗とから構成され、第二の温度補正手段は第二のサーミスタを含む第二の抵抗回路と、第二の抵抗回路に直列接続された第六の抵抗とから構成され、第一の温度補正手段に変調信号を入力すると共に、第二の温度補正手段に直流電圧を印加し、第三の抵抗に出力される変調信号によって変調電流を供給し、第六の抵抗に出力される分圧電圧によってバイアス電流を供給したので、半導体レーザには必要な温度依存性の変調電流とバイアス電流とを供給できる。
【0028】
また、帰還回路は半導体レーザにバイアス電流を流すトランジスタと、トランジスタのエミッタとグランドとの間に接続された第七の抵抗と、第二の温度補正手段とトランジスタのベースとの間に介挿されたオペアンプとから構成され、分圧電圧をオペアンプの非反転入力端に接続し、トランジスタのエミッタをオペアンプの反転入力端に接続したので、第二のトランジスタをそのまま使用して負帰還回路を構成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の本発明の半導体レーザの光出力制御回路の構成を示す回路図である。
【図2】半導体レーザの光出力特性図である。
【図3】本発明の本発明の半導体の光出力制御回路における半導体レーザに供給する変調電流とバイアス電流との温度特性図である。
【図4】従来の
【符号の説明】
1 半導体レーザ
2 変調電流供給手段
3 バイアス電流供給手段
21 第一の温度補正手段
21A 第一の抵抗回路
21a 第一のサーミスタ
21b 第一の抵抗
21c 第二の抵抗
21B 第三の抵抗
22 第一のオペアンプ
23 第一のトランジスタ
31 第二の温度補正手段
31A 第二の抵抗回路
31a 第二のサーミスタ
31b 第四の抵抗
31c 第五の抵抗
31B 第六の抵抗
32 第二のオペアンプ
33 第二のトランジスタ
Claims (4)
- 変調電流とバイアス電流とが供給される半導体レーザと、入力された変調信号に基づいて前記変調電流を供給する変調電流供給手段と、前記バイアス電流を供給するバイアス電流供給手段とを備え、前記変調電流供給手段には周囲温度の上昇にともなって前記変調電流を増加させるための第一の温度補正手段を設け、前記バイアス電流供給手段には前記周囲温度の上昇にともなって前記バイアス電流を増加させるための第二の温度補正回路を設けたことを特徴とする半導体レーザの光出力制御回路。
- 前記バイアス電流供給手段には前記バイアス電流によって負帰還される帰還回路を設けたことを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザの光出力制御回路。
- 前記第一の温度補正手段は第一のサーミスタと前記第一のサーミスタに直列接続された第一の抵抗と前記第一のサーミスタに並列接続された第二の抵抗とからなる第一の抵抗回路と、前記第一の抵抗回路に直列接続された第三の抵抗とから構成され、前記第二の温度補正手段は第二のサーミスタと前記第二のサーミスタに直列接続された第四の抵抗と前記第二のサーミスタに並列接続された第五の抵抗とからなる第二の抵抗回路と、前記第二の抵抗回路に直列接続された第六の抵抗とから構成され、前記第一の温度補正手段の両端間に前記変調信号を入力すると共に、前記第二の温度補正手段の両端間に直流電圧を印加し、前記第三の抵抗の両端間に出力される変調信号によって前記変調電流を供給し、前記第六の抵抗の両端間に出力される分圧電圧によって前記バイアス電流を供給したことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体レーザの光出力制御回路。
- 前記帰還回路は前記半導体レーザに前記バイアス電流を流すトランジスタと、前記トランジスタのエミッタとグランドとの間に接続された第七の抵抗と、前記第二の温度補正手段と前記トランジスタのベースとの間に介挿されたオペアンプとから構成され、前記分圧電圧を前記オペアンプの非反転入力端に接続し、前記トランジスタのエミッタを前記オペアンプの反転入力端に接続したことを特徴とする請求項3に記載の半導体レーザの光出力制御回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002275447A JP2004111827A (ja) | 2002-09-20 | 2002-09-20 | 半導体レーザの光出力制御回路 |
US10/656,049 US6977949B2 (en) | 2002-09-20 | 2003-09-05 | Control circuit for constantly setting optical output of semiconductor laser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002275447A JP2004111827A (ja) | 2002-09-20 | 2002-09-20 | 半導体レーザの光出力制御回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004111827A true JP2004111827A (ja) | 2004-04-08 |
Family
ID=31986988
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002275447A Withdrawn JP2004111827A (ja) | 2002-09-20 | 2002-09-20 | 半導体レーザの光出力制御回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6977949B2 (ja) |
JP (1) | JP2004111827A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006202992A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光送信モジュール |
WO2009022651A1 (ja) * | 2007-08-13 | 2009-02-19 | Omron Corporation | 半導体レーザ駆動装置、半導体レーザ駆動方法、光送信装置、光配線モジュール、および電子機器 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006129443A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-05-18 | Renesas Technology Corp | 高周波電力増幅器 |
US7570679B2 (en) * | 2006-02-22 | 2009-08-04 | Optical Communication Products, Inc. | Wide temperature range uncooled transceiver module for uncontrolled environments |
JP4899617B2 (ja) * | 2006-04-28 | 2012-03-21 | オムロン株式会社 | 光伝送システム、光伝送モジュール、電子機器 |
US10340408B1 (en) | 2018-05-17 | 2019-07-02 | Hi Llc | Non-invasive wearable brain interface systems including a headgear and a plurality of self-contained photodetector units configured to removably attach to the headgear |
US10420498B1 (en) | 2018-06-20 | 2019-09-24 | Hi Llc | Spatial and temporal-based diffusive correlation spectroscopy systems and methods |
US11213206B2 (en) | 2018-07-17 | 2022-01-04 | Hi Llc | Non-invasive measurement systems with single-photon counting camera |
US10931274B2 (en) * | 2019-01-18 | 2021-02-23 | Globalfoundries U.S. Inc. | Temperature-sensitive bias circuit |
CN113795737A (zh) | 2019-05-06 | 2021-12-14 | Hi有限责任公司 | 用于时间相关的单光子计数的光电探测器架构 |
CN113766871A (zh) | 2019-06-06 | 2021-12-07 | Hi有限责任公司 | 具有低功率的时间数字转换器架构的光电检测器系统 |
WO2021167893A1 (en) | 2020-02-21 | 2021-08-26 | Hi Llc | Integrated detector assemblies for a wearable module of an optical measurement system |
US11883181B2 (en) | 2020-02-21 | 2024-01-30 | Hi Llc | Multimodal wearable measurement systems and methods |
US11950879B2 (en) | 2020-02-21 | 2024-04-09 | Hi Llc | Estimation of source-detector separation in an optical measurement system |
US11969259B2 (en) | 2020-02-21 | 2024-04-30 | Hi Llc | Detector assemblies for a wearable module of an optical measurement system and including spring-loaded light-receiving members |
WO2021167876A1 (en) | 2020-02-21 | 2021-08-26 | Hi Llc | Methods and systems for initiating and conducting a customized computer-enabled brain research study |
US11630310B2 (en) | 2020-02-21 | 2023-04-18 | Hi Llc | Wearable devices and wearable assemblies with adjustable positioning for use in an optical measurement system |
US11864867B2 (en) | 2020-03-20 | 2024-01-09 | Hi Llc | Control circuit for a light source in an optical measurement system by applying voltage with a first polarity to start an emission of a light pulse and applying voltage with a second polarity to stop the emission of the light pulse |
US11857348B2 (en) | 2020-03-20 | 2024-01-02 | Hi Llc | Techniques for determining a timing uncertainty of a component of an optical measurement system |
US11645483B2 (en) | 2020-03-20 | 2023-05-09 | Hi Llc | Phase lock loop circuit based adjustment of a measurement time window in an optical measurement system |
WO2021188485A1 (en) | 2020-03-20 | 2021-09-23 | Hi Llc | Maintaining consistent photodetector sensitivity in an optical measurement system |
US11877825B2 (en) | 2020-03-20 | 2024-01-23 | Hi Llc | Device enumeration in an optical measurement system |
US11187575B2 (en) | 2020-03-20 | 2021-11-30 | Hi Llc | High density optical measurement systems with minimal number of light sources |
US11245404B2 (en) | 2020-03-20 | 2022-02-08 | Hi Llc | Phase lock loop circuit based signal generation in an optical measurement system |
WO2021188496A1 (en) | 2020-03-20 | 2021-09-23 | Hi Llc | Photodetector calibration of an optical measurement system |
WO2021188487A1 (en) | 2020-03-20 | 2021-09-23 | Hi Llc | Temporal resolution control for temporal point spread function generation in an optical measurement system |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4484331A (en) * | 1981-07-20 | 1984-11-20 | Rca Corporation | Regulator for bias current of semiconductor laser diode |
US4639924A (en) * | 1982-09-03 | 1987-01-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive system for a semiconductor laser |
JPH06103765B2 (ja) * | 1987-10-30 | 1994-12-14 | 日本電気株式会社 | 半導体レーザバイアス電流制御方式 |
JP2546080B2 (ja) * | 1991-05-10 | 1996-10-23 | 富士通株式会社 | 半導体レーザー制御装置 |
JPH05259563A (ja) | 1992-03-10 | 1993-10-08 | Hitachi Ltd | 半導体レーザ光出力制御回路 |
JP3320900B2 (ja) * | 1994-05-19 | 2002-09-03 | 富士通株式会社 | レーザダイオードの自動温度制御回路及びこれを用いた電気/光信号変換ユニット |
US5479425A (en) * | 1994-11-23 | 1995-12-26 | Harris Corporation | Thermal compensation of injection laser diodes driven by shunt current modulations |
JP2704133B2 (ja) * | 1995-05-22 | 1998-01-26 | 日本電気テレコムシステム株式会社 | レーザダイオード駆動回路 |
US5844928A (en) * | 1996-02-27 | 1998-12-01 | Lucent Technologies, Inc. | Laser driver with temperature sensor on an integrated circuit |
US5740191A (en) * | 1996-07-13 | 1998-04-14 | Lucent Technologies Inc. | Wide temperature range uncooled lightwave transmitter having a heated laser |
US6195371B1 (en) * | 1997-09-16 | 2001-02-27 | Hitachi, Ltd. | Optical transmission device and method for driving laser diode |
JPH11135871A (ja) * | 1997-10-28 | 1999-05-21 | Nec Corp | レーザダイオード駆動方法および回路 |
JP3740291B2 (ja) * | 1998-08-24 | 2006-02-01 | 日本オプネクスト株式会社 | 光送信器 |
US6055252A (en) * | 1998-09-10 | 2000-04-25 | Photonic Solutions, Inc. | Fiberoptic transmitter using thermistor to maintain stable operating conditions over a range of temperature |
-
2002
- 2002-09-20 JP JP2002275447A patent/JP2004111827A/ja not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-09-05 US US10/656,049 patent/US6977949B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006202992A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光送信モジュール |
WO2009022651A1 (ja) * | 2007-08-13 | 2009-02-19 | Omron Corporation | 半導体レーザ駆動装置、半導体レーザ駆動方法、光送信装置、光配線モジュール、および電子機器 |
KR101184836B1 (ko) * | 2007-08-13 | 2012-09-20 | 오무론 가부시키가이샤 | 반도체 레이저 구동 장치, 반도체 레이저 구동 방법, 광 송신 장치, 광 배선 모듈, 및 전자 기기 |
US8457499B2 (en) | 2007-08-13 | 2013-06-04 | Omron Corporation | Semiconductor laser drive device, semiconductor laser drive method, light transmission device, optical wiring module, and electronic device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6977949B2 (en) | 2005-12-20 |
US20040057478A1 (en) | 2004-03-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004111827A (ja) | 半導体レーザの光出力制御回路 | |
JP4477509B2 (ja) | サンプル・ホールドをもつパルス幅変調型発光ダイオード用レギュレータ | |
JP5448592B2 (ja) | 光源に電力を供給するための駆動回路 | |
TWI236165B (en) | Driving device for light emitted diode string | |
JP4922052B2 (ja) | 過電圧保護及びデューティ制御機能を有するled駆動装置 | |
US8525433B2 (en) | LED light emitting device and method of driving the same | |
US8659278B2 (en) | Controller for switching regulator, switching regulator and light source | |
JP5476626B2 (ja) | 温度補償機能を有するled駆動装置 | |
TWI400990B (zh) | 具溫度補償之發光二極體驅動電路及其控制器 | |
JP3755770B2 (ja) | 負荷駆動装置及び携帯機器 | |
EP1499165A2 (en) | Load driving device and portable apparatus utilizing such driving device | |
JP2001215913A (ja) | 点灯回路 | |
JP2009038218A (ja) | 発光ダイオード駆動回路 | |
JPH07321392A (ja) | レーザダイオードの自動温度制御回路及びこれを用いた電気/光信号変換ユニット | |
JP2006085993A (ja) | 発光ダイオード点灯装置 | |
JP5230004B2 (ja) | 車両用灯具の点灯制御装置 | |
JP2007004995A (ja) | Led点灯装置 | |
JP5653238B2 (ja) | 半導体光源点灯回路 | |
JP5502719B2 (ja) | 負荷装置 | |
JP3739768B2 (ja) | 負荷駆動装置及び携帯機器 | |
JP2008283206A (ja) | Led点灯装置 | |
JP2009231580A (ja) | Led駆動モジュール | |
JP6772637B2 (ja) | 半導体発光素子駆動回路 | |
JP5194391B2 (ja) | 発光装置及び発光素子駆動方法 | |
JP2003280748A (ja) | 回路配置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050704 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20080303 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080303 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080730 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080805 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20080904 |