JPH06103765B2 - 半導体レーザバイアス電流制御方式 - Google Patents
半導体レーザバイアス電流制御方式Info
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- JPH06103765B2 JPH06103765B2 JP62273585A JP27358587A JPH06103765B2 JP H06103765 B2 JPH06103765 B2 JP H06103765B2 JP 62273585 A JP62273585 A JP 62273585A JP 27358587 A JP27358587 A JP 27358587A JP H06103765 B2 JPH06103765 B2 JP H06103765B2
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- bias current
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06812—Stabilisation of laser output parameters by monitoring or fixing the threshold current or other specific points of the L-I or V-I characteristics
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ディジタル通信システムに関し,特に半導体
レーザを用いた超大容量通信システムにおける半導体レ
ーザのバイアス電流制御方式に関する。
レーザを用いた超大容量通信システムにおける半導体レ
ーザのバイアス電流制御方式に関する。
〔従来の技術〕 従来,半導体レーザを用いた高速光ディジタル通信シス
テムでは,半導体レーザが発光を開始する電流Ith(以
下,閾値電流と呼ぶ)をバイアス電流Ibとして,常に半
導体レーザに流している。そして,前記バイアス電流Ib
の上にディジタル信号に対応したパルス電流を重畳し,
光パルス信号を得る方法が用いられている。(副島等,
“新版・光ファイバ通信"S56.12,pp402-404) ところで,半導体レーザの閾値電流は,温度により変化
するため半導体レーザの光出力電力が一定となるようバ
イアス電流Ibを制御している。
テムでは,半導体レーザが発光を開始する電流Ith(以
下,閾値電流と呼ぶ)をバイアス電流Ibとして,常に半
導体レーザに流している。そして,前記バイアス電流Ib
の上にディジタル信号に対応したパルス電流を重畳し,
光パルス信号を得る方法が用いられている。(副島等,
“新版・光ファイバ通信"S56.12,pp402-404) ところで,半導体レーザの閾値電流は,温度により変化
するため半導体レーザの光出力電力が一定となるようバ
イアス電流Ibを制御している。
第3図は,従来の半導体レーザバイアス制御方式を示す
ブロック図である。半導体レーザ1の光出力電力の一部
をフォトダイオードによるモニタ用受光素子2で検出
し,得られた電圧Vを比較器4において基準値VREFと比
較している。この比較結果に応じてバイアス電流駆動回
路5を制御し,半導体レーザ1のバイアス電流を調整す
ることにより,光出力電力が一定値になるよう帰還をか
けた構成となっている。
ブロック図である。半導体レーザ1の光出力電力の一部
をフォトダイオードによるモニタ用受光素子2で検出
し,得られた電圧Vを比較器4において基準値VREFと比
較している。この比較結果に応じてバイアス電流駆動回
路5を制御し,半導体レーザ1のバイアス電流を調整す
ることにより,光出力電力が一定値になるよう帰還をか
けた構成となっている。
上述のように,従来の半導体レーザバイアス制御方式
は,半導体レーザ1の光出力電力が一定となるよう半導
体レーザ1のバイアス電流を制御している。しかし,一
般的には第4図に示すように,半導体レーザの閾値電流
Ithを越えた時の光出力電力と電流の傾き(以下,微分
量子効率DQEと呼ぶ)とが温度Tにより変化する。特
に,高温では微分量子効率DQEが小さくなる特性を有し
ており,バイアス電流Ibと閾値電流Ithの比Ib/Ithが微
分量子効率DQEの温度変化によって変化してしまう。特
に,超大容量光ディジタル通信システムでは,Ib/Ithの
比率の変化に対して光パルス波形の変動する感度が高い
ため,大きな光パルス波形劣化を招く欠点を有してい
る。
は,半導体レーザ1の光出力電力が一定となるよう半導
体レーザ1のバイアス電流を制御している。しかし,一
般的には第4図に示すように,半導体レーザの閾値電流
Ithを越えた時の光出力電力と電流の傾き(以下,微分
量子効率DQEと呼ぶ)とが温度Tにより変化する。特
に,高温では微分量子効率DQEが小さくなる特性を有し
ており,バイアス電流Ibと閾値電流Ithの比Ib/Ithが微
分量子効率DQEの温度変化によって変化してしまう。特
に,超大容量光ディジタル通信システムでは,Ib/Ithの
比率の変化に対して光パルス波形の変動する感度が高い
ため,大きな光パルス波形劣化を招く欠点を有してい
る。
上述した問題点を解決するため,本発明は,半導体レー
ザの光出力電力の一部を受光素子で電流に変換し,更に
これを電圧に変換するに際して,半導体レーザの温度変
化に対応して電流−電圧変換比を変化させる手段と,こ
れによって得られた電圧が一定値となるよう半導体レー
ザのバイアス電流値を制御する手段とを有している。
ザの光出力電力の一部を受光素子で電流に変換し,更に
これを電圧に変換するに際して,半導体レーザの温度変
化に対応して電流−電圧変換比を変化させる手段と,こ
れによって得られた電圧が一定値となるよう半導体レー
ザのバイアス電流値を制御する手段とを有している。
以下,本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は,本発明による半導体レーザバイアス制御回路
のブロック図である。本制御回路は,半導体レーザ1,フ
ォトダイオードによるモニタ用受光素子2,半導体レーザ
1付近の温度により電流−電圧変換比が制御される電流
−電圧変換回路3,比較器4,バイアス電流駆動回路5で構
成されている。半導体レーザ1の光出力電力の一部は,
モニタ用受光素子2で光出力電力に比例した電流Iに変
換される。電流−電圧変換回路3では半導体レーザ1の
近傍,例えば半導体レーザ取付基板(図示せず)に設置
した温度センサ(図示せず)を有しており,微分量子効
率DQEの温度変化に合わせて電流−電圧変換比が変化す
る。次に,比較器4で電流−電圧変換回路3の出力電圧
Vと基準電圧VREFとが比較され,この比較結果に応じて
バイアス電流駆動回路5では前記2つの電圧が一致する
よう半導体レーザ1のバイアス電流を調整する。
のブロック図である。本制御回路は,半導体レーザ1,フ
ォトダイオードによるモニタ用受光素子2,半導体レーザ
1付近の温度により電流−電圧変換比が制御される電流
−電圧変換回路3,比較器4,バイアス電流駆動回路5で構
成されている。半導体レーザ1の光出力電力の一部は,
モニタ用受光素子2で光出力電力に比例した電流Iに変
換される。電流−電圧変換回路3では半導体レーザ1の
近傍,例えば半導体レーザ取付基板(図示せず)に設置
した温度センサ(図示せず)を有しており,微分量子効
率DQEの温度変化に合わせて電流−電圧変換比が変化す
る。次に,比較器4で電流−電圧変換回路3の出力電圧
Vと基準電圧VREFとが比較され,この比較結果に応じて
バイアス電流駆動回路5では前記2つの電圧が一致する
よう半導体レーザ1のバイアス電流を調整する。
次に,電流−電圧変換回路3について説明する。
第2図に示すように,半導体レーザの微分量子効率をDQ
E(T),閾値電流Ith(T),バイアス電流Ib(T),
電流振幅IMとする(Tは温度を示す)。
E(T),閾値電流Ith(T),バイアス電流Ib(T),
電流振幅IMとする(Tは温度を示す)。
温度T0においてIb(T0)=Ith(T0)に設定した後,温
度がT1になった場合を考えてみる。電流−電圧変換回路
3の特性を,I=A(T)V(A(T)は変換効率を示
す)で表わすと,次の式が成り立つ。
度がT1になった場合を考えてみる。電流−電圧変換回路
3の特性を,I=A(T)V(A(T)は変換効率を示
す)で表わすと,次の式が成り立つ。
I0=A(T0)V0 −(1) I1=A(T1)V1 −(2) V0=V1=VREF −(3) P0=IMDQE(T0) −(4) P1={IM+Ib(T1)−Ith(T1)}・DQE(T1)−(5) ここで,P0,P1は光出力電力を示し,モニタ電流値Iは,
光出力電力Pに比例する。従って,(1)〜(5)式よ
り となる。
光出力電力Pに比例する。従って,(1)〜(5)式よ
り となる。
以上より,第1図における電流−電圧変換回路3の変換
効率A(T)を半導体レーザ1の微分量子効率DQE
(T)に対し, A(T0)/A(T1)=DQE(T1)/DQE(T0) …(7) と設定することにより,温度がT1となってもIb(T1)=
Ith(T1)となることがわかる。これは温度T1以外の温
度でも同様である。なお,電流−電圧変換回路3は,サ
ーミスタ等の温度センサと固定抵抗器等の組合せで容易
に実現できる。
効率A(T)を半導体レーザ1の微分量子効率DQE
(T)に対し, A(T0)/A(T1)=DQE(T1)/DQE(T0) …(7) と設定することにより,温度がT1となってもIb(T1)=
Ith(T1)となることがわかる。これは温度T1以外の温
度でも同様である。なお,電流−電圧変換回路3は,サ
ーミスタ等の温度センサと固定抵抗器等の組合せで容易
に実現できる。
以上詳細に説明したように本発明は,半導体レーザの微
分量子効率の温度変化に対し,バイアス電流Ibと閾値電
流Ithとの比を一定とするよう構成されているため,光
出力波形の温度変化を抑圧し,所望の光伝送路品質を確
保できる効果がある。
分量子効率の温度変化に対し,バイアス電流Ibと閾値電
流Ithとの比を一定とするよう構成されているため,光
出力波形の温度変化を抑圧し,所望の光伝送路品質を確
保できる効果がある。
第1図は,本発明の実施例のブロック図,第2図は,上
記実施例を説明するための半導体レーザの光出力電力−
電流特性を示した図,第3図は,従来の半導体レーザバ
イアス電流制御回路を示したブロック図,第4図は,従
来の半導体レーザバイアス制御方式におけるバイアス電
圧の温度変化を示した図である。 図中,1は半導体レーザ,2はモニタ用受光素子。
記実施例を説明するための半導体レーザの光出力電力−
電流特性を示した図,第3図は,従来の半導体レーザバ
イアス電流制御回路を示したブロック図,第4図は,従
来の半導体レーザバイアス制御方式におけるバイアス電
圧の温度変化を示した図である。 図中,1は半導体レーザ,2はモニタ用受光素子。
Claims (1)
- 【請求項1】半導体レーザの光出力電力の一部を受光素
子で電流に変換し,該電流を電圧に変換して該電圧にも
とづいて前記半導体レーザのバイアス電流を制御する方
式において,前記半導体レーザの微分量子効率の温度変
化に対応して前記電流−電圧変換比を変化させる手段
と,該変化手段によって得られた電圧が一定値となるよ
う半導体レーザのバイアス電流値を制御する手段とを有
する半導体レーザバイアス電流制御方式。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62273585A JPH06103765B2 (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 半導体レーザバイアス電流制御方式 |
US07/264,570 US4876442A (en) | 1987-10-30 | 1988-10-31 | Laser control circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62273585A JPH06103765B2 (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 半導体レーザバイアス電流制御方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01117385A JPH01117385A (ja) | 1989-05-10 |
JPH06103765B2 true JPH06103765B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=17529847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62273585A Expired - Lifetime JPH06103765B2 (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 半導体レーザバイアス電流制御方式 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4876442A (ja) |
JP (1) | JPH06103765B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5140146A (en) * | 1989-11-20 | 1992-08-18 | Symbol Technologies, Inc. | Bar code symbol reader with modulation enhancement |
US5036189A (en) * | 1990-04-03 | 1991-07-30 | Raynet Corporation | Thermal control for laser diode used in outside plant communications terminal |
US5260955A (en) * | 1991-12-20 | 1993-11-09 | Eastman Kodak Company | Automatically setting a threshold current for a laser diode |
JPH05244094A (ja) * | 1992-02-26 | 1993-09-21 | Toshiba Corp | 光伝送装置 |
US5461223A (en) * | 1992-10-09 | 1995-10-24 | Eastman Kodak Company | Bar code detecting circuitry |
US5414280A (en) * | 1993-12-27 | 1995-05-09 | Xerox Corporation | Current driven voltage sensed laser drive (CDVS LDD) |
JPH10505201A (ja) * | 1994-09-14 | 1998-05-19 | ポール, ジュリアン エドワーズ, | 低ノイズ光子結合回路 |
JPH10181098A (ja) * | 1996-12-26 | 1998-07-07 | Minolta Co Ltd | 電気光学素子駆動装置 |
US5963570A (en) * | 1997-05-12 | 1999-10-05 | At&T Corp. | Current control for an analog optical link |
JP2000218865A (ja) * | 1998-11-25 | 2000-08-08 | Canon Inc | レ―ザ駆動装置とその駆動方法及びそれを用いた画像形成装置 |
JP3593646B2 (ja) * | 1999-03-19 | 2004-11-24 | 富士通株式会社 | バースト光送信回路 |
ATE377443T1 (de) | 2002-05-01 | 2007-11-15 | Slovie Co Ltd | Skateboard mit richtungslaufrolle |
JP2004111827A (ja) * | 2002-09-20 | 2004-04-08 | Alps Electric Co Ltd | 半導体レーザの光出力制御回路 |
US20040264523A1 (en) * | 2003-06-30 | 2004-12-30 | Posamentier Joshua D | Temperature compensation circuit to maintain ratio of monitor photodiode current to fiber coupled light in a laser |
JP2009111259A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Toshiba Corp | 半導体レーザ駆動制御装置および駆動制御方法 |
KR100885506B1 (ko) | 2008-04-28 | 2009-02-26 | 안나은 | 스케이트 보드의 힌지구조 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4621376A (en) * | 1983-04-28 | 1986-11-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Driving apparatus for stabilizing burst light output |
EP0218449B1 (en) * | 1985-09-30 | 1992-03-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for stabilizing the optical output power of a semiconductor laser |
JPH0621878B2 (ja) * | 1986-07-21 | 1994-03-23 | 株式会社日立製作所 | 異物検査方法 |
-
1987
- 1987-10-30 JP JP62273585A patent/JPH06103765B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-10-31 US US07/264,570 patent/US4876442A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4876442A (en) | 1989-10-24 |
JPH01117385A (ja) | 1989-05-10 |
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