JP2004096101A - 集積回路製造装置 - Google Patents
集積回路製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004096101A JP2004096101A JP2003277505A JP2003277505A JP2004096101A JP 2004096101 A JP2004096101 A JP 2004096101A JP 2003277505 A JP2003277505 A JP 2003277505A JP 2003277505 A JP2003277505 A JP 2003277505A JP 2004096101 A JP2004096101 A JP 2004096101A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- edge
- wafer
- arm
- support rod
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 54
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract description 200
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 11
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- CUPFNGOKRMWUOO-UHFFFAOYSA-N hydron;difluoride Chemical compound F.F CUPFNGOKRMWUOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N n-(2,4-dichloro-5-propan-2-yloxyphenyl)acetamide Chemical compound CC(C)OC1=CC(NC(C)=O)=C(Cl)C=C1Cl QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/67313—Horizontal boat type carrier whereby the substrates are vertically supported, e.g. comprising rod-shaped elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/67326—Horizontal carrier comprising wall type elements whereby the substrates are vertically supported, e.g. comprising sidewalls
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
【解決手段】内部に流体が収容されるチャンバ内に位置され、複数のウェーハが置かれるガイド200、そしてこのガイド200に複数のウェーハをローディング及びアンローディングする移送ロボットを有し、ガイド200はウェーハを支持する支持ロッド210,220,230を有し、さらに、支持ロッド210,220,230が支持するウェーハエッジより高い位置のウェーハエッジと接触し、ウェーハが所定の範囲以上傾くことを防止するストッパロッド240を有する。移送ロボットはウェーハのエッジを支持する第1アームと、第1アームと反対側で前記ストッパロッド240と接触されるウェーハエッジを押す、そして第1アームに比べて短い長さを有する第2アームを有する。
【選択図】 図3
Description
また、本発明に係る集積回路製造装置は、第2アームがウェーハと接触するとき、制限される範囲内で回転可能なため、ウェーハが受けるストレスを減らすことができる。
前記ロッド部370は、第1接触部372、第2接触部374、及び、連結部376を有する。
110…バス、
120…ふた、
200…ウェーハガイド、
210,220,230…第1、2、3支持ロッド、
240…ストッパロッド、
300…移送ロボット、
320…ロボット駆動部、
340…第1アーム、
342…下部スロット、
344…上部スロット、
346…第1アーム側部部材、
360…第2アーム、
362…第2アーム側部部材、
366…ガイド溝、
370…ロッド部、
372…第1接触部、
374…第2接触部、
376…連結部、
378…ピン。
Claims (20)
- 集積回路を製造する装置において、
内部に流体が収容されるチャンバと、
当該チャンバ内に位置され、複数の基板が置かれるガイドとを有し、
当該ガイドは、
前記基板を支持する少なくとも一つの支持ロッドと、
当該支持ロッドによって支持される前記基板が傾き隣接する基板と接することを防止するストッパロッドと、を有することを特徴とする集積回路製造装置。 - 前記支持ロッドは、前記基板のエッジを垂直に挿入するスロットを有することを特徴とする請求項1に記載の集積回路製造装置。
- 前記ストッパロッドは、前記支持ロッドと接触する前記基板のエッジより高い位置のエッジと接触することを特徴とする請求項2に記載の集積回路製造装置。
- 前記ガイドは、
前記基板のボトム部のエッジを支持する第1支持ロッドと、
前記基板のミドル部のエッジより下に位置するエッジを支持する第2支持ロッドと、を有することを特徴とする請求項3に記載の集積回路製造装置。 - 前記第1支持ロッドの前記スロットは断面Y字状であり、
前記第2支持ロッドの前記スロットは断面V字状であり、
前記ストッパロッドは前記基板が挿入される断面V字状のスロットを有することを特徴とする請求項4に記載の集積回路製造装置。 - 前記ガイドは、前記第1支持ロッドを基準に前記第2支持ロッドと対称の位置に第3支持ロッドをさらに有することを特徴とする請求項4に記載の集積回路製造装置。
- 前記集積回路製造装置は、前記基板を前記ガイドにローディング及びアンローディングする移送ロボットをさらに有し、
当該移送ロボットは、
底と垂直な前記基板の中心軸を基準に前記基板の一側のエッジを支持する第1アームと、
前記基板の反対側のエッジを支持し、かつ前記第1アームより短い長さを有する第2アームと、を有することを特徴とする請求項3に記載の集積回路製造装置。 - 前記集積回路製造装置は、前記基板を前記ガイドにローディング及びアンローディングする移送ロボットをさらに有し、
当該移送ロボットは、
底と垂直な前記基板の中心軸を基準に前記基板の一側のエッジを支持する第1アームと、
前記第1アームと接触される前記基板のエッジより高い位置の反対側エッジと接触される第2アームと、を有することを特徴とする請求項3に記載の集積回路製造装置、 - 前記第1アームは、前記基板が挿入される下部スロットと上部スロットを有し、各々の基板を二つの所で支持し、
前記下部スロットは、前記第2支持ロッドと接触される前記基板のエッジと前記基板のミドル部のエッジとの間を支持することを特徴とする請求項8に記載の集積回路製造装置。 - 前記第2アームは、前記基板と接触されるロッド部を有し、
当該ロッド部は、前記基板と接触され、前記基板を押す第1接触部を有することを特徴とする請求項9に記載の集積回路製造装置、 - 前記第1接触部は、前記ストッパロッドと接触される前記基板のエッジと前記基板の中心に対して前記下部スロットと前記基板が接触される位置と点対称となる前記基板のエッジとの間で前記基板と接触することを特徴とする請求項10に記載の集積回路製造装置。
- 前記ロッド部は、前記基板に加えられる力を分散するように、前記基板と接触する第2接触部をさらに有することを特徴とする請求項11に記載の集積回路製造装置、
- 前記ロッド部は、前記第1接触部と前記第2接触部とを連結する連結部をさらに有し、
当該連結部は、前記第1接触部及び前記第2接触部とともに所定の角度の範囲内で回転可能であることを特徴とする請求項12に記載の集積回路製造装置。 - 前記第2アームは、前記ロッド部の両側に前記ロッド部が連結される側部部材をさらに有し、
前記側部部材の内側面には、前記連結部の回転をガイドするガイド溝が形成されることを特徴とする請求項13に記載の集積回路製造装置。 - 前記側部部材は、各々内側面に形成されたガイド溝を有し、
前記ロッド部は、前記連結部を貫通する回転棒をさらに有し、
前記ガイド溝内に前記ローディング部が挿入される溝を形成したことを特徴とする請求項14に記載の集積回路製造装置。 - 前記チャンバは、前記基板を洗浄するためのチャンバであることを特徴とする請求項1に記載の集積回路製造装置。
- 集積回路を製造する装置において、
チャンバと、
当該チャンバ内で複数の基板が垂直に置かれるガイドと、
前記ガイドに前記基板をローディング及びアンローディングする移送ロボットを有し、
前記ガイドは、
前記基板が挿入される複数のスロットを具備する少なくとも一つの支持ロッドと、
前記スロットに挟まれた前記基板が傾いて隣接する前記基板が接することを防止するように、前記基板のミドル部のエッジが挿入されるストッパロッドを設けたことを特徴とする集積回路製造装置。 - 前記移送ロボットは、
前記支持ロッドと接触される前記基板のエッジ位置より高く、前記基板のミドル部のエッジより低い前記基板のエッジを支持する第1アームと、
前記ストッパロッドと接触される前記基板のエッジ位置より高く、前記基板の中心に対して前記第1アームと前記基板が接触される点と点対称となる位置より低い前記基板のエッジに力を加える第2アームと、を有することを特徴とする請求項17に記載の集積回路製造装置。 - 集積回路を製造する装置において、
内部に流体が収容されるバスと前記バスを開閉するふたを有するチャンバと、
前記チャンバ内で複数の基板を支持するガイドと、
前記ガイドに前記基板をローディング及びアンローディングする移送ロボットと、
を有し、
前記ガイドは、
前記基板の側面のボトム部が挿入される断面Y字状のスロットを有する第1支持ロッドと、
前記第1支持ロッドの一側に位置する前記基板のエッジが挿入される断面V字状のスロットを有する第2支持ロッドと、
前記第1支持ロッドを中心に前記第2支持ロッドと反対側に位置され、かつ前記第2支持ロッドが支持する位置より高い前記基板のエッジと接触する断面V字状のスロットを有するストッパロッドと、を有することを特徴とする集積回路製造装置。 - 前記移送ロボットは、
底と垂直な前記基板の中心軸を基準に前記基板の一側のエッジを支持する第1アームと、
前記第1アームと接触されるエッジより高い位置の反対側のエッジに二つの点で力を加えて前記基板を押す第2アームと、を有することを特徴とする請求項19に記載の集積回路製造装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0046060A KR100481855B1 (ko) | 2002-08-05 | 2002-08-05 | 집적회로 제조 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004096101A true JP2004096101A (ja) | 2004-03-25 |
JP4227858B2 JP4227858B2 (ja) | 2009-02-18 |
Family
ID=31185799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003277505A Expired - Fee Related JP4227858B2 (ja) | 2002-08-05 | 2003-07-22 | 集積回路製造装置および集積回路製造方法と、この方法に使用する移送ロボット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6905570B2 (ja) |
JP (1) | JP4227858B2 (ja) |
KR (1) | KR100481855B1 (ja) |
DE (1) | DE10335814B4 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008112804A (ja) * | 2006-10-30 | 2008-05-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | ウェーハカセット |
JP2010509784A (ja) * | 2006-11-15 | 2010-03-25 | ダイナミック マイクロシステムズ セミコンダクター イクイップメント ゲーエムベーハー | 環状に配置されているワークピースストッカ |
JP2020107674A (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-09 | 株式会社Sumco | シリコンウェーハのバッチ式洗浄方法並びにその洗浄方法を用いたシリコンウェーハの製造方法及びシリコンウェーハの洗浄条件決定方法 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100487541B1 (ko) * | 2002-09-06 | 2005-05-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체기판의 세정/건조 공정에 사용되는 웨이퍼 가이드들 |
US20050061775A1 (en) * | 2003-09-19 | 2005-03-24 | Kuo-Tang Hsu | Novel design to eliminate wafer sticking |
KR100564622B1 (ko) * | 2004-04-09 | 2006-03-28 | 삼성전자주식회사 | 반도체 웨이퍼의 린스 및 건조장치 및 방법 |
JPWO2006025162A1 (ja) * | 2004-08-30 | 2008-05-08 | 松下電器産業株式会社 | 光学的情報記録媒体およびその製造方法 |
US7237685B2 (en) * | 2004-10-06 | 2007-07-03 | Green Touch Industries, Inc. | Storage rack with tapered slots |
US20060076254A1 (en) * | 2004-10-12 | 2006-04-13 | Corbitt John D Jr | Surgical instrument organizer |
KR100631928B1 (ko) * | 2005-12-02 | 2006-10-04 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 세정장치에서의 웨이퍼 가이드 |
DE202007012384U1 (de) * | 2007-08-31 | 2007-11-22 | Jonas & Redmann Automationstechnik Gmbh | Kammartiger Halter einer Halterungsvorrichtung für scheibenartige Substrate wie Solarzellenwafer |
KR101231182B1 (ko) * | 2007-09-12 | 2013-02-07 | 삼성전자주식회사 | 반도체 세정 설비의 웨이퍼 브로큰 방지용 웨이퍼 가이드 |
US20090071918A1 (en) * | 2007-09-18 | 2009-03-19 | Panchapakesan Ramanarayanan | Vertical semiconductor wafer carrier |
US7971734B2 (en) * | 2008-01-30 | 2011-07-05 | Asm International N.V. | Wafer boat |
TWI337162B (en) * | 2008-07-31 | 2011-02-11 | Gudeng Prec Industral Co Ltd | A wafer container with constraints |
US8684191B2 (en) * | 2009-12-04 | 2014-04-01 | Honeywell International Inc. | Card rack system |
US9117863B1 (en) * | 2013-05-16 | 2015-08-25 | Seagate Technology Llc | Cassette configurations to support platters having different diameters |
US9597791B2 (en) * | 2014-01-08 | 2017-03-21 | Ryan Neal | Tool holder |
TWM508112U (zh) * | 2015-04-30 | 2015-09-01 | Chung King Entpr Co Ltd | 用於太陽能電池之基板載具 |
KR102503199B1 (ko) * | 2016-03-04 | 2023-02-24 | 주식회사 케이씨텍 | 배치식 세정기의 로딩장치 |
CN206961808U (zh) * | 2017-07-14 | 2018-02-02 | 君泰创新(北京)科技有限公司 | 硅片清洗工装 |
DE102017218453A1 (de) | 2017-10-16 | 2019-04-18 | Clariant Plastics & Coatings Ltd | Flammwidrige und farbstabile Polyamidformmassen |
US10898981B2 (en) * | 2018-12-19 | 2021-01-26 | Amada Holdings Co., Ltd. | Workpiece storage device and workpiece loading method |
KR20210100798A (ko) * | 2020-02-06 | 2021-08-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판용 카세트 |
CN111634687B (zh) * | 2020-06-04 | 2021-08-10 | 无锡亚电智能装备有限公司 | 一种晶圆篮清洗设备进料机构及进料方法 |
USD996851S1 (en) * | 2021-05-17 | 2023-08-29 | Ideastream Consumer Products, Llc | Album holder |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4256229A (en) * | 1979-09-17 | 1981-03-17 | Rockwell International Corporation | Boat for wafer processing |
JPH07111960B2 (ja) * | 1986-06-09 | 1995-11-29 | ロ−ム株式会社 | チユ−ブ液処理装置 |
JP3194209B2 (ja) * | 1992-11-10 | 2001-07-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 洗浄処理装置 |
EP0757844A1 (en) * | 1994-04-28 | 1997-02-12 | Semitool, Inc. | Semiconductor processing systems |
US5520205A (en) * | 1994-07-01 | 1996-05-28 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus for wafer cleaning with rotation |
JPH08195431A (ja) * | 1995-01-12 | 1996-07-30 | Tokyo Electron Ltd | 基板保持具及び洗浄装置 |
US5704494A (en) * | 1995-06-16 | 1998-01-06 | Nihon Plast Co., Ltd. | Disc holder |
US5845660A (en) * | 1995-12-07 | 1998-12-08 | Tokyo Electron Limited | Substrate washing and drying apparatus, substrate washing method, and substrate washing apparatus |
KR980001272A (ko) | 1996-06-13 | 1998-03-30 | 양재신 | 차량용 재털이 개폐장치 |
KR100197147B1 (ko) | 1996-06-29 | 1999-06-15 | 토니 헬샴 | 유압식 건설기계의 자동 주행변속 및 승압장치 |
JPH10270411A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-09 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板乾燥装置 |
KR100225938B1 (ko) | 1997-06-18 | 1999-10-15 | 정몽규 | 차량용 자동 변속기의 유압 제어시스템 |
US6616774B2 (en) * | 1997-12-26 | 2003-09-09 | Spc Electronics | Wafer cleaning device and tray for use in wafer cleaning device |
KR100268813B1 (ko) * | 1998-04-06 | 2000-11-01 | 김동섭 | 반도체 웨이퍼 캐리어 |
KR20000002790U (ko) * | 1998-07-10 | 2000-02-07 | 김영환 | 웨이퍼 캐리어 |
KR100316743B1 (ko) * | 1999-06-02 | 2001-12-12 | 윤종용 | 반도체장치 제조용 습식챔버 및 이를 이용한 웨이퍼의 식각방법 |
US6669253B2 (en) * | 2000-12-18 | 2003-12-30 | David W. Benzing | Wafer boat and boat holder |
-
2002
- 2002-08-05 KR KR10-2002-0046060A patent/KR100481855B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-07-22 JP JP2003277505A patent/JP4227858B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-07-24 US US10/627,565 patent/US6905570B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-08-05 DE DE10335814A patent/DE10335814B4/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008112804A (ja) * | 2006-10-30 | 2008-05-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | ウェーハカセット |
JP2010509784A (ja) * | 2006-11-15 | 2010-03-25 | ダイナミック マイクロシステムズ セミコンダクター イクイップメント ゲーエムベーハー | 環状に配置されているワークピースストッカ |
JP2020107674A (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-09 | 株式会社Sumco | シリコンウェーハのバッチ式洗浄方法並びにその洗浄方法を用いたシリコンウェーハの製造方法及びシリコンウェーハの洗浄条件決定方法 |
JP6996488B2 (ja) | 2018-12-26 | 2022-01-17 | 株式会社Sumco | シリコンウェーハのバッチ式洗浄方法並びにその洗浄方法を用いたシリコンウェーハの製造方法及びシリコンウェーハの洗浄条件決定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6905570B2 (en) | 2005-06-14 |
JP4227858B2 (ja) | 2009-02-18 |
KR100481855B1 (ko) | 2005-04-11 |
DE10335814A1 (de) | 2004-03-04 |
DE10335814B4 (de) | 2009-08-20 |
US20040022607A1 (en) | 2004-02-05 |
KR20040013223A (ko) | 2004-02-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004096101A (ja) | 集積回路製造装置 | |
JP4425913B2 (ja) | 基板洗浄方法およびコンピュータ読取可能な記憶媒体 | |
JP3535853B2 (ja) | 基板の支持固定具、及びこれを用いた基板表面の乾燥方法 | |
US8375964B2 (en) | Template cleaning method, system, and apparatus | |
KR100900594B1 (ko) | 기판 처리 시스템, 기판 처리 방법 및 기억 매체 | |
US20060011300A1 (en) | Device for treating semiconductor substrate | |
US6656321B2 (en) | Liquid processing apparatus and liquid processing method | |
JPH07310192A (ja) | 洗浄処理装置 | |
JPH0714811A (ja) | 洗浄乾燥方法及び洗浄乾燥装置 | |
JP3018727B2 (ja) | 半導体製造ウェット処理装置 | |
TWI388025B (zh) | 處理基板的裝置及其方法 | |
JP2007208223A (ja) | ウェットエッチング装置およびウェットエッチング方法 | |
JPH06314677A (ja) | 洗浄装置 | |
JP2001257256A (ja) | 保持カセット、保持ハンド、ウェット処理方法およびウェット処理装置 | |
KR100486258B1 (ko) | 증기 건조 방식의 반도체 웨이퍼 건조 장치 | |
JP2000124297A (ja) | 基板保持具 | |
JP3875435B2 (ja) | 基板支持機構 | |
JPH0547727A (ja) | 洗浄処理装置 | |
JP3753000B2 (ja) | 基板洗浄装置 | |
JPH08195431A (ja) | 基板保持具及び洗浄装置 | |
JP2908277B2 (ja) | 基板の化学処理のための方法及び装置 | |
JP2001135710A (ja) | 基板処理装置 | |
JP4304476B2 (ja) | 浸漬処理用基板保持ユニットおよび浸漬処理用基板保持治具 | |
JP2023129235A (ja) | 基板処理システム及び基板処理方法 | |
KR100635379B1 (ko) | 웨이퍼 가이드 및 웨이퍼를 웨이퍼 가이드에 로딩하는 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050706 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080527 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080827 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081111 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081201 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |