JP2004086906A - 分割されたシステムデータバスに連結されるメモリモジュールを具備する半導体メモリシステム - Google Patents

分割されたシステムデータバスに連結されるメモリモジュールを具備する半導体メモリシステム Download PDF

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Abstract

【課題】 分割されたシステムデータバスに連結されるメモリモジュールを具備する半導体メモリシステムが提供される。
【解決手段】 半導体メモリシステムは、メモリコントローラ、N個のシステムデータバス及び第1ないし第Pメモリモジュール群を具備する。N個のシステムデータバスはメモリコントローラから出力されてM/Nビットの幅を有する。第1ないし第Pメモリモジュール群はシステムデータバスに連結されて、それぞれN個のメモリモジュールを具備する。第1ないし第Pメモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有する。第1ないし第Pメモリモジュール群は対応される第1ないし第Pチップ選択信号によって動作する。
【選択図】   図2.A

Description

 本発明は、半導体メモリシステムに係り、特に、本来のバス幅より小さい幅に分割されたシステムデータバスに連結されるメモリモジュールを具備する半導体メモリシステムに関する。
 メモリ装置は、主に高集積化及び大容量化に重点をおいて発展してきており、一方、コンピュータシステムの中心になるCPU(中央処理装置)は主に高速化に重点をおいて発展してきた。その結果、CPUとメモリ装置との間の動作速度差がますます大きくなり、最近ではメモリ装置の動作速度がコンピュータシステム全体の性能を制限する主要要因となっている。
 図1は、従来のメモリシステムの構造を示すブロック図である。
 Mビットの幅を有するシステムデータバスがメモリモジュール120、130、140、150とメモリコントローラ110とを連結している。メモリモジュール120、130、140、150はメモリスロット(図示せず)に装着されている。メモリモジュール120、130、140、150はシステムデータバスと同じデータバス幅を有しており、それぞれのメモリスロットがシステムデータバスに共通に接続される。
 また、メモリスロットはシステムデータバス上に順次連結される。1つのシステムデータバス線路上に全てのメモリスロットが連結されるので、大容量のメモリシステムではメモリスロットの数が増加するほど、これによるシステムデータバス線路上のチャンネル不連続とインピーダンス不整合効果が大きくなる。したがって、高周波領域でシステムデータバスの動作特性が悪くなるので、システムの高速動作を制限する要因として作用する。
 メモリ装置の大容量化は、特に高性能大容量のサーバーシステムでシステムの性能を十分に発揮するための必須条件である。メモリシステムの容量を最大化するためには、メモリシステムが装着されるメモリ素子の個数を最大化しなければならない。このためには、メモリモジュールが装着されるメモリスロットの個数を増やし、1つのメモリモジュール当たりのメモリ素子数を最大化する必要がある。
 一方、メモリシステムの高速動作のためには、システムデータバスのインピーダンス不整合要素やメモリ素子によるシステムデータバスの負荷を最小化する必要がある。このような高速動作要件を満足するためには、チャンネルに連結されるメモリスロット及びメモリモジュールの個数が少ないほど有利である。
 このように、メモリシステムの大容量化と高速化とは相反する傾向があるので、2つの目的を共に満足させ難い問題がある。
 本発明が解決しようとする技術的課題は、システムデータバスに連結されるメモリモジュールの数が少なく、高速動作が可能であり、かつ、メモリ容量を大容量に維持できる半導体メモリシステムを提供するところにある。
 前記技術的課題を達成するための本発明の第1実施例による半導体メモリシステムは、メモリコントローラ、N個のシステムデータバス及び第1ないし第Pメモリモジュール群を具備する。
 N個のシステムデータバスは、前記メモリコントローラから出力され、M/Nビットの幅を有する。第1ないし第Pメモリモジュール群は、前記システムデータバスに連結され、それぞれN個のメモリモジュールを具備する。
 前記第1ないし第Pメモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有する。
 前記第1ないし第Pメモリモジュール群は対応する第1ないし第Pチップ選択信号によって動作することを特徴とする。
 前記Mは前記半導体メモリシステムのシステムデータバスの幅であることを特徴とする。前記N個のシステムデータバスは同じチップ選択信号によって動作するN個のメモリモジュールから前記メモリコントローラまでのデータ伝送時間が同一になるように配線されることを特徴とする。
 前記メモリモジュールは、L個のメモリ装置が装着され、前記L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンクに区分される。前記N個のバンクはそれぞれ前記メモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、前記対応するチップ選択信号に応答して別途に動作することを特徴とする。
 前記チップ選択信号は、前記N個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする。前記L個のメモリ装置はそれぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 前記メモリモジュールは、L個のメモリ装置が装着され、前記L個のメモリ装置はM/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 前記技術的課題を達成するための本発明の第2実施例による半導体メモリシステムは、メモリコントローラ、N個のシステムデータバス、第1メモリモジュール群及び第2メモリモジュール群を具備する。
 N個のシステムデータバスは前記メモリコントローラから出力され、M/Nビットの幅を有する。第1メモリモジュール群は前記N個のシステムデータバスに連結され、N個のメモリモジュールを具備する。第2メモリモジュール群は前記N個のシステムデータバスに連結され、1つまたは2つ以上のメモリモジュールを具備する。
 前記第1メモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有し、同じチップ選択信号によって動作する。
 前記第2メモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、メモリモジュールに前記N個のシステムデータバスが全て連結され、それぞれMビットのデータバス幅を有し、それぞれのメモリモジュール毎に別個のチップ選択信号によって動作することを特徴とする。
 前記Mは前記半導体メモリシステムのシステムデータバスの幅であることを特徴とする。前記N個のシステムデータバスは、前記第1メモリ群のメモリモジュールから前記メモリコントローラまでのデータ伝送時間が同一になるように配線されることを特徴とする。
 前記第1メモリモジュール群のメモリモジュールは、L個のメモリ装置が装着され、前記L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンクに区分され、前記N個のバンクはそれぞれ前記メモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、前記対応するチップ選択信号に応答して別途に動作することを特徴とする。
 前記チップ選択信号は、前記N個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする。前記L個のメモリ装置はそれぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 前記第1メモリモジュール群のメモリモジュールは、L個のメモリ装置が装着され、前記L個のメモリ装置はM/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 前記技術的課題を達成するための本発明の第3実施例による半導体メモリシステムは、直列リンクバス方式の半導体メモリシステムにおいて、メモリコントローラ、N個のシステムデータバス及び第1ないし第Pメモリモジュール群を具備する。
 N個のシステムデータバスは、前記メモリコントローラから出力され、M/Nビットの幅を有する。第1ないし第Pメモリモジュール群は前記システムデータバスに連結され、それぞれN個のメモリモジュールを具備する。
 前記第1ないし第Pメモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有し、データ伝送のためのデータバッファを具備し、前記第1ないし第Pメモリモジュール群は、対応する第1ないし第Pチップ選択信号によって動作し、共通されたシステムデータバスに連結されたそれぞれのメモリモジュールは前記データバッファを利用してデータを伝送することを特徴とする。
 前記Mは前記半導体メモリシステムのシステムデータバスの幅であることを特徴とする。前記N個のシステムデータバスは前記同じチップ選択信号によって動作するN個のメモリモジュールから前記メモリコントローラまでのデータ伝送時間が同一になるように配線されることを特徴とする。
 前記メモリモジュールはL個のメモリ装置が装着され、前記L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンクに区分され、前記N個のバンクはそれぞれ前記メモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、前記対応されるチップ選択信号に応答して別途に動作することを特徴とする。
 前記チップ選択信号は前記N個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする。前記L個のメモリ装置はそれぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 前記メモリモジュールはL個のメモリ装置が装着され、前記L個のメモリ装置はM/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 本発明による半導体メモリシステムは、システムデータバスに連結されるメモリモジュールの個数が減るので、高速動作が可能であり、大容量のメモリが維持できる長所がある。
 本発明と本発明の動作上の利点及び本発明の実施によって達成される目的を十分に理解するためには、本発明の望ましい実施例を例示する図面及び図面に記載された内容を参照しなければならない。
 以下、図面を参照して本発明の望ましい実施例を説明することによって、本発明を詳細に説明する。各図面に示される同一参照符号は同一部材を示す。
 図2Aないし図2Dは、本発明の第1実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。
 図3は、図2のメモリモジュールに装着されるメモリ装置を示す図である。
 まず、図2Aを参照すれば、本発明の第1実施例による半導体メモリシステムは、メモリコントローラ201、N個のシステムデータバス215、217及び第1ないし第Pメモリモジュール群203、209を具備する。
 N個のシステムデータバス215、217はメモリコントローラ201から出力されてM/Nビットの幅を有する。ここで、Mは半導体メモリシステム200の全体システムデータバスの幅である。N個のシステムデータバス215、217は、同じチップ選択信号CS1、CS2によって動作するN個のメモリモジュール205、207、211、213からメモリコントローラ201までのデータ伝送時間が同一になるように配線される。ここで、Nは2である。すなわち、2個のシステムデータバス215、217が存在する。
 第1ないし第Pメモリモジュール群203、209はシステムデータバス215、217に連結され、それぞれN個のメモリモジュール205、207、211、213を具備する。第1ないし第Pメモリモジュール群203、209が具備するそれぞれのメモリモジュール205、207、211、213は1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有する。ここで、Pは2である。すなわち、第1及び第2メモリモジュール群203、209がある。
 第1ないし第Pメモリモジュール群203、209は対応する第1ないし第Pチップ選択信号によって動作する。図2AのN個のメモリモジュール205、207、211、213は図3A及び図3Bのように実現できる。
 図3Bを参照すれば、メモリモジュール310にはL個のメモリ装置が装着され、L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンクB1、B2に区分される。
 N個のバンクB1、B2は、それぞれメモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有して、対応するチップ選択信号CS1_A、CS1_Bに応答して別途に動作する。チップ選択信号CS1_A、CS1_Bは、N個のバンクB1、B2にそれぞれ別個のチップ選択信号を印加する。L個のメモリ装置はそれぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 図2Aのメモリモジュール205、207、211、213は、L個のメモリ装置が装着されて、L個のメモリ装置はM/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 以下、図2及び図3を参照して本発明の第1実施例による半導体メモリシステムの動作を詳しく説明する。
 図2Aの半導体メモリシステム200のN個のシステムデータバス215、217は、メモリコントローラ201から出力され、M/Nビットの幅を有する。図2Aには、2個のシステムデータバス215、217が示されている。したがって、ここでNは2である。しかし、Nが2に限定されるわけではない。
 また、Mは半導体メモリシステム200の全体システムデータバスの幅である。全体システムデータバスの幅がMビットであるので、それぞれのシステムデータバス215、217の幅はM/2ビットを有する。もし、半導体メモリシステム200が3個のシステムデータバスを具備すれば、それぞれのシステムデータバスはM/3ビットのデータ幅を有するであろう。
 第1ないし第Pメモリモジュール群203、209は、システムデータバス215、217に連結され、それぞれN個のメモリモジュール205、207、211、213を具備する。第1実施例で、Pは2である。すなわち、第1及び第2メモリモジュール群203、209がある。しかし、Pは2に限定されるわけではない。
 第1ないし第Pメモリモジュール群203、209が具備するそれぞれのメモリモジュール205、207、211、213は1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有する。それぞれのメモリモジュール205、207、211、213はM/2ビットのデータバスの幅を有する。
 1つのメモリモジュールだけではMビットの全体システムデータバスを満たせないので、N個のメモリモジュールが全体システムデータバスを満たすように構成する。すなわち、2個のメモリモジュールがシステムデータバスを満たす。全体システムデータバスの幅であるMビットを満たせるメモリモジュールがメモリモジュール群を構成する。ここでは2個のメモリモジュールがMビットのシステムデータバスの幅を満たせるので、それぞれのメモリモジュール群は2個のメモリモジュールを有する。
 同じメモリモジュール群に属するメモリモジュールは同じチップ選択信号に応答して同時に動作する。したがって、Mビットのシステムデータバスの幅を満たせる。第1ないし第Pメモリモジュール群203、209は、対応される第1ないし第Pチップ選択信号CS1、CS2によって動作する。
 システムデータバス215、217は同じチップ選択信号CS1、CS2によって動作するN個のメモリモジュール205、207、211、213からメモリコントローラ201までのデータ伝送時間が同一になるように配線される。すなわち、メモリモジュール205はメモリモジュール207よりメモリコントローラ201にさらに近いので、メモリモジュール205からメモリコントローラ201へのデータ伝送時間がメモリモジュール207からメモリコントローラ201へのデータ伝送時間と異なりうる。
 したがって、メモリモジュール205からメモリコントローラ201までのシステムデータバス215の配線をさらに長くすれば、2つのメモリモジュール205、207からメモリコントローラ201までのデータ伝送時間を同一に合せられる。
 図2Bの半導体メモリシステム220は、メモリモジュールの配置を別にした。図2Bの半導体メモリシステム220は、4個のメモリモジュール225、227、229、231が1つのメモリモジュール群223を構成する。すなわち、Pは1であり、Nは4である。それぞれのシステムデータバス233、235、237、239はM/4ビットの幅を有する。メモリモジュール225、227、229、231が同じチップ選択信号CS1に応答して同時に動作する。システムデータバス233、235、237、239が同じ配線の長さを有するように配線するならば、メモリモジュール225、227、229、231からメモリコントローラ221までデータ伝送速度が同一となる。
 メモリモジュールからメモリコントローラまでのシステムデータバスの配線の長さを同一にするならば、メモリモジュールの配置は多様に構成できる。図2C及び図2Dは、多様なメモリモジュールの配置を適用した第1実施例による半導体メモリシステムを示す。
 図2Cを参照すれば、第1のデータバスは最初の2つのメモリモジュールに連結され、第2のデータバスは次の2つのメモリモジュールに連結される。図2Dを参照すれば、第1のデータバスは第1と第4のメモリモジュールに連結され、第2のデータバスは第2と第3のメモリモジュールに連結される。
 第1実施例によれば、1つのシステムデータバス線路にシステム全体のメモリモジュールのうち一部にだけ連結される。したがって、メモリチャンネル不連続及びインピーダンス不整合の影響が図1に示された従来の半導体メモリシステム100に比べて大幅に減る。
 そして、システムデータバスの高速動作特性が改善され、それだけ高い周波数まで動作させることができる。また、1つのメモリモジュールで同時に動作するデータ入出力回路の数が半分に減って1つのメモリモジュール当たりの動作電力もその分減るので、これに関連した同時スイッチング雑音などの高周波雑音が少なくなりうる。
 加えて、メモリモジュールのデータピン数も減るので、メモリモジュールソケットのピン数を減らしたり、残るピンをモジュールの接地及び電力ピンなどに転用してモジュール特性の改善をはかることができる。
 図2に示された本発明の第1実施例に使われるメモリモジュール205、207、211、213のデータバス幅は、図1に示した既存の半導体メモリシステム100のメモリモジュール120、130、140、150に比べて半分に減らさなければならない。
 このための最も簡単な方法は、既存のメモリモジュール120、130、140、150が具備するメモリ装置の数を半分に減らすことである。しかし、このような方法は1つのメモリモジュール及び半導体メモリシステム全体のメモリ容量を減らすので、望ましくない。
 このような問題を避けるための方法としては、メモリモジュールで1つのデータピンを2つのメモリ装置が共有するようにし、2つのメモリ装置を別のメモリバンクとして動作させるようにすることである。
 すなわち、既存のメモリモジュールに比べて本発明のメモリモジュールは、データバスの幅が半分に小さくなる代わりにメモリバンクの数が2倍に増える。その結果、メモリ容量を同一に維持しつつ図2Aに示された本発明のシステムデータバスの長所をそのまま利用できる。
 さらに具体的に説明する。図3Bを参照すれば、メモリモジュール310はL個のメモリ装置が装着され、L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンクB1、B2に区分される。
 図3Aのメモリモジュール300は従来のメモリモジュールを示す。メモリモジュール300は、18個のメモリ装置を具備する。例えば、メモリモジュール300が72ビットのデータバスを有しているならば、それぞれのメモリ装置は4ビットのデータバスを有する。メモリ装置は、チップ選択信号CS1に応答して同時に動作する。
 図3Bのメモリモジュール310は、本発明によるメモリモジュールである。メモリモジュール310は36ビットのデータバスを必要とする。そして、メモリ装置は従来のメモリモジュール300と同じく18個が存在する。すなわち、Lは18である。ここで、Nは2であるので、メモリモジュール310は9個のメモリ装置を具備する2個のメモリバンクB1、B2を具備する。
 2個のメモリバンクB1、B2は、それぞれメモリモジュールの36ビットのデータバスを共有し、対応するチップ選択信号CS1_A、CS1_Bに応答して別途に動作する。チップ選択信号CS1_AはバンクB1に、チップ選択信号CS1_BはバンクB2に印加される。18個のメモリ装置はそれぞれ4ビットのデータバス幅を有する。
 チップ選択信号CS1_Aに応答してバンクB1が選択されれば、バンクB1の9個のメモリ装置は36ビットのデータバスを利用してメモリコントローラにデータを伝送する。この時、バンクB2は動作しない。チップ選択信号CS1_Bに応答してバンクB2が選択されれば、バンクB2の9個のメモリ装置は36ビットのデータバスを利用してメモリコントローラにデータを伝送する。この時、バンクB1は動作されない。
 このような方法を使用すれば、メモリ容量を従来の半導体メモリシステムと同一に維持しつつも前述した本発明の長所が利用できる。
 図2Bのメモリモジュール220のように4個のシステムデータバスが存在するならば、すなわち、Nが4であれば、メモリモジュール220のメモリ装置の数は従来と同一に維持されるが、メモリバンクの数だけ4倍に増加する。そして、相異なる4個のメモリバンクに属するメモリ装置がメモリモジュールの1つのデータピンを共有する。それにより、データバスの幅は1/4に減少するがメモリ容量は同一に維持できる。
 メモリ容量を減らさずにメモリモジュールのデータバス幅を狭めるさらに他の方法は、メモリモジュールがデータバス幅の狭いメモリ装置を具備することである。1つのメモリ装置のデータバス幅が元のメモリ装置のデータバス幅の半分であるメモリ装置を使用すれば、同じ個数のメモリ装置を具備するメモリモジュールのデータバス幅も半分に狭まる。
 すなわち、図2Aのメモリモジュール200は18個のメモリ装置を具備し、18個のメモリ装置がM/(N*L)ビット、すなわち、72/(2*18)=2ビットのデータバス幅を有する。
 この方法を利用すれば、元のメモリモジュールとメモリモジュールの容量だけでなく、メモリバンクの個数も同一で、データバス幅だけ半分に狭まったメモリモジュールを構成できる。
 図4は、本発明の第2実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。
 図4Aを参照すれば、本発明の第2実施例による半導体メモリシステム400は、メモリコントローラ410、N個のシステムデータバス423、425、427、第1メモリモジュール群413及び第2メモリモジュール群420を具備する。
 N個のシステムデータバス423、425、427はメモリコントローラ410から出力され、M/Nビットの幅を有する。Mは半導体メモリシステム400のシステムデータバスの幅である。N個のシステムデータバス423、425、427は第1メモリ群413のメモリモジュール415、417、419からメモリコントローラ410までのデータ伝送時間が同一になるように配線される。
 第1メモリモジュール群413はN個のシステムデータバス423、425、427に連結され、N個のメモリモジュール415、417、419を具備する。第2メモリモジュール群420はN個のシステムデータバスに連結され、1つまたは2つ以上のメモリモジュール421を具備する。
 第1メモリモジュール群413が具備するそれぞれのメモリモジュール415、417、419は1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有し、同じチップ選択信号CS1によって動作する。
 さらに説明すれば、第1メモリモジュール群413のメモリモジュール415、417、419はそれぞれL個のメモリ装置(図示せず)が装着され、L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンク(図示せず)に区分され、N個のバンクはそれぞれメモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、対応するチップ選択信号に応答して別途に動作する。
 L個のメモリ装置はそれぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 第2メモリモジュール群420が具備するそれぞれのメモリモジュール421は、メモリモジュール421にN個のシステムデータバス423、425、427が全て連結され、Mビットのデータバス幅を有し、それぞれのメモリモジュール毎に別個のチップ選択信号CS2によって動作する。
 第1メモリモジュール群413のメモリモジュール415、417、419はL個のメモリ装置が装着され、L個のメモリ装置はM/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 以下、図4A及び図4Bを参照して本発明の第2実施例による半導体メモリ装置の動作を詳細に説明する。
 図4の第2実施例による半導体メモリシステム400、430はデータバス幅が相異なるメモリモジュールを混合して使用する場合を示す。
 図4Aを参照すれば、全体でMビットの幅を有するシステムデータバスをM/3ビットの幅を有する3個のシステムデータバス423、425、427に分け、第1メモリモジュール群413には3個のメモリモジュール415、417、419がある。3個のメモリモジュール415、417、419はそれぞれM/3ビットのデータバス幅を有する。第1メモリモジュール群413の構成及び動作は第1実施例による半導体メモリシステムと同一である。
 第2メモリモジュール群420は3個のシステムデータバス423、425、427に連結されて1つのメモリモジュール421を具備する。しかし、図4Bの第2メモリモジュール群440と同じく2個のメモリモジュール441、443が具備できる。または、2個以上のメモリモジュールが具備できる。
 第2メモリモジュール群420が具備するメモリモジュール421は、全体システムデータバスの幅と同じMビットのデータバス幅を有し、チップ選択信号CS2によって動作する。
 第1メモリモジュール群413のメモリモジュール415、417、419は分割されたシステムデータバス423、425、427と同じデータバス幅を有し、第2メモリモジュール群420のメモリモジュール421は全体システムデータバスと同じデータバス幅を有する。
 図4Bを参照すれば、第1メモリモジュール群433は2個のメモリモジュール435、437を具備し、2個の分割されたシステムデータバス450、453に連結される。第2メモリモジュール群440は2個のメモリモジュール441、443を具備し、それぞれのメモリモジュール441、443はMビットのデータバス幅を有し、2個の分割されたシステムデータバス450、453のいずれにも連結される。
 第2実施例の半導体メモリシステム400、430でのように、相異なるデータバス幅を有するメモリモジュールを多様な方式で組み合わせて使用しても第1実施例のような効果を発揮する。
 図5Aは、従来の直列リンクバス方式の半導体メモリシステムを示す図である。
 図5Bは、本発明の第3実施例による直列リンク方式の半導体メモリシステムである。
 図5Bを参照すれば、本発明の第3実施例による半導体メモリシステム560は、直列リンクバス方式の半導体メモリシステムにおいて、メモリコントローラ565、N個のシステムデータバス567、569及び第1ないし第Pメモリモジュール群570、575を具備する。
 N個のシステムデータバス567、569はメモリコントローラ565から出力されてM/Nビットの幅を有する。ここで、Mは、半導体メモリシステム560のシステムデータバスの幅である。N個のシステムデータバス567、569は同じチップ選択信号CS1、CS2によって動作するN個のメモリモジュール571、573、577、579からメモリコントローラ565までのデータ伝送時間が同一になるように配線できる。
 第1ないし第Pメモリモジュール群570、575はシステムデータバスに連結され、それぞれN個のメモリモジュール571、573、577、579を具備する。第1ないし第Pメモリモジュール群570、575が具備するそれぞれのメモリモジュールは1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有し、データ伝送のためのデータバッファDBN1〜DBN4を具備する。
 第1ないし第Pメモリモジュール群570、575は対応する第1ないし第Pチップ選択信号CS1、CS2によって動作され、共通するシステムデータバスに連結したそれぞれのメモリモジュールはデータバッファを利用してデータを伝送する。
 メモリモジュールは、L個のメモリ装置(図示せず)が装着され、L個のメモリ装置はL/N個のメモリ装置をそれぞれ具備するN個のバンク(図示せず)に区分され、N個のバンクはそれぞれメモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、対応するチップ選択信号に応答して別途に動作する。
 L個のメモリ装置はそれぞれM/Lビットのデータバス幅を有する。チップ選択信号はN個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする。
 メモリモジュールはL個のメモリ装置が装着され、L個のメモリ装置はM/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする。
 以下、図5を参照して本発明の第3実施例による半導体メモリシステムの動作を詳細に説明する。
 図5Aは、従来の直列リンクバス方式の半導体メモリシステムを示す図である。
 従来の直列リンクバス方式は、半導体メモリシステム500のメモリモジュール520、530、540、550をシステムデータバス555に連結する場合、直列リンクを利用して1つのメモリモジュールから次のメモリモジュールに信号が順次に伝送されるデータ伝送方式である。
 1つのメモリモジュールは、その前のメモリモジュールから信号を伝達され、その次のクロックで、次のメモリモジュールに伝達する。このようなデータ伝送はメモリ装置とメモリ装置との間で直接行われる場合もあれば、データ伝送のための別途のデータバッファを通じて行われる場合もある。
 直列リンクバス方式での信号伝達は、隣接した2つのメモリ装置やデータバッファの間でポイントツーポイント方式で行われるので、メモリシステムの高速動作でも信号忠実度が非常に優れている。
 しかし、データを伝達されて次のメモリモジュールに伝達する過程で、データバッファリングに少なくとも1クロック以上の時間がかかり、半導体メモリシステムの遅延時間が長くなってしまうので、半導体メモリシステムの動作速度を低下させる問題がある。
 特に、大容量の半導体メモリシステムでメモリモジュールの個数が増加するほど中間バッファリング段階も増加するので、中間バッファリングによる時間遅延及び半導体メモリシステムの速度低下問題がさらに深刻になる。
 図5Bは、前記問題点を解決するために直列リンクバス方式の半導体メモリシステムに本発明の第1実施例の方式を適用したものである。
 図5Bは、メモリモジュール571、573、577、579のデータバス幅が全体システムデータバス幅の1/2である場合を例に挙げて説明したものである。半導体メモリシステムにメモリモジュールが4個の場合を比較すれば、図5Aに示した既存の半導体メモリシステム500ではメモリモジュール520でメモリモジュール550までデータを伝達するのに最大3回のデータバッファリングが必要である。
 しかし、図5Bに示された第3実施例による半導体メモリシステム560では、途中に1回だけのデータバッファリングが必要なので、データバッファリングにかかる時間遅延が大幅に減り、したがって、メモリシステム遅延時間の減少及び動作速度が増加する。図5Bのメモリモジュール571、573、577、579の構造や動作は第1実施例のメモリモジュールと同一なので、詳細な説明は省略する。
 以上、図面と明細書とで最適の実施例が開示された。ここで特定の用語が使われたが、これは単に本発明を説明するための目的で使われたものであり、意味限定や特許請求の範囲に記載された本発明の技術的範囲を制限するために使われたものではない。したがって、本技術分野の当業者であれば、これより多様な変形及び均等な他の実施例が可能である点が理解できるであろう。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は特許請求の範囲の技術的思想によって定められねばならない。
 本発明は、半導体メモリ装置に係り、1つのメモリチップを高容量に作るためのメモリモジュールの開発分野で利用できる。
従来のメモリシステムの構造を示すブロック図である。 本発明の第1実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。 本発明の第1実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。 本発明の第1実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。 本発明の第1実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。 図2のメモリモジュールに装着されるメモリ装置を示す図面である。 図2のメモリモジュールに装着されるメモリ装置を示す図面である。 本発明の第2実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。 本発明の第2実施例による半導体メモリシステムを示すブロック図である。 従来の直列リンクバス方式の半導体メモリシステムを示す図面である。 本発明の第3実施例による直列リンク方式の半導体メモリシステムである。
符号の説明
   200  半導体メモリシステム
   201  メモリコントローラ
   203、209  第Pメモリモジュール群
   205、207、211、213  N個のメモリモジュール
   215、217  システムデータバス

Claims (21)

  1.  メモリコントローラと、
     前記メモリコントローラから出力されてM/N(Mは自然数)ビットの幅を有するN(Nは2以上の自然数)個のシステムデータバスと、
     前記システムデータバスに連結されて、それぞれN個のメモリモジュールを具備する第1ないし第P(Pは自然数)メモリモジュール群と、を具備し、
     前記第1ないし第Pメモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、
     1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、
     前記第1ないし第Pメモリモジュール群は、
     対応される第1ないし第Pチップ選択信号によって動作することを特徴とする半導体メモリシステム。
  2.  前記Mは、
     前記半導体メモリシステムの全体システムデータバスの幅であることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリシステム。
  3.  前記N個のシステムデータバスは、
     第1ないし第Pメモリモジュール群のそれぞれのN個のメモリモジュールから前記メモリコントローラまでのデータ伝送時間が同一になるように配線されることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリシステム。
  4.  前記メモリモジュールは、
     L個のメモリ装置が装着されて、
     前記L個のメモリ装置は、
     N個のバンクに区分され、
     前記N個のバンクはそれぞれ、
     前記メモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、前記対応されるチップ選択信号に応答して別途に動作することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリシステム。
  5.  前記チップ選択信号は、
     前記N個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリシステム。
  6.  前記L個のメモリ装置は、
     それぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリシステム。
  7.  前記メモリモジュールは、
     L個のメモリ装置が装着され、
     前記L個のメモリ装置は、
     M/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリシステム。
  8.  メモリコントローラと、
     前記メモリコントローラから出力されてM/N(Mは自然数)ビットの幅を有するN(Nは2以上の自然数)個のシステムデータバスと、
     前記N個のシステムデータバスに連結してN個のメモリモジュールを具備する第1メモリモジュール群と、
     前記N個のシステムデータバスに連結され、1つまたは2つ以上のメモリモジュールを具備する第2メモリモジュール群と、を具備し、
     前記第1メモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、
     1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有し、同じチップ選択信号によって動作し、
     前記第2メモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、
     メモリモジュールに前記N個のシステムデータバスが共に連結され、それぞれMビットのデータバス幅を有し、それぞれのメモリモジュール毎に別個のチップ選択信号によって動作することを特徴とする半導体メモリシステム。
  9.  前記Mは、
     前記半導体メモリシステムの全体システムデータバスの幅であることを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリシステム。
  10.  前記N個のシステムデータバスは、
     前記第1メモリ群のメモリモジュールから前記メモリコントローラまでのデータ伝送時間が同一になるように配線されることを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリシステム。
  11.  前記第1メモリモジュール群のメモリモジュールはそれぞれ、
     L個のメモリ装置が装着され、
     前記L個のメモリ装置は、
     N個のバンクに区分され、
     前記N個のバンクはそれぞれ、
     前記メモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有して、前記対応されるチップ選択信号に応答して別途に動作することを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリシステム。
  12.  前記チップ選択信号は、
     前記N個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする請求項11に記載の半導体メモリシステム。
  13.  前記L個のメモリ装置は、
     それぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする請求項11に記載の半導体メモリシステム。
  14.  前記第1メモリモジュール群のメモリモジュールはそれぞれ、
     L個のメモリ装置が装着され、
     前記L個のメモリ装置は、
     M/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリシステム。
  15.  直列リンクバス方式の半導体メモリシステムにおいて、
     メモリコントローラと、
     前記メモリコントローラから出力されてM/Nビットの幅を有するN個のシステムデータバスと、
     前記システムデータバスに連結され、それぞれN個のメモリモジュールを具備する第1ないし第Pメモリモジュール群を具備し、
     前記第1ないし第Pメモリモジュール群が具備するそれぞれのメモリモジュールは、
     1つのメモリモジュールに1つのシステムデータバスが連結され、それぞれM/Nビットのデータバス幅を有し、データ伝送のためのデータバッファを具備し、
     前記第1ないし第Pメモリモジュール群は、
     対応される第1ないし第Pチップ選択信号によって動作し、
     共通したシステムデータバスに連結したそれぞれのメモリモジュールは前記データバッファを利用してデータを伝送することを特徴とする半導体メモリシステム。
  16.  前記Mは、
     前記半導体メモリシステムの全体システムデータバスの幅であることを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリシステム。
  17.  前記N個のシステムデータバスは、
     同じチップ選択信号によって動作するN個のメモリモジュールから前記メモリコントローラまでのデータ伝送時間が同一になるように配線されることを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリシステム。
  18.  前記メモリモジュールはそれぞれ、
     L個のメモリ装置が装着され、
     前記L個のメモリ装置は、
     N個のバンクに区分され、
     前記N個のバンクはそれぞれ、
     前記メモリモジュールのM/Nビットのデータバスを共有し、前記対応されるチップ選択信号に応答して別途に動作することを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリシステム。
  19.  前記チップ選択信号は、
     前記N個のバンクにそれぞれ別個のチップ選択信号が印加されることを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリシステム。
  20.  前記L個のメモリ装置は、
     それぞれM/Lビットのデータバス幅を有することを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリシステム。
  21.  前記メモリモジュールはそれぞれ、
     L個のメモリ装置が装着され、
     前記L個のメモリ装置は、
     M/(N*L)ビットのデータバス幅を有することを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリシステム。
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