JP2004064086A - 半導体パッケージ用フィルムキャリアテープ及びその製造方法 - Google Patents

半導体パッケージ用フィルムキャリアテープ及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】改善された補強構造を有するフィルムキャリアテープ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のよるフィルムキャリアテープは、回路配線が設けられる主領域と、主領域の幅方向両側に位置する周縁領域とを備えるベースフィルムと、ベースフィルムの周縁領域にベースフィルムと異なる物質で形成された補強フィルムとを含み、補強フィルム及びベースフィルムの周縁領域には、複数のスプラケット孔が貫通形成されることを特徴とする。
【選択図】図4

Description

 本発明は、半導体パッケージ用フィルムキャリアテープに関し、より詳しくは、フィルムキャリアテープの強度を増加させることができる補強フィルムを備えたフィルムキャリアテープ及びその製造方法に関する。
 近年、電子機器は、電子技術の発達に伴って小型軽量化及び高機能化されており、それにより、電子機器に用いられる半導体パッケージも小型化されている。このような要求に応じて開発された半導体パッケージとしては、TCP(tape carrier package)やCOFパッケージ(chip on film package)などを挙げることができるが、これらパッケージは、半導体チップを実装するために、リードフレームや印刷回路基板の代わりに、薄膜フイルムを用いて製造される。通常、TCPやCOFパッケージの大量生産のために、複数のパッケージが形成され得るフィルムキャリアテープが用いられる。
 図1乃至図3を参照して、従来のフィルムキャリアテープの構造を説明する。
 図1は、従来の補強金属パターン付きフィルムキャリアテープを示す。
 同図に示されるように、フィルムキャリアテープ10は、ベースフィルム100と、ベースフィルム100の上面に設けられる回路配線154と、補強金属パターン152とを含む構造となっている。ベースフィルム100は、回路配線が設けられる主領域110と、多数のスプラケット孔122が形成される周縁領域120とを備える。
 スプラケット孔122は、回転スプラケットによりフィルムキャリアテープを移送するに使用される。補強金属パターン152は、スプラケット孔122がスプラケット歯(図示せず)により裂けられる可能性を低減すると共に、ベースフィルム100の強度を高めるために、ベースフィルム100の周縁領域120に形成される。ベースフィルム100は、通常、ポリイミドなどの1層以上の合成樹脂材よりなり、その厚さは、約38μm程度である。
 回路配線154と補強金属パターン152は、主として、銅(Cu)などの導電性金属よりなり、約8μm程度の厚さを有する。また、回路配線154と補強金属パターン152は、ベースフィルム100上に形成された薄膜金属層をパターニングしエッチングすることによって形成されることができる。
 一般的な製造工程において、製造工程の効率性を向上させるために、2レーン以上のフィルムを有するフィルムキャリアテープを使用することができる。図2は、従来の製造工程に用いられる2レーンのフィルムを有するフィルムキャリアテープを示す斜視図である。
 図2に示されるように、各レーンのフィルム15は、幅Aが35mmで、105mmの幅Bを有するフィルムキャリアテープ30上に形成される。
 金属層150をパターニングしエッチングすることによって、回路配線が形成され、補強金属パターンは、ベースフィルム105の上面に形成される。補助フィルム130は、ベースフィルム105の下面に取り付けられる。
 補強金属パターン及び回路パターンを均一に形成するために、ベースフィルム105上の金属層150に均一に液状フォトレジストを塗布しなければならない。しかし、フィルムキャリアテープ30の最外側周縁に塗布された液状フォトレジストが、フィルムキャリアテープの移送に供されるためにパターニング工程及びエッチング工程前に形成される最外側スプラケット孔160を介して流れ出すことができる。従って、スプラケット孔160付近のベースフィルム105の領域は、使用できなく、廃棄される。各レーンのフィルム15のスプラケット孔132は、フォトレジストが硬化した後に形成される。従って、各レーンのフィルム15及びフィルムキャリアテープ30の幅を考慮すれば、フィルムテープキャリア上に3レーンのフィルムを形成することができると考えられるが、従来の製造工程ではフィルムキャリアテープ上に2レーンのフィルムのみを形成することができた。
 補助フィルム130は、主として、ポリエチレンテレフタルレート(polyethylene terephthalate;以下ではPETと言う)などの1以上の合成樹脂材よりなり、その厚さは、約50μm程度である。フィルムキャリアテープ30を製造した後、補助フィルムは、ベースフィルム105の下面から除去される。
 フィルムキャリアテープ30の金属層150上には、金属層150の酸化を防止するために、厚さが約12μmの半田レジスト層が形成される。
 図3は、従来のフィルムキャリアテープに圧力を加えた時の変形を示すシミュレーション図である。
 同図に示されるように、フィルムキャリアテープの変形は、補強金属パターンがフィルムの周縁領域に形成されているにも拘らず、スプラケットが直接的に力を加える表面付近で最も大きく変形されることが分かる。
 また、従来の補強金属パターンの補強効果が不十分であるため、スプラケット孔がスプラケットにより容易に裂けることができるという問題点がある。
 また、上述した理由から分かるように、補強金属パターンを形成するための多量のフィルムが廃棄されるという不都合がある。
 本発明の目的は、改善された補強構造を有するフィルムキャリアテープ及びその製造方法を提供することにある。
 前記目的を達成するために、本発明の一態様によるフィルムキャリアテープは、回路配線が設けられる主領域と、該主領域の幅方向両側に位置する周縁領域とを備えるベースフィルムと、前記ベースフィルムの周縁領域に前記ベースフィルムと異なる物質で形成された補強フィルムとを含み、前記補強フィルム及び前記ベースフィルムの周縁領域には、複数のスプラケット孔が貫通形成されることを特徴とする。
 また、前記ベースフィルムは、上面及び下面を有し、前記回路配線は、前記ベースフィルムの前記主領域の上面に設けられ、前記補強フィルムは、前記ベースフィルムの周縁領域の下面に取り付けられる。
 前記補強フィルムは、合成樹脂材質であることができる。
 前記補強フィルムは、ポリエチレンテレフタルレート、液晶性ポリマー、ポリテトラフルオルエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアミド−66、ポリカーボネートよりなる群から選ばれた少なくとも1種の材質であることができる。
 好ましくは、前記補強フィルムは、ポリエチレンテレフタルレートを主成分として含む。
 前記補強フィルムは、20〜80μmの厚さで形成されることが好ましい。
前記ベースフィルムは、厚さが25〜50μmであることが好ましい。
 また、本発明の他の態様によるフィルムキャリアテープの製造方法は、主領域及び該主領域の幅方向両側に位置する周縁領域を有するベースフィルムに、原フィルムを取り付ける段階と、前記原フィルムが取り付けられた前記ベースフィルムの周縁領域にスプラケット孔を形成する段階と、前記ベースフィルムの主領域上に回路配線を設ける段階と、前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階と、前記原フィルムの中で前記主領域に対応する部分を除去して、補強フィルムを形成する段階とを含む。
 前記原フィルムは、前記ベースフィルムの下面に取り付けられ、前記回路配線は、前記ベースフィルムの上面に設けられる。
 前記原フィルムは、合成樹脂材質である。
 前記原フィルムは、ポリエチレンテレフタルレート、液晶性ポリマー、ポリテトラフルオルエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアミド−66、ポリカーボネートよりなる群から選ばれた少なくとも1種の材質である。
 前記補強フィルムは、ポリエチレンテレフタルレートを主成分として含む。
 前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階前に、前記回路配線が前記ベースフィルムの前記主領域上に設けられる。
 前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階後に、前記回路配線が前記ベースフィルムの前記主領域上に設けられる。
 本発明によるフィルムキャリアテープの構造によれば、周縁領域に対して従来の補強金属パターンの代わりに合成樹脂系の補強フィルムを取り付けるように構成することによって、強度補強効果をより一層向上させることができるだけでなく、フィルム製造過程で捨てられるベースフィルムの損失を防止し、ひいては、フィルムキャリアテープの製造収率を向上させることができるなどの効果を得ることができる。
 以下、図面を参照して本発明によるフィルムキャリアテープ及びその製造方法について詳細に説明する。
 図4は、ベースフィルムの下面に補強フィルムが取り付けられたフィルムキャリアテープを示す図である。同図に示されるように、フィルムキャリアテープ20は、ベースフィルム200と、回路配線254と、補強フィルム243とを含む。従来のフィルムキャリアテープと同様に、ベースフィルム200は、回路配線が設けられる主領域210と、多数のスプラケット孔222が形成される周縁領域220とを備える。補強フィルム243は、周縁領域220の下面に取り付けられ、ベースフィルム200のスプラケット孔222に対応する複数のスプラケット孔232を有する。
 ベースフィルム200は、液晶性ポリマー(liquid crystalline polymer)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリイミド(PI)などの1以上の合成樹脂材よりなる。また、ベースフィルム200は、厚さが25〜50μmであり、好ましくは38μmである。
 回路配線254は、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、銅(Cu)などの導電性金属、又は、これら金属の合金よりなる。回路配線254は、通常、約6〜18μmの厚さを有し、ベースフィルム200の主領域210に形成された金属層をパターニングしエッチングすることにより形成される。チップが装着されるべきチップ装着孔212は、ベースフィルム200の主領域210に形成されることができる。
 補強フィルム243は、液晶性ポリマー(LCP)、ポリテトラフルオルエチレン(PTFE)、ポリプロピレン(PP)、ポリエチレン(PE)、ポリアミド−66(PA−66)、ポリカーボネート(PC)などの合成樹脂材よりなり、好ましくは、ポリエチレンテレフタレート(PET)よりなる。補強フィルム243は、その厚さが20〜80μmであり、好ましくは50μmである。
表1は、補強フィルム243に用いられる合成樹脂の特性を示す。
Figure 2004064086
 表1から分かるように、補強フィルム243としては、数種の合成樹脂が用いられる。
例えば、補強フィルムに対する材料特性及び費用を鑑みてPETを使用することが好ましい。
 補強フィルム243は、厚さが5〜15μm程度のアクリル系またはエポキシ系接着剤によりベースフィルム200に取り付けられる。ベースフィルム200のスプラケット孔222に対応する位置には、補強フィルム243のスプラケット孔232が形成される。
 本発明では、製造工程の効率性を向上させるために、2レーン以上のフィルムを有するフィルムキャリアテープを適用することができる。回路配線254上には、回路配線254の酸化を防止するために、5〜20μm程度の半田レジスト層が形成される。
 図5は、本発明の一実施例によるフィルムキャリアテープの製造方法を示す概略ブロック図であり、図6乃至図9は、図5に示された製造段階40−44によるフィルムキャリアテープの製造を示す図である。図5乃至図9を参照して、フィルムキャリアテープの各製造段階を説明する。
 図6に示されるように、ベースフィルム205の上面には、金属層250が形成される。
 ベースフィルム205を保持する原フィルム240がベースフィルム205の下面に取り付けられる(図5の段階40)。この実施例では、幅A’を有する3レーンのフィルム25が幅A’の3倍に相当する幅B’を有するフィルムキャリアテープ50上に形成される。原フィルム245の幅は、通常、フィルムキャリアテープ50の幅と同一である。
 ベースフィルム205に原フィルム240が取り付けられた後、図7に示されるように、ベースフィルム205及び原フィルム240を同時に穿孔することにより、ベースフィルム205及び原フィルム240各々にスプラケット孔223形成する(図5の段階41)。スプラケット孔223は、フィルムキャリアテープ50の周縁領域225に形成され、スプラケットを用いてフィルムキャリアテープを移送するに用いられる。
 スプラケット孔223が形成された後、図8に示されるように、ベースフィルム205上に回路配線255が設けられる(図5の段階42)。この段階42で、半導体チップを装着できるチップ装着孔214を形成することができる。回路配線255は、ベースフィルム205に形成された金属層250をパターニングしエッチングすることにより製造することができる。
 ベースフィルム205上に回路配線255が形成された後、ベースフィルム205の主領域215と周縁領域225との境界に沿って原フィルム240を切断する。この段階43は、段階42の前に行われることもできる。
 原フィルム240を切断した後、図9に示されるように、ベースフィルム205の主領域215に取り付けられた原フィルム240の一部246は、ベースフィルム205から除去される(図5の段階44)。周縁領域225に取り付けられた原フィルム240の残りの部分は、補強フィルム245を構成するために残存する。
 上述した本発明の実施例によれば、補強フィルム245は、フィルムキャリアテープ50の強度を強化させるために、従来の補強金属パターンの代わりに使用される。従って、本発明の製造工程では、ベースフィルム205の主領域215のみに液状フォトレジストが塗布されることができる。ベースフィルム205の周縁領域225に液状フォトレジストを塗布する必要を無くすことにより、スプラケット孔223を介してフォトレジストが流れ出す問題を軽減又は除去でき、また、フィルムの外側レーンのスプラケット孔223を最外側スプラケット孔として使用することができる。その結果、本発明の実施例に開示された補強フィルム245を使用することによって、従来技術と比べてベースフィルムの利用を改善することができる。
 補強フィルム245を製造する全ての段階が完了した後、フィルムキャリアテープ50は、3つの個別フィルムキャリアテープに分離され、分離されたフィルムキャリアテープは、半導体パッケージ製造工程に供給される。
 図10は、本発明の一実施例によるフィルムキャリアテープの変形を示すシミュレーション図である。
 同図に示されるように、図3に図示された補強金属パターンを用いた従来の技術と比べて、本発明によれば、スプラケットにより加えられる力により誘発されるフィルムキャリアテープの変形が軽減される。本発明の補強効果は、従来の技術と比べて向上され、また、製造工程中にスプラケットにより誘発される損傷の可能性を低減することができる。
 図11は、スプラケットにより誘発されるスプラケット孔の形態を示す図である。図11の(a)及び(b)は、スプラケットにより誘発されるスプラケット孔の変形を示す図である。
 図11の(a)は、変形前後のスプラケット孔の変形を示す図である。同図で、スプラケット孔の変形パターンを示すために、x軸方向に沿って等間隔で位置する8ヶ所での変形を測定した。
 図11の(b)は、前記等間隔で位置する8ヶ所の変形を示している。同図で、銅をスプラケット孔に使用した従来の技術に比べて本願発明による補強フィルムを使用する場合、スプラケット孔の変形が極めて少ないことが分かる。
 このように、周縁領域に取り付けられて構成された補強フィルムは、力が加えられるスプラケット孔近くの強度を效果的に補強することによって、裂けのようなフィルムの損傷を防止できる。
 本発明は、本発明の技術的思想から逸脱することなく、他の種々の形態で実施することができる。前述の実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例のみに限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請求の範囲内で、いろいろと変更して実施することができるものである
従来の補強金属パターン付きフィルムキャリアテープを示す図である。 2レーンのフィルムが形成される従来のフィルムキャリアテープを示す図である。 従来の補強金属パターン付きフィルムキャリアテープの変形を示すシミュレーション図である。 本発明の一実施例による補強フィルム付きフィルムキャリアテープを示す図である。 本発明の一実施例による補強フィルムの製造工程を示すブロック図である。 ベースフィルムに原フィルムを取り付ける工程を示す例示図である。 複数のスプラケット孔がベースフィルム及び原フィルムに形成される工程を示す例示図である。 回路配線がベースフィルムに形成される工程を示す例示図である。 主領域に取り付けられた原フィルムの一部をベースフィルムから切断した工程を示す例示図である。 本発明の一実施例による補強フィルム付きフィルムキャリアテープの変形を示すシミュレーション図である。 スプラケットにより誘発されるスプラケット孔の変形を示す図である。
符号の説明
 20、50 フィルムキャリアテープ
 200、205 ベースフィルム
 210、215 主領域
 220、225 周縁領域
 240 原フィルム
 243、245 補強フィルム
 250 金属層
 254、255 回路配線
 212、214 素子装着孔
 223、232 スプラケット孔

Claims (17)

  1.  回路配線が設けられる主領域と、該主領域の幅方向両側に位置する周縁領域とを備えるベースフィルムと、
    前記ベースフィルムの周縁領域に前記ベースフィルムと異なる物質で形成された補強フィルムとを含み、
    前記補強フィルム及び前記ベースフィルムの周縁領域には、複数のスプラケット孔が貫通形成されることを特徴とするフィルムキャリアテープ。
  2.  前記ベースフィルムは、上面及び下面を有し、
     前記回路配線は、前記ベースフィルムの前記主領域の上面に設けられ、
     前記補強フィルムは、前記ベースフィルムの周縁領域の下面に取り付けられることを特徴とする請求項1に記載のフィルムキャリアテープ。
  3.  前記補強フィルムは、合成樹脂材質であることを特徴とする請求項1に記載のフィルムキャリアテープ。
  4.  前記補強フィルムは、ポリエチレンテレフタルレート、液晶性ポリマー、ポリテトラフルオルエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアミド−66、ポリカーボネートよりなる群から選ばれた少なくとも1種の材質であることを特徴とする請求項3に記載のフィルムキャリアテープ。
  5.  前記補強フィルムは、ポリエチレンテレフタルレートを主成分として含むことを特徴とする請求項4に記載のフィルムキャリアテープ。
  6.  前記補強フィルムは、20〜80μmの厚さで形成されることを特徴とする請求項1に記載のフィルムキャリアテープ。
  7.  前記ベースフィルムは、厚さが25〜50μmであることを特徴とする請求項6に記載のフィルムキャリアテープ。
  8.  主領域及び該主領域の幅方向両側に位置する周縁領域を有するベースフィルムに、原フィルムを取り付ける段階と、
     前記原フィルムが取り付けられた前記ベースフィルムの周縁領域にスプラケット孔を形成する段階と、
     前記ベースフィルムの主領域上に回路配線を設ける段階と、
     前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階と、
     前記原フィルムの中で前記主領域に対応する部分を除去して、補強フィルムを形成する段階とを含むことを特徴とするフィルムキャリアテープの製造方法。
  9.  前記原フィルムは、前記ベースフィルムの下面に取り付けられ、
     前記回路配線は、前記ベースフィルムの上面に設けられることを特徴とする請求項8に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  10.  前記原フィルムは、合成樹脂材質であることを特徴とする請求項8に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  11.  前記原フィルムは、ポリエチレンテレフタルレート、液晶性ポリマー、ポリテトラフルオルエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアミド−66、ポリカーボネートよりなる群から選ばれた少なくとも1種の材質であることを特徴とする請求項9に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  12.  前記補強フィルムは、ポリエチレンテレフタルレートを主成分として含むことを特徴とする請求項11に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  13.  前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階前に、
     前記回路配線が前記ベースフィルムの前記主領域上に設けられることを特徴とする請求項8に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  14.  前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階後に、
     前記回路配線が前記ベースフィルムの前記主領域上に設けられることを特徴とする請求項8に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  15.  複数の主領域及び該主領域の両側に位置する周縁領域を有するベースフィルムに、原フィルムを取り付ける段階と、
     前記原フィルムが取り付けられた前記ベースフィルムの周縁領域にスプラケット孔を形成する段階と、
     前記主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階と、
     前記ベースフィルムの主領域上に回路配線を設ける段階と、
     前記原フィルムの中で前記主領域に対応する部分を除去して、補強フィルムを形成する段階と、
     前記周縁領域の間を切断して、複数のフィルムキャリアテープを形成する段階とを含むことを特徴とするフィルムキャリアテープの製造方法。
  16.  前記ベースフィルムに前記原フィルムを取り付ける段階で、前記原フィルム及び前記ベースフィルムが取り付けられる面には、接着層を形成することを特徴とする請求項15に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
  17.  前記ベースフィルムの主領域と前記周縁領域との境界に沿って前記原フィルムを切断する段階前に、前記回路配線が前記ベースフィルムの前記主領域上に設けられることを特徴とする請求項15に記載のフィルムキャリアテープの製造方法。
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