JP2004046154A - アクティブ・マトリクス有機電界発光素子及びその製造方法 - Google Patents

アクティブ・マトリクス有機電界発光素子及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】パワーラインの劣化を防止し、均一な画質を示すアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法の提供並びに、開口率を増やして寿命が長いアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法の提供並びに、層間絶縁膜を有機絶縁層で形成して表面を平坦にすることにより、発光層に形成されるフィールドを均一にして有機発光層の寿命が長いアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明においてはグラウンド層とパワーラインを基板全面に形成して、駆動時に発散される熱を極小化することにより劣化を防止できて、抵抗を減少させて画質の不均一を防止できる。また、本発明によるアクティブ・マトリクス有機LEDにおいてはカソード電極をソース電極及びドレイン電極と同一工程で形成することによって、製造工程及び費用を減らして不良発生要因を減少させて製造収率を増やすことができる。
また、ゲート配線とデータ配線間に形成する層間絶縁膜を厚い有機絶縁層で形成して表面を平坦化する。
【選択図】 図4

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は有機電界発光素子に係り、さらに詳細には薄膜トランジスタを利用したアクティブ・マトリクス有機電界発光素子に関する。
【0002】
【関連技術】
現在テレビジョンやモニターのようなディスプレー装置には陰極線管(cathode ray tube:CRT)が主な装置として利用されているが、これは重量と体積が大きくて駆動電圧が高い問題がある。これにより、薄形化、軽量化、低消費電力化などの優秀な特性を有する平板表示装置(flat panel display)の必要性が台頭し、液晶表示装置(liquid crystal display)とプラズマ表示装置(plasma display panel)、電界放出表示装置(field emission display)、そして電界発光表示装置(または電界発光素子とも称する)(electroluminescent display:ELD)のような多様な平板表示装置が研究及び開発されている。
【0003】
このうち電界発光素子は、蛍光体に一定以上の電界が掛かれば光が発生する電界発光(electroluminescent:EL)現象を利用した表示素子であって、キャリアの励起を起こすソースによって無機(inorganic)電界発光素子と有機電界発光素子(organic electroluminescent display divice:OELD)に分けることができる。
【0004】
このうち、有機電界発光素子が青色をはじめとする可視光線の全領域の光が出るので天然色表示素子として注目を浴びており、高輝度と低動作電圧特性を有する。また自己発光型であるのでコントラスト比が大きくて、超薄型ディスプレーの具現が可能であり、工程が簡単で環境汚染が比較的少ない。一方、応答時間が数マイクロ秒程度であって動画像具現がやさしくて、視野角の制限がなくて低温においても安定的であって、直流5Vないし15Vの低い電圧で駆動するので駆動回路の製作及び設計が容易である。
【0005】
このような有機電界発光素子は、構造が無機電界発光素子と同様であるが、発光原理は電子と正孔の再結合による発光を利用しているので有機LED(organic lightemitting diode:OLED)と呼ぶこともある。したがって、以下では有機LEDと称する。
【0006】
最近、複数の画素をマトリックス状で配列して各画素に薄膜トランジスタを連結したアクティブ・マトリクス(active matrix)形態が平板表示装置に広く利用されるので、これを有機電界発光素子に適用したアクティブ・マトリクス有機LED(active matrix organic LED:AMOLED)について添付した図面を参照しながら説明する。
【0007】
図1は、アクティブ・マトリクス有機LEDの一画素についての回路構造を図示したものであって、図示したようにアクティブ・マトリクス有機LEDの一画素はスイッチング薄膜トランジスタ4とドライビング薄膜トランジスタ5、ストレージキャパシタ(storage capacitor)6、そして発光ダイオード7で構成される。ここで、スイッチング薄膜トランジスタ4とドライビング薄膜トランジスタ5はp型多結晶シリコン薄膜トランジスタで構成される。
【0008】
スイッチング薄膜トランジスタ4のゲート電極は、ゲート配線1と連結されていて、ソース電極はデータ配線2と連結されている。スイッチング薄膜トランジスタ4のドレイン電極はドライビング薄膜トランジスタ5のゲート電極と連結されていて、ドライビング薄膜トランジスタ5のドレイン電極は発光ダイオード7のアノード電極と連結されている。ドライビング薄膜トランジスタ5のソース電極はパワーライン3と連結されていて、発光ダイオード7のカソード電極は接地されている。次に、ストレージキャパシタ6がドライビング薄膜トランジスタ5のゲート電極及びソース電極と連結されている。
【0009】
したがって、ゲート配線1を通して信号が印加されればスイッチング薄膜トランジスタ4がオンされて、データ配線2の信号がドライビング薄膜トランジスタ5のゲート電極に伝えられて、ドライビング薄膜トランジスタ5がオンされるので、発光ダイオード7を通して光が出力される。このとき、ストレージキャパシタ6はスイッチング薄膜トランジスタ4がオフされたとき、ドライビング薄膜トランジスタ5のゲート電圧を一定に維持させる。
【0010】
このように薄膜トランジスタを利用したこれまでのアクティブ・マトリクス有機LEDの断面を図2に示した。この図2はドライビング薄膜トランジスタと発光ダイオード及びストレージキャパシタについての断面図である。
【0011】
図示したように、基板10上にバッファ層(buffer layer)11が形成されていて、その上にアイランド(island)形態を有する第1多結晶シリコン層12a、12b、12c及び第2多結晶シリコン層13aが形成されている。第1多結晶シリコン層12a、12b、12cは薄膜トランジスタのアクティブ層12aと不純物がドーピングされたドレイン領域12bとソース領域12cに分けられており、第2多結晶シリコン層13aはキャパシタ電極になる。
【0012】
次に、アクティブ層12a上部にはゲート絶縁膜14が形成されていて、その上にゲート電極15が形成されている。
【0013】
続いて、ゲート電極15上に第1層間絶縁膜16が形成されてゲート電極15とソース領域12c及びドレイン領域12bそしてキャパシタ電極13aを覆っており、キャパシタ電極13a上部の第1層間絶縁膜16上にはパワーライン17が形成されている。ここで、パワーライン17は配線の形態を有して一方向に長く延びている。
【0014】
次に、パワーライン17上部には第2層間絶縁膜18が形成されているが、この第2層間絶縁膜18は第1層間絶縁膜16と一緒にドレイン領域12bとソース領域12cの一部を各々あらわす第1コンタクトホール18a及び第2コンタクトホール18bを有し、またパワーライン17を一部あらわす第3コンタクトホール18cを有する。
【0015】
次に、第2層間絶縁膜18上部にはドレイン電極19aとソース電極19bが形成されている。ここで、ドレイン電極19aは第1コンタクトホール18aを通してドレイン領域12bと連結されていて、ソース電極19bは第2コンタクトホール18b及び第3コンタクトホール18cを通してソース領域12c及びパワーライン17と各々連結されている。
【0016】
続いて、ドレイン電極19aとソース電極19b上部には第1保護層20が形成されていて、第1保護層20はドレイン電極19aを一部あらわす第4コンタクトホール20aを有する。
【0017】
次に、第1保護層20上部には透明導電物質からなるアノード電極21が形成されていて、その上に第2保護層22が形成されている。第2保護層22はアノード電極21を一部あらわす凹部22aを有する。
【0018】
次に、第2保護層22の凹部22a上には、有機発光層23が形成されていて、その上に金属のような不透明導電物質からなるカソード電極24が形成されている。ここで、カソード電極24は基板全面に形成されている。
【0019】
図2のアクティブ・マトリクス有機LEDにおいてはアノード電極21が透明導電物質からなり、カソード電極24は不透明導電物質からなるので、有機発光層23における光はアノード電極23を通して下部に放出されるようになる。したがって、下部放出(bottom emission)型を構成する。
【0020】
このようなこれまでのアクティブ・マトリクス有機LEDの製造過程を図3Aないし図3Gに図示した。
【0021】
図3Aに示したように、透明な基板10上にバッファ層11を形成してその上に多結晶シリコンを形成した後、多結晶シリコンを第1マスクでパターニングしてアイランド状を有する半導体層12、13を形成する。
【0022】
次に、図3Bに示したように半導体層12、13上部にシリコン酸化膜のような絶縁膜を蒸着してその上に金属のような導電物質を蒸着した後、第2マスクを利用してパターニングすることによってゲート絶縁膜14及びゲート電極15を形成する。続いて、ゲート電極15をマスクとして半導体層(図3Aの12、13)に不純物を注入して、不純物が注入されないアクティブ層12aと不純物が注入されたドレイン領域12b及びソース領域12cそしてキャパシタ電極13aを形成する。ここで、ドレイン領域12bとソース領域12cはアクティブ層12aの両側に配置する。
【0023】
次に、図3Cに示したようにゲート電極15上に第1層間絶縁膜16を形成して、その上に金属のような導電物質を蒸着した後第3マスクでパターニングして、キャパシタ電極13a上部にパワーライン17を形成する。パワーライン17はキャパシタ電極13aとストレージキャパシタをなす。
【0024】
続いて、図3Dに示したようにパワーライン17上部に第2層間絶縁膜18を形成して、第4マスクを利用してパターニングすることによって第1コンタクトホールないし第3コンタクトホール18a、18b、18cを形成する。第1コンタクトホール18aはドレイン領域12bをあらわして、第2コンタクトホール18bはソース領域12cをあらわし、第3コンタクトホール18cはパワーライン17をあらわす。
【0025】
次に、図3Eに示したように第2層間絶縁膜18上部に金属のような導電物質を蒸着して第5マスクでパターニングして、ドレイン電極19aとソース電極19bを形成する。ドレイン電極19aは第1コンタクトホール18aを通してドレイン領域12bと連結されて、ソース電極19bは第2コンタクトホール18b及び第3コンタクトホール18cを通してソース領域12c及びパワーライン17と各々連結される。
【0026】
次に、図3Fに示したようにドレイン電極19aとソース電極19b上部に第1保護層20を形成して、これを第6マスクでパターニングしてドレイン電極19aをあらわす第4コンタクトホール20aを形成する。
【0027】
続いて、図3Gに示したように透明導電物質を蒸着して第7マスクを利用してパターニングすることによって、第4コンタクトホール20aを通してドレイン電極19aと連結されるアノード電極21を形成する。
【0028】
次に、図3Hに示したようにアノード電極21上部に第2保護層22を形成して第8マスクでパターニングして、アノード電極21をあらわす凹部22aを形成する。
【0029】
次に、図3Iに示したように第2保護層22の凹部22a上部に有機発光層23を成膜して、その上に金属のような不透明導電物質を蒸着してカソード電極24を形成する。
【0030】
このような方法でアクティブ・マトリクス有機LEDを製造できるが、このようなアクティブ・マトリクス有機LEDにおいてはパワーラインが配線形態を取るので、薄膜トランジスタの駆動時に熱が生じるとこれを発散させるのに問題がある。また、配線抵抗により電流駆動をすることにおいて画質の不均一が発生しうる。
【0031】
一方、アクティブ・マトリクス有機LEDは、薄膜を蒸着してマスクを利用して写真エッチングする工程を何度も繰り返すことによって形成されて、このとき用いるマスク数が工程数を示す。写真エッチング工程には洗浄、感光膜塗布、露光及び現像、エッチング等いろいろな工程を伴っているために、マスク数を一つのみ減らしても製造工程と時間及び費用などを大幅に減らすことができる。ところで、前述したアクティブ・マトリクス有機LEDの場合には8枚のマスクを利用して製造しなければならないので、製造工程が長いので不良発生要因が多くなって、これにより収率が低下して費用が増加する問題がある。
【0032】
また、アクティブ・マトリクス有機LEDにおいては一画素内に複数の薄膜トランジスタとストレージキャパシタを有し、ストレージキャパシタを不透明な物質で形成するので発光面積が減って開口率が低下する。これにより、輝度を向上させるためには電流密度が高まるので有機LEDの寿命が低下する。
【0033】
さらに、前記アクティブ層を形成するために、多結晶シリコンを基板の全面に対して形成してこれをパターニングする工程において、前記多結晶シリコン層を構成するグレーンとグレーン境界のエッチング選択比が異なるために、これをすべてエッチングしようとするならエッチング時間を伸ばしてオーバーエッチング(over etching)する工程を進めるようになる。
【0034】
ところが、前記オーバーエッチング工程でポリシリコン中既に除去された部分で露出された一部バッファ層の表面が削られる現象が起こるようになって、多結晶シリコンをすべて除去するようになれば結果的にバッファ層の表面に結晶状の形態が残される。
【0035】
このような場合には前記バッファ層に蒸着されるゲート絶縁膜と層間絶縁膜などを成膜する時にバッファ層の表面に残された形状がそのまま転写されて前記陽極電極に該当する層であるITO電極表面の粗さが悪くなる。
【0036】
これは有機発光層と陰極電極形成後、駆動時に前記粗さによって陽極と陰極間の均一なフィールドが形成されずに偏在させることとなり、寿命の低下を誘発する原因になる。また、表面の粗さによって整流比特性も良くなく、アクティブ駆動時にグレー(gray)再現によくない影響を与える。
【0037】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前記したこれまでの問題点を解決するために案出されたものであり、本発明の目的はパワーラインの劣化を防止し、均一な画質を示すアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法を提供することにある。
【0038】
本発明の他の目的は製造工程及び費用を減少させることができ、開口率を増やして寿命が長いアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法を提供することにある。
【0039】
本発明のさらに他の目的はゲート電極を形成した後、データ配線を形成する前に層間絶縁膜を有機絶縁層で形成して表面を平坦にすることにより、バッファ層の表面粗さにより発光層が影響を受けないようにして、発光層に形成されるフィールドが均一になるようにして有機発光層の寿命が長いアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法を提供することにある。
【0040】
【課題を解決するための手段】
前記した目的を達成するための本発明によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子は基板と、前記基板上部に形成されているグラウンド層、前記グラウンド層上部のバッファ層、前記バッファ層上部に形成されていて、中央に配置するアクティブ領域と前記アクティブ領域の両側に配置するドレイン領域及びソース領域からなる多結晶シリコン層、前記多結晶シリコン層を覆っているゲート絶縁膜、前記多結晶シリコン層のアクティブ領域上部のゲート絶縁膜上に形成されているゲート電極、前記ゲート絶縁膜上部に形成されている第1キャパシタ電極、前記ゲート電極及び第1キャパシタ電極を覆っている層間絶縁膜、前記層間絶縁膜上部に形成されていて、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜を貫通して形成された第1コンタクトホール及び第2コンタクトホールを通して前記ドレイン領域及びソース領域と各々接触するドレイン電極とソース電極、前記層間絶縁膜上部に形成されており、前記ドレイン電極と連結されているカソード電極、前記層間絶縁膜上部に形成されている第2キャパシタ電極、前記層間絶縁膜上部に形成されていて、前記ドレイン電極とソース電極、カソード電極及び第2キャパシタ電極を覆い、前記カソード電極をあらわす凹部を有する保護層、前記保護層上部と前記凹部内に形成されていて、前記凹部を通して前記カソード電極と接触する有機発光層、前記保護層の露出された部分と前記有機発光層上部に形成されているアノード電極を含む。
【0041】
ここで、前記ゲート電極は、前記第1キャパシタ電極と電気的に連結されており、前記ゲート電極と前記第1キャパシタ電極は同一物質で構成することができる。
【0042】
前記ソース電極は、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜及びバッファ層を貫通して前記グラウンド層の一部をあらわす第3コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結されていることもある。
【0043】
前記第2キャパシタ電極は、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜及びバッファ層を貫通して前記グラウンド層の一部をあらわす第3コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結されていることもある。
【0044】
前記アノード電極は、前記基板の全面に配置して電力配線の役割を有することができる。
【0045】
前記第1及び第2キャパシタ電極は、前記第1及び第2キャパシタ電極間に配置する前記層間絶縁膜と一緒にストレージキャパシタを形成する。
【0046】
前記多結晶シリコン層のドレイン領域とソース領域は、イオンドーピングされており、前記アクティブ領域は純粹シリコンで構成される。
【0047】
一方、前記グラウンド層は、前記多結晶シリコン層に対応する複数の開口部を有することが望ましい。
【0048】
前記グラウンド層は、不透明な導電物質で構成することができ、前記不透明な導電物質は金属であることが望ましい。
【0049】
また、前記カソード電極、ドレイン電極、ソース電極及び第2キャパシタ電極は、前記不透明な導電物質と同一な物質で構成することができ、前記不透明な導電物質は金属であることが好ましい。
【0050】
前記アノード電極は、インジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つである透明導電物質で構成することができる。
【0051】
本発明で、前記グラウンド層は、透明導電物質で構成することができ、前記透明導電物質はインジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つで構成することが望ましい。
【0052】
前記カソード電極は、透明導電物質で構成することができ、前記透明導電物質はインジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つで有り得る。
【0053】
前記アノード電極は、金属のような不透明導電物質で構成することもできる。
【0054】
一方、前記ドレイン電極とソース電極及び第2キャパシタ電極は、透明導電物質と不透明な導電物質の二重層で構成することができ、このとき前記透明導電物質はインジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなり、前記不透明導電物質は金属で有り得る。
【0055】
前記層間絶縁膜は、ベンゾシクロブテン(benzocyclobutene:BCB)のような有機物質で構成することが望ましい。
【0056】
前記ゲート電極は、前記アクティブ領域の真上に配置することが望ましい。
【0057】
本発明によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法は、基板上部にグラウンド層を形成する段階と、前記グラウンド層上部にバッファ層を形成する段階と、前記バッファ層上部に多結晶シリコン層を形成する段階と、前記多結晶シリコン層を覆うゲート絶縁膜を形成する段階と、前記ゲート絶縁膜上部に前記多結晶シリコン層上に配置するゲート電極と第1キャパシタ電極を形成する段階と、前記ゲート電極をマスクとして前記多結晶シリコン層にイオンを注入して中央に配置するアクティブ領域と前記アクティブ領域の両側に配置するドレイン領域及びソース領域を形成する段階と、前記ゲート電極及び第1キャパシタ電極を覆う層間絶縁膜を形成する段階と、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜を貫通して前記ドレイン領域とソース領域を各々あらわす第1コンタクトホール及び第2コンタクトホールと、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜及びバッファ層を貫通して前記グラウンド層の一部をあらわす第3コンタクトホール及び第4コンタクトホールを形成する段階と、前記層間絶縁膜上部に前記第1コンタクトホール及び第2コンタクトホールを通して前記ドレイン領域及びソース領域と各々連結されるドレイン電極とソース電極を形成する段階と、前記層間絶縁膜上部に前記ドレイン電極と連結されるカソード電極を形成する段階と、前記層間絶縁膜上部に第2キャパシタ電極を形成する段階と、前記ドレイン電極とソース電極、カソード電極及び第2キャパシタ電極を覆って前記カソード電極をあらわす凹部を有する保護層を形成する段階と、前記保護層上部と前記凹部内に配置して前記凹部を通して前記カソード電極と接触する有機発光層を形成する段階と、そして前記有機発光層上部にアノード電極を形成する段階とを含む。
【0058】
前記ゲート電極は、前記第1キャパシタ電極に電気的に連結することができ、前記ゲート電極と第1キャパシタ電極は同一物質で構成することが望ましい。
【0059】
前記ソース電極は、前記第3コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結することができ、前記第2キャパシタ電極は前記第4コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結することもできる。
【0060】
前記アノード電極は、前記基板全面に配置し、電力配線の役割を有する。
前記第1キャパシタ電極及び第2キャパシタ電極は、前記第1キャパシタ電極及び第2キャパシタ電極間に配置する前記層間絶縁膜と一緒にストレージキャパシタを形成する。
【0061】
前記多結晶シリコン層のドレイン領域とソース領域は、イオンドーピングされており、前記アクティブ領域は純粹シリコンで構成することができる。
【0062】
前記グラウンド層は、前記多結晶シリコン層に対応する複数の開口部を有することが望ましい。
【0063】
前記グラウンド層は、金属のような不透明な導電物質で構成することができる。
【0064】
前記ドレイン電極とソース電極を形成する段階と、前記カソード電極を形成する段階及び前記第2キャパシタ電極を形成する段階は同一の不透明導電物質を利用して同一マスク工程で形成することが望ましい。前記不透明導電物質は金属で有り得る。
【0065】
前記アノード電極は、インジウム−スズ−オキサイドやインジウム−酸化亜鉛のような透明導電物質で構成することができる。
【0066】
また前記グラウンド層は、インジウム−スズ−オキサイドやインジウム−酸化亜鉛のような透明導電物質で構成することができる。
【0067】
前記ドレイン電極とソース電極を形成する段階と、前記カソード電極を形成する段階及び前記第2キャパシタ電極を形成する段階は、不透明導電物質を利用し、同一のマスクを利用して同時に遂行されることが望ましい。このとき、前記マスクは前記カソード電極に対応する位置にスリットを含むことができる。
【0068】
前記カソード電極は、インジウム−スズ−オキサイドやインジウム−酸化亜鉛のような透明導電物質からなる単一層で有り得る。
【0069】
前記ドレイン電極とソース電極及び第2キャパシタ電極は、透明導電物質と不透明な導電物質の二重層で構成することができ、前記透明導電物質はインジウム−スズ−オキサイドやインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなり、前記不透明導電物質は金属で構成することができる。
【0070】
前記アノード電極は、金属のような不透明な導電物質で構成することができる。
【0071】
前記層間絶縁膜は、ベンゾシクロブテンのような有機物質で構成することができる。
【0072】
前記ゲート電極は、前記多結晶シリコンの真上に配置することが望ましい。
【0073】
このように、本発明においてはグラウンド層とパワーラインを基板全面に形成して、駆動時発散される熱を極小化することにより劣化を防止できて、抵抗を減少させて画質の不均一を防止できる。また、本発明によるアクティブ・マトリクス有機LEDにおいてはカソード電極をソース電極及びドレイン電極と同一工程で形成することによって、製造工程及び費用を減らして不良発生要因を減少させて製造収率を増やすことができる。
【0074】
一方、本発明は上部発光方式及び下部発光方式すべてに適用することができ、上部発光方式を利用する場合には開口率が増加するので有機LEDの寿命を増やすことができる。
【0075】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面を参照しながら本発明の実施例によるアクティブ・マトリクス有機LED及びその製造方法について詳細に説明する。
【0076】
まず、図4は、本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機LEDの断面図である。図示したように、絶縁基板110上に金属のような導電物質からなるグラウンド層120が形成されていて、その上にバッファ層130が形成されている。バッファ層130上部にはアイランド形状を有する多結晶シリコン層131、132、133が形成されていて、この多結晶シリコン層131、132、133は薄膜トランジスタのアクティブ層131と不純物がドーピングされたドレイン領域132及びソース領域133に分けられる。ここで、グラウンド層120は基板110全面に形成されており、バッファ層130は基板110からの不純物がアクティブ層131とドレイン領域132及びソース領域133に流入することを防止するためのものであってシリコン酸化膜のような物質で構成することができる。
【0077】
続いて、多結晶シリコン層131、132、133上部にはゲート絶縁膜140が形成されていて、アクティブ層131上部のゲート絶縁膜140上にはゲート電極151が形成されている。また、ゲート絶縁膜140上部にはゲート電極151と同一な物質で構成された第1キャパシタ電極152がさらに形成されている。
【0078】
次に、ゲート電極151及び第1キャパシタ電極152上には層間絶縁膜160が形成されてこれらを覆っており、層間絶縁膜160は第1コンタクトホールないし第4コンタクトホール161、162、163、164を有する。第1コンタクトホール161及び第2コンタクトホール162はゲート絶縁膜140にまで延びて各々ドレイン領域132とソース領域133をあらわしており、第3コンタクトホール163及び第4コンタクトホール164はゲート絶縁膜140及びバッファ層130まで延びてグラウンド層120をあらわす。
【0079】
次に、層間絶縁膜160上部に金属のような不透明導電物質でカソード電極171とドレイン電極172及びソース電極173そして第2キャパシタ電極174が形成されている。カソード電極171とドレイン電極172は連結されており、ドレイン電極172は第1コンタクトホール161を通してドレイン領域132と連結されている。また、ソース電極173は第2コンタクトホール162及び第3コンタクトホール163を通してソース領域133及びグラウンド層120と連結されていて、第2キャパシタ電極174は第4コンタクトホール164を通してグラウンド層120と連結されている。ここで、図示していないが第1キャパシタ電極152はゲート電極151と電気的に連結されており、第1キャパシタ電極152及び第2キャパシタ電極174はストレージキャパシタをなす。一方、カソード電極171はゲート電極151上部にまで形成されていることもある。
【0080】
次に、カソード電極171とドレイン電極172及びソース電極173そして第2キャパシタ電極174上部には保護層180が形成されていて、保護層180はカソード電極171をあらわす凹部181を有する。
【0081】
続いて、保護層180の凹部181上部には有機発光層190が形成されており、その上にインジウム−スズ−オキサイド(以下「ITO」と称する)やインジウム−酸化亜鉛(以下「IZO」と称する)のような透明導電物質からなるアノード電極200が基板全面に形成されている。ここで、アノード電極200はパワーラインの役割も有する。
【0082】
このような本発明のアクティブ・マトリクス有機LEDに対する等価回路を図5に示した。図示したように、ゲート配線212とデータ配線211が交差して、ゲート配線212及びデータ配線211の交差部分にはスイッチング薄膜トランジスタ214がこれらと連結されている。スイッチング薄膜トランジスタ214のドレイン電極はドライビング薄膜トランジスタ215のゲート電極と連結されていて、ドライビング薄膜トランジスタ215のドレイン電極は発光ダイオード217のカソード電極と連結されている。ドライビング薄膜トランジスタ215のソース電極は接地されていて、発光ダイオード217のアノード電極はパワーライン213と連結されている。次に、ドライビング薄膜トランジスタ215のゲート電圧を一定に維持させるためのストレージキャパシタ216がドライビング薄膜トランジスタ215のゲート電極及びソース電極と連結されている。
【0083】
このような本発明によるアクティブ・マトリクス有機LEDでドライビング薄膜トランジスタ215はn型薄膜トランジスタであることが望ましく、スイッチング薄膜トランジスタ214はn型薄膜トランジスタで構成することもでき、またはp型薄膜トランジスタで構成することもできる。
【0084】
前述したように、本発明の第1実施例においてはグラウンド層とパワーライン層が基板全面に形成されていて、これに対する平面図を図6に示した。ここで、薄膜トランジスタとストレージキャパシタのような素子は省略した。図示したように基板220上部にグラウンド層221とパワーライン層222が形成されていて、グラウンド層221とパワーライン層222は各々一側をあらわすように基板220全面に形成されている。グラウンド層221とパワーライン層222が重なる部分は画像が表現される領域であって、複数の薄膜トランジスタとストレージキャパシタ及び発光ダイオードが形成されている。本発明でパワーライン層222は発光ダイオードのアノード電極の役割も有する。
【0085】
このように、本発明の第1実施例においてはグラウンド層とパワーラインが基板全面に形成されているので、駆動時に発散される熱を極小化して劣化を防止できて、抵抗を減少させて画質の不均一を防止できる。
【0086】
また、本発明の第1実施例においては下部のカソード電極を不透明導電物質で形成して、上部のアノード電極を透明導電物質で形成して、上部発光(top emission)方式を利用するので開口率が増加する。したがって、駆動時の電流の密度を大きくしなくても輝度を高めることができるので有機LEDの寿命を増すことができる。
【0087】
このような本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機LEDの製造方法について図7Aないし図7Gに示した。
【0088】
図7Aに示したように、絶縁基板110上に金属のような導電物質を蒸着して第1マスクでパターニングしてグラウンド層120を形成する。このとき、グラウンド層120は前記図6に示したように広い面積を有して画像表示領域の全部にかけて形成されている。続いて、グラウンド層120上部にシリコン酸化膜のような物質でバッファ層130を形成した後、その上に多結晶シリコンを形成して第2マスクでパターニングして半導体層135を形成する。ここで、多結晶シリコンの形成はいろいろな方法で行うことができるが、非晶質シリコン層を蒸着してこれを熱処理をしたりまたは非晶質シリコン層にレーザービームを照射する方法を利用して結晶化することができる。また、基板110はガラスのような透明基板を利用することもでき、不透明な基板を利用することもできる。
【0089】
次に、図7Bに示したように半導体層(図7Aの135)上部にゲート絶縁膜140を蒸着した後、その上に金属のような物質を蒸着して第3マスクを利用してパターニングすることによってゲート電極151及び第1キャパシタ電極152を形成する。続いて、ゲート電極151をマスクで半導体層(図7Aの135)の両側に不純物を注入することによって、アクティブ層131とそのアクティブ層131両側のドレイン領域132及びソース領域133を形成する。このとき、ゲート絶縁膜130はシリコン酸化膜で構成することができ、またはシリコン窒化膜で構成することもできる。また、図示していないが第1キャパシタ電極152はゲート電極151と電気的に連結される。
【0090】
次に、図7Cに示したようにゲート電極151及び第1キャパシタ電極152上部にシリコン酸化膜のような無機絶縁物質またはベンゾシクロブテンのような有機絶縁物質を蒸着して層間絶縁膜160を形成して、これをゲート絶縁膜140及びバッファ層130と一緒に第4マスクでパターニングして第1コンタクトホールないし第4コンタクトホール161、162、163、164を形成する。
【0091】
このとき、前記層間絶縁膜160は、望ましくは有機絶縁物質を塗布して表面を平坦化する機能をするようにする。
【0092】
なぜなら、前にこれまでの技術で説明したように、多結晶シリコンをパターニングする工程でバッファ層の表面が荒くなる場合が発生するためである。
【0093】
再び説明すれば、多結晶シリコンを基板の全面に対して形成してこれをパターニングする工程において、基板に形成された多結晶シリコン層を構成するグレーンとグレーン境界のエッチング選択比が異なるためにこれをすべてエッチングしようとするならエッチング時間を伸ばしてオーバーエッチングする工程を進めるようになる。
【0094】
ところで、前記オーバーエッチング工程で多結晶シリコン層中既に除去された部分で露出された一部バッファ層の表面が削られる現象が起こるようになって、多結晶シリコン層をすべて除去するようになれば結果的にバッファ層の表面に結晶状の形態が残されるようになる。
【0095】
したがって、前記バッファ層表面の粗さが以後形成される発光層に影響を及ぼさないように(絶縁膜の粗さにより転写された透明電極の粗さにより発光層にあらわれる影響)前記層間絶縁膜を有機絶縁層として形成して表面を平坦化する工程が必要である。
【0096】
次に、図7Dに示したように層間絶縁膜160上部に金属のような導電物質を蒸着して第5マスクでパターニングして、カソード電極171とドレイン電極172及びソース電極173そして第2キャパシタ電極174を形成する。このとき、カソード電極171はドレイン電極172と連結され、ドレイン電極172は第1コンタクトホール161を通してドレイン領域132と連結されて、ソース電極173は第2コンタクトホール162及び第3コンタクトホール163を通してソース領域133及びグラウンド層120と連結される。また、第2キャパシタ電極174は第4コンタクトホール164を通してグラウンド層120と連結され、第1キャパシタ電極152と一緒にストレージキャパシタをなす。
【0097】
続いて、図7Eに示したようにカソード電極171とドレイン電極172及びソース電極173そして第2キャパシタ電極174上部にシリコン酸化膜のような物質を蒸着して保護層180を形成して、これを第6マスクでパターニングすることによってカソード電極171をあらわす凹部181を形成する。
【0098】
続いて、図7Fに示したように凹部181上部に有機発光層190を成膜して、その上にITOやIZOのような透明導電物質を蒸着してアノード電極200を形成する。このとき、有機発光層190はインクジェット方法やシャドウマスク(shadow mask)を利用して形成し、アノード電極200はシャドウマスクを利用して形成するので別途のマスクを利用した写真エッチング工程が要らなくなる。
【0099】
このように、本発明の第1実施例においては6枚のマスクでアクティブ・マトリクス有機LEDを製造できるので、製造工程及び費用を減らして不良発生要因を減少させて製造収率を増やすことができる。
【0100】
本発明の第1実施例においては上部発光方式を利用した場合に対して説明したが、これを下部発光方式にも適用することができる。
【0101】
このような本発明の第2実施例によるアクティブ・マトリクス有機LEDについて図8に示した。
【0102】
図8に示したように、絶縁基板310上にITOやIZOのような透明導電物質からなるグラウンド層320が形成されていて、その上にバッファ層330が形成されている。バッファ層330上部にはアイランド形状を有する多結晶シリコン層331、332、333が形成されているが、この多結晶シリコン層331、332、333は薄膜トランジスタのアクティブ層331と不純物がドーピングされたドレイン領域332及びソース領域333に分けられる。ここで、グラウンド層320は基板310全面に形成されており、絶縁基板310はガラスのように透明な基板で構成することが望ましい。
【0103】
続いて、多結晶シリコン層331、332、333上部にはゲート絶縁膜340が形成されていて、このゲート絶縁膜340上にはゲート電極351と第1キャパシタ電極352が形成されていて、第1キャパシタ電極352はゲート電極351と電気的に連結されている。
【0104】
次に、ゲート電極351及び第1キャパシタ電極352上には層間絶縁膜360が形成されてこれらを覆っている。
【0105】
このとき、前記層間絶縁膜360を有機絶縁層で形成して表面を平坦化するようにする。
【0106】
前記層間絶縁膜360は、第1コンタクトホールないし第4コンタクトホール361、362、363、364を有し、第1コンタクトホール361及び第2コンタクトホール362はゲート絶縁膜340にまで延びて各々ドレイン領域332とソース領域333をあらわして、第3コンタクトホール363及び第4コンタクトホール364はゲート絶縁膜340及びバッファ層330まで延びてグラウンド層320をあらわす。
【0107】
次に、層間絶縁膜360上部にカソード電極371とドレイン電極372a、372b及びソース電極373a、373bそして第2キャパシタ電極374a、374bが形成されている。ここで、カソード電極371はITOやIZOのような透明導電物質からなりドレイン電極372a、372bと連結されている。ドレイン電極372a、372bとソース電極373a、373b及び第2キャパシタ電極374a、374bは下部の透明導電物質と上部の金属物質の二重層で構成することができる。このとき、ドレイン電極372a、372bは第1コンタクトホール361を通してドレイン領域332と連結されていて、ソース電極373a、373bは第2コンタクトホール362及び第3コンタクトホール363を通してソース領域333及びグラウンド層320と連結されていて、第2キャパシタ電極374a、374bは第4コンタクトホール364を通してグラウンド層320と連結されている。第2キャパシタ電極374a、374bは第1キャパシタ電極352と一緒にストレージキャパシタをなす。
【0108】
次に、カソード電極371とドレイン電極372a、372b及びソース電極373a、373bそして第2キャパシタ電極374a、374b上部には保護層380が形成されていて、保護層380はカソード電極371をあらわす凹部381を有する。
【0109】
続いて、保護層380の凹部381上部には有機発光層390が形成されており、その上に金属のような不透明導電物質からなるアノード電極400が基板全面に形成されている。ここで、アノード電極400はパワーラインの役割も有する。
【0110】
このように、本発明の第2実施例においてはグラウンド層とパワーラインを基板全面に形成して、劣化を防止して画質を均一にすることにおいて、カソード電極とグラウンド層を透明導電物質で形成してアノード電極を不透明導電物質で形成して、下部発光方式を利用することができる。
【0111】
このような本発明の第2実施例によるアクティブ・マトリクス有機LEDは、前記第1実施例と同一方法で製造できる。このとき、第1実施例のように6枚のマスクを利用して形成するためには、カソード電極とソース電極及びドレイン電極そして第2キャパシタ電極形成時に透明導電物質と不透明導電物質を順に蒸着して感光膜を塗布した後に、カソード電極が形成される部分にスリットのような微細なパターンが形成されているマスクを利用して露光してパターニングする。
【0112】
一方、前述したようにアクティブ層とソース領域及びドレイン領域は、非晶質シリコンを蒸着してこれを熱処理したりレーザービームを照射して結晶化することによって形成される。ところで、本発明のようにグラウンド層を基板全面に形成して、その上に非晶質シリコンを形成した後これを結晶化する場合、非晶質シリコンを結晶化するのに必要な熱が熱伝導度が高いグラウンド層により分散放出されるので、結晶化するのに掛かる時間が長くなり結晶化がきちんと行われない。このとき結晶化された薄膜の写真を図9に示したが、図示したように結晶粒の大きさが小さい薄膜が得られるようになって素子特性が低下する問題がある。
【0113】
特にレーザービームを利用する場合結晶状態はさらに悪くなるが、これはレーザービームを利用した結晶化方法は光によるエネルギーを利用するものであるが、光によるエネルギーはグラウンド層によりさらに容易に分散されるためである。
【0114】
したがって、このような問題を解決するために本発明の他の実施例においては薄膜トランジスタ、特にアクティブ層とソース領域及びドレイン領域が形成される部分のグラウンド層を除去する。これによるグラウンド層に対する平面図を図10に示したが、図示したように本発明の他の実施例によるグラウンド層421は内部に複数個の開口部421aを有する。前記したようにこの開口部421aは薄膜トランジスタが形成される位置に対応する。
【0115】
図10のグラウンド層を利用して形成された多結晶シリコン層の写真を図11に示したが、図示したように結晶粒の大きさが大きい多結晶シリコン層が形成されることが分かる。
【0116】
本発明は前記した実施例に限らず、本発明の精神を外れない以上多様な変化と変形が可能である。
【0117】
【発明の効果】
本発明においてはグラウンド層とパワーラインを基板全面に形成して、駆動時に発散される熱を極小化することにより劣化を防止できて、抵抗を減少させて画質の不均一を防止できる。
【0118】
また、本発明によるアクティブ・マトリクス有機LEDにおいてはカソード電極をソース電極及びドレイン電極と同一工程で形成することによって、製造工程及び費用を減らして不良発生要因を減少させて製造収率を増やすことができる。
【0119】
また、本発明はゲート配線とデータ配線間に介在する層間絶縁膜を有機絶縁層で形成するので、これを通した表面平坦化効果により発光層の電界形成が均一されるようにして、均一な整流比特性によるグレーン再現特性を改善することができて、同時に、発光層の寿命を延ばすことができる。
一方、本発明は上部発光方式及び下部発光方式すべてに適用することができ、上部発光方式を利用する場合には開口率が増加するので有機LEDの寿命を増やすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の一画素についての回路図。
【図2】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の断面図。
【図3A】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3B】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3C】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3D】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3E】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3F】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3G】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3H】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図3I】関連技術におけるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図4】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の断面図。
【図5】本発明によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の一画素についての回路図。
【図6】本発明によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子について簡略に示した平面図。
【図7A】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図7B】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図7C】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図7D】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図7E】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図7F】本発明の第1実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造過程を示した工程品の断面図。
【図8】本発明の第2実施例によるアクティブ・マトリクス有機電界発光素子についての断面図。
【図9】本発明の実施例によるグラウンド層を利用した多結晶シリコン層の写真。
【図10】本発明の他の実施例によるグラウンド層の平面図。
【図11】本発明の他の実施例によるグラウンド層を利用した多結晶シリコン層の写真。
【符号の説明】
110:基板
120:グラウンド層
130:バッファ層
131:アクティブ層
132:ドレイン領域
133:ソース領域
140:ゲート絶縁膜
151:ゲート電極
152:第1キャパシタ電極
160:層間絶縁膜
161、162、163、164:コンタクトホール
171:カソード電極
172:ドレイン電極
173:ソース電極
174:第2キャパシタ電極
180:保護層
181:凹部
190:有機発光層
200:アノード電極

Claims (54)

  1. 基板と;
    前記基板上部に形成されているグラウンド層と;
    前記グラウンド層上部のバッファ層と;
    前記バッファ層上部に形成されていて、中央に位置するアクティブ領域と前記アクティブ領域の両側に位置するドレイン領域及びソース領域からなる多結晶シリコン層と;
    前記多結晶シリコン層を覆っているゲート絶縁膜と;
    前記多結晶シリコン層のアクティブ領域上部のゲート絶縁膜上に形成されているゲート電極と;
    前記ゲート絶縁膜上部に形成されている第1キャパシタ電極と;
    前記ゲート電極及び第1キャパシタ電極を覆っている層間絶縁膜と;
    前記層間絶縁膜上部に形成されて、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜を貫通して形成された第1コンタクトホール及び第2コンタクトホールを通して前記ドレイン領域及びソース領域と各々接触するドレイン電極及びソース電極と;
    前記層間絶縁膜上部に形成されており、前記ドレイン電極と連結されているカソード電極と;
    前記層間絶縁膜上部に形成されている第2キャパシタ電極と;
    前記層間絶縁膜上部に形成されて前記ドレイン電極とソース電極、カソード電極及び第2キャパシタ電極を覆い、前記カソード電極をあらわす凹部を有する保護層と;
    前記保護層上部と前記凹部内に形成されていて、前記凹部を通して前記カソード電極と接触する有機発光層と;
    前記保護層の露出された部分と前記有機発光層上部に形成されているアノード電極とを含むことを特徴とするアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  2. 前記ゲート電極は、前記第1キャパシタ電極と電気的に連結されていることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  3. 前記ゲート電極と前記第1キャパシタ電極は、同一物質からなることを特徴とする請求項2に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  4. 前記ソース電極は、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜及びバッファ層を貫通して前記グラウンド層の一部をあらわす第3コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結されていることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  5. 前記第2キャパシタ電極は、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜及びバッファ層を貫通して前記グラウンド層の一部をあらわす第3コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結されていることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  6. 前記アノード電極は、前記基板の全面に配置して電力配線の役割を有することを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  7. 前記第1キャパシタ電極及び第2キャパシタ電極は、前記第1キャパシタ電極及び第2キャパシタ電極間に配置する前記層間絶縁膜と一緒にストレージキャパシタを形成することを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  8. 前記多結晶シリコン層のドレイン領域とソース領域は、イオンドーピングされており、前記アクティブ領域は純粹シリコンからなることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  9. 前記グラウンド層は、前記多結晶シリコン層に対応する複数の開口部を有することを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  10. 前記グラウンド層は、不透明な導電物質からなることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  11. 前記不透明な導電物質は、金属であることを特徴とする請求項10に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  12. 前記カソード電極、ドレイン電極、ソース電極及び第2キャパシタ電極は、前記不透明な導電物質と同一の物質からなることを特徴とする請求項10に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  13. 前記不透明な導電物質は、金属であることを特徴とする請求項12に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  14. 前記アノード電極は、透明導電物質からなることを特徴とする請求項10に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  15. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなることを特徴とする請求項14に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  16. 前記グラウンド層は、透明導電物質からなることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  17. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなることを特徴とする請求項16に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  18. 前記カソード電極は、透明導電物質からなることを特徴とする請求項16に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  19. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなることを特徴とする請求項18に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  20. 前記アノード電極は、不透明導電物質からなることを特徴とする請求項16に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  21. 前記不透明導電物質は、金属であることを特徴とする請求項20に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  22. 前記ドレイン電極とソース電極及び第2キャパシタ電極は、透明導電物質と不透明な導電物質の二重層からなることを特徴とする請求項16に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  23. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなり、前記不透明導電物質は金属であることを特徴とする請求項22に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  24. 前記層間絶縁膜は、有機物質からなることを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  25. 前記層間絶縁膜は、ベンゾシクロブテン(BCB)からなることを特徴とする請求項24に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  26. 前記ゲート電極は、前記アクティブ領域の真上に配置することを特徴とする請求項1に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子。
  27. 基板上部にグラウンド層を形成する段階と;
    前記グラウンド層上部にバッファ層を形成する段階と;
    前記バッファ層上部に多結晶シリコン層を形成する段階と;
    前記多結晶シリコン層を覆うゲート絶縁膜を形成する段階と;
    前記ゲート絶縁膜上部に前記多結晶シリコン層上に配置するゲート電極と第1キャパシタ電極を形成する段階と;
    前記ゲート電極をマスクとして前記多結晶シリコン層にイオンを注入して中央に位置するアクティブ領域と前記アクティブ領域の両側に位置するドレイン領域及びソース領域を形成する段階と;
    前記ゲート電極及び第1キャパシタ電極を覆う層間絶縁膜を形成する段階と;
    前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜を貫通して前記ドレイン領域とソース領域を各々あらわす第1コンタクトホール及び第2コンタクトホールと、前記層間絶縁膜とゲート絶縁膜及びバッファ層を貫通して前記グラウンド層の一部をあらわす第3コンタクトホール及び第4コンタクトホールを形成する段階と;
    前記層間絶縁膜上部に前記第1コンタクトホール及び第2コンタクトホールを通して前記ドレイン領域及びソース領域と各々連結されるドレイン電極とソース電極を形成する段階と;
    前記層間絶縁膜上部に前記ドレイン電極と連結されるカソード電極を形成する段階と;
    前記層間絶縁膜上部に第2キャパシタ電極を形成する段階と;
    前記ドレイン電極とソース電極、カソード電極及び第2キャパシタ電極を覆って前記カソード電極をあらわす凹部を有する保護層を形成する段階と;
    前記保護層上部と前記凹部内に配置して前記凹部を通して前記カソード電極と接触する有機発光層を形成する段階と;
    前記有機発光層上部にアノード電極を形成する段階とを含むことを特徴とするアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  28. 前記ゲート電極は、前記第1キャパシタ電極に電気的に連結されることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  29. 前記ゲート電極と第1キャパシタ電極は、同一物質からなることを特徴とする請求項28に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  30. 前記ソース電極は、前記第3コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結されることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  31. 前記第2キャパシタ電極は、前記第4コンタクトホールを通して前記グラウンド層と連結されることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  32. 前記アノード電極は、前記基板全面に配置し、電力配線の役割を有することを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  33. 前記第1キャパシタ電極及び第2キャパシタ電極は、前記第1キャパシタ電極及び第2キャパシタ電極間に配置する前記層間絶縁膜と一緒にストレージキャパシタを形成することを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  34. 前記多結晶シリコン層のドレイン領域とソース領域は、イオンドーピングされており、前記アクティブ領域は純粹シリコンからなることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  35. 前記グラウンド層は、前記多結晶シリコン層に対応する複数の開口部を有することを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  36. 前記グラウンド層は、不透明な導電物質からなることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  37. 前記不透明な導電物質は、金属であることを特徴とする請求項36に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  38. 前記ドレイン電極とソース電極を形成する段階と、前記カソード電極を形成する段階及び前記第2キャパシタ電極を形成する段階は、同一な不透明導電物質を利用して同一マスク工程で遂行されることを特徴とする請求項36に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  39. 前記不透明導電物質は、金属であることを特徴とする請求項38に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  40. 前記アノード電極は、透明導電物質からなることを特徴とする請求項36に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  41. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドと、インジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなることを特徴とする請求項40に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  42. 前記グラウンド層は、透明導電物質からなることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  43. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドと、インジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなることを特徴とする請求項42に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  44. 前記ドレイン電極とソース電極を形成する段階と、前記カソード電極を形成する段階及び前記第2キャパシタ電極を形成する段階は不透明導電物質を利用し、同一なマスクを利用して同時に遂行されることを特徴とする請求項42に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  45. 前記マスクは、前記カソード電極に対応する位置にスリットを含むことを特徴とする請求項44に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  46. 前記カソード電極は、透明導電物質の単一層からなることを特徴とする請求項45に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  47. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドと、インジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなることを特徴とする請求項46に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  48. 前記ドレイン電極とソース電極及び第2キャパシタ電極は、透明導電物質と不透明な導電物質の二重層からなることを特徴とする請求項45に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  49. 前記透明導電物質は、インジウム−スズ−オキサイドと、インジウム−酸化亜鉛中のいずれか一つからなり、前記不透明導電物質は金属からなることを特徴とする請求項48に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  50. 前記アノード電極は、不透明な導電物質からなることを特徴とする請求項42に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  51. 前記不透明導電物質は、金属であることを特徴とする請求項50に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  52. 前記層間絶縁膜は、有機物質からなることを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  53. 前記層間絶縁膜は、ベンゾシクロブテンからなることを特徴とする請求項52に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
  54. 前記ゲート電極は、前記多結晶シリコンの真上に配置することを特徴とする請求項27に記載のアクティブ・マトリクス有機電界発光素子の製造方法。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005215354A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Seiko Epson Corp 有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器
JP2005340802A (ja) * 2004-04-28 2005-12-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び表示装置の作製方法
KR100802344B1 (ko) * 2000-03-27 2008-02-13 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 전기광학 장치
JP2009533874A (ja) * 2006-04-13 2009-09-17 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド 二層パッシベーションを有するトランジスタ及び方法
US7652291B2 (en) 2005-05-28 2010-01-26 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Flat panel display
WO2010013639A1 (ja) * 2008-07-30 2010-02-04 住友化学株式会社 表示装置および表示装置の製造方法
JP2010183051A (ja) * 2009-02-09 2010-08-19 Samsung Mobile Display Co Ltd 有機発光表示装置及びその製造方法
JP2012129197A (ja) * 2010-12-14 2012-07-05 Samsung Mobile Display Co Ltd 有機発光ディスプレイ装置及びその製造方法
JP2015505639A (ja) * 2012-02-03 2015-02-23 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Oled素子及びその製造
JP2015135438A (ja) * 2014-01-17 2015-07-27 株式会社ジャパンディスプレイ 発光素子表示装置
JP2015154072A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 エバーディスプレイ オプトロニクス(シャンハイ) リミテッド 薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法
KR20160007905A (ko) * 2014-07-10 2016-01-21 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
JP2019032441A (ja) * 2017-08-08 2019-02-28 株式会社Joled アクティブマトリクス表示装置
JP6603826B1 (ja) * 2018-03-28 2019-11-06 堺ディスプレイプロダクト株式会社 有機el表示装置及びその製造方法
JP2022001942A (ja) * 2005-07-04 2022-01-06 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI256269B (en) * 2004-03-05 2006-06-01 Toshiba Matsushita Display Tec Method of manufacturing display device
JP4549889B2 (ja) 2004-05-24 2010-09-22 三星モバイルディスプレイ株式會社 キャパシタ及びこれを利用する発光表示装置
KR100589375B1 (ko) * 2004-05-24 2006-06-14 삼성에스디아이 주식회사 커패시터 및 이를 이용하는 발광 표시 장치
KR100689316B1 (ko) * 2004-10-29 2007-03-08 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기전계발광다이오드소자 및 그 제조방법
US7948171B2 (en) * 2005-02-18 2011-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
KR100712295B1 (ko) 2005-06-22 2007-04-27 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 소자 및 그 제조 방법
KR100665943B1 (ko) * 2005-06-30 2007-01-09 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기전계 발광 디스플레이 장치 및 구동방법
JP4939045B2 (ja) * 2005-11-30 2012-05-23 セイコーエプソン株式会社 発光装置および電子機器
JP4661557B2 (ja) 2005-11-30 2011-03-30 セイコーエプソン株式会社 発光装置および電子機器
KR20070063300A (ko) * 2005-12-14 2007-06-19 삼성전자주식회사 유기 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
JP5250960B2 (ja) * 2006-01-24 2013-07-31 セイコーエプソン株式会社 発光装置および電子機器
KR102011614B1 (ko) 2009-07-10 2019-08-16 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 그 제조 방법
KR20130025717A (ko) 2011-09-02 2013-03-12 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법
KR101942515B1 (ko) * 2012-05-03 2019-01-28 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법
CN104022142B (zh) * 2014-06-12 2017-10-17 四川虹视显示技术有限公司 高开口率的顶发射amoled器件与制成方法
CN104022141A (zh) * 2014-06-12 2014-09-03 四川虹视显示技术有限公司 基于nmos晶体管的倒置顶发射amoled器件及生产方法
CN104393017B (zh) 2014-10-31 2017-12-15 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板的制作方法、阵列基板及显示装置
CN107871757B (zh) * 2016-09-23 2020-04-14 京东方科技集团股份有限公司 有机发光二极管阵列基板及其制备方法、显示装置
JP6222402B1 (ja) 2016-10-24 2017-11-01 三菱電機株式会社 化合物半導体デバイス
CN108231670B (zh) * 2016-12-15 2021-07-20 联华电子股份有限公司 半导体元件及其制作方法
CN107910347A (zh) * 2017-10-18 2018-04-13 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示器件及oled显示面板
CN108447885B (zh) * 2018-01-17 2021-03-09 上海天马微电子有限公司 有机发光显示面板和显示装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10161564A (ja) * 1996-11-28 1998-06-19 Casio Comput Co Ltd 表示装置
JP2000299469A (ja) * 1999-02-12 2000-10-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
WO2001063975A1 (fr) * 2000-02-25 2001-08-30 Seiko Epson Corporation Dispositif organique el et procede de fabrication
JP2001332383A (ja) * 2000-03-17 2001-11-30 Seiko Epson Corp 有機el表示体の製造方法、半導体素子の配置方法、半導体装置の製造方法
JP2002123192A (ja) * 2000-10-18 2002-04-26 Seiko Epson Corp 電気光学装置及びその製造方法
JP2002124678A (ja) * 2000-10-13 2002-04-26 Sony Corp 薄膜トランジスタの製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10161564A (ja) * 1996-11-28 1998-06-19 Casio Comput Co Ltd 表示装置
JP2000299469A (ja) * 1999-02-12 2000-10-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
WO2001063975A1 (fr) * 2000-02-25 2001-08-30 Seiko Epson Corporation Dispositif organique el et procede de fabrication
JP2001332383A (ja) * 2000-03-17 2001-11-30 Seiko Epson Corp 有機el表示体の製造方法、半導体素子の配置方法、半導体装置の製造方法
JP2002124678A (ja) * 2000-10-13 2002-04-26 Sony Corp 薄膜トランジスタの製造方法
JP2002123192A (ja) * 2000-10-18 2002-04-26 Seiko Epson Corp 電気光学装置及びその製造方法

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7592652B2 (en) 2000-03-27 2009-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device
US8541804B2 (en) 2000-03-27 2013-09-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device
KR100802344B1 (ko) * 2000-03-27 2008-02-13 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 전기광학 장치
US8237186B2 (en) 2000-03-27 2012-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device
JP4507611B2 (ja) * 2004-01-29 2010-07-21 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器
JP2005215354A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Seiko Epson Corp 有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器
JP2005340802A (ja) * 2004-04-28 2005-12-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び表示装置の作製方法
US7652291B2 (en) 2005-05-28 2010-01-26 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Flat panel display
US7847292B2 (en) 2005-05-28 2010-12-07 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Flat panel display
JP2022001942A (ja) * 2005-07-04 2022-01-06 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP7295313B2 (ja) 2005-07-04 2023-06-20 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP2022141697A (ja) * 2005-07-04 2022-09-29 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP2009533874A (ja) * 2006-04-13 2009-09-17 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド 二層パッシベーションを有するトランジスタ及び方法
US9029986B2 (en) 2006-04-13 2015-05-12 Freescale Semiconductor, Inc. Transistors with dual layer passivation
EP2312562A1 (en) * 2008-07-30 2011-04-20 Sumitomo Chemical Company, Limited Display device and display device manufacturing method
WO2010013639A1 (ja) * 2008-07-30 2010-02-04 住友化学株式会社 表示装置および表示装置の製造方法
EP2312562A4 (en) * 2008-07-30 2013-10-16 Sumitomo Chemical Co DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE
JP2010183051A (ja) * 2009-02-09 2010-08-19 Samsung Mobile Display Co Ltd 有機発光表示装置及びその製造方法
US8241933B2 (en) 2009-02-09 2012-08-14 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Organic light emitting diode display and method of manufacturing the same
JP2012129197A (ja) * 2010-12-14 2012-07-05 Samsung Mobile Display Co Ltd 有機発光ディスプレイ装置及びその製造方法
JP2015505639A (ja) * 2012-02-03 2015-02-23 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Oled素子及びその製造
JP2015135438A (ja) * 2014-01-17 2015-07-27 株式会社ジャパンディスプレイ 発光素子表示装置
JP2015154072A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 エバーディスプレイ オプトロニクス(シャンハイ) リミテッド 薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法
KR20160007905A (ko) * 2014-07-10 2016-01-21 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR102174998B1 (ko) * 2014-07-10 2020-11-06 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
JP2019032441A (ja) * 2017-08-08 2019-02-28 株式会社Joled アクティブマトリクス表示装置
JP6603826B1 (ja) * 2018-03-28 2019-11-06 堺ディスプレイプロダクト株式会社 有機el表示装置及びその製造方法
US11114517B2 (en) 2018-03-28 2021-09-07 Sakai Display Products Corporation Organic EL display apparatus and method of manufacturing organic EL display apparatus
US11758774B2 (en) 2018-03-28 2023-09-12 Sakai Display Products Corporation Organic EL display apparatus with suppressed color and/or luminance non-uniformity and method of manufacturing organic EL display apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
CN100470842C (zh) 2009-03-18
CN1457220A (zh) 2003-11-19
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