JP2003524198A - 近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法 - Google Patents

近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法

Info

Publication number
JP2003524198A
JP2003524198A JP2001553660A JP2001553660A JP2003524198A JP 2003524198 A JP2003524198 A JP 2003524198A JP 2001553660 A JP2001553660 A JP 2001553660A JP 2001553660 A JP2001553660 A JP 2001553660A JP 2003524198 A JP2003524198 A JP 2003524198A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
state
value
recognition means
flip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001553660A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003524198A5 (ja
JP4611597B2 (ja
Inventor
ライメ、ゲルト
Original Assignee
ライメ、ゲルト
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ライメ、ゲルト filed Critical ライメ、ゲルト
Publication of JP2003524198A publication Critical patent/JP2003524198A/ja
Publication of JP2003524198A5 publication Critical patent/JP2003524198A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4611597B2 publication Critical patent/JP4611597B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches
    • H03K17/9627Optical touch switches
    • H03K17/9631Optical touch switches using a light source as part of the switch
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/941Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated using an optical detector
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches
    • H03K17/9627Optical touch switches
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/04Systems determining the presence of a target
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating

Abstract

(57)【要約】 近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法。評価装置は、基信号から生成される第一信号の値(U(t))が、物体の接近に対し特徴的な第一閾値を上回るとき、その切換状態を変化させる第一認識手段(17)を有する。評価装置には、更に、基信号の値(U(t))が、物体の離隔に対し特徴的な第二閾値を上回るとき、その切換状態を第一状態から第二状態へ変化させる第二認識手段(34)が配設される。第一認識手段(17)及び第二認識手段(34)と接続する決定手段(32)は、該第一認識手段(17)がその切換状態を第一状態から第二状態へ変化させ、かつ該第二認識手段が該第一認識手段の切換状態の変化後所定の第一時間間隔(Δt)以内ではその切換状態を変化させないとき、その出力状態を変化させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【関連する出願】
本出願は、2000年1月18日に出願されたドイツ特許出願100 01 943.9を優先権
主張の基礎としている。当該基礎出願の開示内容は、本出願の対象としてここに
記載されているものとする。
【0002】
【発明の属する技術分野】
本発明は、近接センサの基信号の評価装置及び評価方法に関し、特に請求項1
又は11の上位概念部(前置部)に記載の形式のオプトエレクトロニック近接セ
ンサから生成される基信号の評価装置及び評価方法に関する。即ち、とりわけ物
体が近接センサに接近する際及び物体が近接センサから離隔する際、基信号の値
(U(t))が変化し、かつこの変化の方向(符号)と大きさが、該物体の運動
方向と速度及び/又は間隔に(それぞれ)特徴付けられる、オプトエレクトロニ
ック近接センサ等の近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法に
関する。
【0003】
【従来の技術及びその問題点】
殆ど全ての電気的又は電子的装置では、手動操作スイッチが使用される。この
スイッチは、殆ど全て機械的に構成され、2つの金属部分を接触ないし接触解除
することにより電気回路を閉じたり開いたりする。しかしながら、この機械的構
成には、とりわけ以下のような欠点がある。即ち、機械的スイッチは、機械的磨
耗を有し、従ってその寿命も限られたものとならざるを得ず、しかも基本的に水
感受性であるため、必要とあれば、大がかりでコストのかかるカプセル化が必須
となる。
【0004】 光学的スイッチも既に既知になってはいるが、これもこれまでのところでは大
がかりで、従って高価であり、作動安全性に関して必要な規格化(標準化)も未
だなされていない。しかしながら、光学的スイッチは、基本的には有利である。
というのは、光学的スイッチは、一般的に機械的可動部材なしで作動し、かつス
イッチ切換プロセスは、スイッチ面の単にタッチないし接触することにより、又
はセンサへ単に接近することにより作動可能であるからである。
【0005】 更に、技術上、所謂近接センサ又は更に雨量計センサ(Regensensor)も既知
であるが、これらセンサによって、ある面上への物体の運動、又はある面の接触
又は濡れ(湿り)を検出することができる。これに加えて、物体の運動方向及び
物体の運動速度に関する情報を含む信号を生成する装置も既知である。そのよう
な装置の1つとして、例えば国際出願国際公開WO95/01561の装置が既知である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、光学的スイッチを作動可能な、近接センサから生成される基
信号(Nutzsignal)の評価装置及び評価方法を提供することである。ここで、光
学的スイッチとは、例えば指等の所定の運動によって、所定のスイッチ切換プロ
セス(即ちとりわけ電気回路の開閉)を作動させるものをいうものとする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述の課題は、請求項1の特徴部に記載の特徴を有する装置、又は請求項11
の特徴部に記載の特徴を有する方法によって解決される。即ち、評価装置におい
て、基信号(Nutzsignal)の値又は該基信号から生成される第一信号の値が、物
体の接近に対し特徴的な第一閾値を上回るか又は下回るとき、その切換状態を第
一状態から第二状態へ変化させる第一認識手段;基信号の値又は該基信号から生
成される第二信号の値が、物体の離隔に対し特徴的な第二閾値を上回るか又は下
回るとき、その切換状態を第一状態から第二状態へ変化させる第二認識手段;及
び第一認識手段及び第二認識手段と接続すると共に、該第一認識手段の切換状態
が第一状態から第二状態へ変化し、かつ該第二認識手段は該第一認識手段の切換
状態の変化後所定の第一時間間隔以内ではその切換状態の変化がないとき、その
出力状態を第一状態から第二状態へ変化させる決定手段を有することを特徴とす
る。また、評価方法において、物体の接近を認識し、かつ基信号の値又は該基信
号から生成される第一信号の値が、該物体の接近に対し特徴的な第一閾値を上回
るか又は下回るとき、第一認識手段を切り換えるステップ;物体の離隔を認識し
、かつ基信号の値又は該基信号から生成される第二信号の値が、該物体の離隔に
対し特徴的な第二閾値を上回るか又は下回るとき、第二認識手段を切り換えるス
テップ;及び第一認識手段の切換状態が変化し、かつ第二認識手段は該第一認識
手段の切換状態の変化後所定の第一時間間隔以内はその切換状態の変化がないと
き、第一及び第二認識手段と接続する決定手段の出力状態を変化させるステップ
を有することを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
有利な実施形態は、請求項1又は11に従たる請求項の対象として記載されて
いる。
【0009】 本発明をより良く説明するために、まず簡単にWO95/01561に記載された装置な
いし構成について説明するが、その開示内容も本出願の対象としてここに記載さ
れたものとする。尤も、ここで強調すべきことは、本発明は、当該国際出願に記
載された装置ないし構成によって作動可能であるのみならず、運動する物体に関
する速度情報及び方向情報を含む基信号が生成される場合であれば常に作動可能
であるということである。この速度情報は、通常、1次元のものとして得られる
が、本発明の装置の作動ないし機能に対してはこれで十分である。尤も、多次元
の情報も利用ないし評価することができる。この場合、基信号は、アナログの電
圧信号から構成されるが、これは、必ずしも必然的であるという訳ではない。例
えばデジタル化された信号であっても良い。
【0010】 使用可能な近接センサの例 図7に、実質的にWO95/01561から既知の近接センサを示した。ガラスプレート
31の下方には、少なくとも2つの発光ダイオード1、3が配設され、その放射
光の少なくとも一部は、ガラスプレート31で反射され、かつフォトダイオード
(光電受光素子)2に入射する。フォトダイオードとして、相応に接続された発
光ダイオードを使用することも可能である。ガラスプレート又は他の表面は、少
なくとも所定の波長範囲の光に対し透過性であるものとする。発光ダイオード3
から放射された光は、この場合、検出光線としては使用されず、単に外部光補償
のために必要とされる。それゆえ、この発光ダイオードからの光をブロック(遮
光)して外部空間へ射出できないようにすることも可能でありかつ少なからぬ場
合目的に適うものである。2つの光線の内の一方をブロックするための部材11
6を図9に示した。更に、第一発光ダイオード1を、照射領域bを有する遠方照
射レーザダイオードとして、かつ第二発光ダイオード3を、照射領域aを有する
近距離照射発光ダイオードとして構成することも可能である。更に、2つの発光
ダイオードをハウジング104の隔壁113によって互いに隔離すること可能で
ある。これは、WO95/01561に記載された構成を修正したものだが、それは本発明
の使用目的にとって有用でありうる。
【0011】 ダイオード1からの光は、ガラスプレート31では一部しか反射されず、従っ
て他の部分は外部空間へ射出し、そこで再び物体(この場合指)によって反射さ
れるため、部分的に(内部空間へ戻って)フォトダイオード2へ入射することが
可能である。2つの発光ダイオードは、クロック発生回路13によって電圧が印
加され、2つのダイオードの内の一方の電圧信号が反転される。2つのダイオー
ドの発光出力が一定でかつ反射態様が正確に対称的である場合、ないし2つのダ
イオードの内の一方の発光強度が適正に制御される場合(下記参照)、フォトダ
イオード2の出力端には直流電圧信号が生成し、この信号は、直流電圧成分及び
低周波の交流成分を除去するためにハイパスフィルタ(高(帯)域通過フィルタ
)132へ伝送される。クロック発生回路13のクロック周波数未満に遮断周波
数を有するハイパスフィルタ132は、伝送されてきた信号を、それが直流電圧
信号である限り、“0”にセットする。この構成によって、外部光源からの影響
は排除される。
【0012】 そのようにフィルタリングされたこの信号は、増幅回路4へ、そして同期変調
回路5へ伝送される。同期変調回路5は、クロック発生回路13からのクロック
信号を受け取り、このクロック信号は、ハイパスフィルタ132及び増幅回路4
における信号処理時間に適合させるために遅延回路15によって遅延させられる
。同期変調回路5は、受光器2、ハイパスフィルタ132及び増幅回路4の信号
伝送路では共通の、光源1及び3からの信号を再び分割し2つに別れた伝送路へ
それぞれ分配する。同期変調回路5によって分割された信号部分は、ローパスフ
ィルタ(低(帯)域通過フィルタ)6及び7において干渉(妨害)スペクトル領
域について処理され、比較回路9へ伝送される。この場合、比較回路9は、単純
な演算増幅回路(オペアンプ)から構成される。ローパスフィルタ6及び7の各
出力端では、光発信器に相応する差異ないし微分値(Differenzwerte)が生成す
る。相応に調節された状態では、2つともその値はゼロである。この2つの信号
は、比較回路9に伝送される。この比較回路の出力端には、電圧値U(t)、即
ち基信号が生成する。この信号は、さらにローパスフィルタ10を介して信号中
央処理段(ユニット)ないし信号レベル調整段(Signalzentrierstufe)11へ
伝送される。
【0013】 信号中央処理段11の出力端は、発光ダイオード3のための信号電圧を制御す
る制御回路12と接続する。この構成によって、基信号は、発光ダイオード1か
ら発信される光の反射(状態)が変化するとき変化するが、常に再びゼロ値に復
帰することが実現される。この復帰のための時定数は、この実施例では、ローパ
スフィルタ10によって決定される。
【0014】 上述の発明の目的は、物体の所定の運動によって所定のスイッチ切換プロセス
を作動させるように、基信号U(t)を使用することにある。上記の実施例では
、利用者の指、手又はその他の身体の一部によるガラスプレート31のセンサ活
性化領域Sへのタッチ(接触ないし近接)が検出され、それによってスイッチ切
換プロセスが作動される。しかしながら、例えば所謂「クラックフロッグ(一例
として周囲が固定され中央部分が隆起した弾性部材で、隆起部分を押圧すると弾
性的に変形するが、押圧を解除すると直ちに元の位置に戻るもの;弾性自己復帰
性スナップ機構:Knackfrosch)」等の機械的要素の運動を検出するものとする
構成も可能である。
【0015】
【実施例】
本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。尤も、以下の実施例は、単
なる例示に過ぎず、本発明の技術的思想を実施例に限定して解釈すべきではない
【0016】 図3(a)、図3(b)及び図3(c)は、種々の状況下において、上述のセ
ンサ装置によって生成される基信号U(t)を示したものである。図3(a)に
は、センサ活性化領域Sをタッチした場合の基信号U(t)を示した。そのよう
な信号によって、スイッチ切換プロセスが作動されるものとする。図3(b)及
び図3(c)には、センサ活性化領域Sを一回だけさっと擦った(スイープした
)場合及び何度か往復して擦った場合の基信号推移をそれぞれ示した。そのよう
な信号推移は、スイッチ切換プロセスを作動しないものとする。これらの目的は
、この実施例では、以下のように達成される(図1)。
【0017】 基信号U(t)は、この場合微分回路として作用するハイパスフィルタ16に
伝送され、その出力端に、微分によって得られる運動信号の値U(t)が生成
する。例えば指等の物体がガラスプレート31のセンサ活性化面上へ向かって運
動するとき、基信号の値U(t)は、その運動に応じて(アナログ的に)ゆっく
りと増加し、そして指がガラスプレート31上に達し止められると急速に(増加
が)停止する(図3(a)、図4(a)参照)。そして指を動かさずに留めてお
くと、基信号の値U(t)は、再びU(ゼロレベルないし基準レベル)に向っ
てゆっくりと減少する。基信号の急速な値の変化により、ハイパスフィルタ16
の出力端では、運動信号値U(t)の跳躍(急激な変化)が起こる(図4(b
)参照)。これ(U(t)の跳躍)は、所定の負の値UG1を(負の向きで)
超過するとき閾値回路17によって検出され、第一フリップフロップ回路32の
セット入力端(S)と接続する第一閾値回路17の出力端が活性化され、従って
第一フリップフロップ回路32が活性化される。ハイパスフィルタ16の遮断周
波数は、大きな速度でタッチ(接触ないし近接運動)を行なってもなお検出され
るべき信号が良好に生じるように選択される。限界周波数は、例えば、100ヘ
ルツの範囲にあり得るであろう。
【0018】 従って、このケースでは、基信号から生成される信号、即ち微分によって得ら
れる運動信号も使用され、この運動信号は、その値U(t)が所定の閾値U を超過するとき、第一プロセスを作動させる。しかしながら、基信号が直接使
用され、基信号の値U(t)が所定の値を上回るか又は下回るとき、1つのプロ
セス−この場合フリップフロップ回路の状態変化−を作動させるような回路構成
例・応用例も考えることができる。
【0019】 第一センサ活性化領域に対する十分に迅速なスイープ(ueberstreichen)運動
は全て、このようなプロセスを作動させる。即ち、第一フリップフロップ回路3
2の出力端が活性化されるのである。このような運動には、引擦り運動(Ueberw
ischen)その他の類似の運動でも十分に当てはまるが、これらは意図的なスイッ
チ切換プロセスとして認識(検出)されるべきものではない(図3(b)及び図
3(c)参照)。それゆえ、基信号は、基信号の値U(t)が所定の第二閾値U G2 を下回るとき活性化される第二閾値回路34に伝送される。この場合、物体
の除去(指の引き離し)により、負の領域へU(t)は減少する(図3(b))
。第二閾値回路34の第二閾値UG2を(負の向きで)超過すると、第二閾値回
路34の出力電圧U34(t)は、活性化される(図5参照)。
【0020】 第二閾値回路34の出力端は、フリップフロップ回路32のリセット入力端(
R)と接続しているため、フリップフロップ回路32を活性化させてしまった引
擦り運動その他の類似の運動が行われると、フリップフロップ回路32は、短時
間経過した後再びゼロにリセットされる。フリップフロップ回路32の出力信号
は、時間検出回路33へ伝送される。この時間検出回路33は、フリップフロッ
プ回路32が所定の時間Δt(例えば100ms)より長く活性化されていた場合に
のみ、その出力端が活性化されるように調節される。この所定の第一時間間隔Δ
tは、指、手又はその他の身体の一部が、電気的切換要素として構成されるス
イッチをタッチする際に通常停留(停止)する最小の時間にほぼ相当する。
【0021】 時間検出回路33の出力端は、第2フリップフロップ回路18のセット入力端
と接続する。そのため、センサ活性化面を意図的にタッチすると、第二フリップ
フロップ回路18の出力端が活性化される。というのは、この場合、第一フリッ
プフロップ回路32のセットと第一フリップフロップ回路32のリセットとの間
の時間がΔtより長い、換言すれば、指がセンサ活性化面26上にΔtより長
く留まって(停留(停止)して)いるからである。しかしながら、スイッチ切換
プロセスを作動させるべきではない運動−例えば布きんによる引擦り運動−が行
なわれる場合、第一フリップフロップ回路32のセット・リセット間の時間はΔ
tより短いため、このような運動は、第二フリップフロップ回路18をセット
するには至らない。つまり、センサ活性化面をタッチすることによって、第二フ
リップフロップ回路18の状態も制御可能に変化される。フリップフロップ回路
18の出力端を更にスイッチ(切換要素)23(例えばリレー)と接続すること
も可能である。
【0022】 多くの応用例では、センサ活性化面26のタッチ(接触ないし近接運動)によ
ってセットされる第二フリップフロップ回路18が、目的の指の引き離しによっ
て再びリセットされることが好ましい。このとき、これによってタッチパネル(
入力装置)の機能が得られる。尤も、些細な運動によってフリップフロップ回路
が誤って消去(リセット)されないように、指がガラスプレートから数ミリメー
トル離れてからようやくフリップフロップ回路18の消去(リセット)が行われ
るようにすることも有利である。この実施例では、この問題は以下のように解決
される。
【0023】 演算増幅回路11の出力端に生成される制御信号U(t)の瞬時値が、接近
する物体が操作面の極く近くに位置する時点において検出及び記憶される。この
ことを実現するために、この制御信号は遅延回路20に伝送される。遅延回路2
0の出力端に生成される電圧値U20は、時点tに記憶回路21に記憶される
が、この時点tは、第一閾値回路17の出力端に信号が生成する時点、即ち、
第一閾値回路17がタッチ(接触ないし近接運動)の行なわれた時点を検出(認
識)した時点である。このように記憶された値U(t)は、比較回路22の
第一入力端へ伝送される。比較回路22の第二入力端には、値U(t)を有す
る制御信号が入力される。この制御信号の値が、記憶回路21の出力値を超過し
ている間は、比較回路22は出力信号を生成しない。しかしながら、該制御信号
の値が、時点tに、記憶された値を下回ると、比較回路の出力端は活性化され
る。信号U20、U(t)及びU(t)を図6に示した。この信号によって
第二フリップフロップ回路18はリセットされる。
【0024】 本発明の原理は、基本的に、とりわけオプトエレクトロニック(光電式)近接
センサ等の近接センサから生成される基信号を評価することを基礎とする。基信
号の値U(t)は、物体が近接センサに接近する際及び物体が近接センサから離
隔する際に変化し、この変化の方向(符号)及び大きさは、物体の(運動)方向
及び速度、及び/又は物体の(センサからの)距離に対し特徴付けられている。
【0025】 基信号の値U(t)又はこの基信号から生成される第一信号の値U(t)が
物体の接近に対し特徴的な第一閾値を上回るか又は下回るとき、第一認識手段1
7は、その切換状態を第一状態から第二状態へ変化させる。基信号の値U(t)
又はこの基信号から生成される第二信号の値が、物体の離隔に対し特徴的な第二
閾値を上回るか又は下回るとき、第二認識手段34は、その切換状態を第一状態
から第二状態へ変化させる。第一及び第二認識手段17、34と接続する決定手
段32は、第一認識手段17がその切換状態を第一状態から第二状態へ変化させ
、かつ第二認識手段34が第一認識手段17の切換状態の変化後所定の第一時間
間隔Δt以内ではその切換状態を変化させないとき、その出力状態を第一出力
状態から第二出力状態へ変化させる。
【0026】 更なる実施例では、他の複数の要素を含むことも可能である。例えば、第三認
識手段は、基信号の値U(t)又はこの基信号から生成される第三信号の値U (t)が、物体の離隔に対し特徴的な第三閾値を下回るか又は上回るとき、決定
手段32の出力状態を第二出力状態から第一出力状態へリセットする。第三閾値
は、好ましくは、基信号又は基信号から生成される信号の時間的推移から生成さ
れる。この第三閾値は、第一認識手段17の状態が変化する時点(t)から所
定時間間隔だけ前の時点での基信号の値U(t)又は基信号から生成される信号
の値に対応する。このことは、固定分割要素(fester Teilfaktor)によって又
は制御信号U(t)の時間的遅延によって達成可能であり、これによって例え
ばスイッチの表面の磨耗現象に左右されなくなる。 基信号、第一信号及び第二信号は、アナログの電圧信号から構成されることが好
ましい。
【0027】 決定手段では、第一認識手段17は、第一フリップフロップ回路32をセット
し、第二認識手段34は、第一フリップフロップ回路32をリセットする。第一
フリップフロップ回路32の出力端と接続する時間検出回路33は、予め所定の
時間間隔Δtより長い時間間隔の間第一フリップフロップ回路32の出力端が
活性化されていたとき、活性化される。時間検出回路33の出力は、第二フリッ
プフロップ回路18をセットする。
【0028】 そのため、少なくとも1つの光放射発信要素と少なくとも1つの受信(受光)
要素が配設されたオプトエレクトロニックスイッチを構成することができる。受
信要素は、その値が受信した光量に依存する信号を評価ユニットへ伝送し、評価
ユニットでは、第一信号の値又は第一信号から生成される更なる信号の値が所定
の閾値を上回るか又は下回るとき、少なくとも1つの切換要素がその切換状態を
変化させる。発信要素から発せられる光が、所定領域内に存する物体(複数)に
よって又は受信要素及び発信要素に対し所定の空間関係を有する可動要素によっ
て、散乱又は反射され、この散乱光又は反射光の少なくとも一部が該受信要素に
到達するように、発信要素と受信要素とが配設されることも可能である。そのた
め、受信要素によって受光される散乱光又は反射光の、物体又は可動要素の運動
によって引き起こされる光量の変化により、当該運動が所定の運動パターンの範
囲内に存するとき、切換要素の(切換)状態の変化を引き起こされる。
【0029】 この運動パターンは、指、手又はその他の身体部分による所定領域のタッチ(
接触ないし近接運動)から構成されることが好ましい。例えば、ガラス−ないし
プレキシグラスディスク又は発信要素及び/又は受信要素と機能的に結合する光
ガイドの所定領域が、タッチ可能(な所定領域)である。
【0030】 前述の可動要素は、例えば、通常のスイッチにおいて部分的に使用されるよう
なスナップ動作スプリング(スイッチ)(ないし自己復帰式スナップ:Schnappf
eder)から構成され得る。そして、認識手段によって、このスナップ動作スプリ
ングの運動パターンがそれ単独で又は物体の接近により補完されて認識(検出)
される。例えば、利用者に切換効果を触覚的に明確に示すために、スナップ動作
スプリングを近接センサ上に配設することも可能であるが、可動要素の運動もま
たそれ単独で捕捉及び評価され得る。スナップ動作スプリングは、(押圧されて
)復原力に対抗して運動可能であり、例えば復原力に抗する運動を行う際に死点
を越えて運動することができる。
【0031】 本発明においては、各請求項に係る発明の均等の範囲内において行なわれる種
々の修正、変更及び適合化(付加等)が実行可能であることは自明である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 基信号を本発明に応じ評価するための回路構成の一例。
【図2】 光学的スイッチの完全な構成の一例。
【図3】 (a)センサ活性化領域をタッチした場合の基信号U(t)の推移。 (b)センサ活性化領域をスイープした場合の検出(基)信号の推移。 (c)例えば布巾でガラスプレート上を何度も往復運動させた場合の基信号の
推移。
【図4】 (a)センサ活性化領域をタッチした場合の基信号U(t)の推移。 (b)センサ活性化領域をタッチした場合の、微分によって得られた運動信号
U(t)の推移。
【図5】 (a)センサ活性化領域をタッチした場合の検出(基)信号U(t)の推移。 (b)図5(a)に示した状況における第一閾値回路の出力信号の推移。
【図6】 U20(t)及びU(t)の信号推移、並びに記憶された値U(t)。
【図7】 従来技術の近接センサ。
【図8】 図7の近接センサの可能な修正例。
【図9】 図7の近接センサの可能な修正例。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),OA(BF ,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW, ML,MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,G M,KE,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ, MD,RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM, AT,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,B Z,CA,CH,CN,CR,CU,CZ,DK,DM ,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH, GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS ,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN, MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM ,TR,TT,TZ,UA,UG,US,UZ,VN, YU,ZA,ZW

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 とりわけオプトエレクトロニック近接センサ等の近接センサから生成される基
    信号の評価装置であって、物体が近接センサに接近する際及び物体が近接センサ
    から離隔する際、基信号の値(U(t))が変化し、かつこの変化の方向(符号
    )と大きさが、該物体の運動方向と速度及び/又は間隔に(それぞれ)特徴付け
    られる評価装置において、 −前記基信号の値(U(t))又は該基信号から生成される第一信号の値(U (t))が、物体の接近に対し特徴的な第一閾値を上回るか又は下回るとき、
    その切換状態を第一状態から第二状態へ変化させる第一認識手段(17)、 −前記基信号の値(U(t))又は該基信号から生成される第二信号の値が、
    物体の離隔に対し特徴的な第二閾値を上回るか又は下回るとき、その切換状態を
    第一状態から第二状態へ変化させる第二認識手段(34)、及び −前記第一認識手段(17)及び前記第二認識手段(34)と接続すると共に
    、該第一認識手段(17)の切換状態が第一状態から第二状態へ変化し、かつ該
    第二認識手段は該第一認識手段の切換状態の変化後所定の第一時間間隔(Δt )以内ではその切換状態の変化がないとき、その出力状態を第一状態から第二状
    態へ変化させる決定手段(32) を有する ことを特徴とする評価装置。
  2. 【請求項2】 前記基信号の値(U(t))又は該基信号から生成される第三信号の値(U (t))が、前記物体の離隔に対し特徴的な第三閾値を下回るか又は上回るとき
    、前記決定手段の出力状態を第二出力状態から第一出力状態へリセットする第三
    認識手段を有する ことを特徴とする請求項1に記載の評価装置。
  3. 【請求項3】 前記第三閾値は、前記基信号又は該基信号から生成される信号の時間的推移か
    ら生成される ことを特徴とする請求項2に記載の評価装置。
  4. 【請求項4】 前記第三閾値は、前記第一認識手段(17)の状態が変化する時点(t)か
    らある所定時間間隔だけ前の時点での前記基信号の値(U(t))又は該基信号
    から生成される信号の値に対応する ことを特徴とする請求項3に記載の評価装置。
  5. 【請求項5】 前記認識手段には、電気的切換要素が後置して接続され、前記決定手段(17
    )の切換状態の変化により該切換要素が切り換えられる ことを特徴とする請求項1〜4の一に記載の評価装置。
  6. 【請求項6】 前記基信号、前記第一信号及び前記第二信号は、アナログの電圧信号から構成
    される ことを特徴とする請求項1〜5の一に記載の評価装置。
  7. 【請求項7】 前記第一認識手段は、前記基信号(U(t))がその入力端に入力されるハイ
    パスフィルタ(16)と、該ハイパスフィルタに後置して接続される第一閾値回
    路(17)とから構成される ことを特徴とする請求項6に記載の評価装置。
  8. 【請求項8】 前記第二認識手段は、前記基信号(U(t))がその入力端に入力される第二
    閾値回路(34)から構成される ことを特徴とする請求項6又は7に記載の評価装置。
  9. 【請求項9】 前記決定手段は、以下の要素、即ち、 −そのセット−入力端が前記第一閾値回路(17)の出力端と接続し、かつそ
    のリセット−入力端が前記第二閾値回路(34)の出力端と接続する第一フリッ
    プフロップ回路(32)、 −前記第一フリップフロップ回路(17)の出力端と接続すると共に、前記所
    定の時間間隔(Δt)より長い時間間隔の間該第一フリップフロップ回路(3
    2)の出力端が活性化されていたとき、その出力端が活性化される時間検出回路
    (33)、及び −そのセット−入力端が前記時間検出回路(33)の出力端と接続する第二フ
    リップフロップ回路(18) を有する ことを特徴とする請求項6〜8の一に記載の評価装置。
  10. 【請求項10】 前記接近する物体は、利用者の指、手又はその他の身体部分の内の少なくとも
    何れか1つであること、及び 前記所定の第一時間間隔(Δt)は、電気的切換要素として構成されたスイ
    ッチをタッチ(接触ないし近接運動)する際の指、手又はその他の身体部分の通
    常の停止時間に相応すること を特徴とする請求項1〜9の一に記載の評価装置。
  11. 【請求項11】 請求項1〜10の一に記載の評価装置を用いて行なう、とりわけオプトエレク
    トロニック近接センサ等の近接センサから生成される基信号の評価方法であって
    、物体が近接センサに接近する際及び物体が近接センサから離隔する際、基信号
    の値(U(t))が変化し、かつこの変化の方向(符号)と大きさが、物体の運
    動方向と速度及び/又は物体の間隔に(それぞれ)特徴付けられる評価方法にお
    いて、以下のステップ: −前記物体の接近を認識し、かつ前記基信号の値(U(t))又は該基信号か
    ら生成される第一信号の値(U(t))が、該物体の接近に対し特徴的な第一
    閾値を上回るか又は下回るとき、第一認識手段(17)を切り換えるステップ、 −前記物体の離隔を認識し、かつ前記基信号の値(U(t))又は該基信号か
    ら生成される第二信号の値が、該物体の離隔に対し特徴的な第二閾値を上回るか
    又は下回るとき、第二認識手段(34)を切り換えるステップ、及び −前記第一認識手段(17)の切換状態が変化し、かつ前記第二認識手段は該
    第一認識手段の切換状態の変化後所定の第一時間間隔(Δt)以内はその切換
    状態の変化がないとき、前記第一及び第二認識手段(17、34)と接続する決
    定手段(32)の出力状態を変化させるステップ を有する ことを特徴とする評価方法。
  12. 【請求項12】 前記基信号の値(U(t))又は該基信号から生成される第三信号の値(U (t))が、前記物体の離隔に対し特徴的な第三閾値を下回るか又は上回るとき
    、第三認識手段が、前記決定手段(32)の出力状態を第二出力状態から第一出
    力状態へリセットする ことを特徴とする請求項11に記載の方法。
  13. 【請求項13】 前記第三閾値は、好ましくは前記第一認識手段(17)の状態が変化する時点
    (t)からある所定時間間隔だけ前の時点での、前記基信号又は該基信号から
    生成される信号の時間的推移から生成される ことを特徴とする請求項12に記載の方法。
  14. 【請求項14】 前記決定手段(32)の状態の変化により、電気的切換要素が切換えられる ことを特徴とする請求項11〜13の一に記載の方法。
  15. 【請求項15】 前記決定手段において、前記第一認識手段(17)は、第一フリップフロップ
    回路(32)をセットし、及び前記第二認識手段(34)は、該第一フリップフ
    ロップ回路(32)をリセットすること、 前記第一フリップフロップ回路(17)の出力端と接続する時間検出回路(3
    3)は、前記所定の時間間隔(Δt)より長い時間間隔の間該第一フリップフ
    ロップ回路(32)の出力端が活性化されていたとき、活性化されること、及び 前記時間検出回路(33)の出力は、第二フリップフロップ回路(18)をセ
    ットすること を特徴とする請求項11〜14の一に記載の方法。
JP2001553660A 2000-01-18 2001-01-16 近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法 Expired - Lifetime JP4611597B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10001943.9 2000-01-18
DE10001943A DE10001943C2 (de) 2000-01-18 2000-01-18 Vorrichtung und Verfahren zum Auswerten eines von einem Näherungssensor stammenden Nutzsignals
PCT/EP2001/000441 WO2001054277A1 (de) 2000-01-18 2001-01-16 Vorrichtung und verfahren zum auswerten eines von einem näherungssensor stammenden nutzsignals

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003524198A true JP2003524198A (ja) 2003-08-12
JP2003524198A5 JP2003524198A5 (ja) 2008-01-31
JP4611597B2 JP4611597B2 (ja) 2011-01-12

Family

ID=7627897

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001553660A Expired - Lifetime JP4611597B2 (ja) 2000-01-18 2001-01-16 近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6965327B2 (ja)
EP (1) EP1258084B1 (ja)
JP (1) JP4611597B2 (ja)
AT (1) ATE296497T1 (ja)
AU (1) AU2001226777A1 (ja)
DE (2) DE10001943C2 (ja)
WO (1) WO2001054277A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011117750A (ja) * 2009-12-01 2011-06-16 Seiko Epson Corp 光学式位置検出装置、ハンド装置および位置検出機能付き表示装置
JP2014145636A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Tokyo Parts Ind Co Ltd 物体検知装置
JP2015514968A (ja) * 2012-02-23 2015-05-21 エルモス セミコンダクタ アーゲー 送信機と受信機との間の測定装置の伝送路の特性を測定するための方法およびセンサシステム
JP2015132489A (ja) * 2014-01-10 2015-07-23 東京パーツ工業株式会社 モーションセンサ

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU3885999A (en) * 1998-05-05 1999-11-23 Incyte Pharmaceuticals, Inc. Human transcriptional regulator molecules
DE10146996A1 (de) 2001-09-25 2003-04-30 Gerd Reime Schaltung mit einer optoeleketronischen Anzeigeeinhalt
US20070287541A1 (en) * 2001-09-28 2007-12-13 Jeffrey George Tracking display with proximity button activation
DE10211307A1 (de) 2002-03-13 2003-11-20 Mechaless Systems Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur optoelektronischen Erkennung der Bewegung und/oder Position eines Objekts
DE10241810B4 (de) * 2002-09-06 2004-08-26 Me-In Gmbh Schaltungsanordnung zur Auswertung eines reflektierten Signals
US20050248472A1 (en) * 2004-05-07 2005-11-10 Jung-Tsung Wei Smart key exclusively for telephones calculator, remote controller and camera
ES2355536T3 (es) 2007-09-12 2011-03-28 Behr-Hella Thermocontrol Gmbh Unidad sensora para su instalación en vehículos.
US7486386B1 (en) 2007-09-21 2009-02-03 Silison Laboratories Inc. Optical reflectance proximity sensor
EP2159600A1 (de) 2008-08-28 2010-03-03 ELMOS Semiconductor AG Elektro-optischer Detektor zur Erkennung des Vorhandenseins und/oder der Annäherung eines Objekts
US8660300B2 (en) * 2008-12-12 2014-02-25 Silicon Laboratories Inc. Apparatus and method for optical gesture recognition
US20110267190A1 (en) * 2010-05-03 2011-11-03 Irvine Sensors Corporation Anti-Tampering Detection Using Target Circuit RF Signature
DE102010027160A1 (de) * 2010-07-14 2012-01-19 Hella Kgaa Hueck & Co. Möbel mit einer Beleuchtungseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer solchen
EP2418512A1 (de) * 2010-07-30 2012-02-15 Mechaless Systems GmbH Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation
US8873026B2 (en) * 2011-08-05 2014-10-28 Qualcomm Incorporated Proximity sensor distance detection ambiguity removal
EP2602635B1 (de) 2011-12-06 2014-02-19 ELMOS Semiconductor AG Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP2653885A1 (de) 2012-04-18 2013-10-23 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem und Verfahren zur Vermessung der Übertragungseigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen einem Sender und einem Empfänger
EP2924459A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke
EP2924466B1 (de) 2014-03-25 2020-06-03 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke
EP2924460A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke mittels einer Diode
DE102015002283B4 (de) 2014-05-09 2023-01-19 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner
DE102014019172B4 (de) 2014-12-17 2023-12-07 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem
DE102014019773B4 (de) 2014-12-17 2023-12-07 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
DE102015006174B3 (de) * 2015-05-08 2016-08-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke
DE102015108102B4 (de) * 2015-05-22 2017-06-14 Sartorius Lab Instruments Gmbh & Co. Kg Wägevorrichtung
DE102015015244A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015389A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015246A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015390A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015248A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015245A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
EP3193192B1 (en) * 2016-01-12 2020-04-29 ams AG Optical sensor arrangement
DE102017106813B4 (de) 2016-05-09 2018-01-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler Sensor-Bänder
DE102017106811B4 (de) 2016-05-09 2018-01-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Bänder
DE102017106812B4 (de) 2016-05-09 2018-01-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Sensor-Bänder
DE102017100308B3 (de) 2016-12-06 2018-05-30 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mit verringerter EMV Empfindlichkeit
DE102017100305B4 (de) 2017-01-09 2021-08-12 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
DE102017100306B4 (de) 2017-01-09 2021-08-12 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
DE102020119245B4 (de) 2019-07-23 2024-06-13 Elmos Semiconductor Se Halios-Vorrichtung mit metalllagenfreiem Empfänger und Kompensation mittels Phononenstrahlung eines Heizelements oder eines elektroakustischen Wandlers

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58147670A (ja) * 1982-02-26 1983-09-02 Toshiba Corp 物体検出装置
JPH02186715A (ja) * 1989-12-28 1990-07-23 Omron Tateisi Electron Co 検出スイッチ
US5103085A (en) * 1990-09-05 1992-04-07 Zimmerman Thomas G Photoelectric proximity detector and switch
JPH08139583A (ja) * 1994-11-04 1996-05-31 Yamatake Honeywell Co Ltd タッチキー
JPH08512131A (ja) * 1993-07-02 1996-12-17 ライメ、ゲルト 反射要素における変化の測定または識別装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6051043B2 (ja) 1980-06-30 1985-11-12 オムロン株式会社 光電スイッチ
DE3146152A1 (de) 1981-11-21 1983-06-01 Ernst Dipl.-Kfm. Dr. 7100 Heilbronn Haag Optoelektrisches tastenfeld
GB8424023D0 (en) 1984-09-22 1984-10-31 Nobbs M J Switch
DE3524492A1 (de) 1985-07-09 1987-01-15 Siemens Ag Opto-elektrische einrichtung mit einer vielzahl von bedienelementen in einer tafel
DE3526992A1 (de) 1985-07-27 1987-02-05 Weiss Hans Dipl Ing Fh Einrichtung zum ein- und ausschalten eines elektrischen verbrauchers sowie verwendung einer solchen
JPH0193915A (ja) * 1987-10-05 1989-04-12 Mitsubishi Electric Corp ヒステリシス付きコンパレータ
US4943712A (en) 1988-12-07 1990-07-24 Tahoe Products Incorporated Motion detector
JP2527854B2 (ja) * 1991-06-10 1996-08-28 富士通株式会社 抗力可変装置、及びキ―スイッチ装置
FI87696C (fi) * 1991-09-30 1993-02-10 Valtion Teknillinen Foerfarande i en med optisk princip fungerande ankomstkoppling
CA2085304C (en) * 1992-01-03 1997-07-29 Edgar N. Banks Material entry system and process of introducing material into a treatment device
FR2686147A1 (fr) 1992-01-09 1993-07-16 Dietrich Europ Electromenager Detecteur a touche optique pour la commande d'un des foyers d'une table de cuisson dite vitro-ceramique.
DE4207772C3 (de) 1992-03-11 1999-01-21 Cherry Mikroschalter Gmbh Sensorschalter mit Größenerkennung
DE4212562A1 (de) 1992-04-15 1993-10-21 Buch Elektronik Gmbh Folientastatur
FR2693859A1 (fr) 1992-07-20 1994-01-21 Novatec Sarl Commutateur à fibres optiques.
DE4339572A1 (de) * 1993-11-19 1995-05-24 Gerd Reime Vorrichtung mit einer Meßanordnung
US5592033A (en) 1993-12-16 1997-01-07 Cooper Industries, Inc. Photocell switching circuit
DE19914114A1 (de) 1998-03-24 1999-10-07 Visolux Elektronik Gmbh Lichtschrankenanordnung
US6313825B1 (en) 1998-12-28 2001-11-06 Gateway, Inc. Virtual input device
DE10001955A1 (de) 2000-01-18 2001-07-19 Gerd Reime Opto-elektronischer Schalter

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58147670A (ja) * 1982-02-26 1983-09-02 Toshiba Corp 物体検出装置
JPH02186715A (ja) * 1989-12-28 1990-07-23 Omron Tateisi Electron Co 検出スイッチ
US5103085A (en) * 1990-09-05 1992-04-07 Zimmerman Thomas G Photoelectric proximity detector and switch
JPH08512131A (ja) * 1993-07-02 1996-12-17 ライメ、ゲルト 反射要素における変化の測定または識別装置
JPH08139583A (ja) * 1994-11-04 1996-05-31 Yamatake Honeywell Co Ltd タッチキー

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011117750A (ja) * 2009-12-01 2011-06-16 Seiko Epson Corp 光学式位置検出装置、ハンド装置および位置検出機能付き表示装置
JP2015514968A (ja) * 2012-02-23 2015-05-21 エルモス セミコンダクタ アーゲー 送信機と受信機との間の測定装置の伝送路の特性を測定するための方法およびセンサシステム
JP2014145636A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Tokyo Parts Ind Co Ltd 物体検知装置
JP2015132489A (ja) * 2014-01-10 2015-07-23 東京パーツ工業株式会社 モーションセンサ

Also Published As

Publication number Publication date
US20030001756A1 (en) 2003-01-02
DE10001943A1 (de) 2001-07-19
JP4611597B2 (ja) 2011-01-12
EP1258084B1 (de) 2005-05-25
WO2001054277A1 (de) 2001-07-26
EP1258084A1 (de) 2002-11-20
DE50106313D1 (de) 2005-06-30
ATE296497T1 (de) 2005-06-15
DE10001943C2 (de) 2001-12-06
US6965327B2 (en) 2005-11-15
AU2001226777A1 (en) 2001-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003524198A (ja) 近接センサから生成される基信号の評価装置及び評価方法
JP4574098B2 (ja) 運動の変化を評価するオプトエレクトロニックスイッチ
RU2717751C2 (ru) Лазерный датчик для обнаружения нескольких параметров
RU2693574C2 (ru) Узел бесконтактных переключателей, имеющий тактильную обратную связь, и способ
US6953926B2 (en) Method and devices for opto-electronically determining the position of an object
US7486386B1 (en) Optical reflectance proximity sensor
US4736097A (en) Optical motion sensor
US20100328680A1 (en) Optical sensor
US8169420B2 (en) Reporting optical tracking data based on integrated resolution switching and surface detection
JPH0755555A (ja) 周囲光検出装置および同周囲光検出装置を用いたバーコードリーダ用レーザ点灯制御装置
CN106324586B (zh) 光子设备
WO2020002616A1 (en) Method of reducing false-positive particle counts of an interference particle sensor module
CN103743430A (zh) 一种对射式光电传感器
US10641695B2 (en) Method of determining operation conditions of a laser-based particle detector
WO2005106614A2 (en) Optical input and/or control device
EP0840303A3 (en) Disk discrimination method and device
WO2022103703A1 (en) Mems wavelength selectable switch for adaptive wavelength filtering
NL2021919B1 (nl) Deurbediening met slappe kabel detectie
JP4318762B2 (ja) ロック可能な差分処理を行う光電セル
JP2015517150A (ja) バーコードリーダ用の可変ゲイン増幅器
WO1989007277A1 (en) Optical motion sensor
RU2676913C2 (ru) Узел бесконтактного переключателя и узел бесконтактного переключателя транспортного средства
CN100541405C (zh) 激光光线可适时自动中断的电脑鼠标
RU2669655C2 (ru) Способ активации бесконтактного переключателя в транспортном средстве
WO2022212002A1 (en) Feed-forward equalization for enhanced distance resolution

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071129

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101005

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101014

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4611597

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term