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Proximity sensor distance detection ambiguity removal
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ELMOS Semiconductor AG |
Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
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ELMOS Semiconductor AG |
Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
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EP2653885A1
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2012-04-18 |
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ELMOS Semiconductor AG |
Sensorsystem und Verfahren zur Vermessung der Übertragungseigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen einem Sender und einem Empfänger
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東京パーツ工業株式会社 |
物体検知装置
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JP6327863B2
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2014-01-10 |
2018-05-23 |
東京パーツ工業株式会社 |
モーションセンサ
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EP2924460A1
(de)
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2014-03-25 |
2015-09-30 |
ELMOS Semiconductor AG |
Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke mittels einer Diode
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EP2924459A1
(de)
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2014-03-25 |
2015-09-30 |
ELMOS Semiconductor AG |
Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke
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EP2924466B1
(de)
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2014-03-25 |
2020-06-03 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke
|
DE102015002283B4
(de)
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2014-05-09 |
2023-01-19 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner
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DE102014019172B4
(de)
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2014-12-17 |
2023-12-07 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem
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DE102014019773B4
(de)
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2014-12-17 |
2023-12-07 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
|
DE102015006174B3
(de)
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2015-05-08 |
2016-08-11 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke
|
DE102015108102B4
(de)
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2015-05-22 |
2017-06-14 |
Sartorius Lab Instruments Gmbh & Co. Kg |
Wägevorrichtung
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DE102015015245A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
DE102015015390A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Ag |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
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DE102015015248A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
DE102015015244A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
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DE102015015389A1
(de)
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2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Ag |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
DE102015015246A1
(de)
|
2015-11-18 |
2017-05-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
|
EP3193192B1
(en)
*
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2016-01-12 |
2020-04-29 |
ams AG |
Optical sensor arrangement
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DE102017106811B4
(de)
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2016-05-09 |
2018-01-11 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Bänder
|
DE102017106812B4
(de)
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2016-05-09 |
2018-01-11 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Sensor-Bänder
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DE102017106813B4
(de)
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2016-05-09 |
2018-01-18 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler Sensor-Bänder
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DE102017100308B3
(de)
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2016-12-06 |
2018-05-30 |
Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mit verringerter EMV Empfindlichkeit
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DE102017100305B4
(de)
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2017-01-09 |
2021-08-12 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
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DE102017100306B4
(de)
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2017-01-09 |
2021-08-12 |
Elmos Semiconductor Se |
Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
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DE102020119245B4
(de)
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2019-07-23 |
2024-06-13 |
Elmos Semiconductor Se |
Halios-Vorrichtung mit metalllagenfreiem Empfänger und Kompensation mittels Phononenstrahlung eines Heizelements oder eines elektroakustischen Wandlers
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