JP2003332045A - エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 - Google Patents
エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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-
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-
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
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-
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-
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- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/846—Passivation; Containers; Encapsulations comprising getter material or desiccants
Abstract
(57)【要約】
【課題】有機ELパネルの輪郭を鮮明に成し、表示のコ
ントラストを向上させる。 【解決手段】有機EL素子120を含む画素領域300
と有機EL素子120を駆動するための駆動信号を供給
する水平駆動回路301、垂直駆動回路302とを有す
るデバイスガラス基板200と、このデバイスガラス基
板200と封止ガラス基板100とをシール樹脂101
を用いて貼り合わせ、封止ガラス基板100側に、水平
駆動回路301、垂直駆動回路302への光の入射を遮
るための遮光層104を設ける。
ントラストを向上させる。 【解決手段】有機EL素子120を含む画素領域300
と有機EL素子120を駆動するための駆動信号を供給
する水平駆動回路301、垂直駆動回路302とを有す
るデバイスガラス基板200と、このデバイスガラス基
板200と封止ガラス基板100とをシール樹脂101
を用いて貼り合わせ、封止ガラス基板100側に、水平
駆動回路301、垂直駆動回路302への光の入射を遮
るための遮光層104を設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、エレクトロルミネ
ッセンス表示装置及びその製造方法に関し、特にエレク
トロルミネッセンス表示装置の表示品位を向上させる技
術に関する。
ッセンス表示装置及びその製造方法に関し、特にエレク
トロルミネッセンス表示装置の表示品位を向上させる技
術に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、エレクトロルミネッセンス(Elec
tro Luminescence:以下、「EL」と称する。)素子
を用いたEL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示
装置として注目されている。
tro Luminescence:以下、「EL」と称する。)素子
を用いたEL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示
装置として注目されている。
【0003】図6は有機ELパネルの構造を示す概略図
である。デバイスガラス基板1上に、画素領域と周辺駆
動回路領域が形成されている。画素領域は複数の画素か
ら成り、各画素は、有機EL素子と、有機EL素子駆動
用TFTaや画素選択用TFT(不図示)を含んでい
る。例えば、有機EL素子駆動用TFTaはポリシリコ
ン層から成る能動層を有している。有機EL素子駆動用
TFTaの下層には絶縁膜2を介してクロムから成る遮
光層3が配置されている。
である。デバイスガラス基板1上に、画素領域と周辺駆
動回路領域が形成されている。画素領域は複数の画素か
ら成り、各画素は、有機EL素子と、有機EL素子駆動
用TFTaや画素選択用TFT(不図示)を含んでい
る。例えば、有機EL素子駆動用TFTaはポリシリコ
ン層から成る能動層を有している。有機EL素子駆動用
TFTaの下層には絶縁膜2を介してクロムから成る遮
光層3が配置されている。
【0004】この遮光層3は、有機EL素子駆動用TF
Taの能動層の直下を避けるように形成されている。そ
の理由は以下の通りである。有機EL素子駆動用TFT
aの能動層は、アモリファスシリコンをエキシマレーザ
ー照射により加熱して結晶化させる。この時、有機EL
素子駆動用TFTaの能動層の直下にクロムから成る遮
光層3があると、熱伝導率が高くなってしまう。する
と、その能動層の結晶粒径の制御が困難になり、その結
果TFTaの特性が劣化するためである。
Taの能動層の直下を避けるように形成されている。そ
の理由は以下の通りである。有機EL素子駆動用TFT
aの能動層は、アモリファスシリコンをエキシマレーザ
ー照射により加熱して結晶化させる。この時、有機EL
素子駆動用TFTaの能動層の直下にクロムから成る遮
光層3があると、熱伝導率が高くなってしまう。する
と、その能動層の結晶粒径の制御が困難になり、その結
果TFTaの特性が劣化するためである。
【0005】一方、画素領域の周辺に配置される周辺駆
動回路は多数のTFTbによって形成される。上記と同
様の理由から、TFTbの下層にはクロムから成る遮光
層3が形成されていなかった。
動回路は多数のTFTbによって形成される。上記と同
様の理由から、TFTbの下層にはクロムから成る遮光
層3が形成されていなかった。
【0006】そして、デバイスガラス基板1は、エポキ
シ樹脂等から成るシール樹脂4を介して封止ガラス基板
5と貼り合わされていた。
シ樹脂等から成るシール樹脂4を介して封止ガラス基板
5と貼り合わされていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、周辺駆
動回路については、遮光層3が形成されていなかったた
めに、封止ガラス基板5側から入射した光が、デバイス
ガラス基板1側に透過してしまう。そのため、有機EL
パネルの輪郭がぼやけてしまい、表示のコントラストが
低下するという問題があった。
動回路については、遮光層3が形成されていなかったた
めに、封止ガラス基板5側から入射した光が、デバイス
ガラス基板1側に透過してしまう。そのため、有機EL
パネルの輪郭がぼやけてしまい、表示のコントラストが
低下するという問題があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこで本発明は、エレク
トロルミネッセンス素子を含む画素領域と該エレクトロ
ルミネッセンス素子を駆動するための駆動信号を供給す
る周辺駆動回路領域とを有する第1の基板と、前記第1
の基板と貼り合わされた第2の基板と、前記第2の基板
側に、前記周辺駆動回路領域への光の入射を遮るための
遮光層と、を具備することを特徴とするものである。
トロルミネッセンス素子を含む画素領域と該エレクトロ
ルミネッセンス素子を駆動するための駆動信号を供給す
る周辺駆動回路領域とを有する第1の基板と、前記第1
の基板と貼り合わされた第2の基板と、前記第2の基板
側に、前記周辺駆動回路領域への光の入射を遮るための
遮光層と、を具備することを特徴とするものである。
【0009】かかる構成によれば、第2の基板側に、周
辺駆動回路領域への光の入射を遮るための遮光層を設け
たので、有機ELパネルの輪郭がぼやけてしまい、表示
のコントラストが低下するという問題を解決できる。し
かも、周辺駆動回路を構成するTFTの下層に遮光層を
形成する必要がないので、TFTの能動層の結晶粒径を
均一に制御することが可能になる。
辺駆動回路領域への光の入射を遮るための遮光層を設け
たので、有機ELパネルの輪郭がぼやけてしまい、表示
のコントラストが低下するという問題を解決できる。し
かも、周辺駆動回路を構成するTFTの下層に遮光層を
形成する必要がないので、TFTの能動層の結晶粒径を
均一に制御することが可能になる。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照しながら詳細に説明する。まず、本発明が適
用されるデバイスガラス基板200の構成について、図
1及び図2を参照しながら説明する。
図面を参照しながら詳細に説明する。まず、本発明が適
用されるデバイスガラス基板200の構成について、図
1及び図2を参照しながら説明する。
【0011】図1に示すように、デバイスガラス基板2
00上には、画素領域300と、その周辺駆動回路とし
て、水平駆動回路301及び垂直駆動回路302が配置
されている。垂直駆動回路302は、画素領域300の
各画素にゲート信号Gn(水平走査信号)を供給する。
水平駆動回路301は、水平走査信号に基づき、画素領
域300の各画素にドレイン信号(ビデオ信号Dm)を
供給する。
00上には、画素領域300と、その周辺駆動回路とし
て、水平駆動回路301及び垂直駆動回路302が配置
されている。垂直駆動回路302は、画素領域300の
各画素にゲート信号Gn(水平走査信号)を供給する。
水平駆動回路301は、水平走査信号に基づき、画素領
域300の各画素にドレイン信号(ビデオ信号Dm)を
供給する。
【0012】図2は、画素領域300を構成する一画素
の等価回路図を示す。ゲート信号Gnを供給するゲート
信号線50と、ドレイン信号、すなわち、ビデオ信号D
mを供給するドレイン信号線60とが互いに交差してい
る。
の等価回路図を示す。ゲート信号Gnを供給するゲート
信号線50と、ドレイン信号、すなわち、ビデオ信号D
mを供給するドレイン信号線60とが互いに交差してい
る。
【0013】それらの両信号線の交差点付近には、有機
EL素子120及びこの有機EL素子120を駆動する
TFT106、画素を選択するためのTFT110が配
置されている。
EL素子120及びこの有機EL素子120を駆動する
TFT106、画素を選択するためのTFT110が配
置されている。
【0014】有機EL素子駆動用のTFT106のドレ
イン106dには、正電源電圧PVddが供給されてい
る。また、ソース106sは有機EL素子120のアノ
ード121に接続されている。
イン106dには、正電源電圧PVddが供給されてい
る。また、ソース106sは有機EL素子120のアノ
ード121に接続されている。
【0015】また、画素選択用のTFT110のゲート
110gにはゲート信号線50が接続されることにより
ゲート信号Gnが供給され、ドレイン110dにはドレ
イン信号線60が接続されることにより、ビデオ信号D
mが供給される。TFT110のソース110sは上記
TFT106のゲート106gに接続されている。ここ
で、ゲート信号Gnは不図示の垂直駆動回路302から
出力される。ビデオ信号Dmは不図示の水平駆動回路3
01から出力される。
110gにはゲート信号線50が接続されることにより
ゲート信号Gnが供給され、ドレイン110dにはドレ
イン信号線60が接続されることにより、ビデオ信号D
mが供給される。TFT110のソース110sは上記
TFT106のゲート106gに接続されている。ここ
で、ゲート信号Gnは不図示の垂直駆動回路302から
出力される。ビデオ信号Dmは不図示の水平駆動回路3
01から出力される。
【0016】また、有機EL素子120は、アノード1
21、カソード122、このアノード121とカソード
122の間に形成された発光素子層123から成る。カ
ソード122には負電源電圧CVが供給されている。
21、カソード122、このアノード121とカソード
122の間に形成された発光素子層123から成る。カ
ソード122には負電源電圧CVが供給されている。
【0017】また、TFT106のゲート106gには
保持容量130が接続されている。すなわち、保持容量
130の一方の電極はゲート106gに接続され、他方
の電極は保持容量電極131に接続されている。保持容
量130はビデオ信号Dmに応じた電荷を保持すること
により、1フィールド期間、表示画素のビデオ信号を保
持するために設けられている。
保持容量130が接続されている。すなわち、保持容量
130の一方の電極はゲート106gに接続され、他方
の電極は保持容量電極131に接続されている。保持容
量130はビデオ信号Dmに応じた電荷を保持すること
により、1フィールド期間、表示画素のビデオ信号を保
持するために設けられている。
【0018】上述した構成のEL表示装置の動作を説明
すると以下の通りである。ゲート信号Gnが一水平期
間、ハイレベルになると、TFT110がオンする。す
ると、ドレイン信号線60からビデオ信号DmがTFT
110を通して、TFT106のゲート106gに印加
される。そして、ゲート106gに供給されたビデオ信
号Dmに応じて、TFT106のコンダクタンスが変化
し、それに応じた駆動電流がTFT106を通して、有
機EL素子120に供給され、有機EL素子120が点
灯する。
すると以下の通りである。ゲート信号Gnが一水平期
間、ハイレベルになると、TFT110がオンする。す
ると、ドレイン信号線60からビデオ信号DmがTFT
110を通して、TFT106のゲート106gに印加
される。そして、ゲート106gに供給されたビデオ信
号Dmに応じて、TFT106のコンダクタンスが変化
し、それに応じた駆動電流がTFT106を通して、有
機EL素子120に供給され、有機EL素子120が点
灯する。
【0019】次に、図3を参照しながら、上述した構成
のデバイスガラス基板200と、封止ガラス基板100
とを貼り合わせて成る有機ELパネルの構造について説
明する。図3は、図1のA−A線に対応した断面図であ
る。
のデバイスガラス基板200と、封止ガラス基板100
とを貼り合わせて成る有機ELパネルの構造について説
明する。図3は、図1のA−A線に対応した断面図であ
る。
【0020】デバイスガラス基板200と、封止ガラス
基板100とはそれらの周辺部が、接着作用を有する樹
脂材料、例えばエポキシ樹脂から成るシール樹脂101
を用いて貼り合わされ、外部からの水分の浸入を防止し
ている。デバイスガラス基板200、封止ガラス基板1
00の厚さはそれぞれ0.7mm程度である。
基板100とはそれらの周辺部が、接着作用を有する樹
脂材料、例えばエポキシ樹脂から成るシール樹脂101
を用いて貼り合わされ、外部からの水分の浸入を防止し
ている。デバイスガラス基板200、封止ガラス基板1
00の厚さはそれぞれ0.7mm程度である。
【0021】デバイスガラス基板200の画素領域30
0には、複数の画素がマトリクス状に配置されている。
各画素は、有機EL素子120と、有機EL素子駆動用
TFTaや画素選択用TFT(不図示)を含んでいる。
例えば、有機EL素子駆動用TFTaはポリシリコン層
から成る能動層を有している。有機EL素子駆動用TF
Taの下層には絶縁膜210を介してクロムから成る遮
光層201が配置されている。この遮光層201は、有
機EL素子駆動用TFTaの能動層の直下を避けるよう
に形成されている。その理由は前述した通りである。
0には、複数の画素がマトリクス状に配置されている。
各画素は、有機EL素子120と、有機EL素子駆動用
TFTaや画素選択用TFT(不図示)を含んでいる。
例えば、有機EL素子駆動用TFTaはポリシリコン層
から成る能動層を有している。有機EL素子駆動用TF
Taの下層には絶縁膜210を介してクロムから成る遮
光層201が配置されている。この遮光層201は、有
機EL素子駆動用TFTaの能動層の直下を避けるよう
に形成されている。その理由は前述した通りである。
【0022】封止ガラス基板100のデバイスガラス基
板200に対向する側の表面には、エッチングにより凹
部(以下、ポケット領域102という)が形成されてい
る。ポケット領域102の深さは例えば0.1mm〜
0.3mmが適当であり、ポケット領域102の底部に
は、乾燥剤層103が収納されている。乾燥剤層103
は、例えば、粉末状の酸化カルシウムや酸化バリウム
等、及び接着剤とを樹脂に溶かした状態にして、ポケッ
ト領域102の底部に塗布し、さらにUV照射や加熱処
理により硬化させている。ポケット領域102を形成し
ている理由は、乾燥剤層103と有機EL素子120と
の間隔を保ち、接触による素子破壊を防ぐためである。
板200に対向する側の表面には、エッチングにより凹
部(以下、ポケット領域102という)が形成されてい
る。ポケット領域102の深さは例えば0.1mm〜
0.3mmが適当であり、ポケット領域102の底部に
は、乾燥剤層103が収納されている。乾燥剤層103
は、例えば、粉末状の酸化カルシウムや酸化バリウム
等、及び接着剤とを樹脂に溶かした状態にして、ポケッ
ト領域102の底部に塗布し、さらにUV照射や加熱処
理により硬化させている。ポケット領域102を形成し
ている理由は、乾燥剤層103と有機EL素子120と
の間隔を保ち、接触による素子破壊を防ぐためである。
【0023】そして、ポケット領域102の周辺の凸部
には、酸化クロム及びクロムの積層構造の遮光層104
が形成されている。この遮光層104は、垂直駆動回路
302上を被う位置に配置されている。また、図3では
図示されていないが、水平駆動回路301上にも同様の
遮光層104が延在している。
には、酸化クロム及びクロムの積層構造の遮光層104
が形成されている。この遮光層104は、垂直駆動回路
302上を被う位置に配置されている。また、図3では
図示されていないが、水平駆動回路301上にも同様の
遮光層104が延在している。
【0024】上述した構成によれば、垂直駆動回路30
2上及び水平駆動回路301上に、遮光層104が配置
されているので、封止ガラス基板100側から入射した
光を遮ることができる。これにより、有機ELパネルの
輪郭がくっきりと鮮明になり、表示のコントラストを向
上することができる。
2上及び水平駆動回路301上に、遮光層104が配置
されているので、封止ガラス基板100側から入射した
光を遮ることができる。これにより、有機ELパネルの
輪郭がくっきりと鮮明になり、表示のコントラストを向
上することができる。
【0025】なお、遮光層104はポケット領域102
の周辺の凸部に形成されているが、これに限られず、ポ
ケット領域102がない場合には、垂直駆動回路302
上及び水平駆動回路301上に、遮光層104が配置さ
れるように形成されていればよい。また、遮光層104
は、封止ガラス基板100側ではなく、デバイスガラス
基板200の表面に形成されていてもよい。
の周辺の凸部に形成されているが、これに限られず、ポ
ケット領域102がない場合には、垂直駆動回路302
上及び水平駆動回路301上に、遮光層104が配置さ
れるように形成されていればよい。また、遮光層104
は、封止ガラス基板100側ではなく、デバイスガラス
基板200の表面に形成されていてもよい。
【0026】図4に、画素領域300と周辺駆動回路領
域(例えば、垂直駆動回路302の領域)の部分断面図
を示す。画素領域においては、有機EL素子120及び
駆動用TFTaを示し、周辺駆動回路TFTbを示して
いる。画素領域において、石英ガラス、無アルカリガラ
ス等から成る石英ガラス、あるいは無アルカリガラス等
からなる絶縁性基板202上に、絶縁膜210を介し
て、駆動用TFTaが形成されている。駆動用TFTa
において、アモルファスシリコン膜にレーザ光を照射し
て多結晶化してなる能動層211、ゲート絶縁膜21
2、及びCr、Moなどの高融点金属からなるゲート電
極213が順に形成されており、その能動層211に
は、チャネルと、このチャネルの両側にソース211s
及びドレイン211dが設けられている。
域(例えば、垂直駆動回路302の領域)の部分断面図
を示す。画素領域においては、有機EL素子120及び
駆動用TFTaを示し、周辺駆動回路TFTbを示して
いる。画素領域において、石英ガラス、無アルカリガラ
ス等から成る石英ガラス、あるいは無アルカリガラス等
からなる絶縁性基板202上に、絶縁膜210を介し
て、駆動用TFTaが形成されている。駆動用TFTa
において、アモルファスシリコン膜にレーザ光を照射し
て多結晶化してなる能動層211、ゲート絶縁膜21
2、及びCr、Moなどの高融点金属からなるゲート電
極213が順に形成されており、その能動層211に
は、チャネルと、このチャネルの両側にソース211s
及びドレイン211dが設けられている。
【0027】また、駆動用TFTaの下層の絶縁性基板
202上には、遮光層201が形成されている。遮光層
201は、能動層211の直下を除く領域に形成されて
いる。
202上には、遮光層201が形成されている。遮光層
201は、能動層211の直下を除く領域に形成されて
いる。
【0028】そしてゲート絶縁膜212及び能動層21
1上の全面に、SiO2膜、SiN、膜及びSiO2膜の
順に積層された層間絶縁膜214が形成されている。ま
たドレイン211dに対応して設けたコンタクトホール
にAl等の金属を充填して駆動電源PVddに接続され
た駆動用の電源線215(ドレイン電極)が配置されて
いる。更に全面に例えば有機樹脂から成り表面を平坦に
する第1平坦化絶縁膜216を備えている。そして、そ
の平坦化絶縁膜216のソース211sに対応した位置
にコンタクトホールを形成し、このコンタクトホールを
介してソース電極217とコンタクトしたITOから成
る透明電極、即ち有機EL素子120のアノード層21
8を第1平坦化絶縁膜216上に設けている。このアノ
ード層218は各画素部ごとに島状に分離形成されてい
る。
1上の全面に、SiO2膜、SiN、膜及びSiO2膜の
順に積層された層間絶縁膜214が形成されている。ま
たドレイン211dに対応して設けたコンタクトホール
にAl等の金属を充填して駆動電源PVddに接続され
た駆動用の電源線215(ドレイン電極)が配置されて
いる。更に全面に例えば有機樹脂から成り表面を平坦に
する第1平坦化絶縁膜216を備えている。そして、そ
の平坦化絶縁膜216のソース211sに対応した位置
にコンタクトホールを形成し、このコンタクトホールを
介してソース電極217とコンタクトしたITOから成
る透明電極、即ち有機EL素子120のアノード層21
8を第1平坦化絶縁膜216上に設けている。このアノ
ード層218は各画素部ごとに島状に分離形成されてい
る。
【0029】さらに第2平坦化絶縁膜219がアノード
層218の周辺に形成され、アノード層218上につい
ては、第2平坦化絶縁膜219が除去されている。有機
EL素子は、アノード層218、ホール輸送層220、
発光層221、電子輸送層222、カソード層223
が、この順番で積層形成されている。
層218の周辺に形成され、アノード層218上につい
ては、第2平坦化絶縁膜219が除去されている。有機
EL素子は、アノード層218、ホール輸送層220、
発光層221、電子輸送層222、カソード層223
が、この順番で積層形成されている。
【0030】一方、周辺駆動回路領域において、TFT
bが形成されている。TFTbの構造は、画素領域のT
FTaと同じ構造であるが、その下層には遮光層201
は設けられていない。遮光層104は、上述したよう
に、封止ガラス基板100側に設けられている。
bが形成されている。TFTbの構造は、画素領域のT
FTaと同じ構造であるが、その下層には遮光層201
は設けられていない。遮光層104は、上述したよう
に、封止ガラス基板100側に設けられている。
【0031】次に、そのような遮光層104を備えた封
止ガラス基板100の製造方法について、図5を参照し
ながら説明する。
止ガラス基板100の製造方法について、図5を参照し
ながら説明する。
【0032】まず、図5(A)に示すように、封止ガラ
ス基板100上に酸化クロム層及びクロム層104aを
スパッタ法により形成する。次に、図5(B)に示すよ
うに、酸化クロム層及びクロム層104a上にホトレジ
スト105を形成する。ホトレジスト105は、周辺駆
動回路に対応する位置に形成される。
ス基板100上に酸化クロム層及びクロム層104aを
スパッタ法により形成する。次に、図5(B)に示すよ
うに、酸化クロム層及びクロム層104a上にホトレジ
スト105を形成する。ホトレジスト105は、周辺駆
動回路に対応する位置に形成される。
【0033】次に、図5(C)に示すように、ホトレジ
スト105をマスクとして酸化クロム層及びクロム層1
04aをエッチング除去する。すると、ホトレジスト1
05の下層には遮光層104が残存する。
スト105をマスクとして酸化クロム層及びクロム層1
04aをエッチング除去する。すると、ホトレジスト1
05の下層には遮光層104が残存する。
【0034】そして、図5(D)に示すように、ホトレ
ジスト105及び遮光層104をマスクとして、封止ガ
ラス基板100の表面をフッ酸(HF)を用いてエッチ
ングする。エッチング時間は例えば、2時間であり、そ
のエッチング量は0.3mm程度である。ここで、遮光
層104は、ホトレジスト105と共にエッチングのマ
スクとして機能する。これにより、ポケット領域102
が形成される。
ジスト105及び遮光層104をマスクとして、封止ガ
ラス基板100の表面をフッ酸(HF)を用いてエッチ
ングする。エッチング時間は例えば、2時間であり、そ
のエッチング量は0.3mm程度である。ここで、遮光
層104は、ホトレジスト105と共にエッチングのマ
スクとして機能する。これにより、ポケット領域102
が形成される。
【0035】その後、図5(E)に示すように、ホトレ
ジスト105を除去する。遮光層104は除去せずに、
そのまま残存させる。そして、図5(F)に示すよう
に、ポケット領域102の底部に、乾燥剤層103を形
成する。そして、このように加工された封止ガラス基板
100は、シール樹脂101を用いてデバイスガラス基
板200と貼り合わされる。これにより、図3に示した
有機ELパネルが完成する。
ジスト105を除去する。遮光層104は除去せずに、
そのまま残存させる。そして、図5(F)に示すよう
に、ポケット領域102の底部に、乾燥剤層103を形
成する。そして、このように加工された封止ガラス基板
100は、シール樹脂101を用いてデバイスガラス基
板200と貼り合わされる。これにより、図3に示した
有機ELパネルが完成する。
【0036】上述の製造方法によれば、ポケット領域1
02を形成する際に用いた酸化クロム層及びクロム層を
遮光層104として利用しているので、ポケット領域1
02を備えた有機ELパネルにおいては、特別に遮光層
を形成する工程を設ける必要がなく、製造工程を簡略化
することができる。
02を形成する際に用いた酸化クロム層及びクロム層を
遮光層104として利用しているので、ポケット領域1
02を備えた有機ELパネルにおいては、特別に遮光層
を形成する工程を設ける必要がなく、製造工程を簡略化
することができる。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、デバイスガラス基板2
00に、周辺駆動回路領域への光の入射を遮るための遮
光層104を設けたので、有機ELパネルの輪郭が鮮明
になり、表示のコントラストが向上するという効果を奏
する。
00に、周辺駆動回路領域への光の入射を遮るための遮
光層104を設けたので、有機ELパネルの輪郭が鮮明
になり、表示のコントラストが向上するという効果を奏
する。
【0038】しかも、周辺駆動回路を構成するTFTb
の下層には、遮光層を形成する必要がないので、TFT
bの能動層の結晶粒径を均一に制御することが可能にな
る。
の下層には、遮光層を形成する必要がないので、TFT
bの能動層の結晶粒径を均一に制御することが可能にな
る。
【図1】本発明の実施形態に係るデバイスガラス基板2
00の構成を示す平面図である。
00の構成を示す平面図である。
【図2】図1における画素領域300を構成する一画素
の等価回路図を示す。
の等価回路図を示す。
【図3】本発明の実施形態に係る有機ELパネルの構造
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図4】画素領域300と周辺駆動回路領域(例えば、
垂直駆動回路302の領域)の部分断面図断面図であ
る。
垂直駆動回路302の領域)の部分断面図断面図であ
る。
【図5】封止ガラス基板100の製造方法を示す断面図
である。
である。
【図6】従来例の有機ELパネルの構造を示す概略図で
ある。
ある。
1 デバイスガラス基板, 2 絶縁膜, 3 遮光
層, 4 シール樹脂,5 封止ガラス基板, 50
ゲート信号線, 60 ドレイン信号線,100 封止
ガラス基板, 101 シール樹脂, 102 ポケッ
ト領域,103 乾燥剤層, 104 遮光層, 10
5 ホトレジスト,106 TFT, 110 TF
T, 120 有機EL素子,121 アノード, 1
22 カソード, 123 発光素子層,130 保持
容量, 131 保持容量電極, 200 デバイスガ
ラス基板,201 遮光層, 202 絶縁性基板,
210 絶縁膜,211 能動層, 212 ゲート絶
縁膜, 213 ゲート電極,214 層間絶縁膜,
215 電源線, 216 第1平坦化絶縁膜,217
ソース電極, 218 アノード層, 219 第2
平坦化絶縁膜,220 ホール輸送層, 221 発光
層, 222 電子輸送層,223 カソード層, 3
00 画素領域, 301 水平駆動回路,302 垂
直駆動回路
層, 4 シール樹脂,5 封止ガラス基板, 50
ゲート信号線, 60 ドレイン信号線,100 封止
ガラス基板, 101 シール樹脂, 102 ポケッ
ト領域,103 乾燥剤層, 104 遮光層, 10
5 ホトレジスト,106 TFT, 110 TF
T, 120 有機EL素子,121 アノード, 1
22 カソード, 123 発光素子層,130 保持
容量, 131 保持容量電極, 200 デバイスガ
ラス基板,201 遮光層, 202 絶縁性基板,
210 絶縁膜,211 能動層, 212 ゲート絶
縁膜, 213 ゲート電極,214 層間絶縁膜,
215 電源線, 216 第1平坦化絶縁膜,217
ソース電極, 218 アノード層, 219 第2
平坦化絶縁膜,220 ホール輸送層, 221 発光
層, 222 電子輸送層,223 カソード層, 3
00 画素領域, 301 水平駆動回路,302 垂
直駆動回路
Claims (6)
- 【請求項1】 エレクトロルミネッセンス素子を含む画
素領域と該エレクトロルミネッセンス素子を駆動するた
めの駆動信号を供給する周辺駆動回路領域とを有する第
1の基板と、 前記第1の基板と貼り合わされた第2の基板と、 前記第2の基板側に、前記周辺駆動回路領域への光の入
射を遮るための遮光層と、を具備することを特徴とする
エレクトロルミネッセンス表示装置。 - 【請求項2】 前記第2の基板の表面に形成され、乾燥
剤を収納するポケット領域と、を具備し、前記遮光層は
前記ポケット領域の周辺領域に形成されていることを特
徴とすることを特徴とする請求項1記載のエレクトロル
ミネッセンス表示装置。 - 【請求項3】 前記遮光層は、酸化クロム層上にクロム
層を積層して成ることを特徴とする請求項1又は請求項
2に記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。 - 【請求項4】 前記第1の基板及び第2の基板はガラス
基板であることを特徴とする請求項1、2、3のいずれ
かに記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。 - 【請求項5】 エレクトロルミネッセンス素子を含む画
素領域と該エレクトロルミネッセンス素子を駆動するた
めの駆動信号を供給する周辺駆動回路領域とを有する第
1の基板と、 前記第1の基板と貼り合わされた第2の基板と、を具備
するエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法であ
って、 前記第2の基板上に遮光材料層を形成する工程と、 前記第2の基板の周辺領域の前記遮光材料層上にホトレ
ジスト層を形成する工程と、 前記ホトレジスト層をマスクとして前記遮光材料層をエ
ッチング除去し、前記ホトレジスト層の下に遮光層を残
す工程と、 前記ホトレジスト層及び遮光層をマスクとして前記第2
の基板をエッチングしてポケット領域と形成する工程
と、 前記ホトレジスト層を除去する工程と、 前記ポケット領域に乾燥剤層を形成する工程と、更に、
この第2の基板と前記第1の基板とをシール樹脂を用い
て貼り合わせる工程とを具備し、前記遮光層により前記
周辺駆動回路領域への光の入射を遮るようにしたことを
特徴とするエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方
法。 - 【請求項6】 前記遮光材料層は酸化クロム層上にクロ
ム層を積層して成ることを特徴とする請求項5記載のエ
レクトロルミネッセンス表示装置の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002134354A JP2003332045A (ja) | 2002-05-09 | 2002-05-09 | エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
TW092109561A TWI232067B (en) | 2002-05-09 | 2003-04-24 | Electroluminescence display device and method for making the same |
US10/430,383 US20040012549A1 (en) | 2002-05-09 | 2003-05-07 | Electroluminescent display device and manufacturing method of the same |
KR10-2003-0028796A KR100506113B1 (ko) | 2002-05-09 | 2003-05-07 | 일렉트로 루미네센스 표시 장치 및 그 제조 방법 |
CNB03123450XA CN1311714C (zh) | 2002-05-09 | 2003-05-08 | 电致发光显示装置及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002134354A JP2003332045A (ja) | 2002-05-09 | 2002-05-09 | エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003332045A true JP2003332045A (ja) | 2003-11-21 |
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ID=29697027
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002134354A Pending JP2003332045A (ja) | 2002-05-09 | 2002-05-09 | エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
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Country | Link |
---|---|
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KR (1) | KR100506113B1 (ja) |
CN (1) | CN1311714C (ja) |
TW (1) | TWI232067B (ja) |
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TWI299635B (en) * | 2005-12-09 | 2008-08-01 | Au Optronics Corp | Organic electroluminescent display |
KR100671643B1 (ko) | 2006-01-27 | 2007-01-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계발광 표시 장치 및 그의 제조 방법 |
KR100688789B1 (ko) | 2006-01-27 | 2007-03-02 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계발광 표시 장치 및 그의 제조 방법 |
KR101407584B1 (ko) | 2008-06-10 | 2014-06-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 디스플레이 장치 및 그 제조 방법 |
KR101073215B1 (ko) * | 2010-03-05 | 2011-10-12 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 터치 스크린 패널 일체형 평판표시장치 |
KR101097340B1 (ko) | 2010-03-08 | 2011-12-23 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 표시 장치 |
KR101521676B1 (ko) * | 2011-09-20 | 2015-05-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광 다이오드 표시장치 및 그의 제조방법 |
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-
2002
- 2002-05-09 JP JP2002134354A patent/JP2003332045A/ja active Pending
-
2003
- 2003-04-24 TW TW092109561A patent/TWI232067B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-05-07 KR KR10-2003-0028796A patent/KR100506113B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-05-07 US US10/430,383 patent/US20040012549A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-08 CN CNB03123450XA patent/CN1311714C/zh not_active Expired - Fee Related
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