JP2003317287A - チルト検出装置、光ピックアップおよび光ディスク装置 - Google Patents
チルト検出装置、光ピックアップおよび光ディスク装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスクの最内周部や最外周部でも正確に
光ディスクのチルトを検出することを可能にする。 【解決手段】 ＬＥＤ４０ａと、ＬＥＤ４０ａから発し
て光ディスク１で反射された光を受光する２分割ＰＤ４
０ｂとを有し、２分割ＰＤ４０ｂにおける光の強度分布
に基づいて光ディスク１のチルトを検出するチルト検出
装置４０において、ＬＥＤ４０ａおよび２分割ＰＤ４０
ｂの周囲に、開口４０ｅを有する遮光カバー４０ｄを配
置し、開口４０ｅを介してＬＥＤ４０ａからの出射光を
光ディスク１に照射させるとともに、出射光において外
側または内側に拡散する光を光ディスクの半径方向に遮
り、開口４０ｅを介して光ディスク１からの反射光を２
分割ＰＤ４０ｂに入射させるとともに、反射光において
外側または内側に拡散する光を光ディスクの半径方向に
遮る。
光ディスクのチルトを検出することを可能にする。 【解決手段】 ＬＥＤ４０ａと、ＬＥＤ４０ａから発し
て光ディスク１で反射された光を受光する２分割ＰＤ４
０ｂとを有し、２分割ＰＤ４０ｂにおける光の強度分布
に基づいて光ディスク１のチルトを検出するチルト検出
装置４０において、ＬＥＤ４０ａおよび２分割ＰＤ４０
ｂの周囲に、開口４０ｅを有する遮光カバー４０ｄを配
置し、開口４０ｅを介してＬＥＤ４０ａからの出射光を
光ディスク１に照射させるとともに、出射光において外
側または内側に拡散する光を光ディスクの半径方向に遮
り、開口４０ｅを介して光ディスク１からの反射光を２
分割ＰＤ４０ｂに入射させるとともに、反射光において
外側または内側に拡散する光を光ディスクの半径方向に
遮る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクを記憶
媒体としたコンピュータ周辺機器としての記憶装置等に
適用され、光ディスクのチルトを検出するチルト検出装
置、このチルト検出装置を備えた光ピックアップおよび
光ディスク装置に関する。
媒体としたコンピュータ周辺機器としての記憶装置等に
適用され、光ディスクのチルトを検出するチルト検出装
置、このチルト検出装置を備えた光ピックアップおよび
光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】大容量の情報を記録する記録媒体とし
て、近年、光ディスクが使用されている。光ディスクと
しては、例えば、音楽用ＣＤ（コンパクトディスク）あ
るいは各種のプログラムを記録したＣＤ−ＲＯＭのよう
に読み取り専用のものが一般的であったが、近年、ＣＤ
−ＲやＣＤ−Ｅのように情報の書き込み（記録）が可能
なＣＤも普及している。書き込みが可能な（記録可能
な）ＣＤである前者のＣＤ−Ｒ（ＣＤレコーダブル）
は、１回だけ書き込みが可能なＣＤである（ＣＤ−Ｗｒ
ｉｔｅ Ｏｎｃｅともいわれている）。また、後者のＣ
Ｄ−Ｅ（ＣＤイレーザブル）は、複数回の書き込みが可
能なＣＤである（なお、ＣＤ−ＲＷ：ＣＤリライタブル
ともいわれている）。さらに、ＣＤ−ＲＯＭと同じ径で
あってＣＤ−ＲＯＭよりも大容量であるＤＶＤ（Digita
l Versatile Disk）も普及してきた。これらのＣＤ−Ｒ
やＣＤ−ＥさらにＤＶＤ、すなわち、光ディスクは、次
の図１０に示すような光ディスク装置によって情報の記
録再生が行われる。
て、近年、光ディスクが使用されている。光ディスクと
しては、例えば、音楽用ＣＤ（コンパクトディスク）あ
るいは各種のプログラムを記録したＣＤ−ＲＯＭのよう
に読み取り専用のものが一般的であったが、近年、ＣＤ
−ＲやＣＤ−Ｅのように情報の書き込み（記録）が可能
なＣＤも普及している。書き込みが可能な（記録可能
な）ＣＤである前者のＣＤ−Ｒ（ＣＤレコーダブル）
は、１回だけ書き込みが可能なＣＤである（ＣＤ−Ｗｒ
ｉｔｅ Ｏｎｃｅともいわれている）。また、後者のＣ
Ｄ−Ｅ（ＣＤイレーザブル）は、複数回の書き込みが可
能なＣＤである（なお、ＣＤ−ＲＷ：ＣＤリライタブル
ともいわれている）。さらに、ＣＤ−ＲＯＭと同じ径で
あってＣＤ−ＲＯＭよりも大容量であるＤＶＤ（Digita
l Versatile Disk）も普及してきた。これらのＣＤ−Ｒ
やＣＤ−ＥさらにＤＶＤ、すなわち、光ディスクは、次
の図１０に示すような光ディスク装置によって情報の記
録再生が行われる。
【０００３】図１０は光ディスク装置の要部構成を示す
機能ブロック図であり、１は光ディスク、２はスピンド
ルモータ、３は光ピックアップ、４はモータドライバ、
５はリードアンプ、６はサーボ手段、７はＣＤデコー
ダ、８はＡＴＩＰデコーダ、９はレーザコントローラ、
１０はＣＤエンコーダ、１１はＣＤ−ＲＯＭエンコー
ダ、１２はバッファＲＡＭ、１３はバッファマネージ
ャ、１４はＣＤ−ＲＯＭデコーダ、１５はＡＴＡＰＩ／
ＳＣＳＩインターフェース、１６はＤ／Ａコンバータ、
１７はＲＯＭ、１８はＣＰＵ、１９はＲＡＭを示す。ま
た、ＬＢはレーザ光、Ａｕｄｉｏはオーディオ出力信号
を示す。
機能ブロック図であり、１は光ディスク、２はスピンド
ルモータ、３は光ピックアップ、４はモータドライバ、
５はリードアンプ、６はサーボ手段、７はＣＤデコー
ダ、８はＡＴＩＰデコーダ、９はレーザコントローラ、
１０はＣＤエンコーダ、１１はＣＤ−ＲＯＭエンコー
ダ、１２はバッファＲＡＭ、１３はバッファマネージ
ャ、１４はＣＤ−ＲＯＭデコーダ、１５はＡＴＡＰＩ／
ＳＣＳＩインターフェース、１６はＤ／Ａコンバータ、
１７はＲＯＭ、１８はＣＰＵ、１９はＲＡＭを示す。ま
た、ＬＢはレーザ光、Ａｕｄｉｏはオーディオ出力信号
を示す。
【０００４】また、図１０中において、矢印はデータが
主に流れる方向を示している。なお、図を簡略化するた
めに、図１０の各ブロックを制御するＣＰＵ１８には、
太線の矢印のみを付けて各ブロックとの接続に係る記載
を省略している。
主に流れる方向を示している。なお、図を簡略化するた
めに、図１０の各ブロックを制御するＣＰＵ１８には、
太線の矢印のみを付けて各ブロックとの接続に係る記載
を省略している。
【０００５】光ディスク１は、スピンドルモータ２によ
って回転駆動される。このスピンドルモータ２は、モー
タドライバ４とサーボ手段５により、線速度が一定にな
るように制御される。この線速度は、段階的に変更する
ことが可能である。
って回転駆動される。このスピンドルモータ２は、モー
タドライバ４とサーボ手段５により、線速度が一定にな
るように制御される。この線速度は、段階的に変更する
ことが可能である。
【０００６】光ピックアップ３は、図示しない半導体レ
ーザ、光学系、フォーカスアクチュエータ、トラックア
クチュエータ、受光素子およびポジションセンサを内蔵
しており、半導体レーザから出射されたレーザ光ＬＢが
各種光学系を介して光ディスク１に照射される。また、
光ピックアップ３は、シークモータによってスレッジ方
向への移動が可能である。これらのフォーカスアクチュ
エータ、トラックアクチュエータ、シークモータは、受
光素子とポジションセンサから得られる信号に基いて、
モータドライバ４とサーボ手段６により、レーザ光ＬＢ
のスポットが光ディスク１上の目的の場所に位置するよ
うに制御される。
ーザ、光学系、フォーカスアクチュエータ、トラックア
クチュエータ、受光素子およびポジションセンサを内蔵
しており、半導体レーザから出射されたレーザ光ＬＢが
各種光学系を介して光ディスク１に照射される。また、
光ピックアップ３は、シークモータによってスレッジ方
向への移動が可能である。これらのフォーカスアクチュ
エータ、トラックアクチュエータ、シークモータは、受
光素子とポジションセンサから得られる信号に基いて、
モータドライバ４とサーボ手段６により、レーザ光ＬＢ
のスポットが光ディスク１上の目的の場所に位置するよ
うに制御される。
【０００７】そして、リード時には、光ピックアップ３
によって得られた再生信号が、リードアンプ５で増幅さ
れて２値化された後、ＣＤデコーダ７に入力される。入
力された２値化データは、このＣＤデコーダ７におい
て、ＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏＦｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏ
ｄｕｌａｔｉｏｎ）復調される。すなわち、記録データ
は、８ビットずつまとめられてＥＦＭ変調され、このＥ
ＦＭ変調によって８ビットを１４ビットに変換し、結合
ビットを３ビット付加して合計１７ビットにされる。こ
の場合に、結合ビットは、それまでの「１」と「０」の
数が平均的に等しくなるように付けられる。これを「Ｄ
Ｃ成分の抑制」といい、ＤＣカットされた再生信号のス
ライスレベル変動が抑圧される。
によって得られた再生信号が、リードアンプ５で増幅さ
れて２値化された後、ＣＤデコーダ７に入力される。入
力された２値化データは、このＣＤデコーダ７におい
て、ＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏＦｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏ
ｄｕｌａｔｉｏｎ）復調される。すなわち、記録データ
は、８ビットずつまとめられてＥＦＭ変調され、このＥ
ＦＭ変調によって８ビットを１４ビットに変換し、結合
ビットを３ビット付加して合計１７ビットにされる。こ
の場合に、結合ビットは、それまでの「１」と「０」の
数が平均的に等しくなるように付けられる。これを「Ｄ
Ｃ成分の抑制」といい、ＤＣカットされた再生信号のス
ライスレベル変動が抑圧される。
【０００８】復調されたデータは、デインターリーブと
エラー訂正の処理が行われる。その後、このデータは、
ＣＤ−ＲＯＭデコーダ１４へ入力され、さらに、データ
の信頼性を高めるためにエラー訂正の処理が行われる。
このように２回のエラー訂正の処理が行われたデータ
は、バッファマネージャ１３によって一旦バッファＲＡ
Ｍ１２に蓄えられ、セクタデータとして揃った状態で、
ＡＴＡＰＩ／ＳＣＳＩインターフェース１５を介して、
図示しないホストコンピュータへ一気に転送される。な
お、音楽データの場合には、ＣＤデコーダ７から出力さ
れたデータが、Ｄ／Ａコンバータ１６へ入力され、アナ
ログのオーディオ出力信号Ａｕｄｉｏとして取り出され
る。
エラー訂正の処理が行われる。その後、このデータは、
ＣＤ−ＲＯＭデコーダ１４へ入力され、さらに、データ
の信頼性を高めるためにエラー訂正の処理が行われる。
このように２回のエラー訂正の処理が行われたデータ
は、バッファマネージャ１３によって一旦バッファＲＡ
Ｍ１２に蓄えられ、セクタデータとして揃った状態で、
ＡＴＡＰＩ／ＳＣＳＩインターフェース１５を介して、
図示しないホストコンピュータへ一気に転送される。な
お、音楽データの場合には、ＣＤデコーダ７から出力さ
れたデータが、Ｄ／Ａコンバータ１６へ入力され、アナ
ログのオーディオ出力信号Ａｕｄｉｏとして取り出され
る。
【０００９】また、記録時には、ＡＴＡＰＩ／ＳＣＳＩ
インターフェース１５を通して、ホストコンピュータか
ら送られてきたデータが、バッファマネージャ１３によ
って一旦バッファＲＡＭ１２に蓄えられる。そして、バ
ッファＲＡＭ１２内にある程度の量のデータが蓄積され
た状態で、記録動作が開始されるが、この場合には、そ
の前にレーザスポットを書き込み開始地点に位置させる
必要がある。この地点は、トラックの蛇行により予め光
ディスク１上に刻まれているウォブル信号によって求め
られる。
インターフェース１５を通して、ホストコンピュータか
ら送られてきたデータが、バッファマネージャ１３によ
って一旦バッファＲＡＭ１２に蓄えられる。そして、バ
ッファＲＡＭ１２内にある程度の量のデータが蓄積され
た状態で、記録動作が開始されるが、この場合には、そ
の前にレーザスポットを書き込み開始地点に位置させる
必要がある。この地点は、トラックの蛇行により予め光
ディスク１上に刻まれているウォブル信号によって求め
られる。
【００１０】ウォブル信号には、ＡＴＩＰと呼ばれる絶
対時間情報が含まれており、この情報が、ＡＴＩＰデコ
ーダ８によって取り出される。また、このＡＴＩＰデコ
ーダ８によって生成される同期信号がＣＤエンコーダ１
０に入力されることにより、光ディスク１上における正
確な位置へのデータの書き込みを可能にしている。バッ
ファＲＡＭ１２のデータには、ＣＤ−ＲＯＭエンコーダ
１１やＣＤエンコーダ１０において、エラー訂正コード
の付加や、インターリーブが行われ、レーザコントロー
ラ９、光ピックアップ３を介して、光ディスク１に記録
される。
対時間情報が含まれており、この情報が、ＡＴＩＰデコ
ーダ８によって取り出される。また、このＡＴＩＰデコ
ーダ８によって生成される同期信号がＣＤエンコーダ１
０に入力されることにより、光ディスク１上における正
確な位置へのデータの書き込みを可能にしている。バッ
ファＲＡＭ１２のデータには、ＣＤ−ＲＯＭエンコーダ
１１やＣＤエンコーダ１０において、エラー訂正コード
の付加や、インターリーブが行われ、レーザコントロー
ラ９、光ピックアップ３を介して、光ディスク１に記録
される。
【００１１】なお、ＥＦＭ変調されたデータは、ビット
ストリームとしてチャンネルビットレート４．３２１８
Ｍｂｐｓ（標準速）で半導体レーザを駆動する。この場
合の記録データは、５８８チャンネルビット単位でＥＦ
Ｍフレームを構成する。チャンネルクロックとは、この
チャンネルビットの周波数のクロックを意味する。
ストリームとしてチャンネルビットレート４．３２１８
Ｍｂｐｓ（標準速）で半導体レーザを駆動する。この場
合の記録データは、５８８チャンネルビット単位でＥＦ
Ｍフレームを構成する。チャンネルクロックとは、この
チャンネルビットの周波数のクロックを意味する。
【００１２】図１１は図１０に示す光ディスク装置を使
用した情報処理装置の概略図であり、２０は情報処理装
置のＣＰＵ、２１は光ディスク装置、２２はキーボード
やマウス等の入力装置、２３はＣＲＴや液晶等による表
示装置を示す。ＣＰＵ２０と光ディスク装置２１とは、
図１０に示したＡＴＡＰＩ／ＳＣＳＩインターフェース
１５を介して接続されており、入力装置２２からの指示
に基づいてＣＰＵ２０が光ディスク装置２１の光ディス
ク１に対して情報の読み書きを行い、必要に応じて表示
装置２３に画面表示する。
用した情報処理装置の概略図であり、２０は情報処理装
置のＣＰＵ、２１は光ディスク装置、２２はキーボード
やマウス等の入力装置、２３はＣＲＴや液晶等による表
示装置を示す。ＣＰＵ２０と光ディスク装置２１とは、
図１０に示したＡＴＡＰＩ／ＳＣＳＩインターフェース
１５を介して接続されており、入力装置２２からの指示
に基づいてＣＰＵ２０が光ディスク装置２１の光ディス
ク１に対して情報の読み書きを行い、必要に応じて表示
装置２３に画面表示する。
【００１３】ところで、従来におけるチルト検出装置と
しては、例えば、特開平６−１３９６０４号公報に記載
されているように、発光素子として発光ダイオード（以
下、ＬＥＤと称する）、受光素子として２分割フォトダ
イオード（以下、２分割ＰＤと称する）を用いたものが
ある。
しては、例えば、特開平６−１３９６０４号公報に記載
されているように、発光素子として発光ダイオード（以
下、ＬＥＤと称する）、受光素子として２分割フォトダ
イオード（以下、２分割ＰＤと称する）を用いたものが
ある。
【００１４】このようなチルト検出装置によれば、ＬＥ
Ｄから発した光が光ディスクで反射されて２分割ＰＤで
受光され、光ディスクが傾くことにより２分割ＰＤ上で
の光の強度分布が移動することにより、２つのＰＤの受
光量に差が生じ、その差に応じて光ディスクのチルトを
検出することができる。
Ｄから発した光が光ディスクで反射されて２分割ＰＤで
受光され、光ディスクが傾くことにより２分割ＰＤ上で
の光の強度分布が移動することにより、２つのＰＤの受
光量に差が生じ、その差に応じて光ディスクのチルトを
検出することができる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
は図１２（ａ）に示すように、ＬＥＤから発生した光は
広がりを持ち、光ディスクの広い範囲に照射される。光
ディスクには微少なトラックがあるため、広い範囲に照
射された光は乱反射され、光ディスクで正反射した光以
外にも広い範囲から光がＰＤに入射する。ここで、光ピ
ックアップが光ディスクの最内周や最外周付近にアクセ
スした場合、図１２（ｂ）または図１２（ｃ）に示すよ
うに、広い範囲に広がった光のうち片側(外周付近であ
ればさらに外周側、内周付近であればさらに内周側)が
光ディスクに当たらず、したがって乱反射されてＰＤに
戻って来なくなる。
は図１２（ａ）に示すように、ＬＥＤから発生した光は
広がりを持ち、光ディスクの広い範囲に照射される。光
ディスクには微少なトラックがあるため、広い範囲に照
射された光は乱反射され、光ディスクで正反射した光以
外にも広い範囲から光がＰＤに入射する。ここで、光ピ
ックアップが光ディスクの最内周や最外周付近にアクセ
スした場合、図１２（ｂ）または図１２（ｃ）に示すよ
うに、広い範囲に広がった光のうち片側(外周付近であ
ればさらに外周側、内周付近であればさらに内周側)が
光ディスクに当たらず、したがって乱反射されてＰＤに
戻って来なくなる。
【００１６】そのため、光ディスクのラジアル方向のチ
ルトを検出するチルト検出装置の場合は、光ディスクの
端部側のＰＤに入射する光量が減ることによってチルト
が生じていなくても２分割ＰＤの入射光量に差が生じて
オフセットとなってしまい、正確なチルト検出ができな
くなる。また光ディスクのタンジェンシャル方向チルト
を検出するチルト検出装置の場合は、ＰＤに入射する光
量が変化するため感度が変わってしまうおそれがある。
ルトを検出するチルト検出装置の場合は、光ディスクの
端部側のＰＤに入射する光量が減ることによってチルト
が生じていなくても２分割ＰＤの入射光量に差が生じて
オフセットとなってしまい、正確なチルト検出ができな
くなる。また光ディスクのタンジェンシャル方向チルト
を検出するチルト検出装置の場合は、ＰＤに入射する光
量が変化するため感度が変わってしまうおそれがある。
【００１７】さらに、正確なチルト検出ができなけれ
ば、情報の記録再生も正確に行うことができなくなる。
ば、情報の記録再生も正確に行うことができなくなる。
【００１８】本発明は、このような問題点を解決し、光
ディスクの最内周部や最外周部でも正確に光ディスクの
チルトを検出することが可能なチルト検出装置、光ピッ
クアップおよび光ディスク装置を提供することを目的と
する。
ディスクの最内周部や最外周部でも正確に光ディスクの
チルトを検出することが可能なチルト検出装置、光ピッ
クアップおよび光ディスク装置を提供することを目的と
する。
【００１９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のチルト検出装置は、発光素子と、発光素子
から発して光ディスクによって反射された光を受光する
複数の受光素子とを有し、前記複数の受光素子における
光の強度分布に基づいて光ディスクのチルトを検出する
チルト検出装置において、前記発光素子と光ディスクと
の間に、前記発光素子からの出射光における光ディスク
の半径方向の両側部の一部を遮る遮光部材を設けたこと
を特徴とする。また本発明のチルト検出装置は、発光素
子と、発光素子から発して光ディスクによって反射され
た光を受光する複数の受光素子とを有し、前記複数の受
光素子における光の強度分布に基づいて光ディスクのチ
ルトを検出するチルト検出装置において、前記受光素子
と光ディスクとの間に、光ディスクからの反射光におけ
る光ディスクの半径方向の両側部の一部を遮る遮光部材
を設けたことを特徴とする。このように構成したことに
より、発光素子の光ディスクの半径方向の両側部に遮光
部材を設けたので光ディスクの半径方向の広い範囲に発
光素子の光が広がらず、また、光ディスクの半径方向の
広い範囲に広がって乱反射された光が受光素子に入射し
ないので、光ディスクの最内周部や最外周部でも正確な
チルト検出が可能となる。
め、本発明のチルト検出装置は、発光素子と、発光素子
から発して光ディスクによって反射された光を受光する
複数の受光素子とを有し、前記複数の受光素子における
光の強度分布に基づいて光ディスクのチルトを検出する
チルト検出装置において、前記発光素子と光ディスクと
の間に、前記発光素子からの出射光における光ディスク
の半径方向の両側部の一部を遮る遮光部材を設けたこと
を特徴とする。また本発明のチルト検出装置は、発光素
子と、発光素子から発して光ディスクによって反射され
た光を受光する複数の受光素子とを有し、前記複数の受
光素子における光の強度分布に基づいて光ディスクのチ
ルトを検出するチルト検出装置において、前記受光素子
と光ディスクとの間に、光ディスクからの反射光におけ
る光ディスクの半径方向の両側部の一部を遮る遮光部材
を設けたことを特徴とする。このように構成したことに
より、発光素子の光ディスクの半径方向の両側部に遮光
部材を設けたので光ディスクの半径方向の広い範囲に発
光素子の光が広がらず、また、光ディスクの半径方向の
広い範囲に広がって乱反射された光が受光素子に入射し
ないので、光ディスクの最内周部や最外周部でも正確な
チルト検出が可能となる。
【００２０】本発明の光ピックアップは、請求項１記載
のチルト検出装置または請求項２記載のチルト検出装置
の少なくともいずれか一方を有することを特徴とする。
このように構成したことにより、正確なチルト検出を行
えることによりチルト補正の精度が向上するため、情報
の記録または再生が正確に行えるようになる。
のチルト検出装置または請求項２記載のチルト検出装置
の少なくともいずれか一方を有することを特徴とする。
このように構成したことにより、正確なチルト検出を行
えることによりチルト補正の精度が向上するため、情報
の記録または再生が正確に行えるようになる。
【００２１】本発明の光ディスク装置は、請求項３に係
る発明の光ピックアップを有することを特徴とする。こ
のように構成したことにより、正確なチルト検出を行え
ることによりチルト補正の精度が向上するため、情報の
記録または再生が正確に行えるようになる。
る発明の光ピックアップを有することを特徴とする。こ
のように構成したことにより、正確なチルト検出を行え
ることによりチルト補正の精度が向上するため、情報の
記録または再生が正確に行えるようになる。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図１０
に示す部材と同一の部材または同一機能の部材について
は同一の符号を付して詳細な説明は省略した。
て、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図１０
に示す部材と同一の部材または同一機能の部材について
は同一の符号を付して詳細な説明は省略した。
【００２３】図１は光ピックアップの概略構成を示す説
明図であり、３０は半導体レーザ、３１はカップリング
レンズ、３２はビームスプリッタ、３３は立上ミラー、
３４は１／４波長板、３５は対物レンズ、３６は集光レ
ンズ、３７は受光素子、３８はトラッキングコイル、３
９はフォーカシングコイルを示す。
明図であり、３０は半導体レーザ、３１はカップリング
レンズ、３２はビームスプリッタ、３３は立上ミラー、
３４は１／４波長板、３５は対物レンズ、３６は集光レ
ンズ、３７は受光素子、３８はトラッキングコイル、３
９はフォーカシングコイルを示す。
【００２４】半導体レーザ３０から拡散光として出射さ
れたレーザ光ＬＢ（直線偏光）は、カップリングレンズ
３１によって平行光とされ、ビームスプリッタ３２に入
射する。ビームスプリッタ３２は、光の偏光方向の違い
によって貼り合せ面で光を透過または反射させる働きを
するものである。ここで、ビームスプリッタ３２への入
射するレーザ光ＬＢは平行光であり、ビームスプリッタ
３２の入射面に対して平行振動するため、ビームスプリ
ッタ３２を透過する。透過したレーザ光ＬＢは、立上ミ
ラー３３で方向を変えた後、１／４波長板３４に入射す
る。１／４波長板３４では直線偏光が円偏光に変換され
る。その後、レーザ光ＬＢは対物レンズ３５に入射す
る。対物レンズ３５に入射した光は、光ディスク１の記
録面上に集光される。記録面から反射した光は、再び対
物レンズ３５、１／４波長板３４に入射する。このとき
円偏光から再び直線偏光に変換されるが、最初に１／４
波長板３４に入射した光に対して位相が９０度ずれ、垂
直振動する光となる。この光はビームスプリッタ３２に
より入射方向と垂直な方向に反射される。そして、集光
レンズ３６により集光された後、受光素子３７により受
光される。そして、この受光素子３７で受光した光量が
電気信号に変換され、光ディスク１に記録されている情
報が再生される。また、受光素子３７を分割して、その
分割された各々の受光素子が受光する光量に応じてトラ
ッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号を生成
する。そして、これらの信号に基づいてトラッキングコ
イル３８やフォーカシングコイル３９に電流を流し、ト
ラッキングサーボやフォーカシングサーボを行ってい
る。
れたレーザ光ＬＢ（直線偏光）は、カップリングレンズ
３１によって平行光とされ、ビームスプリッタ３２に入
射する。ビームスプリッタ３２は、光の偏光方向の違い
によって貼り合せ面で光を透過または反射させる働きを
するものである。ここで、ビームスプリッタ３２への入
射するレーザ光ＬＢは平行光であり、ビームスプリッタ
３２の入射面に対して平行振動するため、ビームスプリ
ッタ３２を透過する。透過したレーザ光ＬＢは、立上ミ
ラー３３で方向を変えた後、１／４波長板３４に入射す
る。１／４波長板３４では直線偏光が円偏光に変換され
る。その後、レーザ光ＬＢは対物レンズ３５に入射す
る。対物レンズ３５に入射した光は、光ディスク１の記
録面上に集光される。記録面から反射した光は、再び対
物レンズ３５、１／４波長板３４に入射する。このとき
円偏光から再び直線偏光に変換されるが、最初に１／４
波長板３４に入射した光に対して位相が９０度ずれ、垂
直振動する光となる。この光はビームスプリッタ３２に
より入射方向と垂直な方向に反射される。そして、集光
レンズ３６により集光された後、受光素子３７により受
光される。そして、この受光素子３７で受光した光量が
電気信号に変換され、光ディスク１に記録されている情
報が再生される。また、受光素子３７を分割して、その
分割された各々の受光素子が受光する光量に応じてトラ
ッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号を生成
する。そして、これらの信号に基づいてトラッキングコ
イル３８やフォーカシングコイル３９に電流を流し、ト
ラッキングサーボやフォーカシングサーボを行ってい
る。
【００２５】図２は本発明の第１実施形態におけるチル
ト検出装置を有する光ピックアップの構成を示す説明図
であり、図２（ａ）は外観を示す斜視図、図２（ｂ）は
図２（ａ）において光ピックアップをラジアル方向から
正面視した図であり、４０はチルト検出装置、４１は光
ピックアップ３の外装となるハウジングを示す。光ピッ
クアップ３は、図１に示す各部材をハウジング４１に装
着することにより構成される。光ピックアップ３は２本
の平行なシャフト（図示せず）によって光ディスク１の
半径方向に移動可能に支持され、ハウジング４１の一方
の側部には片方のシャフトが挿通される軸受け部４１ａ
が設けられ、他方の側部にはもう片方のシャフトに係合
するＵ字部４１ｂが設けられている。また、ハウジング
４１の上面すなわち光ディスク１に対向する面には対物
レンズ３５が外部に露出するように配設されている。
ト検出装置を有する光ピックアップの構成を示す説明図
であり、図２（ａ）は外観を示す斜視図、図２（ｂ）は
図２（ａ）において光ピックアップをラジアル方向から
正面視した図であり、４０はチルト検出装置、４１は光
ピックアップ３の外装となるハウジングを示す。光ピッ
クアップ３は、図１に示す各部材をハウジング４１に装
着することにより構成される。光ピックアップ３は２本
の平行なシャフト（図示せず）によって光ディスク１の
半径方向に移動可能に支持され、ハウジング４１の一方
の側部には片方のシャフトが挿通される軸受け部４１ａ
が設けられ、他方の側部にはもう片方のシャフトに係合
するＵ字部４１ｂが設けられている。また、ハウジング
４１の上面すなわち光ディスク１に対向する面には対物
レンズ３５が外部に露出するように配設されている。
【００２６】また、光ディスク１の高密度化により、光
ディスク１上の光スポットをより小さく絞るために対物
レンズ３５の開口数が大きくされ、光ディスク１の記録
面と対物レンズ３５の光軸の傾きが増えると収差が大き
くなり、情報信号の記録品質、再生品質に悪影響がでで
くる。そのため、ハウジング４１の光ディスク１に対向
する面に光ディスク１のチルトを検出するチルト検出装
置４０が取り付けられている。
ディスク１上の光スポットをより小さく絞るために対物
レンズ３５の開口数が大きくされ、光ディスク１の記録
面と対物レンズ３５の光軸の傾きが増えると収差が大き
くなり、情報信号の記録品質、再生品質に悪影響がでで
くる。そのため、ハウジング４１の光ディスク１に対向
する面に光ディスク１のチルトを検出するチルト検出装
置４０が取り付けられている。
【００２７】このチルト検出装置４０により検出された
チルトに応じて、図示しないチルト補正手段によってチ
ルトが補正され、光ディスク１に対して良好な記録、再
生を行うことができる。チルト補正手段としては、例え
ば光ピックアップ３を傾ける機構、対物レンズ３５を傾
ける機構、光ピックアップ３内部でチルトによる収差を
補正する光学的手段などがある。
チルトに応じて、図示しないチルト補正手段によってチ
ルトが補正され、光ディスク１に対して良好な記録、再
生を行うことができる。チルト補正手段としては、例え
ば光ピックアップ３を傾ける機構、対物レンズ３５を傾
ける機構、光ピックアップ３内部でチルトによる収差を
補正する光学的手段などがある。
【００２８】図３は光ピックアップを傾ける機構を採用
したラジアルチルト補正手段の一例を示す説明図であ
り、４２はラジアルチルト補正手段を示す。光ピックア
ップ３および光ピックアップ３を移動させるための駆動
機構が同一のベース基板上に載置される。このベースは
光ディスク装置本体に少なくとも光ディスク１のラジア
ル方向に対して上下するように回動可能に設置されてい
る。さらに、光ディスク装置本体にはベースを回動させ
る駆動機構が設けられており、チルト検出装置４０が検
出した傾きだけベースを回動させて対物レンズ３５の光
軸を傾け、光ディスク１面に対する対物レンズ３５の光
軸の角度が９０°を保つように、駆動機構が制御され
る。具体的には、図３（ａ）に示すように、光ディスク
１が上に反っている場合にはベースを上側に回動させ、
図３（ｂ）に示すように、光ディスク１が下に反ってい
る場合にはベースを下側に回動させて、レーザ光ＬＢが
光ディスク１面に対して常に垂直方向に照射されるよう
に、レーザ光ＬＢの角度を補正する。なお、図３に示す
機構は特にＤＶＤに対する記録再生時に駆動される。
したラジアルチルト補正手段の一例を示す説明図であ
り、４２はラジアルチルト補正手段を示す。光ピックア
ップ３および光ピックアップ３を移動させるための駆動
機構が同一のベース基板上に載置される。このベースは
光ディスク装置本体に少なくとも光ディスク１のラジア
ル方向に対して上下するように回動可能に設置されてい
る。さらに、光ディスク装置本体にはベースを回動させ
る駆動機構が設けられており、チルト検出装置４０が検
出した傾きだけベースを回動させて対物レンズ３５の光
軸を傾け、光ディスク１面に対する対物レンズ３５の光
軸の角度が９０°を保つように、駆動機構が制御され
る。具体的には、図３（ａ）に示すように、光ディスク
１が上に反っている場合にはベースを上側に回動させ、
図３（ｂ）に示すように、光ディスク１が下に反ってい
る場合にはベースを下側に回動させて、レーザ光ＬＢが
光ディスク１面に対して常に垂直方向に照射されるよう
に、レーザ光ＬＢの角度を補正する。なお、図３に示す
機構は特にＤＶＤに対する記録再生時に駆動される。
【００２９】図４はチルト検出装置の外観を示す斜視
図、図５は図４においてＡ矢視したチルト検出装置を示
す平面図、図６は図４においてＢ矢視したチルト検出装
置の内部構成図である。
図、図５は図４においてＡ矢視したチルト検出装置を示
す平面図、図６は図４においてＢ矢視したチルト検出装
置の内部構成図である。
【００３０】図４に示すように、チルト検出装置４０の
外装（後述する遮光カバー４０ｄ）の上面には開口４０
ｅが形成されており、この開口４０ｅを介してレーザ光
ＬＢの入出が行われる。チルト検出装置４０内部には、
図５に示すように、発光素子であるＬＥＤ４０ａと２分
割ＰＤ４０ｂが設けられている。ＬＥＤ４０ａと２分割
ＰＤ４０ｂは基板上に並列配置されており、２分割ＰＤ
４０ｂの分割ラインの方向はラジアル方向に対して直角
であってラジアル方向にＰＤが配列される。そのため、
２分割ＰＤ４０ｂにおける２つのＰＤの受光量を比較す
ることにより、光ディスク１のラジアル方向チルトを検
出することができる。また、ＬＥＤ４０ａと２分割ＰＤ
４０ｂは透光性の樹脂４０ｃにより封止されており、そ
の外側にチルト検出装置４０の外装となる遮光カバー４
０ｄが取り付けられている。さらに、図６に示すよう
に、遮光カバー４０ｄにおけるＬＥＤ４０ａと２分割Ｐ
Ｄ４０ｂとの対向部には開口４０ｅが形成されている。
この開口４０ｅは長方形であって、対向する２辺はラジ
アル方向に、他の２辺はタンジェンシャル方向に平行で
あり、タンジェンシャル方向に平行な２辺の中央に、２
分割ＰＤ４０ｂの分割ラインが位置する。
外装（後述する遮光カバー４０ｄ）の上面には開口４０
ｅが形成されており、この開口４０ｅを介してレーザ光
ＬＢの入出が行われる。チルト検出装置４０内部には、
図５に示すように、発光素子であるＬＥＤ４０ａと２分
割ＰＤ４０ｂが設けられている。ＬＥＤ４０ａと２分割
ＰＤ４０ｂは基板上に並列配置されており、２分割ＰＤ
４０ｂの分割ラインの方向はラジアル方向に対して直角
であってラジアル方向にＰＤが配列される。そのため、
２分割ＰＤ４０ｂにおける２つのＰＤの受光量を比較す
ることにより、光ディスク１のラジアル方向チルトを検
出することができる。また、ＬＥＤ４０ａと２分割ＰＤ
４０ｂは透光性の樹脂４０ｃにより封止されており、そ
の外側にチルト検出装置４０の外装となる遮光カバー４
０ｄが取り付けられている。さらに、図６に示すよう
に、遮光カバー４０ｄにおけるＬＥＤ４０ａと２分割Ｐ
Ｄ４０ｂとの対向部には開口４０ｅが形成されている。
この開口４０ｅは長方形であって、対向する２辺はラジ
アル方向に、他の２辺はタンジェンシャル方向に平行で
あり、タンジェンシャル方向に平行な２辺の中央に、２
分割ＰＤ４０ｂの分割ラインが位置する。
【００３１】遮光カバー４０ｄの材質としては、ＬＥＤ
４０ａから発する光を透過しない黒色等の樹脂や金属製
の板金などが用いられる。なお、遮光部材として特別に
カバーを設けなくても、ＬＥＤ４０ａおよび２分割ＰＤ
４０ｂを封止する樹脂４０ｃの表面に黒色等の遮光性の
塗装を施してもよい。
４０ａから発する光を透過しない黒色等の樹脂や金属製
の板金などが用いられる。なお、遮光部材として特別に
カバーを設けなくても、ＬＥＤ４０ａおよび２分割ＰＤ
４０ｂを封止する樹脂４０ｃの表面に黒色等の遮光性の
塗装を施してもよい。
【００３２】ＬＥＤ４０ａから出射される光は拡散光で
あり、図６に示すように、ＬＥＤ４０ａからの出射光に
おいて開口４０ｅを通過する光以外の光は遮光カバー４
０ｄによって遮られる。また、光ディスク１の半径方向
の広い範囲にＬＥＤ４０ａの光が広がらないようにな
る。また、光ディスク１からの反射光は開口４０ｅを通
過する光が２分割ＰＤ４０ｂに入射するようになり、光
ディスク１の広い範囲で乱反射された光は遮光カバー４
０ｄによって遮られるようになる。
あり、図６に示すように、ＬＥＤ４０ａからの出射光に
おいて開口４０ｅを通過する光以外の光は遮光カバー４
０ｄによって遮られる。また、光ディスク１の半径方向
の広い範囲にＬＥＤ４０ａの光が広がらないようにな
る。また、光ディスク１からの反射光は開口４０ｅを通
過する光が２分割ＰＤ４０ｂに入射するようになり、光
ディスク１の広い範囲で乱反射された光は遮光カバー４
０ｄによって遮られるようになる。
【００３３】このように構成したことにより、光ピック
アップ３が光ディスク１の半径方向に移動され、チルト
検出装置４０が光ディスク１の外周端や、内周のトラッ
クおよび反射面のない部分の近傍に位置しても、２分割
ＰＤ４０ｂの入射光量に差が生じてオフセットを掃くこ
とがなく、正確にラジアル方向のチルトを検出すること
ができる。また、正確にチルトが検出されるためチルト
補正の精度も向上し、光ディスクに対する情報の記録再
生を正確に行うことが可能になる。
アップ３が光ディスク１の半径方向に移動され、チルト
検出装置４０が光ディスク１の外周端や、内周のトラッ
クおよび反射面のない部分の近傍に位置しても、２分割
ＰＤ４０ｂの入射光量に差が生じてオフセットを掃くこ
とがなく、正確にラジアル方向のチルトを検出すること
ができる。また、正確にチルトが検出されるためチルト
補正の精度も向上し、光ディスクに対する情報の記録再
生を正確に行うことが可能になる。
【００３４】なお、上述した第１実施形態においては、
開口４０ｅの形状を長方形としたが、ラジアル方向の開
口が制限されるものであれば、ＬＥＤ４０ａのラジアル
方向両側における開口縁部のラインがタンジェンシャル
方向に平行でなくても、例えば、円弧等の曲線であって
も良く、長方形に限るものではない。ここで、２分割Ｐ
Ｄ４０ｂの２つのＰＤに安定して反射光を入射させるた
めにも、開口縁部の２ラインは、２分割ＰＤ４０ｂの分
割ラインに対して線対称であることが望ましい。さら
に、開口４０ｅにおいてラジアル方向に平行な２辺はな
くとも良く、ラジアル方向に分割された遮光カバーを別
々に接着等で固定することによって遮光しても良い。
開口４０ｅの形状を長方形としたが、ラジアル方向の開
口が制限されるものであれば、ＬＥＤ４０ａのラジアル
方向両側における開口縁部のラインがタンジェンシャル
方向に平行でなくても、例えば、円弧等の曲線であって
も良く、長方形に限るものではない。ここで、２分割Ｐ
Ｄ４０ｂの２つのＰＤに安定して反射光を入射させるた
めにも、開口縁部の２ラインは、２分割ＰＤ４０ｂの分
割ラインに対して線対称であることが望ましい。さら
に、開口４０ｅにおいてラジアル方向に平行な２辺はな
くとも良く、ラジアル方向に分割された遮光カバーを別
々に接着等で固定することによって遮光しても良い。
【００３５】図７は本発明の第２実施形態におけるチル
ト検出装置の外観を示す斜視図、図８は図７においてＡ
矢視したチルト検出装置を示す平面図、図９は図７にお
いてＢ矢視したチルト検出装置の内部構成図であり、５
０はチルト検出装置を示す。
ト検出装置の外観を示す斜視図、図８は図７においてＡ
矢視したチルト検出装置を示す平面図、図９は図７にお
いてＢ矢視したチルト検出装置の内部構成図であり、５
０はチルト検出装置を示す。
【００３６】図７に示すように、チルト検出装置５０の
外装（後述する遮光カバー５０ｄ）の上面には開口５０
ｅが形成されており、この開口５０ｅを介してレーザ光
ＬＢの入出が行われる。チルト検出装置５０内部には、
図８に示すように、発光素子であるＬＥＤ５０ａと２分
割ＰＤ５０ｂが設けられている。ＬＥＤ５０ａと２分割
ＰＤ５０ｂは基板上に並列配置されており、２分割ＰＤ
５０ｂの分割ラインの方向はタンジェンシャル方向に対
して直角であってタンジェンシャル方向にＰＤが配列さ
れる。そのため、２分割ＰＤ５０ｂにおける２つのＰＤ
の受光量を比較することにより、光ディスク１のタンジ
ェンシャル方向のチルトを検出することができる。ま
た、ＬＥＤ５０ａと２分割ＰＤ５０ｂは透光性の樹脂５
０ｃにより封止されており、その外側にはチルト検出装
置５０の外装となる遮光カバー５０ｄが取り付けられて
いる。さらに図９に示すように、遮光カバー５０ｄにお
けるＬＥＤ５０ａと２分割ＰＤ５０ｂとの対向部には開
口５０ｅが形成されている。この開口５０ｅは長方形で
あって、対向する２辺はラジアル方向に、他の２辺はタ
ンジェンシャル方向に平行であり、ラジアル方向に平行
な２辺の中央に２分割ＰＤ５０ｂの分割ラインが位置す
る。
外装（後述する遮光カバー５０ｄ）の上面には開口５０
ｅが形成されており、この開口５０ｅを介してレーザ光
ＬＢの入出が行われる。チルト検出装置５０内部には、
図８に示すように、発光素子であるＬＥＤ５０ａと２分
割ＰＤ５０ｂが設けられている。ＬＥＤ５０ａと２分割
ＰＤ５０ｂは基板上に並列配置されており、２分割ＰＤ
５０ｂの分割ラインの方向はタンジェンシャル方向に対
して直角であってタンジェンシャル方向にＰＤが配列さ
れる。そのため、２分割ＰＤ５０ｂにおける２つのＰＤ
の受光量を比較することにより、光ディスク１のタンジ
ェンシャル方向のチルトを検出することができる。ま
た、ＬＥＤ５０ａと２分割ＰＤ５０ｂは透光性の樹脂５
０ｃにより封止されており、その外側にはチルト検出装
置５０の外装となる遮光カバー５０ｄが取り付けられて
いる。さらに図９に示すように、遮光カバー５０ｄにお
けるＬＥＤ５０ａと２分割ＰＤ５０ｂとの対向部には開
口５０ｅが形成されている。この開口５０ｅは長方形で
あって、対向する２辺はラジアル方向に、他の２辺はタ
ンジェンシャル方向に平行であり、ラジアル方向に平行
な２辺の中央に２分割ＰＤ５０ｂの分割ラインが位置す
る。
【００３７】遮光カバー５０ｄの材質は図６に示す遮光
カバー４０ｄと同一であり、また、第１実施形態と同様
に、樹脂５０ｃの表面に黒色等の遮光性の塗装を施して
もよい。
カバー４０ｄと同一であり、また、第１実施形態と同様
に、樹脂５０ｃの表面に黒色等の遮光性の塗装を施して
もよい。
【００３８】ＬＥＤ５０ａから出射される光は拡散光で
あり、図９に示すように、ＬＥＤ５０ａからの出射光に
おいて開口５０ｅを通過する光以外の光は遮光カバー５
０ｄによって遮られる。また、光ディスク１の半径方向
の広い範囲にＬＥＤ５０ａの光が広がらないようにな
る。また、光ディスク１からの反射光は開口５０ｅを通
過する光が２分割ＰＤ５０ｂに入射するようになり、光
ディスク１の広い範囲で乱反射された光は遮光カバー５
０ｄによって遮られるようになる。
あり、図９に示すように、ＬＥＤ５０ａからの出射光に
おいて開口５０ｅを通過する光以外の光は遮光カバー５
０ｄによって遮られる。また、光ディスク１の半径方向
の広い範囲にＬＥＤ５０ａの光が広がらないようにな
る。また、光ディスク１からの反射光は開口５０ｅを通
過する光が２分割ＰＤ５０ｂに入射するようになり、光
ディスク１の広い範囲で乱反射された光は遮光カバー５
０ｄによって遮られるようになる。
【００３９】このように構成したことにより、光ピック
アップ３が光ディスク１の半径方向に移動して、チルト
検出装置５０が光ディスク１の外周端や、内周のトラッ
クおよび反射面のない部分の近傍に位置しても、２分割
ＰＤ５０ｂに入射する光量の和が変化することはない。
したがって、チルト検出の感度が変動せず、正確にチル
トを検出することができる。
アップ３が光ディスク１の半径方向に移動して、チルト
検出装置５０が光ディスク１の外周端や、内周のトラッ
クおよび反射面のない部分の近傍に位置しても、２分割
ＰＤ５０ｂに入射する光量の和が変化することはない。
したがって、チルト検出の感度が変動せず、正確にチル
トを検出することができる。
【００４０】なお、上述した第２実施形態においても開
口５０ｅの形状を長方形としたが、第１実施形態と同様
に、ラジアル方向の開口が制限されるものであれば、開
口縁部のラインが、例えば、円弧等の曲線であっても良
く、長方形に限るものではない。ここで、２分割ＰＤ５
０ｂの２つのＰＤに安定して反射光を入射させるために
も、開口の形状は２分割ＰＤ５０ｂの分割ラインに対し
て線対称であることが望ましい。
口５０ｅの形状を長方形としたが、第１実施形態と同様
に、ラジアル方向の開口が制限されるものであれば、開
口縁部のラインが、例えば、円弧等の曲線であっても良
く、長方形に限るものではない。ここで、２分割ＰＤ５
０ｂの２つのＰＤに安定して反射光を入射させるために
も、開口の形状は２分割ＰＤ５０ｂの分割ラインに対し
て線対称であることが望ましい。
【００４１】
【発明の効果】以上、説明したように構成した本発明に
よれば、発光素子からの出射光または光ディスクからの
反射光における光ディスクの半径方向の両側部を遮光部
材によって遮ることにより、光ディスクの半径方向の広
い範囲に発光素子の光が広がらず、また、光ディスクの
半径方向の広い範囲に広がって乱反射された光が受光素
子に入射しないので、光ディスクの最内周部や最外周部
でも正確なチルト検出が可能となる。さらに、正確なチ
ルト検出を行えることによりチルト補正の精度が向上す
るため、情報の記録または再生が正確に行えるようにな
る。
よれば、発光素子からの出射光または光ディスクからの
反射光における光ディスクの半径方向の両側部を遮光部
材によって遮ることにより、光ディスクの半径方向の広
い範囲に発光素子の光が広がらず、また、光ディスクの
半径方向の広い範囲に広がって乱反射された光が受光素
子に入射しないので、光ディスクの最内周部や最外周部
でも正確なチルト検出が可能となる。さらに、正確なチ
ルト検出を行えることによりチルト補正の精度が向上す
るため、情報の記録または再生が正確に行えるようにな
る。
【図１】光ピックアップの概略構成を示す説明図
【図２】本発明の第１実施形態におけるチルト検出装置
を有する光ピックアップの構成を示す説明図
を有する光ピックアップの構成を示す説明図
【図３】光ピックアップを傾ける機構を採用したラジア
ルチルト補正手段の一例を示す説明図
ルチルト補正手段の一例を示す説明図
【図４】チルト検出装置の外観を示す斜視図
【図５】図４においてＡ矢視したチルト検出装置を示す
平面図
平面図
【図６】図４においてＢ矢視したチルト検出装置の内部
構成図
構成図
【図７】本発明の第２実施形態におけるチルト検出装置
の外観を示す斜視図
の外観を示す斜視図
【図８】図７においてＡ矢視したチルト検出装置を示す
平面図
平面図
【図９】図７においてＢ矢視したチルト検出装置の内部
構成図
構成図
【図１０】光ディスク装置の要部構成を示す機能ブロッ
ク図
ク図
【図１１】図１０に示す光ディスク装置を使用した情報
処理装置の概略図
処理装置の概略図
【図１２】従来のチルト検出装置におけるレーザ光の出
射経路および反射光の入射経路を示す説明図
射経路および反射光の入射経路を示す説明図
１ 光ディスク
３ 光ピックアップ
２１ 光ディスク装置
４０，５０ チルト検出装置
４０ａ，５０ａ ＬＥＤ
４０ｂ，５０ｂ ２分割ＰＤ
４０ｃ，５０ｃ 樹脂
４０ｄ，５０ｄ 遮光カバー
４０ｅ，５０ｅ 開口
４１ ハウジング
４２ ラジアルチルト補正手段
Claims (4)
- 【請求項１】 発光素子と、発光素子から発して光ディ
スクによって反射された光を受光する複数の受光素子と
を有し、前記複数の受光素子における光の強度分布に基
づいて光ディスクのチルトを検出するチルト検出装置に
おいて、前記発光素子と光ディスクとの間に、前記発光
素子からの出射光における光ディスクの半径方向の両側
部の一部を遮る遮光部材を設けたことを特徴とするチル
ト検出装置。 - 【請求項２】 発光素子と、発光素子から発して光ディ
スクによって反射された光を受光する複数の受光素子と
を有し、前記複数の受光素子における光の強度分布に基
づいて光ディスクのチルトを検出するチルト検出装置に
おいて、前記受光素子と光ディスクとの間に、光ディス
クからの反射光における光ディスクの半径方向の両側部
の一部を遮る遮光部材を設けたことを特徴とするチルト
検出装置。 - 【請求項３】 請求項１記載のチルト検出装置または請
求項２記載のチルト検出装置の少なくともいずれか一方
を有することを特徴とする光ピックアップ。 - 【請求項４】 請求項３記載の光ピックアップを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002115818A JP2003317287A (ja) | 2002-04-18 | 2002-04-18 | チルト検出装置、光ピックアップおよび光ディスク装置 |
| EP03252395A EP1355302A3 (en) | 2002-04-18 | 2003-04-15 | Tilt detection device including a light-shielding member of light at both sides in radial direction of the optical disk |
| US10/413,997 US20030235124A1 (en) | 2002-04-18 | 2003-04-16 | Tilt detection device including light-shielding member shielding parts of light at both sides in radial direction of optical disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002115818A JP2003317287A (ja) | 2002-04-18 | 2002-04-18 | チルト検出装置、光ピックアップおよび光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003317287A true JP2003317287A (ja) | 2003-11-07 |
Family
ID=28672659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002115818A Pending JP2003317287A (ja) | 2002-04-18 | 2002-04-18 | チルト検出装置、光ピックアップおよび光ディスク装置 |
Country Status (3)
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|---|---|
| US (1) | US20030235124A1 (ja) |
| EP (1) | EP1355302A3 (ja) |
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| JPH0660811B2 (ja) * | 1985-09-24 | 1994-08-10 | ソニー株式会社 | 反射型傾き検出素子 |
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-
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- 2002-04-18 JP JP2002115818A patent/JP2003317287A/ja active Pending
-
2003
- 2003-04-15 EP EP03252395A patent/EP1355302A3/en not_active Ceased
- 2003-04-16 US US10/413,997 patent/US20030235124A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1355302A2 (en) | 2003-10-22 |
| EP1355302A3 (en) | 2004-10-13 |
| US20030235124A1 (en) | 2003-12-25 |
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